JP2008304537A - 露光装置及び露光方法 - Google Patents

露光装置及び露光方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008304537A
JP2008304537A JP2007149340A JP2007149340A JP2008304537A JP 2008304537 A JP2008304537 A JP 2008304537A JP 2007149340 A JP2007149340 A JP 2007149340A JP 2007149340 A JP2007149340 A JP 2007149340A JP 2008304537 A JP2008304537 A JP 2008304537A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
substrate
exposure
exposure apparatus
mask holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007149340A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5099318B2 (ja
Inventor
Shusaku Karuishi
修作 軽石
Shinichiro Hayashi
慎一郎 林
Tei Goto
禎 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NSK Ltd
Original Assignee
NSK Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NSK Ltd filed Critical NSK Ltd
Priority to JP2007149340A priority Critical patent/JP5099318B2/ja
Priority to KR1020097020367A priority patent/KR101111933B1/ko
Priority to KR1020117014245A priority patent/KR101111934B1/ko
Priority to PCT/JP2008/056413 priority patent/WO2008120785A1/ja
Priority to TW97112393A priority patent/TW200907590A/zh
Publication of JP2008304537A publication Critical patent/JP2008304537A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5099318B2 publication Critical patent/JP5099318B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】マスクの製造や装置全体としてのコストを低減することができるとともに、効率的な露光を実現する露光装置及び露光方法を提供する。
【解決手段】近接スキャン露光装置1は、基板Wを少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、基板Wを所定方向に搬送する基板搬送機構20と、パターンPを形成した複数のマスクMをそれぞれ保持し、所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部71と、複数のマスク保持部71の上部にそれぞれ配置され、露光用の光を照射する複数の照射部80と、を備える。そして、所定方向に搬送される基板Wに対して複数のマスクMを介して露光用光ELを照射し、基板Wに複数のマスクMのパターンPを露光する。
【選択図】図1

Description

本発明は、露光装置及び露光方法に関し、例えば、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等の大型のフラットパネルディスプレイの基板上にマスクのパターンを露光転写するのに好適な露光装置及び露光方法に関する。
大型の薄形テレビ等に用いられる液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等の大型のフラットパネルディスプレイは、基板上にマスクのパターンを分割逐次露光方式で近接露光転写することで製造される。従来のこの種の分割逐次露光装置としては、例えば、被露光材としての基板より小さいマスクを用い、該マスクをマスクステージで保持すると共に基板をワークステージで保持して両者を近接して対向配置し、この状態でワークステージをマスクに対してステップ移動させて各ステップ毎にマスク側から基板にパターン露光用の光を照射することにより、マスクに描かれた複数のマスクパターンを基板上に露光転写して一枚の基板に複数のディスプレイ等を作成するようにしたものが知られている。特に、特許文献1の技術では、基板に対して、それより小型のマスクと光源とを同期して移動させることで、大型の基板にマスクのパターンを露光できるようになっている。
特開平11−237744号公報
ところで、このような露光装置においては、1枚のマスクを用いて露光が行われているため、ステップ数を少なくしてタクトタイムを短縮するためにはできるだけ大きなマスクを用いることが望ましいが、大きなマスクの製造は大幅なコストアップとなる。また、特許文献1に記載の露光装置では、露光時にマスクと照射部とを同期して移動させるため、基板を搬送する機構に加えて、マスクと照射部の両方の駆動ユニットが必要となる。
本発明は、上記事情に鑑みて為されたものであり、その目的は、マスクの製造や装置全体としてのコストを低減することができるとともに、効率的な露光を実現する露光装置及び露光方法を提供することにある。
本発明の上記目的は、下記の構成によって達成される。
(1) 基板を少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、該基板を所定方向に搬送する基板搬送機構と、
パターンを形成した複数のマスクをそれぞれ保持し、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部と、
前記複数のマスク保持部の上部にそれぞれ配置され、露光用の光を照射する複数の照射部と、
を備え、
前記所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して前記露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光することを特徴とする露光装置。
(2) 前記複数の照射部と前記複数のマスク保持部との間にそれぞれ配置され、前記照射部から出射された露光用光を遮光する複数の遮光部材をさらに備えることを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(3) 前記遮光部材は、前記マスク保持部に保持された前記マスクの近傍に配置されることを特徴とする(2)に記載の露光装置。
(4) 露光時において、前記マスクと前記基板とは近接配置されることを特徴とする(1)から(3)のいずれかに記載の露光装置。
(5) 前記複数のマスク保持部をそれぞれ駆動する複数のマスク駆動部をさらに備えることを特徴とする(1)から(4)のいずれかに記載の露光装置。
(6) 露光時において、前記マスクと前記基板との相対位置ズレを検出し、検出された前記相対位置ズレに基づいて前記マスク駆動部を駆動させ、前記マスクの位置を前記基板にリアルタイムで追従させる制御部を有することを特徴とする(5)に記載の露光装置。
(7) 前記マスクと前記基板との相対位置ズレは、前記基板上のマーク、又は前記基板に形成された下地パターンを用いて検出されることを特徴とする(6)に記載の露光装置。
(8) 前記千鳥状に配置される複数のマスク保持部は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部と下流側に配置される複数の下流側マスク保持部とを備え、
前記上流側マスク保持部と前記下流側マスク保持部との間には、前記マスクを交換すべく、前記上流側及び下流側マスク保持部の下面と対向可能な一対のマスクトレー部を有するマスクチェンジャーが配置されることを特徴とする(1)から(7)のいずれかに記載の露光装置。
(9) 前記マスクチェンジャーの前記マスクトレー部に載置された前記マスクをプリアライメントするマスクプリアライメント機構をさらに備えることを特徴とする(8)に記載の露光装置。
(10) 前記基板搬送機構は、前記基板に形成された繰り返し性のある下地パターンが前記所定方向又は前記交差方向に沿うように、前記基板の向きを調整する基板プリアライメント機構をさらに備えることを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(11) 基板を少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、該基板を所定方向に搬送する基板搬送機構と、パターンを形成した複数のマスクをそれぞれ保持し、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部と、前記複数のマスク保持部をそれぞれ駆動する複数のマスク駆動部と、前記複数のマスク保持部の上部にそれぞれ配置され、露光用光を照射する複数の照射部と、を備え、前記所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して前記露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光する露光装置の露光方法であって、
前記マスクと前記基板との相対位置ズレを検出する工程と、
前記検出された相対位置ズレに基づいて前記マスク駆動部を駆動させ、前記マスクの位置を前記基板にリアルタイムで追従させる工程と、
を有することを特徴とする露光装置の露光方法。
本発明の露光装置及び露光方法によれば、基板を少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、該基板を所定方向に搬送する基板搬送機構と、パターンを形成した複数のマスクをそれぞれ保持し、所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部と、前記複数のマスク保持部の上部にそれぞれ配置され、前記露光用光を照射する複数の照射部と、前記基板を浮上させると共に、前記基板を前記所定方向に搬送する基板搬送機構と、を備え、所定方向に搬送される基板に対してパターンを形成した複数のマスクを介して露光用光を照射し、基板にパターンを露光する。従って、小型化したマスクを複数使用し、基板を搬送しながら露光することで、マスクの製造や装置全体としてのコストを低減することができるとともに、効率的な露光を実現する。
特に、マスク保持部は基板が搬送される所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置されているので、基板上に隙間なくパターンを形成することができる。また、基板搬送機構は、基板を少なくとも露光領域において浮上させて支持しているので、支持面との摩擦がほとんどなく、スムーズに基板を搬送することができる。
以下、本発明の露光装置の一実施形態に係る近接スキャン露光装置について図面を参照して詳細に説明する。
本実施形態の近接スキャン露光装置1は、図6に示すように、マスクMに近接しながら所定方向に搬送される略矩形状の基板Wに対して、パターンPを形成した複数のマスクMを介して露光用光ELを照射し、基板WにパターンPを露光転写する。即ち、該露光装置1は、基板Wを複数のマスクMに対して相対移動しながら露光転写が行われるスキャン露光装置である。なお、本実施形態で使用されるマスクのサイズは、350mm×250mmに設定されており、パターンPのX方向長さは、有効露光領域のX方向長さに対応する。
近接スキャン露光装置1は、図1及び図5に示すように、基板Wを浮上させて支持すると共に、基板Wを所定方向(図において、X方向)に搬送する基板搬送機構20と、複数のマスクMをそれぞれ保持し、所定方向と交差する方向(図において、Y方向)に沿って千鳥状に二列配置される複数のマスク保持部71を有するマスク保持機構70と、複数のマスク保持部71の上部にそれぞれ配置され、露光用光ELを照射する複数の照射部80と、複数の照射部80と複数のマスク保持部71との間にそれぞれ配置され、照射部80から出射された露光用光ELを遮光する複数の遮光装置90と、複数のマスク保持部71に保持される各マスクMを交換するためのマスクチェンジャー120と、マスクチェンジャー120がマスクMを交換する前にマスクMをプリアライメントするマスクプリアライメント機構140と、これらを制御する制御部180を備える。
これら基板搬送機構20、マスク保持機構70、複数の照射部80、遮光装置90、マスクチェンジャー120、及び、マスクプリアライメント機構140は、レベルブロック3(図4参照。)を介して地面に設置される装置ベース2上に配置されている。ここで、基板搬送機構20が基板Wを搬送する領域のうち、上方にマスク保持機構70が配置される領域をマスク配置領域EA、マスク配置領域EAに対して上流側の領域を基板搬入側領域IA、露光領域EAに対して下流側の領域を基板搬出側領域OAと称す。又、レベルブロック
基板搬送機構20は、装置ベース2上に他のレベルブロック4を介して設置された複数の角パイプ等によってそれぞれ構成される搬入フレーム5、精密フレーム6、搬出フレーム7上に配置され(図4参照。)、エアで基板Wを浮上させて支持する浮上ユニット21と、浮上ユニット21のY方向側方で、装置ベース2上にさらに他のレベルブロック8を介して設置されたフレーム9上に配置され、基板Wを把持すると共に、基板WをX方向に搬送する基板駆動ユニット40と、基板搬入側領域IAに設けられ、この基板搬入側領域IAで待機される基板Wのプリアライメントを行う基板プリアライメント機構50と、基板Wのアライメントを行う基板アライメント機構60と、を有する。なお、各レベルブロック3,4,8は、除振台と置き換えられても良い。
浮上ユニット21は、図3〜図5に示すように、搬入出及び精密フレーム5,6,7の上面から上方に延びる複数の連結棒22が下面にそれぞれ取り付けられる長尺状の複数の排気エアパッド23,24及び長尺状の複数の吸排気エアパッド25a,25bと、各エアパッド23,24,25a,25bに形成された複数の排気孔26からエアを排出するエア排出系30及びエア排出用ポンプ31と、吸排気エアパッド25a,25bに形成された吸気孔27からエアを吸引するためのエア吸引系32及びエア吸引用ポンプ33と、を備える。
基板搬入側領域IA及び基板搬出側領域OAに配置される排気エアパッド23は、長手方向が主にX方向に沿うように敷設されており、隣接するパッド同士の間隔を比較的大きくしてコストダウンを図っている。また、図3に示すように、マスク配置領域EAに配置されるエアパッド24,25a,25bのうち、排気エアパッド24は、長手方向がX方向に沿うように敷設される一方、吸排気エアパッド25a,25bは、長手方向がY方向に沿うように敷設されている。
また、吸排気エアパッド25a,25bは、図5に示すように、複数の排気孔26及び複数の吸気孔27を有しており、エアパッド25a,25bの支持面34と基板Wとの間のエア圧をバランス調整し、所定の浮上量に高精度で設定することができ、安定した高さで水平支持することができる。
図6に示すように、吸排気エアパッド25a,25bは、マスク保持部71に保持された露光時におけるマスクMの下方に位置するように対向配置され、マスクMのパターンPが形成された露光領域より大きく設計されている。このように吸排気エアパッド25a,25bが、マスクMの露光領域より大きく設計されることで、エアパッドによる露光むらが発生するのを抑制することができる。
なお、精密フレーム6は、マスク配置領域EAに配置された吸排気エアパッド24,25a,25bからY方向一側に延設されており、後述するマスクプリアライメント機構140を構成する排気エアパッド141が、長手方向をY方向に沿うように連続配置されている。
基板駆動ユニット40は、図2に示すように、真空吸着により基板Wを把持する把持部材41と、把持部材41をX方向に沿って案内するリニアガイド42と、把持部材41をX方向に沿って駆動する駆動モータ43及びボールねじ機構44と、フレーム9の上面から突出するように、基板搬入領域IAにおけるフレーム9の側方にZ方向に移動可能且つ回転自在に取り付けられ、マスク保持機構70への搬送待ちの基板Wの下面を支持する複数のワーク衝突防止ローラ45と、を備える。なお、基板駆動ユニット40は、基板Wの撓み等を考慮して、Y方向一側のみに設けられているが、Y方向両側に設けられる構成であってもよい。また、把持部材41は、基板Wのθ方向(X,Y方向からなる水平面の法線回り)の駆動を許容する構成であってもよい。
基板プリアライメント機構50は、図7に示すように、基板搬入側領域IAのX方向上流側、及びY方向一側、即ち、基板搬入側領域IAで待機される基板Wの対向辺の一側近傍に配置される複数の基準ピン51,52と、X方向下流側、及びY方向他側、即ち、待機した基板Wの対向辺の他側近傍に配置される複数の押し当てピン53,54と、基板Wを吸着すると共に、吸着した基板Wと共にX方向に駆動可能なハンドシェイクピン55と、を有する。
X方向に対向して配置された基準ピン51及び押し当てピン53は、上面視で複数のエアパッド23と重ならない位置に配置される。これら基準ピン51及び押し当てピン53はそれぞれ、図示しない駆動部により、搬入フレーム5の上面から上方に進退可能であると共に、X方向に移動可能である。Y方向に対向して配置された基準ピン52及び押し当てピン54は、Y方向両側の一対のフレーム10(図1参照。)に跨ってY方向に延びる一対の連結フレーム11に掛け渡されるX方向フレーム18に取り付けられる。基準ピン52は、図示しない駆動部により、下方に進退可能に設けられ、また、押し当てピン54は、図示しない駆動部により、下方に進退可能であると共に、Y方向に移動可能である。また、これら基準ピン51,52及び押し当てピン53,54は、基板Wの縁端面と当接する軸受ローラ58,59をそれぞれ有する。さらに、ハンドシェイクピン55は、エアパッド23が配置されていない基板Wと対向可能な位置で搬入フレーム5に設けられ、図示しない駆動部により基板搬入領域IAの略2/3程度に亘ってX方向に移動可能である。
なお、基準ピン51のX方向位置は、基板Wのサイズ変更や、基板毎のアライメントマーク位置の変更、後述する遮光装置90との同期を図るための基板Wの搬送開始位置変更等によって調整される。また、各基準ピン及び押し当てピンの本数は、少なくとも図7に示された数、即ち、2本の基準ピン51と、それぞれ1本の基準ピン52、押し当てピン53,54だけ最低限あればよく、必要に応じて増加してもよい。
基板アライメント機構60も、図7に示すように、基板Wに設けられた基準マークを検出する2つのアライメント用カメラ61と、基板Wを吸着すると共に、吸着した基板Wと共にY方向にそれぞれ駆動可能な一対のθ補正用吸着ピン62と、を有する。
アライメント用カメラ61は、連結フレーム11にそれぞれ取り付けられ、図示しない駆動部によりY方向に沿って移動可能である。これにより、カメラ61が基準マークを検出することで、アライメント時の基板WのX,Y,θ方向の補正移動量が算出される。一対の吸着ピン62は、エアパッド23が配置されていない基板Wと対向可能な位置で搬入フレーム5に設けられ、図示しない駆動部によりY方向及びZ方向に移動可能である。従って、X方向に所定距離離れた一対の吸着ピン62がY方向に相対的に移動することで、吸着された基板Wのθ方向の位置合わせが行われる。なお、基板WのX,Y方向のアライメント調整は、把持部材41のX方向補正、後述するマスク保持部71のY方向補正によって行われる。
マスク保持機構70は、図2及び図5に示すように、上述した複数のマスク保持部71と、マスク保持部71毎に設けられ、マスク保持部71をX,Y,Z,θ方向、即ち、所定方向、交差方向、所定方向及び交差方向との水平面に対する鉛直方向、及び、該水平面の法線回りに駆動する複数のマスク駆動部72と、を有する。
Y方向に沿って千鳥状に二列配置される複数のマスク保持部71は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部71a(本実施形態では、6個)と、下流側に配置される複数の下流側マスク保持部71b(本実施形態では、6個)と、で構成され、装置ベース2のY方向両側に立設した柱部12(図1参照。)間で上流側と下流側に2本ずつ架設されたメインフレーム13にマスク駆動部72を介してそれぞれ支持されている。各マスク保持部71は、Z方向に貫通する開口77を有すると共に、その周縁部下面にマスクMが真空吸着されている。
マスク駆動部72は、メインフレーム13に取り付けられ、X方向に沿って移動するX方向駆動部73と、X方向駆動部73の先端に取り付けられ、Z方向に駆動するZ方向駆動部74と、Z方向駆動部74に取り付けられ、Y方向に駆動するY方向駆動部75と、Y方向駆動部75に取り付けられ、θ方向に駆動するθ方向駆動部76と、を有し、θ方向駆動部76の先端にマスク保持部71が取り付けられている。従って、各駆動部73,74,75,76はX方向に並んで配置されており、マスク駆動部72は、マスク保持部71a,71bのX方向側方で、上流側マスク保持部71aと下流側マスク保持部71bとが対向する側と反対側に延びて、メインフレーム13に取り付けられている。
複数の照射部80は、図5及び図8に示すように、筐体81内に図示しない光源、ミラー、オプチカルインテグレータ、シャッター等を備え、マスク保持部71に保持されたマスクMに露光用光ELを照射する。また、筐体81の下面には、ガイドレール82が取り付けられており、照射部80は、メインフレーム13や後述するサブフレーム11に固設されたスライダ83に案内され、マスク保持部71の上方に配置される露光位置EP(図5の実線)と、露光位置EPから外れた後退位置RP(図5の二点鎖線)との間をX方向に移動可能である。このため、照射部80が後退位置RPに位置される場合には、後述する中間連結フレーム16の上方にスペースが形成されるので、作業者が中間連結フレーム16上に乗って、マスク保持機構40、後述する遮光装置90、各種検出手段等の交換やメンテナンスを容易に行うことができる。
なお、露光位置EPと後退位置RPでの照射部80の位置決めは、筐体81の下面に設けられた一対のストッパ部材84a,84bをメインフレーム13に設けられた固定部材85に当接させることで行われる。また、照射部80には、露光位置EPに移動したことを検出する位置検知センサが構成されている。具体的には、露光位置EPを規定するストッパ部材84aには、センサドグ86が取り付けられており、固定部材85近傍に設けられたフォトスイッチ87によって、照射部80が露光位置EPに位置決めされたことを検知する。なお、図8に一点鎖線で示された固定部材85及びフォトスイッチ87は、照射部80が露光位置EPに位置する際の筐体81との相対位置を示している。また、本実施形態では、各照射部80のX方向移動量は、670mmに設定されている。
複数の遮光装置90は、図5、図9及び図10に示すように、マスク保持部71に保持されたマスクMの近傍で、照射部80から出射された露光用光ELを遮光するとともに、露光用光ELを遮光する所定方向における遮光幅、即ち、Z方向から見た投影面積が可変となるように、傾斜角度を変更する一対の板状のブラインド部材(遮光部材)108,109と、一対のブラインド部材108,109の傾斜角度を変更するブラインド駆動ユニット92と、を有する。
ブラインド駆動ユニット92は、上流側及び下流側のメインフレーム13,13との間で、装置ベース2のY方向両側に立設した柱部14,14(図1参照。)間で上流側と下流側に架設されたサブフレーム15,15にZ軸駆動機構91を介してZ方向に昇降可能に固定される。
図9に示すように、ブラインド駆動ユニット92は、開口93aを画成する筐体93のY方向両側で、且つ、上下に取り付けられた4つのモータ95a,95a,95b,95bと、モータ95a,95bの回転によってねじ軸96a,96bを回転させ、ナット97a,97bをX方向に移動させる4つのボールねじ機構98a,98a,98b,98bと、ナット97a,97bをスライダ99a,99bと固定し、スライダ99a,99bがレール100a,100bに案内される4つのリニアガイド101a,101a,101b,101bと、下側のナット97aにねじ固定された連結部102aを介して、ナット97aと共にX方向に移動し、一方のブラインド部材108が取り付けられる一対のアーム部103と、上側のナット97bにねじ固定された連結部102bを介して、ナット97bと共にX方向に移動し、他方のブラインド部材109が取り付けられる一対のアーム部104と、を備える。
また、各アーム部103,104はそれぞれ、図10(a)に示すように、筐体93からナット97a,97bと共にX方向に移動する第1アーム部105a,105bと、各一端が第1アーム部105a,105bの下端とそれぞれ連結し、各他端同士が互いに連結される第2アーム部106a,106bと、を備える。Y方向両側に設けられた第2アーム部106aの下方には、その長手方向がY方向に沿うように一方のブラインド部材108が固定される。また、Y方向両側に設けられた第2アーム部106bの下方には、その長手方向がY方向に沿うように他方のブラインド部材109が固定される。
従って、遮光装置90が照射部80から出射された露光用光ELを遮光する場合には、一対のブラインド部材108,109が、開口93a内の露光領域から外れた位置に収納された状態から、上側の一対のモータ95a,95aを駆動して、第1アーム部105bを第1アーム部105aから離間するようにX方向に移動させることで、一対のブラインド部材108,109が同一の傾斜角度を持って徐々に開かれる。これにより、ブラインド部材108,109が露光領域に進出した部分の露光用光ELが遮光される。
さらに、下側の一対のモータ95b、95bを駆動して、第1アーム部105aを第1アーム部105bから離間するようにX方向に移動させることで、一対のブラインド部材108,109がさらに開かれ、露光領域全域をブラインド部材108,109によって遮光できる。
また、図10(b)に示すように、一方のブラインド部材108の一端部108aは、略平板状に形成され、他方のブラインド部材109の一端部109aは、一方のブラインド部材108の一端部108aを覆う湾曲形状を有する。両ブラインド部材108,109は、駆動ユニット92によって傾斜角度を可変とするが、これら一端部108a,109aは、互いに近接対向し、傾斜角度に関わらず、上下方向から見て互いにオーバーラップしている。これにより、一対のブラインド部材108,109が傾斜角度を変えてX方向に移動した際に、互いの一端部側において露光用光ELが漏れることが防止される。
また、一対のブラインド部材108,109は互いに平行となる位置まで傾斜角度を変更可能であるので、ブラインド部材108,109が露光領域を横切る際の露光量の低下を極力抑制することができる。
マスクチェンジャー120は、図11及び図12に示すように、上流側マスク保持部71aと下流側マスク保持部71bとの間に配置されており、マスクMを保持すると共に、マスクMをマスク保持部71の下面に吸着させるべく、上流側及び下流側マスク保持部71a,71bの下面と対向可能な一対のマスクトレー部121と、上流側マスク保持部71aと下流側マスク保持部71bとの間で、これら一対のマスクトレー部121を連結する連結部122と、これら一対のマスクトレー部を連結部122と共にY方向に駆動するマスク交換用駆動部123と、を有する。
一対のマスクトレー部121は、平板状のベース部191と、このベース部191の上方でベース部191に対して水平方向に相対移動可能に配置され、開口192aを有する平板状のチェイサー板192と、このチェイサー板192の開口周辺の上面にマスクMが載置されると共に、マスクMを吸着可能な複数の吸着ブロック125と、を備える。なお、トレー部121上の吸着ブロック125の一部は、単にマスクMを支持する支持ブロックとしてもよい。
また、一対のマスクトレー部121は、チェイサー板192をベース部191に対して浮上させるチェイサー浮上機構193と、チェイサー板192をベース部191に対して所定の範囲で水平方向に弾性移動可能となるように、ベース部191とチェイサー板192を連結する複数のばね部材194と、後述するマスクプリアライメントの際にベース部191に対してチェイサー板192を水平方向に位置決めするための複数のチェイサー用位置決めピン195と、同じくマスクプリアライメントの際にベース部191に対してマスクMを水平方向に位置決めするための複数のマスク用位置決めピン196と、マスク交換の際に、マスク保持部71に対してマスクMを位置合わせするための複数のホルダ用位置決めピン197と、を備える。
なお、チェイサー板192、チェイサー浮上機構193、ばね部材194は追従機構を構成し、ベース部191に対してマスクMを相対移動させる際に、チェイサー板192をマスクMと共に移動させる。即ち、マスク交換の際には、ホルダ用位置決めピン197が収容孔78に押し当てられるまでチェイサー板192をマスクMと共にマスク保持部71の移動に追従させ、チェイサー板192をベース部191に対して相対移動させる。また、マスクプリアライメントの際にも、チェイサー板192がチャイサー用位置決めピン195と当接するまでチェイサー板192を後述するマスクプリアライメント機構140の押し付けピン144の移動に追従させ、チェイサー板192をベース部191に対して相対移動させる。
チェイサー浮上機構193は、チェイサー板192に設けられたポンプやエアパッド等を備え、ベース部191に対して正圧エアを吐出することで、チェイサー板192をベース部191上で浮上させる。チェイサー用位置決めピン195は、ベース部191上のX方向一側及びY方向一側に立設され、マスクプリアライメントの際にチェイサー板192の側面と当接し、ベース部191に対してチェイサー板192を位置決めする。
マスク用位置決めピン196は、チェイサー用位置決めピン195と同じX方向一側及びY方向一側でベース部191上に配置されており、チェイサー板192に形成されたピン孔192bから突出する。具体的に、マスク用位置決めピン196は、チェイサー用位置決めピン195より内側、即ち、複数の吸着ブロック125によって支持されるマスクMの端面がプリアライメントされる際に当接可能な位置に設けられている。
ホルダ用位置決めピン197は、チェイサー板192上で、X方向一側に並んで立設されている。これにより、マスク交換の際に、ホルダ用位置決めピン197がマスク保持部71に形成された収容孔78に押し当てられることで、マスクプリアライメント時にチェイサー板192に位置合わせされたマスクMをマスク保持部71に対して位置合わせする。
連結部122は、上部にスライダ127が取り付けられる連結部本体128と、千鳥状に配置されるマスク保持部71の配置に併せて、一対のマスクトレー部121をX方向に対して斜めに連結する一対の腕部129と、を有している。
マスク交換用駆動部123は、Y方向に延びる中間連結フレーム16の下部に同じくY方向に延設された支持部131内に収容され、駆動モータ132によって回転駆動されるベルト133と、連結部122に固定されると共に、ベルト133の一部と連結され、ベルト133の回転によりY方向に駆動される可動部134と、を有する。可動部134は、支持部131の開口部131aから側方に延び、下方に位置する連結部122に固定される。また、支持部134の下部にはガイドレール135が設けられ、ガイドレール135を跨ぐスライダ127によって一対のマスクトレー部121をY方向に案内する。なお、中間連結フレーム16は、上流側及び下流側のサブフレーム15,15をY方向両側で連結するX方向に延びるフレーム17,17の中間部に取り付けられている(図1参照。)。
従って、連結部122を介して可動部134と連結された一対のマスクトレー部121は、マスクMを交換すべく、ベルト133を駆動して、マスクMを搬入又は搬出するための受け渡し位置WPと、各マスク保持部71の下面と対向する交換位置CPとの間でY方向に移動する。この受け渡し位置WPは、マスクトレー部121やマスク交換駆動部123等が基板駆動ユニット40の各部品と干渉しないように、基板駆動ユニット40が設置されるY方向の一端側と反対側に設けられている。
マスクプリアライメント機構140は、図13及び図14に示すように、上述したマスクトレー部121と、上述したマスク配置領域EAからY方向に延出したマスクMの受け渡し位置WPに配置され、受け渡し位置WPに位置するマスクトレー部121にエアを吐出する排気エアパッド141と、マスクの受け渡し位置WPの上方に設けられ、マスクトレー部121に載置されたマスクMのプリアライメントを行うマスクプリアライメント駆動部142と、を備えて構成される。
マスクプリアライメント駆動部142は、上下方向に駆動される押し付け板143と、中間連結フレーム16上に固設されたベース部材145に押し付け板143を連結すると共に、押し付け板143を上下方向に駆動する複数の上下動シリンダ146と、押し付け板143の下面で、且つ、トレー部121に設けられたマスク用位置決めピン196とマスクMに対してX方向他側及びY方向他側に設けられ、マスクMに向けて移動してマスクMの端面と当接可能な複数の押し付けピン144と、押し付け板143に対して押し当てピン144を所定方向に駆動するピン駆動シリンダ147と、を有する。
マスクプリアライメント機構140は、マスクトレー部121に対して浮上しているマスクMを押し付け板143で押さえつけながら、押し付けピン144を駆動してマスクMを水平方向に移動させ、マスクMをマスク用位置決めピン196にX及びY方向で当接することでマスクMのプリアライメントを行っている。
また、図4及び図11に示すように、近接スキャン露光装置1には、レーザー変位計160,161、マスクアライメント用カメラ171、追従用カメラ172、追従用照明173等の各種検出手段が配置されている。
レーザー変位計160(160a,160b,160c)は、基板Wと各マスクMとが対向する領域で少なくとも3箇所の位置にそれぞれ設けられている。マスクMの上方に位置する一つのレーザー変位計160aは、マスク保持部71に取り付けられており、基板WとマスクMとのギャップを検出するギャップセンサを構成する。基板の下方に位置する2つのレーザー変位計160b,160cは、マスクMの下方に位置する露光領域より大きいエアパッド25aの側方で、基板WとマスクMとが対向する位置に配置され、基板Wの厚さを検出する(図3参照。)。なお、基板Wが素ガラスの場合には、レーザー変位計160b,160cは、上記ギャップも検出可能であり、レーザー変位計160a,160b,160cが、ギャップセンサを構成する。
マスクアライメント用カメラ171は、マスクMに形成された基準マークを撮像して、後述する制御部180に送信する。追従用カメラ172は、マスクMと基板Wとの相対位置ズレを検出するため、基板W上の基準マーク、又は基板Wに形成された下地パターンを撮像して、後述する制御部180に送信する。
これら2つのレーザー変位計160b,160c、マスクアライメント用カメラ171、追従用カメラ172は、マスク配置領域EAの隣接するエアパッド24,25a,25b間に、エアパッド24,25a,25bの上面より突出しないように精密フレーム6に取り付けられている。
また、レーザー変位計161は、搬入フレーム5に取り付けられ、基板Wの厚さを検出する。追従用照明173は、ブラインド駆動ユニット92の筐体93に取り付けられる。
ここで、図4に示すように、搬入、精密、搬出フレーム5,6,7は、装置ベース2上に水平方向に延びる複数の角パイプ180、及び鉛直方向に延びる複数の角パイプ181を連結して構成され、X方向及びY方向に貫通するスペース182を画成している。これにより、作業者は、このスペース182内に入り込んで、例えば、エアパッド22,23,24,25a,25bや、上述した各種検出手段、ワーク衝突防止ローラ45、また、基準ピン51、押し付けピン53、ハンドシェイクピン55、吸着ピン62、及びこれらピン51,53,55,62の駆動軸等、これら補機類の交換、メンテナンス作業等を容易に行うことができる。
