JP2009069067A - Shape analyzer and shape analyzing program - Google Patents

Shape analyzer and shape analyzing program Download PDF

Info

Publication number
JP2009069067A
JP2009069067A JP2007239622A JP2007239622A JP2009069067A JP 2009069067 A JP2009069067 A JP 2009069067A JP 2007239622 A JP2007239622 A JP 2007239622A JP 2007239622 A JP2007239622 A JP 2007239622A JP 2009069067 A JP2009069067 A JP 2009069067A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
sample
shape
measurement
unevenness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007239622A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5116414B2 (en
Inventor
Yoichi Togawa
陽一 外川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP2007239622A priority Critical patent/JP5116414B2/en
Publication of JP2009069067A publication Critical patent/JP2009069067A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5116414B2 publication Critical patent/JP5116414B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the work efficiency, when a worker selects shape parameters to be calculated from measuring data, in a shape analyzer and shape analysis program for analyzing uneveness data of a surface created by a cylindrical shape measuring device for scanning the surface of the sample with a gauge head, by relatively rotating the sample to the gauge head, and for calculating the shape parameters of the sample, such as circularity. <P>SOLUTION: This shape analyzer 1 comprises a data selection input section 12 for making a user select one or more uneven data used for calculation of the shape parameter, a shape parameter list creating section 14 for creating a list 13 of a calculable shape parameter, according to the number of measuring surfaces where the uneveness data selected by the data selection input section 12 is measured and surface-direction information, and a parameter selection input section 15 for making the user select the shape parameter to be calculated from the list 13 created by the shape parameter list creating section 14. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、測定子に対して試料を相対的に自転させることにより測定子で試料の表面を走査する円柱形状測定装置が生成する測定データを解析して、真円度等の試料の形状パラメータを算出する形状解析装置及び形状解析プログラムに関する。特にこのような形状解析装置や形状解析プログラムにおいて、作業者(ユーザ)に、測定により得られた測定データや、算出しようとする形状パラメータを選択するためのユーザインタフェースの改善に関する。   The present invention analyzes the measurement data generated by the cylindrical shape measuring device that scans the surface of the sample with the probe by rotating the sample relative to the probe, and the sample shape parameter such as roundness is analyzed. The present invention relates to a shape analysis apparatus and a shape analysis program that calculate In particular, in such a shape analysis apparatus and shape analysis program, the present invention relates to improvement of a user interface for selecting measurement data obtained by measurement and a shape parameter to be calculated for an operator (user).

円柱形状測定装置は、所定の軸を回転軸として測定子に対して試料を相対的に自転させ、このとき試料の表面の凹凸を測定子で走査することによって、試料の表面の凹凸を測定する。図1は、下記特許文献1に示される円柱形状測定装置の構成を示す図である。
円柱形状測定装置90は、試料(被測定物)を回転させる為の回転テーブル91と、試料の表面の凹凸を走査するための測定子92と、を備えている。本構成例では、測定子92は、試料の表面に触針93を接触ながら測定子92と試料表面とを相対移動させることによって試料表面の凹凸を走査する。このような触針を用いた測定子92のほか、非接触センサで試料表面の凹凸を読み取る測定子も用いられることがある。
円柱形状測定装置90は、試料に対して測定子92をZ方向に沿って、及びXY平面内で直動させる(直線的に移動させる)カラム94、上下台95及びアーム96を備えている。
The cylindrical shape measuring device rotates the sample relative to the measuring element about a predetermined axis as a rotation axis, and measures the unevenness on the surface of the sample by scanning the unevenness on the surface of the sample with the measuring element at this time. . FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a columnar shape measuring apparatus disclosed in Patent Document 1 below.
The columnar shape measuring device 90 includes a rotary table 91 for rotating a sample (object to be measured) and a measuring element 92 for scanning unevenness on the surface of the sample. In this configuration example, the probe 92 scans the unevenness of the sample surface by moving the probe 92 and the sample surface relative to each other while the stylus 93 is in contact with the sample surface. In addition to the measuring element 92 using such a stylus, a measuring element that reads unevenness of the sample surface with a non-contact sensor may be used.
The columnar measuring device 90 includes a column 94, an upper and lower platform 95, and an arm 96 that move the measuring element 92 linearly (moves linearly) along the Z direction and in the XY plane with respect to the sample.

図1に示す円柱形状測定装置90の構成例では、回転テーブル91によって試料が回転することによって、測定子92に対して試料が相対的に自転する。この他にも測定子92が試料の周りを回ることによって、測定子92に対して相対的に試料が自転するタイプの円柱形状測定装置も使用されている。
また図1に示す円柱形状測定装置90の構成例では、試料に対して測定子が移動することによって測定子と試料とが相対的に直動するが、このほかにも、試料を移動させることによって測定子と試料とが相対的に直動するように構成することも可能である。
In the configuration example of the columnar shape measuring apparatus 90 shown in FIG. 1, the sample rotates relative to the measuring element 92 by rotating the sample by the rotary table 91. In addition to this, a cylindrical measuring device of the type in which the sample rotates relative to the measuring element 92 when the measuring element 92 rotates around the sample is also used.
Further, in the configuration example of the cylindrical shape measuring apparatus 90 shown in FIG. 1, the measuring element and the sample move relatively linearly when the measuring element moves with respect to the sample, but in addition to this, the sample is moved. It is also possible to configure so that the probe and the sample move relatively linearly.

円柱形状測定装置90は、回転テーブル91の上に載置した試料を自転させながら触針93を試料に当てて測定を行う回転測定動作と、試料に対して測定子92を1方向に直動させながら触針93を試料に当てて測定を行う直動測定動作とを行うことができる。それぞれの測定動作の際に、試料の側面、並びに上面及び下面のいずれの凹凸を測定するかによって、円柱形状測定装置90により測定される測定データは、以下の4種類に大別することができる。   The columnar shape measuring device 90 rotates the sample placed on the rotary table 91 while rotating the sample 93 with the stylus 93 applied to the sample, and moves the probe 92 in one direction relative to the sample. Thus, it is possible to perform a linear motion measurement operation in which measurement is performed by applying the stylus 93 to the sample. The measurement data measured by the cylindrical measuring device 90 can be broadly classified into the following four types depending on whether the side surface of the sample and the irregularities on the upper surface and the lower surface are measured during each measurement operation. .

図2の(A)は、円柱形状測定装置90により測定される第1の種類の測定データを説明する図であり、回転測定動作により得られる。
第1の種類の測定データは、触針93を試料Wの外周面S1に接触させながら、軸ARを回転軸として試料Wを自転させて外周面S1の凹凸を測定して得られるデータである。図示の試料Wのように中空形状の試料を測定する場合には、軸ARを回転軸として試料Wを自転させて内周面S3上の凹凸を測定することができ、このように内周面S3を測定して得られるデータもこの種類に属する。
外周面S1を測定する場合には、走査線である円周L1に沿った試料Wの外周面S1の凹凸を示すデータが得られ、このデータは円周L1を外周とする断面S2の外周の凹凸を示す。
内周面S3を測定する場合には、走査線である円周L2に沿った試料Wの内周面S3の凹凸を示すデータが得られ、このデータは円周L3を内周とするドーナツ形の断面S4の内周の凹凸を示す。
FIG. 2A is a diagram for explaining the first type of measurement data measured by the cylindrical shape measuring apparatus 90, and is obtained by a rotation measurement operation.
The first type of measurement data is data obtained by measuring the unevenness of the outer peripheral surface S1 by rotating the sample W about the axis AR as a rotation axis while bringing the stylus 93 into contact with the outer peripheral surface S1 of the sample W. . When measuring a hollow sample like the sample W shown in the figure, the sample W can be rotated about the axis AR as a rotation axis to measure irregularities on the inner peripheral surface S3. Data obtained by measuring S3 also belongs to this type.
When measuring the outer peripheral surface S1, data indicating the irregularities of the outer peripheral surface S1 of the sample W along the circumference L1 that is a scanning line is obtained, and this data is the outer circumference of the cross section S2 having the circumference L1 as the outer circumference Shows irregularities.
When measuring the inner peripheral surface S3, data indicating the unevenness of the inner peripheral surface S3 of the sample W along the circumference L2 which is a scanning line is obtained, and this data is a donut shape having the circumference L3 as the inner circumference. The unevenness | corrugation of the inner periphery of the cross section S4 is shown.

図2の(B)は、円柱形状測定装置90により測定される第2の種類の測定データを説明する図であり、回転測定動作により得られる。
第2の種類の測定データは、触針93を試料Wの上面S5又は下面S6に接触させながら、軸ARを回転軸として試料Wを自転させてこれらの面の凹凸を測定して得られるデータである。上面S5を測定して得られるデータは、円状の走査線L3に沿った上面S5の凹凸を示し、下面S6を測定して得られるデータは、円状の走査線L4に沿った下面S6の凹凸を示す。
FIG. 2B is a diagram for explaining the second type of measurement data measured by the cylindrical shape measuring apparatus 90, and is obtained by a rotation measurement operation.
The second type of measurement data is data obtained by measuring the unevenness of these surfaces by rotating the sample W about the axis AR as the rotation axis while bringing the stylus 93 into contact with the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W. It is. The data obtained by measuring the upper surface S5 shows the unevenness of the upper surface S5 along the circular scanning line L3, and the data obtained by measuring the lower surface S6 is the data on the lower surface S6 along the circular scanning line L4. Shows irregularities.

図3の(A)は、円柱形状測定装置90により測定される第3の種類の測定データを説明する図であり、直動測定動作により得られる。
第3の種類の測定データは、触針93を試料Wの外周面S1に接触させながら、測定子92をZ方向に直動させて外周面S1の凹凸を測定して得られるデータである。図示の試料Wのように中空形状の試料を測定する場合には、測定子92をZ方向に直動させて内周面S3上の凹凸を測定することができ、このように内周面S3を測定して得られるデータもこの種類に属する。外周面S1を測定して得られるデータは、直線状の走査線L5に沿った外周面S1の凹凸を示し、内周面S3を測定して得られるデータは、直線上の走査線L6に沿った内周面S3の凹凸を示す。
FIG. 3A is a diagram for explaining the third type of measurement data measured by the cylindrical shape measuring apparatus 90, and is obtained by a linear motion measurement operation.
The third type of measurement data is data obtained by measuring the unevenness of the outer peripheral surface S1 by moving the probe 92 in the Z direction while bringing the stylus 93 into contact with the outer peripheral surface S1 of the sample W. When measuring a hollow sample like the sample W shown in the drawing, the unevenness on the inner peripheral surface S3 can be measured by moving the measuring element 92 in the Z direction, and thus the inner peripheral surface S3. Data obtained by measuring this also belongs to this type. The data obtained by measuring the outer peripheral surface S1 shows the irregularities of the outer peripheral surface S1 along the linear scanning line L5, and the data obtained by measuring the inner peripheral surface S3 is along the scanning line L6 on the straight line. The unevenness of the inner peripheral surface S3 is shown.

図3の(B)は、円柱形状測定装置90により測定される第4の種類の測定データを説明する図であり、直動測定動作により得られる。
第4の種類の測定データは、触針93を試料Wの上面S5又は下面S6に接触させながら測定子92をXY面内で直動させ、これらの面の凹凸を測定して得られるデータである。上面S5を測定して得られるデータは、直線状の走査線L7に沿った上面S5の凹凸を示し、下面S6を測定して得られるデータは、直線状の走査線L8に沿った下面S6の凹凸を示す。
FIG. 3B is a diagram for explaining the fourth type of measurement data measured by the cylindrical shape measuring apparatus 90, and is obtained by a linear motion measurement operation.
The fourth type of measurement data is data obtained by moving the probe 92 in the XY plane while bringing the stylus 93 into contact with the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W and measuring the unevenness of these surfaces. is there. The data obtained by measuring the upper surface S5 shows the unevenness of the upper surface S5 along the linear scanning line L7, and the data obtained by measuring the lower surface S6 is the data on the lower surface S6 along the linear scanning line L8. Shows irregularities.

