JP2008531982A - オープンアーキテクチャテストシステムにおけるベンダハードウェアモジュール更新のコンパクト表現 - Google Patents
オープンアーキテクチャテストシステムにおけるベンダハードウェアモジュール更新のコンパクト表現 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008531982A JP2008531982A JP2007540439A JP2007540439A JP2008531982A JP 2008531982 A JP2008531982 A JP 2008531982A JP 2007540439 A JP2007540439 A JP 2007540439A JP 2007540439 A JP2007540439 A JP 2007540439A JP 2008531982 A JP2008531982 A JP 2008531982A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hardware
- vendor
- versions
- version
- user
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Stored Programmes (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
方法は、ベンダハードウェアモジュールの一連のハードウェアバージョンを受け取る段階と、ベンダハードウェアモジュールによりサポートされた一連のソフトウェアコンポーネントを受け取る段階と、一連のハードウェアバージョンを処理する段階であって、一連のハードウェアバージョンがマスク値を利用するハードウェアバージョン番号の等価集合として表される段階と、ベンダハードウェアモジュールのハードウェアバージョンのユーザ選択を得る段階と、ベンダハードウェアモジュールのハードウェアバージョンのユーザ選択を有効にする段階と、ハードウェアバージョンのユーザ選択に従って、システムプロファイルを生成する段階とを包含する。
【選択図】図1b
Description
Claims (25)
- 一のオープンアーキテクチャテストシステムにおいて、複数のソフトウェアコンポーネントと複数のベンダハードウェアモジュールバージョンとを関連付ける方法であって、
一のベンダハードウェアモジュールの一連のハードウェアバージョンを受け取る段階と、
前記ベンダハードウェアモジュールによってサポートされた一連のソフトウェアコンポーネントを受け取る段階と、
前記一連のハードウェアバージョンを処理する段階であって、前記一連のハードウェアバージョンは、一のマスク値を利用する複数のハードウェアバージョン番号の一の等価集合として表される段階と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数のユーザ選択を得る段階と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にする段階と、
複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択に従って、一のシステムプロファイルを作成する段階と
を含む方法。 - 前記一連のソフトウェアコンポーネントは、
一またはそれ以上のベンダソフトウェア開発キットと、
一またはそれ以上のユーザソフトウェア開発キットと、
前記ベンダハードウェアモジュールの前記一連のハードウェアバージョンに対応する一またはそれ以上のベンダドライバソフトウェアバージョンと
を含む請求項1に記載の方法。 - 前記一連のハードウェアバージョンを処理する段階は、
一のマスク値を定義する段階であって、前記マスク値は一のマスクされた番号および一のマスクを含み、前記マスクは前記一連のハードウェアバージョンの前記範囲内のデータパターンであり、前記データパターンは、少なくとも一の無関心ビットおよび一のマスクされないビットを含む段階と、
前記マスクおよび前記マスクされた番号に従って、複数のハードウェアバージョン番号の一の等価集合を特定する段階と
を含む請求項1に記載の方法。 - 複数のハードウェアバージョン番号の前記等価集合を特定する段階は、
前記マスクにおけるそれぞれの無関心ビットに対して、前記マスクされた番号における前記対応ビットをマスキングし、それによって前記対応ビット位置における一の1または0を有する前記等価集合の全ての要素を表す段階と、
前記マスクにおけるそれぞれのマスクされないビットに対して、前記等価集合における前記マスクされた番号の前記対応ビットを利用し、それによって前記マスクされた番号における前記対応ビットはマスクされていないことを示す段階と
を含む請求項3に記載の方法。 - 前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にする段階は、
一のユーザ選択が前記マスク値によって覆われている場合、前記マスク値に対応する一の完全な等価集合が選択されたとして示される段階を含む請求項3に記載の方法。 - 前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にする段階であって、
ハードウェアバージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、ハードウェアバージョンの前記ユーザ選択および前記マスクの一のビット単位の論理積が前記マスクされた番号と等しい場合、および場合のみ、ハードウェアバージョンの前記ユーザ選択を有効として表す段階をさらに含む請求項5に記載の方法。 - 一のシステムプロファイルを生成する段階であって、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択に従って、一連の互換性のあるソフトウェアコンポーネントを決定する段階と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数のユーザ選択のそれぞれによってソフトウェアコンポーネントの一のバージョンを選択する段階と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、ユーザに選択された複数のソフトウェアコンポーネントの一のリストを生成する段階と、
ユーザに選択された複数のソフトウェアコンポーネントの前記リストを蓄積する段階と
を含む請求項1に記載の方法。 - ソフトウェアコンポーネントの一のバージョンを選択する段階は、
前記一連の互換性のあるソフトウェアコンポーネントからソフトウェアコンポーネントの一のバージョンを選択することをユーザに問い合わせる段階と、
ソフトウェアコンポーネントの前記バージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、複数のハードウェアバージョンの前記ユーザ選択にわたる一の共通部分を計算する段階であって、サポートされた複数のハードウェアバージョンの一のリストを生成するための段階と、
を含む請求項7に記載の方法。 - 一の共通部分を計算する段階は、
複数のハードウェアバージョンの前記ユーザ選択を利用する結果として生じるマスクを計算する段階と、