制御部180は、上記検出手段や上記各駆動部を含む基板搬送機構20、マスク保持機構70、照射部80、遮光装置90、マスクチェンジャー120、マスクプリアライメント機構140等の各機構と接続されており、プログラムや各検出手段からの検出信号に基づいて各機構を駆動制御する。特に、制御部180は、露光時において、マスクMと基板Wとの相対位置ズレを検出し、検出された相対位置ズレに基づいてマスク駆動部72を駆動させ、マスクMの位置を基板Wにリアルタイムで追従させる。同時に、マスクMと基板Wとのギャップを検出し、検出されたギャップに基づいてマスク駆動部72を駆動させ、マスクMと基板Wのギャップをリアルタイムで補正する。
次に、以上のように構成される近接スキャン露光装置1を用いて、基板Wの露光転写について説明する。なお、本実施形態では、下地パターン(例えば、ブラックマトリクス)が描画されたカラーフィルタ基板Wに対して、R(赤)、G(緑)、B(青)のいずれかのパターンを描画する場合について説明する。
近接スキャン露光装置1は、図示しないローダ等によって、基板搬入領域IAに搬送された基板Wを排気エアパッド23からのエアによって浮上させて支持し、基板Wのプリアライメント作業、アライメント作業を行った後、基板駆動ユニット40の把持部材41にてチャックされた基板Wをマスク配置領域EAに搬送する。
図15に示すように、基板Wのプリアライメント作業は、初期化後(ステップS11)、基板Wが基板搬入領域IAに1/3程度搬入されると(ステップS12)、基板Wを排気エアパッド23によってエア浮上した状態で、上流側に位置したハンドシェイクピン55が基板Wを吸着し、所定位置まで搬送する(ステップS13)。所定位置に基板Wが搬送されると、基準ピン51,52及び押し付けピン53,54を上下方向に駆動させ、基板Wの端面と当接する高さ位置に軸受ローラ58,59を進出させる(ステップS14)。さらに、押し付けピン53,54をX方向、Y方向にそれぞれ移動させ、軸受ローラ59を基板Wの端面と当接させながら基板Wを移動することで、基板Wを基準ピン51,52の軸受ローラ58と当接させ、基板Wのプリアライメントを完了する(ステップS15)。
次に、基板Wのアライメント作業は、基板Wの下面に位置する一対のθ補正用吸着ピン62を上昇させ、基板Wに吸着させる(ステップS20)。基準ピン51,52及び押し付けピン53,54は、軸受ローラ58,59が基板Wの端面と当接する高さ位置から後退させるように移動される(ステップS21)。そして、アライメント用カメラ61で、基板Wに描画された基準マークを監視し(ステップS22)、X,Y,θ方向の補正移動量を算出する(ステップS23)。さらに、算出後、一対の吸着ピン62をY方向にそれぞれ駆動して基板Wをθ方向に回転させ、ブラックマトリクスのX方向格子パターンがX方向に沿うように基板Wの下地パターンを基準としたθ方向補正を行う(ステップS24)。なお、Y方向の補正移動量が大きい場合には、一対の吸着ピン62を同期駆動して概アライメントを行う。
その後、基板Wが把持部材41によってチャックされ(ステップS25)、一対の吸着ピン62は基板Wの吸着を解除して、下降する(ステップS26)。また、基板Wと遮光装置90との同期を図るため、基板Wをチャックした把持部材41が搬送を開始するX方向位置が補正され(ステップS27)、さらに、露光時のマスク保持部71の補正量を低減するため、予めマスク保持部71のY方向位置が補正される(ステップS28)。
その後、基板Wは、基板駆動ユニット40の駆動モータ43を駆動させることで、レール42に沿ってX方向に移動する。そして、基板Wがマスク配置領域EAに設けられた排気エアパッド24及び吸排気エアパッド25a,25b上に移動させ、振動を極力排除した状態で浮上させて支持される。そして、照射部80内の光源から露光用光ELを出射すると、かかる露光用光ELは、マスク保持部71に保持されたマスクMを通過し、パターンを基板Wに露光転写する。
このとき、基板Wの移動誤差によるパターンのズレが、追従用カメラ172によって検出された下地パターンの画像を処理することで与えられる。そして、マスク駆動部72が、この処理された画像データに応じてマスクMの位置を微調整することで、パターンのズレをリアルタイムに補正することができる。
また、露光動作中、各マスク毎に設置されたレーザー変位計160a,160b,160cは、基板WとマスクMとの間のギャップを検出している。そして、検出されたギャップに基づいて、マスク駆動部72のZ方向駆動部74が、マスク保持部71を上下方向にリアルタイムに駆動制御する。このため、基板Wが基板搬送機構20によって搬送される際、基板Wの厚さばらつきにより、30μm〜40μm程度の高さのばらつきが発生する場合があるが、上記制御によりリアルタイムでのギャップ調整を可能としている。
以上、同様にして、連続露光することで、基板W全体にパターンの露光を行うことができる。マスク保持部71に保持されたマスクMは、千鳥状に配置されているので、上流側或いは下流側のマスク保持部71a,71bに保持されるマスクMが離間して並べられていても、基板Wに隙間なくパターンを形成することができる。
また、基板Wから複数のパネルを切り出すような場合には、隣接するパネル同士の間に対応する領域に露光用光ELを照射しない非露光領域を形成する。このため、露光動作中、一対のブラインド部材108,109を開閉して、非露光領域にブラインド部材108,109が位置するように、基板Wの送り速度に合わせて基板Wの送り方向と同じ方向にブラインド部材108,109を移動させる。
さらに、一対のブラインド部材108,109を照射部80からの光を横切って基板Wの送り方向と逆方向に移動させる際には、一対のブラインド部材108,109が互いに平行となる位置まで畳まれているので、ブラインド部材108,109が露光領域を横切る際の露光量の低下を極力抑制することができる。
また、基板Wが露光され、基板搬出領域OAに送られて搬出されるまでの間に、新しい基板Wが基板搬入領域IAに送られてくる。このため、新しい基板Wは、基板駆動ユニット40の把持部材41が戻ってくるまでの間、複数のワーク衝突防止ローラ45を上方に移動させることによって基板Wの一端下面を支持し、この間に基板Wのプリアライメント作業が行われる。なお、これら複数のワーク衝突防止ローラ45の上方移動は、前述した基準ピン51,52及び押し付けピン53,54を上下方向に駆動させた後に行われる(図15のステップS16参照。)。
また、マスクMを所定のタイミングで洗浄するために、マスクチェンジャー120を用いて随時マスクMの交換が行われる。該マスク交換は、図16に示すように、まず、Y方向一端に配置された1番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a1,71b1において左右同時に行われ、順次、隣の上流側及び下流側のマスク保持部71a2,71b2,...,71a5,71b5にて行われ、最後に、Y方向他端に配置された6番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a6,71b6にて行われる。
具体的に、図17に示すように、まず、マスク駆動部72は、全てのマスク保持部71をマスク交換を行うための退避位置に上昇させる(ステップS31)。この時、遮光装置90も筐体93を上昇して退避させる。そして、カウンタnを1として(ステップS32)、マスクMが搭載されていない空の一対のマスクトレー部121を1番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a1,71b1の下方(交換位置CP)へ移動させる(ステップS33)。そして、1番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a1,71b1のマスク駆動部72を駆動して、マスク保持部71a1,71b1を着脱位置まで下降させる(ステップS34)。
次に、マスク保持部71a1,71b1に保持された使用済みのマスクMをマスクトレー部121が受け取る(ステップS35)。具体的に、マスク保持部71a1,71b1が使用済みのマスクMの吸着を解除すると共に、マスクトレー部121でマスクMを吸着する。その後、マスク保持部71a1,71b1を退避位置まで上昇させ(ステップS36)、マスクトレー部121を受け渡し位置WPに移動させる(ステップS37)。
受け渡し位置WPでは、まず、マスクMの吸着が解除され(ステップS38)、図示しないマスクローダにより使用済みのマスクMをマスクトレー部121から図示しないカセットに戻す(ステップS39)。その後、未使用(洗浄済み)のマスクMをマスクローダによりカセットからマスクトレー部121に載置し(ステップS40)、後述するマスクプリアライメント機構140によってマスクMをプリアライメントする(ステップS41)。
そして、プリアライメント後のマスクMを吸着ブロック125によって吸着し、マスクMが載置されたトレー部121を再び、1番目の上流側及び下流側マスク保持部71a1,71b1の下方へ移動させた後(ステップS42)、1番目のマスク保持部71a1,71b1を再び着脱位置まで下降させる(ステップS43)。
また、1番目のマスク保持部71a1,71b1をマスク駆動部72により移動させ、未使用のマスクMの位置を微調整する(ステップS44)。即ち、図18に示すように、マスク保持部71a1,71b1が着脱位置まで下降した状態において、トレー部121のチェイサー板192に設けられたホルダ用位置決めピン197はマスク保持部71a1,71b1の収容孔78に収容されている。この状態で、マスク駆動部72によりマスク保持部71a1,71b1をX方向及びY方向に斜めに移動させることで(矢印A参照。)、位置決めピン196が収容孔78に押し当てられ、マスクMの自動調芯が行われる。
その後、トレー部121で未使用のマスクMの吸着が解除され、マスク保持部71a1,71b1でマスクMが吸着される(ステップS45)。また、マスク保持部71a1,71b1が退避位置まで上昇する(ステップS46)。これにより、1番目のマスクMの交換を完了する。
次に、空きとなったマスクトレー部121をY方向一端から隣の2番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a2,71b2の下方へ移動させる(ステップS47)。以降、カウンタnをインクリメントして(ステップS50)、ステップS34に移行する。また、1番目のマスク保持部71a1,71b1は、マスクトレー部121が2番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a2,71b2の下方へ移動した後に、露光位置まで下げて待機する(ステップS48)。
以降、上記動作を繰り返し行い、ステップS49にてカウンタnが6である、即ち、Y方向他端側の6番目のマスク保持部71a6,71b6のマスクMが交換されるまで行われ、マスクMの交換作業が完了する。なお、ステップS47において、カウンタnが6である場合には、マスクチェンジャー120のマスクトレー部121は受け渡し位置WPに移動する。従って、上記マスク交換によれば、一対のマスクトレー部121の1往復の動作で1対のマスクMの回収及び装着を実現でき、タクトタイムの短縮を図ることができる。
また、ステップS41で示すように、上記マスク交換を行う際には、マスク保持部71に向けて搬送されるマスクMに対してプリアライメントが行われる。具体的に、マスクローダによって搬送されたマスクMは、マスクトレー部121の吸着ブロック125上に載置される。この時、マスクトレー部121のベース部191は、その下方に位置する排気エアパッド141によってエア浮上されており、また、チェイサー板192は、チェイサー浮上機構193によってベース部191に対して正圧エアを吐出することで、ベース部191に対して浮上されている。
この状態で、マスクプリアライメント駆動部142を駆動して、押し付け板143を降下させ、押し付け板143をマスクWに押し当てる。さらに、マスクMの端面を押し付けピン144と当接させながらマスクMをX,Y方向に移動させる。マスクMを移動させると、まず、マスクMが載置されたチェイサー板192もベース部191に対して移動し、チェイサー板192の側面がチェイサー用位置決めピン195と当接して、チェイサー板192とベース部191との位置合わせが行われる。さらに、マスクMを移動させると、マスクMの端面が複数のマスク用位置決めピン196と当接して、マスクMがベース部191に位置合わせされる。従って、チェイサー板192とマスクMがベース部191に対して位置合わせされることから、マスクMはチェイサー板192に対しても位置合わせされることになり、マスクMはチェイサー板192に載置された吸着ブロック125の所望の位置でX,Y方向に位置決めされる。その後、マスクトレー部121は、吸着ブロック125でマスクMを吸着する。そして、押し付け板143を上昇させることで、マスクMのプリアライメントを完了する。
以上説明したように、本実施形態の近接スキャン露光装置1によれば、基板Wを少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、基板Wを所定方向(X方向)に搬送する基板搬送機構20と、パターンを形成した複数のマスクMをそれぞれ保持し、所定方向と交差する方向(Y方向)に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部71と、複数のマスク保持部71の上部にそれぞれ配置され、露光用光ELを照射する複数の照射部80と、を備え、X方向に搬送される基板Wに対してパターンを形成した複数のマスクMを介して露光用光ELを照射し、基板Wにパターンを露光する。従って、小型化したマスクMを複数使用し、基板Wを搬送しながら露光することで、マスクMの製造や装置全体としてのコストを低減することができるとともに、効率的な露光を実現する。
特に、マスク保持部71はY方向に沿って千鳥状に配置されているので、基板W上に隙間なくパターンを形成することができる。また、基板搬送機構20は、基板Wを浮上させて支持しているので、支持面34との摩擦がほとんどなく、スムーズに基板Wを搬送することができる。さらに、上記露光装置は、露光時において、マスクMと基板Wとが近接配置される近接露光においても好適である。
また、複数の照射部80と複数のマスク保持部71との間にそれぞれ配置され、照射部80から出射された露光用光ELを遮光する複数のブラインド部材108,109をさらに備えるので、基板Wから複数のパネルを切り出すような場合に、隣接するパネル同士の間に対応する領域に露光用光ELを照射しない非露光領域を形成することができる。
さらに、ブラインド部材108,109は、マスク保持部71に保持されたマスクMの近傍に配置されるので、ブラインド部材108,109によって遮光される境界近傍においても高い解像度で露光することができる。
加えて、複数のマスク保持部71をそれぞれ駆動する複数のマスク駆動部72が設けられているので、露光時において、搬送されてきた基板Wの位置に基づいてマスク駆動部72を駆動させ、マスク保持部71に保持されたマスクMの位置を基板Wに追従させることができ、露光精度を向上することができる。
具体的には、制御部180を用いて、マスクMと基板Wとの相対位置ズレを検出し、検出された相対位置ズレに基づいてマスク駆動部72を駆動させ、マスクMの位置を基板Wにリアルタイムで追従させる。この際、マスクMと基板Wとの相対位置ズレは、基板W上のマーク、又は基板Wに形成された下地パターンを用いて検出される。
また、千鳥状に配置される複数のマスク保持部71は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部71aと下流側に配置される複数の下流側マスク保持部71bとを備え、 上流側マスク保持部71aと下流側マスク保持部71bとの間には、マスクMを交換すべく、上流側及び下流側マスク保持部71a,71bの下面と対向可能な一対のマスクトレー部121を有するマスクチェンジャー120が配置されるので、一往復動作でマスクMの回収及び装着を実現でき、タクトタイムの短縮を図ることができる。
さらに、マスクチェンジャー120のマスクトレー部121に載置されたマスクMをプリアライメントするマスクプリアライメント機構140がさらに設けられるので、装置の外側に別途マスクプリアライメント機構を設ける必要がなくなり、省スペース化を図ることができる。
また、基板搬送機構20は、基板Wに形成された繰り返し性のある下地パターンがX方向又はY方向に沿うように、基板Wの向きを調整する基板プリアライメント機構50がさらに設けられるので、装置の外側に別途基板プリアライメント機構を設ける必要がなくなり、省スペース化を図ることができる。
また、基板Wを少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、基板WをX方向に搬送する基板搬送機構20と、パターンPを形成した複数のマスクMをそれぞれ保持し、Y方向に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部71と、複数のマスク保持部71をそれぞれ駆動する複数のマスク駆動部72と、複数のマスク保持部71の上部にそれぞれ配置され、露光用光ELを照射する複数の照射部80と、を備え、X方向に搬送される基板Wに対して複数のマスクMを介して露光用光ELを照射し、基板Wに複数のマスクMのパターンを露光する露光装置の露光方法であって、マスクMと基板Wとの相対位置ズレを検出する工程と、検出された相対位置ズレに基づいてマスク駆動部72を駆動させ、マスクMの位置を基板Wにリアルタイムで追従させる工程と、を有するので、露光精度を向上することができる。
以上、本発明を実施の形態を参照して説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、その発明の範囲内で変更・改良が可能であることはもちろんである。
本発明では、少なくとも一つの検出手段を含む補機が、隣接するエアパッド23,24,25a,25b間に、エアパッド23,24,25a,25bの上面より突出しないように搬入、精密、搬出フレーム5,6,7のいずれかに取り付けられればよい。
本発明の基板を浮上させて支持する機構は、本実施形態のように、低コストで入手でき取り扱いが容易なエアを利用した浮上ユニットであると好ましいが、それに限られない。また、本発明の基板を浮上させて支持する機構は、少なくとも露光領域に設けられていればよく、他の領域においては、支持面から突出する複数のローラで基板Wを支持し、支持面から浮上させる構成であってもよい。
また、本発明のマスクチェンジャー120は、一対のマスクトレー部121がそれぞれ1枚ずつマスクMを搬送しているが、それぞれ複数枚ずつマスクMを搬送するように構成してもよい。
図1は、本発明の一実施形態にかかる近接スキャン露光装置の全体斜視図である。 図2は、近接スキャン露光装置を、照射部等の上部構成を取り除いた状態で示す上面図である。 図3は、エアパッドの配列状態を説明するための図である。 図4は、基板搬送機構を説明するための概略側面図である。 図5は、近接スキャン露光装置のマスク配置領域における露光状態を示す側面図である。 図6(a)は、マスクとエアパッドとの位置関係を説明するための要部上面図であり、図6(b)は、その断面図である。 図7は、基板プリアライメント機構及び基板アライメント機構を説明するための基板搬入領域の上面図である。 図8は、照射部の下面図である。 図9(a)は、遮光装置の概略スケルトン上面図であり、図9(b)は、遮光装置の概略スケルトン側面図である。 図10(a)は、一対のブラインド部材とマスクとの関係を示すための要部拡大側面図であり、図10(b)は、一対のブラインド部材の一端部を示す要部拡大図である。 図11は、近接スキャン露光装置のマスク配置領域におけるマスク交換状態を示す側面図である。 図12は、受け渡し位置に位置するマスクチェンジャーをマスクプリアライメント機構を除いて示す上面図である。 図13は、マスクプリアライメント機構を示す側面図である。 図14は、マスクプリアライメント機構を示す上面図である。 図15は、基板のプリアライメント及びアライメントの手順を説明するためのフローチャートである。 図16は、マスクの交換手順を説明するための上面図である。 図17は、マスクの交換手順を説明するためのフローチャートである。 図18は、交換位置におけるマスク保持部とマスクトレー部を示す斜視図である。
符号の説明
1 近接スキャン露光装置(露光装置)
2 装置ベース
3,4,8 レベルブロック
13 メインフレーム
15 サブフレーム
20 基板搬送機構
21 浮上ユニット
23,24 排気エアパッド(エアパッド)
25a,25b 吸排気エアパッド(エアパッド)
26 排気孔
27 吸気孔
40 基板駆動ユニット
50 基板プリアライメント機構
51,52 基準ピン
53,54 押し当てピン
60 基板アライメント機構
61 アライメント用カメラ
62 θ補正用吸着ピン
70 マスク保持機構
71 マスク保持部
72 マスク駆動部
80 照射部
82 ガイドレール
83 スライダ
84a,84b ストッパ部材
90 遮光装置
92 ブラインド駆動ユニット
108,109 ブラインド部材
108a,109a 一端部
120 マスクチェンジャー
121 マスクトレー部
125 吸着ブロック
140 マスクプリアライメント機構
141 排気エアパッド(エアパッド)
143 押し付け板
144 押し付けピン
160,160a,160b,161 レーザー変位計(検出手段、ギャップセンサ)
171 マスクアライメント用カメラ(検出手段)
172 追従用カメラ(検出手段)
173 追従用照明(検出手段)
180 制御部
191 ベース部
192 チェイサー板
193 チェイサー浮上機構193
194 ばね部材
195 チェイサー用位置決めピン
196 マスク用位置決めピン
197 ホルダ用位置決めピン197
CP 交換位置
WP 受け渡し位置
EP 露光位置
RP 後退位置
IA 基板搬入側領域
EA マスク配置領域
OA 基板搬出領域

Claims (11)

  1. 基板を少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、該基板を所定方向に搬送する基板搬送機構と、
    パターンを形成した複数のマスクをそれぞれ保持し、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部と、
    前記複数のマスク保持部の上部にそれぞれ配置され、露光用光を照射する複数の照射部と、
    を備え、
    前記所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して前記露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光することを特徴とする露光装置。
  2. 前記複数の照射部と前記複数のマスク保持部との間にそれぞれ配置され、前記照射部から出射された露光用光を遮光する複数の遮光部材をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  3. 前記遮光部材は、前記マスク保持部に保持された前記マスクの近傍に配置されることを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
  4. 露光時において、前記マスクと前記基板とは近接配置されることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の露光装置。
  5. 前記複数のマスク保持部をそれぞれ駆動する複数のマスク駆動部をさらに備えることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の露光装置。
  6. 露光時において、前記マスクと前記基板との相対位置ズレを検出し、検出された前記相対位置ズレに基づいて前記マスク駆動部を駆動させ、前記マスクの位置を前記基板にリアルタイムで追従させる制御部を有することを特徴とする請求項5に記載の露光装置。
  7. 前記マスクと前記基板との相対位置ズレは、前記基板上のマーク、又は前記基板に形成された下地パターンを用いて検出されることを特徴とする請求項6に記載の露光装置。
  8. 前記千鳥状に配置される複数のマスク保持部は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部と下流側に配置される複数の下流側マスク保持部とを備え、
    前記上流側マスク保持部と前記下流側マスク保持部との間には、前記マスクを交換すべく、前記上流側及び下流側マスク保持部の下面と対向可能な一対のマスクトレー部を有するマスクチェンジャーが配置されることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の露光装置。
  9. 前記マスクチェンジャーの前記マスクトレー部に載置された前記マスクをプリアライメントするマスクプリアライメント機構をさらに備えることを特徴とする請求項8に記載の露光装置。
  10. 前記基板搬送機構は、前記基板に形成された繰り返し性のある下地パターンが前記所定方向又は前記交差方向に沿うように、前記基板の向きを調整する基板プリアライメント機構をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  11. 基板を少なくとも露光領域において浮上させて支持すると共に、該基板を所定方向に搬送する基板搬送機構と、パターンを形成した複数のマスクをそれぞれ保持し、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置される複数のマスク保持部と、前記複数のマスク保持部をそれぞれ駆動する複数のマスク駆動部と、前記複数のマスク保持部の上部にそれぞれ配置され、露光用光を照射する複数の照射部と、を備え、前記所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して前記露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光する露光装置の露光方法であって、
    前記マスクと前記基板との相対位置ズレを検出する工程と、
    前記検出された相対位置ズレに基づいて前記マスク駆動部を駆動させ、前記マスクの位置を前記基板にリアルタイムで追従させる工程と、
    を有することを特徴とする露光装置の露光方法。
JP2007149340A 2007-04-03 2007-06-05 露光装置及び露光方法 Expired - Fee Related JP5099318B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007149340A JP5099318B2 (ja) 2007-06-05 2007-06-05 露光装置及び露光方法
KR1020097020367A KR101111933B1 (ko) 2007-04-03 2008-03-31 노광 장치 및 노광 방법
KR1020117014245A KR101111934B1 (ko) 2007-04-03 2008-03-31 노광 장치 및 노광 방법
PCT/JP2008/056413 WO2008120785A1 (ja) 2007-04-03 2008-03-31 露光装置及び露光方法
TW97112393A TW200907590A (en) 2007-04-03 2008-04-03 Exposure apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007149340A JP5099318B2 (ja) 2007-06-05 2007-06-05 露光装置及び露光方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008304537A true JP2008304537A (ja) 2008-12-18
JP5099318B2 JP5099318B2 (ja) 2012-12-19

Family

ID=40233347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007149340A Expired - Fee Related JP5099318B2 (ja) 2007-04-03 2007-06-05 露光装置及び露光方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5099318B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011090097A (ja) * 2009-10-21 2011-05-06 Nsk Ltd 近接スキャン露光装置及び近接スキャン露光方法
JP2011175026A (ja) * 2010-02-23 2011-09-08 Nsk Ltd 露光装置、露光方法及び基板の製造方法
KR101436195B1 (ko) 2010-12-13 2014-09-01 우시오덴키 가부시키가이샤 노광 장치 및 노광 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62102524A (ja) * 1985-10-29 1987-05-13 Canon Inc マスクチエンジヤ−
JP2006235533A (ja) * 2005-02-28 2006-09-07 Nikon Corp 露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2007072267A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Sumitomo Chemical Co Ltd 露光装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62102524A (ja) * 1985-10-29 1987-05-13 Canon Inc マスクチエンジヤ−
JP2006235533A (ja) * 2005-02-28 2006-09-07 Nikon Corp 露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2007072267A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Sumitomo Chemical Co Ltd 露光装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011090097A (ja) * 2009-10-21 2011-05-06 Nsk Ltd 近接スキャン露光装置及び近接スキャン露光方法
JP2011175026A (ja) * 2010-02-23 2011-09-08 Nsk Ltd 露光装置、露光方法及び基板の製造方法
KR101436195B1 (ko) 2010-12-13 2014-09-01 우시오덴키 가부시키가이샤 노광 장치 및 노광 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP5099318B2 (ja) 2012-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101111934B1 (ko) 노광 장치 및 노광 방법
JP2009295950A (ja) スキャン露光装置およびスキャン露光方法
JP5279207B2 (ja) 露光装置用基板搬送機構
JP5164069B2 (ja) スキャン露光装置およびスキャン露光方法
TWI457638B (zh) 修理裝置
JP5099318B2 (ja) 露光装置及び露光方法
JP4942401B2 (ja) 露光装置及び露光方法
JP5089257B2 (ja) 近接スキャン露光装置
JP5077655B2 (ja) 近接スキャン露光装置及びエアパッド
JP4942617B2 (ja) スキャン露光装置
JP5089255B2 (ja) 露光装置
JP5084356B2 (ja) 露光装置用基板搬送機構及びそれを用いた基板位置調整方法
JP5089258B2 (ja) 近接スキャン露光装置及びその露光方法
JP2010092021A (ja) 露光装置及び露光方法
JP5046157B2 (ja) 近接スキャン露光装置
JP2012173337A (ja) マスク、近接スキャン露光装置及び近接スキャン露光方法
JP2012220722A (ja) 露光装置
CN116520649A (zh) 基板搬运、曝光装置、方法、平板显示器及元件制造方法
JP5089238B2 (ja) 露光装置用基板アダプタ及び露光装置
JP5004786B2 (ja) 露光装置の反転部
JP5499398B2 (ja) 露光装置及び露光方法
JP4960266B2 (ja) 透明基板のエッジ位置検出方法及びエッジ位置検出装置
TW201919968A (zh) 基板搬運裝置、曝光裝置、平板顯示器的製造方法、元件製造方法、基板搬運方法以及曝光方法
JP2011174862A (ja) 基板保持装置およびそれを用いた欠陥修正装置
TW202340877A (zh) 搬送裝置、曝光裝置、搬送方法、曝光方法及對準標記

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100222

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20110815

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111025

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120802

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120828

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120911

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5099318

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees