JP2008507153A - 処理ツール内のウエハハンドリングシステム - Google Patents

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Abstract

半導体処理ツールは、二重に角度をつけたロードロックシステムを有し、各ロードロックチャンバを通る基板通路は、ゲートバルブの一方の側に向かって、角度をつけられ片寄せられる。ウエハハンドリングチャンバは、ロードロックチャンバと選択的に連通する。ウエハハンドリングチャンバは、ロードロックチャンバの両方において基板にアクセスし得るロボットを有する。ゲートバルブは、ロードロックの一方からウエハハンドリングチャンバを隔てる壁のインサートと、インサートに装着されウエハハンドリングチャンバ内へ突出するライナーとを含む。

Description

本発明は、概ね半導体製造に関し、さらに詳細には改良型のウエハハンドリングシステムに関する。
半導体ウエハまたは他のこのような基板は、ウエハキャリアに入れて搬送される一群として、一般に処理ツールの入力に到達し、この入力から、処理ツールの内部ステーション同士の間を搬送させる必要がある。この作業を促進するために、ウエハハンドリングシステムが、1つのステーションから別のステーションへのウエハの搬送を促進する。この工程の間、ウエハが汚染から切り離されていることが重要である。ウエハの表面に汚染粒子が存在すると、製造工程の間に欠陥が生じる恐れがある。よって、ウエハ自体の汚染と、チャンバ同士に起こり得る相互の汚染とを最小限にするように、処理ツール内の隔てたチャンバ同士の間にウエハを移動させる必要がある。
ウエハの汚染を最小限にするためには、ウエハが汚染物質にさらされる時間を最小限にすることが望ましい。汚染物質を最小限にする1つの方法は、規格化されたFOUPを使用することである。
周囲の環境(すなわち、クリーンルーム)に対するウエハの露出を最小限にする別の方法は、ウエハカセット全体またはFOUPを受け入れ得る大容量(例えば、25枚のウエハ)のロードロックチャンバを使用することである。しかしながら、大容量のロードロックチャンバでは、さらに大容量を要する複雑な昇降機構が必要であるなどのいくつかの問題が生じる。ウエハからなるロードを昇降させる空間を設けて、枚葉式ロボットにアクセスさせ得るために、昇降機構には余分のチャンバである「ヘッドルーム」が必要である。大容量のロードロックチャンバの内側が大容量であることによって、パージサイクルを長くして、酸素および湿気などの、ウエハに損傷を与える原因となりかねない物質を除去する必要がある。これらのパージサイクル中に、パージの完了を待っている間に、ウエハの処理に遅れが生じる。2つのロードロックチャンバが使用されるシステムにおいて、実質的に製造ツールの幅を広げる必要があるので、製造ツールのフットプリントも広がり得る。さらに、昇降機構を使用することによって、アップタイムが短くなり、システムの稼働率が下がり、さらに昇降機の構成要素が移動することにより粒子が生じる危険が増す。
ウエハハンドリングシステムでは、ステーション同士の間におけるウエハの搬送を有効に行うために、ロボットアームを使用するのが一般的である。これらの各アームの端には、エンドエフェクタがあり、エンドエフェクタは、一般に、第1のステーションにおいてウエハにアクセスし、ウエハを持ち上げ、ウエハを搬送し、第2のステーションにアクセスし、次にウエハを第2のステーションに置くように構成される。
半導体ウエハの処理コストは、常に最も重要な検討事項であり、単位コストあたりのスループットにより評価されることが多い。コストについての別の方法は、フロアスペース面積あたりのスループットであって、使用される装置のフットプリントを減少させることが望ましい。この両方に関連するのは、設備の投資コストを減少させることが重要という点である。さらに重要なことは、処理ツール内において使用される特定のモジュールを変形したものに、市場において容易に利用し得る規格化された設備を組み込み得ることである。したがって、いずれかの方法により、競合する利点を改善し得る進展が促されることが、非常に望ましい。
本発明の一態様によれば、第1のロードロックチャンバを備えるロードロックシステムが、提供され、第1のロードロックチャンバは、第1のポートおよび第2のポートを有し、第1の軸線が第1のポートに垂直であり、かつ第2の軸線が第2のポートに垂直である。第1の軸線と第2の軸線とは、鈍角を形成する。ロードロックシステムは、第2のロードロックチャンバも備え、第2のロードロックチャンバは、第3のポートおよび第4のポートを有し、第3の軸線が第3のポートに垂直であり、かつ第4の軸線が第4のポートに垂直である。第3の軸線と第4の軸線とは、鈍角を形成する。ロードロックシステムは、第1のポートから第2のポートへの第1のウエハ通路も備え、第1のポートと第2のポートの少なくとも1つのポートを通る第1のウエハ通路の中心が、第1のポートと第2のポートの少なくとも1つのポートの側壁に対してずらされ、また、第3のポートから第4のポートへの第2のウエハ通路も備え、第3のポートと第4のポートの少なくとも1つのポートを通る第2のウエハ通路の中心が、第3のポートおよび第4のポートの少なくとも1つのポートの側壁に対してずらされている。
本発明の別の態様によれば、相互に角度がつけられた入口ゲートバルブおよび出口ゲートバルブを有する第1のロードロックチャンバと、相互に角度がつけられた入口ゲートバルブおよび出口ゲートバルブを有する第2のロードロックチャンバと、を備え、第1のロードロックチャンバのゲートバルブは、第2のロードロックチャンバのゲートバルブのすぐ隣にあるロードロックシステムが提供される。
本発明の別の態様によれば、半導体基板を搬送するためのロードロックチャンバは、左側の壁および右側の壁を有する入口ポートと、左側の壁および右側の壁を有する出口ポートと、基板が移動する、ロードロックチャンバを通る入口ポートから出口ポートへの通路とを備える。通路には、入口ポートを通る通路が出口ポートを通る通路と鈍角を形成するように角度がつけられ、また入口ポートおよび出口ポートの少なくとも1つのポートの左側の壁および右側の壁に対して中心がずらされる。
本発明のさらに別の態様によれば、基板処理用半導体処理ツールは、ロボットを有する大気圧フロントエンドチャンバと、大気圧フロントエンドチャンバに結合される少なくとも1つのロードロックチャンバと、を備える。ロードロックチャンバは、入口および出口と、入口に垂直な第1の軸線、および出口に垂直な第2の軸線とを有する。第1の軸線および第2の軸線は、鈍角を形成し、入口および出口の少なくとも1つを通る基板通路は、入口および出口の少なくとも1つの幅に対して片寄せられる。処理ツールは、ロボットを有するウエハハンドリングチャンバも備える。ウエハハンドリングチャンバは、ロードロックチャンバに結合され、少なくとも1つの基板処理チャンバは、ウエハハンドリングチャンバに結合される。
本発明の別の態様によれば、半導体基板搬送方法が提供される。基板を、カセットローディングドックから、第1のゲートバルブを通ってロードロックチャンバに搬送する。次に、基板を、ロードロックチャンバから、第2のゲートバルブを通って搬送チャンバに搬送し、ロードロックチャンバは、第1のゲートバルブから第2のゲートバルブに基板が移動する基板通路を有する。ゲートバルブの少なくとも1つを通る基板通路は、ゲートバルブの開口部の幅に対して中心がずらされている。
