JP2009021917A - フィルタ回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】高精度かつ小面積なフィルタ回路を提供する。
【解決手段】例えば、バンドパスフィルタBPFと、BPFの周波数特性(中心周波数)を設定する制御部とを設ける。制御部は、基準周波数信号Frefと、Frefから2次ローパスフィルタLPFSを介した信号とを位相比較し、その結果をコンデンサC3に蓄え、C3の電圧を電流に変換してLPFSおよびBPFに帰還する。この帰還ループによって、LPFSの遮断周波数はFrefに収束する。ここで、BPF内の可変抵抗回路RVa,RVbおよびLPFS内の可変抵抗回路は、MOSトランジスタからなる差動アンプ回路で構成され、この差動アンプ回路のテール電流に前述した帰還電流が用いられ、相互コンダクタンスに基づいて抵抗値が制御される。そして、このような可変抵抗回路を含むフィルタ回路全体をCMOSプロセスで形成する。
【選択図】図1
【解決手段】例えば、バンドパスフィルタBPFと、BPFの周波数特性(中心周波数)を設定する制御部とを設ける。制御部は、基準周波数信号Frefと、Frefから2次ローパスフィルタLPFSを介した信号とを位相比較し、その結果をコンデンサC3に蓄え、C3の電圧を電流に変換してLPFSおよびBPFに帰還する。この帰還ループによって、LPFSの遮断周波数はFrefに収束する。ここで、BPF内の可変抵抗回路RVa,RVbおよびLPFS内の可変抵抗回路は、MOSトランジスタからなる差動アンプ回路で構成され、この差動アンプ回路のテール電流に前述した帰還電流が用いられ、相互コンダクタンスに基づいて抵抗値が制御される。そして、このような可変抵抗回路を含むフィルタ回路全体をCMOSプロセスで形成する。
【選択図】図1
Description
本発明は、フィルタ回路に関し、特に、CMOSプロセスで形成されるフィルタ回路に適用して有効な技術に関するものである。
例えば、特許文献1には、第1の可変抵抗回路および第1のコンデンサによってカットオフ周波数が決定されるメインのフィルタ回路と、第2の可変抵抗回路および第2のコンデンサより構成され、メインのフィルタ回路と同一回路構成の移相回路と、位相比較回路とを備えたフィルタ回路が記載されている。位相比較回路には、基準周波数の信号と、この基準周波数の信号から移相回路を通過させた信号とが入力され、この位相比較結果を帰還して第2の可変抵抗回路の抵抗値が制御される。すなわち、移相回路のカットオフ周波数が基準周波数を基準にして補正される。そこで、この帰還信号によって第1の可変抵抗回路の抵抗値も制御することで、メインのフィルタ回路におけるカットオフ周波数のばらつきを補正することが可能となる。また、第1および第2の可変抵抗回路は、バイポーラトランジスタからなる差動アンプ回路のエミッタ抵抗を利用して実現される。
特開平8−191231号公報
近年、プロセスの微細化に伴い、デバイスばらつきの問題が大きくなっている。フィルタ回路においては、このデバイスばらつきにより抵抗値や容量値が変化すると、フィルタの周波数特性が設計値から外れてしまう。このようなデバイスばらつきの誤差を補正するためには、特許文献1に記載されたようなフィルタ回路を用いることが有益である。
しかしながら、特許文献1のフィルタ回路は、可変抵抗回路をバイポーラトランジスタで実現しているため、十分な微細化が実現できない恐れがある。今日において、フィルタ回路は、携帯電話機を代表とする各種モバイル通信機器などでも数多く使用されており、これに伴い、フィルタ回路に対しては、高精度化は勿論のこと小面積化や低消費電力化が求められている。
そこで、本発明の目的は、高精度かつ小面積なフィルタ回路を提供することにある。また、本発明の他の目的は、高精度かつ低消費電力なフィルタ回路を提供することにある。本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次の通りである。
本発明のフィルタ回路は、第1フィルタ回路と、第1フィルタ回路の周波数特性を設定する制御部とを備えている。この制御部は、基準周波数信号が入力される第2フィルタ回路と、この基準周波数信号と第2フィルタ回路の出力との位相差を検出する位相比較回路と、この位相比較結果を蓄える容量と、この容量の電圧を電流に変換する第1回路とを備え、位相比較回路および第1回路がMOSトランジスタで構成されたものとなっている。そして、第1回路の出力となる第1電流が第2フィルタ回路に帰還されることで第2フィルタ回路の周波数特性が設定されると共に、この第1電流が第1フィルタ回路にも入力されることで第1フィルタ回路の周波数特性が設定される構成となっている。
