JP2009080634A - リセットクロック制御回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】メタステーブル状態を発生させることなく、対象論理回路ブロックにおける非同期リセットを解除する。
【解決手段】シンクロナイザ10の非同期リセット入力端子に、対象論理回路100に対して任意の同期関係にある非同期リセット入力信号rst_nが入力され、D入力端子に、対象論理回路ブロック100に対して任意の同期関係にあるソフトウェアリセット信号srst_nが入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号clkが入力されると、シンクロナイザ10は、対象論理回路100に非同期リセット信号resetを出力する。ゲーティングセル20は、クロックイネーブル端子に、シンクロナイザ10から出力された非同期リセット信号が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号clkが入力されると、対象論理回路100にクロック信号clockを出力する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、対象論理回路に入力される非同期リセット信号と、クロック信号とを出力するリセットクロック制御回路に関する。
クロック同期式の論理回路で構成されるLSI(Large Scale Integration)は、動作開始時に、所定の状態に初期化する必要がある。このため、初期化する際には、LSIの外部端子に、リセット信号が入力される。
このリセット方法には、同期リセットと非同期リセットの2種類がある。クロックに依存することなく直接的にかつ確実にリセットできるため、非同期リセットが用いられることが多い。
非同期リセット信号は、フリップフロップ(FF)の非同期リセット入力(R入力)又は非同期セット入力(S入力)に供給されて用いられる。非同期リセット信号がアクティブのとき、フリップフロップのQ出力は、それぞれ0または1の状態になる。なお、一般的に非同期リセット信号はアクティブLowであることが多い。ここで、アクティブLowとは、論理0、すなわち、信号レベルがLowのときに、リセットが有効になることである。
図19を参照して、非同期リセット入力信号rst_nが、回路に入力されている場合を説明する。図19においては、非同期リセット入力信号rst_nと、クロック入力信号clkが、対象論理回路ブロック100に入力されている。ここで、対象論理回路ブロック100は、任意の論理回路である。非同期リセット入力信号rst_nは、対象論理回路ブロック100に含まれるフリップフロップのS入力やR入力にそれぞれ接続されている。図19においては、非同期リセットの解除に伴って、リセット対象である対象論理回路ブロック100が動作を開始する。
この場合、リセット解除タイミングが、クロックの立ち上がりエッジに対するタイミング制約を満たさない場合、メタステーブル状態が発生する可能性がある。メタステーブルとは、セットアップ時間やホールド時間が守られなかった場合に、出力信号が不安定な状態になることである。リセット信号は、リセット対象の対象論理回路ブロックの動作の基準クロックとは非同期の信号である。従って、クロックに対してどのタイミングで変化するか不定であるので、メタステーブル状態が発生する可能性がある。
ここで、図20に示すように、非同期リセットの解除タイミングは、リリースタイム(Release Time)Taより前か、リムーバルタイム(Removal Time)Tbより後でなければならない。従って、リリースタイムTaとリムーバルタイムTbの間は、遷移禁止期間であり、非同期リセットは解除することができない。この範囲で非同期リセットが解除されると、リセット状態と異なる状態の信号がデータ入力(D入力)に供給されている場合、メタステーブル状態になる可能性がある。これにより、フリップフロップのQ出力が暫くの間、不安定になったり、発振したりすることがある。
図21を参照して、メタステーブルの状態になる場合について説明する。例えば、D入力が1の状態で、リリースタイムとリムーバルタイムとの間で非同期リセットが解除されたとする。その場合、Q出力は、発振後に「1」の値で安定する、発振後に「0」の値で安定する、中間電位後に「0」または「1」の値で安定するなど、不安定な状態になってしまう。このような状態が発生すると、対象論理回路ブロック100が誤作動してしまう可能性がある。
このような状態を回避するために、図22に示すように、非同期リセット信号を同期化して対象論理回路ブロック100に入力する方法がある。図22に示す回路には、非同期リセット信号を同期化するシンクロナイザ901を備えている。
シンクロナイザ901は、図23に示すように、フリップフロップを2段縦続接続した回路である。シンクロナイザ901は、少なくとも2段縦続接続されていればよく、フリップフロップが3段以上縦続接続されてもよい。少なくとも2段縦続接続することにより、1段目のフリップフロップで発生したメタステーブルを、2段目のフリップフロップでサンプリングしなおすことができる。これにより、メタステーブルの影響を後段に伝えにくくすることができる。また、シンクロナイザ901においては、メタステーブルの発生を極力抑えるため、2個のフリップフロップをできるだけ近接配置することもある。また、1段目のフリップフロップに、メタステーブルが発生しにくい特殊なフリップフロップを用いる場合もある。このような構成を備えることにより、一般に、1段目のフリップフロップでメタステーブルが発生しても、2段目のフリップフロップでは、常に安定した出力を得ることができる。
図22に示すように、D入力には固定値「1」を入力し、2つのフリップフロップの非同期リセット端子に非同期リセット信号を入力する構成をとっている。これにより、非同期リセットを解除した後、固定値「1」が、クロックで同期化されて出力される。この同期化された信号が、対象論理回路ブロック100の非同期リセット信号として用いられる。
図24は、図22に示した回路の動作タイミングを示した図である。非同期リセット入力信号は、シンクロナイザ901で同期化されて、Q出力として対象論理回路ブロック100に供給される。従って、対象論理回路ブロック100の各フリップフロップの非同期リセット端子への遅延時間が、1クロックサイクル以内に抑えることができれば、対象論理回路ブロック100の各フリップフロップにおいて、メタステーブルを避け、かつ同一クロックサイクル内にリセットを行うことができる。
また、メタステーブルを回避する方法として、クロック信号を遅延させる方法がある(例えば、特許文献1参照)。この特許文献1に記載の半導体集積回路装置は、リセット信号がアクティブから非アクティブに遷移した際に、クロック信号を所定の時間だけ遅延させた遅延クロック信号を生成する遅延部と、遅延部に生成された遅延クロック信号に同期した非アクティブの遅延リセット信号を生成し、リセットの必要なそれぞれの論理ブロックに出力する信号同期部とよりなるリセット信号解除手段を有する。
一方、昨今の回路技術の発達に伴い、数100万ゲートを越える回路規模のLSIがある。また、数100MHzを越える動作周波数を持つ回路や、LSIのテクノロジによっては、数10MHzの動作周波数を持つ回路もある。
特許第3626343号公報
しかしながら、従来のシンクロナイザ901を用いることによってメタステーブルを回避する方法は問題がある。
図22に示す回路では、非同期リセット入力信号rst_nは、図24に示すマージンの時間内に対象論理回路ブロック100の各フリップフロップへ入力されなければならない。各フリップフロップへの非同期リセット入力信号rst_nの到達時間のばらつきが発生したとしても、遅延時間がマージン時間を越えると、各フリップフロップにおいて、タイミング違反や、異なるクロックサイクルでの初期化動作となってしまう場合がある。これにより、対象論理回路ブロック100の誤動作につながる恐れがある。
対象となるフリップフロップの全てに、非同期リセット入力信号rst_nの遅延時間の制約を1クロックを1クロック未満に抑えることは難しい。可能であっても、チップ面積の増大や、レイアウト時間の増大による開発期間の増大につながる問題がある。特に上述したように、大規模回路においては、非同期リセット入力信号rst_nの遅延時間の制約は顕著である。
詳述すると、対象論理回路ブロック100の各フリップフロップが同一クロックサイクルで初期化されずに、各フリップフロップが個別のクロックサイクルで初期化されると、既に動作を開始しているフリップフロップとリセット状態のフリップフロップが混在するサイクルが存在することになる。対象論理回路ブロックの中には、このような状態を想定せずに設定されている場合があり、場合によっては、初期化が正しく行われず、回路が正常動作しない可能性がある。
一般的に、リセット系の信号は、クロック系の信号と同様に、回路内でもっとも分岐が多く、クロック入力よりも入力容量が大きい。従って、リセット系の信号は、クロック信号と同じ分岐数であっても、配線容量において、クロック系の信号の2〜3倍を要する。そのため、リセット系の信号の遅延時間は、テクノロジや回路規模によっては、10数nsec、あるいはそれ以上に及ぶ場合もある。このため、リセット系の信号は、負荷の分散を目的として、CTS(Clock Tree Synthesis)を用いる場合がある。しかし、クロック系の信号とは異なり、非同期リセット信号は、タイミングを考慮することなくレイアウトされるので、対象論理回路ブロック100内の個々のフリップフロップに到着する時間はまちまちであり、同一クロックサイクルで初期化することができない。
これを回避するために、リセット経路にもタイミング制約を与えてレイアウトする方法がある。しかし、回路が大規模になるに伴い、また動作周波数が大きくなるに伴い、タイミング制約を遵守することが困難になる場合がある。
一方、上述した特許文献1に記載の方法においては、図25に示すように、あるノードaに供給されるクロック信号は、遅延されたクロック信号である。そのため、データ出力部Qで生成されるリセット信号は、対象論理回路ブロック100に供給されるクロックの立ち上がりよりも、大きく遅延する。従って、対象論理回路ブロック100への非同期リセット信号の遅延時間のばらつきが許されるマージンの時間は、図22の場合に比べて短くなってしまう。これにより、上述した特許文献1に記載の方法においては、回路設計におけるレイアウトの条件が厳しくなってしまう問題がある。
更に、図25に示すように、非同期リセット入力信号と、クロックの関係によっては、AND出力の最初のパルスが、フリップフロップの最小幅を満たさないような髭状のパルス(ハザード)になってしまう可能性がある。その場合、フリップフロップが正常に動作しないので、データ出力部のQ出力が、不安定になってしまう問題がある。図25において、RTとは、非同期リセット入力信号である。
そこで本発明は、メタステーブル状態を発生させることなく、対象論理回路ブロックにおける非同期リセットを解除することのできるリセットクロック制御回路を提供することを目的とする。
また本発明は、対象論理回路ブロックにおける非同期リセット信号の到達の遅延時間のばらつき回避して、リセットの同時性を保証するリセットクロック制御回路を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の第1の特徴は、対象論理回路(100)に入力される非同期リセット信号(reset)と、クロック信号(clock)とを出力するリセットクロック制御回路(1)に関する。すなわち、本発明の第1の特徴に係るリセットクロック制御回路(1)は、縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、対象論理回路(100)に対して任意の同期関係にある第1のリセット信号(rst_n)が入力され、D入力端子に、対象論理回路ブロック(100)に対して任意の同期関係にある第2のリセット信号(srst_n)が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号(clk)が入力されると、対象論理回路(100)に非同期リセット信号(reset)を出力するシンクロナイザ(10)と、クロックイネーブル端子に、シンクロナイザ(10)から出力された非同期リセット信号が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号(clk)が入力されると、対象論理回路(100)にクロック信号(clock)を出力するゲーティングセル(20)と、を備える。
ここで、縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、第1のリセット信号(rst_n)が入力され、D入力端子に、対象論理回路ブロック(100)のクロックをオン又はオフ制御するためのクロックイネーブル信号(clken)が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号(clk)が入力される第2のシンクロナイザ(10a)を更に備えてもよい。この場合、ゲーティングセル(20)のクロックイネーブル端子に、第2のシンクロナイザ(10a)からの出力と、シンクロナイザ(10)からの出力の論理積が入力される。
また、シンクロナイザ(10)において、初段のフリップフロップ(11a)へ入力される第1のリセット信号(rst_n)は、遅延素子(12)によって、シンクロナイザ(10)に含まれる初段のフリップフロップ(11a)以外のフリップフロップ(11b)に比べて、遅く入力されてもよい。
同様に、第2のシンクロナイザ(10c)において、初段のフリップフロップ(11c)へ入力される第1のリセット信号(rst_n)は、遅延素子(12b)によって、シンクロナイザ(10c)に含まれる初段のフリップフロップ(11c)以外のフリップフロップ(11d)に比べて、遅く入力されてもよい。
更に、シンクロナイザ(10)からの出力を遅延させて、ゲーティングセル(20)に入力するシフトレジスタ(40)を備えてもよい。
本発明の第2の特徴は、対象論理回路(100)に入力される非同期リセット信号(reset)と、クロック信号(clock)とを出力するリセットクロック制御回路(1f)に関する。すなわち、本発明の第2の特徴に係るリセットクロック制御回路(1f)は、第1のリセット信号(rst_n)と第2のリセット信号(srst_n)との論理積を、非同期リセット信号(reset)として出力する第1の論理積回路(31)と、第2のリセット信号(srst_n)を遅延させるシフトレジスタ(40)と、縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、第1のリセット信号(rst_n)が入力され、D入力端子に、対象論理回路ブロック(100)のクロックをオン又はオフ制御するためのクロックイネーブル信号(clken)が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号(clk)が入力されるシンクロナイザ(10a)と、シフトレジスタ(40)からの出力と、シンクロナイザ(10a)からの出力の論理積を出力する第2の論理積回路(30)と、クロックイネーブル端子に、前記第2の論理積回路(30)からの出力が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号(clk)が入力されると、対象論理回路(100)にクロック信号(clock)を出力するゲーティングセル(20)と、を備える。