複数のハードウェアバージョンの前記ユーザ選択を利用する結果として生じるマスクされた番号を計算する段階と
を含む請求項7に記載の方法。 - 一のオープンアーキテクチャテストシステムを提供する段階であって、前記オープンアーキテクチャテストシステムが、一のシステムコントローラ、一またはそれ以上のサイトコントローラ、一またはそれ以上のベンダハードウェアモジュール、および一またはそれ以上の被試験デバイス(DUTs)を含む段階と、
一のベンダハードウェアモジュールの一の新規ハードウェアバージョンを受け取る段階であって、前記新規ハードウェアバージョンは、複数のハードウェアバージョン番号の前記等価集合の一要素である段階と、
前記システムプロファイルを利用する前記ベンダハードウェアモジュールの前記新規ハードウェアバージョンをテストする段階と
をさらに含む請求項1に記載の方法。 - 一のシステムコントローラと、
前記システムコントローラに結合される一のサイトコントローラと、
前記サイトコントローラに結合される一またはそれ以上のハードウェアモジュールと、
一のハードウェアモジュールと同時に結合される一またはそれ以上の被試験デバイス(DUTs)と、
一のベンダハードウェアモジュールの一連のハードウェアバージョンを受け取るための手段と、
前記ベンダハードウェアモジュールによってサポートされた一連のソフトウェアコンポーネントを受け取るための手段と、
前記一連のハードウェアバージョンを処理するための手段であって、前記一連のハードウェアバージョンは、一のマスク値を利用する複数のハードウェアバージョン番号の一の等価集合として表される手段と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数のユーザ選択を得るための手段と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にするための手段と、
複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択に従って、一のシステムプロファイルを生成するための手段と
を含むオープンアーキテクチャテストシステム。 - 前記一連のソフトウェアコンポーネントは、
一またはそれ以上のベンダソフトウェア開発キットと、
一またはそれ以上のユーザソフトウェア開発キットと、
前記ベンダハードウェアモジュールの前記一連のハードウェアバージョンに対応する一またはそれ以上のベンダドライバソフトウェアバージョンと
を含む請求項11に記載のシステム。 - 前記一連のハードウェアバージョンを処理するための前記手段は、
一のマスク値を定義するための手段であって、前記マスク値は、一のマスクされた番号および一のマスクを含み、前記マスクは、前記一連のハードウェアバージョンの前記範囲内のデータパターンであり、および前記データパターンは、少なくとも一の無関心ビットおよび一のマスクされていないビットを含む手段と、
前記マスクおよび前記マスクされた番号に従って、複数のハードウェアバージョン番号の一の等価集合を特定するための手段と
を含む請求項11に記載のシステム。 - 複数のハードウェアバージョン番号の前記等価集合を特定するための前記手段は、
前記マスクにおける無関心ビットのそれぞれに対して、前記マスクされた番号における前記対応ビットをマスキングするための手段であって、それによって前記対応ビット位置で一の1かそれとも0を有する前記等価集合の全ての要素を表す手段と、
前記マスクにおけるマスクされないビットのそれぞれに対して、前記等価集合における前記マスクされた番号の前記対応ビットを利用するための手段であって、それによって前記マスクされた番号における前記対応ビットがマスクされていないことを示す手段と
を含む請求項13に記載のシステム。 - 前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にするための前記手段は、
一のユーザ選択が前記マスク値によって覆われている場合に、前記マスク値に対応する一の全体等価集合を選択されたとして示す手段を含む請求項13に記載のシステム。 - 前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にするための前記手段は、
ハードウェアバージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、ハードウェアバージョンの前記ユーザ選択および前記マスクの一のビット単位の論理積が前記マスクされた番号と等しい場合、および場合のみ、ハードウェアバージョンの前記ユーザ選択を有効として表すための手段をさらに含む請求項15に記載のシステム。 - 一のシステムプロファイルを生成するための前記手段は、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択に従って、一連の互換性のあるソフトウェアコンポーネントを決定するための手段と、
前記ベンダハードウェアモジュールのハードウェアバージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、複数のソフトウェアコンポーネントの一のバージョンを選択するための手段と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、複数のユーザに選択されたソフトウェアコンポーネントの一のリストを生成するための手段と、
ユーザに選択された複数のソフトウェアコンポーネントの前記リストを蓄積するための手段と
を含む請求項11に記載のシステム。 - ソフトウェアコンポーネントの一のバージョンを選択するための前記手段は、
前記一連の互換性のあるソフトウェアコンポーネントからソフトウェアコンポーネントの一のバージョンを選択することをユーザに問い合わせるための手段と、
ソフトウェアコンポーネントの前記バージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、複数のハードウェアバージョンの前記ユーザ選択にわたる一の共通部分を計算するための手段であって、サポートされた複数のハードウェアバージョンの一のリストを生成するための段階と
を含む請求項17に記載のシステム。 - 一の共通部分を計算するための前記手段は、
複数のハードウェアバージョンの前記ユーザ選択を利用する結果として生じるマスクを計算するための手段と、
複数のハードウェアバージョンの前記ユーザ選択を利用する結果として生じるマスクされた番号を計算するための手段と
を含む請求項17に記載のシステム。 - 一のオープンアーキテクチャテストシステムを提供するための手段であって、前記のオープンアーキテクチャテストシステムは、一のシステムコントローラ、一またはそれ以上のサイトコントローラ、一またはそれ以上のベンダハードウェアモジュール、および一またはそれ以上の被試験デバイス(DUTs)を含む手段と、
一のベンダハードウェアモジュールの一の新規ハードウェアバージョンを受け取るための手段であって、前記の新規ハードウェアバージョンが複数のハードウェアバージョン番号の前記等価集合の一要素である手段と、
前記システムプロファイルを利用する前記ベンダハードウェアモジュールの前記新規ハードウェアバージョンをテストするための手段と