円柱形状測定装置により得られた測定データを解析することによって、測定データが採取された試料の形状について、様々な種類の形状パラメータを算出することができる。ここで形状パラメータには、例えば以下に示す、円柱形状の試料の断面の真円度や、振れ(面基準)がある。   By analyzing the measurement data obtained by the cylindrical shape measuring apparatus, various types of shape parameters can be calculated for the shape of the sample from which the measurement data was collected. Here, the shape parameters include, for example, the roundness of a cross section of a cylindrical sample and deflection (surface reference) as described below.

図4は真円度の説明図である。真円度は、試料の断面の円周の形状(図示L3)を回転測定動作によって測定し、得られた円周形状が幾何学的に正しい円からどれだけ離れているか(ΔR)を算出することによって得られる。
図5は、振れ(面基準)の説明図である。回転測定動作によって測定した基準面SRと同じ傾きを持ち、回転測定動作によって測定した円周CRにより得られた基準面中心Cを通るデータム軸ADを中心とする測定円CMの変位の大きさを示す。
FIG. 4 is an explanatory diagram of roundness. The roundness is measured by measuring the circumferential shape (L3 in the figure) of the cross section of the sample by a rotational measurement operation, and calculating how far the obtained circumferential shape is from a geometrically correct circle (ΔR). Can be obtained.
FIG. 5 is an explanatory diagram of runout (surface reference). The magnitude of displacement of the measurement circle CM having the same inclination as the reference surface SR measured by the rotation measurement operation and centering on the datum axis AD passing through the reference surface center C obtained by the circumference CR measured by the rotation measurement operation. Show.

円柱形状測定装置により得られた測定データを分析して形状パラメータを計算するために形状解析プログラムを用いられている。図6は、従来行われている形状解析プログラムを用いた解析作業のフローチャートである。
ステップS11では、形状解析プログラムは、そのプログラムに用意されている解散可能な形状パラメータのリストをコンピュータのディスプレイに表示して作業者に提示する。作業者は表示された形状パラメータのリストのうちから1つを選択して、以下のステップで計算を行う形状パラメータを決定する。
A shape analysis program is used to analyze measurement data obtained by a cylindrical shape measuring apparatus and calculate shape parameters. FIG. 6 is a flowchart of an analysis work using a conventional shape analysis program.
In step S11, the shape analysis program displays a list of dissolvable shape parameters prepared in the program on a computer display and presents it to the operator. The operator selects one from the displayed list of shape parameters, and determines the shape parameter to be calculated in the following steps.

ステップS12では、形状解析プログラムは、コンピュータに設けられた大容量の記憶装置(例えばハードディスクドライブ装置やDVD−RAM装置など)の所定のフォルダに記憶された測定データを表示し、作業者は、これら測定データのうち形状パラメータの計算に使用するデータを選択する。
ステップS13では、形状解析プログラムは、ステップS12で選択された測定データを解析して、ステップS11で選択した形状パラメータを計算する。
In step S12, the shape analysis program displays the measurement data stored in a predetermined folder of a large-capacity storage device (for example, a hard disk drive device or a DVD-RAM device) provided in the computer. Select the data to be used for calculating the shape parameters from the measurement data.
In step S13, the shape analysis program analyzes the measurement data selected in step S12 and calculates the shape parameter selected in step S11.

特開平5−231806号公報Japanese Patent Laid-Open No. 5-231806

現在、円柱形状測定装置の測定データを解析する形状解析プログラムにより計算できる形状パラメータの種類は非常に多い。例えば、回転測定動作により得られた測定データから算出できる形状パラメータには、例えば「真円度」、「平面度」、「平面度(複)」、「平行度」、「同心度」、「同軸度」、「振れ」、「振れ(面基準)」、「振れ(軸方向)」、「径偏差」、「円筒度」、「直角度(軸基準)」及び「直角度(面基準)」などがあり、また直動測定動作により得られた測定データから算出できる形状パラメータには、例えば「Z軸真直度」、「軸心真直度」、「直動円筒度」、「直動平行度」、「直動直角度」、「直動径偏差」及び「R軸真直度」などがある。   At present, there are a great many types of shape parameters that can be calculated by a shape analysis program for analyzing measurement data of a cylindrical shape measuring apparatus. For example, shape parameters that can be calculated from measurement data obtained by the rotation measurement operation include, for example, “roundness”, “flatness”, “flatness (double)”, “parallelism”, “concentricity”, “ "Concentricity", "Run-out", "Run-out (surface reference)", "Run-out (axial direction)", "Diameter deviation", "Cylindricality", "Squareness (axis reference)" The shape parameters that can be calculated from the measurement data obtained by the linear motion measurement operation include, for example, “Z-axis straightness”, “axial center straightness”, “linear motion cylindricity”, “linear motion parallel” There are “degree”, “linear motion straight angle”, “linear motion radial deviation”, “R-axis straightness”, and the like.

このため作業者は、コンピュータのディスプレイ上に表示された、非常に多くの種類の形状パラメータのうちから所望のものを選択する、という煩雑な作業を強いられる。また形状パラメータの名称には互いに似たような紛らわしいものがあるため、多数の形状パラメータのうちから選択しなければならない選択作業を、ますます煩雑なものとしていた。   For this reason, the operator is forced to perform a cumbersome operation of selecting a desired one from a great number of types of shape parameters displayed on the computer display. Also, since the names of the shape parameters are confusingly similar to each other, the selection work that must be selected from a large number of shape parameters has become increasingly complicated.

このような問題点に鑑み、本発明は、測定子に対して試料を相対的に自転させることにより測定子で試料の表面を走査する円柱形状測定装置が生成する測定データを解析して、真円度等の試料の形状パラメータを算出する形状解析装置及び形状解析プログラムにおいて、作業者が、測定データから算出すべき形状パラメータを選択する際の作業性を向上することを目的とする。   In view of such problems, the present invention analyzes the measurement data generated by the cylindrical shape measuring apparatus that scans the surface of the sample with the probe by rotating the sample relative to the probe, and An object of the present invention is to improve workability when an operator selects a shape parameter to be calculated from measurement data in a shape analysis apparatus and a shape analysis program for calculating a shape parameter of a sample such as circularity.

上記目的と達成するために、本発明では、円柱形状測定装置によって得られる試料表面の凹凸データのうち、試料の形状パラメータの算出に使用するものを作業者に先に選択させ、選択した凹凸データから計算できる形状パラメータのリストを生成して、計算すべき形状パラメータを作業者にこのリストから選ばせる。
上述のとおり、形状パラメータの種類は多岐に及ぶが、各形状パラメータを算出するには、それぞれ算出に使用する凹凸データを測定した面の数や方向が決まっている。したがって、形状パラメータの算出に使用する凹凸データを先に選択させて、選択した凹凸データから算出できる形状パラメータを決定して、これら決定した形状パラメータのうちから、算出すべきパラメータを作業者に選択させれば、作業者が形状パラメータを選択するときの選択枝を低減することができる。
In order to achieve the above object, in the present invention, among the unevenness data of the sample surface obtained by the cylindrical shape measuring apparatus, the operator selects the one to be used for calculating the shape parameter of the sample first, and the selected unevenness data A list of shape parameters that can be calculated from is generated, and the operator selects a shape parameter to be calculated from this list.
As described above, there are a wide variety of shape parameters. However, in order to calculate each shape parameter, the number and direction of the surfaces on which the unevenness data used for the calculation are determined. Therefore, the unevenness data used for calculating the shape parameter is selected first, the shape parameter that can be calculated from the selected unevenness data is determined, and the operator selects the parameter to be calculated from these determined shape parameters By doing so, it is possible to reduce selections when the operator selects the shape parameter.

本発明により、円柱形状測定装置が生成する測定データを解析して、真円度等の試料の形状パラメータを算出する形状解析装置及び形状解析プログラムにおいて、作業者が、測定データから算出すべき形状パラメータを選択する際の作業性が向上する。   According to the present invention, in a shape analysis device and a shape analysis program for analyzing a measurement data generated by a cylindrical shape measurement device and calculating a shape parameter of a sample such as roundness, a shape to be calculated from measurement data by an operator Workability when selecting parameters is improved.

以下、添付する図面を参照して本発明の実施例を説明する。図7は、本発明の実施例による形状解析装置の全体構成図である。
形状解析装置1は、図1を示して説明した円柱形状測定装置から、この円柱形状測定装置が試料の表面の凹凸を測定子で走査することにより得た表面の凹凸データである測定データを入力し、この測定データを解析することにより試料の形状パラメータを算出する。図示するとおり、形状解析装置1は、円柱形状測定装置から入力した測定データ11を記憶する記憶装置と、データ選択入力部12と、形状パラメータリスト生成部14と、パラメータ選択入力部15と、形状パラメータリスト算出部16とを備えている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 7 is an overall configuration diagram of a shape analysis apparatus according to an embodiment of the present invention.
The shape analysis apparatus 1 inputs measurement data which is surface roughness data obtained by scanning the surface roughness of the sample with a measuring element from the cylindrical shape measurement apparatus described with reference to FIG. Then, the shape parameter of the sample is calculated by analyzing the measurement data. As illustrated, the shape analysis apparatus 1 includes a storage device that stores measurement data 11 input from a cylindrical shape measurement device, a data selection input unit 12, a shape parameter list generation unit 14, a parameter selection input unit 15, and a shape. And a parameter list calculation unit 16.

作業者は、記憶装置内に記憶された測定データ11のうちから形状パラメータの算出に使用する測定データを選択する際に、データ選択入力部12を用いてデータの選択と選択結果の入力を行う。
形状パラメータリスト生成部14は、データ選択入力部12によりデータの選択が行われると、形状解析装置1により算出可能な各形状パラメータについて、データ選択入力部12により選択されたデータから算出可能か否かを判定し、その判定結果をパラメータ算出可否テーブル13に記憶する。
When selecting the measurement data used for calculation of the shape parameter from the measurement data 11 stored in the storage device, the operator uses the data selection input unit 12 to select data and input the selection result. .
When the data selection input unit 12 selects data, the shape parameter list generation unit 14 can calculate each shape parameter that can be calculated by the shape analysis apparatus 1 from the data selected by the data selection input unit 12. The determination result is stored in the parameter calculation availability table 13.

パラメータ選択入力部15は、形状パラメータリスト生成部14によって算出可能と判定された形状パラメータうちから、形状解析装置1に算出させる形状パラメータを作業者に選択させる。
形状パラメータリスト算出部16は、データ選択入力部12を用いて選択されたデータを解析して、選択パラメータ選択入力部15を用いて選択された形状パラメータを算出する。
The parameter selection input unit 15 causes the operator to select a shape parameter to be calculated by the shape analysis apparatus 1 from among the shape parameters determined to be calculable by the shape parameter list generation unit 14.
The shape parameter list calculation unit 16 analyzes the data selected using the data selection input unit 12 and calculates the shape parameter selected using the selection parameter selection input unit 15.

図7に示す各機能ブロックは、コンピュータと、このコンピュータ上で動作する本発明の実施例による形状解析プログラムによって実現される。図7に示す形状解析装置1を、コンピュータを用いて実現した場合のハードウェア構成を図8に示す。形状解析装置1は、形状解析プログラム26を実行するCPU21と、このCPU21に接続されたメモリ22、キーボード23、マウス24、ディスプレイ25、及びハードディスクドライブ27と、を備えている。   Each functional block shown in FIG. 7 is realized by a computer and a shape analysis program according to an embodiment of the present invention that operates on the computer. FIG. 8 shows a hardware configuration when the shape analysis apparatus 1 shown in FIG. 7 is realized using a computer. The shape analysis apparatus 1 includes a CPU 21 that executes a shape analysis program 26, and a memory 22, a keyboard 23, a mouse 24, a display 25, and a hard disk drive 27 connected to the CPU 21.

ハードディスクドライブ27には、本発明の実施例による形状解析プログラム26と、円柱形状測定装置から入力した測定データ11と、パラメータ算出可否テーブル13が記憶される。また形状解析装置1は、形状解析プログラム26をコンピュータにインストールし、測定データ11をコンピュータのハードディスクドライブ27に入力するためのディスクドライブユニット28を備えている。   The hard disk drive 27 stores a shape analysis program 26 according to an embodiment of the present invention, measurement data 11 input from a cylindrical shape measuring apparatus, and a parameter calculation availability table 13. The shape analysis apparatus 1 also includes a disk drive unit 28 for installing a shape analysis program 26 in a computer and inputting measurement data 11 to a hard disk drive 27 of the computer.

図9の(A)は、図2の(A)及び(B)を参照して説明した回転測定動作の際に円柱形状測定装置が生成する第1及び第2の種類の測定データの構成例を示す図である。測定子92に対して試料Wを相対的に自転させながら試料表面の凹凸を測定子92で走査する回転測定動作の場合には、測定データは、各測定点における表面の凹凸を示す座標データi(i=1、2、…)と、それぞれの測定時刻における測定子92に対する試料Wの自転角度の角度位置を示す回転角度情報iと、からなるデータ対の列になる。   FIG. 9A is a configuration example of the first and second types of measurement data generated by the cylindrical shape measuring apparatus during the rotation measurement operation described with reference to FIGS. 2A and 2B. FIG. In the rotation measurement operation in which the surface of the sample is scanned with the surface of the sample 92 while rotating the sample W relative to the surface of the measuring member 92, the measurement data includes coordinate data i indicating the surface unevenness of each measurement point. (I = 1, 2,...) And rotation angle information i indicating the angular position of the rotation angle of the sample W with respect to the probe 92 at each measurement time, and a pair of data.

図9の(A)に示す測定データは、座標データi及び回転角度情報iの列からなるデータ本体部分に加えてヘッダ情報を含む。ヘッダ情報には、その測定データを測定したときの測定動作情報と、測定時に測定子92により走査した面(図1に示す円柱形状測定装置の場合には触針93を摺動させた面)の方向を示す面方向情報を含んでいる。
例えば、回転測定動作により得られた図9の(A)に示す測定データの場合、ヘッダ情報の測定動作情報には、回転測定動作を示す情報「回転」が含まれる。
The measurement data shown in FIG. 9A includes header information in addition to a data main body portion composed of a sequence of coordinate data i and rotation angle information i. The header information includes measurement operation information when the measurement data is measured, and a surface scanned by the measuring element 92 at the time of measurement (in the case of the cylindrical shape measuring apparatus shown in FIG. 1, the surface on which the stylus 93 is slid). It includes plane direction information indicating the direction of.
For example, in the case of the measurement data shown in FIG. 9A obtained by the rotation measurement operation, the information “rotation” indicating the rotation measurement operation is included in the measurement operation information of the header information.

また面方向情報には、図2の(A)に示す円周L1に沿って測定子92による走査が行われた場合には「外周面」を示す情報が、円周L2に沿って測定子92による走査が行われた場合には「内周面」を示す情報が含まれる。
さらに図2の(B)に示す円周L3に沿って測定子92による走査が行われた場合には面方向情報には「上面」を示す情報が含まれ、円周L4に沿って測定子92による走査が行われた場合には「下面」を示す情報が含まれる。
Further, the surface direction information includes information indicating the “outer peripheral surface” when the scanning with the measuring element 92 is performed along the circumference L1 shown in FIG. When scanning by 92 is performed, information indicating the “inner peripheral surface” is included.
Further, when scanning with the measuring element 92 is performed along the circumference L3 shown in FIG. 2B, the information indicating the “upper surface” is included in the surface direction information, and the measuring element along the circumference L4. When scanning by 92 is performed, information indicating “lower surface” is included.

図9の(B)は、図3の(A)及び(B)を参照して説明した直動測定動作の際に円柱形状測定装置が生成する第3及び第4の種類の測定データの構成例を示す図である。測定子92に対して試料Wを自転させず、相対的に直動させながら試料表面の凹凸を測定子92で走査する回転測定動作の場合には、測定データは、各測定点における表面の凹凸を示す座標データi(i=1、2、…)の列になる。   FIG. 9B shows the configuration of third and fourth types of measurement data generated by the cylindrical shape measuring apparatus during the linear motion measurement operation described with reference to FIGS. 3A and 3B. It is a figure which shows an example. In the case of a rotational measurement operation in which the surface of the sample is scanned with the measuring element 92 while rotating the sample W relative to the measuring element 92 while rotating the sample W relatively, the measurement data includes the surface unevenness at each measuring point. Is a column of coordinate data i (i = 1, 2,...).

図9の(B)に示す測定データもヘッダ情報を含んでいる。図9の(A)に示す測定データと同様にヘッダ情報には測定動作情報と面方向情報とを含んでおり、本例では例えば測定動作情報には、直動測定動作を示す「直動」が含まれる。
また面方向情報には、図3の(A)に示す直線L5に沿って測定子92による走査が行われた場合には「外周面」を示す情報が、直線L6に沿って測定子92による走査が行われた場合には「内周面」を示す情報が含まれる。
さらに図2の(B)に示す直線L7に沿って測定子92による走査が行われた場合には面方向情報には「上面」を示す情報が含まれ、直線L8に沿って測定子92による走査が行われた場合には「下面」を示す情報が含まれる。
The measurement data shown in FIG. 9B also includes header information. Similarly to the measurement data shown in FIG. 9A, the header information includes measurement operation information and surface direction information. In this example, for example, the measurement operation information includes “linear motion” indicating a linear motion measurement operation. Is included.
The surface direction information includes information indicating the “outer peripheral surface” when the scanning with the measuring element 92 is performed along the straight line L5 shown in FIG. When scanning is performed, information indicating the “inner peripheral surface” is included.
Further, when scanning with the measuring element 92 is performed along the straight line L7 shown in FIG. 2B, the surface direction information includes information indicating the “upper surface”, and the measuring element 92 along the straight line L8. When scanning is performed, information indicating “lower surface” is included.

さらに図3の(A)に示すように、直動測定動作の際には測定子92に対して試料Wを自転させないので、回転テーブル91は測定動作中に回転しない。図9の(B)のヘッダ情報は、直動測定動作における回転テーブル91の角度位置情報を含む。後述するとおり、直動測定動作に関するいくつかの形状パラメータ、例えば後述する「軸心真直度」や「直動円筒度」などの算出にあたっては、試料Wの外周面S1又は内周面S3上の互いに対向する箇所をZ方向に沿って走査して得た2つの測定データを用いる。
図9の(B)の角度位置情報は、試料Wの外周面S1又は内周面S3をZ方向に走査したときの回転テーブル91の角度位置情報を示すことによって、試料Wの外周面S1又は内周面S3をZ方向に走査して得た測定データについて、データを測定した走査線を試料Wの自転軸から見たときの相対的な方位角を与える。この角度位置情報は、2つの測定データが試料Wの表面上の互いに対向する箇所で測定されたものか否かを判定する際に利用される。
Further, as shown in FIG. 3A, since the sample W is not rotated with respect to the probe 92 during the linear motion measurement operation, the rotary table 91 does not rotate during the measurement operation. The header information in FIG. 9B includes angular position information of the rotary table 91 in the linear motion measurement operation. As will be described later, in calculating some shape parameters related to the linear motion measurement operation, for example, “axial straightness” and “linear motion cylindricality” described later, on the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W. Two measurement data obtained by scanning the mutually opposing locations along the Z direction are used.
9B shows the angular position information of the rotary table 91 when the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W is scanned in the Z direction, whereby the outer peripheral surface S1 of the sample W or With respect to the measurement data obtained by scanning the inner peripheral surface S3 in the Z direction, a relative azimuth angle when the scanning line for measuring the data is viewed from the rotation axis of the sample W is given. This angular position information is used when it is determined whether or not the two measurement data are measured at locations facing each other on the surface of the sample W.

図10は、本発明の実施例による形状解析プログラム26による形状パラメータの解析作業のフローチャートである。
ステップS21では、作業者は、円柱形状測定装置から入力されハードディスクドライブ27に保存された複数の測定データ11のうちから、形状パラメータの算出に使用するものを1つ以上選択する。この様子を図11及び図12を参照して説明する。
図11は、形状解析プログラム26がディスプレイ25に表示するメイン画面を示す図である。
FIG. 10 is a flowchart of the shape parameter analysis work by the shape analysis program 26 according to the embodiment of the present invention.
In step S <b> 21, the operator selects one or more data to be used for calculating the shape parameter from among the plurality of measurement data 11 input from the cylindrical shape measuring device and stored in the hard disk drive 27. This will be described with reference to FIG. 11 and FIG.
FIG. 11 is a diagram showing a main screen displayed on the display 25 by the shape analysis program 26.

メイン画面には、形状解析プログラム26に行わせる動作を選択するツールバー31が設けられており、図示するとおりツールバー31は、ファイルの入出力動作やプログラムの終了指示などを行うための「ファイル」ボタン、回転測定動作による測定データを解析して形状パラメータを算出させる指示を行うための「回転系測定」ボタンと、直動測定動作による測定データを解析して形状パラメータを算出させる指示を行うための「直動系測定」ボタンとが設けられている。   The main screen is provided with a toolbar 31 for selecting an operation to be performed by the shape analysis program 26. As shown in the figure, the toolbar 31 is a “file” button for performing a file input / output operation, a program end instruction, or the like. ”Rotation system measurement” button for instructing to calculate the shape parameter by analyzing the measurement data by the rotation measurement operation, and for instructing to calculate the shape parameter by analyzing the measurement data by the linear motion measurement operation A “linear motion measurement” button is provided.

マウス24によって「ファイル」ボタンをクリックすることにより、図12の(A)に示すようなファイル操作用プルダウンメニュー32が表示される。さらにマウス24によってメニュー項目「開く」を選択することにより、図12の(B)に示す入力ファイル指定画面33がディスプレイ25に表示される。
入力ファイル指定画面33には、ハードディスクドライブ27内の所定のフォルダ(ディレクトリ)内に記録されている測定データファイルのファイル名一覧34が表示される。作業者は、ファイル名一覧34内のファイル名をマウス24で指定することにより、またはファイル名をキーボード23で直接入力することによって、以降のステップで行う形状パラメータの算出に使用する測定データを1つ以上選択する。
When the “file” button is clicked with the mouse 24, a file operation pull-down menu 32 as shown in FIG. 12A is displayed. Further, by selecting the menu item “Open” with the mouse 24, an input file designation screen 33 shown in FIG. 12B is displayed on the display 25.
On the input file designation screen 33, a list of file names 34 of measurement data files recorded in a predetermined folder (directory) in the hard disk drive 27 is displayed. The operator designates the file name in the file name list 34 with the mouse 24, or directly inputs the file name with the keyboard 23, so that the measurement data used for the calculation of the shape parameter performed in the subsequent steps is 1 Select one or more.

