JP2008198718A - Resin seal type semiconductor device - Google Patents

Resin seal type semiconductor device Download PDF

Info

Publication number
JP2008198718A
JP2008198718A JP2007030581A JP2007030581A JP2008198718A JP 2008198718 A JP2008198718 A JP 2008198718A JP 2007030581 A JP2007030581 A JP 2007030581A JP 2007030581 A JP2007030581 A JP 2007030581A JP 2008198718 A JP2008198718 A JP 2008198718A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
lead frame
semiconductor device
mold resin
encapsulated semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007030581A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuhiro Takada
充裕 高田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asmo Co Ltd
Original Assignee
Asmo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asmo Co Ltd filed Critical Asmo Co Ltd
Priority to JP2007030581A priority Critical patent/JP2008198718A/en
Publication of JP2008198718A publication Critical patent/JP2008198718A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the occurrence of a peeling between a molding resin and a terminal section in the mating surface of the molding resin and the terminal section while preventing a slipping-off from the molding resin of the terminal section. <P>SOLUTION: In a resin seal type semiconductor device 10, a hook section 30 projected in the board thickness direction of the terminal section 26 is formed to a section molded of the molding resin 20 of the terminal section 26. Accordingly, even when the molding resin 20 is expanded and contracted by a heat and a stress is generated in the molding resin 20 as a result of expansion and contraction, the occurrence of the peeling between the molding resin 20 and the terminal section 26 in the mating surface of the molding resin 20 and the terminal section 26 can be prevented while slipping-off from the molding resin 20 of the terminal section 26 can also be prevented by a hook effect owing to the hook section 30. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、樹脂封止型半導体装置に係り、特に、半導体素子と電気的に接続されたリードフレームをモールド成形してモールド樹脂と一体化した樹脂封止型半導体装置に関する。   The present invention relates to a resin-encapsulated semiconductor device, and more particularly to a resin-encapsulated semiconductor device in which a lead frame electrically connected to a semiconductor element is molded and integrated with a mold resin.

この種の樹脂封止型半導体装置では、リードフレームに設けられた端子部(リード)がモールド樹脂によってモールドされているが、モールド樹脂の保持力が弱い場合には、端子部がモールド樹脂から抜けてしまう虞があった。そこで、従来の技術(例えば、特許文献1、特許文献2参照)では、端子部のモールド樹脂でモールドされた部分に、穴部や突出部等を設け、この穴部や突出部等のフック効果により端子部のモールド樹脂からの抜けを防止するようにしていた。
特許第3130239号公報 特開昭62−229865号公報
In this type of resin-encapsulated semiconductor device, the terminal portion (lead) provided on the lead frame is molded with a mold resin. However, if the holding power of the mold resin is weak, the terminal portion is detached from the mold resin. There was a risk of it. Therefore, in the conventional technique (for example, refer to Patent Document 1 and Patent Document 2), a hole portion or a protruding portion is provided in a portion molded with the molding resin of the terminal portion, and the hook effect of the hole portion or the protruding portion is provided. This prevents the terminal portion from coming off the mold resin.
Japanese Patent No. 3130239 Japanese Patent Laid-Open No. 62-229865

しかしながら、上記各従来の技術では、穴部や突出部等のフック効果により端子部のモールド樹脂からの抜けを防止することができるものの、例えば、熱によってモールド樹脂が伸縮し、これに伴ってモールド樹脂に応力が生じた場合には、モールド樹脂と端子部の合わせ目にモールド樹脂と端子部との剥離が生じる虞があった。このため、モールド樹脂とリードフレームの合わせ目にモールド樹脂とリードフレームとの剥離が生じることを防止するためには、改善の余地があった。   However, in each of the above conventional techniques, although the terminal portion can be prevented from coming off from the mold resin by the hook effect of the hole portion, the protruding portion, etc., for example, the mold resin expands and contracts due to heat, and the mold is accompanied accordingly. When stress is generated in the resin, the mold resin and the terminal portion may be peeled off at the joint between the mold resin and the terminal portion. For this reason, there is room for improvement in order to prevent peeling between the mold resin and the lead frame at the joint between the mold resin and the lead frame.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、モールド樹脂とリードフレームの合わせ目にモールド樹脂とリードフレームとの剥離が生じることを防止することが可能な樹脂封止型半導体装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a resin seal capable of preventing the mold resin and the lead frame from being separated at the joint between the mold resin and the lead frame. It is to provide a type semiconductor device.

上記課題を解決するために、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置は、半導体素子と、前記半導体素子と電気的に接続されたリードフレームと、少なくとも前記リードフレームを一体にモールドするモールド樹脂と、前記リードフレームの前記モールド樹脂でモールドされた部分に、前記リードフレームの板厚方向に突出して設けられたフック部と、を備えたことを特徴とする。   In order to solve the above problems, a resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1 is a mold for integrally molding a semiconductor element, a lead frame electrically connected to the semiconductor element, and at least the lead frame. And a hook portion provided to protrude in a plate thickness direction of the lead frame at a portion molded with the molding resin of the lead frame.

請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、リードフレームのモールド樹脂でモールドされた部分には、リードフレームの板厚方向に突出するフック部が設けられている。従って、例えば、熱によってモールド樹脂が伸縮し、これに伴ってモールド樹脂に応力が生じた場合でも、フック部が発揮するフック効果(すなわち、モールド樹脂の応力に対し抵抗力を発揮すること)によって、モールド樹脂とリードフレームの合わせ目にモールド樹脂とリードフレームとの剥離が生じることを防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device of the first aspect, the hook frame protruding in the plate thickness direction of the lead frame is provided in the portion of the lead frame molded with the molding resin. Therefore, for example, even when the mold resin expands and contracts due to heat and a stress is generated in the mold resin, the hook effect exerted by the hook portion (that is, exerts a resistance force against the stress of the mold resin). Further, it is possible to prevent the mold resin and the lead frame from being peeled off at the joint between the mold resin and the lead frame.

請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記フック部は、前記リードフレームにおける板厚方向の両側に一対設けられていることを特徴とする。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 2 is the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1, wherein a pair of the hook portions are provided on both sides of the lead frame in the plate thickness direction. Features.

請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、フック部は、リードフレームにおける板厚方向の両側に一対設けられているので、モールド樹脂がリードフレームに対し板厚方向の両側に剥離されることを防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 2, since the hook portions are provided in a pair on both sides of the lead frame in the plate thickness direction, the mold resin is peeled off on both sides of the lead frame in the plate thickness direction. Can be prevented.

請求項3に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記フック部は、前記リードフレームの一部が切り起こされて形成されたことを特徴とする。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 3 is the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1 or 2, wherein the hook portion is formed by cutting and raising a part of the lead frame. It is characterized by that.

請求項3に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、フック部は、リードフレームの一部が切り起こされて形成されたものであるので、リードフレームにフック部を容易に形成することができ、しかも、部品点数の増加、ひいてはコストアップも防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device of the third aspect, since the hook portion is formed by cutting and raising a part of the lead frame, the hook portion can be easily formed on the lead frame. In addition, it is possible to prevent an increase in the number of parts and thus an increase in cost.

請求項4に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記フック部は、その先端側の部分が前記リードフレームの延在方向に沿って形成されていることを特徴とする。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 4 is the resin-encapsulated semiconductor device according to any one of claims 1 to 3, wherein the tip of the hook portion is the lead. It is formed along the extending direction of the frame.

請求項4に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、フック部は、その先端側の部分がリードフレームの延在方向に沿って形成されているので、この先端側の部分でモールド樹脂に対し確実にフック効果を発揮することができる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device of the fourth aspect, since the hook portion is formed at the tip side along the extending direction of the lead frame, the tip portion is used as the mold resin. In contrast, the hook effect can be surely exhibited.

請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記リードフレームは、前記モールド樹脂でモールドされた本体部と、前記本体部と別体で構成され、一部が前記モールド樹脂でモールドされ残余部が前記モールド樹脂の外側に突出された端子部と、を有して構成され、前記フック部は、前記端子部の前記一部に設けられていることを特徴とする。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 5 is the resin-encapsulated semiconductor device according to any one of claims 1 to 4, wherein the lead frame is a main body molded with the mold resin. And a terminal part that is formed separately from the main body part, part of which is molded with the molding resin and the remaining part protrudes to the outside of the molding resin, and the hook part is It is provided in the part of the terminal portion.

請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、フック部は、リードフレームに本体部と別体で構成された端子部の一部に設けられているので、フック部が発揮するフック効果によって、モールド樹脂と端子部の合わせ目にモールド樹脂と端子部との剥離が生じることを防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 5, since the hook portion is provided in a part of the terminal portion that is formed separately from the main body portion in the lead frame, the hook exerted by the hook portion Due to the effect, it is possible to prevent the mold resin and the terminal portion from peeling off at the joint between the mold resin and the terminal portion.

また、フック部は、上述のように、リードフレームの板厚方向に突出して設けられているので、リードフレームの板厚方向だけでなく、リードフレームの延在方向にもフック効果(すなわち、モールド樹脂に対する端子部の相対変位を規制するように抵抗力を発揮すること)を発揮できる。従って、モールド樹脂と端子部との剥離が生じることを防止できることのみならず、端子部のモールド樹脂からの抜けも防止できる。   In addition, since the hook portion is provided so as to protrude in the plate thickness direction of the lead frame as described above, the hook effect (that is, the mold) is applied not only in the plate frame thickness direction but also in the lead frame extending direction. Exhibiting a resistance force so as to regulate the relative displacement of the terminal portion with respect to the resin). Accordingly, not only can the peeling between the mold resin and the terminal portion be prevented, but also the terminal portion can be prevented from coming off from the mold resin.

また、上記課題を解決するために、請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置は、半導体素子と、前記半導体素子と電気的に接続されたリードフレームと、少なくとも前記リードフレームを一体にモールドするモールド樹脂と、前記リードフレームの前記モールド樹脂でモールドされた部分に、前記リードフレームの板厚方向に対する傾斜方向を向くように設けられた傾斜面と、を備えたことを特徴とする。   According to another aspect of the present invention, there is provided a resin-encapsulated semiconductor device in which a semiconductor element, a lead frame electrically connected to the semiconductor element, and at least the lead frame are integrally molded. And a sloped surface provided in a portion of the lead frame molded with the mold resin so as to face a slope direction with respect to a plate thickness direction of the lead frame.

請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、リードフレームのモールド樹脂でモールドされた部分には、リードフレームの板厚方向に対する傾斜方向を向くように傾斜面が設けられている。従って、例えば、熱によってモールド樹脂が伸縮し、これに伴ってモールド樹脂に応力が生じた場合でも、傾斜面が発揮するフック効果(すなわち、モールド樹脂の応力に対し抵抗力を発揮すること)によって、モールド樹脂とリードフレームの合わせ目にモールド樹脂とリードフレームとの剥離が生じることを防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device of the sixth aspect, the portion of the lead frame molded with the molding resin is provided with the inclined surface so as to face the inclined direction with respect to the plate thickness direction of the lead frame. Therefore, for example, even when the mold resin expands and contracts due to heat and a stress is generated in the mold resin, a hook effect that the inclined surface exerts (that is, exhibits resistance to the stress of the mold resin). Further, it is possible to prevent the mold resin and the lead frame from being peeled off at the joint between the mold resin and the lead frame.

請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記傾斜面は、前記リードフレームにおける板厚方向の互いに異なる側にそれぞれ面して一対設けられていることを特徴とする。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 7 is the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 6, wherein the inclined surfaces face a different side in the plate thickness direction of the lead frame. It is provided.

請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、傾斜面は、リードフレームにおける板厚方向の互いに異なる側にそれぞれ面して一対設けられているので、モールド樹脂がリードフレームに対し板厚方向の両側に剥離されることを防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 7, since the inclined surfaces are provided in pairs so as to face the different sides of the lead frame in the plate thickness direction, the mold resin is a plate with respect to the lead frame. It can prevent peeling on both sides in the thickness direction.

請求項8に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項6又は請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記リードフレームは、前記モールド樹脂でモールドされた本体部と、前記本体部と別体で構成され、一部が前記モールド樹脂でモールドされ残余部が前記モールド樹脂の外側に突出された端子部と、を有して構成され、前記傾斜面は、前記端子部の前記一部に設けられていることを特徴とする。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 8 is the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 6 or 7, wherein the lead frame includes a main body portion molded with the mold resin, and the main body. And a terminal part that is partly molded with the mold resin and the remaining part protrudes to the outside of the mold resin, and the inclined surface is formed of the terminal part. It is provided in a part.

請求項8に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、傾斜面は、リードフレームに本体部と別体で構成された端子部の一部に設けられているので、傾斜面が発揮するフック効果によって、モールド樹脂と端子部の合わせ目にモールド樹脂と端子部との剥離が生じることを防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 8, since the inclined surface is provided in a part of the terminal portion that is formed separately from the main body portion of the lead frame, the hook that the inclined surface exhibits Due to the effect, it is possible to prevent the mold resin and the terminal portion from peeling off at the joint between the mold resin and the terminal portion.

請求項9に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項8に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記傾斜面は、前記端子部における板厚方向又は幅方向に突出した部分に設けられていることを特徴とする。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 9 is the resin-encapsulated semiconductor device according to claim 8, wherein the inclined surface is provided at a portion protruding in the plate thickness direction or the width direction in the terminal portion. It is characterized by.

請求項9に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、傾斜面は、前記端子部における板厚方向又は幅方向に突出した部分に設けられているので、リードフレームの板厚方向だけでなく、リードフレームの延在方向にもフック効果(すなわち、モールド樹脂に対する端子部の相対変位を規制するように抵抗力を発揮すること)を発揮できる。従って、モールド樹脂と端子部との剥離が生じることを防止できることのみならず、端子部のモールド樹脂からの抜けも防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device of the ninth aspect, since the inclined surface is provided in a portion protruding in the plate thickness direction or the width direction in the terminal portion, not only the plate thickness direction of the lead frame. Also, the hook effect (that is, exerting a resistance so as to regulate the relative displacement of the terminal portion with respect to the mold resin) can be exhibited also in the lead frame extending direction. Accordingly, not only can the peeling between the mold resin and the terminal portion be prevented, but also the terminal portion can be prevented from coming off from the mold resin.

[第一実施形態]
以下、本発明の第一実施形態について説明する。
[First embodiment]
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described.

図1乃至図3は、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の構成を示す図であり、図1は樹脂封止型半導体装置10の全体平面図、図2A,図2Bは樹脂封止型半導体装置10の要部拡大斜視図、図3A,図3Bは樹脂封止型半導体装置10の要部拡大図である。   1 to 3 are views showing a configuration of the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention. FIG. 1 is an overall plan view of the resin-encapsulated semiconductor device 10, and FIGS. 2B is an enlarged perspective view of main parts of the resin-encapsulated semiconductor device 10, and FIGS. 3A and 3B are enlarged views of main parts of the resin-encapsulated semiconductor device 10. FIG.

はじめに、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の構成について説明する。   First, the configuration of the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention will be described.

図1に示される本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10は、例えば、自動車に搭載されたモータを駆動するために該モータに一体的に取り付けられる制御回路用の装置である。この樹脂封止型半導体装置10には、回路基板12が設けられている。回路基板12は、セラミックス材料により構成され、その表面に図示しない回路パターンが形成されて構成されている。   A resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. 1 is a device for a control circuit that is integrally attached to a motor to drive a motor mounted on an automobile, for example. is there. The resin-encapsulated semiconductor device 10 is provided with a circuit board 12. The circuit board 12 is made of a ceramic material, and a circuit pattern (not shown) is formed on the surface thereof.

回路基板12には、半導体素子14及びその他周辺の電気部品16(例えば、チップ規制など)が実装されている。この半導体素子14及びその他の周辺の電気部品16は、上述の回路基板12の回路パターンに半田付けにより電気的に接続されている。   A semiconductor element 14 and other peripheral electrical components 16 (for example, chip regulation) are mounted on the circuit board 12. The semiconductor element 14 and other peripheral electrical components 16 are electrically connected to the circuit pattern of the circuit board 12 by soldering.

また、この半導体素子14及びその他の周辺の電気部品16が半田付けされた回路基板12は、リードフレーム18の表面に接着材を用いて固定されている。リードフレーム18は、例えば銅合金等で構成された板が機械加工(例えば、打抜加工)されることにより構成されたものである。また、このリードフレーム18と回路基板12とは、アルミニウム又は金を用いた細線(不図示)により電気的に接続されている。この細線は、ワイヤボンディング工法により配線される。   The circuit board 12 to which the semiconductor element 14 and other peripheral electrical components 16 are soldered is fixed to the surface of the lead frame 18 using an adhesive. The lead frame 18 is formed by machining (for example, punching) a plate made of, for example, a copper alloy. The lead frame 18 and the circuit board 12 are electrically connected by a thin wire (not shown) using aluminum or gold. This fine wire is wired by a wire bonding method.

そして、上述の半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、回路基板12、及び、リードフレーム18は、モールド成形されることによってモールド樹脂20により封止されている。   The semiconductor element 14, other peripheral electrical components 16, the circuit board 12, and the lead frame 18 are sealed with a mold resin 20 by being molded.

ここで、リードフレーム18は、モールド樹脂20でモールドされた本体部22を有して構成されている。また、本体部22には、この本体部22と一体に構成された端子部24と、本体部22と別体に構成された端子部26とが設けられている。各端子部24,26は、一部がモールド樹脂20でモールドされ残余部がモールド樹脂20の外側に突出されている。そして、この端子部24,26のモールド樹脂20の外側に突出された部分は、それぞれ外部の装置と接続可能とされている。   Here, the lead frame 18 has a main body 22 molded with a mold resin 20. The main body portion 22 is provided with a terminal portion 24 configured integrally with the main body portion 22 and a terminal portion 26 configured separately from the main body portion 22. Each of the terminal portions 24 and 26 is partially molded with the mold resin 20, and the remaining portion protrudes outside the mold resin 20. And the part protruded outside the mold resin 20 of these terminal parts 24 and 26 is connectable with an external apparatus, respectively.

また、端子部26のモールド樹脂20でモールドされた部分(なるべくモールド樹脂20の縁部20Aに近い部分)には、図1乃至図3に示されるように、端子部26の幅方向に突出する一対の突出部28が設けられている。そして、この突出部28の外方側(モールド樹脂20の縁部20A側)には、端子部26の板厚方向に突出するフック部30が設けられている。フック部30は、端子部26における板厚方向(Z方向)の両側に一対設けられており、それぞれ長手方向中間部で屈曲されることで、その先端側の部分30Aが端子部26の延在方向(X方向)に沿って形成されている。なお、このフック部30は、端子部26の一部が切り起こされて形成されたものである。   Further, as shown in FIGS. 1 to 3, the terminal portion 26 protrudes in the width direction of the terminal portion 26 as much as possible (a portion as close as possible to the edge portion 20 </ b> A of the mold resin 20). A pair of protrusions 28 are provided. A hook portion 30 that protrudes in the plate thickness direction of the terminal portion 26 is provided on the outer side of the protruding portion 28 (on the edge portion 20A side of the mold resin 20). A pair of hook portions 30 are provided on both sides of the terminal portion 26 in the plate thickness direction (Z direction). Each of the hook portions 30 is bent at an intermediate portion in the longitudinal direction, so that a portion 30A on the tip side extends from the terminal portion 26. It is formed along the direction (X direction). The hook part 30 is formed by cutting and raising a part of the terminal part 26.

次に、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の作用及び効果について説明する。   Next, the operation and effect of the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention will be described.

先ず、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の作用及び効果を明確にするために、比較例に係る樹脂封止型半導体装置50について説明する。図7には、比較例に係る樹脂封止型半導体装置50の要部拡大斜視図が示されている。なお、便宜上、比較例に係る樹脂封止型半導体装置50では、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10と同一の構成については同一の符号を用いてある。   First, in order to clarify the operation and effect of the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention, a resin-encapsulated semiconductor device 50 according to a comparative example will be described. FIG. 7 shows an enlarged perspective view of a main part of a resin-encapsulated semiconductor device 50 according to a comparative example. For convenience, in the resin-encapsulated semiconductor device 50 according to the comparative example, the same reference numerals are used for the same configurations as those of the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention.

この比較例に係る樹脂封止型半導体装置50では、端子部26のモールド樹脂20でモールドされた部分に、端子部26の幅方向に突出する一対の突出部52が設けられている。また、端子部26のモールド樹脂20でモールドされた部分には、板厚方向(Z方向)に貫通する穴部54が設けられている。   In the resin-encapsulated semiconductor device 50 according to this comparative example, a pair of projecting portions 52 projecting in the width direction of the terminal portion 26 is provided in a portion molded with the molding resin 20 of the terminal portion 26. Further, a hole 54 penetrating in the plate thickness direction (Z direction) is provided in a portion molded with the mold resin 20 of the terminal portion 26.

しかしながら、この比較例に係る樹脂封止型半導体装置50では、穴部54や突出部52のフック効果により端子部26のモールド樹脂20からの抜けを防止することができるものの、例えば、熱によってモールド樹脂20が伸縮し、これに伴ってモールド樹脂20に応力が生じた場合には、モールド樹脂20と端子部26の合わせ目にモールド樹脂20と端子部26との剥離が生じる虞があった。   However, in the resin-encapsulated semiconductor device 50 according to this comparative example, the terminal portion 26 can be prevented from coming off from the mold resin 20 by the hook effect of the hole portion 54 and the protruding portion 52. When the resin 20 expands and contracts and a stress is generated in the mold resin 20 along with the expansion and contraction, the mold resin 20 and the terminal portion 26 may be peeled off at the joint of the mold resin 20 and the terminal portion 26.

これに対し、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10によれば、端子部26のモールド樹脂20でモールドされた部分には、端子部26の板厚方向に突出するフック部30が設けられている。従って、例えば、熱によってモールド樹脂20が伸縮し、これに伴ってモールド樹脂20に応力が生じた場合でも、フック部30が発揮するフック効果(すなわち、モールド樹脂20の応力に対し抵抗力を発揮すること)によって、モールド樹脂20と端子部26の合わせ目にモールド樹脂20と端子部26との剥離が生じることを防止できる。   On the other hand, according to the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention, the portion that is molded with the molding resin 20 of the terminal portion 26 has a hook that protrudes in the plate thickness direction of the terminal portion 26. A portion 30 is provided. Therefore, for example, even when the mold resin 20 expands and contracts due to heat and a stress is generated in the mold resin 20, the hook effect that the hook portion 30 exhibits (that is, the resistance to the stress of the mold resin 20 is exhibited). By doing so, it is possible to prevent the mold resin 20 and the terminal portion 26 from peeling off at the joint between the mold resin 20 and the terminal portion 26.

また、フック部30は、端子部26における板厚方向の両側に一対設けられているので、モールド樹脂20が端子部26に対し板厚方向の両側に剥離されることを防止できる。   In addition, since the hook portions 30 are provided as a pair on both sides of the terminal portion 26 in the plate thickness direction, the mold resin 20 can be prevented from being peeled off on both sides of the terminal portion 26 in the plate thickness direction.

また、フック部30は、その先端側の部分30Aが端子部26の延在方向(X方向)に沿って形成されているので、この先端側の部分30Aでモールド樹脂20に対し確実にフック効果を発揮することができる。   In addition, since the hook portion 30 has a tip portion 30A formed along the extending direction (X direction) of the terminal portion 26, the tip portion 30A can reliably hook the mold resin 20 with the hook effect. Can be demonstrated.