をさらに含む請求項11に記載のシステム。 - 一のオープンアーキテクチャテストシステムにおける複数のベンダハードウェアモジュールバージョンを表すための方法であって、前記オープンアーキテクチャテストシステムが、一のシステムコントローラ、一のサイトコントローラ、一またはそれ以上のベンダハードウェアモジュール、および一またはそれ以上の被試験デバイス(DUTs)を含む方法は、
一のベンダハードウェアモジュールの一連のハードウェアバージョンを受け取る段階と、
一のマスク番号および一のマスクを含む一のマスク値を利用する複数のハードウェアバージョン番号の一の等価集合として前記一連のハードウェアバージョンを表す段階と、
を含み、
前記マスクは、前記一連のハードウェアバージョンの前記範囲内の一のデータパターンであり、
前記データパターンは、少なくとも一の無関心ビットおよび一のマスクされないビットを含む方法。 - 複数の前記ハードウェアバージョンを表す段階は、
前記マスクにおける無関心ビットのそれぞれに対して、前記マスクされた番号における前記対応ビットをマスキングする段階であって、それによって前記対応ビット位置における一の1かそれとも0を有する前記等価集合の全ての要素を表す段階と、
前記マスクにおけるマスクされていないビットのそれぞれに対して、前記等価集合における前記マスク番号の前記対応ビットを利用する段階であって、それによって前記マスク番号における前記対応ビットがマスクされていないことを示す段階と
をさらに含む請求項21に記載の方法。 - 前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数のユーザ選択を得る段階と、
前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にする段階と
をさらに含む請求項21に記載の方法。 - 前記ベンダハードウェアモジュールの複数のハードウェアバージョンの複数の前記ユーザ選択を有効にする段階は、
ハードウェアバージョンのユーザ選択のそれぞれに対して、ハードウェアバージョンの前記ユーザ選択および前記マスクの一のビット単位の論理積が前記マスクされた番号と等しい場合、または場合のみ、ハードウェアバージョンの前記ユーザ選択を有効として表す段階と、
一のユーザ選択が有効と決定された場合、前記マスク値に対応する一の全体等価集合を選択されたとして示す段階と
をさらに含む請求項23に記載の方法。 - 前記ベンダハードウェアモジュールの一の新規なハードウェアバージョンを受け取る段階であって、前記新規なハードウェアバージョンが複数のハードウェアバージョン番号の前記等価集合の一要素である段階と、
複数のハードウェアバージョン番号の前記等価集合を利用する前記ベンダハードウェアモジュールの前記新規なハードウェアバージョンをテストする段階と
をさらに含む請求項21に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/070,957 | 2005-03-02 | ||
US11/070,957 US8214800B2 (en) | 2005-03-02 | 2005-03-02 | Compact representation of vendor hardware module revisions in an open architecture test system |
PCT/JP2006/304517 WO2006093327A1 (en) | 2005-03-02 | 2006-03-02 | Compact representation of vendor hardware module revisions in an open architecture test system |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008531982A true JP2008531982A (ja) | 2008-08-14 |
JP2008531982A5 JP2008531982A5 (ja) | 2012-06-28 |
JP5207738B2 JP5207738B2 (ja) | 2013-06-12 |
Family
ID=36560858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007540439A Expired - Fee Related JP5207738B2 (ja) | 2005-03-02 | 2006-03-02 | オープンアーキテクチャテストシステムにおけるベンダハードウェアモジュール更新のコンパクト表現および方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8214800B2 (ja) |
EP (1) | EP1853933B1 (ja) |
JP (1) | JP5207738B2 (ja) |
KR (1) | KR20070114306A (ja) |
CN (1) | CN101133339B (ja) |
DE (1) | DE602006014093D1 (ja) |
TW (1) | TWI365407B (ja) |
WO (1) | WO2006093327A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050289530A1 (en) * | 2004-06-29 | 2005-12-29 | Robison Arch D | Scheduling of instructions in program compilation |
US7624386B2 (en) | 2004-12-16 | 2009-11-24 | Intel Corporation | Fast tree-based generation of a dependence graph |
US7506336B1 (en) * | 2005-06-29 | 2009-03-17 | Emc Corporation | System and methods for version compatibility checking |
TW200817931A (en) * | 2006-07-10 | 2008-04-16 | Asterion Inc | System and method for performing processing in a testing system |
US8838755B2 (en) * | 2007-03-23 | 2014-09-16 | Microsoft Corporation | Unified service management |
US9652210B2 (en) * | 2007-08-28 | 2017-05-16 | Red Hat, Inc. | Provisioning a device with multiple bit-size versions of a software component |
KR100916784B1 (ko) | 2007-11-09 | 2009-09-14 | 현대자동차주식회사 | 차량용 자동 변속기의 기어 트레인 |
US8949155B2 (en) * | 2008-12-31 | 2015-02-03 | Microsoft Corporation | Protecting privacy of personally identifying information when delivering targeted assets |
