JP2008544671A - 電磁放射デカップラー - Google Patents
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Abstract
Description
λN≒2nG/N
上式中、λNは最大デカップリングが生じるλmin〜λmaxの範囲の波長であり、nはコアの屈折率であり、Gはスリット間隔であり、Nは整数(1≧)である。われわれの好適な実施形態はN=1であるケース(第1の調和(すなわち基本)モードであることが示される)を利用する。注意:2つ以上のアイランドからなるデカップラーに関しては、スリットは波長に比して狭くてもよい。放射は線形的に偏波されるので電界ベクトルはスリットの軸(すなわち、その長さ)に対して垂直になることが更に仮定される。この研究分野に典型的な定義によれば、入射面がスリットに対して平行である場合、放射はTE−(s−)偏波されるはずである(入射面に対して垂直の電界ベクトル)。入射面がスリットに対して垂直である場合、放射はTM−(p−)偏波されるはずである(入射面内の電界ベクトル)。電磁気学の専門家であれば、本デバイスが楕円形または円形偏波の電磁放射と共に動作するであろうことは明白であろう。これは本デバイスが適切に整列された電界成分を示すからである。
RFタグまたは低QのRFタグを含んだ表面を任意のスペーサと一緒にして、本明細書において上記に定めたデカップラー近傍に設けるステップと、
前記RFタグに照会するステップとを含み、RFタグは前記デカップラーの近傍にあるときに限り読み取られ得る。
i)任意のスペーサを有するRFタグまたは低QのRFタグを含む表面と、少なくとも1つの誘電体層の一部または実質的に全部と接触する少なくとも1つの導体層とを提供し、少なくとも1つの第1の導体層が少なくとも1つの空隙領域を有し、RFタグがこの空隙領域に設けられるステップと、
ii)ステップi)の表面を第2の導体層または導電性表面と一緒にして本明細書において上記に定めたデカップラーを形成するステップとを含む。第2の導体層は場合によっては、誘電体層の一部または実質的に全部を形成するために誘電体材料をその表面上に含んでもよいことは明白であろう。RFタグは第1の導体層および誘電体コア層が実質的に同じ長さである誘電体層の端部上に設けられてもよいことは明白である。
(製品名QS1、QS2またはDP1607でSun Chemical社より供給されている、英国特許出願第0422386.3.号に開示されているような)非導電性触媒インクを用いて、デカップリングユニット、すなわち第1および第2の導体層を(誘電体コアを形成する)知られた電気特性のポリマーの上に(両面に)スクリーン印刷した。このUHFデカップラーの寸法はポリマーの電気特性および厚さに影響され易い。例えば、Quinn plastics社の、Spectar(登録商標)グレードのPETGシートを1mmの厚さで用いれば、相対誘電率は3.2となり、(近似式アイランド長≒λ/2√(誘電率)を用い、ここで屈折率は誘電率の平方根にほぼ等しい、95mmのデカップラー周期および190mの最小デカップラー長が得られる。ポリマーの前側には、デカップラーの中心で交差する直交する2本のラインによって分離された実質的に等しい大きさの4つのアイランドがデカップラーパターンと共に印刷される。デカップラーの反対側には中実のエリアが印刷される。
導電性インク、例えば、Acheson Electrodag社のPR401BカーボンインクまたはAcheson Electrodag社の503銀インクを用いて、デカップリングユニットを知られた電気特性のポリマーの上に(両面に)スクリーン印刷する。このUHFデカップラーの寸法はポリマーの電気特性および厚さに影響され易い。例えば、Quinn plastics社の、Spectar(登録商標)グレードのPETGシートを1mmの厚さで用いれば、相対誘電率は3.2となり、95mmのデカップラー周期および190mの最小デカップラー長が得られる。ポリマーの前側にはデカップラーパターンが印刷され、反対側には中実のエリアが印刷される。
金属被覆されたポリマーフィルム(例えば、DuPont Mylar社のPETフィルム)を用いて、その金属表面上にエッチングレジスト(例えば、Sun Chemical社のXV750)をスクリーン印刷する。乾燥すると、エッチングレジストはデカップラーのパターン内の金属表面に付着される。次いで、このフィルムを腐食性溶液(例えば、Old Bridge Chemicals社のMAX ETCH(商標)20R)に入れる。このプロセスによって金属で被覆されていない領域を取り除くと、非導電性基板のみが残る。次いで、金属化されたパターン化フィルムをコア材料上に積層し、更に金属化された非パターン化フィルムを用いて挟み、裏板として使用する。