また、フック部30は、上述のように、端子部26の板厚方向に突出して設けられているので、端子部26の板厚方向(Z方向)だけでなく、端子部26の延在方向(X方向)にもフック効果(すなわち、モールド樹脂20に対する端子部26の相対変位を規制するように抵抗力を発揮すること)を発揮できる。従って、モールド樹脂20と端子部26との剥離が生じることを防止できることのみならず、端子部26のモールド樹脂20からの抜けも防止できる。   Further, as described above, since the hook portion 30 is provided so as to protrude in the plate thickness direction of the terminal portion 26, not only the plate thickness direction (Z direction) of the terminal portion 26 but also the extending direction of the terminal portion 26 is provided. Also in the (X direction), the hook effect (that is, exerting a resistance force so as to regulate the relative displacement of the terminal portion 26 with respect to the mold resin 20) can be exhibited. Accordingly, not only can the peeling between the mold resin 20 and the terminal portion 26 be prevented, but also the terminal portion 26 can be prevented from coming off from the mold resin 20.

また、フック部30は、端子部26の一部が切り起こされて形成されたものであるので、端子部26にフック部30を容易に形成することができ、しかも、部品点数の増加、ひいてはコストアップも防止できる。   In addition, since the hook portion 30 is formed by cutting and raising a part of the terminal portion 26, the hook portion 30 can be easily formed on the terminal portion 26, and the number of parts is increased. Cost increase can also be prevented.

次に、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の変形例について説明する。   Next, a modification of the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention will be described.

(第一変形例)
上記実施形態では、フック部30が端子部26における幅方向の両側に一対設けられていたが、例えば、図4A,図4Bに示される変形例のようにしても良い。すなわち、この変形例のように、フック部30は、端子部26における幅方向の両側に一対設けられると共に、端子部26の幅方向中央部に設けられていても良い。このようにしても、モールド樹脂20と端子部26との剥離が生じることを防止できると共に、端子部26のモールド樹脂20からの抜けも防止できる。
(First modification)
In the above embodiment, a pair of hook portions 30 are provided on both sides of the terminal portion 26 in the width direction. However, for example, a modification shown in FIGS. 4A and 4B may be used. That is, as in this modification, a pair of hook portions 30 may be provided on both sides of the terminal portion 26 in the width direction, and may be provided in the center portion of the terminal portion 26 in the width direction. Even if it does in this way, it can prevent that the mold resin 20 and the terminal part 26 peel, and also can prevent the terminal part 26 from coming off from the mold resin 20.

(第二変形例)
また、上記実施形態では、フック部30は、それぞれ長手方向中間部で屈曲されることで、その先端側の部分30Aが端子部26の延在方向(X方向)に沿って形成されていたが、例えば、図5A,図5Bに示される変形例のようにしても良い。すなわち、この変形例のように、フック部30は、板厚方向(Z方向)に対する傾斜方向(A方向,B方向)に沿ってそれぞれ直線状に形成されていても良い。
(Second modification)
Moreover, in the said embodiment, although the hook part 30 was bent in the longitudinal direction intermediate part, 30 A of the front end side was formed along the extension direction (X direction) of the terminal part 26, respectively. For example, the modification shown in FIGS. 5A and 5B may be used. That is, as in this modification, the hook portion 30 may be formed in a straight line along the inclination direction (A direction, B direction) with respect to the plate thickness direction (Z direction).

なお、この場合には、フック部30に、端子部26の板厚方向(Z方向)に対する傾斜方向(A方向,B方向)を向くように傾斜面32がそれぞれ設けられる。従って、例えば、熱によってモールド樹脂20が伸縮し、これに伴ってモールド樹脂20に応力が生じた場合でも、傾斜面32が発揮するフック効果(すなわち、モールド樹脂20の応力に対し抵抗力を発揮すること)によって、モールド樹脂20と端子部26の合わせ目にモールド樹脂20と端子部26との剥離が生じることを防止できる。また、この傾斜面32が形成されたフック部30が発揮するフック効果によって、端子部26のモールド樹脂20からの抜けも防止できる。   In this case, the hook part 30 is provided with the inclined surfaces 32 so as to face the inclination direction (A direction, B direction) with respect to the plate thickness direction (Z direction) of the terminal part 26. Therefore, for example, even when the mold resin 20 expands and contracts due to heat and a stress is generated in the mold resin 20, the hook effect exhibited by the inclined surface 32 (that is, the resistance to the stress of the mold resin 20 is exhibited). By doing so, it is possible to prevent the mold resin 20 and the terminal portion 26 from peeling off at the joint between the mold resin 20 and the terminal portion 26. Further, the hook portion 30 on which the inclined surface 32 is formed can prevent the terminal portion 26 from being detached from the mold resin 20.

(その他の変形例)
また、上記実施形態では、フック部30が、リードフレーム18の本体部22と別体に構成された端子部26に設けられていたが、リードフレーム18の本体部22と一体に構成された端子部24に設けられていても良い。このようにすると、モールド樹脂20と端子部24との剥離が生じることを防止できる。
(Other variations)
Further, in the above embodiment, the hook portion 30 is provided on the terminal portion 26 configured separately from the main body portion 22 of the lead frame 18, but the terminal configured integrally with the main body portion 22 of the lead frame 18. The unit 24 may be provided. If it does in this way, it can prevent that exfoliation with mold resin 20 and terminal part 24 arises.

また、上記実施形態では、フック部30が、リードフレーム18の端子部26に設けられていたが、リードフレーム18の本体部22に設けられていても良い。このようにすると、モールド樹脂20とリードフレーム18の本体部22又は端子部24,26との剥離が生じることを防止できる。   Further, in the above embodiment, the hook portion 30 is provided on the terminal portion 26 of the lead frame 18, but may be provided on the main body portion 22 of the lead frame 18. In this way, it is possible to prevent the mold resin 20 from peeling off the main body portion 22 or the terminal portions 24 and 26 of the lead frame 18.

また、図5A,図5Bに示される第二変形例では、傾斜面32が、リードフレーム18の本体部22と別体に構成された端子部26に設けられていたが、リードフレーム18の本体部22と一体に構成された端子部24に設けられていても良い。   In the second modification shown in FIGS. 5A and 5B, the inclined surface 32 is provided on the terminal portion 26 configured separately from the main body portion 22 of the lead frame 18. The terminal portion 24 may be provided integrally with the portion 22.

また、上記第二変形例において、傾斜面32は、リードフレーム18の本体部22に設けられていても良い。このようにすると、モールド樹脂20とリードフレーム18の本体部22又は端子部24,26との剥離が生じることを防止できる。   In the second modification, the inclined surface 32 may be provided on the main body portion 22 of the lead frame 18. In this way, it is possible to prevent the mold resin 20 from peeling off the main body portion 22 or the terminal portions 24 and 26 of the lead frame 18.

また、上記実施形態では、半導体素子14が、回路基板12に実装されて回路基板12を介してリードフレーム18と電気的に接続されていたが、回路基板12を省いた上で、リードフレーム18に直接的に実装されてリードフレーム18と電気的に接続されていても良い。   In the above embodiment, the semiconductor element 14 is mounted on the circuit board 12 and electrically connected to the lead frame 18 via the circuit board 12. However, the lead frame 18 is omitted after the circuit board 12 is omitted. It may be mounted directly on and electrically connected to the lead frame 18.

また、上記実施形態では、半導体素子14が、モールド樹脂20でモールドされていたが、モールド樹脂20上に実装されていても良い。   In the above embodiment, the semiconductor element 14 is molded with the mold resin 20, but may be mounted on the mold resin 20.

[第二実施形態]
以下、本発明の第二実施形態について説明する。
[Second Embodiment]
Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described.

図6A,図6Bは、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40の構成を示す要部拡大斜視図である。   6A and 6B are enlarged perspective views of main parts showing the configuration of the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention.

はじめに、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40の構成について説明する。   First, the configuration of the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention will be described.

本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、モールド樹脂20と端子部26との剥離、及び、端子部26のモールド樹脂20からの抜けを防止するために、端子部26にフック部30が設けられていたが、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10に対し、次のように変形されている。なお、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40において、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10と同一の構成については同一の符号を用いることとしてその説明を省略する。   In the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the first embodiment of the present invention, in order to prevent the mold resin 20 and the terminal portion 26 from peeling and the terminal portion 26 from coming off from the mold resin 20, the terminal portion 26. In the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention, the following is provided for the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention. It has been transformed. In the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention, the same reference numerals are used for the same configurations as those of the resin-encapsulated semiconductor device 10 according to the first embodiment of the present invention. Description is omitted.

本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、端子部26に設けられた一対の突出部28の外方側(モールド樹脂20の縁部20A側)に、端子部26の板厚方向(Z方向)に対する傾斜方向(A方向,B方向)を向くように傾斜面34がそれぞれ設けられている。この一対の傾斜面34は、端子部26における板厚方向(Z方向)の互いに異なる側にそれぞれ面して設けられている。つまり、一方の傾斜面34は、板厚方向の一方側(Z1側)に面して設けられており、他方の傾斜面34は、板厚方向の他方側(Z2側)に面して設けられている。   In the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention, the terminal portion 26 is disposed on the outer side of the pair of projecting portions 28 provided on the terminal portion 26 (on the edge portion 20A side of the mold resin 20). The inclined surfaces 34 are respectively provided so as to face the inclined directions (A direction, B direction) with respect to the plate thickness direction (Z direction). The pair of inclined surfaces 34 are provided to face different sides of the terminal portion 26 in the plate thickness direction (Z direction). That is, one inclined surface 34 is provided facing one side (Z1 side) in the plate thickness direction, and the other inclined surface 34 is provided facing the other side (Z2 side) in the plate thickness direction. It has been.

また、端子部26のモールド樹脂20でモールドされた部分には、板厚方向(Z方向)に貫通する穴部36が設けられている。   Further, a hole portion 36 penetrating in the plate thickness direction (Z direction) is provided in a portion molded with the mold resin 20 of the terminal portion 26.

次に、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40の作用及び効果について説明する。   Next, the operation and effect of the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention will be described.

本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40によれば、端子部26のモールド樹脂20でモールドされた部分には、端子部26の板厚方向(Z方向)に対する傾斜方向(A方向,B方向)を向くように傾斜面34が設けられている。従って、例えば、熱によってモールド樹脂20が伸縮し、これに伴ってモールド樹脂20に応力が生じた場合でも、傾斜面34が発揮するフック効果(すなわち、モールド樹脂20の応力に対し抵抗力を発揮すること)によって、モールド樹脂20と端子部26の合わせ目にモールド樹脂20と端子部26との剥離が生じることを防止できる。   According to the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention, the portion of the terminal portion 26 molded with the mold resin 20 is inclined with respect to the plate thickness direction (Z direction) of the terminal portion 26 ( An inclined surface 34 is provided so as to face (A direction, B direction). Therefore, for example, even when the mold resin 20 expands and contracts due to heat and a stress is generated in the mold resin 20, a hook effect that the inclined surface 34 exhibits (that is, a resistance to the stress of the mold resin 20 is exhibited). By doing so, it is possible to prevent the mold resin 20 and the terminal portion 26 from peeling off at the joint between the mold resin 20 and the terminal portion 26.

また、傾斜面34は、端子部26における板厚方向の互いに異なる側(Z1側,Z2側)にそれぞれ面して一対設けられているので、モールド樹脂20が端子部26に対し板厚方向の両側に剥離されることを防止できる。   In addition, since the inclined surfaces 34 are provided in pairs so as to face different sides (Z1 side, Z2 side) of the terminal portion 26 in the plate thickness direction, the mold resin 20 is provided in the plate thickness direction with respect to the terminal portion 26. It can prevent peeling on both sides.

また、傾斜面34は、端子部26の幅方向に突出した突出部28に設けられているので、端子部26の板厚方向(Z方向)だけでなく、端子部26の延在方向(X方向)にもフック効果(すなわち、モールド樹脂20に対する端子部26の相対変位を規制するように抵抗力を発揮すること)を発揮できる。従って、モールド樹脂20と端子部26との剥離が生じることを防止できることのみならず、端子部26のモールド樹脂20からの抜けも防止できる。   Moreover, since the inclined surface 34 is provided in the protrusion part 28 protruded in the width direction of the terminal part 26, not only the plate thickness direction (Z direction) of the terminal part 26 but also the extending direction (X The hook effect (that is, exerting a resistance force so as to regulate the relative displacement of the terminal portion 26 with respect to the mold resin 20) can also be exhibited. Accordingly, not only can the peeling between the mold resin 20 and the terminal portion 26 be prevented, but also the terminal portion 26 can be prevented from coming off from the mold resin 20.

また、端子部26のモールド樹脂20でモールドされた部分には、板厚方向(Z方向)に貫通する穴部36が設けられている。従って、端子部26のモールド樹脂20からの抜けをより一層防止できる。   Further, a hole portion 36 penetrating in the plate thickness direction (Z direction) is provided in a portion molded with the mold resin 20 of the terminal portion 26. Therefore, the terminal portion 26 can be further prevented from coming off from the mold resin 20.

次に、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40の変形例について説明する。   Next, a modification of the resin-encapsulated semiconductor device 40 according to the second embodiment of the present invention will be described.

上記実施形態では、傾斜面34が、端子部26の幅方向に突出した突出部28に設けられていたが、端子部26に板厚方向(Z方向)に突出する突出部が設けられ、この突出部に傾斜面34が設けられていても良い。このようにしても、モールド樹脂20と端子部26との剥離が生じることを防止できると共に、端子部26のモールド樹脂20からの抜けも防止できる。   In the above embodiment, the inclined surface 34 is provided in the protruding portion 28 protruding in the width direction of the terminal portion 26, but the protruding portion protruding in the plate thickness direction (Z direction) is provided in the terminal portion 26. An inclined surface 34 may be provided on the protruding portion. Even if it does in this way, it can prevent that the mold resin 20 and the terminal part 26 peel, and also can prevent the terminal part 26 from coming off from the mold resin 20.

また、上記実施形態では、傾斜面34が、リードフレーム18の本体部22と別体に構成された端子部26に設けられていたが、リードフレーム18の本体部22と一体に構成された端子部24に設けられていても良い。このようにすると、モールド樹脂20と端子部24との剥離が生じることを防止できる。   Moreover, in the said embodiment, although the inclined surface 34 was provided in the terminal part 26 comprised separately from the main-body part 22 of the lead frame 18, the terminal comprised integrally with the main-body part 22 of the lead frame 18 The unit 24 may be provided. If it does in this way, it can prevent that exfoliation with mold resin 20 and terminal part 24 arises.

また、傾斜面34は、リードフレーム18の本体部22に設けられていても良い。このようにすると、モールド樹脂20とリードフレーム18の本体部22又は端子部24,26との剥離が生じることを防止できる。   Further, the inclined surface 34 may be provided in the main body portion 22 of the lead frame 18. In this way, it is possible to prevent the mold resin 20 from peeling off the main body portion 22 or the terminal portions 24 and 26 of the lead frame 18.

本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す全体平面図である。1 is an overall plan view showing a configuration of a resin-encapsulated semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す要部拡大斜視図である。It is a principal part expansion perspective view which shows the structure of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す要部拡大斜視図である。It is a principal part expansion perspective view which shows the structure of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す要部拡大側面図である。It is a principal part expanded side view which shows the structure of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す要部拡大正面図である。It is a principal part enlarged front view which shows the structure of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の第一変形例の構成を示す要部拡大側面図である。It is a principal part expanded side view which shows the structure of the 1st modification of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の第一変形例の構成を示す要部拡大正面図である。It is a principal part enlarged front view which shows the structure of the 1st modification of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の第二変形例の構成を示す要部拡大側面図である。It is a principal part expanded side view which shows the structure of the 2nd modification of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の第二変形例の構成を示す要部拡大正面図である。It is a principal part enlarged front view which shows the structure of the 2nd modification of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す要部拡大斜視図である。It is a principal part expansion perspective view which shows the structure of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 2nd embodiment of this invention. 本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す要部拡大斜視図である。It is a principal part expansion perspective view which shows the structure of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on 2nd embodiment of this invention. 比較例に係る樹脂封止型半導体装置の構成を示す要部拡大斜視図である。It is a principal part expansion perspective view which shows the structure of the resin-encapsulated semiconductor device which concerns on a comparative example.

符号の説明Explanation of symbols

10,40…樹脂封止型半導体装置、12…回路基板、14…半導体素子、16…電気部品、18…リードフレーム、20…モールド樹脂、22…本体部、24,26…端子部、28…突出部、30…フック部、32,34…傾斜面 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10,40 ... Resin sealing type semiconductor device, 12 ... Circuit board, 14 ... Semiconductor element, 16 ... Electrical component, 18 ... Lead frame, 20 ... Mold resin, 22 ... Main part, 24, 26 ... Terminal part, 28 ... Projection part, 30 ... hook part, 32, 34 ... inclined surface

Claims (9)

