JP2009036658A - Printed board testing device and scanning method of printed board testing device - Google Patents

Printed board testing device and scanning method of printed board testing device Download PDF

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JP2009036658A JP2007201841A JP2007201841A JP2009036658A JP 2009036658 A JP2009036658 A JP 2009036658A JP 2007201841 A JP2007201841 A JP 2007201841A JP 2007201841 A JP2007201841 A JP 2007201841A JP 2009036658 A JP2009036658 A JP 2009036658A
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恭男 櫛渕
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology capable of scanning an objective area to be tested while inhibiting useless scanning based on known design information. <P>SOLUTION: A projection range-calculating means 31 receives a layout which represents a measuring area of solder print within a printed board on a X- and Y-axis coordinate and then calculates an X-axis projection range where the measuring area is projected on X-axis and a Y-axis projection range where the measuring area is projected on Y-axis; a scanning range-deciding means 32a decides a main scanning number of times to measure an entire measuring area and main scanning positions in X-axis direction at the main scanning times from the X-axis projection range and a predetermined distance [L-δ] and decides a main scanning range in Y-axis direction at the main scanning times from the Y-axis projection range; and a scanning control section 25a controls a sub-scanning mechanism based on the decided scanning positions and controls a main scanning mechanism based on the decided main scanning range in Y-axis direction. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、被測定物であるプリント板の所望の測定範囲、特に印刷されたはんだ面の形状をセンサで走査して検査するプリント板検査装置に関する。走査は、測定範囲をセンサにより主走査の終了位置まで主走査し、副走査により次の主走査の開始位置へセンサの位置を変更し、次の開始位置から主走査を開始する手順で行われるが、そのときはんだの有無に関わらずプリント板のほぼ全面を測定範囲として走査していたが、例えば、設計上はんだ箇所が予測されるエリアを選択し、そのエリアだけを走査することにより、実効的に測定したい測定範囲だけ走査することにより、測定する時間、そして検査する時間の短縮を図る技術に係る。   The present invention relates to a printed board inspection apparatus that scans and inspects a desired measurement range of a printed board that is an object to be measured, in particular, the shape of a printed solder surface with a sensor. Scanning is performed by a procedure in which the measurement range is main-scanned to the main scanning end position by the sensor, the sensor position is changed to the next main scanning start position by sub-scanning, and the main scanning is started from the next start position. However, at that time, the entire measurement area of the printed board was scanned regardless of the presence or absence of solder. For example, by selecting an area where the solder location is predicted by design and scanning only that area, it is effective. The present invention relates to a technique for shortening the time for measurement and the time for inspection by scanning only the measurement range to be measured.

従来、例えば、印刷はんだ検査装置としては、プリント板の表面をレーザ光等で照射し、プリント板の表面からの反射光を受光するセンサを有し、そのセンサにより測定(三角測量)した結果として得られた測定値、例えば、プリント板上の印刷はんだ箇所の変位(高さを含む)或いは輝度(プリント板から反射した光の量、受光量(光の強さ)を含む。)の測定値を基に、判定の基準となる基準データと比較して判定している(特許文献1、2)。   Conventionally, for example, as a printed solder inspection apparatus, as a result of having a sensor that irradiates the surface of a printed board with a laser beam or the like and receives reflected light from the surface of the printed board, the measurement (triangulation) by the sensor Measurement values obtained, for example, measurement values of displacement (including height) or brightness (including the amount of light reflected from the printed board and the amount of received light (intensity of light)) of the printed solder on the printed board. Based on the above, determination is made by comparison with reference data that is a reference for determination (Patent Documents 1 and 2).

このような検査装置(方法)においては、一般に、プリント板を一定方向から搬送させて所定の検査位置で停止させて、そこで、センサ又は/及びプリント板をXステージ及びYステージ(X軸方向、Y軸方向の各方向への移動台と移動手段)を用いて走査して(相対的な走査を行って)測定するが、走査方向には、主走査と主走査に直交する方向へ走査する副走査があり、主走査のときに測定を行い、副走査は、センサを現在の主走査位置から次の主走査を行うべき位置へずらす為に行われ、そのずらす範囲は、主走査のときセンサによって検出できる副走査方向の検出幅に相当する。その様子を示すのが図7である。図7は、プリント板の上から、主走査と副走査の軌跡を模擬的に示す図である。図7で、隣り合う主走査間の距離L(ほぼ1回の副走査距離)は、センサが主走査方向と直交する方向へのセンシングできる範囲で決定される。   In such an inspection apparatus (method), in general, the printed board is transported from a certain direction and stopped at a predetermined inspection position, where the sensor or / and the printed board are moved to the X stage and the Y stage (X axis direction, Measurement is performed by performing scanning (relative scanning is performed) using a moving table and moving means in each direction in the Y-axis direction. In the scanning direction, scanning is performed in a direction orthogonal to the main scanning and the main scanning. There is sub-scanning and measurement is performed during main scanning, and sub-scanning is performed to shift the sensor from the current main scanning position to the position where the next main scanning is to be performed. This corresponds to the detection width in the sub-scanning direction that can be detected by the sensor. This is shown in FIG. FIG. 7 is a diagram schematically illustrating the trajectories of main scanning and sub scanning from above the printed board. In FIG. 7, the distance L between adjacent main scans (substantially one sub-scan distance) is determined within a range in which the sensor can sense in a direction orthogonal to the main scan direction.

なお、走査とは、センサと被測定物であるプリント板との相対的な位置の移動を行って、被測定物の表面の測定範囲におけるセンサによる測定位置を変更することを言い、ここでは、主走査時に、実際の測定を行っている。走査、つまり相対的な位置移動にあたっては、センサ又は被測定物の一方だけの、或いは双方の移動のいずれでも可能である。特許文献1,2では、主走査を被測定物側を移動させて行い、副走査をセンサ側に移動させることで行っている。   Note that scanning refers to changing the measurement position by the sensor in the measurement range of the surface of the object to be measured by moving the relative position of the sensor and the printed board that is the object to be measured. Actual measurement is performed during main scanning. In scanning, that is, relative position movement, either one of the sensor and the object to be measured or both movements are possible. In Patent Documents 1 and 2, main scanning is performed by moving the measured object side, and sub-scanning is performed by moving the sensor side.

従来は、プリント基のほぼ全面にわたって図7に示すような矩形状の走査を繰り返して行われていた。   Conventionally, rectangular scanning as shown in FIG. 7 has been repeated over almost the entire surface of the print base.

特許3592594号公報Japanese Patent No. 3592594 特許3537382号公報Japanese Patent No. 3537382

一般に、プリント板検査装置として生産ラインにおいて取り扱うプリント板の枚数は相当の数になり、時間的な効率が要求される。つまり、プリント板検査装置としては、測定の速度を早くして、或いは測定に係る時間を減らして、効率よく稼働させることが常に求められる課題とされている。   In general, the number of printed boards handled in a production line as a printed board inspection apparatus is considerable, and time efficiency is required. That is, as a printed board inspection apparatus, it is a problem that is always required to operate efficiently by increasing the measurement speed or reducing the measurement time.

しかしながら上記の従来技術では、はんだの無い領域も走査することになるので、無駄な時間が生じる。特に、一般にセンサを走査するには機械的な移動が伴うので、時間が係る。   However, in the above-described conventional technique, an area without solder is also scanned, so that useless time is generated. In particular, scanning a sensor generally requires time because it involves mechanical movement.

本発明の目的は、上記従来技術の欠点を改良するものであって、プリント板のはんだエリア(はんだの個々の範囲、もしくはそれらが近接しているときは、それらの集合)は、設計上、予め知られているので、設計情報を基に無駄な走査を防止して検査対象とするエリアを走査できる技術の提供である。   The object of the present invention is to improve the above-mentioned disadvantages of the prior art, and the solder area of the printed board (individual areas of solder, or a set of them when they are close together) Since it is known in advance, the present invention provides a technique capable of scanning an area to be inspected by preventing unnecessary scanning based on design information.

上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、はんだ領域を含むプリント板をX軸方向の長さLに亘って光を照射して該表面からの反射光を受けるラインセンサ(2)と、前記プリント板と該ラインセンサとを相対的に前記X軸と直交するY軸方向と平行に前記主走査させる主走査機構(11)と、前記X軸方向側に次の主走査位置を前記長さLに基く所定距離[L―δ](ただし、0≦δ≪L)づつ主走査毎に変更させる副走査を行う副走査機構(3)と、を備え、該ラインセンサの出力を基に前記プリント板のはんだ状態を検査するプリント板検査装置において、前記プリント板について、予め1つもしくは複数の前記はんだ領域を含む測定領域を前記X軸及び前記Y軸でなるX―Y座標系で表した基板設計情報を受けて、該測定領域を前記X軸に投影したときのX軸投影範囲と、前記Y軸に投影したときのY軸投影範囲を算出する投影範囲算出部(31)と、該X軸投影範囲、該Y軸投影範囲及び前記所定距離[L―δ]を基に、全測定領域について前記ラインセンサを走査させるための前記X―Y座標系上での走査ルートを決定する走査ルート決定手段(32)と、決定された走査ルートにしたがって前記主走査機構及び副走査機構を制御する走査制御部(25a)と、を備えた。   In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is directed to a line sensor that receives light reflected from the surface by irradiating a printed board including a solder region over a length L in the X-axis direction. 2), a main scanning mechanism (11) for causing the printed board and the line sensor to relatively scan in parallel with the Y axis direction orthogonal to the X axis, and the next main scanning in the X axis direction side. A sub-scanning mechanism (3) for performing sub-scanning, the position of which is changed for each main scanning by a predetermined distance [L−δ] (where 0 ≦ δ << L) based on the length L. In the printed circuit board inspection apparatus for inspecting the solder state of the printed circuit board based on the output, the measurement area including one or a plurality of the soldered areas in advance is defined on the X-axis and the Y-axis. Receiving the board design information expressed in the coordinate system, the measurement An X-axis projection range when the region is projected onto the X-axis, a projection range calculation unit (31) that calculates a Y-axis projection range when the region is projected onto the Y-axis, the X-axis projection range, and the Y-axis projection A scanning route determining means (32) for determining a scanning route on the XY coordinate system for scanning the line sensor for the entire measurement region based on the range and the predetermined distance [L-δ]; A scanning control unit (25a) for controlling the main scanning mechanism and the sub-scanning mechanism according to the scanned route.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記走査ルート決定手段は、前記X軸投影範囲と所定距離[L―δ]とから、前記全測定領域を測定するための主走査回数及び各主走査回の前記X軸方向の主走査位置を決定し、かつ、各主走査回におけるY軸方向の主走査範囲を前記Y軸投影範囲から決定する主走査範囲決定手段(32a)を備え、前記各主走査回における、前記X軸方向の主走査位置及び前記Y軸方向の主走査範囲を基に、前記走査ルートを決定する構成とした。   According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the scanning route determining means is configured to measure the entire measurement region from the X-axis projection range and a predetermined distance [L-δ]. Main scanning range determining means for determining the number of main scanning and the main scanning position in the X-axis direction for each main scanning time, and determining the main scanning range in the Y-axis direction for each main scanning time from the Y-axis projection range ( 32a), and the scanning route is determined based on the main scanning position in the X-axis direction and the main scanning range in the Y-axis direction at each main scanning time.

請求項3に記載の発明は、はんだ領域を含むプリント板をX軸方向の長さLに亘って光を照射して該表面からの反射光を受けるラインセンサ(2)と、前記プリント板と該ラインセンサとを相対的に前記X軸と直交するY軸方向と平行に前記主走査させる主走査機構(11)と、前記X軸方向側に次の主走査位置を前記長さLに基く所定距離[L―δ](ただし、0≦δ≪L)づつ主走査毎に変更させる副走査を行う副走査機構(3)と、を備えたプリント板検査装置の走査方法において、検査前に、検査対象とされる前記プリント板について、予め1つもしくは複数の前記はんだ領域を含む測定領域を前記X軸及び前記Y軸でなるX―Y座標系で表した基板設計情報を受ける段階と、該基板設計情報を基に測定領域を前記X軸に投影したときのX軸投影範囲と、前記Y軸に投影したときのY軸投影範囲を算出する投影範囲算出段階と、該X軸投影範囲と前記所定距離[L―δ]とから、全測定領域を測定するための主走査回数及び各主走査回の前記X軸方向の主走査位置を決定し、かつ、各主走査回におけるY軸方向の主走査範囲を前記Y軸投影範囲から決定する主走査範囲決定段階と、記各主走査回における、前記X軸方向の主走査位置及び前記Y軸方向の主走査範囲を基に、全測定領域について前記ラインセンサを走査させるための前記X―Y座標系上での走査ルートを決定し、記憶する走査ルート決定段階と、を備え、検査時に、前記走査ルートを基に前記副走査機構及び主走査機構を制御して、検査を実行する構成とした。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a line sensor (2) for receiving a reflected light from the surface by irradiating a printed board including a solder region over a length L in the X-axis direction, and the printed board. Based on the length L, the main scanning mechanism (11) that causes the line sensor to perform the main scanning relatively in parallel with the Y-axis direction orthogonal to the X-axis, and the next main scanning position on the X-axis direction side. In a scanning method of a printed circuit board inspection apparatus comprising: a sub-scanning mechanism (3) that performs sub-scanning that is changed every main scanning by a predetermined distance [L−δ] (where 0 ≦ δ << L). Receiving the board design information representing the measurement area including one or a plurality of the solder areas in advance in an XY coordinate system composed of the X axis and the Y axis for the printed board to be inspected; When a measurement area is projected on the X axis based on the board design information X-axis projection range, a projection range calculation stage for calculating the Y-axis projection range when projected onto the Y-axis, and the entire measurement area are measured from the X-axis projection range and the predetermined distance [L-δ] Main scanning range for determining the main scanning position in the X-axis direction for each main scanning time and determining the main scanning range in the Y-axis direction for each main scanning time from the Y-axis projection range The XY coordinate system for causing the line sensor to scan the entire measurement area based on the main scanning position in the X-axis direction and the main scanning range in the Y-axis direction at each determination stage and the main scanning time A scanning route determining step for determining and storing the above scanning route, and at the time of inspection, the sub-scanning mechanism and the main scanning mechanism are controlled based on the scanning route to execute the inspection.

