JP2009036925A - Exposure device, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate - Google Patents
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Description
本発明は、液晶ディスプレイ装置等の表示用パネル基板の製造において、基板の露光を行う露光装置、露光方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に関する。 The present invention relates to an exposure apparatus that performs exposure of a substrate, an exposure method, and a method of manufacturing a display panel substrate using the same in manufacturing a display panel substrate such as a liquid crystal display device.
表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造は、露光装置を用いて、フォトリソグラフィー技術により基板上にパターンを形成して行われる。露光装置としては、レンズ又は鏡を用いてフォトマスク(以下、「マスク」と称す)のパターンを基板上に投影するプロジェクション方式と、マスクと基板との間に微小な間隙(プロキシミティギャップ)を設けてマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ方式とがある。プロキシミティ方式は、プロジェクション方式に比べてパターン解像性能は劣るが、照射光学系の構成が簡単で、かつ処理能力が高く量産用に適している。 Manufacturing of TFT (Thin Film Transistor) substrates, color filter substrates, plasma display panel substrates, organic EL (Electroluminescence) display panel substrates, and the like of liquid crystal display devices used as display panels is performed using photolithography using an exposure apparatus. This is performed by forming a pattern on the substrate by a technique. As an exposure apparatus, a projection system that projects a photomask (hereinafter referred to as “mask”) pattern onto a substrate using a lens or a mirror, and a small gap (proximity gap) between the mask and the substrate. There is a proximity method in which a mask pattern is provided and transferred to a substrate. The proximity method is inferior in pattern resolution performance to the projection method, but the configuration of the irradiation optical system is simple, the processing capability is high, and it is suitable for mass production.
大型の基板を対象とした露光装置では、基板を水平に置いた状態で露光を行うのが一般的である。その場合、マスクはマスクホルダにより基板の上方に基板へ向き合わせて保持され、マスクには重力によってたわみが発生する。マスクにたわみが発生すると、基板へのパターンの焼付けが均一に行われない。 In an exposure apparatus for a large substrate, exposure is generally performed with the substrate placed horizontally. In this case, the mask is held by the mask holder so as to face the substrate above the substrate, and the mask is deflected by gravity. When the mask is bent, the pattern is not baked uniformly on the substrate.
従来、マスクのたわみを小さくするために、例えば特許文献1に記載の様に、マスクの二辺の近傍を下方から支持し、マスクの二辺の縁部を上方から押圧することによって、マスクのたわみを機械的に矯正する方法が行われていた。また、近年では、例えば特許文献2に記載の様に、マスク上面に負圧室を設け、マスクに単位面積当たりの質量を相殺する負圧をかけることによって、マスクのたわみを抑制する方法も行われている。
近年、表示用パネルの大画面化に伴い基板が大型化する程、マスクも大型化し、マスクの重力によるたわみが大きくなってきた。マスクが大型化しても、露光時に要求されるパターンの焼付け精度は従来と同様であり、マスクのたわみを所定以下に抑制して、パターンの焼付け精度を保つ必要がある。しかしながら、従来の方法では、マスクが大型化してたわみが大きくなるにつれ、マスクのたわみを十分に抑制することができなくなってきた。 In recent years, the larger the substrate with the larger display panel, the larger the mask, and the greater the deflection of the mask due to gravity. Even if the mask is enlarged, the pattern printing accuracy required at the time of exposure is the same as the conventional one, and it is necessary to keep the pattern printing accuracy by suppressing the deflection of the mask below a predetermined level. However, according to the conventional method, as the mask becomes larger and the deflection becomes larger, the deflection of the mask cannot be sufficiently suppressed.
また、近年、表示用パネルの需要増大に伴い基板の大きさが多様化し、多様な大きさのマスクが使用される様になってきた。従来、異なる大きさの基板の露光を行うには、露光装置のマスクホルダをマスクの大きさに合わせて交換する必要があった。そして、マスクの大きさによって異なる大きさのたわみを抑制する必要があった。 In recent years, as the demand for display panels has increased, the size of substrates has diversified, and masks of various sizes have been used. Conventionally, in order to expose substrates of different sizes, it has been necessary to replace the mask holder of the exposure apparatus in accordance with the size of the mask. And it was necessary to suppress the deflection of the magnitude | size which changes with the magnitude | sizes of a mask.
