JP2008310190A - 光波形整形装置 - Google Patents

光波形整形装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008310190A
JP2008310190A JP2007159592A JP2007159592A JP2008310190A JP 2008310190 A JP2008310190 A JP 2008310190A JP 2007159592 A JP2007159592 A JP 2007159592A JP 2007159592 A JP2007159592 A JP 2007159592A JP 2008310190 A JP2008310190 A JP 2008310190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
liquid crystal
shaping device
waveform shaping
intensity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007159592A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5125245B2 (ja
Inventor
Hisaya Wada
尚也 和田
Sung Chul Park
成哲 朴
Takuya Yoda
琢也 依田
Tomonori Komai
友紀 駒井
Fumi Morizuka
芙美 杜塚
Kashiko Kodate
香椎子 小舘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Information and Communications Technology
Optoquest Co Ltd
JAPAN WOMEN'S UNIV
Original Assignee
National Institute of Information and Communications Technology
Optoquest Co Ltd
JAPAN WOMEN'S UNIV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Information and Communications Technology, Optoquest Co Ltd, JAPAN WOMEN'S UNIV filed Critical National Institute of Information and Communications Technology
Priority to JP2007159592A priority Critical patent/JP5125245B2/ja
Priority to US12/664,661 priority patent/US8199265B2/en
Priority to PCT/JP2008/001539 priority patent/WO2008155894A1/ja
Priority to EP08764134.6A priority patent/EP2159625B1/en
Priority to CN2008800189637A priority patent/CN101981490B/zh
Publication of JP2008310190A publication Critical patent/JP2008310190A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5125245B2 publication Critical patent/JP5125245B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/28Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
    • G02B27/286Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising for controlling or changing the state of polarisation, e.g. transforming one polarisation state into another
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0905Dividing and/or superposing multiple light beams
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0938Using specific optical elements
    • G02B27/0944Diffractive optical elements, e.g. gratings, holograms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0938Using specific optical elements
    • G02B27/0977Reflective elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1086Beam splitting or combining systems operating by diffraction only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4233Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application
    • G02B27/4244Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application in wavelength selecting devices
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4261Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element with major polarization dependent properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1213Filters in general, e.g. dichroic, band
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/26Optical coupling means
    • G02B6/27Optical coupling means with polarisation selective and adjusting means
    • G02B6/2706Optical coupling means with polarisation selective and adjusting means as bulk elements, i.e. free space arrangements external to a light guide, e.g. polarising beam splitters
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/26Pulse shaping; Apparatus or methods therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)

Abstract

【課題】 本発明は,高分解能な光波形整形装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 上記課題は,光源からの光を周波数ごとに分波するための分波器(1)と,前記分波器(1)により分波された複数の光を集光するための集光部(2)と,前記集光部(2)を経た光が入射し,入射光の偏光面を調整するための偏光板(3)と,前記偏光板(3)を経た光が入射する位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)と,を具備する光波形整形装置(10)により解決される。
【選択図】 図1

Description

本発明は,光波形整形装置などに関する。
光伝送システムにおいて伝送される光信号は,ASE雑音や,光ファイバの非線形特性により,光信号の波形が劣化し,伝送品質が劣化する。このような場合,光信号の波形を整える光波形整形装置により劣化した光信号の波形を回復することが行われている。また,たとえば,フェムト秒レーザなどを用いた観測装置では,レーザの波形を整形することが重要であり,光波形整形装置が用いられている。
たとえば,特開2001−42274号公報には,位相変調用の空間光変調器と,強度変調用の空間位相変調器とを備えた,光波形整形装置が開示されている。しかしながら,この公報に開示される光波長整形装置では,それぞれガラス基板を有する2つの変調器を用いるので,必然的に,ビーム径が広がる。このため,分解能が低いという問題がある。
特開2003−90926号公報 特開2002−131710号公報
本発明は,高分解能な光波形整形装置を提供することを目的とする。
本発明は,光強度変調に伴う位相変化を補償できる高分解能な光波形整形装置を提供することを目的とする。
本発明は,パスバンドの形状が矩形に近い光波形整形装置を提供することを目的とする。本発明は,テラヘルツオーダーの超高速光クロックを生成することができる光波形整形装置を提供することを目的とする。
本発明は,小型化を達成できる帯域可変光波形整形装置を提供することを目的とする。
本発明は,基本的には,位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器を用いることで,分解能の高い光波形整形装置を得ることができ,テラヘルツオーダーの超高速光クロック生成を含む新たな応用技術が得られたという知見に基づくものである。すなわち,本明細書は,以下の発明を開示する。
光源からの光を周波数ごとに分波するための分波器(1)と,
前記分波器(1)により分波された複数の光を集光するための集光部(2)と,
前記集光部(2)を経た光が入射し,入射光の偏光面を調整するための偏光板(3)と,
前記偏光板(3)を経た光が入射する位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)と,
を具備する光波形整形装置(10)。
前記分波器(1)は,高分散素子を含む,上記の光波形整形装置。
前記空間光変調器(4)は,
ライン状又はマトリクス状に形成された複数の液晶セル(21)を有する強度変調部(22)と,
前記強度変調部の液晶セル(21)に対応した複数の液晶セル(23)を有する位相変調部(24)と,を具備し,

前記強度変調部の液晶の配向は,前記位相変調部の液晶の配向と45度ずれている

上記の光波形整形装置。
前記空間光変調器(4)は, ライン状又はマトリクス状に形成された複数の液晶セル(21)を有する強度変調部(22)と,前記強度変調部の液晶セル(21)に対応した複数の液晶セル(23)を有する位相変調部(24)と,を具備し,前記強度変調部(22)の液晶セル(21)及び前記位相変調部(24)の液晶セル(23)は,それぞれ液晶物質を具備するとともに,前記液晶物質をはさむように存在する電極を具備し,前記強度変調部(22)による強度変調を行った際の,光整形装置(21)からの出力光を検出する検出部(31)と,前記検出部(31)によって検出された各周波数の光の位相のずれに関する情報を受け取り,前記位相変調部(24)の各液晶セル(23)の電極に印加する電圧を制御する制御装置(32)と,前記制御装置(32)からの制御指令に従って,前記位相変調部(24)の各液晶セル(23)の電極に印加する電圧を出力する位相変調器(24)の各液晶セルへの電圧調整部(33)と,を具備する,上記の光波形整形装置。
さらに,前記空間光変調器(4)を経た光が入射する反射部(5)を具備する上記の光整形装置(10)。
さらに,前記空間光変調器(4)を経た光が入射する第2の集光レンズ(11)と,
前記第2の集光レンズ(11)を経た光が入射し,複数の周波数に分離された光を合波するための合波器(12)と,
を具備する,上記の光波形整形装置。
光源からの光を周波数ごとに分波するための回折格子(1)と,前記回折格子(1)により分波された複数の光を集光するための集光レンズ(2)と,前記集光レンズ(2)を経た光が入射し,入射光の偏光面を調整するための偏光板(3)と,前記偏光板(3)を経た光が入射する位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)であって,前記位相変調部の液晶の配向は,前記偏光板(3)により調整された偏光面と平行であり,それぞれ対応する空間位置に存在する複数のライン状又はマトリクス状の液晶セルを有し,前記強度変調部の液晶の配向は,前記位相変調部の液晶の配向と45度ずれているものと, 前記空間光変調器(4)を経た光が入射する,折り返しリフレクタ(5)と,を具備し, 光源からの光が,前記回折格子(1)により周波数分離されて空間的に分散され,前記空間的に分散された周波数分離された光が,前記集光レンズ(2)により,集光され,前記集光された光は,前記偏光板(3)により,その偏光面が調整され,前記偏光面が調整された光が,前記空間光変調器(4)により,別々に制御された位相変調及び強度変調を施され,前記折り返しリフレクタ(5)により,光が折り返され,前記集光レンズ(2)を経て,集光され,前記回折格子(1)により,周波数分離された光が合波される,
光波形整形装置(10)。
本発明の光波形整形装置は,位相変調部及び強度変調部とを有するひとつの空間光変調器(4)を用い,位相変調部及び強度変調部においてガラス基板を共有することで,ビーム径が広がる事態を防止でき,それによって高い分解能を得ることができる。
本発明の光波形整形装置は,さらに,光強度変調に伴う位相変化を液晶の制御電圧にフィードバックするか,強度変調に伴う位相変化を補償するように偏光子と空間光変調器の位相変調部における液晶の配向を調整したものを用いることにより,光強度変調に伴う位相変化を補償できる。
本発明の光波形整形装置は,実際の装置で確認を行ったように,パスバンドの形状が矩形に近い光波形整形装置をできる。
本発明の光波形整形装置は,隣り合う帯域のパスバンドが連続したパスバンドを形成するので帯域可変光波形整形装置として利用することができる。本発明の光波形整形装置は,テラヘルツオーダーの超高速光クロックを生成することができる。
本発明の光波形整形装置は,反射型を採用した場合,光学素子を省略でき,また分散などの影響を相殺できるので,光波形整形装置を精度よく小型化できる。
図1は,本発明の光波形整形装置の構成例を示す概念図である。図1に示されるように,本発明の光波形整形装置は,回折格子などの分波器(1)と,集光レンズ(2)と,偏光板(3)と,位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)と,折り返しリフレクタ(5)と,を具備する。なお,図1中,符号6は,コリメータレンズを示す。
分波器(1)は,光源からの光を周波数ごとに分波するための要素である。分波器として,回折格子,プリズム,又はグリズムなどの高分散素子を用いても良いし,AWGを用いてもよい。光源として,たとえば,白色光や,複数の波長の光を含む光を用いることができる。一方,波長が1550nm程度のパルス光を用いてもよい。なお,光源からの光は,偏波調整器や偏光板などにより偏光面が調整されていても良い。また,たとえば直交する偏光面を有する2種類の光に偏光分離されていても良い。
集光レンズ(2)は,分波器(1)により分波された複数の光を集光するため集光部として機能する。集光レンズとして,公知の集光レンズを適宜用いることができる。集光レンズ(2)は,回折格子(1)で空間的に分散した光を集めることができ,空間光変調器(4)の所定のセルへ導くことができる空間位置に設置されればよい。
偏光板(3)は,集光レンズ(2)を経た光が入射し,入射光の偏光面を調整するための光学素子である。偏光板として,公知の偏光板または偏光子を適宜用いることができる。なお,偏光板としては,干渉膜型の偏光子が好ましい。干渉膜型の偏光子を用いることで,大口径の偏光子を用いることができ,利便性が向上することとなる。
