JP2008304478A - 自動分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】反応管4aと、反応管4aを複数収納した反応管ホルダ4と、反応ディスクと、光源ランプ及び受光センサを備えた光学系13と、測光データを得る演算手段40と、制御手段50とを有し、演算手段40は得られた測光データのうち、検体を介さない測光データの変動に基づいて測光系の異常を検知することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
(1)分注ノズルの位置ズレ
分注ノズルによって検体が反応管に分注される際、分注ノズルの作動位置が不適正であると、検体が反応管に入らず、恒温液内に入ってしまうことによって恒温液内の汚染が生じる。
(2)反応管の洗浄時における洗浄液の溢れ
反応管を洗浄する際には、試料及び試薬を吸引し、洗浄水を反応管に注入し、洗浄水を排出するが、前記試料及び試薬を吸引する機構が故障するなどして適正な吸引が行われなかった場合、恒温液に洗浄液が溢れることになり、結果として恒温液内の汚染が生じる。
図1は、本発明の実施の形態における自動分析装置の構成を示す斜視図である。本実施形態における自動分析装置は、検体の各種成分と反応する試薬を納めた複数の試薬ボトルを収納した試薬ラック1を設置可能な試薬庫2及び3と、円環状に複数の反応管4a収容した反応管ホルダ4を複数配置した反応ディスク5と、検体が納められた検体容器がセットされるディスクサンプラ6とを有している。試薬庫2,3、反応ディスク5及びディスクサンプラ6は、それぞれ駆動装置により回動されるようになっている。測定に必要な試薬は、試薬庫2或いは試薬庫3の試薬ラック1に収納されている試薬ボトル7から、それぞれ分注アーム8或いは分注アーム9を用いて反応ディスク5上に設置された複数の反応管ホルダ4内の反応管4aに分注される。
反応管ホルダ4が、図2(a)に示すように、反応管4a間に間隙がある場合、例えば反応管ホルダ4が停止している間に測光を行う。通常、反応管ホルダ4の回転及び停止は、システムサイクルごとに行われるので、システムサイクルが4.5秒の場合、4.5秒ごとに測定データを収集することができる。反応管4aの測光インターバルが例えば18秒の場合、4.5秒ごとにモニタできれば光源ランプ13aのモニタ間隔としては十分短いものである。
本発明の実施例として、反応管間に間隙がある自動分析装置の光源ランプが正常である場合と異常である場合(寿命に至った場合)との吸光度の比較を図4に示す。尚、本実施例では、340nm及び380nmの2つの波長における吸光度の比較を行った。
反応管ホルダ4が、図2(b)に示すように、搭載される反応管4a間に間隙がない構成である場合には、前述のように反応管ホルダ4が停止している間に測光を行うことはできないので、測定前のセルブランクに係る測光データを前記演算手段40に記憶させておき、特定の反応管4a(例えば当該装置内で使用されているセル番号等が同じ反応管)につき、今測定時のセルブランクに係る測光データから前回のセルブランクに係る測光データを差し引く。
本発明の実施例として、反応管間に間隙がない場合の各反応管毎(横軸)のセルブランク値(吸光度;縦軸)を図5に示す。図5は、光源ランプが正常であった場合の「前回セルブランク値」、「今回セルブランク値」及びそれらの差を示し、図6は、光源ランプが異常であった場合の「前回セルブランク値」、「今回セルブランク値」及びそれらの差を示すものである。
2 試薬庫
3 試薬庫
4 反応管ホルダ
5 反応ディスク
6 ディスクサンプラ
7 試薬ボトル
8 分注アーム
9 分注アーム
10 ディスクサンプラ用分注アーム
11 撹拌ユニット
12 洗浄ユニット
13 測光ユニット
14 分注アームのプローブ
15 分注アームのプローブ
16 サンプリングプローブ
17 検体容器
30 回折格子
40 演算手段
50 制御手段
60 報知手段
70 表示手段
Claims (3)
- 反応管と、それら反応管を複数収納した反応管ホルダと、係る反応管ホルダを複数連結して円環状に収納し、回動可能とされた反応ディスクと、恒温液及び前記反応管ホルダを介在させて測光するように設置された光源ランプ及び受光センサを備えた光学系と、前記光源ランプの光が前記反応管ホルダを介して前記受光センサに検知されることによって測光データを得る演算手段と、前記反応ディスクを回動動作させると共に、その回動動作に基づいて前記演算手段を制御する制御手段とを有してなる自動分析装置であって、
前記演算手段は得られた測光データのうち、前記検体が入っていない反応管ごとの経時的な測光データの変動に基づいて測光系の異常を検知することを特徴とする自動分析装置。 - 前記演算手段は、前記検体が入っていない反応管ごとの経時的な測光データから、前記光源ランプの変動状況を検知し、その変動が所定値以上であった場合に前記光源ランプが異常であると検知する手段であることを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
- 前記演算手段は、前記検体が入っていない反応管ごとの経時的な測光データから、前記光源ランプの挙動を反映する2つ以上の波長における検体を介さない測光データを抽出すると共に、係る測光データの差分が所定値以上であった場合に前記光源ランプが異常であると検知することを特徴とする請求項1又は2に記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
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JP2008222998A JP2008304478A (ja) | 2008-09-01 | 2008-09-01 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008222998A JP2008304478A (ja) | 2008-09-01 | 2008-09-01 | 自動分析装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2011006693A Division JP2011085599A (ja) | 2011-01-17 | 2011-01-17 | 自動分析装置 |
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JP (1) | JP2008304478A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11226346B2 (en) | 2016-07-21 | 2022-01-18 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Eliminating source lamp intensity drift effect using reference measurement between cuvettes |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08313538A (ja) * | 1995-05-22 | 1996-11-29 | Mitsubishi Corp | 自動分析装置 |
JP2001201399A (ja) * | 2000-01-21 | 2001-07-27 | Yokogawa Electric Corp | 分光分析器の動作異常判定方法および動作異常判定機能付き分光分析器 |
-
2008
- 2008-09-01 JP JP2008222998A patent/JP2008304478A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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