本発明の別の態様に係る半導体処理ツールが提供される。本ツールは、少なくとも1枚の基板を輸送し得る第1のロボットを有する搬送チャンバを含む。ロードロックチャンバは、搬送チャンバと隣接し選択的に連通する。ロードロックチャンバを搬送チャンバから隔てる壁は、開口部を有し、インサートが、壁の開口部内に一直線上に配置される。ゲートバルブライナーが、インサートに装着され、インサートから搬送チャンバに延びる。
本発明のこれらおよび他の態様は、以下の説明、添付の特許請求の範囲を考慮して、また図面から、当業者に容易に明らかになるだろう。これらは、本発明を図示するものであって限定するものではないものと解釈される。
好ましい実施形態および方法の以下の詳細な説明では、特許請求の範囲を理解する助けとなるようにある特定の実施形態を説明する。しかしながら、特許請求の範囲により定められカバーされる多数の異なる実施形態および方法で、本発明を実施し得る。
さらに詳細に例示目的の図面を参照すると、本発明は、図面に全体を示した装置において実施される。本明細書に開示した基本的な構想から逸脱せずに、構成と部品の詳細とについて本装置を変更し、また特定のステップおよびシーケンスについて本方法を変更し得ることが、理解されるだろう。
例示目的の図面をさらに詳細に参照すると、本発明は、図面に全体を図示した装置において実施される。本明細書に開示した基本的な構想から逸脱せずに、構成と部品の詳細とについて本装置を変更し得ることが理解されるだろう。
図1〜図6を参照すると、本発明の好ましい実施形態によって組み立てられた半導体処理ツール5の一実施形態が示されている。図1は、本発明の好ましい実施形態により組み立てられた半導体処理ツール5の一部分を示す、上からの概略平面図である。ここで図1を参照すると、搬送カセット、好ましくはFOUP10が、結合ポート14と、取り外し得るように結合されている。好ましい実施形態では、図1に示すように、それぞれ結合ポート14に結合された2つのFOUP10がある。
図3Aに示すように、FOUP10内には、個別のスロット17を有するカセットラック16があることが好ましい。各スロット17は、ウエハ20を保持し得る。好ましい実施形態では、カセットラック16は、25枚のウエハ20を保持する。各FOUP10は、図1に示すように、第1のウエハハンドリングチャンバ、好ましくは大気圧フロントエンド(AFE)チャンバ22と接合される。AFEチャンバ22は、純度を高くするためにパージされるが、ほぼ標準大気圧で作動するように構成される。FOUP10はまた、選択的にFOUPドア(図示せず)によりチャンバ22から隔てられることが好ましい。他の構成では、AFEを、クリーンルームに開口する簡易なプラットフォームと置き換え得ることを、当業者は理解するだろう。
AFEチャンバ22内には、ロボットアーム24があり、ロボットアーム24は、エンドエフェクタを有することが好ましい。エンドエフェクタは、1つまたはそれ以上の基板支持部を備え、FOUP10からロードロックチャンバ40の1つへ搬送するためのウエハ20を保持し得る。ロボットアーム24は、ウエハ20にアクセスし得るように構成され、当該ウエハ20は、結合ポート14の1つを通って、カセットラック16内に配置される。
一実施形態では、ロボットアーム24のエンドエフェクタは、図2に示すように、真空パドルである。真空ポート26は、図2に示すように、エンドエフェクタの断面が蹄鉄形のベースに配置される。代替構成では、エンドエフェクタは、当業者に容易に明らかな他の構成では、フォーク、パドル、エッジグリップ、真空またはベルヌーイワンドの場合がある。
図2に示すように、ロボットアーム24が、AFEチャンバ22内に中心線12に沿って中央に配置されることが好ましい。図1および図2に示すように、中心線12は、本システムの長手方向に、半導体処理ツール5の中央を下に延びる。ロボットベースが、AFEチャンバ22内に固定されることが好ましく、ロボットアーム24のエンドエフェクタは、図1に示すように、ウエハをFOUP10からロードロックチャンバ40に搬送するように軌道に沿って可動である。ロボットアーム24のエンドエフェクタの軌道の形状は、弓形であることが好ましい。ウエハ20を右側のロードロックチャンバ40内に搬入しているときのロボットアーム24の典型的な位置を、図2に示す。エンドエフェクタは、図2に示すように、端部に支持パッド28を有することが一般的である。エンドエフェクタとウエハ20とが接触する場所を限定して、ウエハ20の裏側への損傷を防止するように、支持パッド28が設けられる。
図2に示すように、ロボットアーム24は、多関節アームであることが好ましい。多関節アームの代わりに他のタイプのロボットまたは搬送アームを使用してよいことを、当業者は理解するだろう。あるいは、例えば、フロッグレッグ形アームを代用してよい。代替一実施形態では、ロボットアーム24のエンドエフェクタは、ベルヌーイワンドを含み、当該ベルヌーイワンドは、ベルヌーイの原理で作動する(以下に詳述)。
ロボットアーム24は、ロードロックチャンバ40へのアクセスを行い得るように構成される。図1を参照すると、好ましい一実施形態では、2つのロードロックチャンバ40は、AFEチャンバ22にも隣接している。ロードロックチャンバ40は、図1に示すように、相互に角度をつけて横に並べて配置することが好ましい。各ロードロックチャンバ40には、ロボットアーム24のエンドエフェクタによりゲートバルブまたはドア42にを経てアクセスを行い得る。ゲートバルブ42は、閉じられると、ロードロックチャンバ40をAFEチャンバ22から隔てて、チャンバ同士の間の相互汚染を妨げる。好ましい一実施形態では、ロボットアーム24は、図1に示すように、ウエハ20をAFEチャンバ22からゲートバルブ42に搬送するように、弓形の通路または軌道に沿って移動し、次にゲートバルブ42からロードロックチャンバ40内への直線形通路に沿って移動する。
ロードロックチャンバ40は、図1および図4に示すように、ロードロックチャンバ40の各端部のゲートバルブまたはドア42で、AFEチャンバ22と第2のウエハハンドリングチャンバ(WHC)44との間を選択的に閉鎖し得る通路として機能するように配置される。したがって、ロードロックチャンバ40は、前端部が、一般に大気圧であるAFEチャンバ22から、また後端部がWHC44から選択的に隔てられ得る。実施時にウエハを両方向に通過させ得ることが理解されるだろうが、便宜上、前端部のゲートバルブ42を入口と呼び、また後または背側端部ゲートバルブ42を出口と呼び得る。ロードロックチャンバ40は、ゲートバルブ42により両方のAFEチャンバ22とWHC44とに結合され、内部が連通し、これによって、チャンバが閉じられるとチャンバ同士の間の相互汚染が妨げられる。ロードロックチャンバ40はまた、例えば、真空吸気機構により排気することにより大気圧の周囲ガスから隔離され得る。また、ロードロックチャンバ40は、例えばガス供給機構により、Nなどの不活性ガスで満たされ得る。
ロードロックチャンバ40は、大気圧のAFEチャンバ22と、一般に真空環境を有するWHC44との間におけるウエハ20の搬送を促進するために使用されることが一般的である。作動圧力に差がなくても、ロードロックを使用しおよびパージを行うことは、バックエンド処理環境の純度を維持することに役立つ。加熱または冷却機構および/または処理ガスとの連結部をロードロックチャンバに追加するとき、ロードロックチャンバ40を前処理ステーションまたは後処理ステーションとして使用し得ることが好ましく、それにより、バッファステーションが不要になり、処理ツール5のフットプリントの大きさが最小限になる。
