JP2009015964A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009015964A JP2009015964A JP2007176864A JP2007176864A JP2009015964A JP 2009015964 A JP2009015964 A JP 2009015964A JP 2007176864 A JP2007176864 A JP 2007176864A JP 2007176864 A JP2007176864 A JP 2007176864A JP 2009015964 A JP2009015964 A JP 2009015964A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- timing adjustment
- input
- timing
- semiconductor integrated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Memory System (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
【課題】 様々なテストパターンでの入出力タイミング調整が可能な半導体集積回路装置を提供することにある。
【解決手段】 制御用LSIのテストパターンをメモリLSIに期待値データとして記憶し、入出力タイミング調整時には、入力データとメモリLSI内の期待値データを比較判定することで、共通の判定回路で全てのテストパターンに対応する。
【選択図】 図1
【解決手段】 制御用LSIのテストパターンをメモリLSIに期待値データとして記憶し、入出力タイミング調整時には、入力データとメモリLSI内の期待値データを比較判定することで、共通の判定回路で全てのテストパターンに対応する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、半導体集積回路装置に関し、特にメモリを含む半導体集積回路装置での入出力タイミング調整方法に関する。
プロセッサ等の制御用LSIとメモリLSIの間のデータ転送は、動作周波数の向上に伴い、データ転送のタイミング幅が狭くなり正しいデータ転送が困難になっている。このため、動作周波数の高いLSI間では、装置起動時にデータ転送のテストを実施し、テスト結果により可変ディレイ等により、入出力タイミング調整を行なう。これにより、正しいデータ転送が行なえるようになっている。
特許文献1は、データ転送システムについて記載された文献であり、特に図1には、受信側装置でのテストパターン判定回路の例が示されている。
特許文献1では、特許文献1の図1に示されているように、送信側装置のテストパターンレジスタ23と受信側装置のテストパターンレジスタ38とが設けられ、それぞれのレジスタに同一のテストパターンがセットされた後、テストパターンレジスタ23から送信されたテストパターンと、テストパターンレジスタ38にセットされたテストパターンとを受信側装置内の比較回路等を用いることにより、入出力タイミング調整を行なっている。
本願発明者等は本願に先立って、LSIの入出力タイミング調整の技術について検討を行った。
特許文献1の図1のような構成では、送信側装置と受信側装置とのそれぞれに8ビットのテストパターンをセットするテストパターンレジスタが設けられている。このような構成では、送信側装置と受信側装置との両方に同一のビット数をセットするためのレジスタが必要なため、例えば、送信側装置のテストパターン用レジスタの仕様が限られてしまう。一方、予め例えば12ビット、20ビットのようなテストパターンにも対応できるように工夫を施すと、受信側装置内にそれぞれ12ビット用のレジスタと20ビット用のレジスタとを別途新たに設ける必要があり、テストパターン用のレジスタを複数内蔵させる必要がある分、チップ面積が増加してしまうという課題がある。
代表的な発明を示せば以下の通りである。即ち、入力端子と、入力端子に接続されたタイミング調整回路と、タイミング調整回路に接続されたメモリアレイと、タイミング調整回路から出力される第1データが入力されるように接続され、かつ、メモリアレイに格納されたデータを読み出す際にメモリアレイから出力される第2データが入力されるように接続された比較回路と、比較回路から出力された信号によりタイミング調整回路のタイミング調整を行なうための第1制御回路と、を備えるものである。
また、別の代表的な発明を示せば、第1入力端子と、第2入力端子と、第1入力端子に接続された第1タイミング調整回路と、第2入力端子に接続された第2タイミング調整回路と、第1タイミング調整回路と第2タイミング調整回路に接続されたメモリアレイと、第1タイミング調整回路と第2タイミング調整回路のタイミング調整を行なうための制御回路と、を備え、第1入力端子および第2入力端子に第1転送レートで第1データを入力することにより、第1タイミング調整回路および第2タイミング調整回路の少なくとも一方のディレイ量を調節する第1タイミング調整を行い、第1入力端子および第2入力端子の少なくとも一方に第1転送レートよりも速い第2転送レートで第2データを入力することにより、第1タイミング調整回路および第2タイミング調整回路のディレイ量を調節する第2タイミング調整が行なわれるものである。
