JP2009016472A - Method of manufacturing chip type resistor - Google Patents

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浩樹 小中
Hideji Ariga
秀二 有賀
Harukazu Nakano
治和 中野
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chip type resistor which can reduce the generation of a mounting defect. <P>SOLUTION: The method of manufacturing the chip type resistor includes a step of forming a space 15 in a conductor 14, a step of forming a recessed portion 16 opening on the upper surface of the conductor 14 in the mutually facing portions with the space 15 of the conductor 14 therebetween, and a step of bonding a resistor 11 consisting of a metal plate to the conductor 14 so that both ends are connected to at least one side of the lower surface and the side wall of the recessed portion 16, wherein the depth of the recessed portion 16 is made to be larger than the thickness of the resistor 11, and a protection film 13 composed of resin is formed on at least the upper surface of the resistor 11 between the conductors 14 so that its upper surface is located lower than the upper surface of the conductor 14. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、各種電子機器の電流値検出等に使用されるチップ型抵抗器の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method for manufacturing a chip resistor used for detecting a current value of various electronic devices.

従来のこの種のチップ型抵抗器は、図5に示すように、金属板で構成された抵抗体1の下面の両端部にめっきにより一対の電極2を形成した後、抵抗体1の下面の一対の電極2間と抵抗体1の上面に樹脂からなる保護膜3を形成するようにしていた。   As shown in FIG. 5, a conventional chip resistor of this type is formed by forming a pair of electrodes 2 on both ends of a lower surface of a resistor 1 made of a metal plate by plating, and then forming a lower surface of the resistor 1. A protective film 3 made of resin is formed between the pair of electrodes 2 and on the upper surface of the resistor 1.

なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開2007−49207号公報
As prior art document information relating to the invention of this application, for example, Patent Document 1 is known.
JP 2007-49207 A

上記した従来のチップ型抵抗器の製造方法においては、抵抗体1の上面に樹脂からなる保護膜3を形成する際に、樹脂が抵抗体1の両端部方向に流れ出して、抵抗体1の端面や一対の電極2の端面を樹脂が覆ってしまう場合があり、これにより、実装不良が発生するという課題を有していた。   In the above-described conventional chip resistor manufacturing method, when the protective film 3 made of resin is formed on the upper surface of the resistor 1, the resin flows out toward both ends of the resistor 1, and the end surface of the resistor 1 In some cases, the end surfaces of the pair of electrodes 2 may be covered with resin, thereby causing a problem of mounting failure.

本発明は上記従来の課題を解決するもので、実装不良の発生を低減させることができるチップ型抵抗器の製造方法を提供することを目的とするものである。   The present invention solves the above-described conventional problems, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a chip resistor that can reduce the occurrence of mounting defects.

上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。   In order to achieve the above object, the present invention has the following configuration.

本発明の請求項1に記載の発明は、導電体に空間部を形成する工程と、前記導電体の空間部を挟んで互いに対向する部分に、導電体の上面に開口する凹部を形成する工程と、前記凹部の下面と側壁の少なくとも一方にその両端部が接続されるように前記導電体に金属板からなる抵抗体を接合する工程とを備え、前記凹部の深さを前記抵抗体の厚みより大きくし、かつ前記導電体間において前記抵抗体の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜をその上面が導電体の上面より下方に位置するように形成したもので、この製造方法によれば、前記凹部の深さを前記抵抗体の厚みより大きくし、かつ前記導電体間において抵抗体の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜をその上面が導電体の上面より下方に位置するように形成しているため、抵抗体の上面に樹脂からなる保護膜を形成する際における樹脂の流出も導電体の凹部内にとどめることができ、これにより、前記樹脂の導電体上面から外部への流出ということはなくなるため、前記樹脂が抵抗体の端面や導電体の端面を覆うということはなくなり、これにより、実装不良の発生を低減させることができるという作用効果が得られるものである。   The invention according to claim 1 of the present invention is a step of forming a space portion in the conductor and a step of forming a recess opening on the upper surface of the conductor in a portion facing each other across the space portion of the conductor. And bonding a resistor made of a metal plate to the conductor so that both ends thereof are connected to at least one of the lower surface and the side wall of the recess, and the depth of the recess is determined by the thickness of the resistor. A protective film made of a resin is formed on the at least upper surface of the resistor between the conductors so that the upper surface is located below the upper surface of the conductor. According to this manufacturing method, The depth of the recess is made larger than the thickness of the resistor, and a protective film made of resin is formed between the conductors on at least the upper surface of the resistor so that the upper surface is located below the upper surface of the conductor. Because of the resistor When the protective film made of resin is formed on the surface, the outflow of the resin can also be kept in the concave portion of the conductor, thereby preventing the resin from flowing out from the upper surface of the conductor. It does not cover the end face of the resistor or the end face of the conductor, and this provides the effect of reducing the occurrence of mounting defects.