ここで、本発明のフィルタ回路は、第1フィルタ回路および第2フィルタ回路がそれぞれ容量および可変抵抗回路を含み、この可変抵抗回路が、MOSトランジスタからなる差動アンプ回路で実現されることが特徴となっている。すなわち、第1電流を差動アンプ回路のテール電流とすることで、差動アンプ回路の相互コンダクタンスの変化に応じた可変抵抗機能を実現した構成となっている。
このような構成を用いると、第1フィルタ回路および第2フィルタ回路の周波数特性が基準周波数信号に基づいて設定できることからプロセスばらつきに依存しない高精度なフィルタ回路を実現できると共に、フィルタ回路をCMOSプロセスで形成できるため、小面積化または低消費電力化が実現可能となる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、高精度かつ小面積なフィルタ回路を実現できる。また、高精度かつ低消費電力なフィルタ回路を実現できる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。また、以下の実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良い。
さらに、以下の実施の形態において、その構成要素(要素ステップ等も含む)は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。
図1は、本発明の一実施の形態によるフィルタ回路において、その構成の一例を示す回路図である。図1に示すフィルタ回路は、例えば1つの半導体基板上に形成され、入力信号(入力信号ノード)VINと出力信号(出力信号ノード)VOUTの間で所定の周波数帯の信号のみを通過させるバンドパスフィルタBPFと、BPFの周波数特性を設定する制御部から構成される。制御部は、発振源VACと、2次ローパスフィルタLPFSと、位相比較器PDと、コンデンサC3と、V−I変換器VICなどを含んでいる。
バンドパスフィルタBPFは、例えば、入力信号VINを受けて、所定の周波数帯以上の信号を通過させるハイパスフィルタHPFと、所定の周波数帯以下の信号を出力信号VOUTとして通過させるローパスフィルタLPFと、HPFの出力とLPFの入力の間に挿入されたバッファ回路BUFによって構成される。BUFは、高入力インピーダンスおよび低出力インピーダンスを備えたボルテージフォロワ回路となっており、これによってHPFとLPFは互いに影響せずに周波数特性を定められる。HPFは、例えば、VINとBUFの間に直列接続された可変抵抗回路RVaおよびコンデンサC1によって構成され、LPFは、例えば、BUFとVOUTの間に接続された可変抵抗回路RVbと、VOUTと接地電圧GNDの間に接続されたコンデンサC2によって構成される。
図2は、図1のフィルタ回路において、その2次ローパスフィルタLPFSの構成例を示す回路図である。2次ローパスフィルタLPFSは、例えば、可変抵抗回路RVc,RVdと、バッファ回路(ボルテージフォロワ回路)BUFと、コンデンサC4,C5によって構成される。RVcは、その入力がLPFSへの入力信号ノードV1に接続され、出力がコンデンサC5を介してLPFSの出力信号ノードV2に接続される。また、RVcの出力は、RVdの入力にも接続される。RVdの出力は、C4を介してGNDに接続されると共に、BUFの入力にも接続される。そして、BUFの出力が出力信号ノードV2となる。
このような構成において、本実施の形態の主要な特徴の一つは、可変抵抗回路RVをCMOSプロセスで実現することにある。すなわち、図1のバンドパスフィルタBPF内の可変抵抗回路RVa,RVbと、2次ローパスフィルタLPFS内の可変抵抗回路RVc,RVdは、それぞれ、図3に示すような回路によって実現される。図3は、図1のフィルタ回路において、その可変抵抗回路RVの構成例を示す回路図である。