上記手段による発明の代表的な効果は半導体チップの面積低減である。
以下、本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明する。同一の符号を用いた場合には、特に言及がない限り、同一のものとする。
図1に、本発明を適用した半導体集積回路装置の一例であるメモリLSI(半導体集積回路装置)の第一の実施例を示す。本メモリLSI(1)は、コマンド(com.)、アドレス(add.)、データ(data)をそれぞれ入力するための入力端子2、それぞれの信号の入力部3、メモリアレイ(MA)4、データの出力部5と入出力タイミング調整用の書き込みデータレジスタ(DiR)6、比較部(比較回路)7、制御部(制御回路)8、自動読み出し制御部(制御回路)9によって構成されている。なお、本実施例では、1つのメモリLSI内に全ての回路を内蔵しているが、DIMM(Dual In-line Memory Module)等の複数のLSIで構成されたメモリシステムでも同様の効果が得られる。
通常動作時には、制御用LSI(10)から送られたコマンド、アドレスを入力端子2を介して入力部3で取り込み、リード/ライト等の動作を判断する。ライト時には、制御用LSI(10)から送られたデータを入力部3で取り込み、メモリアレイ4に書き込む。リード時には、メモリアレイ4から読み出したデータを出力部5から出力端子11を介して制御用LSI(10)に送る。
入力タイミング調整時には、コマンド(com.)、アドレス(add.)、データ(data)の入力部3では、入力データのタイミング調整とデータの取り込みを行う。メモリアレイ4には、期待値やテストパターンを記憶する。なお、本明細書において、期待値とは外部から入力されるテストパターンとの比較を行なうための基準となるテストパターン列を言う。期待値やテストパターンの例としては、8ビットの場合は、‘00110101’、12ビットの場合は、‘000111010101’が挙げられる。また、入力データ(D) は図1では一つであるがデータ1からn(nは整数)までを入力することができ、図では省略されているが各データ毎に入力端子があり入力部3に接続されている。データ出力部5は、期待値データの確認のための読み出しや、メモリLSI(1)から制御用LSI(10)への転送タイミング調整用のテストパターン出力を行う。入出力タイミング調整用の書き込みデータレジスタ(DiR)6は外部から入力されたデータを保持するためのレジスタであり、比較部(比較回路)7は書込みレジスタに保持されたデータとメモリアレイに格納された期待値を読み出したデータとを比較し、比較した結果を出力する回路である。制御部8は、比較部7に入力されたテストパターンデータとメモリアレイ4に事前に格納されたテストパターンデータと同一の期待値データの比較を行なった結果を受け入力部にあるタイミング調整回路のタイミング制御を行う回路である。自動読み出し制御部9は、期待値データを格納したメモリアレイ4から期待値データを自動的に、又は、特定のタイミングで読み出せるように制御を行う回路である。
本実施例の図1の構成で特徴的な点は、メモリアレイ4に格納したデータを読み出す際に、そのデータが比較部7に入力されるようにメモリアレイ4の出力部と比較部の入力部とが接続されている構成になっている点である。このようにすることで、メモリアレイに格納したテストパターンである期待値と外部から入力部3を介してメモリLSIに入力されるテストパターンデータとの比較をすることができるため、テストパターンデータと期待値とを用いて比較部7でタイミング比較をすることができる。そして、比較部7により比較した結果を制御部8側へ出力することで、制御部8がその結果に応じて入力部3内のタイミング調整回路のディレイ量を調節する制御を行なう。これにより、良好なタイミング調整を行なうことが可能となる。
図2に、図1におけるコマンド、アドレス、データの入力部3の回路例を示す。図2では、代表的にデータの入力部のみ示すが、他のコマンド、アドレスにおける入力部も同じ構成である。入力部は、入力端子に入出力回路を介して接続された入力タイミング調整用のタイミング調整回路である可変ディレイヤ20と、入力データを高速なLSI間転送速度から低速なLSI内処理速度に変換するための公知のシリアル−パラレル変換回路21と、タイミング制御回路のディレイ量を調整するためのレジスタ22で構成されている。タイミング制御回路は、レジスタ22の設定値を変更することでディレイ量を調整するとこができるようになっている。この例では、クロック信号(CLK)のライズエッジとフォールエッジの両方を用い、1サイクルに2データを受け取る。ライズエッジで受け取ったデータは、フォールエッジで取り直し、内部制御を容易にするためにタイミングを揃えている。入力データをクロック信号で正しく受け取るために、レジスタ22の設定値を変更し、可変ディレイヤのディレイ量を変更することで、入力タイミングを調整することができる。
