JP2008224295A - 回路基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】マニュアル操作によって検査装置側のプローブピンと回路基板側の接点との接触及び接触解除を行う回路基板検査装置において、不適切な操作を防止して回路基板を保護する。
【解決手段】回路基板検査装置1は回路基板18をセットする固定ボード3と、回路基板上18のスルーホール19と接触するプローブピン15を備えるとともに固定ボード8に対して進退動作するピンボード4とを備え、操作ハンドル12の操作によってピンボード4が上昇し、回路基板18の検査が実行可能となるよう構成されている。またピンボード4を操作する為の操作ハンドル12をロックするロック手段13が設けられており、回路基板18の各種チェック動作中は、ロック手段13により操作ハンドル12がロックされ、回路基板18が保護される。
【選択図】図1
【解決手段】回路基板検査装置1は回路基板18をセットする固定ボード3と、回路基板上18のスルーホール19と接触するプローブピン15を備えるとともに固定ボード8に対して進退動作するピンボード4とを備え、操作ハンドル12の操作によってピンボード4が上昇し、回路基板18の検査が実行可能となるよう構成されている。またピンボード4を操作する為の操作ハンドル12をロックするロック手段13が設けられており、回路基板18の各種チェック動作中は、ロック手段13により操作ハンドル12がロックされ、回路基板18が保護される。
【選択図】図1
Description
本発明は、電子部品が実装された回路基板の検査を行う回路基板検査装置に関する。
電子部品が実装された回路基板を検査する装置(「インサーキットテスタ」、「ボードテスタ」などとも呼ばれる)としては、例えば特許文献1に示される回路基板検査治具がある。この回路基板検査治具は、上下動可能な基台(上部基台)及び固定状態に設けられる基台(下部基台)の各々にプローブピンを設け、上部基台と下部基台の間に検査対象としての回路基板を配置し、上部基台を下部基台側に移動させることによって、上下各々のプローブピンを回路基板上の接点(スルーホール)と接触させて、回路基板上の電圧や信号の状態等を計測するようになっている。
特開2005−140723号公報
上記従来技術の例において、上部基台を操作ハンドルによってマニュアル操作する構成の場合(ハンドプレスタイプとも呼ばれる)、プローブピンと回路基板の接点との接触状態を何時でも解除することができる。従って回路基板の検査実行中、より具体的にはプローブピン間への電圧印加中に、操作ハンドルを操作してプローブピンと回路基板の接点との接触状態を解除してしまうと、回路基板上の電子部品を破壊する虞がある。またプローブピン間への電圧印加中に再び操作ハンドルを操作し、プローブピンを回路基板の接点に接触させてしまうと、同様に回路基板上の電子部品を破壊する虞がある。
そこで本発明はこの様な状況に鑑みなされたものであり、その目的は、マニュアル操作によって検査装置側のプローブピンと回路基板側の接点との接触及び接触解除を行う回路基板検査装置において、不適切な操作を防止して回路基板を保護することにある。
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様に係る回路基板検査装置は、電子部品が実装された回路基板をセットする基板セット部と、前記回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備えるとともに、前記プローブピンが前記接点と接触する接触位置と、前記プローブピンが前記接点から離間する離間位置とを変位可能に設けられるピンボードと、前記ピンボードを変位動作させる駆動機構と、前記駆動機構に動力を付与する操作ハンドルと、前記操作ハンドルのロック及びロック解除を行うロック手段と、前記プローブピンを介した前記回路基板のチェック動作、及び前記ロック手段の制御を実行する制御部と、を備え、前記制御部は、前記プローブピン間への電圧印加中においては、前記ロック手段を制御して前記操作ハンドルをロックすることを特徴とする。
本態様によれば、回路基板検査装置の制御部は、プローブピン間への電圧印加中においては、ロック手段を制御して操作ハンドルをロックするので、回路基板のチェック動作実行中に操作者が誤って操作ハンドルを操作しようとしても、操作ハンドルは操作不可能な状態であり、このため回路基板検査中における操作ハンドルの不適切な操作を防止して、回路基板を保護することができる。
本発明の第2の態様に係る回路基板検査装置は、第1の態様において、前記制御部が前記回路基板のディスチャージ動作を実行した後に、前記ロック手段による前記操作ハンドルのロックを解除することを特徴とする。
本態様によれば、回路基板検査装置の制御部は、回路基板のディスチャージ動作を実行した後に、ロック手段による操作ハンドルのロックを解除するので、回路基板の残留電圧が除去された後に検査装置から取り出されることとなり、回路基板のより一層の保護を図ることができる。