図1に、ロードロックチャンバ40内のロードロックラックにアクセスするためのロボットアーム24の作動時における例示的な相対的位置を示す。図1に示すように、ロボットアーム24は、弓形の通路に沿って移動して、ロードロックラックにアクセスすることが好ましい。右側のロードロックチャンバ40内のロードロックラックにアクセスするロボットアームを図1に示すが、ロボットアーム24が両方のロードロックチャンバ40の中のウエハ20にアクセスし得ることを、当業者は理解するだろう。同様に、ロボットアーム24は、左側のロードロックチャンバ40内のロードロックラック46にアクセスするように、弓形の通路に沿って移動することが好ましい。
好ましい実施形態では、ロードロックラック46は、2つのサイドコーム60を含んでおり、各ロードロックチャンバ40内にある。図3Bを参照すると、ロードロックラック46は、個別のスロット19または棚からなることが好ましく、各スロットは、単一のウエハ20を保持し得る。好ましい実施形態では、個別のスロット19は、ベルヌーイワンドによりアクセスして、個別のウエハ20をスロット19へ搬入しスロット19から搬出し得るように間隔をおいて配置される。ロードロックラック46は、25枚のウエハ20を保持するように設計されることが好ましい。さらに、FOUP10は、標準的FOUP1つに25枚のウエハを保持するように設計されることが好ましいが、他の実施形態では、コーム60の設計を、25枚を超えるウエハまたは25枚未満のウエハを保持するような設計にしてよい。図3Bは、昇降機構47も示し、当該昇降機構47は、ゲートバルブ42を最小限開口させることによりロボットが各スロット19にアクセスし得るように設計されている。
好ましい実施形態では、カセットラックおよびロードロックラックが、スロットを用いることにより個々のウエハを支持しているが、代替実施形態では、ウエハ同士を、望ましい相対的間隔をあけて配置することを促進する棚または他の適切なウエハ支持構造体を使用することを理解すべきである。大気中のロボットアーム24のエンドエフェクタを、ロードロックラック46の支持コーム同士の間に差し込んで個々のウエハを下から持ち上げるためのパドルとして、説明しているが、例えば、エッジグリップ、ベルヌーイワンドなどの、可変ピッチ機構を有する他のタイプのエンドエフェクタを使用してよいことを、当業者は理解するだろう。
図4は、右側のロードロックチャンバ40の拡大平面図であり、好ましい実施形態における、AFEチャンバ22からロードロックチャンバ40を通ってWHCチャンバ44内へのウエハ20の搬送路を示す。ロードロックチャンバ40の後壁は、WHC44の前方端壁に連結される。図1および図4に示すように、ロードロックチャンバ40は、ゲートバルブ42を介して、WHC44と連通する。
図1に示すように、ロードロックチャンバ40は、中心線12の周りに対称的に配置され、左側のロードロックチャンバ40は、右側のロードロックチャンバ40の実質的に鏡像であることが好ましく、同様の構成である。したがって、右側のロードロックチャンバ40の説明は、左側のロードロックチャンバ40にも当てはまることになる。本発明の好ましい実施形態では2つのロードロックチャンバ40を説明するが、その代わりに1つまたは3つあるいはそれ以上のロードロックチャンバを使用してよいことを、当業者は理解するだろう。
図4は、ロードロックチャンバ40内におけるロードロックラック46のウエハコーム60の構成を示す。ウエハコーム60は、ウエハ20が、ロードロックチャンバ40を通って、角度をつけられたまたは曲がったウエハ通路58をたどり得るように配置される。2つのウエハコーム60があり、1つは、ロードロックチャンバ40の左側にあり、もう1つは、ロードロックチャンバ40の右側にあることが好ましい。好ましい実施形態では、ウエハコーム60は、スロットを25個積み重ねたものに配置され、ウエハ20を25枚保管し得る。
ウエハコーム60は、図4に示すように、ロードロックチャンバ40内の、ウエハ通路58に角度がつけられた場所に配置されることが、好ましい。ウエハ通路58につけられた角度は、ウエハ20が、前方ゲートバルブ軸線55に沿ってAFEチャンバ20からロードロックチャンバ40に入り、ロードロックチャンバ40から後方ゲートバルブ軸線50に沿ってWHCチャンバ44内に出て行くような角度である。2本の軸線は、図4に示すように、交わった場所に適切な鈍角θを形成して、半導体処理ツール5の全幅が、所望の全幅wになり得る。
図1に示すように、左側のロードロックチャンバ40と右側のロードロックチャンバ40とは、相互の鏡像であり、図1に示すように、相互に角度をつけて配置される。AFEチャンバ22内において同じロボットアーム24が、またWHC44内において同じWHCロボット56が、アクセスし得るように、ロードロックチャンバ40に角度をつけることが好ましい。好ましい実施形態では、ロードロックチャンバ40同士の間の角度は、WHC44とロードロックチャンバ40との間のゲートバルブ42の幅により定められる。したがって、ロードロックチャンバ40同士の間の角度と、ゲートバルブ42の幅とによって、半導体処理ツール5の全幅が定められる。上記のように、処理ツール5の全幅を最小限にすることが好ましい。
好ましい実施形態では、角度θは、15°と30°との間である。角度θは、18°と25°との間であることがさらに好ましい。好ましい実施形態では、ゲートバルブ42は、幅が、12インチと15インチとの間である。ゲートバルブ42の幅は、13インチと13.5インチとの間であることがさらに好ましい。ゲートバルブの幅は約13.2インチであることが、さらに一層好ましい。ツールの全幅は、30インチと45インチとの間が好ましく、32インチと38インチとの間であることがさらに好ましい。
好ましい実施形態では、幅が13.2インチ、角度θが約22°、半導体処理ツール5の全幅が36インチ未満のゲートバルブ42を有する。このような幅の処理ツール5内のロードロックチャンバ40は、12インチ(300mm)ウエハを処理するために予め設定された幅を有する、AFEチャンバなどのモジュールに結合されるように構成され得る。
図4を参照すると、好ましい実施形態、ロードロックチャンバ40同士の間の距離L3は、半導体処理ツール5の全幅を短くするように、いくつかの方法により短くし得る。例えば、ゲートバルブ42は、できる限り相互に接近させて配置して、それにより、隙間L3を最小限にし得る。図4に示すように、2つのロードロックチャンバ40の内側の壁52は、ゲートバルブ42の付近において相互に接して、隙間L3が、「ゼロ」または実質的にゼロになる。
ロードロックチャンバ40同士の間の角度を狭くする別の方法は、ロードロックチャンバ40を通るウエハ搬送通路58を変更することである。ウエハ20が、ゲートバルブ42を通過している時にゲートバルブ42の開口部の一方の側に片寄るように、ウエハ搬送通路58を配置し得る。換言すれば、ウエハ20の中心が、ゲートバルブ42を通過している時に外側の壁54よりも内側の壁52に近づくように通過する。