図3に、図1におけるデータの出力部5の回路例を示す。出力部は、出力端子11に入出力回路を介して接続された出力データを低速なLSI内処理速度から高速なLSI間転送速度に変換するための公知のパラレル−シリアル変換回路で構成されている。この例では、クロック信号(CLK)でセレクタを切り替えることで、1サイクルに2データを出力することができる。
図4に、図1における比較部(比較回路)7の回路の一例を示す。比較部は、比較回路部31と保持回路部32とで構成されている。比較回路部31では書き込みデータと期待値をメモリアレイから読み出した読み出しデータとが入力される構成になっており、書き込みデータと読み出しデータとを比較回路部31で比較する。この例では、これら2データを同時に比較する。一方、保持回路部32では比較回路部31で比較した結果を保持することができる構成になっている。同時に入力されたデータ列の内、いずれか一つでも期待値と異なった場合には、不一致結果が保持回路部32に送られる。保持回路部32では、比較期間中に一度でも不一致となった場合に、不一致結果を保持する。そして、保持回路部32では一致結果および不一致結果を比較結果Aとして出力する。なお、別の条件で新たに比較する場合には、比較器リセット信号Rにより、保持回路部をリセットすることにより保持データを消去することができる
図5にタイミング調整方法の一例を示す。この例では、まず、あらかじめメモリアレイにテストパターンデータである期待値を通常動作時の動作速度よりも低速で書き込んでおく(低転送レートでの書き込み)。なお、この速度はS/P変換前の入力端子に入力される速度である。以下、速度(転送レート)について言及するときは、入力端子にデータを入力する際の速度(転送レート)である。次に、通常動作と同様に制御用LSIから高速でデータ入力(高転送レート入力)するのと同時に、制御用LSIからコマンド、アドレスを送りメモリアレイから期待値データを読み出す。入力データと期待値データを比較、判定しタイミング調整を行う。この方法では、データが正しく送られても、コマンド、アドレスが正しく送られなかった場合、期待値が変わり不一致となるため、コマンド、アドレス、データのタイミング調整が可能である。
図5にタイミング調整方法の一例を示す。この例では、まず、あらかじめメモリアレイにテストパターンデータである期待値を通常動作時の動作速度よりも低速で書き込んでおく(低転送レートでの書き込み)。なお、この速度はS/P変換前の入力端子に入力される速度である。以下、速度(転送レート)について言及するときは、入力端子にデータを入力する際の速度(転送レート)である。次に、通常動作と同様に制御用LSIから高速でデータ入力(高転送レート入力)するのと同時に、制御用LSIからコマンド、アドレスを送りメモリアレイから期待値データを読み出す。入力データと期待値データを比較、判定しタイミング調整を行う。この方法では、データが正しく送られても、コマンド、アドレスが正しく送られなかった場合、期待値が変わり不一致となるため、コマンド、アドレス、データのタイミング調整が可能である。
図6にタイミング調整方法の別の一例を示す。この例では、図1の自動読み出し制御部9を利用した例である。この例でも、まず、あらかじめメモリアレイにテストパターンデータである期待値を通常動作時の動作速度よりも低速で書き込んでおく(低転送レート書き込み)。次に、通常動作と同様に制御用LSIから高速でデータ入力(高転送レート入力)するのと同時に、自動読み出し回路によりメモリアレイから期待値データを読み出す。入力データと期待値データを比較、判定しタイミング調整を行う。期待値の自動読み出しとデータ入力の開始タイミングを揃えるため、自動読出し開始信号などによる制御方法を用いる。この方法でも、データのタイミング調整が可能である。なお、コマンド、アドレスのタイミング調整については、別途タイミング調整を行なうことが可能である。自動読出し開始信号は、コマンドの組合せやJTAG用の信号を兼用することで、信号数の増加なしに構成することも可能である。
図7に、入出力タイミング調整のフローチャートの一例を示す。S101は、タイミング調整開始である。図1の制御用LSI(10)からメモリLSI(1)に入出力タイミング調整開始信号を送り、タイミング調整を開始する。S102は、タイミング粗調整である。タイミング粗調整では、1サイクルに1データの転送など通常動作時より低いデータ転送速度(転送レート)で、信号間のタイミング調整と受け取るクロックとのタイミング調整を行う。そして、S103は、期待値書き込みである。期待値書き込みでは、後のタイミング微調整S104でテストパターンと比較する基準となる期待値を低いデータ転送速度でメモリアレイに書き込む。S104は、タイミング微調整である。通常動作時と同じデータ転送速度でタイミングの微調整を行う。タイミング微調整では、メモリアレイに書き込まれた期待値と入力データとを比較することで微調整を行なう。S105は、タイミング調整終了である。メモリLSIから制御用LSIに入出力タイミング調整終了信号を送り、タイミング調整を終了する。このようなS101からS105の一連のフローにより、図1の半導体集積回路装置ではタイミング調整が行なわれる。なお、入出力タイミング調整開始信号、入出力タイミング調整終了信号は、コマンドの組合せやJTAG用の信号を兼用することで、信号数の増加なしに構成することも可能である。
図8に、タイミング粗調整S102とタイミング微調整S104とで用いられる低速転送時と通常動作時(高速転送時)のデータ例を示す。通常動作時には、1サイクルに複数のデータを転送するが、低速転送時は、1サイクルに送るデータ数が通常動作時より少ないため、データとクロックのタイミングに余裕ができ、タイミング粗調整で正しいデータ転送が可能になる。期待値書き込み時は、タイミング微調整前であるので、通常動作時と同じデータ転送速度では書き込みは行なわない。通常動作時と同じデータ転送速度(高転送レート)で書き込みを行なうと正しい期待値が書き込めない可能性があるためである。そのためここでは、タイミング粗調整時と同じ又は通常動作時(又はタイミング微調整時)より低いデータ転送速度(低転送レート)を用いて正しい期待値データの書き込みを行なう。
図9に、図7のタイミング粗調整S102における具体例を示す。上段にクロック信号、中段にデータ1、下段にデータ2を示す。図9は、制御用LSIから、複数の信号に同じデータ(データ1、データ2)を送り、同時に受け取った後のデータ波形図である。受け取った後のデータが異なる場合には、信号間のタイミングがずれているため、タイミング調整を行う。この例では、データ1、2に同じデータを送り、受け取ったデータで一部でも不一致がある場合は、タイミング調整を実施する。タイミング調整では、図9の矢印で示されている時間分データ2を遅らせることでタイミングを調整することができる。すなわち、図2の入力部のタイミング調整回路である可変ディレイヤのディレイ量を矢印に相当する時間分だけ遅れる方向にずれるように調整することでデータ1とデータ2とのタイミングを調整することができる。このように調整することにより、データ1とデータ2との不一致箇所が一致することになる。データ1とデータ2とのタイミング調整は、データ1側を早める方向に調整してもよいし、データ1を早めデータ2を遅らせる方法により調整しても構わない。少なくともデータ1とデータ2の一方のタイミングを調整すれば良い。なお、低速転送時のデータ比較は、比較部に送るデータを変更することで、通常動作時の微調整で用いる比較部7と兼用することも可能である。別途、粗調整用の比較部を設けても構わない。
図10に、図7のタイミング微調整S104内で行なわれるデータ比較の例を示す。上から順に、クロック信号、アドレス信号(add.)、コマンド信号(com.)、入力データ(INData(D))、書き込みデータ(Wdata(Di))、書き込みデータレジスタ(DiR)、読み出しデータ(Rdata(Qi))、出力データ(OUTData(Q))である。
まず、コマンド、アドレスに合わせ、書き込みデータを入力する。期待値は、入力されたアドレスを元にメモリアレイから読み出す。期待値データが読み出されるまで、書き込みデータを書き込みデータレジスタで保持する。次に、書き込みデータレジスタにある書き込みデータとメモリアレイから読み出された期待値とを順次比較する。なお、この時、同時に期待値である読出しデータを出力することも可能である。
図10に、図7のタイミング微調整S104内で行なわれるデータ比較の例を示す。上から順に、クロック信号、アドレス信号(add.)、コマンド信号(com.)、入力データ(INData(D))、書き込みデータ(Wdata(Di))、書き込みデータレジスタ(DiR)、読み出しデータ(Rdata(Qi))、出力データ(OUTData(Q))である。
まず、コマンド、アドレスに合わせ、書き込みデータを入力する。期待値は、入力されたアドレスを元にメモリアレイから読み出す。期待値データが読み出されるまで、書き込みデータを書き込みデータレジスタで保持する。次に、書き込みデータレジスタにある書き込みデータとメモリアレイから読み出された期待値とを順次比較する。なお、この時、同時に期待値である読出しデータを出力することも可能である。
図11に、図7の入出力タイミング微調整S104の詳細なフローチャートの一例を示す。S111は、タイミング微調整開始である。制御用LSIからメモリLSIに入出力タイミング微調整開始信号を送り、タイミング微調整を開始する。S112は、最小ディレイ設定検出である。入力部のタイミング調整回路のディレイ設定を変更しながら、正しくデータを受け取れるディレイ設定の中で最小のディレイ設定値を検出する。S113は、最大ディレイ設定検出である。S112と同様に正しくデータを受け取れるディレイ設定の中で最大のディレイ設定値を検出する。S114は、ディレイ設定決定である。S112、S113で検出された最小ディレイ設定値と最大ディレイ設定値との間のディレイ設定値の範囲から、最適な設定値を決定し設定する。なお、設定値は、この範囲内であれば正しくデータを受け取れるが、データを正しく受け取れなくなるディレイ設定値とのマージンを確保するためにこの範囲の中心前後で設定するのが望ましい。S115は、タイミング微調整終了である。メモリLSIから制御用LSIに入出力タイミング微調整終了信号を送り、タイミング微調整を終了する。なお、入出力タイミング微調整開始信号、入出力タイミング微調整終了信号は、コマンドの組合せやJTAG用の信号を兼用することで、信号数の増加なしに構成することも可能である。
図12に、入出力タイミング微調整のフローチャートの別の一例を示す。
全体の流れは、図11とほぼ同様である。但し、ディレイ設定範囲検出時に、先にS122で最大のディレイ設定値を検出し、後にS123で最小のディレイ設定値を検出する点で異なる。
全体の流れは、図11とほぼ同様である。但し、ディレイ設定範囲検出時に、先にS122で最大のディレイ設定値を検出し、後にS123で最小のディレイ設定値を検出する点で異なる。
図13に、S114又はS124で行なわれる入出力タイミング微調整方法の一例を示す。タイミング調整では、図2のタイミング調整回路である可変ディレイヤの設定をレジスタ22で変更し、タイミングを変えながら、正しくデータが受け取れる設定範囲を確認し、その中央付近に設定する。設定フロー(a)は、ディレイ値最小の設定から始めて、ディレイ値を増やしながらデータが正しく取れる最小設定を検出(a1)、さらにディレイ値を増やしながらデータが正しく取れる最大設定を検出(a2)することで、設定範囲を確認する方法である。設定フロー(b)は、(a1)と同様に最小設定を検出(b1)後、ディレイ値最大の設定から始めて、ディレイ値を減らしながらデータが正しく取れる最大設定を検出(b2)することで、設定範囲を確認する方法である。設定フロー(c)では、既に粗調整等でデータが正しく取れる範囲内に設定されている場合で、ディレイ値を減らしながらデータが正しく取れる最小設定を検出(c1)後、元の設定値からディレイ値を増やしながらデータが正しく取れる最大設定を検出(c2)することで、設定範囲を確認する方法である。いずれの方法によっても、正しくデータが取れるPass領域内でディレイ設定を行なうことで入出力のタイミング調整を行なっている。なお、ディレイ設定は複数あるデータ毎に行なってもよいし、データ1からnを纏めて行なってもよい。いずれにしても、複数ある入力端子に微調整用のテストパターンデータを入力することにより行なわれる。
図14に、図13(a)の入出力タイミング調整方法でのタイミング例を示す。比較器リセット後、ディレイ値最小の設定から比較を開始する。データが不一致となった場合は、再び比較器をリセットし、ディレイ値を増やした設定で再度比較を開始する。データが一致し始めると、一連のデータパターンの全データが正しく受け取れることを確認するため、あらかじめ設定しておいた比較サイクル数まで比較を続け、全データが一致すれば、その時の設定がデータを正しく取れる最小設定となる。その後は、ディレイ値を増やしながら比較を続け、最初に不一致となった設定の前の設定が、データが正しく取れる最大設定となる。なお、このようなディレイ値の最小と最大とはデータ1からデータnで纏めて取得し、データ毎のタイミング調整回路によりタイミングを調整しても良い。この場合には、図13(a)のタイミング調整方法を複数のデータに対して1回で行うことができるため、ディレイ値の最小と最大とを個々のデータ毎に取得するよりも、複数のデータに対する所望のディレイ値の取得時間を短縮することができ、タイミング調整時間を短縮することができる。
以上これまでで説明した通り、本発明の主な特徴は、テストパターンを予めメモリアレイに格納し期待値データとして保持しており、その期待値データと外部から入力される期待値相当のテストパターンとを比較することによりタイミング調整を行なう点である。期待値データをメモリアレイに格納しているので、例え制御用LSIの仕様によりテストパターンのビット数が異なっていても、それぞれのビット数に対応するレジスタを別途設ける必要がない。そのため、メモリLSI(半導体チップ)の面積の小さい半導体集積回路装置を提供することができる。このようなタイミング調整を行なえるのは、図1のようにメモリアレイ4と比較部7とが接続されている構成になっているためこのようなタイミング調整を行なうことが可能となっており、このような構成を有する半導体集積回路装置により、以上説明したようにあらゆる仕様の制御用LSIに対応したメモリLSIのタイミング調整をメモリLSIの面積を大きくすることなく行なうことができる。
また、本実施例では、低速な転送レートでデータ間のタイミング粗調整を行なった後、通常動作時の高速な転送レートで入出力タイミング微調整を行なう例を示した。このように、2段階の転送レートでタイミング調整を行なうことにより、タイミング微調整前のメモリセルへの期待値の書き込みを通常動作時の高速な転送レートよりも低速な転送レートで行なうことができるので、期待値となる正しいテストパターンの書き込みを行なうことができ、タイミング微調整で正しい期待値を用いてタイミング調整を行なうことができる。
また、本実施例では、低速な転送レートでデータ間のタイミング粗調整を行なった後、通常動作時の高速な転送レートで入出力タイミング微調整を行なう例を示した。このように、2段階の転送レートでタイミング調整を行なうことにより、タイミング微調整前のメモリセルへの期待値の書き込みを通常動作時の高速な転送レートよりも低速な転送レートで行なうことができるので、期待値となる正しいテストパターンの書き込みを行なうことができ、タイミング微調整で正しい期待値を用いてタイミング調整を行なうことができる。
図15に、本発明のメモリLSIにおける別の実施例を示す。実施例1の図1との違いは、書き込みデータを一度メモリアレイに書き込み、書き込みパターン(WP)をメモリアレイ4に格納した後、すでに期待値として格納されているテストパターン(TP)を読み出すとともに書き込みデータを読み出し比較する点である。この方法では、データだけではなく、コマンドやアドレスについても入力タイミングを調整することが可能となる。なお、本実施例では、1つのメモリLSI内に全ての回路を内蔵しているが、DIMM等の複数のLSIで構成されたメモリシステムでも同様の効果が得られる。
図16に、図15の構成でのタイミング調整方法の一例を示す。この例では、まず、あらかじめメモリアレイの一部に期待値を低速で書き込んでおく。次に、通常動作と同様に制御用LSIから高速でデータ入力し、期待値が書き込まれていない領域に入力データを書き込む。その後、自動読み出し回路によりメモリアレイから、書き込みデータと期待値データを同時に読み出し、比較、判定しタイミング調整を行う。この方法では、データが正しく送られても、コマンド、アドレスが正しく送られなかった場合、書き込みアドレスが変わり不一致となるため、コマンド、アドレス、データのタイミング調整が可能である。
I/O…入出力回路、 S/P変換…シリアル−パラレル変換、 CLK…クロック信号(ポジ極性)、 /CLK…クロック信号(ネガ極性)、 P/S変換…パラレル−シリアル変換、 R…リセット端子。
Claims (11)
- 入力端子と、
前記入力端子に接続されたタイミング調整回路と、
前記タイミング調整回路に接続されたメモリアレイと、
前記タイミング調整回路から出力される第1データが入力されるように接続され、かつ、前記メモリアレイに格納されたデータを読み出す際に前記メモリアレイから出力される第2データが入力されるように接続された比較回路と、
前記比較回路から出力された信号により前記タイミング調整回路のタイミング調整を行なうための第1制御回路と、を備えることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
前記第1データと前記第2データとはテストパターンデータであって、同一のデータパターンであることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項2記載の半導体集積回路装置において、
前記第1データと前記第2データとが前記比較回路によって比較され、その比較結果を前記第1制御回路に入力することにより前記タイミング調整回路のタイミング調整が行なわれることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項3記載の半導体集積回路装置において、
前記第2データは、前記第1データが前記入力端子に入力される前に、前記メモリアレイに格納されることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項4記載の半導体集積回路装置において、
前記半導体集積回路装置の外部から第1転送レートで第3データが前記入力端子に入力され、前記半導体集積回路装置の外部から前記第1転送レートよりも速い第2転送レートで前記第1データが前記入力端子に入力されることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項5記載の半導体集積回路装置において、
前記第3データにより、前記タイミング調整回路の第1タイミング調整が行なわれ、前記第1データにより、前記第1制御回路および前記比較回路を用いて、前記タイミング調整回路の第2タイミング調整が行なわれ、前記第1タイミング調整後であって、前記第2タイミング調整前に前記第2のデータが前記第2転送レートよりも遅い転送レートで前記メモリアレイに書き込みが行なわれることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項6記載の半導体集積回路装置において、
前記入力端子は、データ入力用に複数存在し、
前記第3データが複数の前記入力端子に同時に入力されることにより、前記第1タイミング調整が行なわれることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
さらに、前記メモリアレイから前記第2データの読み出しを行なうタイミングを制御するための第2制御回路を備えることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 第1入力端子と、
第2入力端子と、
前記第1入力端子に接続された第1タイミング調整回路と、
前記第2入力端子に接続された第2タイミング調整回路と、
前記第1タイミング調整回路と前記第2タイミング調整回路に接続されたメモリアレイと、
前記第1タイミング調整回路と前記第2タイミング調整回路のタイミング調整を行なうための制御回路と、を備え、
