JP2009016472A - Method of manufacturing chip type resistor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、各種電子機器の電流値検出等に使用されるチップ型抵抗器の製造方法に関するものである。 The present invention relates to a method for manufacturing a chip resistor used for detecting a current value of various electronic devices.
従来のこの種のチップ型抵抗器は、図5に示すように、金属板で構成された抵抗体1の下面の両端部にめっきにより一対の電極2を形成した後、抵抗体1の下面の一対の電極2間と抵抗体1の上面に樹脂からなる保護膜3を形成するようにしていた。
As shown in FIG. 5, a conventional chip resistor of this type is formed by forming a pair of
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
上記した従来のチップ型抵抗器の製造方法においては、抵抗体1の上面に樹脂からなる保護膜3を形成する際に、樹脂が抵抗体1の両端部方向に流れ出して、抵抗体1の端面や一対の電極2の端面を樹脂が覆ってしまう場合があり、これにより、実装不良が発生するという課題を有していた。
In the above-described conventional chip resistor manufacturing method, when the
本発明は上記従来の課題を解決するもので、実装不良の発生を低減させることができるチップ型抵抗器の製造方法を提供することを目的とするものである。 The present invention solves the above-described conventional problems, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a chip resistor that can reduce the occurrence of mounting defects.
上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。 In order to achieve the above object, the present invention has the following configuration.
本発明の請求項1に記載の発明は、導電体に空間部を形成する工程と、前記導電体の空間部を挟んで互いに対向する部分に、導電体の上面に開口する凹部を形成する工程と、前記凹部の下面と側壁の少なくとも一方にその両端部が接続されるように前記導電体に金属板からなる抵抗体を接合する工程とを備え、前記凹部の深さを前記抵抗体の厚みより大きくし、かつ前記導電体間において前記抵抗体の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜をその上面が導電体の上面より下方に位置するように形成したもので、この製造方法によれば、前記凹部の深さを前記抵抗体の厚みより大きくし、かつ前記導電体間において抵抗体の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜をその上面が導電体の上面より下方に位置するように形成しているため、抵抗体の上面に樹脂からなる保護膜を形成する際における樹脂の流出も導電体の凹部内にとどめることができ、これにより、前記樹脂の導電体上面から外部への流出ということはなくなるため、前記樹脂が抵抗体の端面や導電体の端面を覆うということはなくなり、これにより、実装不良の発生を低減させることができるという作用効果が得られるものである。
The invention according to
本発明の請求項2に記載の発明は、特に、少なくとも導電体と抵抗体とを接合する前に、前記導電体にすずめっきを施したもので、この製造方法によれば、個片状に分割してから個々に実装のためのめっきをする必要がないため、生産性を向上させることができるという作用効果が得られるものである。 According to the second aspect of the present invention, in particular, the conductor is tin-plated before joining at least the conductor and the resistor. Since it is not necessary to individually perform the plating for mounting after the division, it is possible to obtain the operational effect that the productivity can be improved.
本発明の請求項3に記載の発明は、特に、少なくとも導電体と抵抗体とを接合する前に、前記導電体の少なくとも前記抵抗体と接する面にすず、金、銀、銅、ニッケルのいずれかからなるめっきを施し、その後、前記導電体と抵抗体とを加熱することにより接合したもので、この製造方法によれば、加熱により溶融したすず、金、銀、銅またはニッケルによって導電体と抵抗体とを強固に接合できるという作用効果が得られるものである。 According to the third aspect of the present invention, in particular, before joining at least the conductor and the resistor, at least the surface of the conductor in contact with the resistor may be tin, gold, silver, copper, or nickel. In this method, the conductor and the resistor are joined by heating, and according to this manufacturing method, the conductor is made of tin, gold, silver, copper, or nickel melted by heating. The effect that the resistor can be firmly bonded is obtained.
本発明の請求項4に記載の発明は、特に、導電体としてシート状の金属プレートを使用し、かつこの金属プレートを貫通するように打ち抜くことにより空間部を形成したもので、この製造方法によれば、複数個の抵抗器を同時に得ることができるため、生産性を向上させることができるという作用効果が得られるものである。 In the invention according to claim 4 of the present invention, in particular, a sheet-like metal plate is used as a conductor, and a space portion is formed by punching through the metal plate. According to this, since a plurality of resistors can be obtained at the same time, an operational effect that productivity can be improved can be obtained.
本発明の請求項5に記載の発明は、特に、抵抗体の端部の周囲に位置して金属プレートに空間部と連続する切欠部を形成したもので、この製造方法によれば、抵抗体の一方の端部を、空間部と連続する切欠部によって、他の抵抗体と分離できるため、容易にトリミングができるという作用効果が得られるものである。 According to the fifth aspect of the present invention, in particular, the metal plate is formed with a notch portion that is located around the end portion of the resistor and is continuous with the space portion. Since one of the end portions can be separated from other resistors by a notch portion continuous with the space portion, an effect that trimming can be easily performed is obtained.
以上のように本発明のチップ型抵抗器の製造方法は、導電体の上面に開口するように形成された凹部の深さを抵抗体の厚みより大きくし、かつ前記導電体間において抵抗体の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜をその上面が導電体の上面より下方に位置するように形成しているため、抵抗体の上面に樹脂からなる保護膜を形成する際における樹脂の流出も導電体の凹部内にとどめることができ、これにより、前記樹脂の導電体上面から外部への流出ということはなくなるため、前記樹脂が抵抗体の端面や導電体の端面を覆うということはなくなり、この結果、実装不良の発生を低減させることができるという優れた効果を奏するものである。 As described above, in the method for manufacturing a chip resistor according to the present invention, the depth of the recess formed so as to open on the upper surface of the conductor is larger than the thickness of the resistor, and the resistor is formed between the conductors. Since the protective film made of resin is formed on at least the upper surface so that the upper surface is located below the upper surface of the conductor, the resin flows out when the protective film made of resin is formed on the upper surface of the resistor. As a result, the resin does not flow out from the upper surface of the conductor to the outside, so that the resin does not cover the end face of the resistor or the end face of the conductor. Thus, it is possible to reduce the occurrence of mounting defects.
以下、本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器について図面を参照しながら説明する。 Hereinafter, a chip resistor according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の分解斜視図である。 FIG. 1 is an exploded perspective view of a chip resistor according to an embodiment of the present invention.
本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器は、図1に示すように、金属板で構成された抵抗体11と、この抵抗体11の所定位置に形成された抵抗値調整用のトリミング溝11aと、前記抵抗体11の下面溝部から端面にかけて連続して接するようにL字状に形成された一対の電極12と、前記抵抗体11の下面と上面11bにそれぞれ形成された保護膜13とを備えているものである。
As shown in FIG. 1, a chip resistor according to an embodiment of the present invention includes a
また、前記抵抗体11の上面11bは一対の電極12の最上面12aより低くなっており、そしてこの抵抗体11の上面11bにおける上面11bより上方に突出した一対の電極12間に位置する部分に樹脂からなる保護膜13が形成されるものである。なお、この保護膜13は、少なくとも抵抗体11の上面11bにだけは形成する必要があるが、これ以外の例えば、抵抗体11の下面における一対の電極12間に位置する部分と抵抗体11の両側面にも形成してもよい。
Further, the upper surface 11b of the
上記構成において、前記抵抗体11は、ニクロム、銅ニッケル、マンガニン等からなる金属板で構成され、その長さは0.4〜15mm、幅は0.15〜10mm、厚みは50〜1000μmとなっている。また、抵抗体11の中央部には抵抗値調整用のトリミング溝11aが抵抗体11の一方の側面から他方の側面に向かって設けられている。なお、このトリミング溝11aは、要望される抵抗値によっては形成しなくてもよいし、あるいは複数本形成してもよい。
In the above configuration, the
また、前記一対の電極12は、抵抗体11とは別体で、この抵抗体11より導電率の低い銅等の金属で構成されているもので、その長さは抵抗体11の長さの1/10〜1/3となっている。そしてまた、この一対の電極12は、前記抵抗体11の下面端部から端面にかけて接するようにL字状に構成されている。さらに、この一対の電極12の幅は抵抗体11の幅より広く、また、抵抗体11の端面に位置する一対の電極12の最上面12aは抵抗体11の上面11bより高くなっているもので、一対の電極12の一部が抵抗体11の上面11bより上方に突出したような配置になっている。
The pair of
なお、前記一対の電極12の周囲にはすずめっきが施されているもので、これにより、チップ型抵抗器は基板に実装されるものである。なお、このすずめっきと一対の電極12との間には必要に応じてニッケルめっき、銅めっき、金めっきを形成してもよい。
The pair of
また、前記保護膜13は、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等の絶縁材からなり、抵抗体11の下面における一対の電極12間、抵抗体11の上面11bにおける突出した一対の電極12間および抵抗体11の側面に形成されているものである。
The
次に、本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の製造方法について、図2(a)〜(f)および図3(a)〜(c)に基づいて説明する。 Next, a method for manufacturing a chip resistor according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 (a) to 2 (f) and FIGS. 3 (a) to 3 (c).