本発明の課題は、マスクの重力によるたわみを効果的に抑制することである。さらに、本発明の課題は、マスクの重力によるたわみの大きさが異なっても、マスクのたわみを効果的に抑制することである。また、本発明の課題は、パターンの焼付けを均一に行って、高品質な基板を製造することである。 An object of the present invention is to effectively suppress the deflection of the mask due to gravity. Furthermore, an object of the present invention is to effectively suppress the deflection of the mask even when the magnitude of the deflection due to the gravity of the mask is different. Another object of the present invention is to produce a high-quality substrate by uniformly baking a pattern.
本発明の露光装置は、基板を水平に保持するチャックと、マスクをチャックに保持された基板へ向き合わせて保持するマスクホルダとを備え、マスクのパターンを基板へ焼き付ける露光装置であって、マスクホルダが、マスクの周辺部を保持する複数の独立したホルダ部を有し、ホルダ部を傾斜させて、マスクに重力によるたわみと逆方向へ湾曲を与える調整手段を備えたものである。また、本発明の露光方法は、基板を水平に保持し、マスクをマスクホルダにより基板へ向き合わせて保持して、マスクのパターンを基板へ焼き付ける露光方法であって、マスクホルダを、マスクの周辺部を保持する複数の独立したホルダ部に分割し、ホルダ部を傾斜させて、マスクに重力によるたわみと逆方向へ湾曲を与えるものである。マスクの重力によるたわみが逆方向の湾曲により打ち消され、マスクのたわみが効果的に抑制される。 An exposure apparatus according to the present invention is an exposure apparatus that includes a chuck that holds a substrate horizontally and a mask holder that holds the mask facing the substrate held by the chuck, and is configured to print a mask pattern onto the substrate. The holder has a plurality of independent holder portions for holding the peripheral portion of the mask, and includes an adjusting means for inclining the holder portion and bending the mask in a direction opposite to the deflection due to gravity. The exposure method of the present invention is an exposure method in which the substrate is held horizontally, the mask is held facing the substrate by the mask holder, and the mask pattern is printed on the substrate. The holder is divided into a plurality of independent holder parts, and the holder part is inclined so that the mask is bent in the direction opposite to the bending due to gravity. The deflection due to the gravity of the mask is canceled by the bending in the opposite direction, and the deflection of the mask is effectively suppressed.
さらに、本発明の露光装置は、調整手段が、ホルダ部を傾斜させる角度を変更する機構を有するものである。また、本発明の露光方法は、マスクの重力によるたわみの大きさに応じて、ホルダ部を傾斜させる角度を変更するものである。マスクの重力によるたわみの大きさが異なっても、ホルダ部を傾斜させる角度を変更することにより、マスクに与える湾曲を変えることが可能となる。 Furthermore, the exposure apparatus of the present invention has a mechanism in which the adjusting means changes the angle at which the holder portion is inclined. In the exposure method of the present invention, the angle at which the holder portion is inclined is changed according to the amount of deflection of the mask due to gravity. Even if the magnitude of the deflection of the mask due to gravity is different, it is possible to change the curvature applied to the mask by changing the angle at which the holder portion is inclined.
さらに、本発明の露光装置は、1つのホルダ部を少なくとも3点で支持する支持手段を備え、調整手段が、支持手段の支持する点の高さを調整する機構を有するものである。また、本発明の露光方法は、1つのホルダ部を少なくとも3点で支持し、各点の高さを調整して、ホルダ部を傾斜させ、またはホルダ部を傾斜させる角度を変更するものである。簡単な構成で、ホルダ部が傾斜され、またはホルダ部を傾斜させる角度が変更される。 Furthermore, the exposure apparatus of the present invention includes support means for supporting one holder portion at at least three points, and the adjustment means has a mechanism for adjusting the height of the points supported by the support means. The exposure method of the present invention supports one holder part at at least three points and adjusts the height of each point to incline the holder part or change the angle at which the holder part is inclined. . With a simple configuration, the holder part is inclined or the angle at which the holder part is inclined is changed.