前記第1入力端子および前記第2入力端子に第1転送レートで第1データを入力することにより、前記第1タイミング調整回路および前記第2タイミング調整回路の少なくとも一方のディレイ量を調節する第1タイミング調整を行い、前記第1入力端子および前記第2入力端子に前記第1転送レートよりも速い第2転送レートで第2データを入力することにより、前記第1タイミング調整回路および前記第2タイミング調整回路のディレイ量を調節する第2タイミング調整が行なわれることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項9記載の半導体集積回路装置において、
前記第2タイミング調整前に、前記メモリアレイには前記第2データと同じ第3データが格納され、
前記第2タイミング調整は、前記第2データと前記第3データとを比較することにより行なわれることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 請求項10記載の半導体集積回路装置において、
前記第3データは、前記第2転送レートよりも低い転送レートで前記メモリアレイに書き込みが行なわれることを特徴とする半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007176864A JP2009015964A (ja) | 2007-07-05 | 2007-07-05 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007176864A JP2009015964A (ja) | 2007-07-05 | 2007-07-05 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009015964A true JP2009015964A (ja) | 2009-01-22 |
Family
ID=40356679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007176864A Pending JP2009015964A (ja) | 2007-07-05 | 2007-07-05 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009015964A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011010184A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器 |
US8854517B2 (en) | 2009-03-24 | 2014-10-07 | Sony Corporation | Solid-state imaging device with stacked sensor and processing chips |
JP2019036198A (ja) * | 2017-08-18 | 2019-03-07 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 情報処理装置、及び画像形成装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05342085A (ja) * | 1992-06-09 | 1993-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | メモリアクセス制御回路 |
JPH07146814A (ja) * | 1993-11-24 | 1995-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | メモリ装置 |
JPH11328961A (ja) * | 1998-05-21 | 1999-11-30 | Fujitsu Ltd | 電子回路装置及びインタフェース回路 |
JP2001350668A (ja) * | 2000-06-06 | 2001-12-21 | Nec Shizuoka Ltd | メモリ読み出しタイミング調整回路 |
-
2007
- 2007-07-05 JP JP2007176864A patent/JP2009015964A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05342085A (ja) * | 1992-06-09 | 1993-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | メモリアクセス制御回路 |
JPH07146814A (ja) * | 1993-11-24 | 1995-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | メモリ装置 |
JPH11328961A (ja) * | 1998-05-21 | 1999-11-30 | Fujitsu Ltd | 電子回路装置及びインタフェース回路 |
JP2001350668A (ja) * | 2000-06-06 | 2001-12-21 | Nec Shizuoka Ltd | メモリ読み出しタイミング調整回路 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8854517B2 (en) | 2009-03-24 | 2014-10-07 | Sony Corporation | Solid-state imaging device with stacked sensor and processing chips |
JP2011010184A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器 |
JP2019036198A (ja) * | 2017-08-18 | 2019-03-07 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 情報処理装置、及び画像形成装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8111565B2 (en) | Memory interface and operation method of it | |
US7876629B2 (en) | Memory control methods capable of dynamically adjusting sampling points, and related circuits | |
US7827431B2 (en) | Memory card having memory device and host apparatus accessing memory card | |
US9042188B2 (en) | Memory controller and method of calibrating a memory controller | |
US20130326257A1 (en) | Memory device, host device, and sampling clock adjusting method | |
EP3215950B1 (en) | Calibration in a control device receiving from a source synchronous interface | |
US8938578B2 (en) | Memory device with multi-mode deserializer | |
US9798353B2 (en) | Command protocol for adjustment of write timing delay | |
JP7066556B2 (ja) | メモリシステム | |
US10491430B2 (en) | Memory decision feedback equalizer testing | |
JP2008091006A (ja) | 半導体メモリ装置及びその駆動方法 | |
US20090168563A1 (en) | Apparatus, system, and method for bitwise deskewing | |
JP2006275616A (ja) | 半導体装置及びスキュー調整方法 | |
US8754656B2 (en) | High speed test circuit and method | |
JP2013109637A (ja) | メモリインターフェース回路、および、そのメモリインターフェース回路の動作方法 | |
JP5005928B2 (ja) | インタフェース回路及びそのインタフェース回路を備えた記憶制御装置 | |
JP2009015964A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
US8671304B2 (en) | Adjustment of write timing based on a training signal | |
JP2005056334A (ja) | 同期式メモリからのデータ取込み回路 | |
US10192599B2 (en) | Semiconductor device | |
JP2010079520A (ja) | メモリモジュールのコントローラ及びメモリモジュールのコントローラの制御方法 | |
CN110782929A (zh) | 每个通路的占空比校正 | |
JP3861650B2 (ja) | インターフェース回路 | |
US10554211B2 (en) | Data receiver circuit | |
US10468080B1 (en) | Memory device performing write leveling operation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100323 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120327 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120717 |