本発明によれば、プリント板の設計されたときのはんだ領域を示す基板設計情報を基に、その測定範囲を算出し、ラインセンサによる主走査方向と直交する方向へのセンシングの幅Lを基準に主走査の位置と走査範囲を決定しておいて、検査時に、決定された走査範囲を主走査することにより、所望の測定範囲だけ走査する構成なので、例えば、同じプリント板であってもはんだ領域でない領域を無駄に走査することなく、必要なところだけ走査できるので、測定時間の短縮ができる。   According to the present invention, the measurement range is calculated based on the board design information indicating the solder area when the printed board is designed, and the sensing width L in the direction perpendicular to the main scanning direction by the line sensor is used as a reference. The main scanning position and the scanning range are determined, and at the time of inspection, the determined scanning range is main scanned to scan only a desired measurement range. Since it is possible to scan only necessary portions without wastefully scanning non-regions, measurement time can be shortened.

本発明の実施形態を図1〜図6を用いて説明する。図1は、本実施形態の構成を示す機能ブロック図である。図2は、プリント板のはんだ領域をX座標及びY座標へ投影し、走査範囲を求める手順を説明するための図である。図3は、図2の走査範囲を基にした走査手順を説明するための図である。図4は、図3の走査手順の変形例を示す図である。図5は、走査機構の副走査機構の例を示す図である。図6は、走査機構の主走査機構の例を示す図である。図5、図6は、従来から使用されてきた技術である。   An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a functional block diagram showing the configuration of the present embodiment. FIG. 2 is a view for explaining a procedure for obtaining a scanning range by projecting the solder area of the printed board onto the X coordinate and the Y coordinate. FIG. 3 is a diagram for explaining a scanning procedure based on the scanning range of FIG. FIG. 4 is a diagram showing a modification of the scanning procedure of FIG. FIG. 5 is a diagram illustrating an example of the sub-scanning mechanism of the scanning mechanism. FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a main scanning mechanism of the scanning mechanism. 5 and 6 show techniques that have been used conventionally.

図1は、本発明の実施形態の機能構成を示す図である。図1の走査機構部は従来技術とほぼ同じ構造であり、図5及び図6を基に簡単に後記する。図1で図5及び図6における符号と一致する符号の要部は同一機能を示す。ただし、図1の走査機構部1における主走査機構11及び副走査機構3は、図5,6の主走査、副走査に係る中心的要部を代表して模擬的に表したものである。説明上、図1では副走査機構3とラインセンサ2が分かれているが図5、6では、副走査機構はラインセンサ2を搭載し移動させる機構になっている。又、図1では、クランパ9と主走査機構11とが分かれて記載されているが、図5、6ではクランパ9を搭載する搬送手段を主走査機構11が移動させて主走査する機構になっている。   FIG. 1 is a diagram showing a functional configuration of an embodiment of the present invention. The scanning mechanism portion in FIG. 1 has substantially the same structure as that of the prior art, and will be briefly described later with reference to FIGS. The main part of the code | symbol corresponding to the code | symbol in FIG. 5 and FIG. However, the main scanning mechanism 11 and the sub-scanning mechanism 3 in the scanning mechanism unit 1 of FIG. 1 are representatively represented by the central main parts related to the main scanning and sub-scanning of FIGS. For the sake of explanation, the sub-scanning mechanism 3 and the line sensor 2 are separated in FIG. 1, but in FIGS. 5 and 6, the sub-scanning mechanism is a mechanism for mounting and moving the line sensor 2. In FIG. 1, the clamper 9 and the main scanning mechanism 11 are described separately. However, in FIGS. 5 and 6, the main scanning mechanism 11 moves the conveying means on which the clamper 9 is mounted to perform the main scanning. ing.

[走査機構]
走査機構は、プリント板wとラインセンサ2との相対的位置(又は距離、方向)を順次移動、或いは変更して、ラインセンサ2がプリント板wの測定範囲の全般に亘って測定できるようにする。走査は、被測定物とセンサの相対的移動であるから、何れか一方を移動できれば良い。ここでは一例として、図5及び図6に示す技術を用いる。走査には、具体的な動作としては測定位置を変更するための「移動」が伴うので「移動」で説明しても良いが、以下は、用語として「走査」を用いて説明する。
[Scanning mechanism]
The scanning mechanism sequentially moves or changes the relative position (or distance and direction) between the printed board w and the line sensor 2 so that the line sensor 2 can measure over the entire measurement range of the printed board w. To do. Since scanning is a relative movement between the object to be measured and the sensor, it is sufficient that either one can be moved. Here, as an example, the technique shown in FIGS. 5 and 6 is used. Since the scanning is accompanied by “movement” for changing the measurement position as a specific operation, it may be described as “movement”. However, the term “scanning” will be used in the following description.

先ず図5及び図6を基に、走査機構について説明する。図5において、走査機構部1は、大きくはラインセンサ2、副走査機構3、及び未検査のプリント板wを順次搬送する搬送装置4と、で構成されている。主走査機構11は、この例では搬送装置内に含まれている。   First, the scanning mechanism will be described with reference to FIGS. In FIG. 5, the scanning mechanism unit 1 is mainly composed of a line sensor 2, a sub-scanning mechanism 3, and a transport device 4 that sequentially transports an uninspected printed board w. The main scanning mechanism 11 is included in the transport device in this example.

プリント板wは、いわば被測定物であり、表面にクリームはんだが印刷された検査対象のプリント板である。このプリント板wの表面の一部又は全部が測定範囲となりうる。以下の説明では、プリント板wの全部が測定範囲として説明する。   The printed board w is a so-called object to be measured, and is a printed board to be inspected with cream solder printed on the surface. A part or all of the surface of the printed board w can be a measurement range. In the following description, the entire printed board w will be described as the measurement range.

ラインセンサ2は、この例では、測定範囲にあるプリント板wの表面を三角測量を行ってその変位を測定するセンサである。そのためプリント板wをレーザ光で照射するレーザ光源とプリント板wから反射してくる反射光を検出する変位検出器とを備えている。   In this example, the line sensor 2 is a sensor that measures the displacement of the surface of the printed board w in the measurement range by performing triangulation. Therefore, a laser light source that irradiates the printed board w with laser light and a displacement detector that detects reflected light reflected from the printed board w are provided.

副走査機構3は、ラインセンサ2を支持する支持体3aをX軸モータ3bの駆動により、レール3cを介してX方向に移動させる。つまりX方向に副走査させる。   The sub-scanning mechanism 3 moves the support 3a that supports the line sensor 2 in the X direction via the rail 3c by driving the X-axis motor 3b. That is, the sub-scan is performed in the X direction.

搬送装置4は、図5及び図6に示すように、2本の搬送ベルト5,5がプリント板wの搬送方向に沿うようにして円筒状の一対のプーリ6,6で巻回されている。一方のプーリ6には、搬送モータ7が設けられており、搬送ベルト5,5を回転させて未検査のプリント板wをX正方向に搬送させる。2本の搬送ベルト5,5間の所定の位置には高さ方向(Z方向)に上下動自在なストッパ8が設けられており、搬送されてくる未検査のプリント板wを停止させる。また、2本の搬送ベルト5,5間のストッパ8近傍にはZ方向に上下動自在なクランパ9が設けられており、クランパ9は、ラインセンサ2により検査されるときは搬送ベルト5,5に替わってプリント板wを載置するとともに、搬送方向に直交するY方向に移動自在な突き当て板10,10により、プリント板wを挟持する。   As shown in FIGS. 5 and 6, the transport device 4 is wound around a pair of cylindrical pulleys 6, 6 so that two transport belts 5, 5 are along the transport direction of the printed board w. . One pulley 6 is provided with a transport motor 7 and rotates the transport belts 5 and 5 to transport the uninspected printed board w in the X positive direction. A stopper 8 that is movable up and down in the height direction (Z direction) is provided at a predetermined position between the two conveyor belts 5 and 5, and stops the uninspected printed board w being conveyed. Also, a clamper 9 that can move up and down in the Z direction is provided in the vicinity of the stopper 8 between the two conveyor belts 5 and 5. When the clamper 9 is inspected by the line sensor 2, the conveyor belts 5 and 5 are provided. Instead, the printed board w is placed, and the printed board w is sandwiched between the butting plates 10 and 10 that are movable in the Y direction orthogonal to the transport direction.

搬送装置4には、主走査機構11が設けられている。主走査機構11は、搬送装置4を支持体11aで支持してY軸モータ11bの駆動により、レール11cを介して搬送装置4自身を搬送方向と直交する方向のY方向に移動させる。つまり主走査させる。   The transport device 4 is provided with a main scanning mechanism 11. The main scanning mechanism 11 supports the transport device 4 with a support 11a, and moves the transport device 4 itself in the Y direction perpendicular to the transport direction via the rail 11c by driving the Y-axis motor 11b. That is, main scanning is performed.

[走査の機能・構成]
図1で測定制御手段25は、走査制御部25aを有して、走査機構部1を制御して走査させて測定させるとともに、そのときのラインセンサ2からの出力を基に主走査した位置における変位量を測定値として、測定値記憶手段26へ送り記憶させる。なお、ラインセンサ2は、光学的センサ(後述)を用い、測定範囲の測定個所における高さ方向の変位を検出できる。併せて、測定個所からの光量を検出することもできる(別に設けても良い)。
[Scan Function / Configuration]
In FIG. 1, the measurement control means 25 has a scanning control unit 25a, controls the scanning mechanism unit 1 to perform scanning, and measures at the position where main scanning is performed based on the output from the line sensor 2 at that time. The displacement amount is sent as a measurement value to the measurement value storage means 26 for storage. In addition, the line sensor 2 can detect the displacement of the height direction in the measurement location of a measurement range using an optical sensor (after-mentioned). In addition, the amount of light from the measurement location can also be detected (may be provided separately).

ラインセンサ2は、主走査方向(例えば、Y軸方向)と直交する方向(X軸方向)に距離Lに亘って複数のセンサが配列しており、その配列方向に高速にレーザ光をスキャンしてほぼ同時に距離Lに亘ってプリント板w(或いはそのはんだ領域)の変位を測定する構成を有する。したがって、1回の主走査で幅Lの範囲に亘って変位を測定することができる(したがって、距離Lは、主走査幅に相当する。)。1回の主走査を終えると、X方向に幅[L―δ](ただし、0≦δ≪L)だけ主走査位置をずらして主走査する。距離δは、隣合う主走査同士でダブって測定する範囲である。これは念のため測定漏れがないようにするためである。   The line sensor 2 has a plurality of sensors arranged over a distance L in a direction (X-axis direction) orthogonal to the main scanning direction (for example, the Y-axis direction), and scans laser light in the arrangement direction at high speed. The displacement of the printed board w (or its solder area) is measured almost simultaneously over the distance L. Accordingly, the displacement can be measured over the range of the width L by one main scanning (the distance L corresponds to the main scanning width). When one main scan is completed, the main scan is performed by shifting the main scan position by a width [L−δ] (where 0 ≦ δ << L) in the X direction. The distance δ is a range measured by doubling between adjacent main scans. This is to make sure that there is no measurement omission.

走査制御部25aは、設計情報記憶手段30、投影範囲算出手段31、走査ルート決定手段32及び制御手順記憶手段33からの情報を基に走査機構部1を制御する。以下、設計情報記憶手段30、投影範囲算出手段31、走査ルート決定手段32、制御手順記憶手段33、及び走査制御手段25aの順で説明する。   The scanning control unit 25 a controls the scanning mechanism unit 1 based on information from the design information storage unit 30, the projection range calculation unit 31, the scanning route determination unit 32, and the control procedure storage unit 33. Hereinafter, the design information storage unit 30, the projection range calculation unit 31, the scanning route determination unit 32, the control procedure storage unit 33, and the scanning control unit 25a will be described in this order.

設計情報記憶手段30は、基板設計情報として、主として、基板情報、基準データ及びレイアウト(情報)を記憶している。基板情報は、検査対象とするプリント板wを特定する識別情報や検査条件等を含む書誌的な情報を記憶していて、それらをユーザインタフェース29で一覧表示させて検査開始にあたって選択できるようにしてある。基準データは、判定手段28がプリント板wのはんだ箇所(位置)毎にはんだ状態の良否を判定するとき基準となる設計上のデータである。したがって、基準データは、データ生成手段27が測定値を基に作り出すデータの種類と同じであり、例えば、はんだ箇所の高さ、面積、体積等を示すデータである。   The design information storage means 30 mainly stores board information, reference data, and layout (information) as board design information. The board information stores bibliographic information including identification information for specifying the printed board w to be inspected, inspection conditions, etc., and displays them in a list on the user interface 29 so that they can be selected at the start of inspection. is there. The reference data is design data used as a reference when the determination unit 28 determines the quality of the solder state for each solder location (position) of the printed board w. Therefore, the reference data is the same as the type of data generated by the data generation unit 27 based on the measurement value, and is data indicating the height, area, volume, etc. of the solder location, for example.

レイアウト(情報)は、プリント板wを設計したときのはんだ箇所の位置及び範囲を示す情報、及びプリント板状の基準となる位置を示すマークの位置と範囲を示す情報が含まれている。以下、はんだ箇所(或いは、はんだ領域)及びマークは、2次元、X−Y座表系で位置と範囲が特定できるように表されている。なお、最小単位のはんだ箇所もその位置と範囲で表される。したがって、はんだ箇所の位置範囲が連続する一固まりに形成されると、はんだ領域を形成することになる。
なお、以下の説明に用いられる「測定領域」には、はんだ箇所(或いは、はんだ領域)、及びプリント板w上のはんだ箇所の座標位置の相対的な基準となる位置を示すマークの領域の双方が含まれている。
The layout (information) includes information indicating the position and range of the solder location when the printed board w is designed, and information indicating the position and range of the mark indicating the position serving as the reference for the printed board. Hereinafter, solder locations (or solder areas) and marks are represented so that their positions and ranges can be specified in a two-dimensional, XY coordinate system. Note that the minimum unit solder location is also represented by its position and range. Therefore, when the position range of the solder location is formed in a continuous lump, a solder area is formed.
Note that the “measurement area” used in the following description includes both a solder location (or solder area) and a mark area indicating a relative reference position of the coordinate position of the solder location on the printed board w. It is included.