本発明によれば、対象論理回路ブロックのクロックに同期した非同期リセット信号を安定して生成し、かつ同一クロックサイクル内のリセットを実現することにより、レイアウト時の負担をなくすことができるリセットクロック制御回路を提供することができる。
次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。
発明を実施するための最良の形態においては、特に断りのない限り、非同期リセット回路において、非同期リセット信号がアクティブLowである場合について説明している。また、本願発明におけるフリップフロップは、クロックの立ち上がり又は立ち下がりのいずれかで動作してもよいし、混在していても適用可能であるが、発明を実施するための最良の形態においては、フリップフロップが、全て立ち上がりエッジで動作する場合について説明する。
また、リセット時に0にするか1にするかは、回路の目的に依存するが、どちらも非同期リセット信号を使って、その値にする動作に変わりはない。従って、発明を実施するための最良の形態においては、特に断りのない限り、非同期リセット信号を使って、Q出力を0または1の所定の状態にすることを、「非同期リセットをかける」または単に「リセットする」と表現する。
また、本発明の実施の形態においては、クロック関係が非同期の関係の場合について説明しているが、同期関係にあるクロックを入力しても構わない。非同期関係にあるクロックに対応した回路は、任意の位相関係にあるクロックに対しても成り立つため、非同期クロックのかわりに、同期関係にあるクロックを入力しても問題がない。従って、実施の形態において、「非同期」という文言は、「同期」と排他関係にあるものではなく、「同期及び非同期を問わず、任意の同期関係である」ことを意味する。
(実施の形態)
図1を参照して、本発明の実施の形態に係るリセットクロック制御回路1を説明する。
図1に示す本発明の実施の形態に係るリセットクロック制御回路1は、対象論理回路100に入力される非同期リセット信号resetと、クロック信号clockとを出力する。実施の形態に係るリセットクロック制御回路1は、シンクロナイザ10と、ゲーティングセル20とを備える。
シンクロナイザ10は、縦続接続された複数のフリップフロップ11a、11bから構成される。シンクロナイザ10の非同期リセット入力端子に、対象論理回路100に対して任意の同期関係にある非同期リセット入力信号(第1のリセット信号)rst_nが入力され、D入力端子に、対象論理回路ブロック100に対して任意の同期関係にあるソフトウェアリセット信号(第2のリセット信号)srst_nが入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号clkが入力されると、シンクロナイザ10は、対象論理回路100に非同期リセット信号resetを出力する。ここでフリップフロップ11a、11bは、例えば、Dタイプのフリップフロップである。
ゲーティングセル20は、クロックイネーブル端子に、シンクロナイザ10から出力された非同期リセット信号が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号clkが入力されると、対象論理回路100にクロック信号clockを出力する。
ソフトウェアリセット信号srst_nは、シンクロナイザ10によって、非同期リセット入力信号rst_nと同期されて、非同期リセット信号resetを出力する。シンクロナイザ10を経由したソフトウェアリセット信号srst_nと、クロックイネーブル信号clkenは、論理積回路30に入力される。論理積回路30によって算出された値が、ゲーティングセル20に入力され、ゲーティングセル20から、クロック信号clockが出力される。
図1に示すリセットクロック制御回路1は、図2に示すように、非同期リセット信号resetと、クロック信号clockとを、対象論理回路ブロック100に供給する。対象論理回路ブロック100は、非同期リセット信号resetとクロック信号clockとに基づいて、任意の機能を有する回路である。
リセットクロック制御回路1には、非同期リセット入力信号rst_n、制御信号ten、ソフトウェアリセット信号srst_n、クロックイネーブル信号clken、クロック信号clkが入力される。
非同期リセット入力信号rst_nは、例えば、LSI外部から供給される非同期リセット信号である。非同期リセット入力信号rst_nは、LSI内部の他のブロックで生成されたリセット制御信号であってもよい。クロック信号clkは、リセットクロック制御装置1を制御するとともに、対象論理回路ブロック100のクロック信号clockの元になる信号である。
制御信号tenは、対象論理回路ブロック100をテストするか否かを制御するための制御信号である。一般的には、制御信号tenが「1」に設定されている場合に、テストされ、通常時には、「0」に設定されている。実施の形態においては、通常時の動作をするため、制御信号tenは「0」に固定されているものとする。
ソフトウェアリセット信号srst_nは、対象論理回路ブロック100におけるリセット信号であって、非同期リセット入力信号rst_nとは、非同期で動作する第2のリセット信号である。ソフトウェアリセット信号srst_nは、対象論理回路ブロック100を実行するソフトウェアからの制御によりリセットするための信号である。ソフトウェアによるリセット動作をしない場合は、ソフトウェアリセット信号srst_nは、「1」に固定される。本実施の形態においては、ソフトウェアリセット信号srst_nが入力される場合について説明するが、必ずしも入力されなくてもよい。
クロックイネーブル信号clkenは、対象論理回路ブロック100のクロック信号clockのオン又はオフを制御するための信号である。クロック信号clockのオン又はオフを制御しない場合は、クロックイネーブル信号clkenは、「1」に固定される。本実施の形態においては、クロックイネーブル信号clkenが入力される場合について説明するが、必ずしも入力されなくてもよい。
ここで、図3を参照して、一般的なゲーティングセルを説明する。図3(a)は、ANDタイプのゲーティングセル20aである。ANDタイプのゲーティングセル20aは、HighレベルラッチとANDゲートの組み合わせである。一方、図3(b)は、ORタイプのゲーティングセル20bである。ORタイプのゲーティングセル20bは、LowレベルラッチとORゲートの組み合わせである。図3(a)及び図3(b)に示した各ゲーティングセル20a及び20bは、クロックイネーブル入力信号CENのHigh期間に対応する期間、ゲーテッドされたクロック信号GCLKを出力する。
ゲーティングセル20は、クロック信号をオン又はオフするために一般的に用いられる専用の論理素子である。クロック信号に同期したクロックイネーブ入力信号を、CEN端子に入力することにより、髭のようなパルスを出すことなく、原クロック信号CLKに対して、遅延の影響が少ないクロック信号GCLKを出力することができる。