デカップラー試験方法
866MHzのUHFタグ読取システム(例えば、Sensomatic agile 2 reader unit)に866MHzのUHFタグ用の検出器ユニットとしてコンピュータインタフェースを配置した。この読取装置アンテナを固定されたベクトルに向いた状態で、スタンド上に設置し、各タグの読取範囲を評価するために巻尺をこの経路に沿って設置する。金属性物体をすべて読取装置のフィールドエリアから除去して、読み取りの反射を最小にする。866MHzのUHFタグ(例えば、Alien Technologies社のタグ)を使って、厚紙基板上に設置する。読取装置のディスプレイを観察しながらこのタグを読取装置アンテナの方に直接向かって約5mの距離移動させたところ、タグが一定の読取値を1分間にわたって生じるときに読取範囲は最大移動量になると考えられる。使用される特定のUHFタグについて、この値は標準的な読取範囲であると考えられる。
実施例4に概説した方法を用いて、デカップラーを金属性基板上に設置したときのデカップラー上のUHFタグの最適な2次元位置を識別した。図5a、図5b、図5cはタグおよびデカップラーシステムの相対位置を示す。
図5bはスリットの交点の正確な場所が上記実施例において作製した4アイランドデカップラー上のUHFタグ読取範囲に及ぼす効果を示す。これはデカップラー上にタグを設ける際の製造公差が、デカップラーおよびしたがってタグの読取範囲の効果にどのように影響し得るかを示す効果を有する。
(自由空間における分離されたタグと比較して)最大読取範囲の改善は、例えば、スペーサ厚を最適化することによって達成され得る。図14に示すように、デカップラーとタグとの間に誘電体スペーサがあれば、自由空間において読み取られるタグに比して、タグの読取範囲は改善され得る。厚さを大きくしながらPETスペーサを導入するにつれて、タグの読取範囲は増大し始め、スペーサ厚が約300μmになると、反応は分離されたタグの反応と同じになる。興味深いことに、400μmでは、4.5mの読取範囲が達成され、予想された最大値よりを0.5mm上回った。スペーサの厚さを更に増大すると、値は僅かに低下するが、分離されたタグの値と本質的に等しいままである。1000μmを超えると、読取範囲が低下したが(この実施例には示さず)、タグはRF反射表面上で依然として機能し得る。修飾されていない自由空間でのその性能に比して、これらの値はデカップラーがRFタグの読取範囲を増大し得ることを明らかに示している。これらの結果はSensormatic社のキットに特異的なものであり、最適な分離/スペーサ厚は異なるRFタグまたは読取システムに関して異なる可能性があることが明白となろう。
実施例1の方法を用いて4アイランドデカップラーを作製した。このデカップラーを866MHzタグ用に調製し、1000μmのポリエステルコアを用いて製造した。最適な応答を得るために、Alien Technologies社の866MHzタグを空隙領域の中央に設置した。デカップラーのないRFタグおよびデカップラー上のRFタグを種々の表面および物品上に置き、表面が一般的なRFタグに及ぼす効果およびデカップラーの有効性を評価した。読取システムはSensormatic(登録商標)キットとした。
異なる3種のコア材料であるポリエステル、ポリプロピレンおよびポリカーボネートを種々の異なるコア厚で試験した。第1および第2の導体層パターンは全部同じ幾何学形状および厚さとし、866MHzのRFタグおよび読取装置に対して最適化した。デカップラーのないRFタグが実質的にゼロの読取範囲を生じるように、デカップラーを金属性表面上に設置した。図23のグラフからは、コア厚が増大するにつれて読取範囲が増大することがわかる。(実施例11に示すように)検証されたモデル化は、コア厚を1000μmから2000μmに増大させると、読取範囲は数cmしか増大しないことを示す。
一連のデカップラーは、HFSSを用いて決定される866MHzにおいて最大の電界増強を生じるような寸法に製造した。最適な性能を保証し、モデルHFSSを検証するために、一連の試験を行った。これらの試験はHFSSから得られる必須の値よりも長い上部層に金属アイランドを有するデカップラーを用いて開始することを必要とした。デカップラーの両端から開始して、中心に向かって内側へと作業しながら材料をエッチングすることによって金属アイランドの長さを徐々に縮小しながら、読取範囲を測定した。原型であるポリカーボネートデカップラーの結果を以下に示す。これらの試験により決定された金属アイランドの最適な長さは、HFSSモデル化から決定された長さとほとんど一致する。
コア厚および幅が異なる一連の単一アイランドデカップラーを評価した。導体層として銅を用い、PETGコアを用いて実施例1の方法に従ってデカップラーを調製した。デカップラーのパターンは図22bに示したものである。使用したタグは、図22aに示したタイプの低Qアンテナ(すなわち、866MHzで使用するのに最適化されていない)であった。自由空間におけるタグの読取範囲は、最適化されたアンテナを有していないので、無視できる。同様に、低Qタグを金属表面上に直接置いたところ、読取範囲はなかった。以下の表はデカップラー上のRFタグの結果である(デカップラーは金属表面上に置かれる)。
図21fに示したタイプの偏波非依存性デカップラーは、半径4.65cmの円形の銅−PETG−銅ラミネート上の第1の導体層の銅層に円形スリット(x)を刻み込むことによって作製した。このタグをスペーサ上に設置した。インダクタンスループをスリット上に設け(図27、位置x)、読取システムを用いて上記で詳述したように読取範囲を測定した。ループアンテナがスリットに直交する(図27、位置b)ときと比較すると、ループアンテナが実質的に曲線と接する位置(図27、位置a)にあるときに、読取範囲は改善することが認められた。
一連の実験は、厚紙誘電体層から作製した単一アイランドデカップラーを用いて実施された。第2の導体層およびスタンドオフ距離を取り除くか、または変更することによって共振空隙を変化させることの影響を調べた。実験はフルサイズアンテナ(すなわち、同調アンテナを備えた長さ通常95mmの市販のアンテナ)およびループアンテナ(最長寸法は20mm未満)を備えた低QのRFタグを対象に行った。
上記実験は、RFタグとデカップラーの第1の導体層との間の最適なスタンドオフ距離は、図14に示すように、好ましくは1000μm未満で生じることを示している。デカップラーが異なるモードで誘電体層上にアンテナを有する基板に作用することを示すために、ある実験を設定した。
図28bに示すように第2の導体層の重なりを量「d」だけ低減することによって、第2の導体層の長さおよびこれが共振空隙の可能性のある形成に及ぼす効果を試験した。この実験においては、第2の導体層は大きな金属シートであった。デカップラーのない市販のRFタグは、実質的に0mの読取範囲を生じる。この設定においては、第2の導体層の重なりの程度を変えた。これは誘電体および第1の導体層を金属シートに対して移動させることによって達成される。
Claims (74)
- 電子デバイス用の放射デカップラーであって、前記デカップラーが少なくとも1つの第1の導体層と少なくとも1つの第2の導体層との間に挟み込まれた少なくとも1つの誘電体層を含み、少なくとも1つの第1の導体層は、第1の導体層が誘電体層の上に重ならない少なくとも1つの空隙領域を有しており、デカップラーが、使用中に電磁界が第1の導体層の空隙領域近傍で増強されるようになされた、放射デカップラー。
- 導電性表面から放射をデカップリングするための、電子デバイス用の放射デカップラーであって、前記デカップラーが少なくとも1つの誘電体層と接触する少なくとも1つの第1の導体層を含み、少なくとも1つの第1の導体層が、第1の導体層が誘電体層の上に重ならない少なくとも1つの空隙領域を有し、デカップラーが、使用中に電磁界が第1の導体層の空隙領域近傍で増強されるようになされた、放射デカップラー
- 第2の導体層が少なくとも第1の導体層と同じ長さである、請求項1または請求項2に記載のデカップラー。
- 電子デバイスがRFタグである、請求項1から3のいずれか一項に記載のデカップラー。
- デカップラーの厚さがλ/4n未満であり、nが誘電体の屈折率である、請求項1から4のいずれか一項に記載のデカップラー。
- デカップラーの厚さがλ/10未満である、請求項5に記載のデカップラー。
- デカップラーの厚さがλ/300未満である、請求項6に記載のデカップラー。
- デカップラーの厚さがλ/1000未満である、請求項7に記載のデカップラー。
- 第1の導体層の少なくとも1つの端部と空隙領域との間の間隔GがG≒λ/2nによって決定され、ここでnは誘電体の屈折率であり、λはデカップラーの意図される動作波長である、請求項1から8のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 第2の誘電体層に隣接する第3の導体層を更に含み、第3の導体層が、該第3の導体層が第2の誘電体層の上に重ならない少なくとも1つの空隙領域を有し、第2の誘電体層が第3の導体層と第2の導体層との間に設けられる、請求項1から9のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 第1の導体層の長さが、第3の導体層の長さに対して異なる、請求項10に記載のデカップラー。