図3に示す可変抵抗回路RVは、MOSトランジスタからなる差動アンプ回路であり、入力信号(入力ノード)V7と出力信号(出力ノード)V8の間の抵抗値を制御信号I7によって設定可能な構成となっている。NMOSトランジスタMN31,MN32は、差動対を構成し、MN31のゲートにはバイアス電圧VB1が供給され、MN32のゲートには、入力信号V7が印加される。MN31,MN32のソースは、テール電流源として機能するNMOSトランジスタMN34のドレインに共通接続される。
MN34は、NMOSトランジスタMN33とカレントミラー回路を構成し、このMN33のドレインから制御信号I7が供給される。したがって、制御信号I7の電流値によって差動アンプ回路のテール電流の大きさを設定できる。MN31、MN32のドレインは、それぞれ、PMOSトランジスタMP31、MP32のドレインに接続される。MP31,MP32は、差動アンプ回路の負荷として機能し、MP31,MP32のソースには、共通に電源電圧VDDが供給され、ゲートには、共通にバイアス電圧VB2が供給される。
図3の可変抵抗回路RVは、差動アンプ回路の相互コンダクタンスをGmとおくと、入力信号V7とバイアス電圧VB1の電位差に応じて、出力ノードV8に出力電流Iout=Gm×|V7−VB1|を発生する。したがって、図3の可変抵抗回路RVは、実効的に1/Gmの抵抗として機能する。ここで、Gmの値は、制御信号I7の電流値(差動アンプ回路のテール電流値)によって任意に設定可能であることから、図3は可変抵抗回路として機能することになる。
このように、可変抵抗回路RVをCMOSプロセスで形成することで、小面積または低電力なフィルタ回路を実現可能となる。すなわち、後述するように、図1における位相比較器PDやV−I変換器VICもCMOSプロセスで実現可能なことから、フィルタ回路全体を1つの半導体基板上でCMOSプロセスを用いて形成でき、小面積化または低電力化を図れる。
図4は、図1のフィルタ回路において、その位相比較器PDの構成例を示す回路図である。図4に示す位相比較器PDは、ギルバートセル型と呼ばれるミキサ回路(乗算回路)となっており、例えば、PMOSトランジスタMP41〜MP44と、NMOSトランジスタMN41〜MN48と、電流源ISなどによって構成される。
MN45とMN46は、差動対を構成し、ゲートに差動入力信号V4が印加され、ソースが共通に電流源ISに接続される。MN41とMN42、ならびにMN43とMN44は、それぞれ差動対を構成し、MN41,MN42のソースがMN45のドレインに接続され、MN43,MN44のソースがMN46のドレインに接続される。そして、差動入力信号V3の一方がMN41のゲートとMN44のゲートに入力され、他方がMN42のゲートとMN43のゲートに入力される。
MN41とMN43のドレインは、MP41のドレインに接続される。MP41は、MP44とカレントミラー回路を構成し、MP41に流れる電流Id1がMP44にコピーされる。一方、MN42とMN44のドレインは、MP42のドレインに接続される。MP42は、MP43とカレントミラー回路を構成し、MP42に流れる電流Id2がMP43にコピーされる。さらに、MP43に流れる電流は、MN47にも流れ、この電流は、MN47とカレントミラー回路を構成するMN48にコピーされる。そして、MP44のドレインとMN48のドレインとの接続ノードから位相比較結果となる出力信号V5が生成される。
このような構成において、差動入力信号V3と差動入力信号V4の周波数が同一で有った場合、出力信号V5には、その2倍の周波数成分にオフセット成分が重複された信号が出力される。このオフセット成分は、V3とV4の位相差に応じた大きさとなり、例えば、V3とV4の位相差φが0<φ<90度の範囲ではId2>Id1に伴いマイナスのオフセットが生じ、90<φ<180度の範囲ではId1>Id2に伴いプラスのオフセットが生じる。そして、位相φが90度の場合にオフセット成分がゼロとなる。
図5は、図1のフィルタ回路において、そのV−I変換器VICの構成例を示す回路図である。図5に示すV−I変換器VICは、例えば、PMOSトランジスタMP51〜MP55と、NMOSトランジスタMN51〜MN55と、アンプ回路AMPと、抵抗R1と、バイアス電圧源(バイアス電圧)VB3などによって構成される。AMPは、出力がMN51のゲートに接続され、入力の一方が入力信号V6となっており、入力の他方がMN51のソースからの帰還信号となっている。
また、MN51のソースは、R1を介して接地電圧GNDに接続され、MN51のドレインはMP51のドレインに接続される。MP51は、MP52〜MP55とそれぞれカレントミラー回路を構成し、MP52〜MP55のドレインは、MN52〜MN55のドレインにそれぞれ接続される。MN52〜MN55のゲートには、バイアス電圧VB3が印加されており、MN52〜MN55は、それぞれ定電流源として機能する。そして、MN52(MP52)〜MN55(MP55)のドレインから、それぞれ出力信号I3〜I6が生成される。
このような構成において、入力信号V6に電圧を印加すると、この電圧が抵抗R1の印加電圧となり、これに伴う電流がMP51に流れる。この電流は、カレントミラー回路によってMP52〜MP55のそれぞれにコピーされ、この各電流からMN52〜MN55に流れる各電流を差し引いた電流が出力信号I3〜I6となる。つまり、図5のV−I変換器VICは、入力信号V6の電圧値に比例した電流を出力信号I3〜I6として生成する。
ここで、図4のような位相比較器PDおよび図5のようなV−I変換器VICを図1の構成に適用すると、図1のフィルタ回路は、次のように動作する。まず、発振源VACからの基準周波数信号Frefが図2のような2次ローパスフィルタLPFSを介して位相比較器PDの一方に入力されると共に、PDの他方にはFrefがそのまま入力される。位相比較器PDは、この2つの入力を受けて、位相比較結果をコンデンサC3に蓄える。そして、コンデンサC3に蓄えられた電圧が、V−I変換器VICによって電流に変換され、この変換された電流によって2次ローパスフィルタLPFS内の可変抵抗回路RVc,RVdおよびバンドパスフィルタBPF内の可変抵抗回路RVa,RVbの実効的な抵抗値が帰還制御される。
ここで、2次ローパスフィルタLPFSは、例えば図6に示すように、周波数の増加に伴い最大で180度の位相遅れが生じ、カットオフ周波数fcで、位相遅れが90度となる周波数特性を備える。例えば位相遅れが0〜90度の場合、位相比較器PDによってこの位相遅れに伴うオフセット成分がC3から放電され、この電圧に比例した電流(出力信号I3,I4)がLPFSに帰還される。LPFSでは、この帰還電流の減少に伴い可変抵抗回路RVc,RVdにおけるGmが減少し、これに伴う実効的な抵抗値(1/Gm)が増大するため更に位相遅れが大きくなる方向に進む。
また、位相遅れが90度〜180度の場合、位相比較器PDによってこの位相遅れに伴うオフセット成分がC3に充電され、この電圧に比例した電流(出力信号I3,I4)がLPFSに帰還される。LPFSでは、この帰還電流の増大に従い可変抵抗回路RVc,RVdにおけるGmが増大し、これに伴う実効的な抵抗値(1/Gm)が減少するため位相遅れが小さくなる方向に進む。この結果、2次ローパスフィルタLPFSにおける位相遅れが90度となるような帰還電流(出力信号I3,I4)の値に収束することになる。
言い換えれば、基準周波数信号Frefが、2次ローパスフィルタLPFSにおけるカットオフ周波数fcとなるように、可変抵抗回路RVc,RVdの抵抗値が自動調整される。このように基準周波数信号Frefを基準として自動調整が行われることで、仮に2次ローパスフィルタLPFSにおけるコンデンサC4,C5などにプロセスばらつきが生じ、このプロセスばらつきに伴いカットオフ周波数fcのズレが生じたとしても、可変抵抗回路RVc,RVdの自動調整によってこのfcのズレ分が補正される。
一方、図1のバンドパスフィルタBPFにおける可変抵抗回路RVa,RVbは、2次ローパスフィルタLPFS内の可変抵抗回路RVc,RVdと同一の回路構成であり、このLPFSに対する帰還電流(出力信号I3,I4)と同じ帰還電流(出力信号I5,I6)が入力されている。したがって、バンドパスフィルタBPF内のコンデンサC1,C2などにLPFSと同様のプロセスばらつきが生じ、このプロセスばらつきに伴いカットオフ周波数(BPFでは中心周波数に該当)のズレが生じた場合は、このズレ分を補正するようにRVa,RVbの抵抗値が自動調整されることになる。
以上、本実施の形態のフィルタ回路を用いることで、プロセスばらつきに依存しない高精度なフィルタ回路を実現できる。更に、前述したようにフィルタ回路をCMOSプロセスで形成できることから、小面積または低消費電力なフィルタ回路を実現可能となる。
以上、本発明者よりなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。
例えば、ここではメインのフィルタ回路をバンドパスフィルタ回路としたが、勿論、その代わりにローパスフィルタ回路やハイパスフィルタ回路やバンドエルミネーションフィルタ回路とすることも可能である。
本発明のフィルタ回路は、モバイル通信機器などを代表とする小型化および低消費電力化が求められる製品に適用して特に有益な技術であり、これに限らず、アクティブフィルタ回路を用いる製品全般に対して広く適用可能である。
VAC 発振源
Fref 基準周波数信号
LPFS 2次ローパスフィルタ
PD 位相比較器
C コンデンサ
VIC V−I変換器
BPF バンドパスフィルタ
LPF ローパスフィルタ
HPF ハイパスフィルタ
BUF バッファ回路
RV 可変抵抗回路
VIN 入力信号
VOUT 出力信号
MN NMOSトランジスタ
MP PMOSトランジスタ
VB バイアス電圧
IS 電流源
R 抵抗
AMP アンプ回路
Fref 基準周波数信号
LPFS 2次ローパスフィルタ
PD 位相比較器
C コンデンサ
VIC V−I変換器
BPF バンドパスフィルタ
LPF ローパスフィルタ
HPF ハイパスフィルタ
BUF バッファ回路
RV 可変抵抗回路
VIN 入力信号
VOUT 出力信号
MN NMOSトランジスタ
MP PMOSトランジスタ
VB バイアス電圧
IS 電流源
R 抵抗
AMP アンプ回路
Claims (4)
- 第1容量および第1可変抵抗回路を含んだ第1フィルタ回路と、
所定の周波数からなる基準周波数信号が入力され、第2容量および第2可変抵抗回路を含んだ第2フィルタ回路と、
前記第2フィルタ回路の出力と前記基準周波数信号との位相差を検出する位相比較回路と、
前記位相比較回路の出力電圧を蓄える第3容量と、
前記第3容量の電圧値に応じた大きさの第1電流を生成し、前記第1電流を前記第1可変抵抗回路および前記第2可変抵抗回路に出力する第1回路とを備え、
前記位相比較回路と前記第1回路は、MOSトランジスタによって構成され、
前記第1可変抵抗回路および前記第2可変抵抗回路のそれぞれは、MOSトランジスタからなる差動アンプ回路を有し、前記差動アンプ回路のテール電流が前記第1電流の大きさに基づいて設定されるように構成されたことを特徴とするフィルタ回路。 - 請求項1記載のフィルタ回路において、
前記第1フィルタ回路は、ローパスフィルタ回路とハイパスフィルタ回路を接続したバンドパスフィルタ回路であり、
前記ローパスフィルタ回路と前記ハイパスフィルタ回路のそれぞれは、前記第1可変抵抗回路を含むことを特徴とするフィルタ回路。 - 請求項1または2記載のフィルタ回路において、
前記第2フィルタ回路は、前記第2可変抵抗回路を2つ含んだ2次ローパスフィルタ回路であり、
前記位相比較回路は、ギルバートセル型の乗算回路であることを特徴とするフィルタ回路。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載のフィルタ回路において、
前記フィルタ回路は、1つの半導体基板上に形成されることを特徴とするフィルタ回路。
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JP2007184168A JP2009021917A (ja) | 2007-07-13 | 2007-07-13 | フィルタ回路 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109873620A (zh) * | 2017-12-01 | 2019-06-11 | 炬芯(珠海)科技有限公司 | 三阶低通滤波器 |
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2007
- 2007-07-13 JP JP2007184168A patent/JP2009021917A/ja not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109873620A (zh) * | 2017-12-01 | 2019-06-11 | 炬芯(珠海)科技有限公司 | 三阶低通滤波器 |
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