本発明の実施の形態に係るゲーティングセル20は、図4に示すように、図3に示した基本的なゲーティングセルを改良したもので、これも一般的に使用されている。具体的には、ten入力信号と、クロックイネーブル入力信号clkenが、ORゲートを通してCEN端子に接続されている。これにより、LSIのテスト時に、常にクロックをオンにすることができる。また、図4に示すゲーティングセル20には、故障検出のため、クロックイネーブル入力信号clkenをそのまま出力するobs端子が設けられている。この故障は、例えば、クロックイネーブル入力信号が入力されるclken端子を制御する信号を生成する回路における故障である。ここで、obs端子の出力には、図5に示すように、スキャンテスト用フリップフロップ21が接続されてもよい。本発明の実施の形態においては、スキャンテスト用フリップフロップ21は、本発明の目的とは関係ないため、図によっては省略されている場合がある。
ここで、図6を参照して、実施の形態に係るリセットクロック制御回路1の動作タイミングを説明する。図6において、ソフトウェアリセット信号srst_nと、クロックイネーブル信号clkenは、「1」に固定されている。
図1に示すように、非同期リセット入力信号rst_nは、縦続接続された2段のフリップフロップ11a及び11bで構成されるシンクロナイザの非同期リセット端子に入力される。マスターリセットが解除されると、1段目の第1のフリップフロップ11aの入力信号srst_n(=1)が、2段目の第2のフリップフロップ11bから同期化されて出力される。第1のフリップフロップ11aは、クロックの立ち上がりと、非同期リセット入力信号rst_nの立ち上がりがほぼ同時の場合、第1のフリップフロップ11aのハッチングされた領域のタイミングで、メタステーブルが発生する場合がある。このメタステーブル状態が、1クロック以内に収束すれば、次のクロックの立ち上がりで、「0」または「1」に安定しているが、どちらになるかは不定である。図6において、第1のフリップフロップ出力が「1」で安定する場合を、ケース1として、「0」で安定する場合をケース2として、記載している。図6に示すように、第2のフリップフロップ11bの出力は、「0」または「1」のいずれかで安定するかによって、1クロックのタイミングのずれが発生する。いずれの場合でも、第2のフリップフロップ11bの出力は、クロック信号に同期化して出力され、図1に示されるように、セレクタ50に入力される。
セレクタ50は、0側にシンクロナイザ10の出力が接続され、1側に非同期リセット入力信号rst_nが入力されている。セレクタ50は、0側または1側のいずれかの信号を出力する。セレクタ50には、制御信号tenも入力される。テスト時には、制御信号tenに従って、セレクタ50は動作する。
セレクタ50は、通常時は0側に固定されており、シンクロナイザ10から、第2のフリップフロップ11bの出力が入力されると、セレクタ50は、この出力を、非同期リセット信号resetとして、出力する。
一方、シンクロナイザ10の第2のフリップフロップ11bの出力は、論理積回路30を経由して、ゲーティングセル20に入力される。このゲーティングセル20は、例えば、ANDタイプである場合、その出力は、図6に示すクロック信号clockのタイミングで、対象論理回路ブロック100に入力される。
図1においては、クロックイネーブル信号clkenを「1」に固定する場合、クロック信号のオン又はオフは、非同期リセット入力信号rst_nと、ソフトウェアリセット信号srst_nの状態のみに依存する。具体的には、非同期リセット入力信号rst_nと、ソフトウェアリセット信号srst_nとのいずれもが、リセット解除した場合、常にクロックはオン状態になる。従って、消費電力削減のため、内部状態を保ったままクロックを止めるためには、クロックイネーブル信号clkenを、任意の期間、「0」に固定すればよい。このとき、クロックイネーブル信号clkenは、クロック入力信号clkに同期して変化させる必要がある。すなわち、クロックをオンする場合は、クロック入力信号clkに同期して「0」から「1」に変化させ、クロックをオフする場合は、クロック入力clkに同期して「1」から「0」に変化させる。
ここで、図7を参照して本発明の実施の形態に係るソフトウェアリセット信号srst_nを説明する。ソフトウェアリセット信号srst_nは、外部から入力される非同期リセットとは別に、論理回路ブロックごとに選択してリセットするために設けられた第2のリセット制御信号である。他の論理回路ブロックに影響を与えることなく、所定の論理回路ブロックだけを初期化したり、その論理回路ブロックの動作自体を完全に停止させたりすることに利用できる。アプリケーションから呼び出し、プログラム内でソフトウェア的にリセットをかけることから、ソフトリセットと呼ばれることもある。
一般的に、対象論理回路ブロック100にソフトリセットをかける場合は、単にソフトウェアリセット信号srst_nを「0」に設定する。解除する場合は、ソフトウェアリセット信号srst_nを「1」に設定する。
本発明の実施の形態においては、ソフトウェアリセット信号srst_nを、シンクロナイザ10のD入力端子に入力している。従ってソフトウェアリセット信号srst_nは、非同期の制御信号とすることができ、自由度が高くなる。特に図7に示すように、ソフトウェアリセットが解除されたときに、第1のフリップフロップ11aでメタステーブル状態になっても、第2のフリップフロップ11bからは、メタステーブルのない同期化された非同期リセット信号を生成することができる。
図1に示すリセットクロック制御回路1においては、非同期リセットが解除された後に、第2のフリップフロップ11bの出力が「1」になってから、最初のクロックが立ち上がるまでは、ほぼ1クロックである。従って、対象論理回路ブロック100内の各フリップフロップの非同期リセット端子までの非同期リセット信号resetの遅延を、このマージンより小さくなるようにレイアウトすればよい。
また、図1に示す実施の形態に係るシンクロナイザ1においては、2段のDタイプのフリップフロップを接続したもので説明したが、フリップフロップが3段以上縦続接続されてもよい。
(第1の変形例)
図8を参照して、本発明の実施の形態の第1の変形例に係るリセットクロック制御回路1aを説明する。図8に示すリセットクロック制御回路1aは、図1に示すリセットクロック制御回路1と比べて、クロックイネーブル信号clkenも、ソフトウェアリセット信号srst_nと同様に、シンクロナイザ10aに入力されている。
図8に示す第1の変形例に係るリセットクロック制御回路1aは、縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、非同期リセット入力信号(第1のリセット信号)rst_nが入力され、D入力端子に、対象論理回路ブロック100のクロックをオン又はオフ制御するためのクロックイネーブル信号clkenが入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号clkが入力される第2のシンクロナイザ10aを更に備える。このとき、ゲーティングセル20のクロックイネーブル端子に、第2のシンクロナイザ10aからの出力と、シンクロナイザ10からの出力の論理積が入力される。
クロックイネーブル信号clkenが入力されたシンクロナイザ10aの出力は、ソフトウェアリセット信号srst_nが入力されたシンクロナイザ10の出力とともに、論理積回路30に入力される。論理積回路30によって出力される論理積の値は、ゲーティングセル20のクロックイネーブル端子に入力される。
クロックイネーブル信号clkenが「1」に固定されている場合、クロックイネーブル信号clkenを同期化するシンクロナイザ10aも、ソフトウェアリセット信号srst_nを同期化するシンクロナイザ10と同様の回路構成を備えるので、図6と同様に動作する。電源立ち上がり時に、ソフトウェアリセット信号srst_nと、クロックイネーブル信号clkenのどちらも「1」の場合、クロック信号が出力されるタイミングは、ソフトウェアリセット信号srst_nを同期化するシンクロナイザ10と、クロックイネーブル信号clkenを同期化するシンクロナイザ10aのいずれかのシンクロナイザの出力のうち、遅い方の出力に依存する。
図8に示すリセットクロック制御回路1aにおいては、非同期リセットが解除された後に、第2のフリップフロップ11bの出力が「1」になってから、最初のクロックが立ち上がるまでは、ほぼ1クロックである。従って、対象論理回路ブロック100内の各フリップフロップの非同期リセット端子までの非同期リセット信号resetの遅延を、このマージンより小さくなるようにレイアウトすればよい。
また、図8に示す第1の変形例に係るシンクロナイザ1aにおいては、2段のDタイプのフリップフロップを接続したもので説明したが、フリップフロップが3段以上縦続接続されてもよい。
(第2の変形例)
図9を参照して、本発明の第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bを説明する。図9に示す第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bは、図8に示す第1の変形例に係るリセットクロック制御回路1aと比べて、シンクロナイザ10bが、遅延素子12を備えている点が異なる。
図1及び図8において、シンクロナイザ10の第1のフリップフロップ11aと第2のフリップフロップ11bの非同期リセット端子に入力される非同期リセット入力信号rst_nのタイミングによっては、第2のフリップフロップ11bの出力においても、メタステーブルが発生し、シンクロナイザの意味をなさない場合がありえる。
具体的には、第2のフリップフロップ11bのリセット解除時に、第1のフリップフロップの出力が「0」であれば、第2のフリップフロップ11bにおいてメタステーブルが発生することはない。しかし、第2のフリップフロップの非同期リセット入力端子に入力される非同期リセット入力信号rst_nが、第1のフリップフロップ11aに対し、1クロック遅れて到着する場合がある。この場合、第2のフリップフロップ11bのリセット解除時にクロックが立ち上がり、入力信号の値「1」を取り込もうとして、メタステーブル状態になる場合がある。一般的に、シンクロナイザ10の複数のフリップフロップは、近接に配置されるので、このような状況が発生する可能性は少ない。しかし、タイミングが保証されているわけではないので、動作周波数が高い場合は特に、このようなメタステーブルが発生する可能性がある。図9に示す第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bは、このような問題を解決したものである。
図9に示す第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bは、シンクロナイザ10bにおいて、遅延素子12を備え、第1のフリップフロップ11aへ入力される非同期リセット入力信号(第1のリセット信号)rst_nは、遅延素子12によって、シンクロナイザ10に含まれる第1のフリップフロップ11a以外の第2のフリップフロップ11b等に比べて、遅く入力される。
図9に示す第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bについて、図10(a)を参照して説明する。図10(a)に示すシンクロナイザ10bは、上記のようなタイミングでメタステーブルが発生することを回避するために、第1のフリップフロップ11aの非同期リセット入力端子へ入力される信号は、図10(b)に示すように、非同期リセット入力信号rst_nが遅延素子12によって遅延されたものである。これにより、第1のフリップフロップ11aのリセット入力が、第2のフリップフロップ11bのリセット入力より、遅れることを保証することができる。
ここで、遅延素子12は、例えば、バッファなどで、所定の時間、信号を遅延させる素子である。実際の遅延量は、フリップフロップ間のクロックスキューや、マージンなどを想定して、適切な値が設定される。この遅延量は、プロセスやライブラリによって、適切な値が設定されることが好ましい。
図11を参照して、第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bの動作タイミングを説明する。図11において、RESET1は、第1のフリップフロップ11aへの非同期リセット入力信号rst_nの到着タイミングであって、RESET2は、第2のフリップフロップ11bへの非同期リセット入力信号rst_nの到着タイミングである。第2のフリップフロップ11bへの到着時刻が、第1のフリップフロップ11aの到着時刻より1クロック近く遅れてしまうと、第2のフリップフロップ11bの出力(Q2)において、メタステーブルが発生してしまう場合がある。一方、本発明の第2の変形例のように、第1のフリップフロップ11aへの到着時刻が、第2のフリップフロップ11bの到着時刻より遅くなれば、第2のフリップフロップ11bの出力(Q2)において、メタステーブルが発生することはなく、安定した値をとることができる。第2の変形例によれば、遅延素子12で適切に遅延させた非同期リセット入力信号rst_nを第1のフリップフロップ11aに入力させることにより、どのようなクロック周波数でも、第2のフリップフロップ11bの出力において、メタステーブルの発生を防ぐことができる。
また、図9に示す第2の変形例に係るシンクロナイザ1bにおいては、2段のDタイプのフリップフロップを接続したもので説明したが、フリップフロップが3段以上縦続接続されてもよい。この場合、初段のフリップフロップ11aに、2段目以降の他のどのフリップフロップよりも遅く、非同期リセット入力信号rst_nが入力されればよい。2段目以降の非同期リセット入力信号rst_nの信号がリセット入力端子に到達するタイミングは、お互いに任意に前後しても問題ない。
(第3の変形例)
図12を参照して、本発明の第3の変形例に係るリセットクロック制御回路1cを説明する。図12に示す第3の変形例に係るリセットクロック制御回路1cは、図9に示す第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bと比べて、シンクロナイザ10cが、遅延素子12bを備えている点が異なる。
図12に示す第3の変形例に係るリセットクロック制御回路1cは、第2のシンクロナイザ10cにおいて、遅延素子12bを備え、第3のフリップフロップ11cへ入力される非同期リセット入力信号(第1のリセット信号)rst_nは、遅延素子12bによって、シンクロナイザ10cに含まれる第3のフリップフロップ11c以外の第4のフリップフロップ11d等に比べて、遅く入力される。
第3の変形例においては、クロックイネーブル信号clken用のシンクロナイザ10cにおいても、初段の第3のフリップフロップ11cの非同期リセット入力端子へ入力される信号は、非同期リセット入力信号rst_nが遅延素子12bによって遅延されたものである。これにより、第3のフリップフロップ11cのリセット入力が、第4のフリップフロップ11dのリセット入力より、遅れることを保証することができる。遅延素子12bは、シンクロナイザ10cに含まれるフリップフロップのうち、第2の遅延素子12bに接続された第3のフリップフロップ11cに、もっとも遅く非同期リセット信号rst_nが入力されることを保証している。
(第4の変形例)
図13を参照して、本発明の第4の変形例に係るリセットクロック制御回路1dを説明する。図13に示す第4の変形例に係るリセットクロック制御回路1dは、図8に示す第1の変形例に係るリセットクロック制御回路1aと比べて、シフトレジスタ40を備えている点が異なる。
図8に示す第1の変形例に係るリセットクロック制御回路1a、図9に示す第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1b及び図12に示す第3の変形例に係るリセットクロック制御回路1cにおいては、図6に示すように、対象論理回路ブロック100において、非同期リセット信号のレイアウトのためのマージンは、1クロック弱である。この場合、対象論理回路ブロック100が大きい場合や、動作周波数が高い場合は、この制約が厳しく、レイアウトが困難になる場合がある。
そこで、図13に示す第4の変形例に係るリセットクロック制御回路1dは、シンクロナイザ10からの出力を遅延させて、ゲーティングセル20に入力するシフトレジスタ40を更に備える。
リセットクロック制御回路1dにおいて、シンクロナイザ10の出力が、シフトレジスタ40に接続されている。シフトレジスタ40は、n段のフリップフロップが設けられている。シフトレジスタ40は、非同期リセット信号が到達する時間を確保するために設けられている。
図14を参照して、n=2の場合の動作タイミングを説明する。非同期リセット信号reset、具体的には、第2のフリップフロップ11bの出力の立ち上がりから、シフトレジスタがない場合のクロック信号clockの立ち上がりまでのマージンが1クロック弱である。一方、シフトレジスタ40がある場合、第2のフリップフロップ11bの出力は、シフトレジスタ40によって約2クロック遅延される。従って、第2のフリップフロップ11bの出力の立ち上がりから、シフトレジスタがある場合のクロック信号clockの立ち上がりまでのマージンは3クロック弱となる。このように、シフトレジスタ40によって、シフトレジスタに含まれるフリップフロップの段数分のクロック数に相当する遅延量をレイアウト時の余裕度として確保することができる。
従って、シフトレジスタ40に、対象論理回路ブロック100の動作周波数、プロセス、回路規模に応じて適切な段数のシフトレジスタを挿入することにより、対象論理回路ブロックのリセットラインに対して、タイミングを考慮することなく、レイアウトすることができる。
これにより、対象論理回路ブロック100の全てのフリップフロップを、同一クロックサイクルで初期化することができる。従って、設計者は、設計時に、リセットタイミングのばらつきによって、フリップフロップがそれぞれ異なるタイミングで初期化されることを、考慮する必要が全くなくなる。また、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)のレイアウト時に、リセットラインについては、タイミングを考慮したレイアウトを行う必要がなくなる。設計者は、対象論理回路ブロック100のレイアウトが終了した後に、リセットラインの信号の到達時間のばらつきが、シフトレジスタの段数の時間より少ないことを確認するだけでよい。
なお、このシフトレジスタ40の入出力は、通常動作時は「1」に固定されるため、ほとんど電力を消費しない。また、シフトレジスタ40の回路規模も、対象論理回路ブロック100の回路規模に比べると、無視できるほど小さい。
(第5の変形例)
図15を参照して、本発明の第5の変形例に係るリセットクロック制御回路1eを説明する。図15に示す第5の変形例に係るリセットクロック制御回路1eは、図13に示す第4の変形例に係るリセットクロック制御回路1dと比べて、シンクロナイザ10bが異なる。図15に示すリセットクロック制御装置1eのシンクロナイザ10bは、図9を参照して説明した第2の変形例に係るリセットクロック制御回路1bのシンクロナイザ10bと同様である。
第5の変形例に係るリセットクロック制御回路1eは、シフトレジスタ40により、対象論理回路ブロック100の非同期リセット信号のレイアウトのためのマージンを確保する。更に、第5の変形例に係るリセットクロック制御回路1eは、シンクロナイザ10bに設けられた遅延素子12により、第1のフリップフロップ11aが、シンクロナイザ10bに含まれる他のフリップフロップ11bより遅く、非同期リセット入力信号rst_nが入力される。
(第6の変形例)
図16を参照して、本発明の第6の変形例に係るリセットクロック制御回路1fを説明する。図16に示す第6の変形例に係るリセットクロック制御回路1fは、図15に示す第5の変形例に係るリセットクロック制御回路1eと比べて、シンクロナイザ10bを備えていない点が異なる。
第6の変形例に係るリセットクロック制御回路1fは、第1の論理積回路31と、シフトレジスタ40と、シンクロナイザ10aと、第2の論理積回路30と、ゲーティングセル20を備える。
第1の論理積回路31は、非同期リセット入力信号(第1のリセット信号)rst_nとソフトウェアリセット信号(第2のリセット信号)srst_nとの論理積を、非同期リセット信号resetとして出力する。シフトレジスタ40は、ソフトウェアリセット信号srst_nを遅延させる。シンクロナイザ10aは、縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、非同期リセット入力信号rst_nが入力され、D入力端子に、対象論理回路ブロック100のクロックをオン又はオフ制御するためのクロックイネーブル信号clkenが入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号clkが入力される。第2の論理積回路30は、シフトレジスタ40からの出力と、シンクロナイザ10aからの出力の論理積を出力する。ゲーティングセル20は、クロックイネーブル端子に、第2の論理積回路30からの出力が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号clkが入力されると、対象論理回路100にクロック信号clockを出力する。
具体的には、ソフトウェアリセット信号srst_nは、論理積回路31に入力される。論理積回路31においては、ソフトウェアリセット信号srst_nと、非同期リセット入力信号rst_nとの論理積をとり、その値を、セレクタ40の0側に入力される。更にソフトウェアリセット信号srst_nは、シフトレジスタ40に入力され、遅延された後、論理積回路30に入力される。論理積回路30は、シフトレジスタ40から出力されたソフトウェアリセット信号srst_nの遅延信号と、シンクロナイザ10aによって同期化されたクロックイネーブル信号clkenとの論理積をとり、その値を、ゲーティングセル20に入力する。
第6の変形例においては、リセット時は、シフトレジスタ40の出力が「0」に固定されるため、クロックが停止する。また、リセット解除時は、シフトレジスタがシンクロナイザの役割を果たすので、非同期リセット解除から、最初のクロックまでの立ち上がりまでの時間は、シフトレジスタ40によって、確実に遅延させることができる。従って、対象論理回路ブロック100への非同期リセット信号resetは、同期化されていないものの、同様の効果を得ることができる。
(第7の変形例)
図17を参照して、本発明の第7の変形例を説明する。本発明の第7の変形例においては、ソフトリセット制御回路60及びクロック制御回路70が、本発明の実施の形態に係るリセットクロック制御装置1を制御している。図17においては、第4の変形例に係るリセットクロック制御回路1dを制御しているが、上述したいずれかのリセットクロック制御回路に置換されてもよい。ソフトリセット制御回路60及びクロック制御回路70は、例えば、ASIC内のCPUからの命令を受けて、その内容を反映する制御をするためのレジスタを含む。
対象論理回路ブロック100が、リセット直後から、直ちに動き出す必要のあるブロックである場合、ソフトウェアリセット信号srst_nが、非同期リセット時に「1」になるように、ソフトリセット制御回路60は設計される。一方、直ちに動き出す必要のないブロックである場合、ソフトウェアリセット信号srst_nが、「0」になり、必要になった時点で「1」になるように、ソフトリセット制御回路60は設計される。
同様に 対象論理回路ブロック100が、リセット直後から、直ちにクロックを供給する必要のあるブロックである場合、クロックイネーブル信号clkenが、非同期リセット時に「1」になるように、クロック制御回路70は設計される。一方、直ちにクロックを供給する必要のないブロックである場合、クロックイネーブル信号clkenが、「0」になり、必要になった時点で「1」になるように、クロック制御回路70は設計される。
図17に示す例においては、ソフトリセット制御回路60及びクロック制御回路70は、制御対象であるリセットクロック制御回路と同様のリセットクロック制御回路1gで制御されている。リセットクロック制御回路1gは、ソフトリセット制御回路60及びクロック制御回路70に、「1」に固定されたソフトウェアリセット信号srst_nと、「1」に固定されたクロックイネーブル信号clkenを入力する。これにより、リセットクロック制御回路1gは、ソフトリセット制御回路60及びクロック制御回路70を動作可能な状態にすることができる。
なお、図17に含まれる各リセットクロック制御回路は、上記の実施の形態及び第1乃至第7の変形例のうちの任意の構成を備える。また、リセットクロック制御回路1gに入力される第2のクロック入力信号clk2と、リセットクロック制御回路1dに入力される第1のクロック入力信号clk1は、非同期関係でよい。
(第8の変形例)
図18を参照して、本発明の第8の変形例を説明する。本発明の第8の変形例においては、図17を参照して説明した第7の変形例と比べて、ソフトリセット制御回路60及びクロック制御回路70を制御するリセットクロック制御回路が、それぞれ個別に設けられている点が異なる。
第8の変形例においては、ソフトウェアリセット信号(srst_n)は、リセットクロック制御回路1iによって制御されるソフトリセット制御回路60によって生成され、リセットクロック制御回路1dに入力される。一方、クロックイネーブル信号clkenは、リセットクロック制御回路1hによって制御されるクロック制御回路70によって生成される。
図18に示す例では、ソフトリセット制御回路60は、クロックリセット制御回路1iが制御する一方、クロック制御回路70は、クロックリセット制御回路1hが制御する。
なお、図18に含まれる各リセットクロック制御回路は、上記の実施の形態及び第1乃至第7の変形例のうちの任意の構成を備える。リセットクロック制御回路1dを制御する第1のクロック信号clk1と、リセットクロック制御回路1hを制御する第2のクロック信号clk2と、リセットクロック制御回路1iを制御する第3のクロック信号clk3は、相互に非同期関係でよい。
本発明の実施の形態に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の実施の形態に係るリセットクロック制御回路を適用した回路のブロック図である。 一般的なゲーティングセルを説明する図である。 本発明の実施の形態に係るゲーティングセルを説明する図である。 本発明の実施の形態に係るゲーティングセルの変形例を説明する図である。 本発明の実施の形態に係るリセットクロック制御回路の動作タイミングを説明する図である。 本発明の実施の形態に係るソフトウェアリセットを説明する図である。 本発明の第1の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の第2の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の第2の変形例に係るリセットクロック制御回路のシンクロナイザを説明する図である。 本発明の第2の変形例に係るリセットクロック制御回路のシンクロナイザの動作タイミングを説明する図である。 本発明の第3の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の第4の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の第4の変形例に係るリセットクロック制御回路の動作タイミングを説明する図である。 本発明の第5の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の第6の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の第7の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 本発明の第8の変形例に係るリセットクロック制御回路の回路図である。 一般的な非同期リセット入力信号を説明する図である。 非同期リセットの解除タイミングの制約について説明する図である。 メタステーブルを説明する図である。 シンクロナイザの出力を、対象論理回路ブロックに入力する回路を示した図である。 図22に示したシンクロナイザを示した図である。 図22に示した回路の動作タイミングを示した図である。 従来の方法におけるマージンの時間およびハザードを説明する図である。
符号の説明
1 リセットクロック制御回路
10、901 シンクロナイザ
11 フリップフロップ
12 遅延素子
20 ゲーティングセル
30 論理積回路
40 シフトレジスタ
50 セレクタ
60 ソフトリセット制御回路
70 クロックイネーブル信号
100 対象論理回路ブロック

Claims (6)

  1. 対象論理回路に入力される非同期リセット信号と、クロック信号とを出力するリセットクロック制御回路であって、
    縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、前記対象論理回路に対して任意の同期関係にある第1のリセット信号が入力され、D入力端子に、前記対象論理回路ブロックに対して任意の同期関係にある第2のリセット信号が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号が入力されると、前記対象論理回路に非同期リセット信号を出力するシンクロナイザと、
    クロックイネーブル端子に、前記シンクロナイザから出力された前記非同期リセット信号が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号が入力されると、前記対象論理回路にクロック信号を出力するゲーティングセルと、
    を備えることを特徴とするリセットクロック制御回路。
  2. 縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、前記第1のリセット信号が入力され、D入力端子に、前記対象論理回路ブロックのクロックをオン又はオフ制御するためのクロックイネーブル信号が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号が入力される第2のシンクロナイザを更に備え、
