JP2008224504A - Icテスタ及びicテスタの制御方法 - Google Patents
Icテスタ及びicテスタの制御方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】本発明は、複数の制御レジスタの設定値により制御が行われるICテスタに改良を加えたものである。本装置は、設定値を保持する複数のスレーブレジスタと、設定値が定義される設定データとこの設定データの実行順が少なくとも示される実行順データとに基づいて、被試験対象の試験時に前記スレーブレジスタに設定値を設定し、設定時に、スレーブレジスタから制御レジスタに転送指示を行う複数のコントローラと、これらのコントローラに対し、ブロードキャストにより設定させるテストシステムコントローラとを設けたことを特徴とする装置である。
【選択図】 図1
Description
複数の制御レジスタの設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタにおいて、
前記設定値を保持する複数のスレーブレジスタと、
前記設定値が定義される設定データとこの設定データの実行順が少なくとも示される実行順データとに基づいて、前記被試験対象の試験時に前記スレーブレジスタに設定値を設定し、設定時に、スレーブレジスタから制御レジスタに転送指示を行う複数のコントローラと、
これらのコントローラに対し、ブロードキャストにより設定させるテストシステムコントローラと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明であって、
コントローラは、実行順データに基づいて、次のテスト項目前、複数のテスト項目前の試験時にスレーブレジスタに設定することを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
コントローラは、
設定データと実行順データとが格納される記憶部と、
この記憶部の実行順データに基づいて、記憶部の設定値をスレーブレジスタに設定し、スレーブレジスタから制御レジスタに転送指示を行う制御部と
を有することを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明であって、
テストシステムコントローラは、実行順をコントローラにブロードキャストし、コントローラは、テストシステムコントローラの実行順と実行順データの実行順とが同じならば、スレーブレジスタの設定値を制御レジスタに転送指示を行うことを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の発明であって、
複数の制御レジスタ、複数のスレーブレジスタ、コントローラを有し、前記被試験対象と信号の授受の少なくとも一方を行い、被試験対象の試験を行う複数のピンエレクトロニクスカードを設けたことを特徴とするものである。
請求項6記載の発明は、
設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタにおいて、
前記設定値を保持する複数の第1の保持部と、
前記設定値を保持する複数の第2の保持部と、
前記設定値が定義される設定データとこの設定データの実行順が少なくとも示される実行順データとに基づいて、前記被試験対象の試験時に、試験に用いられていない第1または第2の保持部に設定値を設定し、設定時に、設定した第1または第2の保持部に切り替える複数のコントローラと、
これらのコントローラに対し、ブロードキャストにより設定させるテストシステムコントローラと
を設け、前記第1または第2の保持部の設定値により制御が行われることを特徴とするものである。
請求項7記載の発明は、
複数の制御レジスタの設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタの制御方法において、
複数のコントローラが、前記被試験対象の試験時に、複数のスレーブレジスタに設定値を設定し、
テストシステムコントローラからのブロードキャストにより、複数のコントローラが、前記スレーブレジスタから設定値を前記制御レジスタに転送することを特徴とするものである。
請求項8記載の発明は、
設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタの制御方法において、
複数のコントローラが、前記被試験対象の試験時に、試験に用いられていない複数の第1または第2の保持部に前記設定値を設定し、
テストシステムコントローラからのブロードキャストにより、複数のコントローラが、設定した第1または第2の保持部に切り替え、制御を行うことを特徴とするものである。
(1)データ取得時
図4は図1に示す装置のデータ取得動作を説明する図で、(a)はテスト項目ごとのテストプログラムの動作順、(b)はTSC10の動作、(c)は制御部25の動作、(d)は記憶部24の格納動作ある。図5はPEカード20のデータ取得動作を示したフローチャートである。
図6は図1に示す装置の高速動作を説明する図で、(a)はTSC10の動作、(b)はコントローラ21の動作、(c)はスレーブレジスタ22の動作である。図7はPEカード20の高速動作を説明するフローチャートである。
図8において、複数の保持部26,27は、例えば、メモリやレジスタ等で、スレーブレジスタ22、制御レジスタ23の代わりに設けられ、設定値を保持する。切替部28は、該当する保持部26または保持部27に切り替え、図示しないドライバ、コンパレータ等の制御対象に設定値を与える。コントローラ29は、コントローラ21の代わりに設けられ、コントローラ21と同様に、記憶部、制御部を有し、DUTの試験時に、試験に用いられていない保持部26または保持部27に設定値を設定し、設定時(TSC10のブロードキャスト時)に、設定した保持部26,27に切替部28を切り替えると共に、図示しないドライバ、コンパレータ等の制御対象の制御を行う。
20 PEカード
21,29 コントローラ
22 スレーブレジスタ
23 制御レジスタ
24 記憶部
25 制御部
26,27 保持部
28 切替部
Claims (8)
- 複数の制御レジスタの設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタにおいて、
前記設定値を保持する複数のスレーブレジスタと、
前記設定値が定義される設定データとこの設定データの実行順が少なくとも示される実行順データとに基づいて、前記被試験対象の試験時に前記スレーブレジスタに設定値を設定し、設定時に、スレーブレジスタから制御レジスタに転送指示を行う複数のコントローラと、
これらのコントローラに対し、ブロードキャストにより設定させるテストシステムコントローラと
を設けたことを特徴とするICテスタ。 - コントローラは、実行順データに基づいて、次のテスト項目前、複数のテスト項目前の試験時にスレーブレジスタに設定することを特徴とする請求項1記載のICテスタ。
- コントローラは、
設定データと実行順データとが格納される記憶部と、
この記憶部の実行順データに基づいて、記憶部の設定値をスレーブレジスタに設定し、スレーブレジスタから制御レジスタに転送指示を行う制御部と
を有することを特徴とする請求項1または2記載のICテスタ。 - テストシステムコントローラは、実行順をコントローラにブロードキャストし、コントローラは、テストシステムコントローラの実行順と実行順データの実行順とが同じならば、スレーブレジスタの設定値を制御レジスタに転送指示を行うことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のICテスタ。
- 複数の制御レジスタ、複数のスレーブレジスタ、コントローラを有し、前記被試験対象と信号の授受の少なくとも一方を行い、被試験対象の試験を行う複数のピンエレクトロニクスカードを設けたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のICテスタ。
- 設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタにおいて、
前記設定値を保持する複数の第1の保持部と、
前記設定値を保持する複数の第2の保持部と、
前記設定値が定義される設定データとこの設定データの実行順が少なくとも示される実行順データとに基づいて、前記被試験対象の試験時に、試験に用いられていない第1または第2の保持部に設定値を設定し、設定時に、設定した第1または第2の保持部に切り替える複数のコントローラと、
これらのコントローラに対し、ブロードキャストにより設定させるテストシステムコントローラと
を設け、前記第1または第2の保持部の設定値により制御が行われることを特徴とするICテスタ。 - 複数の制御レジスタの設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタの制御方法において、
複数のコントローラが、前記被試験対象の試験時に、複数のスレーブレジスタに設定値を設定し、
テストシステムコントローラからのブロードキャストにより、複数のコントローラが、前記スレーブレジスタから設定値を前記制御レジスタに転送することを特徴とするICテスタの制御方法。 - 設定値により制御が行われ、被試験対象を試験するICテスタの制御方法において、
複数のコントローラが、前記被試験対象の試験時に、試験に用いられていない複数の第1または第2の保持部に前記設定値を設定し、
テストシステムコントローラからのブロードキャストにより、複数のコントローラが、設定した第1または第2の保持部に切り替え、制御を行うことを特徴とするICテスタの制御方法。
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JP2010107278A (ja) * | 2008-10-29 | 2010-05-13 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ |
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JP2005283242A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Anritsu Corp | 測定装置 |
JP2006003227A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ |
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