JP2008204654A - Ldiプレート、レーザー脱離イオン化質量分析装置、レーザー脱離イオン化質量分析方法及びldiプレート製造方法 - Google Patents
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Abstract
汎用性の高いLDIプレート等を提供する。
【解決手段】
本発明の第1の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。
【選択図】 図2
Description
Claims (8)
- レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレート。
- 前記イオン化補助粒子の材料は、金属又は金属酸化物であることを特徴とする請求項1に記載のLDIプレート。
- レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に担持され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子とを有することを特徴とするLDIプレート。
- 前記白金粒子は、突起状の部分又は針状の部分を有することを特徴とする請求項1に記載のLDIプレート。
- 請求項1に記載の前記LDIプレートと、前記LDIプレートに支持された測定対象となる試料をイオン化するための装置と、イオン化された試料を検出するための検出器とを有することを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析装置。
- レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有するLDIプレート上に試料を配置する工程と、前記イオン化補助粒子にレーザーを照射することによって試料をイオン化する工程と、
イオン化された前記試料を検出する工程とを有することを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析方法。 - レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートを製造する方法であって、塩化白金酸を還元する還元工程と、前記還元工程によって得られる白金粒子を分散させた液体を基板に塗布する塗布工程とを有することを特徴とするLDIプレート製造方法。
- 前記還元工程によって得られる白金粒子は、突起状の部分又は針状の部分を有することを特徴とする請求項7に記載のLDIプレート製造方法。
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