本発明の請求項2に記載の発明は、特に、少なくとも導電体と抵抗体とを接合する前に、前記導電体にすずめっきを施したもので、この製造方法によれば、個片状に分割してから個々に実装のためのめっきをする必要がないため、生産性を向上させることができるという作用効果が得られるものである。   According to the second aspect of the present invention, in particular, the conductor is tin-plated before joining at least the conductor and the resistor. Since it is not necessary to individually perform the plating for mounting after the division, it is possible to obtain the operational effect that the productivity can be improved.

本発明の請求項3に記載の発明は、特に、少なくとも導電体と抵抗体とを接合する前に、前記導電体の少なくとも前記抵抗体と接する面にすず、金、銀、銅、ニッケルのいずれかからなるめっきを施し、その後、前記導電体と抵抗体とを加熱することにより接合したもので、この製造方法によれば、加熱により溶融したすず、金、銀、銅またはニッケルによって導電体と抵抗体とを強固に接合できるという作用効果が得られるものである。   According to the third aspect of the present invention, in particular, before joining at least the conductor and the resistor, at least the surface of the conductor in contact with the resistor may be tin, gold, silver, copper, or nickel. In this method, the conductor and the resistor are joined by heating, and according to this manufacturing method, the conductor is made of tin, gold, silver, copper, or nickel melted by heating. The effect that the resistor can be firmly bonded is obtained.

本発明の請求項4に記載の発明は、特に、導電体としてシート状の金属プレートを使用し、かつこの金属プレートを貫通するように打ち抜くことにより空間部を形成したもので、この製造方法によれば、複数個の抵抗器を同時に得ることができるため、生産性を向上させることができるという作用効果が得られるものである。   In the invention according to claim 4 of the present invention, in particular, a sheet-like metal plate is used as a conductor, and a space portion is formed by punching through the metal plate. According to this, since a plurality of resistors can be obtained at the same time, an operational effect that productivity can be improved can be obtained.

本発明の請求項5に記載の発明は、特に、抵抗体の端部の周囲に位置して金属プレートに空間部と連続する切欠部を形成したもので、この製造方法によれば、抵抗体の一方の端部を、空間部と連続する切欠部によって、他の抵抗体と分離できるため、容易にトリミングができるという作用効果が得られるものである。   According to the fifth aspect of the present invention, in particular, the metal plate is formed with a notch portion that is located around the end portion of the resistor and is continuous with the space portion. Since one of the end portions can be separated from other resistors by a notch portion continuous with the space portion, an effect that trimming can be easily performed is obtained.

以上のように本発明のチップ型抵抗器の製造方法は、導電体の上面に開口するように形成された凹部の深さを抵抗体の厚みより大きくし、かつ前記導電体間において抵抗体の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜をその上面が導電体の上面より下方に位置するように形成しているため、抵抗体の上面に樹脂からなる保護膜を形成する際における樹脂の流出も導電体の凹部内にとどめることができ、これにより、前記樹脂の導電体上面から外部への流出ということはなくなるため、前記樹脂が抵抗体の端面や導電体の端面を覆うということはなくなり、この結果、実装不良の発生を低減させることができるという優れた効果を奏するものである。   As described above, in the method for manufacturing a chip resistor according to the present invention, the depth of the recess formed so as to open on the upper surface of the conductor is larger than the thickness of the resistor, and the resistor is formed between the conductors. Since the protective film made of resin is formed on at least the upper surface so that the upper surface is located below the upper surface of the conductor, the resin flows out when the protective film made of resin is formed on the upper surface of the resistor. As a result, the resin does not flow out from the upper surface of the conductor to the outside, so that the resin does not cover the end face of the resistor or the end face of the conductor. Thus, it is possible to reduce the occurrence of mounting defects.

以下、本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器について図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, a chip resistor according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の分解斜視図である。   FIG. 1 is an exploded perspective view of a chip resistor according to an embodiment of the present invention.

本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器は、図1に示すように、金属板で構成された抵抗体11と、この抵抗体11の所定位置に形成された抵抗値調整用のトリミング溝11aと、前記抵抗体11の下面溝部から端面にかけて連続して接するようにL字状に形成された一対の電極12と、前記抵抗体11の下面と上面11bにそれぞれ形成された保護膜13とを備えているものである。   As shown in FIG. 1, a chip resistor according to an embodiment of the present invention includes a resistor 11 formed of a metal plate, and a trimming groove for adjusting a resistance value formed at a predetermined position of the resistor 11. 11a, a pair of electrodes 12 formed in an L shape so as to continuously contact from the lower surface groove portion to the end surface of the resistor 11, and a protective film 13 formed on the lower surface and the upper surface 11b of the resistor 11, respectively. It is equipped with.

また、前記抵抗体11の上面11bは一対の電極12の最上面12aより低くなっており、そしてこの抵抗体11の上面11bにおける上面11bより上方に突出した一対の電極12間に位置する部分に樹脂からなる保護膜13が形成されるものである。なお、この保護膜13は、少なくとも抵抗体11の上面11bにだけは形成する必要があるが、これ以外の例えば、抵抗体11の下面における一対の電極12間に位置する部分と抵抗体11の両側面にも形成してもよい。   Further, the upper surface 11b of the resistor 11 is lower than the uppermost surfaces 12a of the pair of electrodes 12, and a portion of the upper surface 11b of the resistor 11 located between the pair of electrodes 12 protruding upward from the upper surface 11b. A protective film 13 made of resin is formed. The protective film 13 needs to be formed at least only on the upper surface 11 b of the resistor 11, but, for example, a portion located between the pair of electrodes 12 on the lower surface of the resistor 11 and the resistor 11. You may form also on both sides | surfaces.

上記構成において、前記抵抗体11は、ニクロム、銅ニッケル、マンガニン等からなる金属板で構成され、その長さは0.4〜15mm、幅は0.15〜10mm、厚みは50〜1000μmとなっている。また、抵抗体11の中央部には抵抗値調整用のトリミング溝11aが抵抗体11の一方の側面から他方の側面に向かって設けられている。なお、このトリミング溝11aは、要望される抵抗値によっては形成しなくてもよいし、あるいは複数本形成してもよい。   In the above configuration, the resistor 11 is made of a metal plate made of nichrome, copper nickel, manganin or the like, and has a length of 0.4 to 15 mm, a width of 0.15 to 10 mm, and a thickness of 50 to 1000 μm. ing. In addition, a trimming groove 11 a for adjusting a resistance value is provided in the central portion of the resistor 11 from one side surface to the other side surface of the resistor 11. The trimming grooves 11a may not be formed depending on a desired resistance value, or a plurality of trimming grooves 11a may be formed.

また、前記一対の電極12は、抵抗体11とは別体で、この抵抗体11より導電率の低い銅等の金属で構成されているもので、その長さは抵抗体11の長さの1/10〜1/3となっている。そしてまた、この一対の電極12は、前記抵抗体11の下面端部から端面にかけて接するようにL字状に構成されている。さらに、この一対の電極12の幅は抵抗体11の幅より広く、また、抵抗体11の端面に位置する一対の電極12の最上面12aは抵抗体11の上面11bより高くなっているもので、一対の電極12の一部が抵抗体11の上面11bより上方に突出したような配置になっている。   The pair of electrodes 12 is separate from the resistor 11 and is made of a metal such as copper having a conductivity lower than that of the resistor 11. The length of the pair of electrodes 12 is the length of the resistor 11. 1/10 to 1/3. Further, the pair of electrodes 12 is configured in an L shape so as to be in contact from the lower surface end to the end surface of the resistor 11. Further, the width of the pair of electrodes 12 is wider than the width of the resistor 11, and the uppermost surfaces 12a of the pair of electrodes 12 located on the end surfaces of the resistor 11 are higher than the upper surface 11b of the resistor 11. In this arrangement, a part of the pair of electrodes 12 protrudes upward from the upper surface 11 b of the resistor 11.

なお、前記一対の電極12の周囲にはすずめっきが施されているもので、これにより、チップ型抵抗器は基板に実装されるものである。なお、このすずめっきと一対の電極12との間には必要に応じてニッケルめっき、銅めっき、金めっきを形成してもよい。   The pair of electrodes 12 are tin-plated so that the chip resistor is mounted on the substrate. In addition, you may form nickel plating, copper plating, and gold plating between this tin plating and a pair of electrodes 12 as needed.

また、前記保護膜13は、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等の絶縁材からなり、抵抗体11の下面における一対の電極12間、抵抗体11の上面11bにおける突出した一対の電極12間および抵抗体11の側面に形成されているものである。   The protective film 13 is made of an insulating material such as an epoxy resin or a polyimide resin, and is between the pair of electrodes 12 on the lower surface of the resistor 11, between the protruding pair of electrodes 12 on the upper surface 11 b of the resistor 11, and the resistor 11. It is formed on the side surface.

次に、本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の製造方法について、図2(a)〜(f)および図3(a)〜(c)に基づいて説明する。   Next, a method for manufacturing a chip resistor according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 (a) to 2 (f) and FIGS. 3 (a) to 3 (c).

まず、電極12の材料となる導電体14として銅からなる1枚の大きなシート状の金属プレートを用意する。この金属プレートは複数の電極12に対応するものである。   First, a large sheet-like metal plate made of copper is prepared as the conductor 14 that is the material of the electrode 12. This metal plate corresponds to the plurality of electrodes 12.

次に、図2(a)に示すように、この金属プレートに打ち抜き加工、プレス加工等を施すことにより、金属プレート(導電体14)を貫通する複数の空間部15を形成する。なお、図2においては、説明を簡単にするために空間部15は2つのみ示している。   Next, as shown in FIG. 2A, the metal plate is punched, pressed, or the like, thereby forming a plurality of space portions 15 penetrating the metal plate (conductor 14). In FIG. 2, only two space portions 15 are shown for ease of explanation.

また、前記導電体14としては、2本の金属帯を一定間隔で並べてその間が空間部15となるようにしたものを用いてもよいが、本発明の一実施の形態のように、金属プレートを使用した場合は、複数個のチップ型抵抗器を同時に得ることができるため、生産性を向上させることができ、好ましい。この後、導電体14の全表面にすずめっきを形成する。なお、このすずめっきの形成は、導電体14に凹部16を形成した後でもよいものである。   Further, the conductor 14 may be one in which two metal bands are arranged at regular intervals so that a space 15 is formed between them. However, as in the embodiment of the present invention, a metal plate is used. When is used, a plurality of chip resistors can be obtained at the same time, which can improve productivity and is preferable. Thereafter, tin plating is formed on the entire surface of the conductor 14. The tin plating may be performed after the concave portion 16 is formed in the conductor 14.

次に、図2(b)に示すように、導電体14の空間部15を挟んで互いに対向する部分に、切削加工、プレス加工等を施すことにより、導電体14の上面に開口する凹部16を形成する。この図2(b)におけるA−A線断面図は図4に示す通りとなっているもので、この図4に示されているように、凹部16を形成することによって、導電体14の空間部15を介して向き合う部分の厚みaは、他の部分の厚みbより薄くなっているものである。   Next, as shown in FIG. 2B, the recesses 16 opened on the upper surface of the conductor 14 are formed by performing cutting, pressing, or the like on portions facing each other across the space 15 of the conductor 14. Form. The sectional view taken along the line AA in FIG. 2B is as shown in FIG. 4, and as shown in FIG. The thickness a of the part facing through the part 15 is thinner than the thickness b of the other part.

次に、図2(c)に示すように、ニクロム、銅ニッケル、マンガニン等からなる帯状金属板17に切断加工等を施すことにより、板状の抵抗体11を複数形成する。なお、この場合、抵抗体11の幅は凹部16の幅より狭くする。また、抵抗体11の長さは図4における凹部16の互いに最も離間した部分間の距離lと略同一にし、かつその厚みは凹部16の深さhより小さくする。   Next, as shown in FIG. 2C, a plurality of plate-like resistors 11 are formed by cutting the strip-like metal plate 17 made of nichrome, copper nickel, manganin or the like. In this case, the width of the resistor 11 is made smaller than the width of the recess 16. Further, the length of the resistor 11 is made substantially the same as the distance l between the most distant portions of the recess 16 in FIG. 4 and the thickness thereof is made smaller than the depth h of the recess 16.

次に、図2(d)に示すように、抵抗体11の両端部11c,11dを凹部16に嵌合するようにして、抵抗体11を導電体14間に架橋する。このとき、抵抗体11の両端部11c,11dは、凹部16の下面16aと、互いに対向する凹部16の側壁16bに接するようにする。なお、図2において、1つの空間部15に形成される抵抗体11は1つとなっているが、複数であってもよい。   Next, as shown in FIG. 2D, the resistor 11 is bridged between the conductors 14 so that both end portions 11 c and 11 d of the resistor 11 are fitted in the recess 16. At this time, both ends 11c and 11d of the resistor 11 are in contact with the lower surface 16a of the recess 16 and the side wall 16b of the recess 16 facing each other. In FIG. 2, one resistor 11 is formed in one space 15, but a plurality of resistors 11 may be provided.

次に、抵抗体11の両端部11c,11dと導電体14を接合する。この抵抗体11と導電体14の接合は、抵抗体11と導電体14を加熱するような方法、例えばレーザ溶接、超音波溶接、電気溶接等で行う。このとき、導電体14の周囲の全面に形成されたすずめっきが加熱により一時的に溶融するため、抵抗体11と導電体14はこのすずによっても接合でき、これにより、両者を強固に接続することができる。なお、抵抗体11と導電体14とを強固に接合する場合には、すずめっきではなく、銀めっき、金めっき、銅めっき、またはニッケルめっきを導電体14に形成するようにしてもよいものである。また、レーザ溶接では、特殊な治具を使用することがないため、他の方法よりも生産性の点では有利である。さらにまた、抵抗体11と導電体14との接合位置は、凹部16の下面16aと側壁16bのいずれか一方でもよい。   Next, both ends 11c and 11d of the resistor 11 and the conductor 14 are joined. The joining of the resistor 11 and the conductor 14 is performed by a method in which the resistor 11 and the conductor 14 are heated, for example, laser welding, ultrasonic welding, electric welding or the like. At this time, since the tin plating formed on the entire surface around the conductor 14 is temporarily melted by heating, the resistor 11 and the conductor 14 can be joined also by this tin, thereby firmly connecting the two. be able to. In the case where the resistor 11 and the conductor 14 are firmly joined, silver plating, gold plating, copper plating, or nickel plating may be formed on the conductor 14 instead of tin plating. is there. Laser welding is advantageous in terms of productivity over other methods because it does not use any special jig. Furthermore, the joining position of the resistor 11 and the conductor 14 may be either the lower surface 16a of the recess 16 or the side wall 16b.

次に、図2(e)に示すように、導電体14と接合された抵抗体11の両端部11c,11dのうち、一方の端部11cの周囲に位置して導電体14に打ち抜き加工、プレス加工等を施すことにより、空間部15と連続する切欠部18を形成する。すなわち、抵抗体11の他方の端部11dにおける抵抗体11と導電体14とが接合された部分以外の周囲は、導電体14が無い状態になっている。   Next, as shown in FIG. 2 (e), of the both ends 11c and 11d of the resistor 11 joined to the conductor 14, the conductor 14 is punched and positioned around one end 11c. By performing press working or the like, the notch 18 that is continuous with the space 15 is formed. That is, the periphery of the other end portion 11d of the resistor 11 other than the portion where the resistor 11 and the conductor 14 are joined is in a state without the conductor 14.

次に、図2(f)に示すように、抵抗値を測定しながらレーザ照射またはプレス加工等を行うことにより、抵抗体11の所定の位置の一方の側面から他方の側面に向かうトリミング溝11aを形成して抵抗値調整を行う。   Next, as shown in FIG. 2 (f), by performing laser irradiation or pressing while measuring the resistance value, the trimming groove 11a from one side surface to the other side surface at a predetermined position of the resistor 11 is performed. To adjust the resistance value.

このとき、前述したように抵抗体11の一方の端部11dにおける抵抗体11と導電体14とが接合された部分以外の周囲は、導電体14が無い状態になっているため、抵抗体11の一方の端部11cに対応する他の抵抗体の一方の端部とは、切欠部18によって分離されることになり、これにより、抵抗値測定用のプローブを抵抗体11の両端部11c,11dに当接させたとき、他の抵抗体の影響を受けることなく正確な抵抗値を測定できるため、容易にトリミングを行うことができる。すなわち、切欠部18がなくて他の抵抗体と分離されていない場合は、当該抵抗体11は他の抵抗体と並列に接続されることになるため、抵抗値測定用のプローブをこの抵抗体11の両端部11c,11dに当接させて抵抗値を測定しても正確な抵抗値を測定することはできない。   At this time, as described above, the periphery of the one end 11d of the resistor 11 other than the portion where the resistor 11 and the conductor 14 are joined is in a state where the conductor 14 is not present. The one end portion of the other resistor corresponding to the one end portion 11c of the resistor 11 is separated by the notch portion 18, whereby the probe for measuring the resistance value is connected to the both end portions 11c, When it is brought into contact with 11d, an accurate resistance value can be measured without being influenced by other resistors, so that trimming can be easily performed. That is, when there is no notch 18 and is not separated from other resistors, the resistor 11 is connected in parallel with the other resistors. Even if the resistance value is measured by contacting both end portions 11c and 11d of 11, the accurate resistance value cannot be measured.

次に、図3(a)に示すように、抵抗体11の一方の端部11dの周囲の導電体14を切断することにより、個片状のチップ型抵抗器を得る。このとき、導電体14は個片状のチップ型抵抗器の一対の電極12となる。なお、前述したトリミングは個片状に分割してから行うようにしてもよいものである。   Next, as shown in FIG. 3A, by cutting the conductor 14 around one end portion 11d of the resistor 11, a chip-shaped chip resistor is obtained. At this time, the conductor 14 becomes a pair of electrodes 12 of a piece-shaped chip resistor. The trimming described above may be performed after being divided into individual pieces.

次に、図3(b)に示すように、複数の抵抗体11の上面11bと下面にエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等の絶縁材からなるフィルム19を貼り合わせる。このとき、このフィルム19は抵抗体11の下面における一対の電極12間に位置する部分と抵抗体11の上面11bにおける上面11bより上方に突出した一対の電極12間に形成する。   Next, as shown in FIG. 3B, a film 19 made of an insulating material such as an epoxy resin or a polyimide resin is bonded to the upper surface 11 b and the lower surface of the plurality of resistors 11. At this time, the film 19 is formed between a portion located between the pair of electrodes 12 on the lower surface of the resistor 11 and a pair of electrodes 12 protruding above the upper surface 11b of the upper surface 11b of the resistor 11.

最後に、図3(c)に示すように、フィルム19を個々の抵抗体11に対応するように切断して、抵抗体11に保護膜13を形成する。このとき、保護膜13は抵抗体11の両側面にも形成される。また、この保護膜13は図4に示す凹部内においてその上面が導電体14の上面より下方に位置するように形成されるものである。   Finally, as shown in FIG. 3C, the film 19 is cut so as to correspond to the individual resistors 11 to form the protective film 13 on the resistors 11. At this time, the protective film 13 is also formed on both side surfaces of the resistor 11. The protective film 13 is formed such that the upper surface thereof is located below the upper surface of the conductor 14 in the recess shown in FIG.

上記した本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の製造方法においては、導電体14の上面に開口するように形成された凹部16の深さを抵抗体11の厚みより大きくし、かつ前記導電体14(電極12)間において抵抗体11の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜13をその上面が導電体14の上面より下方に位置するように形成しているため、抵抗体11の上面に樹脂からなる保護膜13を形成する際における樹脂の流出も導電体14の凹部16内にとどめることができ、これにより、前記樹脂の導電体14上面から外部への流出ということはなくなるため、前記樹脂が抵抗体11の端面や導電体14の端面を覆うということはなくなり、これにより、実装不良の発生を低減させることができるという効果が得られるものである。   In the above-described chip resistor manufacturing method according to the embodiment of the present invention, the depth of the recess 16 formed to open on the upper surface of the conductor 14 is made larger than the thickness of the resistor 11, and Since the protective film 13 made of resin is formed on at least the upper surface of the resistor 11 between the conductors 14 (electrodes 12) so that the upper surface is positioned below the upper surface of the conductor 14, the upper surface of the resistor 11 The outflow of the resin when forming the protective film 13 made of resin can also be kept in the concave portion 16 of the conductor 14, thereby preventing the resin from flowing out from the upper surface of the conductor 14. The resin does not cover the end face of the resistor 11 or the end face of the conductor 14, thereby obtaining the effect that the occurrence of mounting defects can be reduced.

また、前述したように、抵抗体11の下面に位置する電極12を抵抗体11の端面において抵抗体11の上面11bより上に延ばすことにより、抵抗器の端面に位置する電極12の面積を広くすることができるため、基板実装の際のフィレットを大きくすることができ、これにより、実装不良を低減させることができる。   Further, as described above, by extending the electrode 12 positioned on the lower surface of the resistor 11 above the upper surface 11b of the resistor 11 at the end surface of the resistor 11, the area of the electrode 12 positioned on the end surface of the resistor is increased. Therefore, the fillet at the time of board mounting can be increased, thereby reducing mounting defects.

そしてまた、前記一対の電極12は抵抗体11の下面端部から端面にかけて接するようにL字状に構成されているため、電極12と抵抗体11との接触面積を広くすることができ、これにより、電極12と抵抗体11との接合強度を強くすることができる。   In addition, since the pair of electrodes 12 are configured in an L shape so as to be in contact with the end surface from the lower end of the resistor 11, the contact area between the electrode 12 and the resistor 11 can be increased. As a result, the bonding strength between the electrode 12 and the resistor 11 can be increased.

さらに、上記した本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の製造方法においては、電極12を個々にL字状に加工するのではなく、連続的にL字状に加工するようにしているため、生産性を悪化させることはない。   Further, in the above-described chip resistor manufacturing method according to the embodiment of the present invention, the electrodes 12 are not processed individually into an L shape, but are processed into an L shape continuously. Therefore, productivity does not deteriorate.

さらにまた、前記導電体14と抵抗体11とを接合する前に、導電体14にすずめっきを施しているため、個片状に分割してから個々に実装のためのめっきをする必要はなくなり、これにより、生産性を向上させることができるものである。   Furthermore, since the conductor 14 is tin-plated before the conductor 14 and the resistor 11 are joined, it is not necessary to divide the conductor 14 into individual pieces and individually perform plating for mounting. Thus, productivity can be improved.

本発明に係るチップ型抵抗器の製造方法は、実装不良の発生を低減させることができるという効果を有するものであり、特に各種電子機器の電流値検出等に使用されるチップ型抵抗器等に適用することにより有用となるものである。   The chip resistor manufacturing method according to the present invention has the effect of reducing the occurrence of mounting defects, and is particularly suitable for chip resistors used for detecting the current value of various electronic devices. It becomes useful by applying.

本発明の一実施の形態におけるチップ型抵抗器の分解斜視図The exploded perspective view of the chip type resistor in one embodiment of the present invention (a)〜(f)同チップ型抵抗器の製造方法を示す上面図(A)-(f) Top view which shows the manufacturing method of the same chip type resistor (a)〜(c)同チップ型抵抗器の製造方法を示す上面図(A)-(c) Top view which shows the manufacturing method of the same chip type resistor 図2(b)のA−A線断面図A-A line sectional view of Drawing 2 (b). 従来のチップ型抵抗器の斜視図Perspective view of a conventional chip resistor

符号の説明Explanation of symbols

11 抵抗体
11b 抵抗体の上面
11c,11d 抵抗体の両端部
12 一対の電極
13 保護膜
14 導電体
15 空間部
16 凹部
16a 凹部の下面
16b 凹部の側壁
18 切欠部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Resistor 11b Upper surface of resistor 11c, 11d Both ends of resistor 12 Pair of electrodes 13 Protective film 14 Conductor 15 Space portion 16 Recess 16a Lower surface of recess 16b Side wall of recess 18 Notch

Claims (5)

導電体に空間部を形成する工程と、前記導電体の空間部を挟んで互いに対向する部分に、導電体の上面に開口する凹部を形成する工程と、前記凹部の下面と側壁の少なくとも一方にその両端部が接続されるように前記導電体に金属板からなる抵抗体を接合する工程とを備え、前記凹部の深さを前記抵抗体の厚みより大きくし、かつ前記導電体間において前記抵抗体の少なくとも上面に樹脂からなる保護膜をその上面が導電体の上面より下方に位置するように形成したチップ型抵抗器の製造方法。 A step of forming a space in the conductor; a step of forming a recess opening in the upper surface of the conductor in a portion facing each other across the space of the conductor; and at least one of a lower surface and a side wall of the recess Bonding a resistor made of a metal plate to the conductor so that both ends thereof are connected, the depth of the recess is made larger than the thickness of the resistor, and the resistance between the conductors A method for manufacturing a chip resistor, wherein a protective film made of a resin is formed on at least an upper surface of a body so that the upper surface is located below the upper surface of the conductor. 少なくとも導電体と抵抗体とを接合する前に、前記導電体にすずめっきを施した請求項1記載のチップ型抵抗器の製造方法。 2. The method of manufacturing a chip resistor according to claim 1, wherein at least the conductor is tin-plated before joining the conductor and the resistor. 少なくとも導電体と抵抗体とを接合する前に、前記導電体の少なくとも前記抵抗体と接する面にすず、金、銀、銅、ニッケルのいずれかからなるめっきを施し、その後、前記導電体と抵抗体とを加熱することにより接合した請求項1記載のチップ型抵抗器の製造方法。 Before joining at least the conductor and the resistor, tin is plated on the surface of the conductor that is in contact with the resistor, and is made of gold, silver, copper, or nickel, and then the conductor and the resistor are joined. The manufacturing method of the chip-type resistor of Claim 1 joined by heating a body. 導電体としてシート状の金属プレートを使用し、かつこの金属プレートを貫通するように打ち抜くことにより空間部を形成した請求項1記載のチップ型抵抗器の製造方法。 2. The method of manufacturing a chip resistor according to claim 1, wherein a sheet metal plate is used as the conductor, and the space is formed by punching through the metal plate. 抵抗体の一方の端部の周囲に位置して金属プレートに空間部と連続する切欠部を形成した請求項4記載のチップ型抵抗器の製造方法。 The chip resistor manufacturing method according to claim 4, wherein a notch portion is formed in the metal plate and is continuous with the space portion and is located around one end portion of the resistor.
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