JP2009043306A - 光ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】サブビーム検出器６３及び６４に検出される層間迷光ＯＢの光量を高い精度で検出することができる。
【解決手段】回折格子ＤＬにおける基準線ＳＬをラジアル方向から傾斜角度βだけ傾斜させた状態で設置することにより、光ディスク１００上においてタンジェンシャル方向から傾斜角度βだけ傾斜させた直線上にメインビームＭＢとサブビームＳＢとを照射することができる。そして光ディスク装置１０は、フォトディテクタ６０におけるメインビーム検出器６２、サブビーム検出器６３及び６４を傾斜角度βだけ傾斜させた直線上に配置する。
【選択図】図３０

Description

本発明は光ピックアップ及び光ディスク装置に関し、例えば複数の情報記録層を有する多層光ディスクに対して情報の記録又は再生を行う光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置においては、光ディスクに対して音楽コンテンツや映像コンテンツ、或いは各種データ等の情報を記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生するようになされたものが広く普及している。

実際上、光ディスク装置は、光ディスクの信号記録層に同心円状又は螺旋状に形成され、グルーブ及びランドからなるトラックに対して書込用の光ビームを照射する。光ディスク装置は、例えば光ビームの照射によってグルーブ上の色素を熱分解させたり、結晶状態を変化させることにより、光ビームが照射された部分の反射率を変化させて記録マークを形成する。

また光ディスク装置は、当該トラックに読出用の光ビームを照射してその反射光ビームを複数の検出領域に分割されたフォトディテクタで受光する。光ディスク装置は、当該反射光ビームの受光量に応じて検出領域ごとに検出信号を生成すると共に、当該検出信号に基づいて再生ＲＦ信号を生成することにより、信号記録層に記録された情報の再生を行うようになされている。

このとき光ディスク装置は、検出信号に基づいて光ディスクの信号記録層と焦点とのずれ量に応じたフォーカスエラー信号を生成し、当該フォーカスエラー信号を基に当該光ビームの焦点距離を制御して光ディスクの信号記録層に光ビームを合焦させる、いわゆるフォーカス制御を行うようになされている。

また光ディスク装置は、検出信号に基づいて所定の信号処理を施すことにより、光ビームの照射位置と所望のトラックとのずれ量に応じたトラッキングエラー信号を生成し、当該トラッキングエラー信号を基に当該光ビームの照射位置を制御して当該ずれ量を削減させる、いわゆるトラッキング制御を行うようになされている。

このトラッキング制御の一手法として、ＤＰＰ（Differential Push Pull）法が広く使用されている。このＤＰＰ法では、光ビームをメインビームと２つのサブビームとの３つに分離して光ディスクのグルーブＧ及びランドＬにそれぞれ照射し、３つの反射光ビームによる３つの反射光スポットを３つのビーム検出器を有するフォトディテクタによって受光するようになされている。

ところで光ディスク装置の中には、信号記録層を複数有するいわゆる多層ディスクに記録された情報を再生し得るようになされたものがある。この光ディスク装置では、目的とする情報が記録された信号記録層（以下、これを対象記録層と呼ぶ）に光ビームを合焦するように照射するものの、他の信号記録層によって光ビームの一部が反射され、情報の再生などに使用されることの無い不要な迷光（以下、これを層間迷光と呼ぶ）が発生する。

光ディスク装置は、反射光ビームと共に層間迷光をフォトディテクタで受光することになるため、当該層間迷光による成分が検出信号に含まれることになり、トラッキングエラー信号に影響を与えてしまう。

そこで図１に示すように、サブビームを受光するサブビーム検出器３及び４の近傍に迷光検出器５及び６を設置して層間迷光による光量を検出するようになされたものがある。
特開２００５−３５３２５２公報

図２に示すように、光ディスク１００において対物レンズが移動する移動軸線ＭＬ上においてトラックに対する接線方向をタンジェンシャル方向とし、当該トラックに対する法線方向（すなわちトラック半径方向）をラジアル方向とする。

また光ディスク１００上に光ビームが照射されることにより形成されるスポットＰがタンジェンシャル方向及びラジアル方向に移動するときに、フォトディテクタ１（図１）において受光される反射光スポットＱ（メイン反射光スポットＱＡ、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣ）が移動する方向をそれぞれフォトディテクタ１におけるタンジェンシャル方向及びラジアル方向とする。

図３に示すように、光ディスク装置は、対物レンズによって光ビームの波長と同程度にまでビーム径を絞った状態で当該光ビームを目標トラック上に照射する。このため、光ディスク１００の記録層上に形成されるスポットＰの直径は、トラックピッチＴＰよりも小さくなる。

ここで光ディスク１００が２つの記録層を有する２層ディスクであった場合、メインビームＭＢの約５０％は照射対象となった対象記録層でない他の信号記録層（以下、これを他記録層と呼ぶ）に照射されることになる。

このとき光ディスク装置は、他記録層に対して焦点が一致しない（すなわちデフォーカスした）状態で光ビームを他記録層に照射することになる。このため図４に示すように、他記録層に形成される他層スポットＯＡは、その直径がトラックピッチＴＰよりも遥かに大きくなる。

この他記録層に対して照射された光ビームは、他記録層によって反射されると共に、対象記録層によって反射された反射光ビームと同様の光路を辿り、不必要な層間迷光としてフォトディテクタ１に受光されることになる。

ちなみに光ビームとして、メインビーム及び２つのサブビームがそれぞれ他記録層によって反射され、各々が重なった状態でフォトディテクタ１に受光されることになるが、説明の都合上、１つの層間迷光がフォトディテクタ１に受光されるものとして説明する。

ここでサブビームはメインビームに比して光量が小さく、層間迷光と同程度の光量になることから、層間迷光の影響を大きく受けることになり、サブビームから層間迷光の影響を除去することが望まれる。

ところで光ディスク１００では、図２に示したように、記録マークＲＭが全く形成されていない未記録領域ＹＲと、記録マークＲＭが既に形成された記録済領域ＦＲとが混在する場合がある。

光ディスク１００は、記録マークＲＭにおける反射率が記録マークＲＭ以外の部分の反射率と異なっていることから、記録領域ＹＲと記録済領域ＦＲとでは、光ビーム４０に対する平均的な反射率（以下、これを平均反射率と呼ぶ）が異なることになる。

このため他層メインスポットＯＡが未記録領域ＹＲと記録済領域ＦＲとの境界線（以下、れを記録境界線と呼ぶ）ＢＬ上に存在すると、図５に示すように、層間迷光ＯＢに未記録領域ＹＲと記録済領域ＦＲとに対応する明暗が出現する。この明暗の境界線（以下、これを明暗境界線と呼ぶ）ＥＬは、記録境界線ＢＬに対応してタンジェンシャル方向に平行に出現する。

層間迷光ＯＢにこのような明暗が存在すると、図６に示すように特許文献１の光ディスク装置では、サブビーム検出器３及び４によって受光する層間迷光ＯＢの受光量を迷光検出器５及び６によって正しく検出することができないという問題があった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、高い精度で層間迷光の光量を検出し得る光ピックアップ及び光ディスク装置を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明においては、光源から発射された光ビームを光量の大きいメインビームと光量の小さいサブビームとに分離する際、光ディスクが有する複数の記録層のうちメインビーム及びサブビームを照射する対象となる対象記録層上に形成されるメインビームによるメインスポットとサブビームによるサブスポットとを、当該光ディスクのトラックの接線方向であるタンジェンシャル方向から任意の傾斜角度だけ傾斜させた直線上に位置させる回折素子と、メインビーム及びサブビームを集光して対象記録層に照射する対物レンズと、メインビームが光ディスクによって反射されてなるメイン反射光ビームを受光するメインビーム検出器と、サブビームが光ディスクによって反射されてなるサブ反射光ビームを受光するサブビーム検出器と、タンジェンシャル方向に垂直なラジアル方向に関しサブビーム検出器と同一幅でなり記録層のうち対象記録層以外の他記録層によって反射されるメインビーム及びサブビームの光量を検出する迷光検出器とを有し、メインビーム検出器及びサブビーム検出器がタンジェンシャル方向から傾斜角度だけ傾斜させた直線上に配置され、迷光検出器がメインビーム検出器の中心を通るラジアル方向に平行な直線を軸にサブビーム検出器とほぼ対称な位置に配置されているフォトディテクタとを設けるようにした。

これにより、サブビーム検出器に対して迷光検出器をラジアル方向にほぼ同一の位置に配置することができるため、タンジェンシャル方向に明暗境界線を有するような層間迷光であってもその光量を高い精度で検出することができる。

光源から発射された光ビームを光量の大きいメインビームと光量の小さいサブビームとに分離する際、光ディスクが有する複数の記録層のうちメインビーム及びサブビームを照射する対象となる対象記録層上に形成されるメインビームによるメインスポットとサブビームによるサブスポットとを、当該光ディスクのトラックの接線方向であるタンジェンシャル方向から任意の傾斜角度だけ傾斜させた直線上に位置させる回折素子と、メインビーム及びサブビームを集光して対象記録層に照射する対物レンズと、メインビームが光ディスクによって反射されてなるメイン反射光ビームを受光するメインビーム検出器と、サブビームが光ディスクによって反射されてなるサブ反射光ビームを受光するサブビーム検出器と、タンジェンシャル方向に垂直なラジアル方向に関しサブビーム検出器と同一幅でなり記録層のうち対象記録層以外の他記録層によって反射されるメインビーム及びサブビームの光量を検出する迷光検出器とを有し、メインビーム検出器及びサブビーム検出器がタンジェンシャル方向から傾斜角度だけ傾斜させた直線上に配置され、迷光検出器がメインビーム検出器の中心を通るラジアル方向に平行な直線を軸にサブビーム検出器とほぼ対称な位置に配置されているフォトディテクタとサブビーム検出器による受光量から迷光検出器による受光量を減算した減算値をサブビームの光量としてトラッキングエラー信号を生成する信号処理部とを設けるようにした。

これにより、サブビーム検出器に対して迷光検出器をラジアル方向にほぼ同一の位置に配置することができるため、タンジェンシャル方向に明暗境界線を有するような層間迷光であってもその光量を高い精度で検出することができる。

本発明によれば、サブビーム検出器に対して迷光検出器をラジアル方向にほぼ同一の位置に配置することができるため、タンジェンシャル方向に明暗境界線を有するような層間迷光であってもその光量を高い精度で検出することができ、かくして高い精度で層間迷光の光量を検出し得る光ピックアップ及び光ディスク装置を実現できる。

以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。

（１）光ディスク装置の構成
図７において、光ディスク装置１０は、全体としてＢＤ（Blu-ray Disc、登録商標）−ＲＥ（Rewritable）ディスクやＢＤ−ＲＯＭ（Read Only Memory）ディスク等でなる光ディスク１００に対して音楽コンテンツ、映像コンテンツ又は各種データ等の情報を記録し、また当該光ディスク１００から当該情報を再生するようになされている。

システムコントローラ１１は、光ディスク装置１全体を統括制御するようになされており、光ディスク１００が装填された状態で、操作部１２より当該光ディスク１００からの情報の再生命令を取得すると、当該光ディスク１００の信号記録層に記録されている情報を特定するためのアドレス情報ＩＡと共に、情報読出命令ＭＲを駆動制御部１３へ送出する。

駆動制御部１３は、システムコントローラ１１からの情報読出命令に応じて、スピンドルモータ１４を制御することにより光ディスク１００を所定の回転速度で回転させると共に、当該データ読出命令ＭＲ及びアドレス情報ＩＡを基に送りモータ１５を制御することにより、光ピックアップ２０を当該光ディスク１００の径方向に移動させ、当該光ディスク１００の信号記録層におけるアドレス情報ＩＡに応じたトラック（以下、これを所望トラックと呼ぶ）に光ビームを集光した状態で照射させる。

このとき光ピックアップ２０は、光ディスク１００に照射した光ビームが反射されてなる反射光ビームを受光し、その光量に応じた検出信号を生成し、信号処理部１７へ送出する。

信号処理部１７は、この検出信号に基づいて所望トラックに対する光ビームの照射位置のずれ量に応じたトラッキングエラー信号ＳＴＥと光ディスク１００の信号記録層に対する光ビームの焦点のずれ量に応じたフォーカスエラー信号ＳＦＥとを生成してこれらを駆動制御部１３へ送出すると共に、当該検出信号を基に再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成して信号変復調部１８へ送出する。

駆動制御部１３は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ及びフォーカスエラー信号ＳＦＥに基づいたトラッキング制御信号ＣＴ及びフォーカス制御信号ＣＦを生成し、これらを光ピックアップ２０へ送出する。これに応じて光ピックアップ２０は、トラッキング制御及びフォーカス制御を行い、光ビームの焦点を光ディスク１００の所望トラックに合わせるようになされている。

信号変復調部１８は、再生ＲＦ信号ＳＲＦに対して所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより情報を再生し、これを外部機器（図示せず）へ送出する。

また光ディスク装置１０は、信号変復調部１８に入力された記録信号に対して所定の変調処理を施し、これを信号処理部１７により記録用の信号に変換した後、光ピックアップ２０から当該記録用の信号に応じた記録用ビームを出射させることにより、記録信号に応じた情報を光ディスク１００に記録する。

このように光ディスク装置１０は、光ピックアップ２０から光ディスク１００の信号記録層における所望トラックに対して焦点を合わせた光ビームを照射することにより、所望の情報を再生または記録し得るようになされている。

（２）光ピックアップの構成
図８に示すように、光ピックアップ２０のレーザダイオード２１は、制御部１２（図７）から供給される駆動電流に応じてレーザ光を発光し、光ビーム４０として回折素子３０へ入射する。

回折素子３０は、光ビーム４０を０次光ビームであるメインビームＭＢ及び±１次光ビームであるサブビームＳＢに分離し、ビームスプリッタ２４へ入射する。なお、信号記録層の記録情報を読み取るためのメインビームＭＢの光利用効率を高めるために、サブビームＳＢの光量は、当該メインビームＭＢと比較して小さくなるようになされている。

ビームスプリッタ２４は、入射されたメインビームＭＢ及びサブビームＳＢでなる光ビーム４０を反射してその進行方向を９０°変化させ、コリメータレンズ２５へ入射する。コリメータレンズ２５は、発散光として入射された光ビーム４０を平行光に変換し、立上ミラー２６によってその進行方向を９０°変化させ、１／４波長板２７を介して対物レンズ２８に入射させる。そして対物レンズ２８は、光ビーム４０を集光し光ディスク１００に照射する。

この結果、光ビーム４０としてのメインビームＭＢによるメインスポットＰＡと、光ビーム４０としての４つのサブビームＳＢによる２つのサブスポットＰＢ及びＰＣ（詳しくは後述する）とが光ディスク１００の信号記録層における所望のトラックに照射される。

また対物レンズ２８（図２）は、光ビーム４０が光ディスク１００によって反射されてなる反射光ビーム５０を受光し、１／４波長板２７と立上ミラー２６とコリメータレンズ２５とを介してビームスプリッタ２４へ入射する。ビームスプリッタ２４は、反射光ビーム５０を透過させ、収差を補正するマルチレンズ３３を介してフォトディテクタ６０に入射する。

ここでフォトディテクタ６０は、メインビームＭＢ及びサブビームＳＢの光量に応じた検出信号を生成し、信号処理部１７へ送出する。

信号処理部１７（図７）は、この検出信号から再生ＲＦ信号、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成し、サーボ回路１３へ送出する。サーボ回路１３は、信号処理部１７から供給されるフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号ＳＴＥに基づいて駆動制御信号を生成し、２軸アクチュエータ３６（図８）を制御することにより、光ビーム４０を光ディスク１００における所望のトラック上に正確に照射するように対物レンズ２８をフォーカス方向及びトラッキング方向に駆動するようになされている。

なお信号処理部１７は、例えばスポットサイズ法などによりフォーカスエラー信号を生成するようになされている。

（３）トラッキングエラー信号
次に、トラッキングエラー信号ＳＴＥの生成について、従来の光ディスク装置Ｐ１０が実行する一般的なプッシュプル法及びＤＰＰ（Differential Push Pull）法について説明した後、本実施の形態におけるトラッキングエラー信号の生成について説明する。なお、従来の光ディスク装置Ｐ１０については、説明の便宜上、図７及び図８における対応部分の符号にＰを附して説明する。

（３−１）プッシュプル法の原理
図９（Ａ）に示すように、光ディスク１００の信号記録層には、データの記録される凸状のグルーブＧと、案内溝であるランドＬとが交互に配置されており、この一対のグルーブＧ及びランドＬで１つのトラックを形成している。ここで、光ビーム４０が信号記録層に照射されると、このグルーブＧ及びランドＬが回折格子として作用する。

従って、光ディスク装置Ｐ１０が光ビーム４０をスポットＰとして光ディスク１００に照射すると、グルーブＧ及びランドＬによる回折によって反射光ビーム５０が０次光ビームでなる主光領域ＡＲ０及び±１次光ビームでなる副光領域ＡＲ±１に分離される。

このうち主光領域ＡＲ０と重複する部分のみが対物レンズＰ２８に入射され反射光ビーム５０となるため、当該反射光ビーム５０の光束断面の両端には主光領域ＡＲ０及び副光領域ＡＲ±１が重なる２つの重複領域Ｗがそれぞれ形成される。

この２つの重複領域Ｗでは、主光領域ＡＲ０及び副光領域ＡＲ±１が互いに干渉するが、このときのグルーブＧ及びランドＬに対するスポットＰの位置に応じて副光領域ＡＲ±１の位相が変化するため、この主光領域ＡＲ０に対する副光領域ＡＲ±１の位相差に応じて当該２つの重複領域Ｗにおける光量がそれぞれ変化する。

従って、分割線Ｃｐによって２分割された検出領域ＤＴａ及びＤＴｂを有するフォトディテクタ１によって反射光ビーム５０による反射光スポットＱを検出した場合、当該反射光スポットＱに応じた検出領域ＤＴａ及びＤＴｂの検出光量差から、図９（Ｂ）に示したような、２つの重複領域Ｗの光量差を表すプッシュプル信号ΔＱを生成することができる。

なお図９（Ｂ）は、光ピックアップＰ２０を光ディスク１００の半径方向に移動させたときに得られるいわゆるトラバース信号を示している。

このプッシュプル信号ΔＱは、光ビーム４０のトラックの中心位置であるグルーブＧの中心からの照射ずれを表しており、光ビーム４０がグルーブＧの中心に照射されたときにゼロとなり、1周期が１つのトラックに対応した正弦波となる。

ところが、光ディスク装置Ｐ１０は、光ピックアップＰ２０を固定したまま対物レンズＰ２８のみをトラッキング方向に駆動させて照射位置を微調整する場合があり、このとき対物レンズＰ２０とフォトディテクタＰ２２との位置関係がずれるため、図１０に示すように、反射光ビーム５０の光軸上となる反射光スポットＱの中心がフォトディテクタ１の分割線Ｃｐからずれてしまうオフセットが発生する。

このプッシュプル法では、この検出領域ＤＴａ及びＤＴｂにおける検出光量差がオフセットによるものなのか、光ビーム４０の照射ずれによるものなのかを区別することができない。

そこで光ビームを０次光ビームでなるメインビームと±１次光ビームでなるサブビームとに分離して光ディスク１００に照射する、いわゆるＤＰＰ法が広く使用されている。

（３−２）ＤＰＰ法の原理
実際上、このＤＰＰ法では、レーザダイオードＰ２１から出射した光ビーム４０を縞状の凹凸パターンを有する回折格子（図示しない）によってメインビームと２つのサブビームとに分離し、図１１（Ａ）に示すように、光ディスク１００に対してメインビームによるメインスポットＰＡを所望のトラックにおけるグルーブＧの中心に位置するように照射すると共に、サブビームによるサブスポットＰＢ及びＰＣを当該グルーブＧから互いに反対方向へ半トラック分ずつずれたランドＬに位置するよう照射する。

この場合光ディスク装置Ｐ１０では、図１１（Ｂ）に示すように、メインスポットＰＡ、サブスポットＰＢ及びＰＣに対応するメイン反射光スポットＱＡ、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣをフォトディテクタ１によって受光する。

このフォトディテクタ１は、検出領域２Ａ及び２Ｂを有するメインビーム検出器２３と、検出領域３Ａ及び３Ｂを有するサブビーム検出器３と、検出領域４Ａ及び４Ｂを有するサブビーム検出器４とから構成され、メインビーム検出器２がメイン反射光スポットＱＡを、サブビーム検出器３がサブ反射光スポットＱＢを、サブビーム検出器４がサブ反射光スポットＱＣをそれぞれ受光する。そしてフォトディテクタ１は、それぞれの受光量に応じた検出信号を生成し、これを信号処理部１７へ送出する。

なお、サブビームによるサブ反射光スポットＱＢ及びＱＣの光量は、メインビームによるメイン反射光スポットＱＡの光量と比較して小さくなされており、これによりメインスポットＰＡの光利用効率を高めている。

信号処理部１７は、検出領域２Ａ及び２Ｂの受光量に応じて検出信号ＳＤａ及びＳＤｂが供給されると、タンジェンシャル方向と平行な中心線である分割線Ｃｐを挟んだ両側の領域における受光量の差を差分値Ｓｄｉｆとして次式に従って算出する。

Ｓｄｉｆ＝ＳＤａ−ＳＤｂ ……（１）

さらに、信号処理部１７は、検出領域３Ａ及び３Ｂと検出領域４Ａ及び４Ｂとの受光量に応じて検出信号ＳＥａ及びＳＥｂと検出信号ＳＦａ及びＳＦｂとが供給されると、当該検出信号ＳＥａ及びＳＥｂの差分値となるプッシュプル信号ΔＱＢと、当該検出信号ＳＦａ及びＳＦｂの差分値となるプッシュプル信号ΔＱＣとを加算した差分加算値Ｓｄｓを次式により算出する（ただし、Ｋ_１は係数）。

Ｓｄｓ＝Ｋ_１｛（ＳＥａ−ＳＥｂ）＋（ＳＦａ−ＳＦｂ）｝ ……（２）

ちなみに信号処理部１７は、メインビームＭＢによるメインスポットＰＡの光量と比較してサブビームＳＢによるサブスポットＰＢ及びＰＣの光量が小さいため、プッシュプル信号ΔＱＢ及びΔＱＣの加算値に対して所定の定数Ｋ_１を乗じることにより、差分加算値Ｓｄｓの信号レベルを差分値Ｓｄｉｆと同等に高めるようになされている。

ところでＤＰＰ法では、図１１（Ａ）に示したように、メインビームＭＢによるメインスポットＰＡをグルーブＧ上に位置するように照射しているのに対し、サブビームＳＢによるサブスポットＰＢ及びＰＣを半トラック分ずらしてランドＬに位置するよう照射している。

このため図１２に示すように、メイン反射光スポットＱＡの重複領域Ｗに生じる明暗とサブ反射光スポットＱＢ及びＱＣの重複領域Ｗに生じる明暗が互いに反転すると共に、プッシュプル信号ΔＱＢ及びΔＱＣにおける位相は差分値Ｓｄｉｆと比較して逆位相となる。従って、これらが加算されて生成された差分加算値Ｓｄｓの位相も差分値Ｓｄｉｆと比較して逆位相となる。

ここで、対物レンズＰ２８が２軸アクチュエータＰ３６に電流が供給されていない基準位置にある場合（図１１（Ａ））、反射光スポットＱＡ、ＱＢ及びＱＣは、所定の受光位置であるメインビーム検出器２並びにサブビーム検出器３及び４の中心でそれぞれ受光され、スポット中心Ｃｓが分割線Ｃｐ上を通る。この場合図１４（Ａ）に示すように、差分値Ｓｄｉｆの正弦波の振幅中心がゼロとなる。

これに対して図１３に示すように、対物レンズＰ２８を基準位置からトラッキング方向に移動させると、反射光スポットＱＡ、ＱＢ及びＱＣのスポット中心Ｃｓがメインビーム検出器２並びにサブビーム検出器３及び４の中心からずれる。この場合図１４（Ｂ）に示すように、差分値Ｓｄｉｆには、直流成分のオフセットが発生して正弦波の振幅中心がゼロ以外の値となる。

このオフセットが生じると、差分加算値Ｓｄｉｆの値から正確なトラッキングエラー信号ＳＴＥが得られなくなってしまう。

このとき、プッシュプル信号ΔＱＢ及びＱＣにも同様のオフセットが発生するため、図１４（Ｃ）に示すようにこれらが加算された差分加算値Ｓｄｓにも同様のオフセットが発生する。

そこで光ディスク装置Ｐ１０は、差分値Ｓｄｉｆと差分加算値Ｓｄｓとの差分を次式に従って算出することにより、図１４（Ｄ）に示すように、直流成分のオフセットを相殺し、かつ振幅を約２倍に拡大したトラッキングエラー信号ＴＥを得るようになされている。

ＴＥ＝｛（ＳＤａ−ＳＤｂ）｝
−Ｋ_１｛（ＳＥａ−ＳＥｂ）＋（ＳＦａ−ＳＦｂ）｝ ……（３）

ここで上述したように、光ディスク１００が多層ディスクであった場合、光ビーム４０の照射対象となる記録層（以下、これを対象記録層と呼ぶ）だけでなく、当該対象記録層以外の記録層（以下、これを他記録層と呼ぶ）によっても光ビーム４０の一部が反射され、これが層間迷光ＯＢとしてフォトディテクタ１に受光される。

図１５に示すように、光ディスク装置Ｐ１０は、メインビームＭＢと２つのサブビームＳＢとを結ぶ回折ラインＬＬをタンジェンシャル方向から所定の傾斜角度αだけラジアル方向に傾斜させることにより、メインスポットＰＡに対してサブスポットＰＢ及びＰＣを１／２トラックだけずらした位置に照射する。

このため光ディスク装置Ｐ１０では、図１６に示すように、３つのビーム検出器２〜４をタンジェンシャル方向に平行な直線から傾斜角度αだけ傾斜させた直線上に配置することにより、メイン反射光スポットＱＡ及びサブ反射光スポットＱＢ及びＱＣを受光する。

この結果光ディスク装置Ｐ１０は、層間迷光ＯＢが明暗を有する場合、図１７に示すように、各ビーム検出器２〜４によってそれぞれ異なる光量の層間迷光ＯＢを受光する可能性がある。

なお図２に示したように、光ディスク１００において対物レンズが移動する移動軸線ＭＬ上においてトラックに対する接線方向をタンジェンシャル方向とし、当該トラックに対する法線方向（すなわちトラック半径方向）をラジアル方向とする。

また光ディスク１００上に光ビームが照射されることにより形成されるスポットＰ（メインスポットＰＡ、サブスポットＰＢ及びＰＣ）がタンジェンシャル方向及びラジアル方向に移動するときに、フォトディテクタ１（図１）において受光される反射光スポットＱが移動する方向をそれぞれフォトディテクタ１におけるタンジェンシャル方向及びラジアル方向とする。

このように、ＤＰＰ法では、サブスポットＰＢ及びＰＣをランドＬに照射するために傾斜を設け、その傾斜に合わせてフォトディテクタ１上にサブビーム検出器２及び４を配置するようになされている。

（３−３）本実施の形態によるトラッキングエラー信号生成方法の原理
本実施の形態では、図１８（Ａ）に示すようにメイン反射光スポットＱＡには、従来と同様照射ずれに応じて重複領域Ｗに発生する明暗によって重複領域光量差ΔＷが発生する。一方、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣにおいては、重複領域Ｗの光量を当該重複領域Ｗ以外の領域に比して小さくすることにより、照射ずれの明暗（いわゆるプッシュプル成分）による重複領域光量差ΔＷのレベルを小さくし、検出光量差ΔＱＢ及びΔＱＣ（図１８（Ｂ））にこの重複領域光量差ΔＷの影響が殆ど現れないようにする。

これにより、図１９（Ｂ）に示すように、検出光量差ΔＱＢ及びΔＱＣの加算値となる差分加算値Ｓｄｓから照射ずれによるプッシュプル成分を除去できるため、当該差分加算値Ｓｄｓがほぼオフセットのみを表すようになる。

この結果、（２）式で算出されるメイン反射光スポットＱＡに基づく差分値Ｓｄｉｆ（図１９（Ａ））から、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣに基づく差分加算値Ｓｄｓ（図１９（Ｂ））を減算することでオフセットを相殺できるため、（４）式に従って算出されるトラッキングエラー信号ＳＴＥ（図１９（Ｃ））が、照射ずれに起因する重複領域光量差ΔＷのみをほぼ表すようになる。

従って本実施の形態では、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣに基づく差分加算値Ｓｄｓがオフセットのみを表すことができるため、サブビームＳＢをグルーブＧ及びランドＬのいずれに照射した場合であっても、（４）式に従ってメイン反射光スポットＱＡに基づく差分値Ｓｄｉｆからオフセットを適切に相殺してトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出することが可能となる。

（３−４）回折素子の構成
具体的に、光ディスク装置１０は、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣにおける重複領域Ｗの光量が当該重複領域Ｗ以外の領域に比して小さくなるように、図２０に示す回折素子３０によって光ビーム４０をメインビームＭＢとサブビームＳＢとに分離する。

この回折素子３０は、例えばガラスやアクリル樹脂などの光学材料でなる板状の素子に対し、例えば透明誘電体膜によって回折格子ＤＬが形成されてなる。

この回折格子ＤＬは、複数の直線パターンが平行周期ｄで形成されてなる第１回折格子ＤＬａと、同様の直線パターンが平行周期ｄで形成されてなる第２回折格子ＤＬｂとが交差角度θで交差されることにより構成されており、例えば第１回折格子ＤＬａ及び第２回折格子ＤＬｂが回折素子３０の一面に重ねて設けられている。

また、第１回折格子ＤＬａ及び第２回折格子ＤＬｂが菱形ＤＭを有する１つの回折格子として、１段の凹凸で形成されるようにしても良い。

図２１に示すように、この第１回折格子ＤＬａは、入射される光ビーム４０を第１回折ラインＬａ上に回折し、０次光ビームでなるメインビームＭＢ及び±１次光ビームでなる第１サブビーム±ＳＢ１に分離する。

一方、第２回折格子ＤＬｂは、入射される光ビーム４０を第２回折ラインＬｂ上に回折し、０次光ビームでなるメインビームＭＢ及び±１次光ビームでなる第２サブビーム±ＳＢ２に分離する。

このとき、回折素子３０は、第１回折格子ＤＬａ及び第２回折格子ＤＬｂ(図２０)が交差角度θで交差し、かつ同一の平行周期ｄを有しているため、第１回折ラインＬａ及び第２回折ラインＬｂを交差角度θで交差させると共に、第１サブビーム±ＳＢ１及び第２サブビーム±ＳＢ２をメインビームＭＢからほぼ同一の距離にそれぞれ照射するようになされている。

また回折素子３０では、交差角度θが小さい角度（例えば２．５[°]）に選定されているため、第１サブビーム＋ＳＢ１及び第２サブビーム＋ＳＢ２（以下、これをサブビーム＋ＳＢと呼ぶ）が重なり合って干渉すると共に、第１サブビーム−ＳＢ１及び第２サブビーム−ＳＢ２（以下、これをサブビーム−ＳＢと呼ぶ）が重なり合って干渉する。この結果サブビーム＋ＳＢ及び−ＳＢには、第１サブビーム＋ＳＢ１及び第２サブビーム＋ＳＢ２のなす隣接角度φ、並びに第１サブビーム−ＳＢ１及び第２サブビーム−ＳＢ２の成す隣接角度φに応じて明部分及び暗部分が繰り返される、いわゆる干渉縞が形成される。

そして、図２２に示すように、対物レンズ２８を介して光ディスク１００上にメインスポットＰＡ並びにサブスポットＰＢ及びＰＣとして照射されたメインビームＭＢ及びサブビームＳＢ（サブビーム＋ＳＢ及び−ＳＢ）は、光ディスク１００で反射されてメイン反射光ビームＭＲＢ及びサブ反射光ビームＳＲＢとなる。

このとき、メイン反射光ビームＭＲＢ及びサブ反射光ビームＳＲＢは、グルーブＧ及びランドＬによって回折し、０次光ビームでなる主光領域ＡＲ０と±１次光ビームでなる副光領域ＡＲ±１にそれぞれ分離されるため、主光領域ＡＲ０と副光領域ＡＲ±１が重なり合う重複領域Ｗが形成される。

本実施の形態における回折素子３０は、図２３に示すように、サブ反射光スポットＱＢ（図２３（Ａ））及びＱＣ（図２３（Ｂ））に形成される重複領域Ｗに対応する領域に光量の小さい干渉縞の暗部分がくるように、上述したサブビームＳＢに形成される干渉縞の周期を調整することにより、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣにおける重複領域Ｗの光量を主光領域ＡＲにおける当該重複領域Ｗ以外の領域（以下、これを中央領域ＡＲｃと呼ぶ）に比して小さくする。

これにより図２４に示すように、回折素子３０は、フォトディテクタ６０のメインビーム検出器６２に受光されるメイン反射光スポットＱＡにおいては従来と同様に照射ずれによる明暗が重複領域Ｗに現れるようにできる。一方回折素子３０は、サブビーム検出器６３及び６４に受光されるサブ反射光スポットＱＢ及びＱＣにおいては、重複領域Ｗの光量が中央領域ＡＲｃに比して小さいため、照射ずれによる明暗が重複領域Ｗに殆ど現れないようにすることができる。

すなわち図２５に示すように、サブビーム検出器６３において受光されたサブ反射光スポットＱＢは、重複領域Ｗに照射ずれによる明暗を物理現象として発生させるものの、この重複領域Ｗの光量自体が殆どないため重複領域光量差ΔＷも殆どゼロとなる。この結果、検出光量差ΔＱＢが重複領域光量差ΔＷの光量変調を受けることなく、主にオフセットのみを反映することができる。

このように光ディスク装置１０は、第１サブビーム±ＳＢ１及び第２サブビーム±ＳＢ２を重ねることによってサブ反射光スポットＱＢに干渉縞を形成すると共に、重複領域Ｗの中心付近にこの干渉縞における光量がゼロとなる暗部分がくるように、回折素子３０において干渉縞の周期を決定する交差角度θを選定することにより、重複領域Ｗの光量を中央領域ＡＲｃに比して小さくすることができる。

この結果光ディスク装置１０は、サブ反射光スポットＱＢからプッシュプル成分の影響を除去できるため、光ディスク１００のメインビームＭＢが照射されるトラックとサブビームＳＢが照射されるトラックとの位置関係を考慮することなく、サブビームＳＢがどのトラック（グルーブＧ及びランドＬ）に照射された場合であってもサブ反射光スポットＱＢが常にオフセットのみを表すようにでき、光ディスク１００上の任意の照射位置に何ら制約無くサブビームＳＢを照射することができる。

（３−５）ビーム検出器の配置
実際上、光ディスク装置１０は、回折素子３０の回折格子ＤＬを任意の傾斜角度βだけ傾斜させて配置する。

なお光ビーム４０の光軸を移動させた場合に、光ディスク１００に照射されたスポットＰがタンジェンシャル方向に移動する方向をタンジェンシャル方向、ラジアル方向に移動する方向をラジアル方向とする。

すなわち図２６に示すように、回折素子３０は、回折素子３０における２つの回折格子ＤＬａ及びＤＬｂの交点を通る線を基準線ＳＬとすると、当該基準線ＳＬがラジアル方向から傾斜角度βだけ傾斜した状態で回折素子３０を設置する。

また光ディスク装置１０は、図２７に示すように、予め基準線ＳＬがラジアル方向から傾斜角度βだけ傾斜した状態で回折格子ＤＬａ及びＤＬｂを形成し、傾斜させないでそのまま回折素子３０を設置することもできる。

この結果図２８に示すように、光ディスク装置１０は、光ディスク１００のトラックに対してメインスポットＰＡ並びにサブスポットＰＢ及びＰＣをタンジェンシャル方向から傾斜角度βだけ傾斜させた直線上に位置させるようにメインビームＭＢ及びサブビームＳＢを照射することができる。

図２９に示すようにメインビームＭＢ並びにサブビームＳＢは、光ディスク１００によって反射され、メイン反射光スポットＱＡ、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣ、並びに層間迷光ＯＢとして３つのビーム検出器６２、６３及び６４、並びに２つの迷光検出器７３及び７４を有するフォトディテクタ６０に受光される。

そしてフォトディテクタ６０では、メインスポットＰＡ並びにサブスポットＰＢ及びＰＣが照射される直線の傾斜角度βに対応させて、ビーム検出器６２〜６４をタンジェンシャル方向から任意の傾斜角度βだけ傾斜させた線上に配置している。なお本実施の形態では、サブビームＳＢをランドＬ上に照射する必要のあるＤＰＰ法と異なり、サブビームＳＢの照射位置に関する制限無く傾斜角度βを選定することができる。

すなわちフォトディテクタ６０は、メインビーム検出器６２を中心としてみたときサブビーム検出器６２及び６３をそれぞれラジアル方向に逆方向にずらすことができる。これにより従来のフォトディテクタ１においてサブビーム検出器２及び３が配置されていた、当該サブビーム検出器６２及び６３のタンジェンシャル方向に関する対称となる位置を空けることができる。

ところで上述したように、層間迷光ＯＢにおいて記録済領域ＦＲと未記録領域ＹＲとの境界である記録境界線ＢＬ（図４）に対応する明暗境界線ＥＬは、タンジェンシャル方向に平行に出現する。このため層間迷光ＯＢにおける光強度は、ラジアル方向では大きく異なる可能性があるものの、タンジェンシャル方向においてほぼ均一となる。

そこで本実施の形態による光ディスク装置１０は、迷光検出器７３及び７４をメインビーム検出器６２の中心を通る直線線ＣＬを軸としてサブビーム検出器６３及び６４とほぼ対称となる位置に配置している。

これにより光ディスク装置１０は、サブビーム検出器６３及び６４と同一形状でなる迷光検出器７３及び７４を、当該サブビーム検出器６３及び６４とラジアル方向に同一となる位置に配置することができる。このため迷光検出器７３及び７４は、サブビーム検出器６３及び６４が受光する層間迷光ＯＢの光量を高い精度で検出することができる。

また光ディスク装置１０は、サブビーム検出器６３及び６４と同一形状でなる迷光検出器７３及び７４を、メイン検出器６２の中心を対称点としてサブビーム検出器６３及び６４と点対称になるように配置している。すなわち光ディスク装置１０は、迷光検出器７３及び７４を、サブビーム検出器６３及び６４に関してメイン検出器６２の中心からラジアル方向だけでなくタンジェンシャル方向にも同一となる位置に配置している。

これにより迷光検出器７３及び７４は、層間迷光ＯＢがタンジェンシャル方向に対象な光強度分布を有してさえいれば（例えば層間迷光ＯＢがガウスビーム分布を有していたような場合）、サブビーム検出器６３及び６４とほぼ同一の光量を検出することができる。

さらに光ディスク装置１０は、サブビーム検出器６３及び６４に対し、迷光検出器７４及び７３を隣接させて配置するように傾斜角度βを選定している。

これにより光ディスク装置１０は、フォトディテクタ６０全体の面積を極力小さくすることができるため、フォトディテクタ６０を小型化することができる。

そして光ディスク装置１０は、検出領域６２Ａ及び６２Ｂからなるメインビーム検出器６２によってメイン反射光スポットＱＡを受光し、検出領域６３Ａ及び６３Ｂからなるサブビーム検出器６３によってサブ反射光スポットＱＢを受光し、さらに検出領域６４Ａ及び６４Ｂからなるサブビーム検出器６４によってサブ反射光スポットＱＣを受光し、それぞれの検出領域に応じた検出信号を生成する。このとき各検出領域は、層間迷光ＯＢをも受光することになる。

光ディスク装置１０は、検出領域６３Ａ及び６３Ｂと同一形状及びラジアル方向に同一となる位置に配置された検出領域７３Ａ及び７３Ｂからなる迷光検出器７３、並びに検出領域６４Ａ及び６４Ｂと同一形状及びラジアル方向に同一となる位置に配置された検出領域７４Ａ及び７４Ｂからなる迷光検出器７４によって層間迷光ＯＢ（図２６）を受光し、それぞれの検出領域に応じた検出信号を生成し、信号処理部１７へ送出する。

信号処理部１７は、検出領域６２Ａの受光量を表す検出信号ＳＤａから検出領域６２Ｂの受光量を表す検出信号ＳＤｂを減算することにより、重複領域光量差ΔＷ及びオフセットを表す差分値Ｓｄｉｆを次式に従って算出する。

Ｓｄｉｆ＝ＳＤａ−ＳＤｂ ……（４）

さらに信号処理部１７は、検出領域６３Ａの受光量を表す検出信号ＳＥａから検出領域７３Ａの受光量を表す検出信号ＳＸａを減算することにより、検出信号ＳＥａから層間迷光の影響を除去した減算検出信号ＳＥａｘを算出し、検出領域６３Ｂの受光量を表す検出信号ＳＥｂから検出領域７３Ｂの受光量を表す検出信号ＳＸｂを減算することにより、検出信号ＳＥａから層間迷光の影響を除去した減算検出信号ＳＥｂｘを算出する。

ＳＥａｘ＝ＳＥａ−ＳＸａ ……（５）

ＳＥｂｘ＝ＳＥｂ−ＳＸｂ ……（６）

同様に信号処理部１７は、検出領域６４Ａの受光量を表す検出信号ＳＦａから検出領域７４Ａの受光量を表す検出信号ＳＹａを減算することにより、検出信号ＳＦａから層間迷光の影響を除去した減算検出信号ＳＦａｙを算出し、検出領域６４Ｂの受光量を表す検出信号ＳＦｂから検出領域７４Ｂの受光量を表す検出信号ＳＹｂを減算することにより、検出信号ＳＦａから層間迷光の影響を除去した減算検出信号ＳＦｂｙを算出する。

ＳＦａｙ＝ＳＦａ−ＳＹａ ……（７）

ＳＦｂｙ＝ＳＦｂ−ＳＹｂ ……（８）

そして信号処理部１７は、減算検出信号ＳＥａｘから減算検出信号ＳＥｂｘを減算した検出光量差ΔＱＢと、減算検出信号ＳＦａｙから減算検出信号ＳＦｂｙを減算した検出光量差ΔＱＣとを加算すると共に、サブ反射光スポットＱＢ及びＱＣの光量に応じた係数Ｋ_Ａを乗算することにより、オフセットを表す差分加算値Ｓｄｓを次式に従って算出する。

Ｓｄｓ＝Ｋ_Ａ｛（ＳＥａｘ−ＳＥｂｘ）＋（ＳＦａｙ−ＳＦｂｙ）｝ ……（９）

次いで、信号処理部１７は、重複領域光量差ΔＷ及びオフセットを表す差分値Ｓｄｉｆからオフセットを表す差分加算値Ｓｄｓを減算することにより、次式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出する。

ＳＴＥ＝（ＳＤａ−ＳＤｂ）
−Ｋ_Ａ｛（ＳＥａｘ−ＳＥｂｘ）＋（ＳＦａｙ−ＳＦｂｙ）｝ ……（１０）

これにより図１８を用いて説明したように、光ディスク装置１０は、差分値Ｓｄｉｆからオフセットを除去し、照射ずれに起因する重複領域光量差ΔＷのみを表すトラッキングエラー信号ＳＴＥを得ることができる。

このように光ディスク装置１０は、タンジェンシャル方向に平行な直線上にサブビーム検出器６３及び迷光検出器７３、並びにサブビーム検出器６４及び迷光検出器７４を配置した。層間迷光ＯＢがタンジェンシャル方向にほぼ均一な光強度を有するため、光ディスク装置１０は、サブビーム検出器６３及び６４に受光される層間迷光ＯＢとほぼ同じ光量を迷光検出器７３及び７４によって検出することができる。

（４）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１０は、回折素子３０によって光源であるレーザダイオード２１から発射された光ビーム４０を光量の大きいメインビームＭＢと光量の小さいサブビームＳＢとに分離する。このとき回折素子３０は、光ディスク１００が有する複数の記録層のうちメインビームＭＢ及びサブビームＳＢを照射する対象となる対象記録層上に形成されるメインビームＭＢによるメインスポットＰＡとサブビームＳＢによるサブスポットＱＢ及びＱＣとを、当該光ディスク１００のトラックの接線方向であるタンジェンシャル方向から任意の傾斜角度βだけ傾斜させた直線上に位置させる。

光ディスク装置１０は、対物レンズ２８によってメインビームＭＢ及びサブビームＳＢを集光して対象記録層に照射し、メインビームＭＢが光ディスク１００によって反射されてなるメイン反射光ビームＭＲＢとサブビームＳＢが光ディスク１００によって反射されてなるサブ反射光ビームＳＲＢとをフォトディテクタ６０によって受光する。

このフォトディテクタ６０は、メイン反射光ビームＭＲＢを受光するメインビーム検出器６２と、サブ反射光ビームＳＲＢを受光するサブビーム検出器６３及び６４と、記録層のうち対象記録層以外の他記録層によって反射されるメインビームＭＢ及びサブビームＳＢである層間迷光ＯＢの光量を検出する迷光検出器７３及び７４とを有している。

フォトディテクタ６０では、迷光検出器７３及び７４が配置できるように、メインビーム検出器６２及びサブビーム検出器６３及び６４がタンジェンシャル方向から傾斜角度βだけ傾斜させた直線上に配置され、タンジェンシャル方向に垂直なラジアル方向に関しサブビーム検出器６３及び６４と同一幅でなる迷光検出器７３及び７４がメインビーム検出器６２の中心を通るラジアル方向に平行な直線を軸にサブビーム検出器６３及び６４とほぼ対称な位置に配置されている。

これにより、サブビーム検出器６３及び６４に対して迷光検出器７３及び７４をラジアル方向にほぼ同一の位置に配置することができるため、タンジェンシャル方向に明暗境界線ＥＬを有するような層間迷光ＯＢであっても、サブビーム検出器６３及び６４に検出される層間迷光ＯＢの光量を高い精度で検出することができる。

また迷光検出器７３及び７４は、サブビーム検出器６３及び６４と同一形状に形成されていることにより、サブビーム検出器６３及び６４に対して迷光検出器７３及び７４をタンジェンシャル方向にもほぼ同一の位置に配置することができる。

このため迷光検出器７３及び７４は、層間迷光ＯＢがメインビーム検出器６２の中心を通る直線を軸として層間迷光ＯＢがラジアル方向に対称性を有していれば、サブビーム検出器６３及び６４に検出される層間迷光ＯＢとほぼ同等の光量を高い精度で検出することができる。

２つのサブビーム検出器６３及び６４と、２つの迷光検出器７３及び７４がメインビーム検出器６２の中心を対称点として点対称となるように配置されている。

これにより迷光検出器７３及び７４は、層間迷光ＯＢが例えばガウスビーム分布のように中心部と周縁部とで異なる光強度分布を有していたような場合であっても、サブビーム検出器６３及び６４に検出される層間迷光ＯＢの光量を高い精度で検出することができる。

回折素子３０は、光ビーム４０をメインビームＭＢ及び２つのサブビームＳＢである第１サブビームＳＢ＋及び第２サブビームＳＢ＋に分離し、当該第１サブビームＳＢ＋及び第２サブビームＳＢ＋による２つのサブ反射光ビームＳＲＢである第１サブ反射光ビームＳＲＢ＋及び第２サブ反射光ビームＳＲＢ＋におけるプッシュプル成分の生じる重複領域Ｗの光量が小さくなるように第１サブビームＳＢ＋及び第２サブビームＳＢ＋を重ね合わせて干渉縞を形成する。

これにより光ディスク装置１０は、ＤＰＰ法とは異なりサブビームＳＢの照射位置にかかる制限がないため、任意の傾斜角度βを自由に選択することができると共に、サブビームＳＢを所望のトラックから半トラックずれたランド上に照射するために回折素子３０の設置角度を微調整しなくても済む。

以上の構成によれば、光ディスク装置１０は、回折格子ＤＬにおける基準線ＳＬをラジアル方向から傾斜角度βだけ傾斜させた状態で設置することにより、光ディスク１００上においてタンジェンシャル方向から傾斜角度βだけ傾斜させた直線上にメインビームＭＢとサブビームＳＢとを照射することができる。そして光ディスク装置１０は、フォトディテクタ６０におけるメインビーム検出器６２、サブビーム検出器６３及び６４を傾斜角度βだけ傾斜させた直線上に配置することにより、従来のフォトディテクタ１においてサブビーム検出器６４及び６３がそれぞれ配置されていたサブビーム検出器６３及び６４に対してラジアル方向にほぼ同一の位置に迷光検出器７３及び７４を配置することができる。かくしてサブビーム検出器６３及び６４に検出される層間迷光ＯＢの光量を高い精度で検出することができる光ピックアップ及び光ディスク装置を実現することができる。

（５）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、サブビーム検出器６３及び迷光検出器７４、並びにサブビーム検出器６４及び迷光検出器７３がラジアル方向に隣接して配置されるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば図３１及び図３２に示すように、傾斜角度βの選定により、サブビーム検出器６３及び迷光検出器７４、並びにサブビーム検出器６４及び迷光検出器７３を離隔して配置するようにしても良い。

これにより、反射光スポットＱＢ及びＱＣが大きく移動して迷光検出器７３及び７４に受光されてしまうことを確実に防止することができる。

また図３３に示すように、メインビーム検出器６２、サブビーム検出器６３、迷光検出器７４、サブビーム検出器６４及び迷光検出器７３をそれぞれタンジェンシャル方向及びラジアル方向に隣接させて配置するようにすることもできる。

また上述の実施の形態においては、サブビーム検出器６３及び６４、並びに迷光検出器７３及び７４が正方形状でなるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば図３４に示す八角形状や、円形状などを有するようにしても良い。

さらに上述の実施の形態においては、反射光ビームＳＢにおける重複領域Ｗの光量を小さくしてプッシュプル成分の影響を小さくすることによりサブビームＳＢの照射位置に制限を設けないようにした場合について述べたが、例えば従来のＤＰＰ法や５スポット法などにおいても本発明を適用することができる。

例えばＤＰＰ法では、図３５に示すように、所望のトラック（グルーブＧ）から任意のトラックＸ（Ｘは整数）＋１／２トラックだけ離隔させたランドＬ上にサブスポットＰＢ及びＰＣを位置させるように傾斜角度βを選定する。なおＤＰＰ法においては、回折素子３０の代わりに一方向にのみ連続的な凹凸が形成された縞状の凹凸でなる回折格子を有する回折素子が用いられるが、この回折格子の凹凸自体を基準線ＳＬとする。

またサブビームＳＢをメインビームＭＢから１／４トラックずつずらして照射する５スポット法でも同様に、任意のトラックＸ＋１／４トラックだけ離隔させたグルーブＧ及びランドＬの間にサブスポットＰＢ及びＰＣを位置させるように傾斜角度βを選定する。すなわちトラッキング制御の手法のうち、サブビームＳＢの照射位置によってプッシュプル信号の位相を合わせる必要のある手法では、サブビームＳＢの照射位置をずらす必要のある所定のトラック数に加えて、任意のトラックＸだけ離隔させるように傾斜角度βを選定することにより、本発明を適用することが可能となる。

さらに上述の実施の形態においては、２つのサブビーム検出器６３及び６４、並びに２つの迷光用検出器７３及び７４を設けるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、少なくとも一つのサブビーム検出器及び迷光検出器を設けるようにしても良い。

さらに上述の実施の形態においては、層間迷光ＯＢが記録済領域ＦＲ及び未記録領域ＹＲに応じた明暗を有するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばグルーブＧ及びランドＬに応じて明暗が生じたり、各記録マークＲＭの有無に応じて明暗が生じる場合であっても、層間迷光ＯＢがタンジェンシャル方向に対称性のある明暗を有していれば、上述した実施の形態と同様の効果を得ることができる。

さらに上述の実施の形態においては、回折素子としての回折素子３０と、対物レンズとしての対物レンズ２８と、フォトディテクタとしてのフォトディテクタ６０とによって光ピックアップとしての光ピックアップ２０を構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる回折素子と、対物レンズと、フォトディテクタとによって本発明の光ピックアップを構成するようにしても良い。

さらに上述の実施の形態においては、回折素子としての回折素子３０と、対物レンズとしての対物レンズ２８と、フォトディテクタとしてのフォトディテクタ６０と、信号処理部としての信号処理部１７とによって光ピックアップとしての光ピックアップ２０を構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる回折素子と、対物レンズと、フォトディテクタと信号処理部とによって本発明の光ピックアップを構成するようにしても良い。

本発明は、光ビームを用いて光記録媒体に情報を記録し又は再生する種々の光情報装置でも利用できる。

従来の迷光検出器の配置を示す略線図である。 方向の定義の説明に供する略線図である。 目標記録層におけるスポットを示す略線図である。 他記録層における他層スポット示す略線図である。 層間迷光の様子を示す略線図である。 層間迷光の受光を示す略線図である。 光ディスク装置の全体構成を示す略線図である。 光ピックアップの構成を示す略線図である。 従来のプッシュプル法によるトラッキングエラー信号の説明に供する略線図である。 従来のプッシュプル法によるオフセットの説明に供する略線図である。 従来のＤＰＰ法によるスポット及び反射光スポットを示す略線図である。 従来のＤＰＰ法によるサブスポットの照射ずれの説明に供する略線図である。 反射光スポットの受光の説明に供する略線図である。 従来のトラッキングエラー信号の生成の説明に供する略線図である。 従来のＤＰＰ法による光ビームの照射を示す略線図である。 従来のＤＰＰ法によるビーム検出器の配置を示す略線図である。 従来のＤＰＰ法による層間迷光の受光の説明に供する略線図である。 トラッキングエラー信号生成の原理の説明に供する略線図である。 トラッキングエラー信号の生成（１）の説明に供する略線図である。 回折格子の形状を示す略線図である。 光ビームの回折の説明に供する略線図である。 重複領域の形成の説明に供する略線図である。 干渉縞の周期の調整の説明に供する略線図である。 受光スポットの形状を示す略線図である。 サブ反射光スポットを示す略線図である。 基準線の定義の説明に供する略線図である。 本実施の形態による回折素子を示す略線図である。 本実施の形態による光ビームの照射を示す略線図である。 本実施の形態による迷光の受光を示す略線図である。 本実施の形態によるフォトディテクタの構成を示す略線図である。 他の実施の形態による光ビームの照射の説明に供する略線図である。 他の実施の形態によるフォトディテクタの構成（１）を示す略線図である。 他の実施の形態によるフォトディテクタの構成（２）を示す略線図である。 他の実施の形態によるフォトディテクタの構成（３）を示す略線図である。 他の実施の形態によるＤＰＰ法における光ビームの照射を示す略線図である。

符号の説明

１……光ディスク装置、１７……信号処理部、２０……光ピックアップ、３０……回折素子、６０……フォトディテクタ、６２……メインビーム検出器、６３、６４……サブビーム検出器、７３、７４……迷光検出器、Ｐ……スポット、ＰＡ……メインスポット、ＰＢ、ＰＣ……サブスポット、ＭＢ……メインビーム、ＳＢ……サブビーム、ＯＢ……層間迷光、β……傾斜角度。

Claims (7)

1. 光源から発射された光ビームを光量の大きいメインビームと光量の小さいサブビームとに分離する際、光ディスクが有する複数の記録層のうち上記メインビーム及び上記サブビームを照射する対象となる対象記録層上に形成される上記メインビームによるメインスポットと上記サブビームによるサブスポットとを、当該上記光ディスクのトラックの接線方向であるタンジェンシャル方向から任意の傾斜角度だけ傾斜させた直線上に位置させる回折素子と、
   上記メインビーム及び上記サブビームを集光して上記対象記録層に照射する対物レンズと、
   上記メインビームが上記光ディスクによって反射されてなるメイン反射光ビームを受光するメインビーム検出器と、上記サブビームが上記光ディスクによって反射されてなるサブ反射光ビームを受光するサブビーム検出器と、上記タンジェンシャル方向に垂直なラジアル方向に関し上記サブビーム検出器と同一幅でなり上記記録層のうち上記対象記録層以外の他記録層によって反射される上記メインビーム及び上記サブビームの光量を検出する迷光検出器とを有し、上記メインビーム検出器及び上記サブビーム検出器が上記タンジェンシャル方向から上記傾斜角度だけ傾斜させた直線上に配置され、上記迷光検出器が上記メインビーム検出器の中心を通る上記ラジアル方向に平行な直線を軸に上記サブビーム検出器とほぼ対称な位置に配置されているフォトディテクタと
   を具えることを特徴とする光ピックアップ。
2. 上記迷光検出器は、
   上記サブビーム検出器と同一形状に形成されている
   ことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ。
3. 上記回折素子は、
   上記光ビームを１本の上記メインビームと当該メインビームを中心に対称な２本又は４本のサブビームとに分離し、
   上記サブビーム検出器は、
   ２つ設けられると共に、上記メインビーム検出器の中心を対称点として点対称となるように配置され、
   上記迷光検出器は、
   ２つ設けられると共に、上記メインビーム検出器の中心を対称点として点対称となるように配置されている
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
4. 上記回折素子は、
   上記光ビームを上記メインビーム及び上記サブビームに分離するための回折格子が上記傾斜角度だけ傾斜して形成されている
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
5. 上記回折素子は、
   上記光ビームを上記メインビーム及び２つのサブビームに分離し、当該２つのサブビームによる２つの上記サブ反射光ビームにおけるプッシュプル成分の生じる重複領域の光量が小さくなるように上記２つのサブビームを重ね合わせて干渉縞を形成する
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
6. トラッキング制御の手法に応じて、上記サブビームが上記メインビームからずらして照射されるべき所定のトラックに加えて、任意のトラックだけ離隔されて照射される
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
7. 光源から発射された光ビームを光量の大きいメインビームと光量の小さいサブビームとに分離する際、光ディスクが有する複数の記録層のうち上記メインビーム及び上記サブビームを照射する対象となる対象記録層上に形成される上記メインビームによるメインスポットと上記サブビームによるサブスポットとを、当該上記光ディスクのトラックの接線方向であるタンジェンシャル方向から任意の傾斜角度だけ傾斜させた直線上に位置させる回折素子と、
   上記メインビーム及び上記サブビームを集光して上記対象記録層に照射する対物レンズと、
   上記メインビームが上記光ディスクによって反射されてなるメイン反射光ビームを受光するメインビーム検出器と、上記サブビームが上記光ディスクによって反射されてなるサブ反射光ビームを受光するサブビーム検出器と、上記タンジェンシャル方向に垂直なラジアル方向に関し上記サブビーム検出器と同一幅でなり上記記録層のうち上記対象記録層以外の他記録層によって反射される上記メインビーム及び上記サブビームの光量を検出する迷光検出器とを有し、上記メインビーム検出器及び上記サブビーム検出器が上記タンジェンシャル方向から上記傾斜角度だけ傾斜させた直線上に配置され、上記迷光検出器が上記メインビーム検出器の中心を通る上記ラジアル方向に平行な直線を軸に上記サブビーム検出器とほぼ対称な位置に配置されているフォトディテクタと
   上記サブビーム検出器による受光量から上記迷光検出器による受光量を減算した減算値を上記サブビームの光量としてトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と
   を具えることを特徴とする光ディスク装置。

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