- 複数の空隙領域が第1の導体層に存在する、請求項1から11のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 複数の空隙領域が実際的には周期的である、請求項12に記載のデカップラー。
- 空隙領域がスリット構造である、請求項1から13のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 第1の導体層の少なくとも1つの空隙領域が、第1の導体層を少なくとも2つのアイランドに分割する、請求項1から14のいずれか一項に記載のデカップラー。
- アイランドの少なくとも1つが長さG≒λ/2nである、請求項15に記載のデカップラー。
- 第1の導体層が、直交する2つのスリットによって分離された少なくとも4つのアイランドを含む、請求項15に記載のデカップラー。
- 少なくとも2つの実質的に平行なスリットがある、請求項14に記載のデカップラー。
- 少なくとも2つのスリットの間隔がG≒λ/2nによって決定され、ここでnは誘電体の屈折率であり、λはデカップラーの意図される動作波長である、請求項18に記載のデカップラー。
- 空隙領域が3つ以上のスリットを含み、前記スリットが交差してn個の辺を有する多角形を形成し、nは3以上の整数である、請求項1から14のいずれか一項に記載のデカップラー。
- スリット幅が500μm未満である、請求項14から20のいずれか一項に記載のデカップラー。
- スリット幅が150μm未満である、請求項21に記載のデカップラー。
- スリット幅が50μm未満である、請求項22に記載のデカップラー。
- 誘電体層がプラスチック、ポリマー、セラミック、ガラス、厚紙、段ボール紙、紙、または実質的な空隙から形成される、請求項1から23のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 誘電体層の層屈折率が、制御自在に変更可能である、請求項1から24のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 屈折率コントローラを更に含む、請求項25に記載のデカップラー。
- RFタグが第1の導体層の空隙領域近傍に設けられ、該タグが前記第1の導体層から電気的に絶縁される、請求項1から26のいずれか一項に記載のデカップラー。
- RFタグが第1の導体層および第2の導体層から電気的に絶縁され、少なくとも部分的に誘電体層内または誘電体層の端部に設けられる、請求項1から26のいずれか一項に記載のデカップラー。
- RFタグが低QのRFタグである、請求項27または28に記載のデカップラー。
- 領域空隙がデカップラー内の形成された定常波の波腹に生じる、請求項27に記載のデカップラー。
- RFタグが、直交するスリットの交点に実質的に設けられ、該タグが第1の導体層から電気的に絶縁される、請求項17に記載のデカップラー。
- 前記RFタグのアンテナの主軸が第1の導体層の少なくとも1つの端部に対して実質的に直交して整列される、請求項1から16のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 前記RFタグが、2000μm未満の距離でデカップラーの表面の上方に離間される、請求項27に記載のデカップラー。
- 非導電性スペーサが前記デカップラーと前記RFタグとの間に設けられる、請求項33に記載のデカップラー。
- スペーサおよびRFタグの基板の厚さが、合わせて10から1000μmの範囲である、請求項34に記載のデカップラー。
- 厚さが175から800μmの範囲である、請求項35に記載のデカップラー。
- デカップラーおよび/またはRFタグの一部、全部、または実質的に全部の上に保護ハウジングを含む、請求項1から36のいずれか一項に記載のデカップラー。
- デカップラーが、液体含有量の高い導電性材料である表面または液体格納手段の一部を形成する表面から、該デカップラー上に設けられた電子デバイスを実質的にデカップリングするようになされた、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 導電性材料がカーボン、金属または合金である、請求項38に記載のデカップラー。
- 液体含有量の高い材料が、セルロース材料、木材または天然材料である、請求項38に記載のデカップラー。
- 格納手段が、食品、飲料、または化学物質のコンテナである、請求項38に記載のデカップラー。
- 第1の導体層と第2の導体層との間に挟み込まれた誘電体層を含む、表面からRFタグをデカップリングするデカップラーであって、該デカップラーの共振周波数がRFタグおよび/またはRF照会源の共振周波数と実質的に整合するように選択され、第1の導体層の少なくとも1つの端部が誘電体層の端部まで延びておらず、第1の導体層の端部と誘電体層との間の間隙が共振周波数におけるEM放射の波長よりも短い、デカップラー。
- 少なくとも1つの誘電体層表面と接触する少なくとも1つの導体層を含む、導電性表面からRFタグをデカップリングするデカップラーであって、該デカップラーの共振周波数がRFタグおよび/またはRF照会源の共振周波数と実質的に整合するように選択され、第1の導体層の少なくとも1つの端部が誘電体層の端部まで延びておらず、第1の導体層の端部と誘電体層との間の間隙が共振周波数におけるEM放射の波長よりも短い、デカップラー。
- 誘導体層が導電性表面に隣接するようにデカップラーを表面に取り付ける手段を更に含む、請求項2に記載のデカップラー。
- 請求項1から44のいずれか一項に記載の少なくとも1つのデカップラーを含む、接着テープ。
- 請求項1から44のいずれか一項に記載の少なくとも1つのデカップラーまたは請求項45に記載の接着テープを含む、ボディまたはコンテナ。
- 少なくとも1つのRFタグが前記デカップラー上に設けられる、請求項46に記載のボディまたはコンテナ。
- 前記ボディまたはコンテナの少なくとも1つの表面が1回または2回湾曲している、請求項47に記載のボディまたはコンテナ。
- コンテナの表面の一部が請求項2に記載のデカップラー内で被覆される、金属性ボディまたはコンテナ。
- 少なくとも1つのRFタグが前記デカップラー上に設けられる、請求項49に記載の金属性ボディまたはコンテナ。
- 前記ボディまたはコンテナの表面内に凹状部分を備え、前記凹状部分が、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラーと、前記デカップラー上に設けられた少なくとも1つのRFタグと、場合によっては、前記デカップラーおよびRFタグが前記ボディまたはコンテナの表面と少なくとも面一になるように前記デカップラーおよびRFタグを覆うための保護層とを含む、請求項47に記載のボディまたはコンテナ。
- 前記ボディまたはコンテナの表面内に凹状部分を備え、前記凹状部分が、第1の導体層が前記表面から電気的に絶縁された請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラーと、前記デカップラー上に設けられた少なくとも1つのRFタグと、場合によっては、前記デカップラーおよびRFタグが前記ボディまたはコンテナの表面と少なくとも面一になるように前記デカップラーおよびRFタグを覆うための保護層とを含む、請求項50に記載の金属性ボディまたはコンテナ。
- 段ボール紙誘電体コアを用いて厚紙デカップラーを製造する方法であって、第1の厚紙層上に第1の導体層を設けるステップと、第2の厚紙層上に第2の導体層を設けるステップと、前記第1および第2の厚紙層を一緒にして、それらを段ボール紙インサートに隣接させて、第2の導体層の上に重なる第1の厚紙層上の第1の導体層の上に少なくとも1つの空隙領域が存在するようにするステップとを含む、方法。
- 前記第1の導体層が前記段ボール紙インサートに隣接する前記第1厚紙層の内面上に設けられ、および/または前記第2の導体層が前記段ボール紙インサートに隣接する前記第2の厚紙層の内面上に設けられる、請求項53に記載の方法。
- ボディまたはコンテナを追跡する方法であって、前記ボディまたはコンテナの表面の一部に請求項1に記載のデカップラーおよび少なくとも1つのRFタグを付けるステップと、RF放射を用いて少なくとも1つのRFタグに照会するステップと、少なくとも1つのRFタグからの応答を検出するステップとを含む、方法。
- 誘電体層、第1の導体層および第2の導体層が実質的に同じ長さであり、該3層全部の前記長さGがλ≒2nGによって決定され、RFタグが前記デカップラーの主軸の平面と実質的に直交する基板の端部に設けられ、RFタグが第1および第2の導体層から電気的に絶縁され、nが誘電体の屈折率であり、λがデカップラーの意図される動作波長である、請求項3に記載のデカップラー。
- デカップラーが両面金属クラッドプリント基板である、請求項56に記載のデカップラー。
- 空隙領域がデカップラーの端部の少なくとも1つに対して実質的に非平行である、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 第1の導体層の空隙領域の少なくとも1つの端部が非線形パターンである、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラー。
- 第1の導体層の空隙領域が少なくとも1つの円形パターンを含む、請求項59に記載のデカップラー。
- 円形パターンが第1の導体層における円形スリットである、請求項60に記載のデカップラー。
- 誘電体層が物品のパッケージ材料またはラベル材料から少なくとも部分的に形成される、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラー。
- パッケージ材料またはラベル材料が、天然または人工の繊維、プラスチック、セルロース、ガラス、厚紙、段ボール紙またはセラミックである、請求項62に記載のデカップラー。
- アンテナが実質的に2cm未満の主要寸法を有する、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラーに使用するのに適した、低QのRFタグ。
- アンテナが実質的に1cm未満の主要寸法を有する、請求項64に記載の低QのRFタグ。
- スペーサが前記低QのRFタグと前記デカップラーとの間に設けられる、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラー上に設けられた、請求項65に記載の低QのRFタグ。
- スペーサの厚さおよび低QのRFタグの厚さを合わせると175から800μmの範囲である、請求項66に記載の低QのRFタグ。
- 任意のスペーサおよび請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラーを有するRFタグまたは低QのRFタグを含む、パーツのキット。
- 表面を検出または識別する方法であって、
i)低QのRFタグを含む非導電性表面を、前記低QのRFタグの上面上に設けられる任意のスペーサと一緒にするステップと、
ii)前記表面を請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラーと近接した関係にさせるステップと、
iii)前記低QのRFタグに照会するステップとを含み、前記低QのRFタグが前記デカップラー近傍にあるときにのみ読み取りが可能である、方法。 - 表面の検出または識別に適するデカップラーを形成する方法であって、
i)RFタグまたは低QのRFタグを含む非導電性表面に、前記RFタグの上面上に設けられる任意のスペーサと、少なくとも1つの誘電体層の一部または実質的に全部と接触する少なくとも1つの第1の導体層とを提供するステップであって、少なくとも1つの第1の導体層が、第1の導体層が誘電体層の上に重ならない少なくとも1つの空隙領域を有するステップと、
ii)ステップi)の表面を第2の導体層または導電性表面と一緒にして、請求項1から37のいずれか一項に記載のデカップラーを形成するステップとを含む、方法。 - 少なくとも1つの第1の導体層と少なくとも1つの第2の導体層との間に挟み込まれた少なくとも1つの誘電体層を含む、RFタグを表面からデカップリングする、RFタグ用の単一アイランドデカップラーであって、第1の導体層が照会放射の共振周波数に同調され、第1の導体層の前記長さGがλ≒2nGによって決定され、少なくとも1つの第1の導体層が、第1の導体層が誘電体層の上に重ならないように少なくとも1つの端部において1つの空隙領域を有し、第1の導体層から電気的に絶縁されたRFタグが第1の導体層の空隙領域近傍に設けられる、単一アイランドデカップラー。
- 少なくとも1つの第1の導体層と少なくとも1つの第2の導体層との間に挟み込まれた少なくとも1つの誘電体層を含む、RFタグを表面からデカップリングする、RFタグ用の単一アイランドデカップラーであって、第1および第2の導体層が照会放射の共振周波数に非依存的に同調され、前記導体層の前記長さGがλ≒2nGによって決定され、前記第1および第2の導体層から電気的に絶縁されたRFタグが前記誘電体層上の空隙領域近傍に設けられる、単一アイランドデカップラー。
- 少なくとも1つの第1の導体層と少なくとも1つの第2の導体層との間に挟み込まれた少なくとも1つの誘電体層を含む、RFタグを表面からデカップリングする、RFタグ用の単一アイランドデカップラーであって、第1の導体層が第1の照会放射の共振周波数に同調され、かつ第2の導体層が第2の照会放射の共振周波数に同調され、第1の導体層および第2の導体層の前記長さGがλ≒2nGによって決定され、第1および第2の導体層が、第1の導体層の空隙領域が第2の導体層上の誘電体層または空隙領域の上に重ならないように、少なくとも1つの端部に1つの空隙領域を有し、電気的に絶縁されたRFタグが第1の導体層の空隙領域近傍に設けられ、場合によっては更なるRFタグが第2の導体層の空隙領域近傍に設けられる、単一アイランドデカップラー。
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