投影範囲算出手段31は、上記の設計情報記憶手段30から検査対象とするプリント板wについて、プリント板w内で1つもしくは複数の、はんだ箇所及びプリント板wの基準位置を示すマーク等の測定対象をX軸―Y軸でなる座標で表したレイアウト(基板設計情報)を受けて、測定対象の領域をX軸上に投影したときのX軸投影範囲と、Y軸上に投影したときのY軸投影範囲を算出する。   The projection range calculation means 31 measures one or a plurality of solder points and marks indicating the reference position of the printed board w in the printed board w for the printed board w to be inspected from the design information storage means 30. In response to a layout (board design information) that expresses the target in coordinates consisting of the X-axis and Y-axis, the X-axis projection range when the measurement target area is projected on the X-axis and the projection on the Y-axis A Y-axis projection range is calculated.

図3にプリント板wについてレイアウトを基に投影したときの模擬的なX軸投影範囲、及びY軸投影範囲を示す図である。実際は、レイアウトが座標の数値情報であり、投影範囲算出手段31は算出処理して投影範囲を求める。図2は説明上の図である。   FIG. 3 is a diagram illustrating a simulated X-axis projection range and a Y-axis projection range when the printed board w is projected based on the layout. Actually, the layout is numerical information of coordinates, and the projection range calculation means 31 performs calculation processing to obtain the projection range. FIG. 2 is an explanatory diagram.

図2において、マーク1は上記の基準位置を示すマークであり、一般的には少なくとも両端に2つある。エリア1,2,3は、それぞれはんだ領域を模擬的に表す。
投影範囲算出手段31は、X軸投影範囲としては、一次的には、x1−x2、x3−x5、x4−x6、x7−x8、x9−x10で示される範囲を求め、次に重なった部分を含めて二次的に、x1−x2、x3−x6、x7−x8、x9−x10なる領域を求める。Y軸投影範囲としては、一次的に、y1−y2、y3−y4、y5−y7、y6−y8、y9−y10(但し、図2では、y8=Y9)を求める。
In FIG. 2, a mark 1 is a mark indicating the reference position, and generally there are at least two at both ends. Areas 1, 2, and 3 each represent a solder area in a simulated manner.
The projection range calculation means 31 primarily obtains the ranges indicated by x1-x2, x3-x5, x4-x6, x7-x8, x9-x10 as the X-axis projection range, and then overlapped portions. Are obtained secondarily, including x1-x2, x3-x6, x7-x8, and x9-x10. As the Y-axis projection range, y1-y2, y3-y4, y5-y7, y6-y8, y9-y10 (however, y8 = Y9 in FIG. 2) are obtained.

走査範囲決定手段32aは、先ず、主走査位置(併せて走査回数)を決定する。主走査をY軸方向にするとすれば、X軸投影範囲を基準に決定する。また、一度の主走査で行えるX軸方向の主走査範囲は、ラインセンサ2のセンシング長であって、主走査幅である距離Lで決定され、隣り合う主走査間では距離δ(ただし、0≦δ≪L)だけ余裕を見て重ねて主走査されるもとのとして、次の(1)又は(2)の方法で決定する。
(1)走査範囲決定手段32aは、X軸に沿って予め全範囲についてk回の主走査を行うとして、図2に示すように、1回目の主走査のX軸上の位置M1=0〜L、2回目の位置M2=[L―δ]〜[L−δ]+L、k回目の位置Mk=[L−δ]×(k−1)〜[L−δ]×(k−1)+Lを割り振っておき、この割り振った主走査位置M1〜Mkのいずれに或いはそれに跨って上記のX軸投影範囲のx1−x2、x3−x6、x7−x8、x9−x10があるかどうかを決定する。これからすると、全てのX軸投影範囲を満足するための主走査の位置は、M1,M2、M3、Mk−2,Mk−1、Mkが必要になり、回数では、計6回になる。
(2)上記のX軸投影範囲のx1−x2、x3−x6、x7−x8、x9−x10を距離L及び距離δを基に主走査位置に割り振る。つまり、上記(1)では、図2のX軸の投影のない部分(空区間)についても、主走査しないにもかかわらず予め主走査回数を割り振っていたが、ここではその空区間を無視して、X軸投影範囲のx7−x8、x9−x10については、位置X7をスタート位置として割り振る。つまり、X軸投影範囲x1−x2、x3−x6位置が0位置をスタート位置として割り振られたと同様に割り振る。
The scanning range determination unit 32a first determines the main scanning position (and the number of scans). If the main scanning is in the Y-axis direction, it is determined based on the X-axis projection range. Further, the main scanning range in the X-axis direction that can be performed by one main scanning is determined by the distance L that is the sensing length of the line sensor 2 and is the main scanning width. It is determined by the following method (1) or (2) that the main scanning is repeated with a margin of ≦ δ << L).
(1) Assuming that the scanning range determination means 32a performs k main scannings for the entire range in advance along the X axis, as shown in FIG. 2, positions M1 = 0 to 0 on the X axis of the first main scanning. L, second position M2 = [L−δ] to [L−δ] + L, kth position Mk = [L−δ] × (k−1) to [L−δ] × (k−1) + L is allocated, and it is determined whether or not there is x1-x2, x3-x6, x7-x8, x9-x10 in the X-axis projection range at or across any of the allocated main scanning positions M1 to Mk. To do. As a result, M1, M2, M3, Mk-2, Mk-1, and Mk are necessary as the main scanning positions for satisfying all the X-axis projection ranges, and the number of times is six.
(2) Allocate x1-x2, x3-x6, x7-x8, and x9-x10 in the X-axis projection range to the main scanning position based on the distance L and the distance δ. In other words, in the above (1), the number of main scans is allocated in advance for the portion without the X-axis projection (empty section) in FIG. 2 even though the main scan is not performed. For the x-axis projection ranges x7-x8 and x9-x10, the position X7 is assigned as the start position. That is, the X-axis projection ranges x1-x2, x3-x6 are allocated in the same manner as the 0 position is allocated as the start position.

次に、走査範囲決定手段32aは、決定された主走査位置に応じて、Y軸投影範囲y1−y2、y2−y3、y4−y6、x5−y7、y7−y8をカバーすべくそれぞれの主走査回のY軸方向の走査範囲を決定する。図2からして、主走査M1に属する位置x2において範囲y1−y2が必要であるが、同じく主走査M1に属する位置x3では範囲y3―y4が必要である。したがって、主走査M1では、主走査範囲S1=y1〜y4までの走査が必要である。主走査M2では、同様に範囲y3−y4,及び範囲y6−y8の主走査範囲S2が必要である。この場合は主走査範囲S2=y3−y8としても良い。主走査M3の場合は、主走査範囲S3=y6−y8が必要である。主走査Mk−2,及びMk−1のそれぞれは、主走査範囲Sk−2=Sk−1=y5〜y7が必要である。主走査Mkでは、主走査範囲Sk=y9〜y10が必要である。上記のように図2を基にy軸方向の主走査範囲の決定の仕方について理解できるよう説明したが、実際は、図の表記とは関係なく走査範囲決定手段32aがレイアウトを基に論理的に決定する。例えば、走査範囲決定手段32aがレイアウト状のデータをサーチして、主走査M1(X軸座標位置=0〜L)に属する、測定箇所のエリアがあるかどうかを調べる。マーク1、エリア1が在ることを確認する。そして主走査M1の範囲内にマーク1及びエリア1のX軸への投影範囲があるかどうかを調べる。そして、X軸への投影範囲(X1−X2、X3−L)があるから、それのY軸への投影範囲を調べ、それを(y1−y2,y3−y4、但し、y2とy3が近い場合、y1−y4としても良い。)を主走査M1の主走査範囲とするように決定する。   Next, the scanning range determining unit 32a covers the Y-axis projection ranges y1-y2, y2-y3, y4-y6, x5-y7, y7-y8 according to the determined main scanning position. A scanning range in the Y-axis direction for scanning is determined. From FIG. 2, the range y1-y2 is required at the position x2 belonging to the main scan M1, but the range y3-y4 is also required at the position x3 belonging to the main scan M1. Accordingly, in the main scanning M1, scanning in the main scanning range S1 = y1 to y4 is necessary. In the main scanning M2, similarly, the main scanning range S2 of the range y3-y4 and the range y6-y8 is necessary. In this case, the main scanning range S2 = y3-y8 may be set. In the case of the main scanning M3, the main scanning range S3 = y6-y8 is necessary. Each of the main scans Mk-2 and Mk-1 requires a main scan range Sk-2 = Sk-1 = y5 to y7. In the main scanning Mk, the main scanning range Sk = y9 to y10 is necessary. As described above, the description has been made so that the method of determining the main scanning range in the y-axis direction can be understood based on FIG. 2, but actually, the scanning range determining means 32a is logically based on the layout irrespective of the notation of the figure decide. For example, the scanning range determination unit 32a searches the layout data to check whether there is an area of the measurement location that belongs to the main scanning M1 (X-axis coordinate position = 0 to L). Confirm that mark 1 and area 1 exist. Then, it is checked whether or not the projection range of the mark 1 and the area 1 on the X axis is within the range of the main scanning M1. Since there is a projection range (X1-X2, X3-L) on the X-axis, the projection range on the Y-axis is examined, and (y1-y2, y3-y4, where y2 and y3 are close to each other) In this case, it may be set as y1-y4.) Is determined to be the main scanning range of the main scanning M1.

図1で走査ルート決定手段32は、走査範囲決定手段32aで決定されたX軸方向の主走査位置と、各主走査位置でのY軸方向の主走査範囲を示す位置情報を基に短距離に、つまり短時間に走査できる走査ルートを決定する。図3は、その走査ルートの一例を示す図である。図3で、R1,R2、R3,R4,R5,R6が走査のルートと方向を示し、R12,R23,R34、R45、R56が主走査間における位置の変更を行う副走査のルートと方向を示す。このうち、R12,R34、R56は、主走査機構11と副走査機構3の同時に移動動作行うことにより斜めに移動している。R23,R45は、主走査機構11による移動はなく、副走査機構3の動作のみで移動できる。なお、R12,R23,R34、R45、R56を図3のように斜めの移動でなく、図4のように直角な移動させても良い。つまり図3のR12に対して、図3のR12a及びR12bのように直角に移動させる。この場合は、主走査機構11と副走査機構3は同時ではなく、シリアルな動作を行う。   In FIG. 1, the scanning route determining means 32 is a short distance based on the main scanning position in the X-axis direction determined by the scanning range determining means 32a and the position information indicating the main scanning range in the Y-axis direction at each main scanning position. That is, a scanning route that can be scanned in a short time is determined. FIG. 3 is a diagram showing an example of the scanning route. In FIG. 3, R1, R2, R3, R4, R5, and R6 indicate the scanning route and direction, and R12, R23, R34, R45, and R56 indicate the sub-scanning route and direction for changing the position between main scans. Show. Among these, R12, R34, and R56 are moved obliquely by performing the moving operation of the main scanning mechanism 11 and the sub-scanning mechanism 3 simultaneously. R23 and R45 are not moved by the main scanning mechanism 11, but can be moved only by the operation of the sub-scanning mechanism 3. Note that R12, R23, R34, R45, and R56 may be moved at right angles as shown in FIG. 4, instead of being moved obliquely as shown in FIG. That is, it is moved at a right angle with respect to R12 of FIG. 3 as R12a and R12b of FIG. In this case, the main scanning mechanism 11 and the sub-scanning mechanism 3 perform serial operations rather than simultaneously.

制御手順記憶手段33は、走査ルート決定手段32が決定した走査ルートの順R1,R12、R2、R23、R3、R34、R4、R45、R5,R56、R6の順に各ルートのスタート座標位置、及び終了座標を、プリント板wのIDと共に記憶しておく。   The control procedure storage unit 33 includes the start coordinate position of each route in the order of the scan routes determined by the scan route determination unit 32 in the order of R1, R12, R2, R23, R3, R34, R4, R45, R5, R56, and R6. The end coordinates are stored together with the ID of the printed board w.

測定制御手段25の走査制御部25aでは、制御手順記憶手段33からの走査対象とするプリント板wの走査ルートの手順(ルート順)とその詳細座標位置を基に、走査機構1の主走査機構11と副走査機構3をシーケンシャルに制御する情報、つまり、各ルートにおける速度、加速度、移動方向、移動時間(移動距離)等を生成して、その生成したシーケンシャル制御情報を基に制御する。   In the scanning control unit 25a of the measurement control unit 25, the main scanning mechanism of the scanning mechanism 1 is based on the scanning route procedure (route order) of the printed board w to be scanned from the control procedure storage unit 33 and its detailed coordinate position. 11 and information for controlling the sub-scanning mechanism 3 sequentially, that is, speed, acceleration, moving direction, moving time (moving distance) and the like in each route are generated, and control is performed based on the generated sequential control information.

[検査装置]
次に図1を基にプリント板検査装置全般について説明する。
[Inspection equipment]
Next, the general printed board inspection apparatus will be described with reference to FIG.

図1において測定制御手段25は、上記したように、設計情報記憶手段30からプリント板w表面上の測定範囲(はんだ領域及びマーク)を示すレイアウトを受けて、ラインセンサ2をプリント板wに対して相対的に測定範囲を走査させ、高さ方向の変位を含む測定値を取得する。ラインセンサ2は、三角測量によるレーザ変位計の例であって、プリント板wに対して移動機構部5によって相対的に走査されながら、レーザを照射可能なレーザ光源と、プリント板wからの反射光を受光する受光手段からなり、測定範囲、例えば、はんだが印刷されたはんだ箇所の変位、つまり印刷はんだ箇所の高さ(Z軸方向)をその印刷はんだ箇所の位置と対応づけて測定し、デジタルデータに変換して測定値記憶手段26に記憶させる。   In FIG. 1, the measurement control means 25 receives the layout indicating the measurement range (solder area and mark) on the surface of the printed board w from the design information storage means 30 as described above, and moves the line sensor 2 to the printed board w. The measurement range is scanned relatively to obtain a measurement value including a displacement in the height direction. The line sensor 2 is an example of a laser displacement meter by triangulation, a laser light source capable of irradiating a laser while being scanned relatively by the moving mechanism unit 5 with respect to the printed board w, and reflection from the printed board w. It consists of a light receiving means that receives light, and measures the measurement range, for example, the displacement of the solder spot on which the solder is printed, that is, the height of the printed solder spot (in the Z-axis direction) is measured in correspondence with the position of the printed solder spot, It is converted into digital data and stored in the measured value storage means 26.

データ生成手段27は、記憶手段26から測定値を受けて、フィルタ、はんだブリッジやはんだパターンエッジ等の繊細パターンを識別する感度を示す数々の所定の画像パラメータ値を基に、測定値を各印刷はんだ箇所の印刷はんだ量を表す判定用データに加工処理する。また、データ生成手段27は、その判定用データとして印刷はんだ箇所における高さ、面積及び/又は体積等生成するための演算を行う手段等を有している。この判定用データとして、印刷はんだ箇所におけるはんだ量を表す要素となるデータであって、その種類としてはそれぞれのはんだ箇所の高さ、面積、体積、欠損(存在すべきはんだ量が無い状態の検出)、位置ズレ、ブリッジ、及び高さムラ等を出力する。なお、プリント板wの良否を判定するには上記の判定用データの全てを必要とするとは限らないが、高さ、面積、体積、欠損、位置ズレ、ブリッジ、高さムラの内、少なくともいずれか1つは不可欠である。   The data generation unit 27 receives the measurement values from the storage unit 26 and prints the measurement values based on a number of predetermined image parameter values indicating sensitivity for identifying delicate patterns such as filters, solder bridges, and solder pattern edges. Processing is performed to data for determination representing the amount of solder printed at the solder location. Further, the data generation means 27 includes means for performing calculation for generating the height, area, and / or volume of the printed solder location as the determination data. This judgment data is data that represents the amount of solder at the printed solder location, and the types include the height, area, volume, and deficiency of each solder location (detection of a state where there is no solder amount to be present) ), Positional deviation, bridge, height unevenness, etc. are output. Note that not all of the above-described determination data is required to determine the quality of the printed board w, but at least one of height, area, volume, defect, misalignment, bridge, and height unevenness is not included. One is essential.

なお、データ生成手段27は、はんだ状態を面積や体積に換算して評価するためのものであり、単純に高さだけで評価する場合は、無くてもよい。ただし、この場合、後記する基準データは、高さについての基準データであり、判定手段28は、はんだ状態の高さについて、良否判定を行うことになる。   Note that the data generation means 27 is for evaluating the solder state in terms of area or volume, and may be omitted if the evaluation is simply based on the height. However, in this case, reference data to be described later is reference data regarding the height, and the determination unit 28 determines whether the solder state is high or not.

判定手段28は、はんだ箇所毎に、測定値から生成された判定用データと、予め設計情報記憶手段30に記憶されている同一はんだ箇所の基準データとを比較し、良否判定を行う。   The determination unit 28 compares the determination data generated from the measurement value with reference data of the same solder location stored in advance in the design information storage unit 30 for each solder location, and performs pass / fail determination.

表示制御手段29bは、判定手段28による判定結果を、判定したはんだ箇所を介して設計情報記憶手段30に記憶されているレイアウト(プリント板wの配置、寸法、はんだ位置)に対応付けて表示手段29cへ表示させる。例えば、レイアウトにおける測定範囲のどの箇所が不良(NG)と判定された箇所を視覚的に明示できる。   The display control unit 29b displays the determination result by the determination unit 28 in association with the layout (placement, dimensions, solder position) of the printed board w stored in the design information storage unit 30 via the determined solder location. 29c is displayed. For example, it is possible to visually specify a portion where a measurement range in the layout is determined to be defective (NG).

設計情報記憶手段30は、上記判定用データと同じ種類の設計値、つまり、はんだ箇所の高さ、面積、体積、欠損、位置ズレ、ブリッジ、高さムラについての設計値を基準データとして記憶している。さらに、設計情報記憶手段30は、検査対象とするプリント板wの種類毎にレイアウト(プリント板wの配置図、寸法、はんだ位置等)を記憶し、検査開始のときは、プリント板wの種類リストを表示手段29cに表示し、操作手段29aで選択可能にされている。   The design information storage means 30 stores, as reference data, design values of the same type as the determination data, that is, design values for the height, area, volume, deficiency, misalignment, bridge, and height unevenness of the solder location. ing. Further, the design information storage means 30 stores a layout (placement diagram, dimensions, solder position, etc. of the printed board w) for each type of printed board w to be inspected, and the type of printed board w at the start of inspection. The list is displayed on the display means 29c and can be selected by the operation means 29a.

ユーザインタフェース29は、表示制御手段29b、表示手段29c及び、操作手段29aで構成されるが、その主要動作について上記した通りである。   The user interface 29 includes a display control unit 29b, a display unit 29c, and an operation unit 29a. The main operation is as described above.

上記構成における、投影範囲算出手段31、走査ルート決定手段32、測定制御手段25、走査制御部25a、データ生成手段27、判定手段28、表示制御手段29bは、CPU及びそのCPUに上記説明の機能を動作させるためのプログラムを記憶したメモリ(ROM)、及び上記機能動作過程でデータを貯えるメモリ(RAM)等で構成される。設計情報記憶手段30、制御手順記憶手段33及び測定値記憶手段26はメモリで構成され、CPUで管理される。   In the above configuration, the projection range calculation unit 31, the scanning route determination unit 32, the measurement control unit 25, the scanning control unit 25a, the data generation unit 27, the determination unit 28, and the display control unit 29b are the CPU and the functions described above for the CPU. And a memory (RAM) that stores data in the functional operation process. The design information storage means 30, the control procedure storage means 33, and the measured value storage means 26 are constituted by a memory and managed by the CPU.

本発明の実施形態の機能構成を示す図である。It is a figure which shows the function structure of embodiment of this invention. プリント板上の測定範囲を設計基準情報としてのレイアウトからX軸及びY軸への投影、及び走査範囲を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the projection to the X-axis and a Y-axis from the layout as a measurement reference | standard information on a printed circuit board, and a scanning range. 走査範囲を走査する手順を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the procedure which scans a scanning range. 走査範囲の走査手順の他の例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the other example of the scanning procedure of a scanning range. 走査機構の副走査機構の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the subscanning mechanism of a scanning mechanism. 走査機構の主走査機構の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the main scanning mechanism of a scanning mechanism. 従来の走査手順を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the conventional scanning procedure.