以下、図1乃至図5を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。図1は本発明に係る回路基板検査装置(以下「検査装置」と略称する)1の全体構造を簡略化且つ模式化した図であり、図2及び図3は検査装置1の要部側面図であり、図4は検査装置1の要部平面図であり、図5は検査装置1による回路基板のチェックの流れを示すフローチャートである。尚、図2及び図3は、図4のA−A断面を示すものであり、また説明の便宜上図2においてはロック手段13の図示を省略している。
図1において検査装置1は、台座プレート2に立設された複数本のガイド軸5に、回路基板18をセットする基板セット部としての固定ボード3と、ピンボード4が取り付けられて構成されている。
ピンボード4はガイド軸5の軸線方向に沿って移動可能となっており(図の矢印方向)、操作ハンドル12(図2乃至図4参照)を操作することにより、ピンボード4を変位動作させる駆動機構6A、6B(後述)を介して固定ボード3に対し進退動作するようになっている。
ピンボード4には複数のプローブピン15が設けられており、操作ハンドル12の操作によってピンボード4が固定ボード3に向かって上昇すると、各々のプローブピン15が、対応する回路基板18における接点としてのスルーホール19に接触できるようになっている。
即ち、操作ハンドル12を操作することにより、プローブピン15が、回路基板18のスルーホール19と接触する接触位置(図3の位置)と、スルーホール19から離間する離間位置(図2の位置)とを変位するようになっている。
次に、図2及び図4に示すように台座プレート2には、駆動機構6A、6Bが設けられている。駆動機構6Aと駆動機構6Bは、共にベース7に2つのカム8を備えており、またそれぞれのカムに、駆動機構6Aから駆動機構6Bへ動力を伝達する為の伝達軸11が取り付けられている。
駆動機構6Aの側においては、1つの伝達軸11に操作ハンドル12が設けられており、この操作ハンドル12を回動操作することにより、伝達軸11及びカム8が回動するようになっている。
また駆動機構6Aの側においては、2つのカム8のそれぞれにロッド9が取り付けられており、更に2つのロッド9は、リンクロッド10により連結されている。従って操作ハンドル12を回動操作すると、駆動機構6Aの側の2つのカム8がそれぞれ同期して回動するとともに、伝達軸11が駆動機構6Bに動力を伝達するので、同時に駆動機構6Bの側の2つのカム8も同時に回動する。
一方、図2及び図3に示す様にピンボード4には下方に垂下するような形状をなす垂直板4aが一体的に設けられており、この垂直板4aが、カム8に載置された様な状態となっている。図2はプローブピン15が離間位置にあるときの状態を示しており、この状態から操作ハンドル12が図の時計回り方向に回動操作されると、カム8の回動によって、図3に示すように垂直板4a即ちピンボード4が上方に押し上げられ、これによりプローブピン15が回路基板18のスルーホール19と接触し、回路基板18の各種チェック動作を実行可能な状態となる。
そして検査装置1の制御部16は、回路基板18の各種チェック動作を実行する際に、ロック手段13を制御して操作ハンドル12をロックする。即ち図4に示すように、駆動機構6Bの側にはロック手段13が設けられている。ロック手段13はプランジャ駆動部13aとプランジャ13bとを備えて構成された電磁式のプランジャ装置であり、制御部16の制御により、プランジャ13bが1つのカム8に対して進退動作する様になっている。尚、図4において符号13b’は、カム8に対して進出した状態のプランジャを示している。
プランジャ13bがカム8に対して進出すると、図3に示すように1つのカム8は時計回り方向及び反時計回り方向のいずれにも回動できないロック状態となる。全てのカム8は連係動作するよう構成されているので、この様に1つのカム8がロック状態となると、操作ハンドル12も回動操作できないロック状態となる。
以下、図5を参照しながら制御部16によるロック手段13の制御について説明する。制御部1は、先ずプランジャ駆動部13aを制御してプランジャ13aをカム8に向けて押し出し、操作ハンドル12をロック状態とする(ステップS101)。
次いで図示を省略する電源供給部が回路基板18への通電を開始し(ステップS102)、一連のチェック動作、即ちレギュレータ電圧・クロック周波数のチェック(ステップS103)、メモリチェック(ステップS104)、I/O(入出力)のチェック(ステップS105)、モータ駆動回路・ヘッド駆動回路のチェック(ステップS106)を行う。尚、本実施形態において回路基板18は被記録媒体に記録を行う記録装置(例えば、プリンタなど)のメインボードであり、モータ駆動回路とは被記録媒体の搬送等を行う為のモータを駆動する回路、ヘッド駆動回路とは記録ヘッドを駆動する回路を意味する。
以上の一連の検査ステップ終了後、回路基板の合否判定を行い(ステップS107)、回路基板18への通電を終了する(ステップS108)。次いで回路基板18の電源系残留電圧をディスチャージする(ステップS109)。そして制御部16は、回路基板18のディスチャージ終了後に、ロック手段13のプランジャ駆動部13aを制御してプランジャ13aをカム8と係合可能な位置から引き戻し、操作ハンドル12のロックを解除する(ステップS110)。
以上のように、検査装置1によれば、制御部1が回路基板18のチェック動作実行中においては、ロック手段13を制御して操作ハンドル12をロックするので、回路基板18のチェック動作実行中に操作者が誤って操作ハンドル12を操作しようとしても、操作ハンドル12は操作不可能な状態であり、このため回路基板18への通電中における操作ハンドル12の不適切な操作を防止して、回路基板18が保護される。
また制御部1は、回路基板18のディスチャージ動作を実行した後に、ロック手段13による操作ハンドル12のロックを解除するので、回路基板18の残留電圧が除去された後に当該回路基板18が検査装置1から取り出されることとなり、回路基板18のより一層の保護を図ることができる。
尚、以上説明した実施形態においては、回路基板18のチェック動作中において、即ち少なくとも2つのプローブピン15間へ電圧が印加されるとともにプローブピン15が回路基板18のスルーホール19と接触した状態において、操作ハンドル12が操作不可となるようロックしたが、少なくとも2つのプローブピン15間へ電圧が印加されるとともにプローブピン15が回路基板18のスルーホール19から離間した状態において、操作ハンドル12が操作不可となる様、ロック手段13を制御することも可能である。これにより、少なくとも2つのプローブピン15間へ電圧が印加された状態においてプローブピン15が回路基板18のスルーホール19に接触することがなく、上記実施形態と同様に回路基板18の保護を図ることができる。
1 回路基板検査装置、2 台座プレート、3 固定ボード、4 ピンボード、4a 垂直板、5 ガイド軸、6A、6B 駆動機構、7 ベース、8 カム、9 ロッド、10 リンクロッド、11 伝達軸、12 操作ハンドル、13 ロック手段、13a プランジャ駆動部、13b プランジャ、15 プローブピン、16 制御部、18 回路基板、19 スルーホール
Claims (2)
- 電子部品が実装された回路基板をセットする基板セット部と、
前記回路基板上の接点と接触するプローブピンを複数備えるとともに、前記プローブピンが前記接点と接触する接触位置と、前記プローブピンが前記接点から離間する離間位置とを変位可能に設けられるピンボードと、
前記ピンボードを変位動作させる駆動機構と、
前記駆動機構に動力を付与する操作ハンドルと、
前記操作ハンドルのロック及びロック解除を行うロック手段と、
前記プローブピンを介した前記回路基板のチェック動作、及び前記ロック手段の制御を実行する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記プローブピン間への電圧印加中においては、前記ロック手段を制御して前記操作ハンドルをロックする、
ことを特徴とする回路基板検査装置。 - 請求項1に記載の回路基板検査装置において、前記制御部は、前記回路基板のディスチャージ動作を実行した後に、前記ロック手段による前記操作ハンドルのロックを解除する、
ことを特徴とする回路基板検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007060151A JP2008224295A (ja) | 2007-03-09 | 2007-03-09 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007060151A JP2008224295A (ja) | 2007-03-09 | 2007-03-09 | 回路基板検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2008224295A true JP2008224295A (ja) | 2008-09-25 |
Family
ID=39843114
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007060151A Pending JP2008224295A (ja) | 2007-03-09 | 2007-03-09 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008224295A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012127809A (ja) * | 2010-12-15 | 2012-07-05 | Advantest Corp | 試験装置 |
US8836362B2 (en) | 2010-05-31 | 2014-09-16 | Ricoh Company, Ltd. | Switch probe and device and system for substrate inspection |
-
2007
- 2007-03-09 JP JP2007060151A patent/JP2008224295A/ja active Pending
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JP2012127809A (ja) * | 2010-12-15 | 2012-07-05 | Advantest Corp | 試験装置 |
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