ゲートバルブ42の開口部の中心線50を図4に示し、図4は、ウエハ搬送通路58が、ロードロックチャンバ40の内側の壁52および外側の壁54に対して、ロードロックチャンバ40内の中心には配置されていないことを示している。図4に示すように、ウエハ通路58は、ゲートバルブ42の開口部の中心線50から位置がずれており、ここに示す実施形態では中心線50と平行である。図4に示すように、ウエハ20またはゲートバルブ42の、内側の壁52側における隙間L1は、ウエハ20またはゲートバルブ42の、外側の壁54側における隙間よりも狭いL2である。好ましい実施形態では、ウエハ20またはゲートバルブ42の、内側の壁52側における隙間L1は、0.15インチから0.35インチの範囲である。ウエハ20またはゲートバルブ42の、内側の壁52側における隙間L1は、約0.25インチであることがさらに好ましい。ウエハ20またはゲートバルブ42の、外側の壁54側における隙間L2は、0.8インチから1.2インチの範囲であることが好ましい。ウエハ20またはゲートバルブ42の、外側の壁54側における隙間L2は、約1.06インチであり、内側の壁52側における隙間の4倍を超えることがさらに好ましい。隙間L2は、隙間L1の少なくとも2倍の長さであることが好ましい。
ウエハ通路58の位置が後方ゲートバルブ軸線50から内向きにずれるように、外側のコームを内向きに調節することによって、またウエハ通路58を、ゲートバルブの中心線または軸線50に対して内向きにさらに調節することによって、ロードロックチャンバ40の幅を、2つのロードロックチャンバ40をなお使用しながら標準的なWHC44と結合するように狭くし得る。同時に、処理ツール5のフットプリントも狭くなり得る。後方ゲートバルブ軸線57と平行なウエハ通路58を伴って図示しているが、通路58および軸線57の位置を相互にずらした上角度をつけ得ることが理解されるだろう。
したがって、コーム60、よってウエハ通路58の位置を選択することによって、右側のロードロックチャンバ40と左側のロードロックチャンバ40とを、ゲートバルブ42同士の間の隙間L3が図3に示すように最小限になるように装着し得る。隙間L3が狭くなる程、装着され得るロードロックチャンバ40同士の幅が狭くなる。隙間L3を最小限にすることは、半導体処理ツール5の全幅を狭くするために重要である。隙間L3を狭くすることはまた、所定の幅であり利用可能なAFEチャンバ20およびWHC44をロードロックチャンバ40に取り付けるために、重要である。
図5および図6を参照すると、一実施形態では、ゲートバルブ42用のゲートバルブライナー68が使用されている。図5は、マサチューセッツ州ウォーバンのVAT,Inc.により製造されたゲートバルブライナー68の正面斜視図である。このようなライナー68は、各ゲートバルブ42の開口部に配置されることが好ましい。
ゲートバルブは、ロードロックチャンバ40とWHC44との間に配置されることが、一般的である。ゲートバルブライナーを使用することによって、一般に、交換が容易な、チャンバ同士の間の保護シール面が得られ、当該保護シール面は、ゲートバルブの開閉により粒子が生成されにくくなり、またウエハの不用意な落下により擦傷しにくくなるように選択された材料からなる。しかしながら、ここに示す実施形態では、ゲートバルブライナー68は、処理ツール5の全体の寸法を小さくし得るように、ゲートバルブインサート78によって配置される。ゲートバルブライナー68およびゲートバルブインサート78が、ロードロックチャンバ40とWHC44との間というより、WHC44およびその壁の範囲内に配置されるので、処理ツール5の全長は、図6に示すようにWHC44がロードロックチャンバ40に直接接することから短くなり得る。同様に、インサート型のゲートバルブを使用することによって、隙間L3がさらに最小限になり得るので、処理ツール5の幅全体が、同様に短くなり得る。
ゲートバルブライナー68の一方の側の表面76は、WHC44内から見える。好ましい実施形態では、ゲートバルブライナー68の開口部は、内側の幅wが約13.2インチ、高さhが約2インチである。この大きさのゲートバルブ開口部は、好ましい実施形態のウエハ通路の位置をずらしたにもかかわらず、12インチ(300mm)のウエハ20に開口部を通過させ得る。ゲートバルブライナー68の外寸は、幅が約14.6インチ、高さが3.4インチであることが好ましい。よって、ゲートバルブライナー68の厚さtは、約1.4インチである。
図6は、ロードロックチャンバ40およびWHC44と関連するゲートバルブライナー68を示す側方断面図である。図6に示すように、ゲートバルブライナー68は、WHC44の壁に隣接して配置される。図6に示すように、ゲートバルブライナー68をWHC44の壁に取り付けるためのゲートバルブインサート78がある。図6はまた、好ましい実施形態において、ゲートバルブインサート78がゲートバルブライナー68とWHC44の壁とに対して密閉される場所にあるシール82を示す。当業者に理解されるように、WHC44の壁は、密閉構造に適応する特徴を有することが好ましい。
図5に示すように、好ましい実施形態では、インサート型のゲートバルブ68の面76は、16個程度の雌ねじが切られた止まり穴70を有することが好ましい。ねじ80が、ゲートバルブライナー68をインサート78に取り付けるように穴70から配置され、当該インサート78は、図6に示すようにWHC44の壁に配置される。図5に示すように、位置決めピンによる位置決め用の穴72も、各角に1つずつ、4つあることが好ましい。ピンによる位置決め用の穴72は、ゲートバルブライナー68をインサート78と一直線上に並べるためのものである。
好ましい実施形態では、インサート78は、雌ねじが切られた複数の穴を有し、当該各穴は、ねじ80を受け入れるように構成される。インサート78は、実質的にL字形の断面を有し、図6に示すようにWHC44の壁の開口部の所定の嵌合用段状部内にはめ込まれる。インサート78は、ステンレス鋼からなることが好ましい。インサート78は、ライナー68の形状と適合する単一の長方形のリングを含み得るか、または別個の上方部材および下方部材を含み得る。
インサート78によって、WHC44の壁へのインサート型ゲートバルブ68の取り付けをさらに容易に行うことができる。インサート78は、図6に示すようにWHC44の壁に配置される。インサート78を使用することによって、製造上の利点も得られる。インサート78によって、ゲートバルブライナー68に対する公差を非常に精密に保ち得る。さらに、ゲートバルブライナー68が損傷を受けた場合、ゲートバルブライナー68を単に交換すればよい。組立中、ゲートバルブライナー68はWHC44内から装着されることが好ましいが、インサートは、外側からWHC44の壁の開口部内に装着されることを、当業者は理解するだろう。
ウエハ20をFOUP10からWHC44へ搬送する操作を以下に詳述する。図1に示す実施形態の操作は、ウエハ20の入ったFOUP10がAFEチャンバ22の結合ポート14に到着することから開始されることが好ましい。AFEチャンバ22内に配置されたロボットアーム24が、エンドエフェクタを、弓形の通路を通って結合ポート14に動かすことが好ましく、FOUP10内に収容されたカセットラック16の最も近くにエンドエフェクタを配置する。次に、ロボットアーム24は、カセットラック16からウエハ20を取り出し、汚染を最小限にするためにAFEチャンバ22を閉鎖する。好ましい実施形態では、ウエハロボットアーム24は、搬出後、上述のように、ウエハ20の全てをFOUP10からツール5内に搬送するのに必要な回数周期的に繰り返すため、カセットラック16に戻る。
ウエハ20をカセットラック16からAFEチャンバ22に搬送した後、AFEチャンバ22と、ロードロックチャンバ40の1つとの間のゲートバルブ42が、開放され、ロボットアーム24が、ウエハ20をロードロックラック46に配置し、ロードロックラック46は、不活性環境に維持されている。処理済みのウエハは、ロボットアームの復路においてカセットラック16に輸送されることが好ましいが、処理を要するウエハ20は、ロボットアーム24によりロードロックラック46に搬出されることが好ましい。一実施形態では、未処理のウエハをロードロックチャンバ40内に保管するが、処理済みのウエハは、別のロードロックチャンバ40内に保管する。ロボットアーム24は、カセットラック16とロードロックラック46との間を周期的に動き続けるようにプログラムされることが好ましく、ロードロックチャンバ40は、一杯である。入口のガスバルブ42が、閉鎖され、ロードロックチャンバ40は、パージされかつ/または減圧される。ロードロックチャンバ40は、排気口から、WHC44の排気レベルと実質的に同じ排気レベルに排気されることが好ましい。排気されたロードロックチャンバ40とWHC44との間のアクセスは、ロードロックチャンバ40とAFEチャンバ22との間のゲートバルブ42を閉鎖したまま、2つのチャンバの間のゲートバルブ42を開放することにより、行われる。
図1を参照すると、ロードロックチャンバ40の後にウエハハンドリングチャンバ(WHC)44がある。WHCロボット56が、ロードロックチャンバ40とプロセスチャンバ62の内側とに有効にアクセスするようにWHC44内に配置される。当業者には容易に分かるように、1つを超えるプロセスチャンバ62をWHC44に隣接させてよく、また、個別のプロセスチャンバ62の全ての内側に有効にアクセスするようにWHCロボット56を配置し得る。ウエハに同じ処理を行うために複数のプロセスチャンバ62を使用してよい。あるいは、当業者は理解するだろうが、各プロセスチャンバ62は、別々の処理をウエハに行い得る。当該処理には、限定はしないが、スパッタリング、化学気相成長法(CVD)、エッチング、アッシング、酸化、イオン注入、リソグラフィ、拡散などがある。各プロセスチャンバ62は、一般に、プロセスチャンバ62内において処理されるウエハを支持するためのサセプタまたは他の基板支持部を収容する。プロセスチャンバ62には、真空ポンプへの連結部、処理ガス噴射機構、排気および加熱機構が備え付けられることが一般的である。プロセスは、プロセスチャンバ62内において、ミリトルの範囲から250トルの範囲の低圧で行われることが一般的である。
未処理のウエハ20がロボットアーム24によりロードロックチャンバ40に搬入されると、ロードロックチャンバ40とAFEチャンバ22との間のゲートバルブ42が、閉鎖されて、チャンバ同士が隔てられる。
WHCロボット56は、未処理のウエハ20を、ロードロックチャンバ40内のロードロックラック46から、開放されたゲートバルブ42を通って、WHC44を経て処理用のプロセスチャンバ62内へ別々に搬送することが、好ましい。1枚を超えるウエハが、WHC44内へ搬出され、待機ステーション61に一時的に保管され、この待機ステーション61は、スループットを増進させるために冷却ステーションとしての役割も担い得る。次に、処理済みのウエハ20が、WHCロボット56によりプロセスチャンバ62から取り出され、ロードロックチャンバ40内のロードロックラック46に戻される。ロードロックチャンバ40は、ロードロックチャンバ40と、大気圧であるAFEチャンバ22との間の圧力を実質的に均等にするように排出されることが好ましい。次に、上述のように、ロボットアーム24は、ウエハ20をロードロックラック46からカセットラック16に搬送して戻すことが好ましい。
好ましい実施形態では、清浄化装置であるクリーンルームの壁63の側にカセット10が配置されている間ウエハが露出されない「グレールーム」環境を、壁63が画定する。代替実施形態では、クリーンルームの壁63は、プロセスチャンバ62により接近させて配置するか、または完全に製造ツール設備からなくすことができる。
好ましい実施形態では、WHCロボット56のエンドエフェクタは、ベルヌーイワンドである。代替実施形態では、エンドエフェクタは、例えば、フォーク、パドル、エッジグリップまたは真空ワンドでもよい。
ベルヌーイワンドにより得られる利点は、高温のウエハが、おそらくはワンドの下側に配置された1つまたはそれ以上の小型の縁位置探査装置を除いて、一般にピックアップ用ワンドと接触しないことである。このようなベルヌーイワンドが、Goodwin他への米国特許第5,080,549号明細書に示されており、これは、参照により本明細書に組み込まれる。図7Aは、好ましい実施形態のベルヌーイワンド90の上部斜視図、図7Bは、同上部平面図、図7Cは、同側面図である。
ベルヌーイワンドは、ベルヌーイの原理で作動し、この原理によって、相対的に高速の複数のガス流が、ワンドの下側のスロット92を通ってウエハ上方を流れ、ウエハの直径における圧力が低下して、ウエハをワンドの方へ向かって上方に引き上げる。不活性ガスの噴射によって、エンドエフェクタとウエハ20との間に低圧ゾーンが生じる。噴射流は、通常垂直と水平との間の角度がつけられて、低圧ゾーンが生じ、ガスのクッションが生じて、ウエハとワンドとが直接接触することが防止される。ベルヌーイワンド内において使用する一般的なガスは、Nである。図7Cに示すように、ベルヌーイワンド90は、ウエハ20がワンドから横方向に流れないようにする下方ワンド脚部94を含む。ワンド脚部94は、通常、ウエハの下面よりも下方向に延びる。ベルヌーイワンドは、一般に、プロセスチャンバ62内のウエハホルダ(図示せず)の上方においてウエハ20を中央に配置し、次に、ウエハ20をウエハホルダ上に降下させるか、またはウエハ20をウエハホルダの上に落下させる。ウエハホルダは、ウエハ20を受け入れるように設計されたポケットまたは凹所を含み得る。ウエハホルダのポケットの上面は、ウエハとウエハホルダとの間のガスがウエハ20の縁の周りにおいて漏出し得る溝を含み得る。このような溝は、ウエハがウエハホルダに対して水平方向に滑ることを妨げることに役立つ。
好ましい実施形態では、ベルヌーイワンドの幅は、搬送するウエハ20の幅と実質的に等しい。一実施形態では、ベルヌーイワンドの幅wは、12インチであり、12インチは、およそ300.228mmであって、または300mmウエハの大きさより若干大きい。ベルヌーイワンドの構成は、ベルヌーイワンドが、ロードロックカセット46のコーム60により画定されたスロット内をウエハの上方において移動して、上方からウエハ20をピックアップするような構成にし得る。ベルヌーイワンドは、石英からなることが好ましい。
一実施形態によれば、WHCロボット56のエンドエフェクタは、ウエハ20を複数のロードロックチャンバ40のいずれかからゲートバルブ42を通ってWHC44内へ搬送するために、一直線の通路を移動することが好ましい。好ましい実施形態の実施において、ベルヌーイワンドは、ロードロックチャンバ40内において単一のウエハ20をピックアップし、図1に示すように、好ましくは一直線の通路58においてウエハ20をロードロックチャンバ40からゲートバルブ42を通ってWHC44内に搬送する。次に、WHCロボット56は、ウエハ20を直接または待機ステーション61を経て、処理用のプロセスチャンバ62内に搬送する。ウエハ20の処理が終わった後、次に、WHCロボット56は、プロセスチャンバ62から処理済みのウエハ20をピックアップし、WHC44を通って直接または待機ステーション61を経て、ゲートバルブ42を通ってロードロックチャンバ40内に搬送する。
集積回路を作製するためのプロセスチャンバにウエハを搬送する好ましい方法を、図8のプロセスフローチャートに示し、当該フローチャートは、基板カセットを処理ツールの前方結合ポートとまず結合させるステップ100を含む。
次に、AFEチャンバ内においてロボットアームによりフロントエンドインターフェースからロードロックチャンバに、複数の基板の1枚またはそれ以上の基板を搬送する110。ロードロック内に複数のウエハを次々に搬送することが、好ましい。次に、ゲートバルブを閉鎖することによりロードロックチャンバのフロントエンドまたは入口ポートを密閉することが好ましく、ロードロックチャンバは、AFEチャンバ内の大気圧の周囲ガスから隔てられる120。ロードロックチャンバは、真空吸気機構により排気しかつ/またはガス供給機構により不活性ガス、例えば、Nガスなどで、パージし得る。
次に、ロードロックチャンバの後方端部または出口側のゲートバルブが、ロードロックチャンバおよびWHCが連通するように開放される。次に、(複数の)基板が、WHC内のWHCロボットによりロードロックチャンバからWHCに搬送される130。WHCは、ゲートバルブを閉鎖する前後に、連続して排気され、不活性ガスでパージされる140ことが好ましい。
次に、WHCとプロセスチャンバとの間のゲートバルブが開放された後、個々の基板が、WHCロボットにより処理ツールのプロセスチャンバに搬送される150。ゲートバルブが閉鎖されてプロセスチャンバがWHCから隔てられた後、プロセスチャンバ内において基板の処理(例えば、堆積、エッチングなど)が行われる。
本発明のある好ましい実施形態の特徴は、半導体処理ツールの全体の寸法を最小限にし得ることである。ロードロックチャンバの幅は、所定の幅のAFEチャンバとの結合を行い得るように狭くし得る。利用可能なゲートバルブライナーをWHCの壁と結合するためのインサートの設計によって、処理ツールの製造上の利点を得られ、また処理ツールの全長を短くし得る。
本発明を、ある好ましい実施形態および例に関して開示してきたが、本発明が、特に開示した実施形態を超えて他の代替実施形態に及ぶこと、および/または本発明およびその明らかな変更の場合使用することを、当業者は理解するだろう。よって、本明細書に開示の本発明の範囲は、ここに開示した特定の上記実施形態により限定されないが、以下の特許請求の範囲を公平に読むことによってのみ限定されるものと解釈される。
本発明の好ましい実施形態によって構成された半導体処理ツールの一部分を示す概略上部平面図である。 図1のFOUP、大気圧のフロントエンドチャンバ、ロードロックチャンバの概略上部平面図であり、ロボットアームがロードロックチャンバの1つにアクセスする様子を示している。 好ましい実施形態に係るロードロックチャンバ内のカセットラックの上部および前部の概略斜視図であり、この図では、FOUPのドアは図示していない。 好ましい実施形態に係る支持ラックを有するロードロックチャンバを使用する実施形態の上部および前部の概略斜視図である。 本発明の実施形態に係る図1の右側のロードロックチャンバの上部平面図である。 一実施形態に係るゲートバルブのインサートの正面斜視図である。 一実施形態に係る、ロードロックチャンバおよびウエハハンドリングチャンバと連係するゲートバルブインサートの側方断面図である。 好ましい実施形態のウエハハンドリングロボットのベルヌーイワンド型エンドエフェクタの上部斜視図である。 好ましい実施形態のウエハハンドリングロボットのベルヌーイワンド型エンドエフェクタの上部平面図である。 好ましい実施形態のウエハハンドリングロボットのベルヌーイワンド型エンドエフェクタの側面図である。 本発明の実施形態に係る好ましい集積回路製造方法のプロセスフローチャートである。

Claims (32)

  1. 第1のポートおよび第2のポートを有し、第1の軸線が前記第1のポートに垂直であり、かつ第2の軸線が前記第2のポートに垂直であり、また前記第1の軸線と前記第2の軸線とが鈍角を形成する、第1のロードロックチャンバと、
    第3のポートおよび第4のポートを有し、第3の軸線が前記第3のポートに垂直であり、かつ第4の軸線が前記第4のポートに垂直であり、前記第3の軸線と前記第4の軸線とが鈍角を形成する第2のロードロックチャンバと、
    前記第1のポートから前記第2のポートへの第1のウエハ通路であって、前記第1のポートと第2のポートの少なくとも1つのポートを通る前記第1のウエハ通路の中心が、前記第1のポートと第2のポートの少なくとも1つのポートの側壁に対してずらされている第1のウエハ通路と、
    前記第3のポートから前記第4のポートへの第2のウエハ通路であって、前記第3のポートと第4のポートの少なくとも1つのポートを通る前記第2のウエハ通路の中心が、前記第3のポートおよび第4のポートの少なくとも1つのポートの側壁に対してずらされている第2のウエハ通路と、
    を備えるロードロックシステム。
  2. 前記第1のロードロックチャンバは、前記第2のロードロックチャンバに隣接する請求項1に記載のロードロックシステム。
  3. 前記第1のロードロックチャンバおよび第2のロードロックチャンバに結合され、前記第1のロードロックチャンバおよび第2のロードロックチャンバ内において基板にアクセスし得るロボットを有する、ウエハハンドリングチャンバをさらに備える請求項2に記載のロードロックシステム。
  4. 前記ウエハハンドリングチャンバは、前記第1のロードロックチャンバおよび第2のロードロックチャンバに隣接する請求項3に記載のロードロックシステム。
  5. 前記第1のロードロックチャンバおよび第2のロードロックチャンバから前記ウエハハンドリングチャンバを選択的に密閉するように、前記ウエハハンドリングチャンバの壁に装着される、ゲートバルブをさらに備える請求項3に記載のロードロックシステム。
  6. 前記各ゲートバルブは、
    前記ウエハハンドリングチャンバの壁内に装着された少なくとも1つのインサートと、
    前記ウエハハンドリングチャンバ内に配置され、選択的に密閉可能な開口部を有し、前記少なくとも1つのインサートに装着されるバルブライナーと、
    を備える請求項5に記載のロードロックシステム。
  7. 相互に角度がつけられた入口ゲートバルブおよび出口ゲートバルブを有する第1のロードロックチャンバと、
    相互に角度がつけられた入口ゲートバルブおよび出口ゲートバルブを有する第2のロードロックチャンバであって、当該第2のロードロックチャンバの前記ゲートバルブのすぐ隣に前記第1のロードロックチャンバのゲートバルブがある第2のロードロックチャンバと、
    を備えるロードロックシステム。
  8. 少なくとも1つのゲートバルブを通るウエハ通路の中心が、前記少なくとも1つのゲートバルブの幅に対してずらされている請求項7に記載のロードロックシステム。
  9. 前記第1のロードロックチャンバおよび第2のロードロックチャンバの出口ゲートバルブを通って基板にアクセスし得るロボットを有するウエハハンドリングチャンバをさらに備える請求項7に記載のロードロックシステム。
  10. 前記第1のロードロックチャンバは、前記入口ゲートバルブから前記出口ゲートバルブへ通じるウエハ通路を有し、前記入口ゲートバルブを通る前記ウエハ通路は、第1の軸線に沿って第1の方向にあり、前記出口ゲートバルブを通る前記ウエハ通路は、第2の軸線に沿って第2の方向にあり、前記第1の軸線と前記第2の軸線とが、鈍角を形成する請求項7に記載のロードロックシステム。
  11. 両方のロードロックチャンバの幅を約32インチと38インチとの間に定める請求項7に記載のロードロックシステム。
  12. 半導体基板を搬送するためのロードロックチャンバであって、
    左側の壁および右側の壁を有する入口ポートと、
    左側の壁および右側の壁を有する出口ポートと、
    前記基板が移動する、前記ロードロックチャンバを通る前記入口ポートから前記出口ポートへの通路であって、当該通路は、前記入口ポートを通る通路が前記出口ポートを通る通路と鈍角を形成するように角度をつけられ、かつ前記入口ポートおよび出口ポートの少なくとも1つのポートの前記左側の壁および前記右側の壁に対して中心がずらされる、通路と、
    を備えるロードロックチャンバ。
  13. 前記入口ポートおよび前記出口ポートは、前記ロードロックチャンバを隔てるように選択的に密閉可能である請求項12に記載のロードロックチャンバ。
  14. 各前記入口ポートおよび前記出口ポートは、ゲートバルブを備える請求項12に記載のロードロックチャンバ。
  15. 前記通路は、前記右側の壁および左側の壁の一方の壁に対して0.15インチと0.35インチとの間の隙間を伴って、かつ前記右側の壁および左側の壁の他方の壁に対して0.8インチと1.2インチとの間の隙間を伴って、前記基板を通過させるように配置される請求項12に記載のロードロックチャンバ。
  16. 基板処理用半導体処理ツールであって、
    ロボットを有する大気圧フロントエンドチャンバと、
    前記大気圧フロントエンドチャンバに結合された少なくとも1つのロードロックチャンバであって、前記少なくとも1つのロードロックチャンバは、入口および出口と、入口に垂直な第1の軸線、および前記出口に垂直な第2の軸線とを有し、前記第1の軸線および前記第2の軸線は、鈍角を形成し、前記入口および出口の少なくとも1つを通る基板通路は、前記入口および出口の少なくとも1つの幅に対して片寄せられるロードロックチャンバと、
    前記ロードロックチャンバに結合され、ロボットを有するウエハハンドリングチャンバと、
    前記ウエハハンドリングチャンバに結合された少なくとも1つの基板処理チャンバと、
    を備える半導体処理ツール。
  17. 2つのロードロックチャンバを備え、前記2つのロードロックチャンバは、相互に隣接して並べて配置される請求項16に記載の半導体処理ツール。
  18. 前記ロードロックチャンバから前記ウエハハンドリングチャンバを選択的に密閉するためのゲートバルブをさらに備え、前記ゲートバルブは、前記ウエハハンドリングチャンバの壁に装着される請求項16に記載の半導体処理ツール。
  19. 前記ウエハハンドリングチャンバは、前記ロードロックチャンバのすぐ隣にあり、前記ゲートバルブ用の開口部を囲むライナーを含み、前記ライナーは、前記ウエハハンドリングチャンバ内に突出する請求項18に記載の半導体処理ツール。
  20. 前記ライナーは、インサートに直接装着され、当該インサートは、前記ウエハハンドリングチャンバを前記ロードロックチャンバから隔てる壁内にはめ込まれる請求項19に記載の半導体処理ツール。
  21. 半導体基板搬送方法であって、
    前記基板を、カセットローディングドックから、第1のゲートバルブを通ってロードロックチャンバに搬送するステップと、
    前記基板を、前記ロードロックチャンバから、第2のゲートバルブを通って搬送チャンバに搬送するステップと、
    を含み、
    前記ロードロックチャンバは、前記第1のゲートバルブから前記第2のゲートバルブに前記基板が移動する基板通路を有し、前記ゲートバルブの少なくとも1つを通る前記基板通路は、前記ゲートバルブの開口部の幅に対して中心がずらされている、半導体基板搬送方法。
  22. 前記基板が、前記大気圧のフロントエンドチャンバから弓形の通路に沿って前記ロードロックチャンバに搬送される請求項21に記載の方法。
  23. 前記基板が、前記ロードロックチャンバから一直線の通路に沿って前記搬送チャンバに搬送される請求項21に記載の方法。
  24. 前記基板通路は、前記第1のゲートバルブを通る第1の軸線に沿った前記基板通路が、前記第2のゲートバルブを通る第2の軸線に沿った前記基板通路に対して鈍角を形成するようなものである請求項21に記載の方法。
  25. 少なくとも1枚の基板を輸送し得る第1のロボットを有する搬送チャンバと、
    前記搬送チャンバと隣接し選択的に連通するロードロックチャンバと、
    開口部を有し、前記ロードロックチャンバを前記搬送チャンバから隔てる壁と、
    前記壁の開口部内に一直線上に配置されるインサートと、
    前記インサートに装着され、前記インサートから前記搬送チャンバに延びるゲートバルブライナーと、
    を備える半導体処理ツール。
  26. 前記ロードロックチャンバは、角度をつけられた基板通路を有する請求項25に記載の半導体処理ツール。
  27. 前記インサートおよびライナーは、ゲートバルブの開口部を画定し、ゲートバルブの内側の壁およびゲートバルブの外側の壁を含み、前記内側の壁および外側の壁の一方の方へ片寄せられた基板通路を有する請求項25に記載の半導体処理ツール。
  28. 前記基板通路は、前記第1のロボットと、前記ロードロックチャンバと連通するフロントエンドインターフェース内の第2のロボットとにより部分的に画定される請求項27に記載の半導体処理ツール。
  29. 前記基板通路は、前記フロントエンドインターフェースと前記ロードロックチャンバとの間の第1の脚部と、前記ロードロックチャンバと前記搬送チャンバとの間の第2の脚部とを含み、前記第1の脚部は、前記第2の脚部に対して角度をつけられる請求項28に記載の半導体処理ツール。
  30. 前記ロードロックチャンバに隣接し前記搬送チャンバと連通し、前記ロードロックチャンバの鏡像である第2のロードロックチャンバをさらに備える請求項29に記載の半導体処理ツール。
  31. 前記インサートは、前記壁と面一である請求項25に記載の半導体処理ツール。
  32. 前記インサートは、前記壁の開口部の段状部と嵌合するL字状の断面である請求項25に記載の半導体処理ツール。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009239085A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Foi:Kk 半導体ウェハ搬送装置および半導体ウェハ搬送方法
JP2018189218A (ja) * 2017-05-11 2018-11-29 東京エレクトロン株式会社 ゲートバルブ装置及び基板処理システム

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4098338B2 (ja) * 2006-07-20 2008-06-11 川崎重工業株式会社 ウェハ移載装置および基板移載装置
US20080025835A1 (en) * 2006-07-31 2008-01-31 Juha Paul Liljeroos Bernoulli wand
KR100847888B1 (ko) 2006-12-12 2008-07-23 세메스 주식회사 반도체 소자 제조 장치
KR101522324B1 (ko) * 2007-05-18 2015-05-21 브룩스 오토메이션 인코퍼레이티드 로드 락 빠른 펌프 벤트
US10541157B2 (en) 2007-05-18 2020-01-21 Brooks Automation, Inc. Load lock fast pump vent
US7668615B2 (en) * 2007-10-02 2010-02-23 GlobalFoundries, Inc. Method and apparatus for randomizing dispatch order for single wafer processing
GB2469112A (en) * 2009-04-03 2010-10-06 Mapper Lithography Ip Bv Wafer support using controlled capillary liquid layer to hold and release wafer
JP6063776B2 (ja) * 2013-03-04 2017-01-18 東京エレクトロン株式会社 基板搬送経路の決定方法、基板搬送装置、基板処理装置及びプログラム
JP6128050B2 (ja) * 2014-04-25 2017-05-17 トヨタ自動車株式会社 非接触型搬送ハンド
TW201639063A (zh) 2015-01-22 2016-11-01 應用材料股份有限公司 批量加熱和冷卻腔室或負載鎖定裝置

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4917556A (en) * 1986-04-28 1990-04-17 Varian Associates, Inc. Modular wafer transport and processing system
JPH0793348B2 (ja) * 1989-05-19 1995-10-09 アプライド マテリアルズ インコーポレーテッド 多重チャンバ真空式処理装置及び多重チャンバ真空式半導体ウェーハ処理装置
JP2986121B2 (ja) * 1991-03-26 1999-12-06 東京エレクトロン株式会社 ロードロック装置及び真空処理装置
US5516732A (en) * 1992-12-04 1996-05-14 Sony Corporation Wafer processing machine vacuum front end method and apparatus
US5387067A (en) * 1993-01-14 1995-02-07 Applied Materials, Inc. Direct load/unload semiconductor wafer cassette apparatus and transfer system
KR100261532B1 (ko) * 1993-03-14 2000-07-15 야마시타 히데나리 피처리체 반송장치를 가지는 멀티챔버 시스템
US5588789A (en) * 1995-07-06 1996-12-31 Brooks Automation Load arm for load lock
US5908281A (en) * 1996-09-20 1999-06-01 Brooks Automation Inc. Coaxial drive loader arm
US5997235A (en) * 1996-09-20 1999-12-07 Brooks Automation, Inc. Swap out plate and assembly
JP3936030B2 (ja) * 1997-06-23 2007-06-27 東京エレクトロン株式会社 被処理体の回収方法
US6517303B1 (en) * 1998-05-20 2003-02-11 Applied Komatsu Technology, Inc. Substrate transfer shuttle
WO2000028587A1 (fr) * 1998-11-09 2000-05-18 Tokyo Electron Limited Dispositif de traitement
US6347918B1 (en) * 1999-01-27 2002-02-19 Applied Materials, Inc. Inflatable slit/gate valve
US6092981A (en) * 1999-03-11 2000-07-25 Applied Materials, Inc. Modular substrate cassette
TW484170B (en) * 1999-11-30 2002-04-21 Applied Materials Inc Integrated modular processing platform
US20020061248A1 (en) * 2000-07-07 2002-05-23 Applied Materials, Inc. High productivity semiconductor wafer processing system
US6553280B2 (en) * 2000-07-07 2003-04-22 Applied Materials, Inc. Valve/sensor assemblies
US6918731B2 (en) * 2001-07-02 2005-07-19 Brooks Automation, Incorporated Fast swap dual substrate transport for load lock
US6729824B2 (en) * 2001-12-14 2004-05-04 Applied Materials, Inc. Dual robot processing system
JP2004006665A (ja) * 2002-02-20 2004-01-08 Tokyo Electron Ltd 真空処理装置
US6935828B2 (en) * 2002-07-17 2005-08-30 Transfer Engineering And Manufacturing, Inc. Wafer load lock and magnetically coupled linear delivery system
US7458763B2 (en) * 2003-11-10 2008-12-02 Blueshift Technologies, Inc. Mid-entry load lock for semiconductor handling system
US7246985B2 (en) * 2004-04-16 2007-07-24 Axcelis Technologies, Inc. Work-piece processing system

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009239085A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Foi:Kk 半導体ウェハ搬送装置および半導体ウェハ搬送方法
JP2018189218A (ja) * 2017-05-11 2018-11-29 東京エレクトロン株式会社 ゲートバルブ装置及び基板処理システム
TWI759470B (zh) * 2017-05-11 2022-04-01 日商東京威力科創股份有限公司 閘閥裝置及基板處理系統

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