JP2009049112A - 荷電粒子ビーム描画装置及び描画装置の故障部品候補情報の作成方法 - Google Patents
荷電粒子ビーム描画装置及び描画装置の故障部品候補情報の作成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009049112A JP2009049112A JP2007212601A JP2007212601A JP2009049112A JP 2009049112 A JP2009049112 A JP 2009049112A JP 2007212601 A JP2007212601 A JP 2007212601A JP 2007212601 A JP2007212601 A JP 2007212601A JP 2009049112 A JP2009049112 A JP 2009049112A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diagnostic
- diagnosis
- identifiers
- extracted
- component
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Electron Beam Exposure (AREA)
Abstract
【構成】本発明の一態様の描画装置100は、診断結果で関連付けされた複数の診断IDを記憶する診断ツリーテーブル142と、診断IDと診断レベルと部品IDと故障度数とを対応させて記憶する部品係数テーブル144と、第n番目の診断IDと、描画装置100の所定の機能を第n番目の診断手法を用いて診断した第n番目の診断結果とを入力し、診断ツリーテーブル142を用いて関連付けされた第n+1番目の診断IDを抽出する抽出部142と、抽出されたすべての診断IDを基に、部品係数テーブル144を用いて関連する部品IDを抽出する抽出部124と、部品係数テーブル144を用いて部品ID毎に故障度数の累積加算値を演算する累積加算部130と、部品IDと累積加算値とを出力するI/F回路164と、を備えたことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
可変成形型電子線(EB:Electron beam)描画装置は、以下のように動作する。まず、第1のアパーチャ410には、電子線330を成形するための矩形例えば長方形の開口411が形成されている。また、第2のアパーチャ420には、開口411を通過した電子線330を所望の矩形形状に成形するための可変成形開口421が形成されている。荷電粒子ソース430から照射され、開口411を通過した電子線330は、偏向器により偏向される。そして、可変成形開口421の一部を通過して、ステージ上に搭載された試料に照射される。ステージは、描画中、所定の一方向(例えば、X方向とする)に連続的に移動している。このように、開口411と可変成形開口421との両方を通過できる矩形形状が、試料340の描画領域に描画される。開口411と可変成形開口421との両方を通過させ、任意形状を作成する方式を可変成形方式という。
診断結果に基づいて少なくとも一部が関連付けされた複数の診断手法の識別子を記憶する第1のデータベースと、
複数の診断手法の識別子と複数の診断手法の各診断結果を示す識別子と複数の診断手法に関連する部品の識別子と部品の評価量とを対応させて記憶する第2のデータベースと、
第n番目の診断手法の識別子と、荷電粒子ビームを用いて試料にパターンを描画する描画装置の所定の機能を第n番目の診断手法を用いて診断した第n番目の診断結果とを入力し、第n番目の診断手法の識別子と第n番目の診断結果とを基に第1のデータベースを用いて関連付けされた第n+1番目の診断手法の識別子を抽出する第1の抽出部と、
第1の抽出部によって抽出されたすべての診断手法の識別子を基に、第2のデータベースを用いて、抽出されたすべての診断手法の少なくとも1つの診断手法に関連する複数の部品の識別子を抽出する第2の抽出部と、
抽出された複数の部品の識別子のそれぞれに対して、抽出されたすべての診断手法の識別子と抽出されたすべての診断手法を用いて所定の機能を診断した各診断結果を示す識別子とを基に第2のデータベースを用いて抽出される複数の評価量の累積加算値を演算する演算部と、
第2の抽出部によって抽出された複数の部品の識別子と各部品の識別子に対応する評価量の累積加算値とを出力する出力部と、
を備えたことを特徴とする。
演算部は、抽出された複数の部品の識別子のそれぞれに対して、すべての第2の診断手法の識別子とすべての第2の診断手法の各診断結果を示す識別子とを基に、第2のデータベースを用いて該当する第2の評価量を抽出し、第2の評価量を累積加算値にさらに累積加算すると好適である。
第n番目の診断手法の識別子と、荷電粒子ビームを用いて試料にパターンを描画する描画装置の所定の機能を第n番目の診断手法を用いて診断した第n番目の診断結果とを入力し、第n番目の診断手法の識別子と第n番目の診断結果とを基に、診断結果に基づいて少なくとも一部が関連付けされた複数の診断手法の識別子を記憶する第1のデータベースを用いて関連付けされた第n+1番目の診断手法の識別子を抽出する第1から第nの診断手法抽出工程と、
抽出されたすべての診断手法の識別子を基に、複数の診断手法の識別子と複数の診断手法の各診断結果を示す識別子と複数の診断手法に関連する部品の識別子と部品の評価量とを対応させて記憶する第2のデータベースを用いて、抽出されたすべての診断手法の少なくとも1つの診断手法に関連する複数の部品の識別子を抽出する部品抽出工程と、
抽出された複数の部品の識別子のそれぞれに対して、抽出されたすべての診断手法の識別子と抽出されたすべての診断手法の各診断結果を示す識別子とを基に、第2のデータベースを用いて該当する複数の評価量を抽出する評価量抽出工程と、
抽出された部品毎に、複数の評価量の累積加算値を演算する演算工程と、
抽出された複数の部品の識別子と各部品の識別子に対応する評価量の累積加算値とを出力する出力工程と、
を備えたことを特徴とする。
図1は、実施の形態1における描画装置の構成を示す概念図である。
図1において、描画装置100は、描画部150と制御部160を備えている。描画装置100は、荷電粒子ビーム描画装置の一例となる。そして、描画装置100は、試料101に所望するパターンを描画する。描画部150は、電子鏡筒102、描画室103を有している。電子鏡筒102内には、電子銃201、照明レンズ202、第1のアパーチャ203、投影レンズ204、偏向器205、第2のアパーチャ206、対物レンズ207、及び偏向器208が配置されている。また、描画室103内には、移動可能に配置されたXYステージ105が配置されている。また、XYステージ105上には、試料101が配置されている。試料101として、例えば、ウェハにパターンを転写する露光用のマスク基板が含まれる。マスク基板としては、まだ何も描画されていないマスクブランクスが含まれる。また、電子鏡筒102には、真空ポンプ107が接続されている。制御部160は、磁気ディスク装置109,140,148、複数の制御回路110a〜110n、故障部品候補情報生成部120、メモリ121、調査ツール制御部132、測定ツール制御部134、診断処理部146、制御計算機162、モニタ163、及びインターフェース(I/F)回路164を有している。故障部品候補情報生成部120内では、抽出部122,124,126,128及び累積加算部130といった各機能を有している。故障部品候補情報生成部120に入力される情報或いは演算処理中及び処理後の各情報はその都度メモリ121に記憶される。磁気ディスク装置109,140,148、複数の制御回路110a〜110n、故障部品候補情報生成部120、メモリ121、調査ツール制御部132、測定ツール制御部134、診断処理部146、制御計算機162、モニタ163、及びインターフェース(I/F)回路164は、バス170を介して接続されている。また、各制御回路110a〜110n内には、少なくとも1つ以上の測定ツール112(a〜n)が配置されている。また、磁気ディスク装置140には、データベース(DB)となる診断ツリーテーブル142及び部品係数テーブル144が格納されている。また、磁気ディスク装置148には、故障部品候補情報の一例となる結果リスト149が格納されることになる。また、磁気ディスク装置109には描画データが格納されている。
図5は、実施の形態1における故障部品候補情報の作成方法の要部工程を示すフローチャート図である。
まず、描画装置100では、通常ルーチンとして、測定処理工程(S102)及び診断処理工程(S104)を繰り返している。
例えば、基準診断IDが示す診断手法が診断手法aである場合、診断手法aによる診断が異常の場合、診断手法cに関連付けされる。他方、診断手法aによる診断が正常の場合、診断手法bに関連付けされる。そして、診断手法cによる診断が異常の場合、診断手法dに関連付けされる。他方、診断手法cによる診断が正常の場合、診断手法eに関連付けされる。そして、診断手法dによる診断が異常の場合、続く診断手法が無いのでツリー構造が終了となる。他方、診断手法dによる診断が正常の場合、診断手法aに関連付けされる。また、診断手法bや診断手法eによる診断の後には、続く診断手法が無いのでこれらもツリー構造が終了となる。このように、1つの機能を診断する場合でも複数の診断手法を有しており、それらの診断手法は、診断結果に基づいて少なくとも一部が関連付けされている。これらの関係は、診断ツリーテーブル142によって関連付けされてデータベース化される。
診断ツリーテーブル142では、抽出するためのキーとなる診断ID(親)と診断結果を示す診断レベルと抽出される診断ID(子)とが関連付けされて格納されている。ここでは、例えば、診断結果が正常(OK)である場合、診断レベルを「0」で定義する。他方、診断結果が異常(NG)である場合、診断レベルを「−1」で定義する。各診断IDには、診断レベルが「0」の場合と「−1」の場合とが定義される。ここでは、図6に示した診断ツリーに合わせた関係が示されている。すなわち、診断ID「a」の診断レベルが「0」の場合、診断ID「b」に関連付けされる。他方、診断ID「a」の診断レベルが「−1」の場合、診断ID「c」に関連付けされる。同様に、診断ID「b」の診断レベルが「0」の場合、関連付けされる診断手法が無いので「NULL」と定義される。他方、診断ID「b」の診断レベルが「−1」の場合については同様に「NULL」と定義されることになるがここでは省略している。同様に、診断ID「c」の診断レベルが「0」の場合、診断ID「e」に関連付けされる。他方、診断ID「c」の診断レベルが「−1」の場合、診断ID「d」に関連付けされる。同様に、診断ID「d」の診断レベルが「0」の場合、診断ID「a」に関連付けされる。他方、診断ID「d」の診断レベルが「−1」の場合、「NULL」と定義される。そして、診断ID「e」の診断レベルが「0」の場合、関連付けされる診断手法が無いので「NULL」と定義される。他方、診断ID「e」の診断レベルが「−1」の場合については同様に「NULL」と定義されることになるがここでは省略している。以上のように、診断ツリーテーブル142を作成することで、従来、経験に頼っていた診断の順序をシステム化することができる。その結果、効率よく故障部品の特定を行なうことができる。また、ここでは図示していないが、一組の診断ID(親)と診断レベルに対して、複数の診断ID(子)が関連付けられることもある。
(1) fp(−1)=α×β(i)
(2) fp(0)=γ−1
結果リスト149には、部品IDとその部品の故障度数の累積加算値とが累積加算値の大きい順に並べられる。例えば、図8に示したように、診断手法が「a」→「c」→「d」と続く場合、部品ID「A」の累積加算値は0.83、部品ID「B」の累積加算値は−0.17、部品ID「C」の累積加算値は−0.67となる。よって、部品IDがA,B,Cの順でリスト化されている。上述したように、その部品が異常である可能性が高いほど故障度数が「+1」に近づき、正常である可能性が高いほど故障度数が「−1」に近づくように設定されているので累積加算値の大きい部品ほど異常である可能性が高いことが判断できる。結果リスト149に記載された情報が故障部品候補情報となる。
実施の形態1では、診断ツリーテーブル142の終端までについての診断を実行したが、実施の形態2では、さらに、故障部品候補の精度を高める方法について説明する。
結果リスト149には、部品IDとその部品の故障度数の累積加算値とが累積加算値の大きい順に並べられる。例えば、図8に示したように、診断手法が「a」→「c」→「d」と続き、そして、診断手法「f」「h」「j」「k」が追加された場合、部品ID「A」の累積加算値は0.16、部品ID「B」の累積加算値は−0.17、部品ID「C」の累積加算値は0.33となる。よって、部品IDが今度はC,A,Bの順でリスト化されることになる。上述したように、その部品が異常である可能性が高いほど故障度数が「+1」に近づき、正常である可能性が高いほど故障度数が「−1」に近づくように設定されているので累積加算値の大きい部品ほど異常である可能性が高いことが判断できる。結果リスト149に記載された情報が故障部品候補情報となる。
101,340 試料
102 電子鏡筒
103 描画室
105 XYステージ
107 真空ポンプ
109,140,148 磁気ディスク装置
110 制御回路
112 測定ツール
114 高圧電源回路
116 アンプ回路
117 データ生成回路
118 ステージ位置測定回路
120 故障部品候補情報生成部
121 メモリ
122,124,126,128 抽出部
130 累積加算部
132 調査ツール制御部
134 測定ツール制御部
142 診断ツリーテーブル
144 部品係数テーブル
146 診断処理部
149 結果リスト
150 描画部
160 制御部
162 制御計算機
163 モニタ
164 I/F回路
170 バス
200 電子ビーム
201 電子銃
202 照明レンズ
203,410 第1のアパーチャ
204 投影レンズ
205,208 偏向器
206,420 第2のアパーチャ
207 対物レンズ
220 カソード
222 エミッタ
224 ウェネルト電極
330 電子線
411 開口
421 可変成形開口
430 荷電粒子ソース
Claims (5)
- 診断結果に基づいて少なくとも一部が関連付けされた複数の診断手法の識別子を記憶する第1のデータベースと、
前記複数の診断手法の識別子と前記複数の診断手法の各診断結果を示す識別子と前記複数の診断手法に関連する部品の識別子と前記部品の評価量とを対応させて記憶する第2のデータベースと、
第n番目の診断手法の識別子と、荷電粒子ビームを用いて試料にパターンを描画する描画装置の所定の機能を前記第n番目の診断手法を用いて診断した第n番目の診断結果とを入力し、前記第n番目の診断手法の識別子と前記第n番目の診断結果とを基に前記第1のデータベースを用いて関連付けされた第n+1番目の診断手法の識別子を抽出する第1の抽出部と、
前記第1の抽出部によって抽出されたすべての診断手法の識別子を基に、前記第2のデータベースを用いて、抽出されたすべての診断手法の少なくとも1つの診断手法に関連する複数の部品の識別子を抽出する第2の抽出部と、
抽出された前記複数の部品の識別子のそれぞれに対して、抽出されたすべての診断手法の識別子と抽出されたすべての診断手法を用いて前記所定の機能を診断した各診断結果を示す識別子とを基に前記第2のデータベースを用いて抽出される複数の評価量の累積加算値を演算する演算部と、
前記第2の抽出部によって抽出された前記複数の部品の識別子と各部品の識別子に対応する評価量の累積加算値とを出力する出力部と、
を備えたことを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記荷電粒子ビーム描画装置は、さらに、抽出された前記複数の部品の識別子を基に、前記第2のデータベースを用いて、前記第1の抽出部によって抽出されなかった第2の診断手法の識別子を抽出する第3の抽出部を備え、
前記演算部は、抽出された前記複数の部品の識別子のそれぞれに対して、すべての前記第2の診断手法の識別子とすべての前記第2の診断手法の各診断結果を示す識別子とを基に、前記第2のデータベースを用いて該当する第2の評価量を抽出し、前記第2の評価量を前記累積加算値にさらに累積加算することを特徴とする請求項1記載の荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記評価量として、部品の故障の度合いを示す故障度数を用いることを特徴とする請求項1又は2記載の荷電粒子ビーム描画装置。
- 前記荷電粒子ビーム描画装置は、さらに、前記第1の抽出部によって抽出されたすべての診断手法の識別子が示す診断手法を用いて前記所定の機能を診断する診断処理部を備えたことを特徴とする請求項1〜3いずれか記載の荷電粒子ビーム描画装置。
- 第n番目の診断手法の識別子と、荷電粒子ビームを用いて試料にパターンを描画する描画装置の所定の機能を前記第n番目の診断手法を用いて診断した第n番目の診断結果とを入力し、前記第n番目の診断手法の識別子と前記第n番目の診断結果とを基に、診断結果に基づいて少なくとも一部が関連付けされた複数の診断手法の識別子を記憶する第1のデータベースを用いて関連付けされた第n+1番目の診断手法の識別子を抽出する第1から第nの診断手法抽出工程と、
抽出されたすべての診断手法の識別子を基に、前記複数の診断手法の識別子と前記複数の診断手法の各診断結果を示す識別子と前記複数の診断手法に関連する部品の識別子と前記部品の評価量とを対応させて記憶する第2のデータベースを用いて、抽出されたすべての診断手法の少なくとも1つの診断手法に関連する複数の部品の識別子を抽出する部品抽出工程と、
抽出された前記複数の部品の識別子のそれぞれに対して、抽出されたすべての診断手法の識別子と抽出されたすべての診断手法の各診断結果を示す識別子とを基に、前記第2のデータベースを用いて該当する複数の評価量を抽出する評価量抽出工程と、
抽出された部品毎に、前記複数の評価量の累積加算値を演算する演算工程と、
抽出された前記複数の部品の識別子と各部品の識別子に対応する評価量の累積加算値とを出力する出力工程と、
を備えたことを特徴とする描画装置の故障部品候補情報の作成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007212601A JP5010388B2 (ja) | 2007-08-17 | 2007-08-17 | 荷電粒子ビーム描画装置及び描画装置の故障部品候補情報の作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007212601A JP5010388B2 (ja) | 2007-08-17 | 2007-08-17 | 荷電粒子ビーム描画装置及び描画装置の故障部品候補情報の作成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009049112A true JP2009049112A (ja) | 2009-03-05 |
JP5010388B2 JP5010388B2 (ja) | 2012-08-29 |
Family
ID=40501080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007212601A Active JP5010388B2 (ja) | 2007-08-17 | 2007-08-17 | 荷電粒子ビーム描画装置及び描画装置の故障部品候補情報の作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5010388B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021005861A1 (ja) * | 2019-07-10 | 2021-01-14 | 株式会社日立製作所 | 故障箇所特定支援システム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05267138A (ja) * | 1992-03-19 | 1993-10-15 | Hitachi Ltd | 電子線描画装置 |
JPH09293473A (ja) * | 1996-04-26 | 1997-11-11 | Fujitsu Ltd | 荷電粒子ビーム露光装置およびその露光方法 |
JP2001236115A (ja) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Fanuc Ltd | リモート診断システム及び方法 |
JP2002177673A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-06-25 | Juki Corp | 縫製支援方法、縫製支援システム及び縫製支援プログラムを格納した記録媒体 |
-
2007
- 2007-08-17 JP JP2007212601A patent/JP5010388B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05267138A (ja) * | 1992-03-19 | 1993-10-15 | Hitachi Ltd | 電子線描画装置 |
JPH09293473A (ja) * | 1996-04-26 | 1997-11-11 | Fujitsu Ltd | 荷電粒子ビーム露光装置およびその露光方法 |
JP2001236115A (ja) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Fanuc Ltd | リモート診断システム及び方法 |
JP2002177673A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-06-25 | Juki Corp | 縫製支援方法、縫製支援システム及び縫製支援プログラムを格納した記録媒体 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021005861A1 (ja) * | 2019-07-10 | 2021-01-14 | 株式会社日立製作所 | 故障箇所特定支援システム |
JP2021015328A (ja) * | 2019-07-10 | 2021-02-12 | 株式会社日立製作所 | 故障箇所特定支援システム |
JP7430040B2 (ja) | 2019-07-10 | 2024-02-09 | 株式会社日立製作所 | 故障箇所特定支援システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5010388B2 (ja) | 2012-08-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7463173B2 (en) | Charged particle beam apparatus, abnormality detecting method for DA converter unit, charged particle beam writing method, and mask | |
US7989777B2 (en) | Method for inspecting settling time of deflection amplifier, and method for judging failure of deflection amplifier | |
US9236154B2 (en) | Charged-particle beam drawing method, computer-readable recording media, and charged-particle beam drawing apparatus | |
JP2014103308A (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビームの照射量チェック方法 | |
TW202011016A (zh) | 缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法 | |
JP4863825B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及びプログラム | |
CN115176327A (zh) | 诊断系统 | |
JP5010388B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び描画装置の故障部品候補情報の作成方法 | |
TWI476806B (zh) | Charging Particle Beam Mapping Device and Inspection Method for Drawing Data | |
US20090258317A1 (en) | Writing apparatus and writing method | |
US8427919B2 (en) | Pattern writing system and method and abnormality diagnosing method | |
JP2009031214A (ja) | パターン検査方法およびパターン検査装置 | |
JP2010219372A (ja) | 電子ビーム描画装置及び電子銃のカソード寿命の判定方法 | |
JP5663277B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | |
CN109491211B (zh) | 带电粒子束描绘装置及消隐电路的故障诊断方法 | |
JP5918478B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | |
JP2010073732A (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置の評価方法および荷電粒子ビーム描画装置 | |
JP2021086658A (ja) | 電子ビーム照射装置、描画装置及び検査装置 | |
JP2006324569A (ja) | 電子ビーム電流計測方法及びそれを用いた電子ビーム応用装置 | |
JP2013207254A (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置、検査装置、及び描画データの検査方法 | |
JP6118142B2 (ja) | 電子銃装置、描画装置、電子銃電源回路のリーク電流測定方法、及び電子銃電源回路のリーク電流判定方法 | |
JP2011066236A (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | |
JP2010147100A (ja) | 描画データに対するデータ処理の検証方法及び描画装置 | |
JP6138568B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置、フォーマット検査装置及びフォーマット検査方法 | |
JP2015216278A (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビームのドーズ量異常検出方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100510 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120515 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120601 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5010388 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150608 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |