JP2008224341A - 面歪の測定装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数種の明暗パタンを切替えて表示することが可能なパタン表示手段と、鏡面乃至半鏡面状の測定対象表面上に写る前記パタン表示手段に表示された複数の明暗パタンの鏡像を、撮影する撮影手段と、撮影された複数の明暗パタンの鏡像画像を画像処理して前記測定対象表面の面歪分布を演算する面歪分布演算手段とを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、前記測定対象のマクロ3次元形状を測定するマクロ形状測定手段と、測定されたマクロ3次元形状に基づいて、演算された面歪分布を補正するマクロ形状補正手段とを備える。
【選択図】図1
Description
また本発明の請求項3に係る発明は、請求項1又は請求項2に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、補正された前記面歪分布を微分処理することで表面傾きの変化率分布を算出する曲率演算手段を備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置である。
上記(5),(6)式を見ると、測定対象の凹凸形状であるzが露わには現れていないため、一見、対象の凹凸形状の影響を受けない面歪測定が可能なように見える。しかしながら、測定対象をテレビカメラで斜めから観察しているため、zの影響を受けずに測定対象の(x,y)座標を特定することができない。
面歪測定結果の利用形態を考えると、面歪情報の座標系は、テレビカメラで観察している斜め方向からの座標系よりも、測定対象を正面から見たときの座標系で表した方が都合の良い場合が多い。この視点変更の幾何学的変換において、ゆがみのない変換を行うためには、やはり測定対象のマクロ3次元形状の情報が必要である。
Step101〜Step106の処理は前述の粗い対応付けを、Step107〜Step112の処理は、前述の精細な対応付けをそれぞれ行い、Step113およびStep114により、プロジェクタとテレビカメラの位置関係から3次元形状を算出し、画像各点の3次元座標x,y,zを3次元データとして保存する。図21は、このようにして計算した3次元形状データのX座標分布を濃淡画像として表示した図である。この測定の場合では、X座標を図の左から右の方向に定義しており,濃淡が薄くなるほどX座標値が大きいことを示している。
Step201〜Step206の処理は前述の粗い対応付けを、Step207〜Step212の処理は、前述の精細な対応付けをそれぞれ行う。その後、Step213およびStep214により、記憶させておいた
3次元形状データとスクリーン投影位置の関係から、面の傾きすなわち断面形状の一次微分値(以下、TRiDY値とも称する)を算出し、断面ごとに面の傾き分布を曲線近似する。
2 スクリーン(パタン表示手段)
3 テレビカメラ(撮影手段)
5 明暗パタン
6 プロジェクタ(パタン表示手段)
7 マクロ形状測定手段
10 パソコン(面歪分布演算手段)
15 点光源
20 基準面
101 シーケンスコントロール部
102 面歪演算部
103 画像バッファ部
104 パタン投影部
201 面歪分布演算手段
202 視点変更マッピング手段
203 曲率演算手段
300 マクロ形状補正手段
301 マクロ形状データバッファ
302 面歪量補正手段
303 ゆがみ補正手段
Claims (13)
- 複数種の明暗パタンを切替えて表示することが可能なパタン表示手段と、鏡面乃至半鏡面状の測定対象表面上に写る前記パタン表示手段に表示された複数の明暗パタンの鏡像を、撮影する撮影手段と、撮影された複数の明暗パタンの鏡像画像を画像処理して前記測定対象表面の面歪分布を演算する面歪分布演算手段とを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、
前記測定対象のマクロ3次元形状を測定するマクロ形状測定手段と、
測定されたマクロ3次元形状に基づいて、演算された面歪分布を補正するマクロ形状補正手段とを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置。 - 請求項1に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、
前記マクロ形状補正手段は、
前記マクロ3次元形状の面歪量への影響を補正する面歪量補正手段と、前記マクロ3次元形状の幾何学的なゆがみへの影響を補正するゆがみ補正手段との、少なくとも一つを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、
補正された前記面歪分布を微分処理することで表面傾きの変化率分布を算出する曲率演算手段を備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、
前記パタン表示手段は、2値コードパタン投影法用の複数種のストライプ配列パタンと、最小ストライプ幅以上の範囲を走査する、1本のスリット複数本とで明暗パタンを表示できるものであることを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、
前記マクロ形状測定手段は、テレビカメラを撮像手段とすることを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置。 - 請求項5に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、
前記テレビカメラは、
面歪観察用の撮影手段とマクロ形状測定用の撮像手段とを1台のテレビカメラで共用する構成とし、測定対象表面の各点ごとにそれぞれ対応づいて得られる面歪情報とマクロ形状情報とからマクロ形状補正面歪演算を行うことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置。 - 請求項5に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置において、
前記テレビカメラは、
面歪観察用の撮影手段とマクロ形状測定用の撮像手段とを異なるテレビカメラで構成し、マクロ形状補正において必要とされる測定対象表面各点ごとの面歪情報とマクロ形状情報との対応づけには、測定対象表面の各点の面歪観察用テレビカメラ画面上の位置とマクロ形状測定用テレビカメラ画面上の位置との対応づけを行う画面間位置対応づけ手段を備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置。 - 複数種の明暗パタンを切替えて表示することが可能なパタン表示工程と、鏡面乃至半鏡面状の測定対象表面上に写る前記パタン表示工程に表示された複数の明暗パタンの鏡像を、撮影する撮影工程と、撮影された複数の明暗パタンの鏡像画像を画像処理して前記測定対象表面の面歪分布を演算する面歪分布演算工程とを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法において、
前記測定対象のマクロ3次元形状を測定するマクロ形状測定工程と、
測定されたマクロ3次元形状に基づいて、演算された面歪分布を補正するマクロ形状補正工程とを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法。 - 請求項8に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法において、
前記マクロ形状補正工程は、
前記マクロ3次元形状の面歪量への影響を補正する面歪量補正工程と、前記マクロ3次元形状の幾何学的なゆがみへの影響を補正するゆがみ補正工程との、少なくとも一つを備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法。 - 請求項8又は請求項9に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法において、
補正された前記面歪分布を微分処理することで表面傾きの変化率分布を算出する曲率演算工程を備えたことを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法。 - 請求項8乃至請求項10のいずれか1項に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法において、
前記マクロ形状測定工程は、
任意のパタンが投影可能なプロジェクタを用いて被測定対象物表面に複数本のスリット光からなるスリットパタンをスリット方向と直交する方向にシフトさせて複数回投影する工程と、
前記プロジェクタを用いてストライプの明暗の組み合わせによりパタン内の位置をコード化するための複数のストライプパタンを投影する工程と、
被測定物表面に投影された光パタンを投影方向とは異なる方向から撮影する工程と、
スリットパタンの複数の投影画像の中から各画素ごとに最大輝度を示す投影画像を選択し、その投影画像に対応するスリットの相対的投光角度を前記各画素の値とする相対投光角度画像を合成し、相対投光角度画像の各画素の値、パタン投影手段および撮像手段の幾何学的関係とから、三角測量の原理に基づいてストライプパタンの最小幅に対応する領域の精密な部分形状を求める工程と、
ストライプパタンの複数枚の投影画像の各画素ごとに前記複数枚の投影画像における明暗変化をコード化してその画素の値とする絶対投光角度画像を合成し、絶対投光角度画像の各画素の値、パタン投影手段および撮像手段の幾何学的関係から、三角測量の原理に基づいて概略の全体形状を求める工程と、
前記精密な部分形状の演算結果と前記概略の全体形状の演算結果とを組み合わせて、被測定対象全体の精密な形状を演算する工程とからなることを特徴とする鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法。 - 金属板のプレス成形方法において、プレス成形後の金属板の面歪分布を、請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置及び/又は請求項8乃至請求項11のいずれか1項に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法を用いて測定することを特徴とする金属板のプレス成形方法。
- プレス成形、部品取付、組み立て、塗装、熱処理、完成品検査のいずれか少なくとも1つの金属板の処理による面歪に由来した表面品質不具合を、請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定装置及び/又は請求項8乃至請求項11のいずれか1項に記載の鏡面乃至半鏡面上の面歪の測定方法を用いて検査することを特徴とする金属成品の表面品質検査方法。
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