さらに、本発明の露光装置は、ホルダ部を保持して移動する移動手段を備え、 調整手段が、移動手段の角度を調整する機構を有するものである。また、本発明の露光方法は、ホルダ部を保持して移動する移動手段を設け、移動手段の角度を調整して、ホルダ部を傾斜させ、またはホルダ部を傾斜させる角度を変更するものである。異なる大きさの基板を露光するとき、マスクの大きさに応じて、移動手段によりホルダ部を移動する。従来の様にマスクホルダをマスクの大きさに合わせて交換する必要がなく、異なる大きさのマスクの交換が短時間で容易に行われる。そして、移動手段の角度を調整する簡単な作業で、ホルダ部が傾斜され、またはホルダ部を傾斜させる角度が変更される。 Furthermore, the exposure apparatus of the present invention comprises a moving means that moves while holding the holder portion, and the adjusting means has a mechanism for adjusting the angle of the moving means. Further, the exposure method of the present invention is provided with moving means for holding and moving the holder part, and adjusting the angle of the moving means to incline the holder part or change the angle to incline the holder part. . When exposing substrates of different sizes, the holder unit is moved by the moving means according to the size of the mask. There is no need to replace the mask holder in accordance with the size of the mask as in the prior art, and the masks of different sizes can be easily replaced in a short time. Then, the holder portion is tilted or the angle at which the holder portion is tilted is changed by a simple operation of adjusting the angle of the moving means.
本発明の表示用パネル基板の製造方法は、上記のいずれかの露光装置又は露光方法を用いて基板の露光を行うものである。上記の露光装置又は露光方法を用いることにより、マスクのたわみが抑制されるので、パターンの焼付けが均一に行われて、高品質な基板が製造される。 The method for producing a display panel substrate according to the present invention involves exposing the substrate using any one of the above exposure apparatuses or exposure methods. By using the above exposure apparatus or exposure method, the deflection of the mask is suppressed, so that the pattern is burned uniformly and a high-quality substrate is manufactured.
本発明の露光装置及び露光方法によれば、マスクホルダを、マスクの周辺部を保持する複数の独立したホルダ部に分割し、ホルダ部を傾斜させて、マスクに重力によるたわみと逆方向へ湾曲を与えることにより、マスクの重力によるたわみを逆方向の湾曲により打ち消し、マスクのたわみを効果的に抑制することができる。 According to the exposure apparatus and the exposure method of the present invention, the mask holder is divided into a plurality of independent holder parts that hold the peripheral part of the mask, the holder part is inclined, and the mask is bent in the direction opposite to the deflection due to gravity. Therefore, the deflection of the mask due to gravity can be canceled out by bending in the reverse direction, and the deflection of the mask can be effectively suppressed.
さらに、本発明の露光装置及び露光方法によれば、ホルダ部を傾斜させる角度を変更することにより、マスクの重力によるたわみの大きさが異なっても、マスクのたわみを効果的に抑制することができる。 Furthermore, according to the exposure apparatus and the exposure method of the present invention, the deflection of the mask can be effectively suppressed by changing the angle at which the holder portion is inclined, even if the deflection due to the gravity of the mask is different. it can.
さらに、本発明の露光装置及び露光方法によれば、1つのホルダ部を少なくとも3点で支持し、各点の高さを調整することにより、簡単な構成で、ホルダ部を傾斜させることができ、またはホルダ部を傾斜させる角度を変更することができる。 Furthermore, according to the exposure apparatus and the exposure method of the present invention, the holder portion can be inclined with a simple configuration by supporting one holder portion at at least three points and adjusting the height of each point. Alternatively, the angle at which the holder part is inclined can be changed.
さらに、本発明の露光装置及び露光方法によれば、ホルダ部を保持して移動する移動手段を設け、移動手段の角度を調整して、ホルダ部を傾斜させ、またはホルダ部を傾斜させる角度を変更することにより、異なる大きさのマスクの交換を短時間で容易に行うことができ、移動手段の角度を調整する簡単な作業で、ホルダ部を傾斜させることができ、またはホルダ部を傾斜させる角度を変更することができる。 Furthermore, according to the exposure apparatus and the exposure method of the present invention, the moving unit that holds and moves the holder unit is provided, the angle of the moving unit is adjusted, the holder unit is tilted, or the angle at which the holder unit is tilted is set. By changing, the masks of different sizes can be easily exchanged in a short time, and the holder part can be inclined or the holder part can be inclined by a simple operation of adjusting the angle of the moving means. The angle can be changed.
本発明の表示用パネル基板の製造方法によれば、マスクのたわみを抑制することができるので、パターンの焼付けを均一に行って、高品質な基板を製造することができる。 According to the method for manufacturing a display panel substrate of the present invention, the deflection of the mask can be suppressed, so that a high-quality substrate can be manufactured by uniformly baking the pattern.
図1は、本発明の一実施の形態による露光装置の概略構成を示す図である。本実施の形態は、プロキシミティ方式の露光装置の例を示している。露光装置は、チャック10、ステージ11、ホルダフレーム20、マスクホルダ、ホルダ部支持装置、ホルダ部移動装置、及び調整機構を含んで構成されている。なお、露光装置は、これらの他に、露光用光源、チャック10へ基板1を供給する供給ユニット、チャック10から基板1を回収する回収ユニット、装置内の温度管理を行う温度制御ユニット等を備えているが、本実施の形態では発明に直接関係しない部分は省略してある。
FIG. 1 is a view showing the schematic arrangement of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. This embodiment shows an example of a proximity type exposure apparatus. The exposure apparatus includes a
露光対象である基板1が、チャック10に搭載されている。チャック10は、基板1の下面を真空吸着して、基板1を水平に保持する。基板1の上方には、マスク2がマスクホルダによって保持されている。マスクホルダは、マスク2の周辺部を保持する複数の独立したホルダ部24a,24bから成り、マスク2をチャック10に保持された基板1へ向き合わせて保持する。ホルダ部24aは、後述するホルダ部支持装置により、ホルダフレーム20に取り付けられている。また、ホルダ部24bは、後述するホルダ部移動装置により、ホルダフレーム20に移動可能に取り付けられている。
A
ステージ11は、チャック10を搭載しながら、XY方向へ移動し、θ方向へ回転し、またZ方向へ移動及びチルトする。ステージ11のXY方向への移動及びθ方向への回転によって、基板1のアライメントが行われる。また、ステージ11のZ方向への移動及びチルトによって、マスク2と基板1とのギャップ合わせが行われる。
The
なお、本実施の形態では、ステージ11によりマスク2と基板1とのギャップ合わせを行っているが、ホルダ部24a,24bが取り付けられたホルダフレーム20をZ方向へ移動及びチルトすることにより、マスク2と基板1とのギャップ合わせを行ってもよい。
In the present embodiment, the gap between the
図2は、ホルダフレームの上面図である。また、図3は、ホルダフレームの下面図である。ホルダフレーム20は、フレーム21a,21b、及びプレート22a,22bを含んで構成されている。フレーム21a,21bは、断面がI字形の形材であり、図2に示す様に、2つフレーム21aと2つのフレーム21bとが組み合わされて、四角形の枠を構成している。フレーム21a,21bにより構成された四角形の枠の底面には、図3に示す様に、2つの略コの字形のプレート22aと、2つの四角形のプレート22bとが取り付けられている。
FIG. 2 is a top view of the holder frame. FIG. 3 is a bottom view of the holder frame. The
図3において、プレート22aは、破線で示す四角形の枠の左右に取り付けられており、一部が四角形の枠の内側へ迫り出している。プレート22bは、2つのプレート22aに挟まれ、破線で示す四角形の枠の上下に取り付けられており、一部が四角形の枠の内側及び外側へ迫り出している。プレート22aが四角形の枠の内側へ迫り出した部分と、プレート22bが四角形の枠の内側へ迫り出した部分とにより、四角形の枠の内側に四角形の開口が形成されている。
In FIG. 3, the
図4は、図2の矢印Dで示す方向に見たホルダフレームの側面図である。また、図5は、図2の矢印Eで示す方向に見たホルダフレームの側面図である。フレーム21a,21bにより構成された四角形の枠の側面には、断面がI字形の形材を覆って板材が取り付けられており、形材自身の側面は見えない。図4及び図5に示す様に、プレート22bが四角形の枠の外側へ迫り出した部分には、補強板23が取り付けられている
FIG. 4 is a side view of the holder frame as seen in the direction indicated by arrow D in FIG. FIG. 5 is a side view of the holder frame viewed in the direction indicated by arrow E in FIG. A plate material is attached to the side surface of the quadrangular frame formed by the
図6は、ホルダ部が取り付けられたホルダフレームの上面図である。また、図7は、ホルダ部が取り付けられたホルダフレームの下面図である。ホルダ部24aは、図7に示す様に、支持アーム31及び支持ブロック33を含むホルダ部支持装置により、プレート22aの下面に取り付けられている。ホルダ部支持装置は、1つのホルダ部24aを4点で支持し、ホルダ部24aを支持する4点の高さは、後述する調整機構により調整される。なお、本実施の形態では、ホルダ部支持装置が1つのホルダ部24aを4点で支持しているが、本発明はこれに限らず、1つのホルダ部24aを少なくとも3点で支持すればよい。
FIG. 6 is a top view of the holder frame to which the holder portion is attached. FIG. 7 is a bottom view of the holder frame to which the holder portion is attached. As shown in FIG. 7, the
ホルダ部24bは、図6及び図7に示す様に、ガイドベース41、レール42及びリニアガイド43を含むホルダ部移動装置により、プレート22bの下面に移動可能に取り付けられている。ホルダ部移動装置は、ホルダ部24bを保持して移動し、ホルダ部移動装置の角度は、後述する調整機構により調整される。なお、図7において、ホルダ部移動装置は、その大部分がホルダ部24bの上方に位置し、破線で示されている。
As shown in FIGS. 6 and 7, the
ホルダ部24bは2つのホルダ部24aに挟まれ、ホルダ部24aとホルダ部24bとにより、プレート22aとプレート22bとで形成された開口の内側に、露光光が通る四角形の開口が形成されている。図7に示す様に、四角形のマスク2がこの開口を覆ってホルダ部24a,24bに取り付けられ、ホルダ部24a,24bは、四角形のマスク2の四辺の周辺部を保持する。
The