図10に戻りステップS22では、形状解析プログラム26は、ステップS21で選択した1以上の測定データから計算できる形状パラメータのリストを作成する処理を行う。
形状パラメータのリストを作成する処理は、形状解析プログラム26によって算出することが可能な各形状パラメータについて、ステップS21で選択した測定データから算出できるか否かを判定し、その判定結果をパラメータ算出可否テーブル13に記憶することによって行う。
図13は、パラメータ算出可否テーブル13のうち、回転測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータに関する部分のみを示したパラメータ算出可否テーブル13aを示す図である。
Returning to FIG. 10, in step S22, the shape analysis program 26 performs a process of creating a list of shape parameters that can be calculated from the one or more measurement data selected in step S21.
In the process of creating the list of shape parameters, it is determined whether or not each shape parameter that can be calculated by the shape analysis program 26 can be calculated from the measurement data selected in step S21, and the determination result can be used to calculate the parameter. This is done by storing in the table 13.
FIG. 13 is a diagram showing a parameter calculation availability table 13a that shows only the part related to the shape parameter that can be calculated from the measurement data obtained by the rotation measurement operation in the parameter calculation availability table 13.

本実施例による形状解析プログラム26は、回転測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータとして、「真円度」、「平面度」、「平面度(複)」、「平行度」、「同心度」、「同軸度」、「振れ」、「振れ(面基準)」、「振れ(軸方向)」、「径偏差」、「円筒度」、「直角度(軸基準)」及び「直角度(面基準)」を算出することができる。パラメータ算出可否テーブル13aは、これらの形状パラメータのそれぞれについて、ステップS21で選択した測定データから算出できるか否かのフラグを記録するための計算可否フィールドを有する。   The shape analysis program 26 according to the present embodiment uses “roundness”, “flatness”, “flatness (double)”, “parallelism”, “concentricity” as shape parameters that can be calculated from measurement data obtained by rotation measurement operation. "Degree", "coaxiality", "runout", "runout (plane reference)", "runout (axial direction)", "diameter deviation", "cylindricity", "squareness (axial reference)" and "squareness" (Surface reference) "can be calculated. The parameter calculation availability table 13a has a calculation availability field for recording a flag indicating whether each of these shape parameters can be calculated from the measurement data selected in step S21.

以下、上記に列挙した回転測定動作による測定データから算出可能な各形状パラメータの意義と、それぞれのパラメータを計算するために必要な測定面数と測定面の種類を説明する。
以下の説明において「測定面数」の語は、測定子92による走査が1回行われて1つの測定データが得られた測定面の数を意味するものとして使用する。例えば、同一の面にて2回走査が行われ2つの測定データが採取された場合には測定面数は「2」となる。
ここで、図2の(A)を参照して説明した試料Wの外周L1又は内周L2を測定した第1の種類の測定データについて測定面数をカウントする場合には、1つの外周L1を1回走査して得た1つの断面S2の外周の凹凸を測定した測定データの測定面数を「1」とし、または1つの内周L2を1回走査して得た断面S4の内周の凹凸を測定した測定データの測定面数を「1」とする。
Hereinafter, the meaning of each shape parameter that can be calculated from the measurement data obtained by the rotation measurement operation listed above, and the number of measurement surfaces and the types of measurement surfaces necessary for calculating each parameter will be described.
In the following description, the term “number of measurement surfaces” is used to mean the number of measurement surfaces from which one measurement data is obtained by performing scanning once by the measuring element 92. For example, when two scans are performed on the same surface and two pieces of measurement data are collected, the number of measurement surfaces is “2”.
Here, when counting the number of measurement surfaces for the first type of measurement data obtained by measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W described with reference to FIG. The number of measurement surfaces of the measurement data obtained by measuring the outer periphery of one cross section S2 obtained by scanning once is set to “1”, or the inner circumference of the cross section S4 obtained by scanning one inner circumference L2 once. The number of measurement surfaces of the measurement data obtained by measuring the unevenness is “1”.

形状パラメータ「真円度」の意義は図4を参照して説明したとおりである。真円度を算出するには、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した、測定面数が1以上の第1の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “roundness” is as described with reference to FIG. In order to calculate the roundness, the first type of measurement data in which the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG.

図14を参照して形状パラメータ「平面度」の意義を説明する。平面度は、平面S1又はS2上の凹凸を回転測定して得られた平面形状が、幾何学的に正しい平面からどれだけ離れているかの誤差の大きさを示す。したがって平面度の算出には、図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した、測定面数が1以上の第2の種類の測定データを必要とする。
形状パラメータ「平面度(複)」は、平面の凹凸を2回以上回転測定し、全ての測定データの最大値と最小値の幅を平面度として示したものである。したがって平面度(複)の算出には、図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した測定面数が2以上の第2の種類の測定データを必要とする。
The significance of the shape parameter “flatness” will be described with reference to FIG. The flatness indicates a magnitude of an error of how far a plane shape obtained by rotationally measuring the unevenness on the plane S1 or S2 is away from a geometrically correct plane. Therefore, the calculation of flatness requires the second type of measurement data in which the number of measurement surfaces is one or more, in which the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W shown in FIG.
The shape parameter “flatness (multiple)” is obtained by measuring the unevenness of the plane twice or more times and indicating the width of the maximum value and the minimum value of all measurement data as flatness. Therefore, the calculation of the flatness (duplex) requires the second type of measurement data in which the number of measurement surfaces obtained by measuring the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W shown in FIG.

図15を参照して形状パラメータ「平行度」の意義を説明する。平行度は、2つ以上の平行な平面の凹凸を回転測定し、一方の面SRをデータム面とし、他方の面SMを測定面としたとき、データム面SRに幾何学的に平行な平面体から測定面SMがどれだけ離れているかの誤差の大きさを示す。したがって平行度の算出には、図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した測定面数が2以上の第2の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “parallelism” will be described with reference to FIG. The degree of parallelism is obtained by rotating and measuring unevenness of two or more parallel planes, and when one surface SR is a datum surface and the other surface SM is a measurement surface, a plane body that is geometrically parallel to the datum surface SR. This indicates the magnitude of the error of how far the measurement surface SM is from. Accordingly, the calculation of the parallelism requires the second type of measurement data in which the number of measurement surfaces obtained by measuring the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W shown in FIG.

図16を参照して形状パラメータ「同心度」の意義を説明する。同心度は、同じ中心を持つ2つ以上の円周CR、CM1及びCM2の凹凸を回転測定し、基準円CRの中心を通り、ワークWの回転中心に平行な軸をデータム軸ADとしたときの、データム軸の軸心に対する各測定円CM1及びCM2のそれぞれの中心位置C1及びC2の位置の狂いの大きさを示す。したがって同心度の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “concentricity” will be described with reference to FIG. Concentricity is measured when the unevenness of two or more circumferences CR, CM1, and CM2 having the same center is measured by rotation, and the axis passing through the center of the reference circle CR and parallel to the center of rotation of the workpiece W is the datum axis AD. The magnitude of the deviation of the center positions C1 and C2 of the respective measurement circles CM1 and CM2 with respect to the axis of the datum axis is shown. Therefore, the calculation of the concentricity requires the first type of measurement data in which the number of measurement surfaces obtained by measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG.

図17を参照して形状パラメータ「同軸度」の意義を説明する。同軸度は、同じ中心を持つ3つ以上の円周CR1、CR2及びCMの凹凸を回転測定し、基準円CR1及びCR2の中心を通るデータム軸ADからの、測定円CMの軸心AMの狂いの大きさを示す。したがって同軸度の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が3以上の第1の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “coaxiality” will be described with reference to FIG. The coaxiality is measured by rotating the unevenness of three or more circumferences CR1, CR2 and CM having the same center, and the axis AM of the measurement circle CM is deviated from the datum axis AD passing through the centers of the reference circles CR1 and CR2. Indicates the size. Therefore, the calculation of the coaxiality requires the first type of measurement data in which the number of measurement surfaces obtained by measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG.

図18を参照して形状パラメータ「振れ」の意義を説明する。振れは、2つ以上の円周C1〜C4の凹凸を回転測定し、データム軸心に対する測定円C1〜C4の変位の大きさ、又はデータム軸を直線とする円筒面の変位の大きさを示す。したがって、振れの算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “runout” will be described with reference to FIG. The deflection is measured by rotating the unevenness of two or more circumferences C1 to C4, and indicates the magnitude of displacement of the measurement circles C1 to C4 with respect to the datum axis or the magnitude of displacement of the cylindrical surface with the datum axis as a straight line. . Therefore, the calculation of the shake requires the first type of measurement data in which the number of measurement surfaces obtained by measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG.

形状パラメータ「振れ(面基準)」の意義は図5を参照して説明したとおりである。振れ(面基準)の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データと、図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した測定面数が1以上の第2の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “runout (plane reference)” is as described with reference to FIG. For the calculation of the deflection (surface reference), the first type of measurement data having two or more measurement surfaces measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG. The measurement data of the 2nd type whose measurement surface number which measured the upper surface S5 or lower surface S6 of the sample W shown to B) is 1 or more is required.

図19を参照して形状パラメータ「振れ(軸方向)」の意義を説明する。振れ(軸方向)は、2つ以上の基準円CR1及びCR2の中心から求めたデータム軸ADに垂直な平面から、測定面SMまでの距離の最大値と最小値の差を示す。したがって、振れ(軸方向)の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データと、図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した測定面数が1以上の第2の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “runout (axial direction)” will be described with reference to FIG. The shake (axial direction) indicates the difference between the maximum value and the minimum value of the distance from the plane perpendicular to the datum axis AD obtained from the centers of the two or more reference circles CR1 and CR2 to the measurement surface SM. Therefore, for the calculation of the shake (axial direction), the first type of measurement data having two or more measurement surfaces measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG. The measurement data of the 2nd type whose number of measurement surfaces which measured upper surface S5 or lower surface S6 of sample W shown in (B) of 1 or more is required.

図20を参照して形状パラメータ「径偏差」の意義を説明する。径偏差は、同じ半径をもつ2つ以上の円周C1〜C3の凹凸を回転測定し、これらの円周C1〜C3の半径差の最も大きい値ΔRを示す。したがって、径偏差の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “diameter deviation” will be described with reference to FIG. The diameter deviation indicates the largest value ΔR of the radius difference between the circumferences C1 to C3 by rotating and measuring irregularities of two or more circumferences C1 to C3 having the same radius. Therefore, the calculation of the diameter deviation requires the first type of measurement data in which the number of measurement surfaces obtained by measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG.

図21を参照して形状パラメータ「円筒度」の意義を説明する。円筒度は、同一中心軸及び同一半径を持つ円周の凹凸を2つ以上測定し、幾何学的に正しい円筒からこれら測定円の狂いの大きさeを示す。したがって、円筒度の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “cylindricity” will be described with reference to FIG. The cylindricity indicates two or more circumferential irregularities having the same central axis and the same radius, and indicates the magnitude e of deviation of these measurement circles from a geometrically correct cylinder. Therefore, the calculation of the cylindricity requires the first type of measurement data in which the number of measurement surfaces obtained by measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG.

次に形状パラメータ「直角度(軸基準)」の意義を説明する。説明には図19を使用する。直角度(軸基準)は、2つ以上の基準円CR1及びCR2の中心から求めたデータム軸ADに垂直な2つの平面で、測定面SMを挟んだときの2平面の間隔を示す。したがって、直角度(軸基準)の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データと、図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した測定面数が1以上の第2の種類の測定データを必要とする。   Next, the significance of the shape parameter “perpendicularity (axis reference)” will be described. FIG. 19 is used for the description. The perpendicularity (axis reference) indicates an interval between two planes when the measurement plane SM is sandwiched between two planes perpendicular to the datum axis AD obtained from the centers of two or more reference circles CR1 and CR2. Therefore, for the calculation of the squareness (axis reference), the first type of measurement data having two or more measurement surfaces measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG. The measurement data of the 2nd type whose number of measurement surfaces which measured upper surface S5 or lower surface S6 of sample W shown in 2 (B) is one or more is required.

図22を参照して形状パラメータ「直角度(面基準)」の意義を説明する。直角度(面基準)は、基準平面SRの凹凸と、基準円CR及び測定円CMの円周の凹凸を回転測定し、基準平面SRに垂直かつ基準円CRの中心C1を通る軸をデータム軸ADとして、測定円CMの中心位置C2とデータム軸ADとの距離の最大値を示す。したがって、直角度(軸基準)の算出には、図2の(A)に示す試料Wの外周L1又は内周L2を測定した測定面数が2以上の第1の種類の測定データと、図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した測定面数が1以上の第2の種類の測定データを必要とする。   The significance of the shape parameter “perpendicularity (plane reference)” will be described with reference to FIG. The squareness (surface reference) is a datum axis in which the unevenness of the reference plane SR and the unevenness of the circumference of the reference circle CR and the measurement circle CM are rotationally measured, and the axis perpendicular to the reference plane SR and passing through the center C1 of the reference circle CR As AD, the maximum value of the distance between the center position C2 of the measurement circle CM and the datum axis AD is shown. Therefore, for the calculation of the squareness (axis reference), the first type of measurement data having two or more measurement surfaces measuring the outer circumference L1 or the inner circumference L2 of the sample W shown in FIG. The measurement data of the 2nd type whose number of measurement surfaces which measured upper surface S5 or lower surface S6 of sample W shown in 2 (B) is one or more is required.

以上のとおり回転測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータのそれぞれについて説明した、各形状パラメータを算出するのに必要な測定面数と測定面の種類に関する条件を図23に示す。
図23において、「○(1)」は、図10に示すステップS21で選択した測定データが図2の(A)に示す試料Wの外周面S1又は内周面S3を測定子92で走査して得られたデータである場合、すなわち図9の(A)に示す測定データのヘッダ情報の面方向情報フィールドに「外周面」または「内周面」を示す情報が含まれている場合に、算出可能であることを示す。
「○(2)」は、ステップS21で選択した測定データが図2の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定子92で走査して得られたデータである場合、すなわち測定データの面方向情報フィールドに「上面」または「下面」を示す情報が含まれている場合に、算出可能であることを示す。
FIG. 23 shows the conditions regarding the number of measurement surfaces and the types of measurement surfaces necessary for calculating each shape parameter, as described above for each of the shape parameters that can be calculated from the measurement data obtained by the rotation measurement operation.
23, “◯ (1)” indicates that the measurement data selected in step S21 shown in FIG. 10 scans the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W shown in FIG. In other words, when the information indicating the “outer peripheral surface” or “inner peripheral surface” is included in the surface direction information field of the header information of the measurement data shown in FIG. Indicates that calculation is possible.
“◯ (2)” indicates that the measurement data selected in step S21 is data obtained by scanning the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W shown in FIG. This indicates that calculation is possible when information indicating “upper surface” or “lower surface” is included in the surface direction information field of the data.

「○(3)」は、ステップS21で選択した測定データのうち少なくとも2つの測定データの面方向情報フィールドに「外周面」または「内周面」が含まれており、かつ少なくとも1つの測定データの面方向情報フィールドに「上面」または「下面」を示す情報が含まれている場合に、算出可能であることを示す。
「○(4)」は、ステップS21で選択した全て測定データの面方向情報フィールドに「外周面」が含まれているか、又はステップS21で選択した全て測定データの面方向情報フィールドに「内周面」が含まれている場合に、算出可能であることを示す。
「×」は、算出不能であることを示す。
“O (3)” includes “outer peripheral surface” or “inner peripheral surface” in the surface direction information field of at least two of the measurement data selected in step S21, and at least one measurement data. If the information indicating “upper surface” or “lower surface” is included in the surface direction information field, it indicates that calculation is possible.
“O (4)” indicates that “outer surface” is included in the surface direction information field of all measurement data selected in step S21, or “inner periphery” is included in the surface direction information field of all measurement data selected in step S21. When "surface" is included, it indicates that calculation is possible.
“X” indicates that calculation is impossible.

図24は、パラメータ算出可否テーブル13のうち、直動測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータに関する部分のみを示したパラメータ算出可否テーブル13bを示す図である。
本実施例による形状解析プログラム26は、直動測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータとして、「Z軸真直度」、「軸心真直度」、「直動円筒度」、「直動平行度」、「直動直角度」、「直動径偏差」及び「R軸真直度」を算出することができる。パラメータ算出可否テーブル13bは、これらの形状パラメータのそれぞれについて、ステップS21で選択した測定データから算出できるか否かのフラグを記録するための計算可否フィールドを有する。
以下、上記に列挙した直動測定動作による測定データから算出可能な各形状パラメータの意義と、それぞれのパラメータを計算するために必要な測定面数と測定面の種類を説明する。
FIG. 24 is a diagram showing the parameter calculation availability table 13b that shows only the part related to the shape parameters that can be calculated from the measurement data obtained by the linear motion measurement operation in the parameter calculation availability table 13.
The shape analysis program 26 according to the present embodiment uses “Z-axis straightness”, “axial straightness”, “linear cylindricity”, “linear parallelism” as shape parameters that can be calculated from measurement data obtained by the linear motion measurement operation. "Degree", "linear motion straight angle", "linear motion radial deviation" and "R-axis straightness" can be calculated. The parameter calculation availability table 13b has a calculation availability field for recording a flag indicating whether each of these shape parameters can be calculated from the measurement data selected in step S21.
Hereinafter, the significance of each shape parameter that can be calculated from the measurement data obtained by the linear motion measurement operation listed above, and the number of measurement surfaces and the types of measurement surfaces necessary for calculating each parameter will be described.

形状パラメータ「Z軸真直度」は、図3の(A)に示すように、測定子92をZ方向に直動させながら測定子92で試料Wの外周面S1又は内周面S3を走査して得られた凹凸データが、幾何学的に正しい直線からどれだけ離れているかを示す。したがって、Z軸真直度の算出には、図3の(A)に示す試料Wの外周面S1又は内周面S3を測定した、測定面数が1以上の第3の種類の測定データを必要とする。   As shown in FIG. 3A, the shape parameter “Z-axis straightness” scans the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W with the measuring element 92 while moving the measuring element 92 in the Z direction. It shows how far the unevenness data obtained in this way is from a geometrically correct straight line. Therefore, for the calculation of the Z-axis straightness, the third type of measurement data having the number of measurement surfaces of 1 or more, which is obtained by measuring the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W shown in FIG. And

図25を参照して形状パラメータ「軸心真直度」の意義を説明する。軸心真直度は、円筒状試料Wの表面の対向する箇所において、Z方向に沿う走査線L1及びL2に沿って凹凸を測定したとき、これらの測定データ間の中心線の変位の幅を示す。したがって軸心真直度の算出には、図3の(A)に示す試料Wの外周面S1又は内周面S3を測定した、測定面数が2の第3の種類の測定データを必要とし、なおこれらの測定データを測定した走査線L1及びL2が、円筒状試料Wの表面の対向する箇所にあることを要する。   The significance of the shape parameter “axiality straightness” will be described with reference to FIG. The axial straightness indicates the width of the displacement of the center line between these measurement data when the unevenness is measured along the scanning lines L1 and L2 along the Z direction at the opposite positions on the surface of the cylindrical sample W. . Therefore, the calculation of the axial straightness requires the third type of measurement data with the number of measurement surfaces of 2 measured from the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W shown in FIG. In addition, it is required that the scanning lines L1 and L2 for measuring these measurement data are located at opposite positions on the surface of the cylindrical sample W.

2つの走査線L1及びL2が、円筒状試料Wの表面の対向する箇所にあるか否かは、図9の(B)に示す直動測定動作の際の測定データのヘッダ情報に含まれる、回転テーブル91の角度位置情報により決定することができる。
すなわち、走査線L1上で測定した測定データの角度位置情報フィールドには、走査線L1上を測定子92で走査するために(すなわち図1に示す円柱形状測定装置の構成例では、触針93を走査線L1上に位置付けるために)制御された回転テーブル91の角度位置θ1が含まれ、走査線L2上で測定した測定データの角度位置情報フィールドには、走査線L2上を測定子92で走査するために制御された回転テーブル91の角度位置θ2が含まれる。したがって、それぞれの測定データに含まれる角度位置情報θ1及びθ2の間の相対角度を求めることによって、2つの走査線L1及びL2が対向する箇所にあるか否かを判定することができる。
Whether or not the two scanning lines L1 and L2 are at opposite positions on the surface of the cylindrical sample W is included in the header information of the measurement data in the linear motion measurement operation shown in FIG. 9B. It can be determined from the angular position information of the rotary table 91.
That is, in the angular position information field of the measurement data measured on the scanning line L1, in order to scan the scanning line L1 with the measuring element 92 (that is, in the configuration example of the cylindrical shape measuring apparatus shown in FIG. Is included in the angular position information field of the measurement data measured on the scanning line L2, with the measuring element 92 on the scanning line L2. The angular position θ2 of the rotary table 91 controlled for scanning is included. Therefore, by determining the relative angle between the angular position information θ1 and θ2 included in each measurement data, it is possible to determine whether or not the two scanning lines L1 and L2 are at opposite positions.

例えば、2つの測定データの角度位置情報フィールドに記憶される角度位置がθ1及びθ2であるとすると、θ1’=θ1+90°、θ2’=θ2−90°を計算する。そしてθ1’≧360°のとき、θ1’をθ1’=θ1’−360°と補正し、θ1’<360°のときθ1’をθ1’=θ1’+360°と補正する。
このとき、θ2>θ1’かつθ2<θ2’であれば2つの測定データを測定した箇所は対向していると判定する。
For example, assuming that the angular positions stored in the angular position information field of two measurement data are θ1 and θ2, θ1 ′ = θ1 + 90 ° and θ2 ′ = θ2-90 ° are calculated. When θ1 ′ ≧ 360 °, θ1 ′ is corrected as θ1 ′ = θ1′−360 °, and when θ1 ′ <360 °, θ1 ′ is corrected as θ1 ′ = θ1 ′ + 360 °.
At this time, if θ2> θ1 ′ and θ2 <θ2 ′, it is determined that the locations where the two measurement data are measured are facing each other.

同じく図25を参照して形状パラメータ「直動円筒度」の意義を説明する。直動円筒度は、円筒状試料Wの表面の対向する箇所において、Z方向に沿う走査線L1及びL2に沿って凹凸を測定したとき、これらの測定データ間の中心軸の平均線に平行な直線で、2つの測定データが示す形状を挟んだときの径方向の最大変位量を示す。
したがって直動円筒度の測定には、図3の(A)に示す円筒状試料Wの表面の外周面S1上又は内周面S3上の2箇所についての測定した測定データの対を最低1対必要とし、1対の測定データに含まれる2つの測定データを測定した箇所が、円筒状試料Wの表面の対向する箇所にあることを要する。2つの測定データを測定した箇所が円筒状試料Wの表面の対向する箇所にあるか否かは、軸心真直度の場合と同様に判定することができる。
Similarly, the significance of the shape parameter “linear motion cylindricity” will be described with reference to FIG. The linearity cylindricity is parallel to the average line of the central axis between these measurement data when the irregularities are measured along the scanning lines L1 and L2 along the Z direction at the opposite positions on the surface of the cylindrical sample W. The maximum displacement in the radial direction when a shape indicated by two measurement data is sandwiched between straight lines is shown.
Therefore, for measuring the linearity of the cylindricity, at least one pair of measured data measured at two locations on the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the surface of the cylindrical sample W shown in FIG. Necessary and the place where the two pieces of measurement data included in the pair of measurement data are measured needs to be located at the opposite place on the surface of the cylindrical sample W. It can be determined in the same manner as in the case of the axial straightness whether or not the place where the two pieces of measurement data are measured is at the place where the surface of the cylindrical sample W is opposed.

形状パラメータ「直動平行度」の意義を説明する。直動平行度は、円筒状試料Wの表面をZ方向に沿う走査線L1及びL2に沿って凹凸を測定したとき、一方の走査線L1を測定した面をデータム面とし、他方の走査線L2を測定した面を測定面として、2つの面の平行度を示す。
したがって直動平行度の算出には、図3の(A)に示す試料Wの外周面S1又は内周面S3を測定した、測定面数が2の第3の種類の測定データを必要とする。
The significance of the shape parameter “linear motion parallelism” will be described. The linear motion parallelism is obtained by measuring the surface of the cylindrical sample W along the scanning lines L1 and L2 along the Z direction and setting the surface on which one scanning line L1 is measured as the datum surface and the other scanning line L2. The parallelism of the two surfaces is shown with the surface measured as the measurement surface.
Therefore, the calculation of the linear motion parallelism requires the third type of measurement data having the number of measurement surfaces of 2, which is obtained by measuring the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W shown in FIG. .

図26を参照して形状パラメータ「直動直角度」の意義を説明する。直動直角度は、円筒状試料Wの表面の対向する箇所において、Z方向に沿う走査線L1及びL2に沿って凹凸を測定したとき、基準平面SRに直交する直線からこれらの測定データ間の中心軸の離れの幅を示す。
したがって直動直角度の算出には、図3の(A)に示す試料Wの外周面S1又は内周面S3を測定した、測定面数が2の第3の種類の測定データを必要とし、なおこれらの測定データを測定した走査線L1及びL2が、円筒状試料Wの表面の対向する箇所にあることを要する。走査線L1及びL2が対向する箇所にあるか否かの判定は、軸心真直度の場合と同様に判定することができる。
The significance of the shape parameter “linear motion direct angle” will be described with reference to FIG. The linear motion straight angle is obtained by measuring the unevenness along the scanning lines L1 and L2 along the Z direction at the opposite positions on the surface of the cylindrical sample W from the straight line perpendicular to the reference plane SR. Indicates the width apart from the central axis.
Therefore, the calculation of the linear motion perpendicular angle requires the third type of measurement data with the number of measurement surfaces of 2 measured from the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W shown in FIG. In addition, it is required that the scanning lines L1 and L2 for measuring these measurement data are located at opposite positions on the surface of the cylindrical sample W. Whether or not the scanning lines L1 and L2 are located at opposite positions can be determined in the same manner as in the case of the axial straightness.

直動径偏差は、試料Wの外周面S1の1箇所又は2箇所において、測定子92をZ方向に沿って走査したときの径方向の変位を示す。したがって直動径偏差の算出には、図3の(A)に示す試料Wの外周面S1又は内周面S3を測定した、測定面数が1又は2の第3の種類の測定データを必要とする。   The linear motion radial deviation indicates a radial displacement when the measuring element 92 is scanned along the Z direction at one or two positions on the outer peripheral surface S1 of the sample W. Therefore, the calculation of the linear motion radial deviation requires the third type of measurement data with the number of measurement surfaces of 1 or 2 measured from the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W shown in FIG. And

R軸真直度は、測定子92を試料Wの径方向、すなわちXY平面に平行に走査したときの凹凸データが、幾何学的に正しい直線からどれだけ離れているかを示す。したがって、R軸真直度の算出には、図3の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定した、測定面数が1以上の第4の種類の測定データを必要とする。   The R-axis straightness indicates how far the concavo-convex data is when the stylus 92 is scanned in parallel with the radial direction of the sample W, that is, the XY plane, from a geometrically correct straight line. Therefore, the calculation of the R-axis straightness requires the fourth type of measurement data in which the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W shown in FIG.

以上のとおり直動測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータのそれぞれについて説明した、各形状パラメータを算出するのに必要な測定面数と測定面の種類に関する条件を図27に示す。
図27において、「○(1)」は、図10に示すステップS21で選択した測定データが図3の(A)に示す試料Wの外周面S1又は内周面S3を測定子92で走査して得られたデータである場合、すなわち図9の(B)に示す測定データのヘッダ情報の面方向情報フィールドに「外周面」または「内周面」を示す情報が含まれている場合に、算出可能であることを示す。
「○(2)」は、ステップS21で選択した測定データが図3の(B)に示す試料Wの上面S5又は下面S6を測定子92で走査して得られたデータである場合、すなわち測定データの面方向情報フィールドに「上面」または「下面」を示す情報が含まれている場合に、算出可能であることを示す。
FIG. 27 shows the conditions regarding the number of measurement surfaces and the types of measurement surfaces necessary for calculating each shape parameter, which are explained for each shape parameter that can be calculated from the measurement data obtained by the linear motion measurement operation as described above.
In FIG. 27, “◯ (1)” indicates that the measurement data selected in step S21 shown in FIG. 10 scans the outer peripheral surface S1 or the inner peripheral surface S3 of the sample W shown in FIG. In other words, in the case where the information indicating the “outer peripheral surface” or “inner peripheral surface” is included in the surface direction information field of the header information of the measurement data shown in FIG. Indicates that calculation is possible.
“◯ (2)” indicates that the measurement data selected in step S21 is data obtained by scanning the upper surface S5 or the lower surface S6 of the sample W shown in FIG. This indicates that calculation is possible when information indicating “upper surface” or “lower surface” is included in the surface direction information field of the data.

「○(3)」は、ステップS21で選択した2つの測定データの面方向情報フィールドに「外周面」または「内周面」を示す情報が含まれており、かつ、これらの測定データを測定した箇所が試料Wの表面の対向する箇所にある場合に、算出可能であることを示す。
「○(4)」は、ステップS21で選択した測定データが、その面方向情報フィールドに「外周面」または「内周面」を示す情報が含まれており、かつ、試料Wの表面の互いに対向する2箇所について測定された1対の測定データの複数対からなる場合に、算出可能であることを示す。
「×」は、算出不能であることを示す。
“O (3)” includes information indicating “outer peripheral surface” or “inner peripheral surface” in the surface direction information field of the two measurement data selected in step S21, and measures these measurement data. It is shown that the calculation is possible when the measured location is at a location facing the surface of the sample W.
"O (4)" indicates that the measurement data selected in step S21 includes information indicating "outer peripheral surface" or "inner peripheral surface" in the surface direction information field, and the surfaces of the sample W are mutually connected. It shows that it can be calculated when it consists of a plurality of pairs of a pair of measurement data measured at two opposing locations.
“X” indicates that calculation is impossible.

ステップS22において形状解析プログラム26は、ステップS21で選択した測定データの測定面数を判定する。
そして形状解析プログラム26は、ヘッダ情報の測定動作情報フィールドを参照し、選択された測定データを測定したときの測定動作が、回転測定動作であるのか直動測定動作であるのかを判定する。
In step S22, the shape analysis program 26 determines the number of measurement surfaces of the measurement data selected in step S21.
Then, the shape analysis program 26 refers to the measurement operation information field of the header information, and determines whether the measurement operation when the selected measurement data is measured is a rotation measurement operation or a linear motion measurement operation.

また形状解析プログラム26は、ヘッダ情報の面方向情報フィールドを参照して、選択された測定データを測定した時に測定子92により走査した面の方向を判定する。
さらに形状解析プログラム26は、ステップS21にて選択した測定データに、直動測定動作により試料の内外周をZ方向に走査して測定した複数の測定データが含まれる場合には、これら選択された測定データに、試料Wの対向する箇所にて測定された2つの測定データからなる測定データの対が存在するかを判定する。
測定データの対をなす2つの測定データが対向条件を充足するか否か、すなわちこれら2つの測定データが試料Wの対向する箇所にて測定されたか否かの判定は、軸心直角度、直動円筒度及び直動直角度の算出可否の判定条件に関する上記の説明で述べたように、2つの測定データのヘッダ情報の角度位置情報フィールドにそれぞれ記憶された回転テーブル91の回転位置間の相対角度に基づいて行う。
Further, the shape analysis program 26 refers to the surface direction information field of the header information, and determines the direction of the surface scanned by the measuring element 92 when the selected measurement data is measured.
Further, when the measurement data selected in step S21 includes a plurality of measurement data measured by scanning the inner and outer circumferences of the sample in the Z direction by the linear motion measurement operation, the shape analysis program 26 selects these data. It is determined whether or not there is a measurement data pair consisting of two measurement data measured at the opposite positions of the sample W in the measurement data.
Whether or not the two measurement data forming a pair of measurement data satisfy the facing condition, that is, whether or not these two measurement data are measured at a position where the sample W is opposed to each other is determined based on the perpendicularity of the axial center, As described in the above description regarding the determination condition of whether or not to calculate the dynamic cylindricity and the linearity direct angle, the relative position between the rotational positions of the rotary table 91 respectively stored in the angular position information field of the header information of the two measurement data Based on the angle.

そして、形状解析プログラム26は、これらの測定面数、測定動作の種類、面の方向及び対向条件の判定結果に応じて、それぞれの形状パラメータについて算出可否を判定する上記の判定基準にしたがって、各パラメータの算出可否を判定し、その判定結果をパラメータ算出可否テーブル13に記憶する。   Then, according to the above determination criteria for determining whether each shape parameter can be calculated according to the determination result of the number of measurement surfaces, the type of measurement operation, the direction of the surface, and the facing condition, the shape analysis program 26 It is determined whether the parameter can be calculated, and the determination result is stored in the parameter calculation availability table 13.

図28の(A)は、測定面数が2の測定データをステップS21で選択した場合の、回転測定動作に関する形状パラメータに関するパラメータ算出可否テーブル13aの内容を示す図である。ここで、ステップS21で選択した測定データの両方の測定動作情報フィールドには「回転」が含まれ、面方向情報フィールドには「外周面」が含まれていた場合の判定結果を示している。   (A) of FIG. 28 is a diagram showing the contents of the parameter calculation availability table 13a related to the shape parameter relating to the rotation measurement operation when the measurement data having the number of measurement surfaces of 2 is selected in step S21. Here, the determination result in the case where both measurement operation information fields of the measurement data selected in step S21 include “rotation” and the surface direction information field includes “outer peripheral surface” is shown.

図29の(A)は、測定面数が2の測定データをステップS21で選択した場合の、直動測定動作に関する形状パラメータに関するパラメータ算出可否テーブル13bの内容を示す図である。ここで、ステップS21で選択した測定データの測定動作情報フィールドには「直動」が含まれ、両方の測定データの面方向情報フィールドには「外周面」が含まれ、かつこれらの測定データを測定した箇所が対向しない場合の判定結果を示している。   FIG. 29A is a diagram illustrating the contents of the parameter calculation availability table 13b related to the shape parameter related to the linear motion measurement operation when the measurement data having the number of measurement surfaces of 2 is selected in step S21. Here, the measurement operation information field of the measurement data selected in step S21 includes “linear motion”, the surface direction information field of both measurement data includes “outer peripheral surface”, and these measurement data are The determination results when the measured locations do not face each other are shown.

図10に戻り、ステップS23において形状解析プログラム26は、パラメータ算出可否テーブル13において、算出可能であると記憶された形状パラメータのみをディスプレイ25に表示する。
作業者は表示された形状パラメータのみから、算出する形状パラメータを選択することができる。
このとき、例えば図28の(B)及び図29の(B)に示すように、作業者が、マウス24を操作してツールバー31の「回転系測定」ボタン又は「直動系測定」ボタンを押下し、算出する形状パラメータを選択するプルダウンメニューを表示するとき、それぞれのプルダウンメニュー35及び36に、パラメータ算出可否テーブル13において、算出可能であると記憶された形状パラメータのみを表示することとしてよい。
図28の(B)及び図29の(B)に示されるプルダウンメニュー35及び36は、それぞれ図28の(A)及び図29の(A)に示したパラメータ算出可否テーブル13a及び13bに記憶された判定結果を反映したものである。
作業者は、プルダウンメニュー35及び36に表示された項目のみから、算出する形状パラメータを選択することができる。
Returning to FIG. 10, in step S <b> 23, the shape analysis program 26 displays only the shape parameters stored in the parameter calculation availability table 13 as being measurable, on the display 25.
The operator can select a shape parameter to be calculated from only the displayed shape parameters.
At this time, for example, as shown in FIG. 28B and FIG. 29B, the operator operates the mouse 24 and clicks the “rotation system measurement” button or the “linear motion system measurement” button on the tool bar 31. When a pull-down menu for selecting a shape parameter to be pressed is displayed, only the shape parameter stored as being calculable in the parameter calculation availability table 13 may be displayed in each pull-down menu 35 and 36. .
The pull-down menus 35 and 36 shown in FIGS. 28B and 29B are stored in the parameter calculation availability tables 13a and 13b shown in FIGS. 28A and 29A, respectively. It reflects the judgment result.
The operator can select a shape parameter to be calculated from only items displayed in the pull-down menus 35 and 36.

図10に戻り、ステップS24において形状解析プログラム26は、ステップS21にて選択した測定データを解析して、ステップS23にて選択した形状パラメータを計算する。   Returning to FIG. 10, in step S24, the shape analysis program 26 analyzes the measurement data selected in step S21, and calculates the shape parameter selected in step S23.

本発明は、測定子に対して試料を相対的に自転させることにより測定子で試料の表面を走査する円柱形状測定装置が生成する測定データを解析して、真円度等の試料の形状パラメータを算出する形状解析装置及び形状解析プログラムに関する。   The present invention analyzes the measurement data generated by the cylindrical shape measuring device that scans the surface of the sample with the probe by rotating the sample relative to the probe, and the sample shape parameter such as roundness is analyzed. The present invention relates to a shape analysis apparatus and a shape analysis program that calculate

円柱形状測定装置の構成図である。It is a block diagram of a cylindrical shape measuring apparatus. (A)及び(B)は、それぞれ円柱形状測定装置により測定される第1及び第2の種類の測定データの説明図である。(A) And (B) is explanatory drawing of the measurement data of the 1st and 2nd kind measured by a cylindrical shape measuring apparatus, respectively. (A)及び(B)は、それぞれ円柱形状測定装置により測定される第3及び第4の種類の測定データの説明図である。(A) And (B) is explanatory drawing of the measurement data of the 3rd and 4th kind measured by a cylindrical shape measuring apparatus, respectively. 真円度の説明図である。It is explanatory drawing of roundness. 振れ(面基準)の説明図である。It is explanatory drawing of a shake (surface reference | standard). 従来の形状解析プログラムによる解析作業のフローチャートである。It is a flowchart of the analysis work by the conventional shape analysis program. 本発明の実施例による形状解析装置の全体構成図である。1 is an overall configuration diagram of a shape analysis apparatus according to an embodiment of the present invention. コンピュータを用いて図7に示す形状解析装置を実現した場合のハードウェア構成図である。It is a hardware block diagram at the time of implement | achieving the shape analysis apparatus shown in FIG. 7 using a computer. (A)は回転測定動作の際に円柱形状測定装置が生成する測定データの構成例を示す図であり、(B)は直動測定動作の際に円柱形状測定装置が生成する測定データの構成例を示す図である。(A) is a figure which shows the structural example of the measurement data which a cylindrical shape measuring apparatus produces | generates in the rotation measurement operation | movement, (B) is the structure of the measurement data which a cylindrical shape measurement apparatus produces | generates in the case of a linear motion measurement operation | movement. It is a figure which shows an example. 本発明の実施例による形状解析プログラムによる形状パラメータの解析作業のフローチャートである。It is a flowchart of the analysis operation | movement of the shape parameter by the shape analysis program by the Example of this invention. 形状解析プログラムがディスプレイに表示するメイン画面を示す図である。It is a figure which shows the main screen which a shape analysis program displays on a display. (A)はファイル操作用プルダウンメニューを示す図であり、(B)は入力ファイル指定画面を示す図である。(A) is a figure which shows the pull-down menu for file operation, (B) is a figure which shows an input file designation | designated screen. 回転測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータに関する部分のみを示したパラメータ算出可否テーブルを示す図である。It is a figure which shows the parameter calculation availability table which showed only the part regarding the shape parameter which can be calculated from the measurement data by rotation measurement operation | movement. 平面度の説明図である。It is explanatory drawing of flatness. 平行度の説明図である。It is explanatory drawing of parallelism. 同心度の説明図である。It is explanatory drawing of a concentricity. 同軸度の説明図である。It is explanatory drawing of a coaxial degree. 振れの説明図である。It is explanatory drawing of a shake. 振れ(軸方向)の説明図である。It is explanatory drawing of a shake (axial direction). 径偏差の説明図である。It is explanatory drawing of a diameter deviation. 円筒度の説明図である。It is explanatory drawing of cylindricity. 直角度(面基準)の説明図である。It is explanatory drawing of a squareness (surface reference | standard). 回転測定動作による各形状パラメータを算出するのに必要な測定面数と測定面の種類に関する条件表を示す図である。It is a figure which shows the condition table | surface regarding the number of measurement surfaces required in order to calculate each shape parameter by rotation measurement operation | movement, and the kind of measurement surface. 直動測定動作による測定データから算出可能な形状パラメータに関する部分のみを示したパラメータ算出可否テーブルを示す図である。It is a figure which shows the parameter calculation possibility table which showed only the part regarding the shape parameter which can be calculated from the measurement data by a linear motion measurement operation | movement. 軸心真直度の説明図である。It is explanatory drawing of an axial center straightness. 直動直角度の説明図である。It is explanatory drawing of a linear motion straight angle. 直動測定動作による各形状パラメータを算出するのに必要な測定面数と測定面の種類に関する条件表を示す図である。It is a figure which shows the condition table | surface regarding the number of measurement surfaces required in order to calculate each shape parameter by a linear motion measurement operation, and the kind of measurement surface. (A)は測定面数が2の測定データを選択した場合におけるパラメータ算出可否テーブル13aの内容を示す図であり、(B)は(A)に示すテーブルの内容に応じて表示されるプルダウンメニューを示す図である。(A) is a figure which shows the content of the parameter calculation availability table 13a when the measurement data with the number of measurement surfaces of 2 is selected, (B) is a pull-down menu displayed according to the content of the table shown in (A). FIG. (A)は測定面数が2の測定データを選択した場合におけるパラメータ算出可否テーブル13bの内容を示す図であり、(B)は(A)に示すテーブルの内容に応じて表示されるプルダウンメニューを示す図である。(A) is a figure which shows the content of the parameter calculation availability table 13b when the measurement data of the measurement surface number 2 are selected, (B) is a pull-down menu displayed according to the content of the table shown in (A). FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 形状解析装置
11 測定データ
12 データ選択入力部
13 パラメータ算出可否テーブル
14 形状パラメータリスト生成部
15 パラメータ選択入力部
16 形状パラメータリスト算出部
26 形状解析プログラム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Shape analyzer 11 Measurement data 12 Data selection input part 13 Parameter calculation availability table 14 Shape parameter list generation part 15 Parameter selection input part 16 Shape parameter list calculation part 26 Shape analysis program

Claims (4)

所定の軸を回転軸として測定子に対して試料を相対的に自転させることにより前記測定子で前記試料の表面を走査する測定動作によって走査線上における前記表面の凹凸データを生成する円柱形状測定装置によって得られた凹凸データを解析して、前記試料の形状パラメータを算出する形状解析装置であって、
前記円柱形状測定装置が生成する前記凹凸データには、少なくとも第1及び第2の種類があり、
前記第1の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の任意の断面についてこの断面の外周の凹凸を示すデータであって、前記測定動作により前記試料の側面を前記測定子で走査することにより測定され、
前記第2の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の上面についてこの上面の凹凸を示すデータであって、前記測定動作により前記試料の上面を前記測定子で走査することによって測定され、
前記凹凸データは、そのデータを生成したときに前記測定子により走査された前記試料の表面の向きを示す面方向情報を含み、
前記形状解析装置は、
アクセス可能な前記凹凸データから、前記形状パラメータの算出に使用するデータをユーザに1つ以上選択させるデータ選択入力部と、
前記データ選択入力部にて選択した前記凹凸データを測定した前記測定面の数と前記凹凸データが各々含む面方向情報に応じて、予め定められた選択基準に従って、複数の種類の形状パラメータの中から算出すべき形状パラメータを選択して、形状パラメータのリストを生成する形状パラメータリスト生成部と、
前記形状パラメータリスト生成部により生成された前記リストの中から、算出すべき形状パラメータをユーザに選択させるパラメータ選択入力部と、
を備えることを特徴とする形状解析装置。
A cylindrical shape measuring apparatus that generates unevenness data of the surface on a scanning line by a measurement operation in which the surface of the sample is scanned with the probe by rotating the sample relative to the probe with a predetermined axis as a rotation axis. Is a shape analysis device for analyzing the unevenness data obtained by calculating the shape parameter of the sample,
The unevenness data generated by the cylindrical shape measuring device includes at least first and second types,
The first type of unevenness data is data indicating the unevenness of the outer periphery of the cross section of an arbitrary cross section of the sample as a measurement surface, and the side surface of the sample is scanned with the measuring element by the measurement operation. Measured by
The second type of unevenness data is data indicating the unevenness of the upper surface of the sample as the measurement surface, and is measured by scanning the upper surface of the sample with the measuring element by the measurement operation,
The unevenness data includes surface direction information indicating the orientation of the surface of the sample scanned by the probe when generating the data,
The shape analyzer is
A data selection input unit that allows the user to select one or more data to be used for calculating the shape parameter from the accessible unevenness data;
According to the selection criteria determined in advance according to the number of the measurement surfaces for measuring the unevenness data selected by the data selection input unit and the surface direction information included in the unevenness data, among a plurality of types of shape parameters. Selecting a shape parameter to be calculated from the shape parameter list generating unit for generating a list of shape parameters;
A parameter selection input unit that allows a user to select a shape parameter to be calculated from the list generated by the shape parameter list generation unit;
A shape analysis apparatus comprising:
前記測定動作を第1の種類の測定動作として、
前記円柱形状測定装置は、さらに、前記測定子と前記試料とを直線的に相対移動させることにより前記測定子で前記試料の表面を走査する第2の種類の測定動作によって走査線上における前記表面の凹凸データを生成し、
前記凹凸データには、さらに第3及び第4の種類があり、
前記第3の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の側面についてこの側面の凹凸を示すデータであって、前記第2の種類の測定動作により前記試料の側面を前記所定の回転軸に沿って前記測定子で走査することにより測定され、
前記第4の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の上面についてこの上面の凹凸を示すデータであって、前記第2の種類の測定動作により前記試料の上面を前記測定子で走査することにより測定され、
前記凹凸データは、そのデータを生成したときの測定動作が前記第1及び第2の種類の測定動作のいずれかであるかを示す測定動作情報をさらに含み、
前記形状パラメータリスト生成部は、前記データ選択入力部にて選択した前記凹凸データを測定した前記測定面の数と前記凹凸データが各々含む面方向情報及び測定動作情報に応じて、予め定められた選択基準に従って、複数の種類の形状パラメータの中から算出すべき形状パラメータを選択して、形状パラメータのリストを生成する、
ことを特徴とする請求項1に記載の形状解析装置。
The measurement operation as a first type of measurement operation,
The cylindrical shape measuring apparatus further includes a second type of measuring operation in which the surface of the sample is scanned with the measuring element by linearly moving the measuring element and the sample relative to each other on the scanning line. Generate unevenness data,
The unevenness data further includes third and fourth types,
The third type unevenness data is data indicating the unevenness of the side surface of the sample as a measurement surface, and the side surface of the sample is set to the predetermined rotation axis by the second type measurement operation. Measured by scanning with the probe along
The fourth type of unevenness data is data indicating the unevenness of the upper surface of the sample as a measurement surface, and the upper surface of the sample is scanned with the measuring element by the second type of measurement operation. Measured by
The unevenness data further includes measurement operation information indicating whether the measurement operation when the data is generated is one of the first and second types of measurement operations,
The shape parameter list generation unit is predetermined according to the number of the measurement surfaces measured by the unevenness data selected by the data selection input unit, the surface direction information and the measurement operation information included in the unevenness data, respectively. According to the selection criteria, a shape parameter to be calculated is selected from a plurality of types of shape parameters, and a list of shape parameters is generated.
The shape analysis apparatus according to claim 1.
所定の軸を回転軸として測定子に対して試料を相対的に自転させることにより前記測定子で前記試料の表面を走査する測定動作によって走査線上における前記表面の凹凸データを生成する円柱形状測定装置によって得られた凹凸データにアクセス可能なコンピュータに、該凹凸データを解析して前記試料の形状パラメータを算出する処理を行わせる形状解析プログラムであって、
前記円柱形状測定装置が生成する前記凹凸データには、少なくとも第1及び第2の種類があり、
前記第1の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の任意の断面についてこの断面の外周の凹凸を示すデータであって、前記測定動作により前記試料の側面を前記測定子で走査することにより測定され、
前記第2の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の上面についてこの上面の凹凸を示すデータであって、前記測定動作により前記試料の上面を前記測定子で走査することによって測定され、
前記凹凸データは、そのデータを生成したときに前記測定子により走査された前記試料の表面の向きを示す面方向情報を含み、
前記形状解析プログラムは、
アクセス可能な前記凹凸データから、前記形状パラメータの算出に使用する1つ以上のデータに関してユーザが行った選択を受け付けるデータ選択処理と、
前記データ選択処理にて選択された前記凹凸データを測定した前記測定面の数と前記凹凸データが各々含む面方向情報に応じて、予め定められた選択基準に従って、複数の種類の形状パラメータの中から算出すべき形状パラメータを選択して、形状パラメータのリストを生成する形状パラメータリスト生成処理と、
前記形状パラメータリスト生成処理により生成された前記リストの中から、算出すべき形状パラメータに関してユーザが行った選択を受け付けるパラメータ選択処理と、
を前記コンピュータに行わせることを特徴とする形状解析プログラム。
A cylindrical shape measuring apparatus that generates unevenness data of the surface on a scanning line by a measurement operation in which the surface of the sample is scanned with the probe by rotating the sample relative to the probe with a predetermined axis as a rotation axis. A shape analysis program for causing a computer accessible to the unevenness data obtained by the step of analyzing the unevenness data and calculating a shape parameter of the sample,
The unevenness data generated by the cylindrical shape measuring device includes at least first and second types,
The first type of unevenness data is data indicating the unevenness of the outer periphery of the cross section of an arbitrary cross section of the sample as a measurement surface, and the side surface of the sample is scanned with the measuring element by the measurement operation. Measured by
The second type of unevenness data is data indicating the unevenness of the upper surface of the sample as the measurement surface, and is measured by scanning the upper surface of the sample with the measuring element by the measurement operation,
The unevenness data includes surface direction information indicating the orientation of the surface of the sample scanned by the probe when generating the data,
The shape analysis program is
A data selection process for accepting a selection made by a user regarding one or more data used to calculate the shape parameter from the accessible unevenness data;
According to the selection criteria determined in advance according to the number of the measurement surfaces on which the unevenness data selected in the data selection process is measured and the surface direction information included in the unevenness data, among a plurality of types of shape parameters. Selecting a shape parameter to be calculated from the shape parameter list generation processing for generating a list of shape parameters,
A parameter selection process for receiving a selection made by the user regarding the shape parameter to be calculated from the list generated by the shape parameter list generation process;
A shape analysis program for causing the computer to execute
前記測定動作を第1の種類の測定動作として、
前記円柱形状測定装置は、さらに、前記測定子と前記試料とを直線的に相対移動させることにより前記測定子で前記試料の表面を走査する第2の種類の測定動作によって走査線上における前記表面の凹凸データを生成し、
前記凹凸データには、さらに第3及び第4の種類があり、
前記第3の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の側面についてこの側面の凹凸を示すデータであって、前記第2の種類の測定動作により前記試料の側面を前記所定の回転軸に沿って前記測定子で走査することにより測定され、
前記第4の種類の凹凸データは、測定面としての前記試料の上面についてこの上面の凹凸を示すデータであって、前記第2の種類の測定動作により前記試料の上面を前記測定子で走査することにより測定され、
前記凹凸データは、そのデータを生成したときの測定動作が前記第1及び第2の種類の測定動作のいずれかであるかを示す測定動作情報をさらに含み、
前記形状パラメータリスト生成処理において、前記データ選択処理にて選択された前記凹凸データを測定した前記測定面の数と前記凹凸データが各々含む面方向情報及び測定動作情報に応じて、予め定められた選択基準に従って、複数の種類の形状パラメータの中から算出すべき形状パラメータを選択して、形状パラメータのリストを生成する処理を、
コンピュータに行わせることを特徴とする請求項3に記載の形状解析プログラム。
The measurement operation as a first type of measurement operation,
The cylindrical shape measuring apparatus further includes a second type of measuring operation in which the surface of the sample is scanned with the measuring element by linearly moving the measuring element and the sample relative to each other on the scanning line. Generate unevenness data,
The unevenness data further includes third and fourth types,
The third type unevenness data is data indicating the unevenness of the side surface of the sample as a measurement surface, and the side surface of the sample is set to the predetermined rotation axis by the second type measurement operation. Measured by scanning with the probe along
The fourth type of unevenness data is data indicating the unevenness of the upper surface of the sample as a measurement surface, and the upper surface of the sample is scanned with the measuring element by the second type of measurement operation. Measured by
The unevenness data further includes measurement operation information indicating whether the measurement operation when the data is generated is one of the first and second types of measurement operations,
In the shape parameter list generation process, the number is determined in advance according to the number of the measurement surfaces obtained by measuring the unevenness data selected in the data selection process, the surface direction information and the measurement operation information included in the unevenness data, respectively. According to the selection criteria, a process for selecting a shape parameter to be calculated from a plurality of types of shape parameters and generating a list of shape parameters,
The shape analysis program according to claim 3, which is executed by a computer.
JP2007239622A 2007-09-14 2007-09-14 Shape analysis apparatus and shape analysis program Active JP5116414B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007239622A JP5116414B2 (en) 2007-09-14 2007-09-14 Shape analysis apparatus and shape analysis program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007239622A JP5116414B2 (en) 2007-09-14 2007-09-14 Shape analysis apparatus and shape analysis program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009069067A true JP2009069067A (en) 2009-04-02
JP5116414B2 JP5116414B2 (en) 2013-01-09

Family

ID=40605470

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007239622A Active JP5116414B2 (en) 2007-09-14 2007-09-14 Shape analysis apparatus and shape analysis program

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5116414B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011208994A (en) * 2010-03-29 2011-10-20 Mitsutoyo Corp Roundness measuring machine
JP2017146114A (en) * 2016-02-15 2017-08-24 株式会社東京精密 Measurement assist method, three-dimensional measurement instrument, and measurement assist program

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001336928A (en) * 2001-06-06 2001-12-07 Tokyo Seimitsu Co Ltd Device for automatically setting measurement condition of surface roughness state measuring machine
JP2002250617A (en) * 2001-02-23 2002-09-06 Nsk Ltd Shape evaluation method
JP2003302218A (en) * 2002-04-08 2003-10-24 Tokyo Seimitsu Co Ltd Roundness measuring device
JP2007071726A (en) * 2005-09-07 2007-03-22 Tokyo Seimitsu Co Ltd Detector support device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002250617A (en) * 2001-02-23 2002-09-06 Nsk Ltd Shape evaluation method
JP2001336928A (en) * 2001-06-06 2001-12-07 Tokyo Seimitsu Co Ltd Device for automatically setting measurement condition of surface roughness state measuring machine
JP2003302218A (en) * 2002-04-08 2003-10-24 Tokyo Seimitsu Co Ltd Roundness measuring device
JP2007071726A (en) * 2005-09-07 2007-03-22 Tokyo Seimitsu Co Ltd Detector support device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011208994A (en) * 2010-03-29 2011-10-20 Mitsutoyo Corp Roundness measuring machine
JP2017146114A (en) * 2016-02-15 2017-08-24 株式会社東京精密 Measurement assist method, three-dimensional measurement instrument, and measurement assist program

Also Published As

Publication number Publication date
JP5116414B2 (en) 2013-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5539865B2 (en) Scan head calibration apparatus and method
US6161079A (en) Method and apparatus for determining tolerance and nominal measurement values for a coordinate measuring machine
JP5998058B2 (en) Correction of errors in measured values obtained using a coordinate positioning device
JP5776080B2 (en) Circular shape characteristic measuring method, apparatus and program
US20080083127A1 (en) Method of calibrating a scanning system
WO2017124211A1 (en) Method for measuring and evaluating gear precision
US10990075B2 (en) Context sensitive relational feature/measurement command menu display in coordinate measurement machine (CMM) user interface
JP5337955B2 (en) Shape measuring apparatus, shape measuring method, and program
TW201439502A (en) Method and apparatus for measuring a part
JP2008292199A (en) Device, method, and program for measuring roundness
JP3687896B2 (en) Measuring device for pulley for continuously variable transmission
JP6011353B2 (en) Machining condition prediction apparatus and machining condition prediction method
TW201616256A (en) Method and device for the determination of at least one model parameter of a virtual tool model of a tool
CN107429997A (en) For the method and apparatus for the dimensional characteristic for determining measurement object
JP5116414B2 (en) Shape analysis apparatus and shape analysis program
JP5018591B2 (en) Apparatus, method, and program for creating determination reference data
JP4417121B2 (en) Method for passing the object to be measured and surface texture measuring device
JP2005037353A (en) Width measuring method and surface property measuring equipment
JP2016173320A (en) Workpiece cylindrical part shape measurement method and device
JP2007225380A (en) Surface characteristics measuring apparatus, shape analysis program, and recording medium
JP6514041B2 (en) Control method of shape measuring device
JP2001091244A (en) Roundness measuring method and device
CN113405517B (en) Method, device and system for assembling parts of aero-engine and industrial personal computer
JP2000346637A (en) Method and apparatus for measuring groove shape for piping
JP3853658B2 (en) Image measuring apparatus and image measuring program

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100629

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120327

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120518

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120918

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121016

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5116414

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151026

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250