JP2001201399A - 分光分析器の動作異常判定方法および動作異常判定機能付き分光分析器 - Google Patents
分光分析器の動作異常判定方法および動作異常判定機能付き分光分析器Info
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- JP2001201399A JP2001201399A JP2000012993A JP2000012993A JP2001201399A JP 2001201399 A JP2001201399 A JP 2001201399A JP 2000012993 A JP2000012993 A JP 2000012993A JP 2000012993 A JP2000012993 A JP 2000012993A JP 2001201399 A JP2001201399 A JP 2001201399A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】分光分析器の動作異常を判定する際の判断基準
を明確にし、人手を借りずに自動的に正しい判定ができ
るようにした分光分析器の動作異常判定方法を提供す
る。 【解決手段】試料の吸光度を測定し、得られたスペクト
ルから試料を分析する分光分析器における動作異常判定
方法において、基準ブランクスペクトルと測定ブランク
スペクトルの差分を波数ごとに求め、次に前記差分の平
均値と標準偏差を求めてそれぞれ基準値と比較すること
により、分光分析器の動作異常を判定する。
を明確にし、人手を借りずに自動的に正しい判定ができ
るようにした分光分析器の動作異常判定方法を提供す
る。 【解決手段】試料の吸光度を測定し、得られたスペクト
ルから試料を分析する分光分析器における動作異常判定
方法において、基準ブランクスペクトルと測定ブランク
スペクトルの差分を波数ごとに求め、次に前記差分の平
均値と標準偏差を求めてそれぞれ基準値と比較すること
により、分光分析器の動作異常を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、近赤外分光分析器
などの分光分析器が正常に機能しているかどうかを判定
する方法の改良に関するものである。
などの分光分析器が正常に機能しているかどうかを判定
する方法の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、例えば分光分析噐では、試料
の測定前に図９に示すように試料室（セル）１に試料が
ない状態いわゆる空のセルに入射光を照射し、その出射
光を測定してスペクトルを測定し、これを基準値として
用いるようにしている。
の測定前に図９に示すように試料室（セル）１に試料が
ない状態いわゆる空のセルに入射光を照射し、その出射
光を測定してスペクトルを測定し、これを基準値として
用いるようにしている。
【０００３】上記スペクトルはセルブランクスペクトル
と呼ばれ、図１０に示すような特性を示す。図の横軸は
波数［単位はｃｍ-1］（または波長）、縦軸は吸光度
［単位はAbs］である。なお、吸光度Ａは、Ａ＝log（出
射光／入射光）で表わされる値である。
と呼ばれ、図１０に示すような特性を示す。図の横軸は
波数［単位はｃｍ-1］（または波長）、縦軸は吸光度
［単位はAbs］である。なお、吸光度Ａは、Ａ＝log（出
射光／入射光）で表わされる値である。
【０００４】試料の測定時には、図１１に示すように試
料をセルに入れ、同様に入射光を照射してその出射光を
測定する。試料のスペクトルは、図１２に見られるよう
に前記出射光のスペクトルからセルブランクスペクトル
を差し引いたものになる。
料をセルに入れ、同様に入射光を照射してその出射光を
測定する。試料のスペクトルは、図１２に見られるよう
に前記出射光のスペクトルからセルブランクスペクトル
を差し引いたものになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、機器が正常
に機能しているかどうか、例えばセルの壁面のガラスが
汚れていないか、入射光や出射光の導入に使われている
ファイバが破断していないかどうか等を調べるには、セ
ルブランクスペクトルの形状を調べて判断する。
に機能しているかどうか、例えばセルの壁面のガラスが
汚れていないか、入射光や出射光の導入に使われている
ファイバが破断していないかどうか等を調べるには、セ
ルブランクスペクトルの形状を調べて判断する。
【０００６】しかし、この場合、数値による明確な判定
基準はなく、比較基準となる過去のセルブランクスペク
トルと目視で比較して測定者が感覚的に判断している。
そのため、判定には個人差があり、正しい判定は期待で
きないという課題があった。
基準はなく、比較基準となる過去のセルブランクスペク
トルと目視で比較して測定者が感覚的に判断している。
そのため、判定には個人差があり、正しい判定は期待で
きないという課題があった。
【０００７】本発明の目的は、上記の課題を解決するも
ので、分光分析器の動作異常を判定する際の判断基準を
明確にし、人手を借りずに自動的に正しい判定ができる
ようにした分光分析器の動作異常判定方法を提供するこ
とにある。本発明の他の目的は、上記目的の動作異常判
定方法を実現するための分光分析器を実現することにあ
る。
ので、分光分析器の動作異常を判定する際の判断基準を
明確にし、人手を借りずに自動的に正しい判定ができる
ようにした分光分析器の動作異常判定方法を提供するこ
とにある。本発明の他の目的は、上記目的の動作異常判
定方法を実現するための分光分析器を実現することにあ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、請求項１の発明では、試料の吸光度を測定
し、得られたスペクトルから試料を分析する分光分析器
における動作異常判定方法であって、試料のないときの
基準ブランクスペクトルと試料のないときに測定した測
定ブランクスペクトルの差分を波数ごとに求め、次に前
記差分の平均値と標準偏差を求めてそれぞれ基準値と比
較することにより、分光分析器の動作異常を判定するよ
うにしたことを特徴とする。
るために、請求項１の発明では、試料の吸光度を測定
し、得られたスペクトルから試料を分析する分光分析器
における動作異常判定方法であって、試料のないときの
基準ブランクスペクトルと試料のないときに測定した測
定ブランクスペクトルの差分を波数ごとに求め、次に前
記差分の平均値と標準偏差を求めてそれぞれ基準値と比
較することにより、分光分析器の動作異常を判定するよ
うにしたことを特徴とする。
【０００９】基準ブランクスペクトルと測定ブランクス
ペクトルの差分を波数ごとに求め、次に前記差分の平均
値と標準偏差を求めてそれぞれ基準値と比較する。この
比較結果に基づいて分光分析器の動作異常を判断するた
め、従来のような判定の個人差は出ず、自動的に正しい
判定ができる。
ペクトルの差分を波数ごとに求め、次に前記差分の平均
値と標準偏差を求めてそれぞれ基準値と比較する。この
比較結果に基づいて分光分析器の動作異常を判断するた
め、従来のような判定の個人差は出ず、自動的に正しい
判定ができる。
【００１０】この場合、請求項２のように、分光分析器
の動作異常の判定では、前記差分の平均値を求めその平
均値が基準値以上の場合は分光分析器が異常と判断し、
前記差分の平均値が基準値よりも小さい場合は前記差分
の標準偏差を求めその標準偏差が基準値以上の場合は分
光分析器が異常と判断するのが、望ましい判定手順であ
る。
の動作異常の判定では、前記差分の平均値を求めその平
均値が基準値以上の場合は分光分析器が異常と判断し、
前記差分の平均値が基準値よりも小さい場合は前記差分
の標準偏差を求めその標準偏差が基準値以上の場合は分
光分析器が異常と判断するのが、望ましい判定手順であ
る。
【００１１】更に、基準値としては、請求項３のよう
に、長期にわたって測定したブランクスペクトルの変動
幅から定めた値を用いるのが適切である。
に、長期にわたって測定したブランクスペクトルの変動
幅から定めた値を用いるのが適切である。
【００１２】なお、分光分析器は、請求項４のように、
セルを用いたものあるいはプローブを用いたもののいず
れであってもよい。
セルを用いたものあるいはプローブを用いたもののいず
れであってもよい。
【００１３】また、請求項５のように、ブランクスペク
トルの代わりにパワースペクトルを使用した場合にも本
発明は適用できる。
トルの代わりにパワースペクトルを使用した場合にも本
発明は適用できる。
【００１４】請求項の発明は、試料の吸光度を測定し、
得られたスペクトルから試料を分析する分光分析器にお
いて、試料のない状態における基準ブランクスペクトル
をあらかじめ保存するメモリと、試料のない状態におい
て測定した測定ブランクスペクトルと前記メモリからの
基準ブランクスペクトルとを受け、比較演算により分光
分析器の動作異常の判定を行なう計算機を具備した動作
異常判定機能付き分光分析器である。
得られたスペクトルから試料を分析する分光分析器にお
いて、試料のない状態における基準ブランクスペクトル
をあらかじめ保存するメモリと、試料のない状態におい
て測定した測定ブランクスペクトルと前記メモリからの
基準ブランクスペクトルとを受け、比較演算により分光
分析器の動作異常の判定を行なう計算機を具備した動作
異常判定機能付き分光分析器である。
【００１５】このような構成によれば、計算機での演算
により、分光分析器の動作異常の判定が自動的に行わ
れ、個人差などのない正確な判定ができるという効果が
ある。この場合、請求項７のように、計算機には、基準
ブランクスペクトルと測定ブランクスペクトルの吸光度
の差分を波数ごとに求めこの差分の平均値を演算する機
能と、前記差分の標準偏差を演算する機能と、前記平均
値あるいは標準偏差が基準値以上の場合には分光分析器
を異常と判定する機能を持たせることができる。
により、分光分析器の動作異常の判定が自動的に行わ
れ、個人差などのない正確な判定ができるという効果が
ある。この場合、請求項７のように、計算機には、基準
ブランクスペクトルと測定ブランクスペクトルの吸光度
の差分を波数ごとに求めこの差分の平均値を演算する機
能と、前記差分の標準偏差を演算する機能と、前記平均
値あるいは標準偏差が基準値以上の場合には分光分析器
を異常と判定する機能を持たせることができる。
【００１６】また、このような分光分析器は、請求項８
のように、セルまたはプローブを使用し、同様にブラン
クスペクトルを得て分光分析器の動作異常の判定を行な
うことができる。
のように、セルまたはプローブを使用し、同様にブラン
クスペクトルを得て分光分析器の動作異常の判定を行な
うことができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。図１は本発明に係る分光分析器の動作異常判
定方法を実現するための分光分析器の一実施例を示す要
部構成図である。図において、１０は分光器、２０は基
準となるブランクスペクトルを保存するメモリ、３０は
分光器１０とメモリ２０からの各ブランクスペクトルを
読み取り動作判定処理を行なう計算機である。
説明する。図１は本発明に係る分光分析器の動作異常判
定方法を実現するための分光分析器の一実施例を示す要
部構成図である。図において、１０は分光器、２０は基
準となるブランクスペクトルを保存するメモリ、３０は
分光器１０とメモリ２０からの各ブランクスペクトルを
読み取り動作判定処理を行なう計算機である。
【００１８】分光器１０により実際に測定して得られる
ブランクスペクトルを測定ブランクスペクトル（セルを
用いて測定した場合は測定セルブランクスペクトルと言
う。なお、ここでは更にこれを簡略化して測定セルブラ
ンクと呼ぶ）と言う。
ブランクスペクトルを測定ブランクスペクトル（セルを
用いて測定した場合は測定セルブランクスペクトルと言
う。なお、ここでは更にこれを簡略化して測定セルブラ
ンクと呼ぶ）と言う。
【００１９】また、メモリ２０に保存された基準となる
ブランクスペクトルを基準ブランクスペクトル（セルを
用いた場合はこれを基準セルブランクスペクトルと言
う。なお、これを更に簡略化してここでは基準セルブラ
ンクと呼ぶ）と言う。
ブランクスペクトルを基準ブランクスペクトル（セルを
用いた場合はこれを基準セルブランクスペクトルと言
う。なお、これを更に簡略化してここでは基準セルブラ
ンクと呼ぶ）と言う。
【００２０】このような構成における動作判定機能に係
る動作を次に説明する。図２は計算機３０での処理フロ
ーである。
る動作を次に説明する。図２は計算機３０での処理フロ
ーである。
【００２１】（１）メモリ２０には、あらかじめ図３に
示すような基準セルブランクが保存されている。図３に
おいて、横軸は波数、縦軸は吸光度である。分光器１０
からは図４に示すような測定セルブランクが得られる。
示すような基準セルブランクが保存されている。図３に
おいて、横軸は波数、縦軸は吸光度である。分光器１０
からは図４に示すような測定セルブランクが得られる。
【００２２】（２）計算機３０は、この測定セルブラン
クと基準セルブランクを読み取り、その差を演算により
求める。すなわち、波数λｎの１点１点について吸光度
の差ΔＡλｎを求める。図５にその演算結果の一例を示
す。
クと基準セルブランクを読み取り、その差を演算により
求める。すなわち、波数λｎの１点１点について吸光度
の差ΔＡλｎを求める。図５にその演算結果の一例を示
す。
【００２３】（３）次に計算機３０では、上記ΔＡλｎ
の平均値ＡＶΔＡを計算する。なお、図６は図５に示す
吸光度の差ΔＡの頻度数をヒストグラムで表わしたもの
で、横軸に吸光度の差ΔＡ、縦軸にその頻度数をとって
ある。図中の曲線はヒストグラムの分布の傾向を表わ
す。
の平均値ＡＶΔＡを計算する。なお、図６は図５に示す
吸光度の差ΔＡの頻度数をヒストグラムで表わしたもの
で、横軸に吸光度の差ΔＡ、縦軸にその頻度数をとって
ある。図中の曲線はヒストグラムの分布の傾向を表わ
す。
【００２４】（４）計算機３０は、平均値ＡＶΔＡがあ
らかじめ定めた許容値以上の場合は機器の状態が異常
（不良）であるとの判定を出す。許容値より小さい場合
は、ΔＡλｎの標準偏差ＳＤＥＶΔＡを計算する。
らかじめ定めた許容値以上の場合は機器の状態が異常
（不良）であるとの判定を出す。許容値より小さい場合
は、ΔＡλｎの標準偏差ＳＤＥＶΔＡを計算する。
【００２５】（５）標準偏差ＳＤＥＶΔＡがあらかじめ
定めた許容値以上の場合は、機器の状態が異常であると
の判定を下す。許容値より小さい場合は機器の状態が正
常と判定する。
定めた許容値以上の場合は、機器の状態が異常であると
の判定を下す。許容値より小さい場合は機器の状態が正
常と判定する。
【００２６】なお、あらかじめ定めた許容値とは、セル
ブランクスペクトル測定を長期にわたって実施し、実際
の変動幅から定めた値である。測定例を図７に示す。横
軸は波数［ｃｍ-1］、縦軸は吸光度［Ａｂｓ］である。
ブランクスペクトル測定を長期にわたって実施し、実際
の変動幅から定めた値である。測定例を図７に示す。横
軸は波数［ｃｍ-1］、縦軸は吸光度［Ａｂｓ］である。
【００２７】このセルブランクスペクトルには次のよう
な諸特性がある。 （１）セル壁面が汚れて薄膜状の付着物がある場合は図
７において左上がりになる。 （２）特定の試料が付着している場合、ピークを持つ。
図７において見られる２箇所のピークは空気中の水蒸気
によるものであり、通常の湿度であってもピークは生
じ、異常ではない。
な諸特性がある。 （１）セル壁面が汚れて薄膜状の付着物がある場合は図
７において左上がりになる。 （２）特定の試料が付着している場合、ピークを持つ。
図７において見られる２箇所のピークは空気中の水蒸気
によるものであり、通常の湿度であってもピークは生
じ、異常ではない。
【００２８】（３）温度が基準セルブランク変動時より
大きく変動していると、左上がり、左下がり、上下方向
への平行シフトなどが生じする。 （４）ファイバが破断している場合は、図３や図４とは
全く類似しない特性となる。
大きく変動していると、左上がり、左下がり、上下方向
への平行シフトなどが生じする。 （４）ファイバが破断している場合は、図３や図４とは
全く類似しない特性となる。
【００２９】これらの動きは、本発明における基準セル
ブランクと測定セルブランクの吸光度差の平均値と標準
偏差による判定で、正しく捕らえられる。
ブランクと測定セルブランクの吸光度差の平均値と標準
偏差による判定で、正しく捕らえられる。
【００３０】なお、上記実施例では、セルに試料を入れ
その試料の吸光度を測定する分光分析器を対象に説明し
たが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば
図８に示すようなプローブを用いて試料の吸光度を測定
する分光分析器も適用できる。
その試料の吸光度を測定する分光分析器を対象に説明し
たが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば
図８に示すようなプローブを用いて試料の吸光度を測定
する分光分析器も適用できる。
【００３１】図８はプローブの先端部分を示す。プロー
ブには試料（流体）が入る通路４２が設けられており、
試料分析時には少なくともプローブ本体４１のこの通路
部分が試料で満たされるようになっている。
ブには試料（流体）が入る通路４２が設けられており、
試料分析時には少なくともプローブ本体４１のこの通路
部分が試料で満たされるようになっている。
【００３２】このようなプローブ本体１の入口側４から
例えば光ファイバ等を介して通路４２に光を入射する
と、通路３部を透過した光はプローブ先端部に取り付け
られたミラーで反射し、再度通路部を透過して戻ってく
る。この戻り光（出射光）と入射光と強度からセルの場
合と同様に吸光度を求めスペクトルを得ることができ
る。
例えば光ファイバ等を介して通路４２に光を入射する
と、通路３部を透過した光はプローブ先端部に取り付け
られたミラーで反射し、再度通路部を透過して戻ってく
る。この戻り光（出射光）と入射光と強度からセルの場
合と同様に吸光度を求めスペクトルを得ることができ
る。
【００３３】このようなプローブを使用した場合は、上
記実施例で言うところのブランクスペクトルとは、プロ
ーブを試料中に入れないで空気中に置いた状態で得られ
るスペクトルであり、測定ブランクスペクトルとは空気
中で測定したときのブランクスペクトルである。
記実施例で言うところのブランクスペクトルとは、プロ
ーブを試料中に入れないで空気中に置いた状態で得られ
るスペクトルであり、測定ブランクスペクトルとは空気
中で測定したときのブランクスペクトルである。
【００３４】なお、以上の説明は、本発明の説明および
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明は、上記実施例に限定されること
なく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、
変形をも含むものである。
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明は、上記実施例に限定されること
なく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、
変形をも含むものである。
【００３５】例えば、フーリエ変換型の分光器であれ
ば、セルブランクスペクトルの代わりにパワースペクト
ルを用いて同様に動作異常の判定を行なうことができ
る。
ば、セルブランクスペクトルの代わりにパワースペクト
ルを用いて同様に動作異常の判定を行なうことができ
る。
【００３６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
準セルブランクスペクトルと測定セルブランクスペクト
ルの差分を求め、波数ごとの吸光度差の平均値と標準偏
差を求めてそれぞれ基準値と比較することにより、当該
分光分析器が正常であるかどうかの判定を容易に自動的
に行なうことができる。また、本発明によれば、従来の
ような判定の個人差はなくなり、常に正しい判定ができ
る。
準セルブランクスペクトルと測定セルブランクスペクト
ルの差分を求め、波数ごとの吸光度差の平均値と標準偏
差を求めてそれぞれ基準値と比較することにより、当該
分光分析器が正常であるかどうかの判定を容易に自動的
に行なうことができる。また、本発明によれば、従来の
ような判定の個人差はなくなり、常に正しい判定ができ
る。
【図１】本発明に係る動作異常判定方法を実現するため
の分光分析器の一実施例を示す要部構成図である。
の分光分析器の一実施例を示す要部構成図である。
【図２】本発明の動作異常判定方法の処理フローであ
る。
る。
【図３】基準セルブランクの一例を示す図である。
【図４】測定セルブランクの一例を示す図である。
【図５】測定セルブランクと基準セルブランクの差分の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図６】差分をヒストグラムで表した図である。
【図７】セルブランクの長期測定結果の一例を示す図で
ある。
ある。
【図８】プローブの先端部概略図である。
【図９】空のセルに係る説明図である。
【図１０】セルブランクスペクトルの特性図である。
【図１１】試料の入ったセルに係る説明図である。
【図１２】試料のスペクトル特性を示す図である。
１ セル １０ 分光器 ２０ メモリ ３０ 計算機 ４１ プローブ本体 ４２ 通路 ４３ ミラー ４４ 入口側
Claims (8)
- 【請求項１】試料の吸光度を測定し、得られたスペクト
ルから試料を分析する分光分析器における動作異常判定
方法であって、 試料のないときの基準ブランクスペクトルと試料のない
ときに測定した測定ブランクスペクトルの差分を波数ご
とに求め、 次に前記差分の平均値と標準偏差を求めてそれぞれ基準
値と比較することにより、分光分析器の動作異常を判定
するようにしたことを特徴とする分光分析器の動作異常
判定方法。 - 【請求項２】前記分光分析器の動作異常の判定では、前
記差分の平均値を求めその平均値が基準値以上の場合は
分光分析器が異常と判断し、前記差分の平均値が基準値
よりも小さい場合は前記差分の標準偏差を求めその標準
偏差が基準値以上の場合は分光分析器が異常と判断する
ことを特徴とする請求項１記載の分光分析器の動作異常
判定方法。 - 【請求項３】前記基準値としては、長期にわたって測定
したブランクスペクトルの変動幅から定めた値を用いる
ことを特徴とする請求項１または２記載の分光分析器の
動作異常判定方法。 - 【請求項４】前記ブランクスペクトルは、試料を入れ試
料の吸光度を測定するために使用されるセルを空にした
状態におけるスペクトル、または試料中に入れ試料の吸
光度を測定するために使用されるプローブを空気中にお
いた状態におけるスペクトルであることを特徴とする請
求項１ないし３記載の分光分析器の動作異常判定方法。 - 【請求項５】前記ブランクスペクトルの代わりにパワー
スペクトルを使用することを特徴とする請求項１ないし
３記載の分光分析器の動作異常判定方法。 - 【請求項６】試料の吸光度を測定し、得られたスペクト
ルから試料を分析する分光分析器において、 試料のない状態における基準ブランクスペクトルをあら
かじめ保存するメモリと、 試料のない状態において測定した測定ブランクスペクト
ルと前記メモリからの基準ブランクスペクトルとを受
け、比較演算により分光分析器の動作異常の判定を行な
う計算機を具備したことを特徴とする動作異常判定機能
付き分光分析器。 - 【請求項７】前記計算機は、前記基準ブランクスペクト
ルと前記測定ブランクスペクトルの吸光度の差分を波数
ごとに求めこの差分の平均値を演算する機能と、前記差
分の標準偏差を演算する機能と、前記平均値あるいは標
準偏差が基準値以上の場合には分光分析器を異常と判定
する機能を有することを特徴とする請求項６記載の動作
異常判定機能付き分光分析器。 - 【請求項８】前記分光分析器は、試料を入れ試料の吸光
度を測定することのできるセル、または試料中に入れ試
料の吸光度を測定することのできるプローブを備え、前
記ブランクスペクトルが得られるように構成されたこと
を特徴とする請求項６または７記載の動作異常判定機能
付き分光分析器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000012993A JP2001201399A (ja) | 2000-01-21 | 2000-01-21 | 分光分析器の動作異常判定方法および動作異常判定機能付き分光分析器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000012993A JP2001201399A (ja) | 2000-01-21 | 2000-01-21 | 分光分析器の動作異常判定方法および動作異常判定機能付き分光分析器 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001201399A true JP2001201399A (ja) | 2001-07-27 |
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ID=18540648
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000012993A Pending JP2001201399A (ja) | 2000-01-21 | 2000-01-21 | 分光分析器の動作異常判定方法および動作異常判定機能付き分光分析器 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001201399A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008304478A (ja) * | 2008-09-01 | 2008-12-18 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| CN104062008A (zh) * | 2014-06-13 | 2014-09-24 | 武汉理工大学 | 一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法 |
| CN106500840A (zh) * | 2016-10-20 | 2017-03-15 | 无锡创想分析仪器有限公司 | 一种全谱式直读光谱仪的异常光谱剔除方法 |
| WO2019202776A1 (ja) * | 2018-04-16 | 2019-10-24 | 株式会社島津製作所 | 吸光度検出器及び液体クロマトグラフ |
-
2000
- 2000-01-21 JP JP2000012993A patent/JP2001201399A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A621 | Written request for application examination |
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080917 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Written amendment |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Written amendment |
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|
| A02 | Decision of refusal |
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