US8543658B2 (en) * | 2009-12-10 | 2013-09-24 | Ebay Inc. | Presenting a gemstone in a setting |
KR101231746B1 (ko) * | 2009-12-18 | 2013-02-08 | 한국전자통신연구원 | SaaS 환경에서의 소프트웨어 개발 시스템 |
CN105224430B (zh) * | 2015-10-29 | 2018-11-20 | 艾德克斯电子(南京)有限公司 | 一种测试系统及测试方法 |
CN110119287A (zh) * | 2019-05-15 | 2019-08-13 | 深圳市好成绩网络科技有限公司 | 一种单板适配多个外设的方法 |
CN112685322B (zh) * | 2021-01-12 | 2022-10-04 | 武汉思普崚技术有限公司 | 一种客制化测试方法、装置及系统 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006518460A (ja) * | 2003-02-14 | 2006-08-10 | 株式会社アドバンテスト | 集積回路をテストする方法および装置 |
JP2008533542A (ja) * | 2004-12-09 | 2008-08-21 | 株式会社アドバンテスト | テスタ機器モジュールのインストール及び構成管理を実行する方法及びシステム |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5892949A (en) * | 1996-08-30 | 1999-04-06 | Schlumberger Technologies, Inc. | ATE test programming architecture |
US6182275B1 (en) * | 1998-01-26 | 2001-01-30 | Dell Usa, L.P. | Generation of a compatible order for a computer system |
US7016811B2 (en) * | 2001-08-15 | 2006-03-21 | National Instruments Corporation | Network-based system for configuring a programmable hardware element in a measurement system using hardware configuration programs generated based on a user specification |
US20030037174A1 (en) * | 2000-10-02 | 2003-02-20 | David Lavin | Common adapter/connector architecture |
US6868513B1 (en) * | 2000-10-26 | 2005-03-15 | International Business Machines Corporation | Automated multi-device test process and system |
US6598060B2 (en) | 2000-12-27 | 2003-07-22 | Microsoft Corporation | Method and system for creating and maintaining version-specific properties in a distributed environment |
JP3736451B2 (ja) * | 2001-12-18 | 2006-01-18 | ブラザー工業株式会社 | アドレス推定システム、ネットワークデバイス、アドレス推定方法およびアドレス推定プログラム |
CA2369228A1 (en) * | 2002-01-24 | 2003-07-24 | Alcatel Canada Inc. | System and method for managing configurable elements of devices in a network element and a network |
US7197417B2 (en) * | 2003-02-14 | 2007-03-27 | Advantest America R&D Center, Inc. | Method and structure to develop a test program for semiconductor integrated circuits |
US7437261B2 (en) * | 2003-02-14 | 2008-10-14 | Advantest Corporation | Method and apparatus for testing integrated circuits |
US7184917B2 (en) * | 2003-02-14 | 2007-02-27 | Advantest America R&D Center, Inc. | Method and system for controlling interchangeable components in a modular test system |
US7210087B2 (en) * | 2004-05-22 | 2007-04-24 | Advantest America R&D Center, Inc. | Method and system for simulating a modular test system |
-
2005
- 2005-03-02 US US11/070,957 patent/US8214800B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-03-01 TW TW095106853A patent/TWI365407B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-03-02 CN CN2006800065156A patent/CN101133339B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-03-02 WO PCT/JP2006/304517 patent/WO2006093327A1/en active Application Filing
- 2006-03-02 EP EP06728786A patent/EP1853933B1/en not_active Not-in-force
- 2006-03-02 KR KR1020077022478A patent/KR20070114306A/ko not_active Application Discontinuation
- 2006-03-02 JP JP2007540439A patent/JP5207738B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-03-02 DE DE602006014093T patent/DE602006014093D1/de active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006518460A (ja) * | 2003-02-14 | 2006-08-10 | 株式会社アドバンテスト | 集積回路をテストする方法および装置 |
JP2008533542A (ja) * | 2004-12-09 | 2008-08-21 | 株式会社アドバンテスト | テスタ機器モジュールのインストール及び構成管理を実行する方法及びシステム |
JP2009064425A (ja) * | 2004-12-09 | 2009-03-26 | Advantest Corp | テスタ機器モジュールのインストール及び構成管理を実行する方法及びシステム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI365407B (en) | 2012-06-01 |
US20060200816A1 (en) | 2006-09-07 |
CN101133339B (zh) | 2011-06-08 |
WO2006093327A1 (en) | 2006-09-08 |
JP5207738B2 (ja) | 2013-06-12 |
EP1853933B1 (en) | 2010-05-05 |
TW200701065A (en) | 2007-01-01 |
US8214800B2 (en) | 2012-07-03 |
DE602006014093D1 (de) | 2010-06-17 |
EP1853933A1 (en) | 2007-11-14 |
KR20070114306A (ko) | 2007-11-30 |
CN101133339A (zh) | 2008-02-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008531982A (ja) | オープンアーキテクチャテストシステムにおけるベンダハードウェアモジュール更新のコンパクト表現 | |
JP2008531982A5 (ja) | ||
CN104350472B (zh) | 试验系统及服务器 | |
US20150127986A1 (en) | Test program and test system | |
TWI499790B (zh) | 測試系統 | |
US20030217306A1 (en) | Self-programmable microcomputer and method of remotely programming same | |
US7315973B1 (en) | Method and apparatus for choosing tests for simulation and associated algorithms and hierarchical bipartite graph data structure | |
US8131529B2 (en) | Method and system for simulating test instruments and instrument functions | |
US8161449B2 (en) | Improving test pattern coverage through parallel discard, flow control, and quality metrics | |
US20070220461A1 (en) | Method and system for sequential equivalence checking with multiple initial states | |
US20060150126A1 (en) | Hardware verification scripting | |
CA2124991A1 (en) | System and method for performing improved pseudo-random testing of systems having multi driver buses | |
US6978406B2 (en) | System and method for testing memory arrays | |
CN101784905B (zh) | 用于对片上系统的制造进行控制的设计信息的验证 | |
US6681357B2 (en) | MISR simulation tool for memory BIST application | |
US7900183B2 (en) | Vendor independent method to merge coverage results for different designs | |
US6742152B2 (en) | Parallel scan test software | |
US20090070717A1 (en) | Method and System for Generating Coverage Data for a Switch Frequency of HDL or VHDL Signals | |
US6714040B1 (en) | Automated boundary-scan chain composition method using a device database and access mechanism for storing and retrieving situation-dependent operation options | |
JP3422478B2 (ja) | プログラム作成装置、及び、プログラム作成方法 | |
JP3999290B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
US7149990B2 (en) | Architecture specific code | |
US20060047618A1 (en) | Network meta-data libraries and related methods | |
CN117573453A (zh) | 一种用于验证模块化flash功能的系统及方法 | |
JP3537217B2 (ja) | 電子回路設計シミュレーション・テスト装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090224 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120313 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20120514 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130212 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130219 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160301 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |