JP2008267928A - 検査装置 - Google Patents

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【課題】接続の信頼性を向上させることができる検査装置を提供する。
【解決手段】検査装置100は、被検査体1を保持する被検査体保持手段としてのテーブル2と、コンタクトピン31群を収容するコンタクトピンブロック3,3,・・・と、計測回路基板41,41,・・・およびバックパネルボード42を収容するネストボックス4と、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4を上下方向に同時に駆動するアクチュエータ5と、を備える。コンタクトピンブロック3,3,・・・と、ネストボックス4との間には、コンタクトピン31,31,・・・とバックパネルボード42とを接続するケーブル群7が設けられている。
【選択図】図1

Description

本発明は、コンタクトピン群を被検査体に接触させたうえで、コンタクトピン群に接続された計測回路を用いて被試験体を検査する検査装置に関する。
被検査体であるICを上方に移動させ、ICの電極パッドに検査装置のコンタクトピンを接触させて検査を行うICテスタが知られている。コンタクトピンにはばね性が与えられており、電極パッドを損傷させることなく必要な接触圧を確保するようにしている。コンタクトピンには計測回路が接続されており、コンタクトピンと電極パッドを接触させた状態で、計測回路を用いて被検査体であるICを検査する。
検査が終了すると、ICを下方に移動させてコンタクトピンから引き離し、ICを検査位置から退避させる。その後、次の被検査体となるICを検査位置に搬送するとともに、上方に移動させてコンタクトピンと電極パッドを接触させ、同様に検査を行う。このように、コンタクトピンを順次、被検査体となるICの電極パッドに接触させ検査を行う工程を繰り返している。
特開2000−162282号公報
一方、フラットパネル等、被検査体が大型で移動が困難な場合には、被検査体を所定の検査位置に固定しておき、コンタクトピンを上下に移動させる方法を採ることが可能である。この場合、コンタクトピンと計測回路との間を柔軟なケーブルで接続することにより、計測回路を固定したまま、コンタクトピンを被検査体の電極パッドに接触する状態と、電極パッドから退避する状態との間で、上下方向に移動させることが可能となる。しかし、電極パッドの数、すなわち、必要なコンタクトピンの数が増加するに従い、ケーブルの本数も増加する。例えば、数千本のケーブルが必要となる場合もあり、被検査体を入れ替え時にコンタクトピンを収容するユニットを上下に移動させるたびに、これらのケーブルが一斉に曲げ伸ばしされることになる。被検査体が入れ替えられるたびに、ケーブルにストレスが加えられる。
ところが、ケーブルにストレスを繰り返し与える場合には、ケーブルの断線やケーブルを接続するコネクタの接触不良やコネクタ外れなどが発生する可能性があり、装置の信頼性に問題が生ずる。とくに、ケーブルの本数が増えると細いケーブルや小型のコネクタを用いる必要があり、ケーブルが断線しやすくなるほか、コネクタに起因するトラブルも増加するため、ケーブル本数の増加割合以上に接続不良が発生する可能性が増加する。
本発明の目的は、接続の信頼性を向上させることができる検査装置を提供することにある。
本発明の検査装置は、コンタクトピン群が被検査体に接触する第1の状態と、前記コンタクトピン群が前記被検査体から離れる第2の状態とを繰り返しながら、前記コンタクトピン群に接続された計測回路を用いて前記被試験体を検査する検査装置において、前記被検査体を保持する被検査体保持手段と、前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体に接近させることで前記第1の状態を形成し、前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体から引き離すことで前記第2の状態を形成するように、前記コンタクトピン群を往復移動させる第1の移動手段と、前記第1の移動手段により移動される前記コンタクトピン群と、前記計測回路との位置関係を一定に保つように前記計測回路を往復移動させる第2の移動手段と、を備えることを特徴とする。
この検査装置によれば、コンタクトピン群と、計測回路との位置関係を一定に保つように計測回路を往復移動させるので、両者間を接続する接続構造への負担をなくすことができ、装置の信頼性を向上させることができる。
前記第1の移動手段および前記第2の移動手段を、共通のアクチュエータを用いて構成してもよい。
前記計測回路の側から前記コンタクトピン群の側への振動の伝達を遮断する振動遮断手段を備えてもよい。
前記第1の移動手段および前記第2の移動手段を、互いに独立したアクチュエータを用いて構成してもよい。
本発明による検査装置は、コンタクトピン群が被検査体に接触する第1の状態と、前記コンタクトピン群が前記被検査体から離れる第2の状態とを繰り返しながら、前記コンタクトピン群に接続された計測回路により前記被試験体を検査する検査装置において、前記被検査体を保持する被検査体保持手段と、前記コンタクトピン群と、前記計測回路とを一体に結合する結合手段と、前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体に接近させることで前記第1の状態を形成し、前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体から引き離すことで前記第2の状態を形成するように、前記結合手段により結合された前記コンタクトピン群および前記計測回路を往復移動させる移動手段と、を備えることを特徴とする。
この検査装置によれば、コンタクトピン群と、計測回路とを一体に結合し、結合されたコンタクトピン群および計測回路を往復移動させるので、両者間を接続する接続構造への負担をなくすことができ、装置の信頼性を向上させることができる。
前記計測回路を冷却するための流体の流路が、前記計測回路の移動に応じて変形可能とされていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の検査装置。
前記コンタクトピン群と、前記計測回路とが、ケーブル群により接続されていてもよい。
本発明の検査装置によれば、コンタクトピン群と、計測回路との位置関係を一定に保つように計測回路を往復移動させるので、両者間を接続する接続構造への負担をなくすことができ、装置の信頼性を向上させることができる。
本発明による検査装置によれば、コンタクトピン群と、計測回路とを一体に結合し、結合されたコンタクトピン群および計測回路を往復移動させるので、両者間を接続する接続構造への負担をなくすことができ、装置の信頼性を向上させることができる。
以下、図1〜図5を参照して、本発明による検査装置の実施例について説明する。
以下、図1〜図3を参照して、実施例1の検査装置について説明する。
図1は、本実施例の検査装置の構成を示す正面図、図2は、各要素の位置関係を示す斜視図である。
図1および図2に示すように、本実施例の検査装置100は、被検査体1を保持する被検査体保持手段としてのテーブル2と、コンタクトピン31群を収容するコンタクトピンブロック3,3,・・・と、計測回路基板41,41,・・・およびバックパネルボード42を収容するネストボックス4と、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4を上下方向に同時に駆動するアクチュエータ5と、を備える。なお、テーブル2に、被検査体1を所定の検査位置(例えば、水平面内の位置)に位置決めするための機構を設けてもよい。
図1に示すように、コンタクトピンブロック3,3,・・・は支持部材6に直接、ネストボックス4は振動遮断手段としての緩衝器9を介して支持部材6に、それぞれ取り付けられている。緩衝器9は、重量のあるネストボックス4の振動が支持部材6を介してコンタクトピンブロック3,3,・・・に伝達されることにより、コンタクトピン31,31,・・・の位置決め精度が劣化することを防止している。緩衝器9として、例えば、ばねやダンパーを用いることができる。
図1および図2に示すように、コンタクトピンブロック3,3,・・・と、ネストボックス4との間には、コンタクトピン31,31,・・・とバックパネルボード42とを接続するケーブル群7が設けられている。ケーブル群7を構成する多数のケーブルは、それぞれ対応するコンタクトピン31に接続されている。また、各コンタクトピン31には計測回路基板41が対応付けられており、ケーブル群7を構成する各ケーブルは、バックパネルボード42を介して、互いに対応付けられたコンタクトピン31および計測回路基板41間を接続している。ケーブル群7を構成する各ケーブルは、メンテナンス等の都合からコネクタ(不図示)を介してコンタクトピン31および計測回路基板41間に接続される。
図3は、検査装置100の冷却機構を示す図である。
図3に示すように、ネストボックス4と、据付型の計測回路基板4,4,・・・等を冷却するための空冷ファン8との間には、変形可能なダクト81が接続されており、ダクト81により流路が形成されている。このように、本実施例の検査装置100では、重量のある空冷ファン8をネストボックス4から取り外すことにより、上下に駆動する部位の重量を減らすことができる。これにより、アクチュエータ5への負荷が軽減され、アクチュエータ5の容量を小さくすることができる。
なお、一般に、多数のコンタクトピンを駆動する場合、コンタクトピンを十分な圧力で被検査体に押し付けるために、元来アクチュエータに相当の推力が要求される。このため本実施例の検査装置においても、ネストボックス4の重量によっては、従来と同様の能力を有するアクチュエータを適用することが可能であり、ネストボックス4の引き上げのために強力なアクチュエータを用意する必要はない。
図1に示すように、本実施例の検査装置では、支持部材6がアクチュエータ5により駆動されることで、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4が上下方向に同時に移動する。
コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4が降下した位置にあるとき、図2に示すように、個々に設けられたばねの復元力によりコンタクトピン31は、それぞれ被検査体1の電極パッド11に押し付けられ、計測回路基板41,41,・・・を用いた検査が行われる。
コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4が上昇した位置にあるとき、コンタクトピン31,31,・・・は被検査体1から退避し、次の被検査体1を受け入れることが可能となる。
なお、コンタクトピンブロック3,3,・・・の下降位置を、コンタクトピンブロック3,3,・・・を被検査体1に押し付ける力が所定値となる位置に設定することで、コンタクトピン31,31,・・・と電極パッド11,11,・・・との接触圧の安定化を図ることもできる。
以上のように、本実施例の検査装置100では、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4を上下方向に同時に駆動しているので、駆動時にケーブル群7に力が加えられることはなく、断線やコネクタ外れなどの危険が生じない。また、ケーブル群7に曲げ伸ばし可能とするための柔軟性を与える必要がなく、十分な太さをもったケーブルや頑強なコネクタを使用することができるため、信頼性を著しく向上させることができる。
なお、ネストボックス4の上下方向の移動を許容するため、ネストボックス4と外部の据え置き装置との間を接続するケーブルを変形可能とする必要がある。例えば、図2に示す例では、電源ケーブル43および通信ケーブル44がバックパネルボード42から引き出されており、電源ケーブル43および通信ケーブル44はネストボックス4の移動に伴って変形を繰り返す。しかし、ケーブル群7とは異なり、外部の据え置き装置への接続ケーブルの本数はごく少なくて済むので、ケーブルに十分な太さを与えることができるとともに、頑強なコネクタを使用できる。このため断線やコネクタに関するトラブル等のリスクを低減できる。また、ケーブルやコネクタに与えるストレスを低減できる長さや設置状況を比較的自由に選択することもできる。このため、外部装置との接続については容易に高度の信頼性を確保できる。また、交換などのメンテナンスも容易である。
上記実施例では、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4を上下方向に駆動しているが、被検査体との位置関係に応じて駆動方向は任意に設定できる。また、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4の移動ベクトルに回転成分を含んでもよい。
図4は、本発明による検査装置の他の実施例の構成を示す正面図である。以下、実施例1との相違点について説明する。図4において、実施例1の検査装置と同一要素には同一符号を付している。
本実施例の検査装置100Aでは、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4を上下方向に駆動するアクチュエータとして、それぞれ専用のアクチュエータ51およびアクチュエータ52を設けている。図4に示すように、コンタクトピンブロック3,3,・・・は支持部材61を介してアクチュエータ51に、ネストボックス4は支持部材62を介してアクチュエータ52に、それぞれ取り付けられている。コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4の間には、実施例1と同様、ケーブル群7が設けられている。
本実施形態の検査装置100Aでは、アクチュエータ51およびアクチュエータ52を同時に動作させることにより、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4の相対的な位置関係を保ったまま、両者を上下方向に駆動している。したがって、ケーブル群7にストレスが加えられることなく、装置の信頼性を向上させることができる。
このように、アクチュエータおよび支持部材をコンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4に独立して設けることにより、ネストボックス4の上下動に伴う振動がコンタクトピンブロック3,3,・・・に伝達されることをより確実に防止でき、コンタクトピン31,31,・・・の位置決め精度をより向上させることができる。
図5は、本発明による検査装置の他の実施例の構成を示す正面図である。以下、実施例1との相違点について説明する。図5において、実施例1の検査装置と同一要素には同一符号を付している。
本実施例の検査装置100Bでは、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4が一体に結合されており、これらを単一のアクチュエータ53により駆動している。図5に示すように、コンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4は、支持部材63を介してアクチュエータ53に取り付けられている。コンタクトピン31,31,・・・および計測回路基板41は、バックパネルボード42を介して、それぞれケーブル群その他の接続構造(不図示)により互いに接続されている。接続構造としては、種々の構造を採用することができる。
本実施形態の検査装置100Bでは、アクチュエータ53を動作させることにより、互いに結合されたコンタクトピンブロック3,3,・・・およびネストボックス4が支持部材63を介して上下方向に駆動される。したがって、コンタクトピン31,31,・・・および計測回路基板41の間の位置関係は不変であり、両者を接続する接続構造にストレスが加えられることがないので、装置の信頼性を向上させることができる。
なお、コンタクトピンブロック3,3,・・・の運動を円滑にして位置決め精度を向上させるため、コンタクトピンブロック3,3,・・・を案内するガイド64などを設けてもよい。
以上説明したように、本発明の検査装置によれば、コンタクトピン群と、計測回路との位置関係を一定に保つように計測回路を往復移動させるので、両者間を接続する接続構造への負担をなくすことができ、装置の信頼性を向上させることができる。また、本発明による検査装置によれば、コンタクトピン群と、計測回路とを一体に結合し、結合されたコンタクトピン群および計測回路を往復移動させるので、両者間を接続する接続構造への負担をなくすことができ、装置の信頼性を向上させることができる。
本発明の適用範囲は上記実施形態に限定されることはない。本発明は、コンタクトピン群が被検査体に接触する第1の状態と、前記コンタクトピン群が前記被検査体から離れる第2の状態とを繰り返しながら、前記コンタクトピン群に接続された計測回路を用いて前記被試験体を検査する検査装置に対し、広く適用することができる。
実施例1の検査装置の構成を示す正面図。 各要素の位置関係を示す斜視図。 検査装置の冷却機構を示す図。 実施例2の検査装置の構成を示す正面図。 実施例3の検査装置の構成を示す正面図。
符号の説明
1 被検査体
2 テーブル(被検査体保持手段)
5 アクチュエータ(第1の移動手段、第2の移動手段、移動手段)
81 ダクト(流路)
9 緩衝器(振動遮断手段)
31 コンタクトピン
51 アクチュエータ(第1の移動手段)
52 アクチュエータ(第2の移動手段)
53 アクチュエータ(第1の移動手段、第2の移動手段、移動手段)

Claims (7)

  1. コンタクトピン群が被検査体に接触する第1の状態と、前記コンタクトピン群が前記被検査体から離れる第2の状態とを繰り返しながら、前記コンタクトピン群に接続された計測回路を用いて前記被試験体を検査する検査装置において、
    前記被検査体を保持する被検査体保持手段と、
    前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体に接近させることで前記第1の状態を形成し、前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体から引き離すことで前記第2の状態を形成するように、前記コンタクトピン群を往復移動させる第1の移動手段と、
    前記第1の移動手段により移動される前記コンタクトピン群と、前記計測回路との位置関係を一定に保つように前記計測回路を往復移動させる第2の移動手段と、
    を備えることを特徴とする検査装置。
  2. 前記第1の移動手段および前記第2の移動手段を、共通のアクチュエータを用いて構成したことを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  3. 前記計測回路の側から前記コンタクトピン群の側への振動の伝達を遮断する振動遮断手段を備えることを特徴とする請求項2に記載の検査装置。
  4. 前記第1の移動手段および前記第2の移動手段を、互いに独立したアクチュエータを用いて構成したことを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  5. コンタクトピン群が被検査体に接触する第1の状態と、前記コンタクトピン群が前記被検査体から離れる第2の状態とを繰り返しながら、前記コンタクトピン群に接続された計測回路により前記被試験体を検査する検査装置において、
    前記被検査体を保持する被検査体保持手段と、
    前記コンタクトピン群と、前記計測回路とを一体に結合する結合手段と、
    前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体に接近させることで前記第1の状態を形成し、前記コンタクトピン群を前記被検査体保持手段により保持されている前記被検査体から引き離すことで前記第2の状態を形成するように、前記結合手段により結合された前記コンタクトピン群および前記計測回路を往復移動させる移動手段と、
    を備えることを特徴とする検査装置。
  6. 前記計測回路を冷却するための流体の流路が、前記計測回路の移動に応じて変形可能とされていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の検査装置。
  7. 前記コンタクトピン群と、前記計測回路とが、ケーブル群により接続されていることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の検査装置。
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