位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)は,偏光板(3)を経た光が入射し,それぞれ対応する空間位置に存在する複数のライン状又はマトリクス状の液晶セルを有する。たとえば,上記特許文献1では,空間位相変調部及び空間強度変調部が分離されている。一方,本発明では,位相変調部及び強度変調部を接合させ,ガラス基板上に設置する。このようにすることで,空間光変調器に用いるガラス基板を1枚に軽減することができ,ビーム径が広がる事態を防止でき,それによって高い分解能を得ることができる。なお,不要な反射を抑制するため,位相変調部及び強度変調部は屈折率が整合するようにして接合するものが好ましい。なお,複数のライン状の液晶セルとは,一直線上に並べられた複数の液晶セルを意味し,複数のマトリクス状の液晶セルとは,たとえば,上下左右方向に複数の液晶セルが規則正しく並んでいるものを意味する。このうち好ましいものは,複数の液晶セルが一直線上に並べられた液晶セルを有するものである。そして,位相変調部の液晶の配向は,たとえば,偏光板(3)により調整された偏光面と平行であり,強度変調部の液晶の配向は,前記位相変調部の液晶の配向とずれている。具体的な強度変調部の液晶の配向のずれとして,30度以上60度以下があげられ,40度以上50度以下でもよいが,45度がもっとも好ましい。液晶空間位相変調部分が液晶空間強度変調部の前面(偏光板側)に存在しても良いし,液晶空間強度変調部分が前面に存在しても良い。
図2は,位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器の概念図である。図2に示されるように,空間光変調器(4)は,ライン状又はマトリクス状に形成された複数の液晶セル(21)を有する強度変調部(22)と,強度変調部の液晶セル(21)に対応した複数の液晶セル(23)を有する位相変調部(24)と,を具備する。記強度変調部(22)の液晶セル(21)及び前記位相変調部(24)の液晶セル(23)は,それぞれ液晶物質を具備するとともに,前記液晶物質をはさむように存在する電極を具備する。なお,この電極は,透明電極であってもよいし,セルの周囲のいずれかに存在する金属電極であっても良い。具体的な構成として,たとえば,10μm〜40μmの格子ピッチを有する液晶素子を2枚接合し,接合したものをガラス基板に搭載すればよい。なお,上記の格子ピッチがセルの幅を決める要因となる。なお,隣接する液晶セル(21,23)同士の間には,図2に示されるように,ギャップが設けられてもよい。
図3は,強度変調部及び位相変調部の配向の様子を示す概念図である。図3に示されるように,強度変調部の液晶の配向は,位相変調部の液晶の配向と45度ずれているものがあげられる。これらの液晶素子を用いて位相変調及び強度変調がなされるためには,先の偏光板による偏光面が,位相変調部における液晶の配向と平行であって,強度変調部の液晶の配向は偏光板による偏光面から45度ずれていれば良い。なお,強度変調部のずれ角は,0度以外であればいずれの値をとってもかまわない。しかしながら,強度を容易に制御するという観点からは45度が好ましい。
図4は,偏光制御,強度制御及び位相制御を説明するための概念図である。図4(a)は,本発明の強度・位相変調の様子を示す図である。図4(b)は,強度変調のみを施した場合の光の位相変化を示す図である。図4(b)に示されるように,強度変調のみを施した場合,強度変調器により強度が調整されるとともに,直線偏光が円偏光に変化する。次に,偏光子により円偏光が直線偏光に戻される。このようにして強度変調が施される。しかしながら,図4(b)に示されるように,直線偏光に戻るものの,位相状態が変化している。一方,図4(a)に示されるように,強度変調と位相変調とを併せ持つ系では,位相変調が強度変調による位相の変化を補償するので,出力光の位相を入力光の位相と合わせることができる。
前記液晶セルのうち集光レンズ側にあるものにおける集光径が小さいほど,得られるバンドパスの幅が小さくなるため好ましい。このような観点から,集光径として,20μm以上80μm以下の範囲のものがあげられ,好ましくは30μm以上70μmの範囲のものである。そして,液晶セルのサイズとして,10μm以上40μm以下があげられ,好ましくは15μm以上30μm以下であり,15μm以上25μm以下でも良い。このように微小なセルを用いるので,たとえば,10GHz間隔のパスバンドを達成できる。また,波長が大きくなるほど,集光径が大きくなるので,短波長側は2つの液晶セルでひとつの光を受けて,長波長側は3つの液晶セルでひとつの光を受けても良い。なお,集光径は,集光レンズにより集光された複数の光が液晶セル上に結像してできる光の直径である。
折り返しリフレクタ(5)は,位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)を経た光が入射し,進行方向を変えるための光学素子である。この折り返しリフレクタは,公知の鏡,プリズムなどの光学素子を適宜用いることができる。このように反射型を採用したので,光学素子を重畳して利用でき,また分散などの影響を相殺できるので,光波形整形装置を精度よく小型化できる。
図5は,折り返しリフレクタとして,プリズムを用いた光波形整形装置の例を示す図である。図5に示されるようにプリズム(26)を用いることで,上下又は左右の光路を確保できる。その結果,2種類の光が,対称的な光経路を経ることができ,その結果,光経路に由来するノイズなどの影響を同一とすることができる。
回折格子(1)によって周波数ごとに空間的に分散される。この空間的に分散された光波は,集光レンズ(2)により集光され,偏波板(3)を経て,空間光変調器(4)へと入射する。ここで,別々に制御された位相変調及び強度変調を施されることとなる。空間光変調器(4)では,分離された周波数ごとに,異なるセルに入射する。図6は,セルにビームが入射する様子を示す図である。図6(a)は,短波長側の光がセルへ入射する様子を示し,図6(b)は長波長側の光がセルへ入射する様子を示す。たとえば,セルの大きさは,20μm間隔であり,短波長側の光は,2つのセルに入射するようにされ,長波長側の光は3つのセルに入射するようにされていても良い。このようにすることで,実時間上の光を周波数に分解し,実空間上に展開することができる。また,回折格子の波長分散特性にあわせて,あるビームに対するセル数を適宜調整できる。折り返しリフレクタ(5)により,光が折り返される。折り返された光は,集光レンズ(2)を経て,集光され,回折格子(1)により,周波数分離された光が合波される。このようにして,周波数分離された光ごとに,位相及び強度が調整されて,合波されることとなる。
上記では反射型の光波形整形装置について説明した。しかしながら,本発明の光波形整形装置は,透過型であってもよい。具体的には,透過型の光波形整形装置は,回折格子と,第1の集光レンズと,偏光板と,位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器と,第2の集光レンズと,合波器と,を具備すればよい。第2の集光レンズは,第1の集光レンズと同様の物を用いればよい。また,合波器も,回折格子と同様の物を用いればよい。
図7は,位相変化補償を行うことができる本発明の光波形整形装置を示す図である。図7(a)は既存のドライバを利用する例であり,図7(b)はDIO直接制御を行う場合の例を示す図である。図7(a)のものは,パソコンなどの制御装置(32)が電圧制御部(32)と接続され,電圧制御部は,空間位相変調部と空間強度変調部へ印加する駆動電圧を制御するSLMドライバ1及びSLMドライバ2とを有する。一方,図7(b)に示されるDIO直接制御を行うものでは,制御装置からの指令に従って,直接空間位相変調部と空間強度変調部へ印加する駆動電圧が制御される。図7に示されるように,この光波形整形装置は,空間光変調器(4)と,検出部(31)と,制御装置(32)と,電圧調整部(33)とを具備する。そして,検出部が検出した位相のずれに基づいて制御装置が電圧調整部に指示する制御信号を出力する。一方,電圧調整部は,受け取った制御信号に従って,各セルの電極へ所定の電圧を出力する。このように,本発明の光波形整形装置によれば,強度変調に伴う位相のずれを補償することができる。
検出部(31)は,強度変調部(22)による強度変調を行った際の,光波形整形装置からの出力光を検出するための要素である。検出部として,フォトダイオードなど公知の検出装置を適宜採用することができる。なお,検出部(31)は,光波形整形装置の枠体内に設けられるものが好ましい。そして,検出部は,光強度と光位相の両方についての制御量をモニタするものが好ましい。
制御装置(32)は,検出部(31)によって検出された各周波数の光の位相のずれに関する情報を受け取り,前記位相変調部(24)の各液晶セル(23)の電極に印加する電圧を制御するための装置である。具体的には,コンピュータが制御装置として機能する。なお,制御装置は,光波形整形装置と一体として設けられていてもよく,外付けされていてもよい。装置をコンパクトにするという観点からは,制御装置は光波形整形装置の枠体内に設けられるものが好ましい。検出部が,光強度と光位相の両方についての制御量をモニタする場合,測定した光強度と光位相を,設定値と比較し,光強度と光位相とが設定値に近づくようクローズドループにより制御を行うものが好ましい。このように,光強度と光位相とを制御することで,装置の安定性を高めることができる。
電圧調整部(33)は,制御装置(32)からの制御指令に従って,位相変調部(24)の各液晶セル(23)の電極に印加する電圧を出力する位相変調器(24)の各液晶セルへと出力する。また,フィードバックによる制御を行わず,強度変調による位相変化を補償するように位相変調を施すことができるように,偏光子と位相変調部(24)の配向方向を調整してもよい。すなわち,偏光子の偏光面と位相変調部(24)の液晶の配向方向として,強度変調による位相変化を補償するように位相変調を施すことができるようにしたものを用いることは,本発明の好ましい態様である。なお,強度変調部についても同様の構成を有し,位相変調に伴う強度の変化を補償できるようにされていても良い。
本発明の光波形整形装置は,WDMなどの光源として利用することができる。また,本発明の光波形整形装置は,EDFAなどの光等化装置として利用することができる。
上記のとおり,本発明の光波形整形装置は,基本的には分波器などの光を分光するグレーティング部と,グレーティング部により分光された光を微小な波長帯域毎に制御する空間光変調器とを含む構成を採用する。グレーティング部は,上述した回折格子やプリズムなどのほか,グリズムを用いることもできる。図16は,グリズムを用いたグレーティング部の例を示す図である。この例では,グリズムは,プリズムとグレーティングを組み合わせた分散素子である。図においては,強度・位相ホログラフィックグレーティング(VPHG)として表示されている。ファイバからの光は,第1のコリメートレンズによりコリメートされ,グリズムに入射する。グリズムに入射した光は波長に応じて分散する。分散した光は,第2のコリメートレンズによりコリメートされ,振幅シャッタ及び集光レンズを経て,ファイバに出力される。グリズム自体は公知である。グリズムとして,たとえば,特許第3576538号,特開2004−130806号公報などに記載されるものがあげられる。
図17は,グリズムの例を示す概念図である。図17に示されるように,グリズムは,たとえば,屈折率がnであるVPHグレーティング部と,VPHグレーティング部の両サイドの屈折率がnであるガラス基板と,2つのガラス基板の外側に設けられる屈折率がnである第1のプリズム部及び第2のプリズム部と,を含むものがあげられる。
図18は,VPHグレーティング部の格子周期と,グレーティングの入射角との関係を示す図である。
図19は,グリズムの変形例を示す図である。すなわち,グリズムとして,3つのプリズムと,3つのプリズムを接続する位置に設けられる2つの強度・位相ホログラフィックグレーティングを有するものを用いてもよい。
図8は,実施例1における光波形整形装置の概観図である。図9は,実施例1における光学系の概略図である。図9(a)は上面図であり,図9(b)は側面図である。図中,PBSは偏光ビームスプリッタを示し,FRはファラデーローテータを示し,SMFは,シングルモードファイバを示し,2−PMFは2軸偏波面保存ファイバを示す。図9に示されるように,この光学系は,偏光分離された光が入力する2軸偏光維持ファイバ(2−PMF)と,直径が15cmであり焦点距離が6cmのコリメータレンズと,コリメータレンズから6cmの位置に表面中心位置がある回折格子と,回折格子の表面中心位置から15cmの位置に設けられた集光レンズ(fl5cm)と,偏光板・液晶空間強度調整部分・液晶空間位相変調部分・及び折り返しリフレクタとを具備する。折り返しリフレクタ(プリズム)の位置は,集光レンズから15cmの位置とした。液晶セルは,制御部の幅を17μmとし,ギャップ部の大きさを3μmとした。すなわち,ひとつのセルサイズは20μmであった。なお,コリメータレンズから回折格子までの距離,コリメートレンズから集光レンズまでの距離は,図10に示されるシミュレーションを行って求めた。
位相は,ファイバのテンションや温度などの状況変化に対し敏感に変動する。この実施例では,上記のような構成としたので,2光路のファイバを往復で入れ替え,行きと帰りをトータルで考えると,同じ位相変化を受けることとなる。その結果,ファイバなどは位相安定性に優れないにもかかわらず,位相安定性の高い,光波形整形装置を提供できる。
図11は,液晶空間光変調器の例を示す図である。図11(a)〜図11(c)は実際に製造した空間光変調器の概略を示す図である。図11(a)に示されるものは,ガラス基板として広さ65mmx48mm、厚さ0.5mmのものを用いた。コモン電極とパタン電極をそれぞれ有するガラス基板の間に位置する液晶セルギャップを8μmとした。液晶格子は14x14mmで、ガラス基板中央付近に設置した。液晶格子のピッチ20μmであった(具体的には制御領域が17μmでありギャップが3μmであった)。液晶の配向は,強度制御の場合は,配向方向を45度とし、位相変調の場合は0度とした。なお,強度制御用液晶空間光変調器と位相制御用液晶空間光変調器とは,それぞれ個別に作製した。
図11(b)に示されるものは,ガラス基板として広さ65x〜30mm、厚さ0.3mmのものを用いた。コモン電極とパタン電極をそれぞれ有する基板の間に位置する液晶セルギャップを8μmとした。液晶格子は,10mmx〜5mmの大きさのものを用いた。図11(b)の例では、液晶空間光変調器をガラス基板の左右どちらかに寄せた。このように液晶空間光変調器の位置をあえて中心から離すことで,作成が容易になった。液晶格子のピッチとして以下の3パターンのものを製造した。
(i)液晶格子ピッチ:20μm(制御領域:17μm,ギャップ:3μm)
(ii)液晶格子ピッチ:20μm(制御領域:18μm,ギャップ:2μm)
(iii)液晶格子ピッチ10μm(制御領域:8μm,ギャップ:2μm)
液晶の配向は,強度制御の場合は,配向方向を45度とし、位相変調の場合は0度とした。なお,強度制御用液晶空間光変調器と位相制御用液晶空間光変調器とは,それぞれ個別に作製した。2つの液晶素子を接合する際に,格子位置関係を合わせるためのマーカを設けた。また,制御ICをガラス基板の片側にまとめて配置した。
図11(c)に示されるものは,パタン電極を有するガラス基板の表面と裏面にそれぞれ強度制御用液晶空間光変調器と位相制御用液晶空間光変調器とが設けられたものである。これらは格子位置関係をそろえて作成した。図11(c)に示されるように,この液晶空間光変調器は2枚のコモン電極を有する基板に,前記パタン電極を有するガラス基板がはさまれた形状を有する。コモン電極とパタン電極をそれぞれ有する基板の間に位置する液晶セルギャップを8μmとした。液晶格子は,〜20mmx〜5mmの大きさのものを用いた。図11(c)の例では、液晶空間光変調器をガラス基板の左右どちらかに寄せた。このように液晶空間光変調器の位置をあえて中心から離すことで,作成が容易になった。液晶格子のピッチとして以下の3パターンのものを製造した。
(i)液晶格子ピッチ:20μm(制御領域:17μm,ギャップ:3μm)
(ii)液晶格子ピッチ:20μm(制御領域:18μm,ギャップ:2μm)
(iii)液晶格子ピッチ10μm(制御領域:8μm,ギャップ:2μm)
液晶の配向は,強度制御の場合は,配向方向を45度とし、位相変調の場合は0度とした。
強度制御用液晶空間変調器と位相制御用液晶空間変調器とは,パタン電極を有するガラス基板を共通化し,一体化して作製した。
図12は,光波形整形装置の光強度制御特性を示す図面に替わるグラフである。図12(a)はASE光源を使用し,全チャネルを一括制御した際の光強度制御特性を測定したものである。図12(b)は全てのチャネルを中間制御した際の光強度制御特性を測定したものである。図12(c)は全てのチャネルをOFF制御した際の光強度制御特性を測定したものである。図12(a)から本発明の光波形整形装置は,隣り合う帯域のパスバンドが連続したパスバンドを形成することがわかる。一方,図12(b)から,強度制御量を制御レンジ範囲内で任意に設定できることがわかる。
図12(c)からOFF制御した場合は,出力を抑えることができることがわかる。
図13は,光波形整形装置の周波数スペーシングを示す図面に替わるグラフである。波長可変LD光源の波長を0.01nmステップでスイープさせ,光強度制御された各波長のパワーをパワーメータで測定した。光強度制御の設定を1CH毎に行い、周波数スペーシングを確認した。図13(a)はONがひとつの場合,図13(b)はONが近接する2つの場合,図13(c)はONが3つの場合,図13(d)はONが離れた2つの場合を示す。
図14は,光波形整形装置の空間分解能を示す図面に替わるグラフである。ASE光源を使用し、光強度を48CH毎に制御した(全体はON、48CH毎にOFF制御した)
制御波長差から、各波長帯でのPAL−SLM1セルあたりの空間分解能を測定した。その結果,波長1535nmでは空間分解能が12.1ギガヘルツ/セルであり,波長1550nmで空間分解能が10.7ギガヘルツ/セルであり,波長1565nmでは空間分解能が9.2ギガヘルツ/セルであった。
図15は,挿入ロスを測定するための装置構成を示す概略図である。その結果,波長1535nmでは挿入ロスが6.5dBであり,波長1550nmで挿入ロスが5.0dBであり,波長1565nmでは挿入ロスが7.5dBであった。
表1は,回折格子の分散特性を示す表である。
Figure 2008310190
表2は,PAL−SLM入射ビームの直径を示す表である。
Figure 2008310190
本発明の光波形整形装置は,光情報通信などの分野において好適に利用されうる。
図1は,本発明の光波形整形装置の構成例を示す概念図である。 図2は,位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器の概念図である。 図3は,強度変調部及び位相変調部の配向の様子を示す概念図である。 図4は,偏光制御,強度制御及び位相制御を説明するための概念図である。 図5は,折り返しリフレクタとして,プリズムを用いた光波形整形装置の例を示す図である。 図6は,セルにビームが入射する様子を示す図である。図6(a)は,短波長側の光がセルへ入射する様子を示し,図6(b)は長波長側の光がセルへ入射する様子を示す。 図7は,位相変化補償を行うことができる本発明の光波形整形装置を示す図である。図7(a)は既存のドライバを利用する例であり,図7(b)はDIO直接制御を行う場合の例を示す図である。 図8は,実施例1における光波形整形装置の概観図である。 図9は,実施例1における光学系の概略図である。図9(a)は上面図であり,図9(b)は側面図である。 図10は,光学素子の位置を決めるシミュレーションの概念図である。 図11は,液晶空間光変調器の例を示す図である。図11(a)〜図11(c)は実際に製造した空間光変調器の概略を示す図である。 図12は,光波形整形装置の光強度制御特性を示す図面に替わるグラフである。図12(a)はASE光源を使用し,全チャネルを一括制御した際の光強度制御特性を測定したものである。図12(b)は全てのチャネルを中間制御した際の光強度制御特性を測定したものである。図12(c)は全てのチャネルをOFF制御した際の光強度制御特性を測定したものである。 図13は,光波形整形装置の周波数スペーシングを示す図面に替わるグラフである。波長可変LD光源の波長を0.01nmステップでスイープさせ,光強度制御された各波長のパワーをパワーメータで測定した。光強度制御の設定を1CH毎に行い、周波数スペーシングを確認した。図13(a)はONがひとつの場合,図13(b)はONが近接する2つの場合,図13(c)はONが3つの場合,図13(d)はONが離れた2つの場合を示す。 図14は,光波形整形装置の空間分解能を示す図面に替わるグラフである。 図15は,挿入ロスを測定するための装置構成を示す概略図である。 図16は,グリズムを用いたグレーティング部の例を示す図である。 図17は,グリズムの例を示す概念図である。 図18は,VPHグレーティング部の格子周期と,グレーティングの入射角との関係を示す図である。 図19は,グリズムの変形例を示す図である。
符号の説明
1 分波器
2 集光部
3 偏光板
4 空間光変調器
10 光波形整形装置

Claims (7)

  1. 光源からの光を周波数ごとに分波するための分波器(1)と,
    前記分波器(1)により分波された複数の光を集光するための集光部(2)と,
    前記集光部(2)を経た光が入射し,入射光の偏光面を調整するための偏光板(3)と,
    前記偏光板(3)を経た光が入射する位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)と,
    を具備する光波形整形装置(10)。
  2. 前記分波器(1)は, 高分散素子を含む,請求項1に記載の光波形整形装置。
  3. 前記空間光変調器(4)は,
    ライン状又はマトリクス状に形成された複数の液晶セル(21)を有する強度変調部(22)と,
    前記強度変調部の液晶セル(21)に対応した複数の液晶セル(23)を有する位相変調部(24)と,を具備し,

    前記強度変調部の液晶の配向は,前記位相変調部の液晶の配向と45度ずれている

    請求項1に記載の光波形整形装置。
  4. 前記空間光変調器(4)は,
    ライン状又はマトリクス状に形成された複数の液晶セル(21)を有する強度変調部(22)と,
    前記強度変調部の液晶セル(21)に対応した複数の液晶セル(23)を有する位相変調部(24)と,を具備し,

    前記強度変調部(22)の液晶セル(21)及び前記位相変調部(24)の液晶セル(23)は,それぞれ液晶物質を具備するとともに,前記液晶物質をはさむように存在する電極を具備し,

    前記強度変調部(22)による強度変調を行った際の,光整形装置(21)からの出力光を検出する検出部(31)と,

    前記検出部(31)によって検出された各周波数の光の位相のずれに関する情報を受け取り,前記位相変調部(24)の各液晶セル(23)の電極に印加する電圧を制御する制御装置(32)と,

    前記制御装置(32)からの制御指令に従って,前記位相変調部(24)の各液晶セル(23)の電極に印加する電圧を出力する位相変調器(24)の各液晶セルへの電圧調整部(33)と,

    を具備する,請求項1に記載の光波形整形装置。
  5. さらに,前記空間光変調器(4)を経た光が入射する反射部(5)を具備する請求項1に記載の光整形装置(10)。
  6. さらに,前記空間光変調器(4)を経た光が入射する第2の集光レンズ(11)と,
    前記第2の集光レンズ(11)を経た光が入射し,複数の周波数に分離された光を合波するための合波器(12)と,
    を具備する,請求項1に記載の光波形整形装置。
  7. 光源からの光を周波数ごとに分波するための回折格子(1)と,

    前記回折格子(1)により分波された複数の光を集光するための集光レンズ(2)と,

    前記集光レンズ(2)を経た光が入射し,入射光の偏光面を調整するための偏光板(3)と,

    前記偏光板(3)を経た光が入射する位相変調部及び強度変調部とを有する空間光変調器(4)であって,前記位相変調部の液晶の配向は,前記偏光板(3)により調整された偏光面と平行であり,それぞれ対応する空間位置に存在する複数のライン状又はマトリクス状の液晶セルを有し,前記強度変調部の液晶の配向は,前記位相変調部の液晶の配向と45度ずれているものと,

    前記空間光変調器(4)を経た光が入射する,折り返しリフレクタ(5)と,

    を具備し,

    光源からの光が,前記回折格子(1)により周波数分離されて空間的に分散され,
    前記空間的に分散された周波数分離された光が,前記集光レンズ(2)により,集光され,
    前記集光された光は,前記偏光板(3)により,その偏光面が調整され,
    前記偏光面が調整された光が,前記空間光変調器(4)により,別々に制御された位相変調及び強度変調を施され,
    前記折り返しリフレクタ(5)により,光が折り返され,
    前記集光レンズ(2)を経て,集光され,
    前記回折格子(1)により,周波数分離された光が合波される,
    光波形整形装置(10)。
JP2007159592A 2007-06-15 2007-06-15 光波形整形装置 Active JP5125245B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007159592A JP5125245B2 (ja) 2007-06-15 2007-06-15 光波形整形装置
US12/664,661 US8199265B2 (en) 2007-06-15 2008-06-13 Optical waveform shaping device
PCT/JP2008/001539 WO2008155894A1 (ja) 2007-06-15 2008-06-13 光波形整形装置
EP08764134.6A EP2159625B1 (en) 2007-06-15 2008-06-13 Optical waveform shaping device
CN2008800189637A CN101981490B (zh) 2007-06-15 2008-06-13 光波形整形装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007159592A JP5125245B2 (ja) 2007-06-15 2007-06-15 光波形整形装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008310190A true JP2008310190A (ja) 2008-12-25
JP5125245B2 JP5125245B2 (ja) 2013-01-23

Family

ID=40156058

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007159592A Active JP5125245B2 (ja) 2007-06-15 2007-06-15 光波形整形装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8199265B2 (ja)
EP (1) EP2159625B1 (ja)
JP (1) JP5125245B2 (ja)
CN (1) CN101981490B (ja)
WO (1) WO2008155894A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012037834A (ja) * 2010-08-11 2012-02-23 Olympus Corp レーザ顕微鏡用照明装置およびレーザ顕微鏡
WO2012070646A1 (ja) * 2010-11-26 2012-05-31 株式会社グローバルファイバオプティックス 旋光度測定装置、旋光度測定システムに用い得る旋光度測定方法、旋光度測定光学系、旋光度測定用の検体セル
WO2012173113A1 (ja) 2011-06-15 2012-12-20 独立行政法人情報通信研究機構 波長選択偏波制御器
JP2017016107A (ja) * 2015-06-29 2017-01-19 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 光変調のための装置及び方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8238030B2 (en) * 2010-03-22 2012-08-07 Agilent Technologies, Inc. Fiber-coupled collimator for generating multiple collimated optical beams having different wavelengths
WO2013157605A1 (ja) * 2012-04-20 2013-10-24 浜松ホトニクス株式会社 ビーム整形装置
CN103560769B (zh) * 2013-11-04 2016-05-11 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种任意波形发生器及任意波形产生方法
US9791627B1 (en) * 2016-04-08 2017-10-17 Dicon Fiberoptics, Inc. Integrated optical components with wavelength tuning and power isolation functions
TWI644523B (zh) * 2016-10-06 2018-12-11 國立中山大學 利用光波塑形之訊號處理方法及其裝置
CN108957765B (zh) * 2018-08-27 2020-05-19 华中科技大学 一种改变激光聚焦光斑空间方向的方法及装置
CN112817157A (zh) * 2020-12-28 2021-05-18 西南技术物理研究所 一种新型平顶光束发生装置
CN115708123A (zh) * 2021-08-18 2023-02-21 深圳光峰科技股份有限公司 图像显示方法、装置、电子设备及存储介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000187167A (ja) * 1998-12-22 2000-07-04 Inst Of Physical & Chemical Res 広帯域空間光位相変調器
JP2001042275A (ja) * 1999-08-02 2001-02-16 Hamamatsu Photonics Kk 光波形整形装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02308225A (ja) * 1989-05-24 1990-12-21 Ricoh Co Ltd 液晶表示素子
JP3141440B2 (ja) * 1990-09-21 2001-03-05 セイコーエプソン株式会社 光学装置
US5719650A (en) * 1995-05-12 1998-02-17 Massachusetts Institute Of Technology High-fidelity spatial light modulator
JPH1152348A (ja) 1997-07-31 1999-02-26 Ricoh Co Ltd 液晶表示素子
JP2960392B2 (ja) 1997-10-29 1999-10-06 ウシオ電機株式会社 液晶表示素子の配向膜光配向用偏光光照射装置
JPH11174433A (ja) 1997-12-09 1999-07-02 Casio Comput Co Ltd カラー液晶表示装置
JPH11212081A (ja) 1998-01-27 1999-08-06 Tatsuo Uchida 複屈折色を用いた反射型カラー液晶ディスプレイ
US6275623B1 (en) * 1999-07-12 2001-08-14 Corning Incorporated Dynamically configurable spectral filter
JP4474625B2 (ja) * 1999-12-14 2010-06-09 独立行政法人科学技術振興機構 超広帯域可変波長多重パルス波形整形装置
FR2851055B1 (fr) * 2003-02-12 2005-04-15 Optogone Sa Dispositif de modulation spatiale d'un faisceau lumineux, et applications correspondantes
US20070183020A1 (en) * 2003-10-23 2007-08-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Polarization independent phase modulator
CN1661416A (zh) * 2004-02-27 2005-08-31 华东师范大学 一种脉冲整形装置
US20080089698A1 (en) * 2006-05-19 2008-04-17 Zhi Jiang Optical arbitrary waveform generation and processing using spectral line-by-line pulse shaping
JP5228205B2 (ja) * 2007-06-15 2013-07-03 独立行政法人情報通信研究機構 光波形整形装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000187167A (ja) * 1998-12-22 2000-07-04 Inst Of Physical & Chemical Res 広帯域空間光位相変調器
JP2001042275A (ja) * 1999-08-02 2001-02-16 Hamamatsu Photonics Kk 光波形整形装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6012030651; 駒井友紀、他: '"アレイ導波路回折格子を用いたパルス制御"' 日本女子大学紀要 理学部 第12号, 20040331, p.15-24 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012037834A (ja) * 2010-08-11 2012-02-23 Olympus Corp レーザ顕微鏡用照明装置およびレーザ顕微鏡
WO2012070646A1 (ja) * 2010-11-26 2012-05-31 株式会社グローバルファイバオプティックス 旋光度測定装置、旋光度測定システムに用い得る旋光度測定方法、旋光度測定光学系、旋光度測定用の検体セル
JPWO2012070646A1 (ja) * 2010-11-26 2014-05-19 株式会社グローバルファイバオプティックス 旋光度測定装置、旋光度測定システムに用い得る旋光度測定方法、旋光度測定光学系、旋光度測定用の検体セル
WO2012173113A1 (ja) 2011-06-15 2012-12-20 独立行政法人情報通信研究機構 波長選択偏波制御器
US8982442B2 (en) 2011-06-15 2015-03-17 National Institute Of Information And Communications Technology Wavelength selection polarization controller
JP2017016107A (ja) * 2015-06-29 2017-01-19 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 光変調のための装置及び方法
US10191292B2 (en) 2015-06-29 2019-01-29 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Apparatus and method for light modulation

Also Published As

Publication number Publication date
CN101981490A (zh) 2011-02-23
CN101981490B (zh) 2013-03-20
JP5125245B2 (ja) 2013-01-23
EP2159625A1 (en) 2010-03-03
US8199265B2 (en) 2012-06-12
WO2008155894A1 (ja) 2008-12-24
US20100157179A1 (en) 2010-06-24
EP2159625A4 (en) 2012-07-25
EP2159625B1 (en) 2019-02-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5125245B2 (ja) 光波形整形装置
JP5228205B2 (ja) 光波形整形装置
JP4986582B2 (ja) 液晶光変調素子、液晶光変調装置、および液晶光変調素子の駆動方法
JP5333215B2 (ja) チューナブルフィルタ、光源装置およびスペクトル分布測定装置
US8441586B2 (en) Liquid crystal optical device configured to reduce polarization dependent loss and polarization mode dispersion
JP5573985B1 (ja) 光変調器
JP5373291B2 (ja) 波長選択スイッチ
JP6688797B2 (ja) 波長選択スイッチのための光路補償を有する光照射器
JP2011248196A (ja) 光可変フィルタアレイ装置
JP2011145638A (ja) 位相変調器および光変調装置
CA2690852C (en) Optical waveform shaping device
JP5086317B2 (ja) 可変分散補償器
JP2009122495A (ja) 波長選択性光減衰器
JPH0836157A (ja) 可変波長フィルタ
JP2012185357A (ja) チューナブルフィルタ、任意スペクトラム光源装置および分波部

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100519

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110324

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20110324

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20110623

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20110624

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120820

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120904

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120904

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120925

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121015

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5125245

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151109

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250