図8は、図6のA−A部の断面図である。本実施の形態では、後述する調整機構により、ホルダ部支持装置がホルダ部24aを支持する4点の高さを調整して、ホルダ部24aを水平に対して角度αだけ傾斜させる。また、図9は、図6のB−B部の断面図である。本実施の形態では、後述する調整機構により、ホルダ部24bを保持して移動するホルダ部移動装置の角度を調整して、ホルダ部24bを水平に対して角度βだけ傾斜させる。この様にホルダ部24a,24bを傾斜させることにより、マスク2に重力によるたわみと逆方向へ湾曲が与えられる。この湾曲によって、マスク2の重力によるたわみが打ち消され、マスク2のたわみが効果的に抑制される。
FIG. 8 is a cross-sectional view taken along a line AA in FIG. In the present embodiment, the height of the four points at which the holder support device supports the
以下、本実施の形態によるホルダ部支持装置、ホルダ部移動装置及び調整機構の詳細を説明する。図10は、図6からホルダフレームを取り除いた状態で見たホルダ部支持装置、ホルダ部移動装置及び調整機構の上面図である。図11(a)は図10のF−F部の断面図、図11(b)は図10の矢印Gで示す方向に見たホルダ部支持装置及び調整機構の側面図である。 Hereinafter, details of the holder support device, the holder moving device, and the adjustment mechanism according to the present embodiment will be described. FIG. 10 is a top view of the holder supporting device, the holder moving device, and the adjusting mechanism viewed from the state in which the holder frame is removed from FIG. FIG. 11A is a cross-sectional view of the FF portion in FIG. 10, and FIG. 11B is a side view of the holder support device and the adjustment mechanism as seen in the direction indicated by the arrow G in FIG.
ホルダ部24aを支持するホルダ部支持装置は、支持アーム31、ボール受け32a、支持ブロック33、調整ボルト35、ロックナット36、ボール37、平座金38、及びねじ39を含んで構成されている。また、ホルダ部支持装置のホルダ部24aを支持する点の高さを調整する調整機構は、ねじ穴34、調整ボルト35、及びロックナット36を含んで構成されている。
The holder unit support device that supports the
図11(a)において、ホルダ部24aは、吸着溝25によりマスク2の周辺部を真空吸着して保持している。ホルダ部24aには、略L字形の支持アーム31が、L字を逆さにした状態で取り付けられている。支持アーム31の横方向に伸びたアーム部の下面には、ボール受け32aが頭部を下にして埋め込まれている。ボール受け32aの頭部は平らに加工されている。
In FIG. 11A, the
図11(b)において、破線で示すプレート22aには、略U字形の支持ブロック33が取り付けられている。図11(a)において、支持ブロック33の底部には、貫通したねじ穴34が形成されている。調整ボルト35が、ねじ穴34にねじ込まれ、ロックナット36で固定されている。調整ボルト35の頭部には、破線で示す円錐状の窪みが形成されている。この窪みにはボール37が入れられており、ボール37は、ボール受け32aの頭部に接触して、支持アーム31が取り付けられたホルダ部24aを点で支持している。
In FIG. 11B, a substantially
支持ブロック33の底部には、ねじ穴34の他に、ねじが切られていない貫通孔が設けられている。貫通孔には、平座金38を介してねじ39が挿入され、ねじ39は、支持アーム31の横方向に伸びたアーム部に設けられたねじ穴40にねじ込まれている。このねじ39は、振動等によってボール37がボール受け32aの頭部から外れるのを防止するためのものである。
In addition to the screw hole 34, a through hole that is not threaded is provided at the bottom of the
調整機構による調整では、まず、事前にねじ39を緩める。そして、ロックナット36を緩め、ねじ穴34にねじ込まれている調整ボルト35のねじ込み量を変えて、ボール37の高さを上下し、ホルダ部24aを支持する点の高さを調整する。そして、ロックナット36を締めて、調整ボルト35を固定する。調整後、再びねじ39を締める。
In the adjustment by the adjustment mechanism, the
図12(a)は図10のH−H部の断面図、図12(b)は図10の矢印Jで示す方向に見たホルダ部支持装置及び調整機構の側面図である。図11との相違は、図11に示したボール受け32aの代わりに、ボール受け32bを用いている点である。ボール受け32bの頭部には、図12(a),(b)に破線で示す断面がV字形の溝が形成されている。この溝を、図10の矢印Jに示す方向に配置することにより、溝と直交する方向において、ホルダ部24aの移動を制限し、ホルダ部24aの位置決めを行うことができる。なお、図10において、ホルダ部24aはホルダ部支持装置により4点で支持されているが、図12に示したボール受け32bを用いて位置決めを行うのは、H−H部の1点だけでよい。もう1つのホルダ部24aについても、同様である。
12A is a cross-sectional view of the H-H portion of FIG. 10, and FIG. 12B is a side view of the holder portion supporting device and the adjusting mechanism viewed in the direction indicated by the arrow J in FIG. The difference from FIG. 11 is that a
図13は、図6のC−C部の断面図である。ホルダ部24bを保持して移動するホルダ部移動装置は、ガイドベース41、レール42、及びリニアガイド43を含んで構成されている。また、ホルダ部移動装置の角度を調整する調整機構は、ねじ穴44、調整ボルト45、ロックナット46、球面座金47、平座金48、ねじ49、及びねじ穴50及びを含んで構成されている。
13 is a cross-sectional view taken along the line CC in FIG. The holder part moving device that moves while holding the
図13において、ホルダ部24bは、吸着溝25によりマスク2の周辺部を真空吸着して保持している。ホルダ部24bには、リニアガイド43が取り付けられている。リニアガイド43は、ガイドベース41に取り付けられたレール42に沿って移動可能となっている。異なる大きさの基板を露光するために、縦又は横の大きさが異なるマスクを用いたいという要求が高い。本実施の形態では、縦又は横の大きさが異なるマスクを用いる場合に、マスク2の大きさに応じて、ホルダ部移動装置によりホルダ部24bを移動する。従来の様にマスクホルダをマスクの大きさに合わせて交換する必要がなく、異なる大きさのマスクの交換が短時間で容易に行われる。
In FIG. 13, the
プレート22bには、複数の貫通したねじ穴44が形成されている。調整ボルト45が、ねじ穴44にねじ込まれ、ロックナット46で固定されている。調整ボルト45の先端は、ねじ穴44から突き出て、ガイドベース41に埋め込まれた球面座金47に接触している。球面座金47を用いることにより、ガイドベース41に不要な応力を加えることなく、ガイドベース41を傾けることができる。調整ボルト45には、ねじが切られていない貫通孔が設けられている。貫通孔には、平座金48を介してねじ49が挿入され、ねじ49は、ガイドベース41に設けられたねじ穴50にねじ込まれている。
A plurality of threaded
調整機構による調整では、まず、事前にねじ49を緩める。そして、ロックナット46を緩め、ねじ穴44にねじ込まれている調整ボルト45のねじ込み量を複数のねじ穴44で互いに変えて、調整ボルト45の先端が球面座金47に接触する高さを変える。ホルダ部移動装置の角度を調整する。そして、ロックナット46を締めて、調整ボルト45を固定する。調整後、再びねじ49を締める。
In the adjustment by the adjustment mechanism, the
図11乃至図13に示した調整機構では、調整ボルト35,45のねじ込み量を変えることにより、ホルダ部24a,24bを傾斜させる角度を変更することができる。そこで、本実施の形態では、マスク2の重力によるたわみの大きさに応じて、調整ボルト35,45のねじ込み量を変え、ホルダ部24a,24bを傾斜させる角度を変更する。マスク2の重力によるたわみの大きさが異なっても、ホルダ部24a,24bを傾斜させる角度を変更することにより、マスク2に与える湾曲を変えることが可能となる。
In the adjustment mechanism shown in FIGS. 11 to 13, the angle at which the
以上説明した実施の形態によれば、マスクホルダを、マスク2の周辺部を保持する複数の独立したホルダ部24a,24bに分割し、ホルダ部24a,24bを傾斜させて、マスク2に重力によるたわみと逆方向へ湾曲を与えることにより、マスク2の重力によるたわみを逆方向の湾曲により打ち消し、マスク2のたわみを効果的に抑制することができる。
According to the embodiment described above, the mask holder is divided into a plurality of
さらに、以上説明した実施の形態によれば、ホルダ部24a,24bを傾斜させる角度を変更することにより、マスク2の重力によるたわみの大きさが異なっても、マスク2のたわみを効果的に抑制することができる。
Furthermore, according to the embodiment described above, the deflection of the
さらに、以上説明した実施の形態によれば、1つのホルダ部24aを少なくとも3点で支持し、各点の高さを調整することにより、簡単な構成で、ホルダ部24aを傾斜させることができ、またはホルダ部24aを傾斜させる角度を変更することができる。
Furthermore, according to the embodiment described above, one
さらに、以上説明した実施の形態によれば、ホルダ部24bを保持して移動するホルダ部移動装置を設け、ホルダ部移動装置の角度を調整して、ホルダ部24bを傾斜させ、またはホルダ部24bを傾斜させる角度を変更することにより、異なる大きさのマスクの交換を短時間で容易に行うことができ、ホルダ部移動装置の角度を調整する簡単な作業で、ホルダ部24bを傾斜させることができ、またはホルダ部24bを傾斜させる角度を変更することができる。
Furthermore, according to the embodiment described above, the holder part moving device that holds and moves the
本発明の露光装置又は露光方法を用いて基板の露光を行うことにより、マスクのたわみを抑制することができるので、パターンの焼付けを均一に行って、高品質な基板を製造することができる。 By performing exposure of the substrate using the exposure apparatus or exposure method of the present invention, the deflection of the mask can be suppressed, so that a high-quality substrate can be manufactured by uniformly baking the pattern.
例えば、図14は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、ガラス基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、ガラス基板上にTFTアレイが形成される。 For example, FIG. 14 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device. In the thin film formation step (step 101), a thin film such as a conductor film or an insulator film, which becomes a transparent electrode for driving liquid crystal, is formed on a glass substrate by sputtering, plasma chemical vapor deposition (CVD), or the like. In the resist coating process (step 102), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like to form a photoresist film on the thin film formed in the thin film forming process (step 101). In the exposure step (step 103), the mask pattern is transferred to the photoresist film using a proximity exposure apparatus, a projection exposure apparatus, or the like. In the development step (step 104), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower development method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film. In the etching process (step 105), a portion of the thin film formed in the thin film formation process (step 101) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. In the stripping step (step 106), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (step 105) is stripped with a stripping solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the glass substrate.
また、図15は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、ガラス基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、ガラス基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。 FIG. 15 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device. In the black matrix forming step (step 201), a black matrix is formed on the glass substrate by processes such as resist coating, exposure, development, etching, and peeling. In the colored pattern forming step (step 202), a colored pattern is formed on the glass substrate by a dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like. This process is repeated for the R, G, and B coloring patterns. In the protective film forming step (step 203), a protective film is formed on the colored pattern, and in the transparent electrode film forming step (step 204), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary.
図14に示したTFT基板の製造工程では、露光工程(ステップ103)において、図15に示したカラーフィルタ基板の製造工程では、ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)及び着色パターン形成工程(ステップ202)の露光処理において、本発明の露光装置又は露光方法を適用することができる。 In the TFT substrate manufacturing process shown in FIG. 14, in the exposure process (step 103), in the color filter substrate manufacturing process shown in FIG. 15, in the black matrix forming process (step 201) and the colored pattern forming process (step 202). In this exposure process, the exposure apparatus or the exposure method of the present invention can be applied.
1 基板
2 マスク
10 チャック
11 ステージ
20 ホルダフレーム
21a,21b フレーム
22a,22b プレート
23 補強板
24a,24b ホルダ部
25 吸着溝
31 支持アーム
32a,32b ボール受け
33 支持ブロック
34 ねじ穴
35 調整ボルト
36 ロックナット
37 ボール
38 平座金
39 ねじ
40 ねじ穴
41 ガイドベース
42 レール
43 リニアガイド
44 ねじ穴
45 調整ボルト
46 ロックナット
47 球面座金
48 平座金
49 ねじ
50 ねじ穴
DESCRIPTION OF
Claims (10)
前記マスクホルダは、マスクの周辺部を保持する複数の独立したホルダ部を有し、
前記ホルダ部を傾斜させて、マスクに重力によるたわみと逆方向へ湾曲を与える調整手段を備えたことを特徴とする露光装置。 An exposure apparatus comprising: a chuck for horizontally holding a substrate; and a mask holder for holding a mask facing the substrate held by the chuck, wherein the mask pattern is printed on the substrate.
The mask holder has a plurality of independent holder parts for holding the peripheral part of the mask,
An exposure apparatus comprising an adjusting means for inclining the holder portion to curve the mask in a direction opposite to the deflection due to gravity.
前記調整手段は、前記支持手段の支持する点の高さを調整する機構を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の露光装置。 Comprising support means for supporting one holder part at at least three points;
The exposure apparatus according to claim 1, wherein the adjustment unit includes a mechanism that adjusts a height of a point supported by the support unit.
前記調整手段は、前記移動手段の角度を調整する機構を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の露光装置。 A moving means for holding and moving the holder part;
The exposure apparatus according to claim 1, wherein the adjusting unit includes a mechanism that adjusts an angle of the moving unit.
マスクホルダを、マスクの周辺部を保持する複数の独立したホルダ部に分割し、
ホルダ部を傾斜させて、マスクに重力によるたわみと逆方向へ湾曲を与えることを特徴とする露光方法。 An exposure method in which a substrate is held horizontally, a mask is held facing the substrate by a mask holder, and a mask pattern is printed on the substrate,
Dividing the mask holder into a plurality of independent holder parts that hold the peripheral part of the mask,
An exposure method comprising tilting a holder portion to give the mask a curvature in a direction opposite to that caused by gravity.
移動手段の角度を調整して、ホルダ部を傾斜させ、またはホルダ部を傾斜させる角度を変更することを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の露光方法。 A moving means for holding and moving the holder part is provided,
The exposure method according to claim 5 or 6, wherein the angle of the moving means is adjusted to incline the holder part or to change the angle to incline the holder part.
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009224552A (en) * | 2008-03-17 | 2009-10-01 | Toppan Printing Co Ltd | Proximity exposure method and exposure apparatus |
JP2011002757A (en) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | San Ei Giken Inc | Exposure device |
WO2012115002A1 (en) * | 2011-02-22 | 2012-08-30 | 株式会社ニコン | Holding device, exposure device and production method for device |
CN111656507A (en) * | 2018-01-25 | 2020-09-11 | 株式会社 V 技术 | Substrate holding device and substrate inspection device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001109160A (en) * | 1999-10-08 | 2001-04-20 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Mask deflection correction mechanism for base plate exposure device |
JP2003131388A (en) * | 2001-10-22 | 2003-05-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Mask holder having function to correct bending of mask |
JP2007171723A (en) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hitachi High-Technologies Corp | Exposure device, exposing method, and manufacturing method for panel substrate for display |
JP2007184328A (en) * | 2006-01-04 | 2007-07-19 | Nsk Ltd | Exposure apparatus |
JP2008103410A (en) * | 2006-10-17 | 2008-05-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Reticle stage and method of correcting surface shape of reticle |
-
2007
- 2007-07-31 JP JP2007200002A patent/JP4879112B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001109160A (en) * | 1999-10-08 | 2001-04-20 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Mask deflection correction mechanism for base plate exposure device |
JP2003131388A (en) * | 2001-10-22 | 2003-05-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Mask holder having function to correct bending of mask |
JP2007171723A (en) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hitachi High-Technologies Corp | Exposure device, exposing method, and manufacturing method for panel substrate for display |
JP2007184328A (en) * | 2006-01-04 | 2007-07-19 | Nsk Ltd | Exposure apparatus |
JP2008103410A (en) * | 2006-10-17 | 2008-05-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Reticle stage and method of correcting surface shape of reticle |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009224552A (en) * | 2008-03-17 | 2009-10-01 | Toppan Printing Co Ltd | Proximity exposure method and exposure apparatus |
JP2011002757A (en) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | San Ei Giken Inc | Exposure device |
WO2012115002A1 (en) * | 2011-02-22 | 2012-08-30 | 株式会社ニコン | Holding device, exposure device and production method for device |
JPWO2012115002A1 (en) * | 2011-02-22 | 2014-07-07 | 株式会社ニコン | Holding apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method |
JP2017010061A (en) * | 2011-02-22 | 2017-01-12 | 株式会社ニコン | Holding apparatus, exposure apparatus, and method for manufacturing device |
CN111656507A (en) * | 2018-01-25 | 2020-09-11 | 株式会社 V 技术 | Substrate holding device and substrate inspection device |
CN111656507B (en) * | 2018-01-25 | 2023-11-07 | 株式会社 V 技术 | Substrate holding device and substrate inspection device |
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