    前記ゲーティングセルの前記クロックイネーブル端子に、前記第2のシンクロナイザからの出力と、シンクロナイザからの出力の論理積が入力されることを特徴とする請求項1に記載のリセットクロック制御回路。
  3. 前記シンクロナイザにおいて、初段のフリップフロップへ入力される前記第1のリセット信号は、遅延素子によって、前記シンクロナイザに含まれる前記初段のフリップフロップ以外のフリップフロップに比べて、遅く入力されることを特徴とする請求項1に記載のリセットクロック制御回路。
  4. 前記第2のシンクロナイザにおいて、初段のフリップフロップへ入力される前記第1のリセット信号は、遅延素子によって、前記シンクロナイザに含まれる前記初段のフリップフロップ以外のフリップフロップに比べて、遅く入力されることを特徴とする請求項2に記載のリセットクロック制御回路。
  5. 前記シンクロナイザからの出力を遅延させて、前記ゲーティングセルに入力するシフトレジスタ
    を更に備えることを特徴とする請求項1に記載のリセットクロック制御回路。
  6. 対象論理回路に入力される非同期リセット信号と、クロック信号とを出力するリセットクロック制御回路であって、
    第1のリセット信号と第2のリセット信号との論理積を、非同期リセット信号として出力する第1の論理積回路と、
    前記第2のリセット信号を遅延させるシフトレジスタと、
    縦続接続された複数のフリップフロップから構成され、非同期リセット入力端子に、前記第1のリセット信号が入力され、D入力端子に、前記対象論理回路ブロックのクロックをオン又はオフ制御するためのクロックイネーブル信号が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号が入力されるシンクロナイザと、
    前記シフトレジスタからの出力と、前記シンクロナイザからの出力の論理積を出力する第2の論理積回路と、
    クロックイネーブル端子に、前記第2の論理積回路からの出力が入力され、クロック入力端子に、クロック入力信号が入力されると、前記対象論理回路にクロック信号を出力するゲーティングセルと、
    を備えることを特徴とするリセットクロック制御回路。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8514004B2 (en) 2010-09-10 2013-08-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Clock management unit and method of managing a clock signal
CN105425926A (zh) * 2015-12-22 2016-03-23 无锡芯响电子科技有限公司 异步复位同步释放带宽可控的复位电路
EP2596412A4 (en) * 2010-07-20 2016-04-13 Freescale Semiconductor Inc ELECTRONIC CIRCUIT, CRITICAL SECURITY SYSTEM, AND METHOD FOR PROVIDING A RESET SIGNAL
US10026498B1 (en) 2017-04-10 2018-07-17 International Business Machines Corporation Simultaneous scan chain initialization with disparate latches
DE112020002008T5 (de) 2019-04-17 2022-01-20 Rohm Co., Ltd. Schaltung zur erzeugung eines synchronen rücksetzsignals und digitale verarbeitungsvorrichtung
CN117435016A (zh) * 2023-10-11 2024-01-23 无锡摩芯半导体有限公司 一种复位电路的设计方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2596412A4 (en) * 2010-07-20 2016-04-13 Freescale Semiconductor Inc ELECTRONIC CIRCUIT, CRITICAL SECURITY SYSTEM, AND METHOD FOR PROVIDING A RESET SIGNAL
US8514004B2 (en) 2010-09-10 2013-08-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Clock management unit and method of managing a clock signal
CN105425926A (zh) * 2015-12-22 2016-03-23 无锡芯响电子科技有限公司 异步复位同步释放带宽可控的复位电路
US10026498B1 (en) 2017-04-10 2018-07-17 International Business Machines Corporation Simultaneous scan chain initialization with disparate latches
US10096377B1 (en) 2017-04-10 2018-10-09 International Business Machines Corporation Simultaneous scan chain initialization with disparate latches
US10199121B2 (en) 2017-04-10 2019-02-05 International Business Machines Corporation Simultaneous scan chain initialization with disparate latches
US10586606B2 (en) 2017-04-10 2020-03-10 International Business Machines Corporation Simultaneous scan chain initialization with disparate latches
US10658062B2 (en) 2017-04-10 2020-05-19 International Business Machines Corporation Simultaneous scan chain initialization with disparate latches
DE112020002008T5 (de) 2019-04-17 2022-01-20 Rohm Co., Ltd. Schaltung zur erzeugung eines synchronen rücksetzsignals und digitale verarbeitungsvorrichtung
US11914439B2 (en) 2019-04-17 2024-02-27 Rohm Co., Ltd. Synchronous reset signal generation circuit and digital processing device
CN117435016A (zh) * 2023-10-11 2024-01-23 无锡摩芯半导体有限公司 一种复位电路的设计方法
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