まず、電極12の材料となる導電体14として銅からなる1枚の大きなシート状の金属プレートを用意する。この金属プレートは複数の電極12に対応するものである。
First, a large sheet-like metal plate made of copper is prepared as the
次に、図2(a)に示すように、この金属プレートに打ち抜き加工、プレス加工等を施すことにより、金属プレート(導電体14)を貫通する複数の空間部15を形成する。なお、図2においては、説明を簡単にするために空間部15は2つのみ示している。
Next, as shown in FIG. 2A, the metal plate is punched, pressed, or the like, thereby forming a plurality of
また、前記導電体14としては、2本の金属帯を一定間隔で並べてその間が空間部15となるようにしたものを用いてもよいが、本発明の一実施の形態のように、金属プレートを使用した場合は、複数個のチップ型抵抗器を同時に得ることができるため、生産性を向上させることができ、好ましい。この後、導電体14の全表面にすずめっきを形成する。なお、このすずめっきの形成は、導電体14に凹部16を形成した後でもよいものである。
Further, the
次に、図2(b)に示すように、導電体14の空間部15を挟んで互いに対向する部分に、切削加工、プレス加工等を施すことにより、導電体14の上面に開口する凹部16を形成する。この図2(b)におけるA−A線断面図は図4に示す通りとなっているもので、この図4に示されているように、凹部16を形成することによって、導電体14の空間部15を介して向き合う部分の厚みaは、他の部分の厚みbより薄くなっているものである。
Next, as shown in FIG. 2B, the
次に、図2(c)に示すように、ニクロム、銅ニッケル、マンガニン等からなる帯状金属板17に切断加工等を施すことにより、板状の抵抗体11を複数形成する。なお、この場合、抵抗体11の幅は凹部16の幅より狭くする。また、抵抗体11の長さは図4における凹部16の互いに最も離間した部分間の距離lと略同一にし、かつその厚みは凹部16の深さhより小さくする。
Next, as shown in FIG. 2C, a plurality of plate-
次に、図2(d)に示すように、抵抗体11の両端部11c,11dを凹部16に嵌合するようにして、抵抗体11を導電体14間に架橋する。このとき、抵抗体11の両端部11c,11dは、凹部16の下面16aと、互いに対向する凹部16の側壁16bに接するようにする。なお、図2において、1つの空間部15に形成される抵抗体11は1つとなっているが、複数であってもよい。
Next, as shown in FIG. 2D, the
次に、抵抗体11の両端部11c,11dと導電体14を接合する。この抵抗体11と導電体14の接合は、抵抗体11と導電体14を加熱するような方法、例えばレーザ溶接、超音波溶接、電気溶接等で行う。このとき、導電体14の周囲の全面に形成されたすずめっきが加熱により一時的に溶融するため、抵抗体11と導電体14はこのすずによっても接合でき、これにより、両者を強固に接続することができる。なお、抵抗体11と導電体14とを強固に接合する場合には、すずめっきではなく、銀めっき、金めっき、銅めっき、またはニッケルめっきを導電体14に形成するようにしてもよいものである。また、レーザ溶接では、特殊な治具を使用することがないため、他の方法よりも生産性の点では有利である。さらにまた、抵抗体11と導電体14との接合位置は、凹部16の下面16aと側壁16bのいずれか一方でもよい。
Next, both ends 11c and 11d of the
次に、図2(e)に示すように、導電体14と接合された抵抗体11の両端部11c,11dのうち、一方の端部11cの周囲に位置して導電体14に打ち抜き加工、プレス加工等を施すことにより、空間部15と連続する切欠部18を形成する。すなわち、抵抗体11の他方の端部11dにおける抵抗体11と導電体14とが接合された部分以外の周囲は、導電体14が無い状態になっている。
Next, as shown in FIG. 2 (e), of the both ends 11c and 11d of the
次に、図2(f)に示すように、抵抗値を測定しながらレーザ照射またはプレス加工等を行うことにより、抵抗体11の所定の位置の一方の側面から他方の側面に向かうトリミング溝11aを形成して抵抗値調整を行う。
Next, as shown in FIG. 2 (f), by performing laser irradiation or pressing while measuring the resistance value, the trimming
このとき、前述したように抵抗体11の一方の端部11dにおける抵抗体11と導電体14とが接合された部分以外の周囲は、導電体14が無い状態になっているため、抵抗体11の一方の端部11cに対応する他の抵抗体の一方の端部とは、切欠部18によって分離されることになり、これにより、抵抗値測定用のプローブを抵抗体11の両端部11c,11dに当接させたとき、他の抵抗体の影響を受けることなく正確な抵抗値を測定できるため、容易にトリミングを行うことができる。すなわち、切欠部18がなくて他の抵抗体と分離されていない場合は、当該抵抗体11は他の抵抗体と並列に接続されることになるため、抵抗値測定用のプローブをこの抵抗体11の両端部11c,11dに当接させて抵抗値を測定しても正確な抵抗値を測定することはできない。
At this time, as described above, the periphery of the one
次に、図3(a)に示すように、抵抗体11の一方の端部11dの周囲の導電体14を切断することにより、個片状のチップ型抵抗器を得る。このとき、導電体14は個片状のチップ型抵抗器の一対の電極12となる。なお、前述したトリミングは個片状に分割してから行うようにしてもよいものである。
Next, as shown in FIG. 3A, by cutting the
次に、図3(b)に示すように、複数の抵抗体11の上面11bと下面にエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等の絶縁材からなるフィルム19を貼り合わせる。このとき、このフィルム19は抵抗体11の下面における一対の電極12間に位置する部分と抵抗体11の上面11bにおける上面11bより上方に突出した一対の電極12間に形成する。
Next, as shown in FIG. 3B, a
最後に、図3(c)に示すように、フィルム19を個々の抵抗体11に対応するように切断して、抵抗体11に保護膜13を形成する。このとき、保護膜13は抵抗体11の両側面にも形成される。また、この保護膜13は図4に示す凹部内においてその上面が導電体14の上面より下方に位置するように形成されるものである。
Finally, as shown in FIG. 3C, the
上記した本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の製造方法においては、導電体14の上面に開口するように形成された凹部16の深さを抵抗体11の厚みより大きくし、かつ前記導電体14(電極12)間において抵抗体11の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜13をその上面が導電体14の上面より下方に位置するように形成しているため、抵抗体11の上面に樹脂からなる保護膜13を形成する際における樹脂の流出も導電体14の凹部16内にとどめることができ、これにより、前記樹脂の導電体14上面から外部への流出ということはなくなるため、前記樹脂が抵抗体11の端面や導電体14の端面を覆うということはなくなり、これにより、実装不良の発生を低減させることができるという効果が得られるものである。
In the above-described chip resistor manufacturing method according to the embodiment of the present invention, the depth of the
また、前述したように、抵抗体11の下面に位置する電極12を抵抗体11の端面において抵抗体11の上面11bより上に延ばすことにより、抵抗器の端面に位置する電極12の面積を広くすることができるため、基板実装の際のフィレットを大きくすることができ、これにより、実装不良を低減させることができる。
Further, as described above, by extending the
そしてまた、前記一対の電極12は抵抗体11の下面端部から端面にかけて接するようにL字状に構成されているため、電極12と抵抗体11との接触面積を広くすることができ、これにより、電極12と抵抗体11との接合強度を強くすることができる。
In addition, since the pair of
さらに、上記した本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の製造方法においては、電極12を個々にL字状に加工するのではなく、連続的にL字状に加工するようにしているため、生産性を悪化させることはない。
Further, in the above-described chip resistor manufacturing method according to the embodiment of the present invention, the
さらにまた、前記導電体14と抵抗体11とを接合する前に、導電体14にすずめっきを施しているため、個片状に分割してから個々に実装のためのめっきをする必要はなくなり、これにより、生産性を向上させることができるものである。
Furthermore, since the
本発明に係るチップ型抵抗器の製造方法は、実装不良の発生を低減させることができるという効果を有するものであり、特に各種電子機器の電流値検出等に使用されるチップ型抵抗器等に適用することにより有用となるものである。 The chip resistor manufacturing method according to the present invention has the effect of reducing the occurrence of mounting defects, and is particularly suitable for chip resistors used for detecting the current value of various electronic devices. It becomes useful by applying.
11 抵抗体
11b 抵抗体の上面
11c,11d 抵抗体の両端部
12 一対の電極
13 保護膜
14 導電体
15 空間部
16 凹部
16a 凹部の下面
16b 凹部の側壁
18 切欠部
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JP2007174839A JP2009016472A (en) | 2007-07-03 | 2007-07-03 | Method of manufacturing chip type resistor |
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