符号の説明Explanation of symbols

1 走査機構部、2 ラインセンサ、3 副走査機構、3a 支持体、
3b X軸モータ、3c レール、4 搬送装置、5 搬送ベルト、6 プーリ、
7 搬送モータ、8 ストッパ、9 クランパ、10 突き当て板、11 主走査機構、
11a 支持体、11b Y軸モータ、11c レール、25 測定制御手段、
25a 走査制御部、26 測定値記憶手段、27 データ生成手段、28 判定手段、
29 ユーザインタフェース、29a 操作手段、29b 表示制御手段、
29c 表示手段、30 設計情報記憶手段、31 投影範囲算出手段、
32 走査ルート決定手段、32a 走査範囲決定手段、33 制御手順記憶手段、
w プリント板
1 scanning mechanism, 2 line sensor, 3 sub-scanning mechanism, 3a support,
3b X-axis motor, 3c rail, 4 conveyor, 5 conveyor belt, 6 pulley,
7 transport motor, 8 stopper, 9 clamper, 10 abutting plate, 11 main scanning mechanism,
11a support, 11b Y-axis motor, 11c rail, 25 measurement control means,
25a scanning control unit, 26 measured value storage means, 27 data generation means, 28 determination means,
29 user interface, 29a operation means, 29b display control means,
29c display means, 30 design information storage means, 31 projection range calculation means,
32 scanning route determination means, 32a scanning range determination means, 33 control procedure storage means,
w Printed board

Claims (3)

はんだ領域を含むプリント板の表面をX軸方向の長さLに亘って光を照射して該表面からの反射光を受けるラインセンサ(2)と、前記プリント板と該ラインセンサとを相対的に前記X軸と略直交するY軸方向と平行に前記主走査させる主走査機構(11)と、前記X軸方向側に次の主走査位置を前記長さLに基く所定距離[L―δ](ただし、0≦δ≪L)づつ主走査毎に変更させる副走査を行う副走査機構(3)と、を備え、該ラインセンサの出力を基に前記プリント板のはんだ状態を検査するプリント板検査装置において、
前記プリント板について、予め1つもしくは複数の前記はんだ領域を含む測定領域を前記X軸及び前記Y軸でなるX―Y座標系で表した基板設計情報を受けて、該測定領域を前記X軸に投影したときのX軸投影範囲と、前記Y軸に投影したときのY軸投影範囲を算出する投影範囲算出部(31)と、
該X軸投影範囲、該Y軸投影範囲及び前記所定距離[L―δ]を基に、全測定領域について前記ラインセンサを走査させるための前記X―Y座標系上での走査ルートを決定する走査ルート決定手段(32)と
決定された走査ルートにしたがって前記主走査機構及び副走査機構を制御する走査制御部(25a)と、を備えたプリント板検査装置。
A line sensor (2) that receives light reflected on the surface of the printed board including the solder region over a length L in the X-axis direction and receives the reflected light from the surface, and the printed board and the line sensor are relative to each other. A main scanning mechanism (11) that performs the main scanning in parallel with the Y-axis direction substantially orthogonal to the X-axis, and a predetermined distance [L−δ] based on the length L with the next main scanning position on the X-axis direction side. (Where 0 ≦ δ << L), and a sub-scanning mechanism (3) that performs sub-scanning that is changed every main scanning, and a print that inspects the solder state of the printed board based on the output of the line sensor In plate inspection equipment,
The printed board is preliminarily received board design information in which a measurement area including one or a plurality of the solder areas is represented by an XY coordinate system including the X axis and the Y axis, and the measurement area is defined as the X axis. A projection range calculation unit (31) that calculates an X-axis projection range when projected onto the Y-axis and a Y-axis projection range when projected onto the Y-axis;
Based on the X-axis projection range, the Y-axis projection range, and the predetermined distance [L−δ], a scanning route on the XY coordinate system for scanning the line sensor for all measurement regions is determined. A printed circuit board inspection apparatus comprising: a scanning route determining means (32); and a scanning control unit (25a) for controlling the main scanning mechanism and the sub-scanning mechanism according to the determined scanning route.
前記走査ルート決定手段は、
前記X軸投影範囲と所定距離[L―δ]とから、前記全測定領域を測定するための主走査回数及び各主走査回の前記X軸方向の主走査位置を決定し、かつ、各主走査回におけるY軸方向の主走査範囲を前記Y軸投影範囲から決定する主走査範囲決定手段(32a)を備え、
前記各主走査回における、前記X軸方向の主走査位置及び前記Y軸方向の主走査範囲を基に、前記走査ルートを決定することを特徴とする請求項1に記載のプリント板検査装置。
The scanning route determining means includes
From the X-axis projection range and a predetermined distance [L-δ], the number of main scans for measuring the entire measurement region and the main scan position in the X-axis direction of each main scan are determined, and each main scan is determined. A main scanning range determining means (32a) for determining a main scanning range in the Y-axis direction in the scanning operation from the Y-axis projection range;
The printed circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein the scanning route is determined based on a main scanning position in the X-axis direction and a main scanning range in the Y-axis direction at each main scanning time.
はんだ領域を含むプリント板の表面をX軸方向の長さLに亘って光を照射して該表面からの反射光を受けるラインセンサ(2)と、前記プリント板と該ラインセンサとを相対的に前記X軸と略直交するY軸方向と平行に前記主走査させる主走査機構(11)と、前記X軸方向側に次の主走査位置を前記長さLに基く所定距離[L―δ](ただし、0≦δ≪L)づつ主走査毎に変更させる副走査を行う副走査機構(3)と、を備えたプリント板検査装置の走査方法において、
検査前に、
検査対象とされる前記プリント板について、予め1つもしくは複数の前記はんだ領域を含む測定領域を前記X軸及び前記Y軸でなるX―Y座標系で表した基板設計情報を受ける段階と、
該基板設計情報を基に測定領域を前記X軸に投影したときのX軸投影範囲と、前記Y軸に投影したときのY軸投影範囲を算出する投影範囲算出段階と、
該X軸投影範囲と前記所定距離[L―δ]とから、全測定領域を測定するための主走査回数及び各主走査回の前記X軸方向の主走査位置を決定し、かつ、各主走査回におけるY軸方向の主走査範囲を前記Y軸投影範囲から決定する主走査範囲決定段階と、
記各主走査回における、前記X軸方向の主走査位置及び前記Y軸方向の主走査範囲を基に、全測定領域について前記ラインセンサを走査させるための前記X―Y座標系上での走査ルートを決定し、記憶する走査ルート決定段階と、を備え、
検査時に、前記走査ルートを基に前記副走査機構及び主走査機構を制御して、検査を実行することを特徴とするプリント板検査装置の走査方法。
A line sensor (2) that receives light reflected on the surface of the printed board including the solder region over a length L in the X-axis direction and receives the reflected light from the surface, and the printed board and the line sensor are relative to each other. A main scanning mechanism (11) that performs the main scanning in parallel with the Y-axis direction substantially orthogonal to the X-axis, and a predetermined distance [L−δ] based on the length L with the next main scanning position on the X-axis direction side. ] (Where 0 ≦ δ << L), a sub-scanning mechanism (3) that performs sub-scanning that is changed every main scanning,
Before inspection
For the printed board to be inspected, receiving board design information in which a measurement area including one or a plurality of the solder areas is represented in an XY coordinate system including the X axis and the Y axis;
A projection range calculation step of calculating an X-axis projection range when the measurement region is projected onto the X-axis based on the substrate design information, and a Y-axis projection range when projected onto the Y-axis;
From the X-axis projection range and the predetermined distance [L−δ], the number of main scans for measuring the entire measurement region and the main scan position in the X-axis direction of each main scan are determined, and each main scan is determined. A main scanning range determination step of determining a main scanning range in the Y-axis direction in the scanning time from the Y-axis projection range;
Scanning on the XY coordinate system for scanning the line sensor over the entire measurement region based on the main scanning position in the X-axis direction and the main scanning range in the Y-axis direction at each main scanning time A scanning route determination stage for determining and storing a route;
A method for scanning a printed circuit board inspection apparatus, wherein the inspection is executed by controlling the sub-scanning mechanism and the main scanning mechanism based on the scanning route at the time of inspection.
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