半導体素子と、
前記半導体素子と電気的に接続されたリードフレームと、
少なくとも前記リードフレームを一体にモールドするモールド樹脂と、
前記リードフレームの前記モールド樹脂でモールドされた部分に、前記リードフレームの板厚方向に突出して設けられたフック部と、
を備えたことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
A semiconductor element;
A lead frame electrically connected to the semiconductor element;
At least a mold resin for integrally molding the lead frame;
A hook portion provided in a portion of the lead frame that is molded with the molding resin so as to protrude in the plate thickness direction of the lead frame;
A resin-encapsulated semiconductor device comprising:
前記フック部は、前記リードフレームにおける板厚方向の両側に一対設けられていることを特徴とする請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1, wherein a pair of the hook portions are provided on both sides of the lead frame in the plate thickness direction. 前記フック部は、前記リードフレームの一部が切り起こされて形成されたことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1, wherein the hook portion is formed by cutting and raising a part of the lead frame. 前記フック部は、その先端側の部分が前記リードフレームの延在方向に沿って形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置。   The resin-encapsulated semiconductor according to any one of claims 1 to 3, wherein a portion of the tip of the hook portion is formed along an extending direction of the lead frame. apparatus. 前記リードフレームは、
前記モールド樹脂でモールドされた本体部と、
前記本体部と別体で構成され、一部が前記モールド樹脂でモールドされ残余部が前記モールド樹脂の外側に突出された端子部と、
を有して構成され、
前記フック部は、前記端子部の前記一部に設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置。
The lead frame is
A main body molded with the mold resin;
A terminal part that is configured separately from the main body part, a part of which is molded with the mold resin, and a remaining part that protrudes to the outside of the mold resin,
Comprising
The resin-encapsulated semiconductor device according to any one of claims 1 to 4, wherein the hook portion is provided in the part of the terminal portion.
半導体素子と、
前記半導体素子と電気的に接続されたリードフレームと、
少なくとも前記リードフレームを一体にモールドするモールド樹脂と、
前記リードフレームの前記モールド樹脂でモールドされた部分に、前記リードフレームの板厚方向に対する傾斜方向を向くように設けられた傾斜面と、
を備えたことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
A semiconductor element;
A lead frame electrically connected to the semiconductor element;
At least a mold resin for integrally molding the lead frame;
An inclined surface provided on the portion of the lead frame molded with the molding resin so as to face an inclination direction with respect to a plate thickness direction of the lead frame;
A resin-encapsulated semiconductor device comprising:
前記傾斜面は、前記リードフレームにおける板厚方向の互いに異なる側にそれぞれ面して一対設けられていることを特徴とする請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置。   7. The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 6, wherein a pair of the inclined surfaces are provided to face different sides of the lead frame in the plate thickness direction. 前記リードフレームは、
前記モールド樹脂でモールドされた本体部と、
前記本体部と別体で構成され、一部が前記モールド樹脂でモールドされ残余部が前記モールド樹脂の外側に突出された端子部と、
を有して構成され、
前記傾斜面は、前記端子部の前記一部に設けられていることを特徴とする請求項6又は請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置。
The lead frame is
A main body molded with the mold resin;
A terminal part that is configured separately from the main body part, a part of which is molded with the mold resin, and a remaining part that protrudes to the outside of the mold resin,
Comprising
The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 6, wherein the inclined surface is provided in the part of the terminal portion.
前記傾斜面は、前記端子部における板厚方向又は幅方向に突出した部分に設けられていることを特徴とする請求項8に記載の樹脂封止型半導体装置。   The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 8, wherein the inclined surface is provided in a portion protruding in the plate thickness direction or the width direction in the terminal portion.
JP2007030581A 2007-02-09 2007-02-09 Resin seal type semiconductor device Pending JP2008198718A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007030581A JP2008198718A (en) 2007-02-09 2007-02-09 Resin seal type semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007030581A JP2008198718A (en) 2007-02-09 2007-02-09 Resin seal type semiconductor device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008198718A true JP2008198718A (en) 2008-08-28

Family

ID=39757414

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007030581A Pending JP2008198718A (en) 2007-02-09 2007-02-09 Resin seal type semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008198718A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013118215A (en) * 2011-12-01 2013-06-13 Renesas Electronics Corp Semiconductor device
US9762140B2 (en) 2015-05-11 2017-09-12 Denso Corporation Semiconductor device
WO2022138556A1 (en) * 2020-12-25 2022-06-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 Electrolytic capacitor

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4943869Y1 (en) * 1969-03-25 1974-12-02
JPS6214450A (en) * 1985-07-11 1987-01-23 Nec Corp Lead frame
JPS6358951A (en) * 1986-08-29 1988-03-14 Fujitsu Ltd Lead frame
JPS63307766A (en) * 1987-06-09 1988-12-15 Nec Corp Semiconductor device
JPH03113847A (en) * 1989-09-28 1991-05-15 Fuji Photo Film Co Ltd Data recording medium
JPH04340265A (en) * 1991-06-27 1992-11-26 Sanyo Electric Co Ltd Surface-mounting type semiconductor device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4943869Y1 (en) * 1969-03-25 1974-12-02
JPS6214450A (en) * 1985-07-11 1987-01-23 Nec Corp Lead frame
JPS6358951A (en) * 1986-08-29 1988-03-14 Fujitsu Ltd Lead frame
JPS63307766A (en) * 1987-06-09 1988-12-15 Nec Corp Semiconductor device
JPH03113847A (en) * 1989-09-28 1991-05-15 Fuji Photo Film Co Ltd Data recording medium
JPH04340265A (en) * 1991-06-27 1992-11-26 Sanyo Electric Co Ltd Surface-mounting type semiconductor device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013118215A (en) * 2011-12-01 2013-06-13 Renesas Electronics Corp Semiconductor device
US9762140B2 (en) 2015-05-11 2017-09-12 Denso Corporation Semiconductor device
WO2022138556A1 (en) * 2020-12-25 2022-06-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 Electrolytic capacitor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5252819B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP4686248B2 (en) Optical semiconductor device and optical semiconductor device manufacturing method
JP6012533B2 (en) Power semiconductor device
JP2015095474A (en) Electronic component package
JP2009049272A (en) Semiconductor device, and its manufacturing method
JP2002368176A (en) Lead frame for semiconductor electronic component
JP4940017B2 (en) Manufacturing method of electronic unit
JP2008198718A (en) Resin seal type semiconductor device
JP6755197B2 (en) Semiconductor devices and their manufacturing methods
JP6593597B2 (en) Circuit structure
JP2006032774A (en) Electronic device
JP4801004B2 (en) Electronic unit
JP6463558B1 (en) Electronic module, lead frame, and electronic module manufacturing method
JP5104020B2 (en) Mold package
JP2006203977A (en) Electrical junction box
JPH04176191A (en) Printed wiring board
JP5742623B2 (en) Semiconductor device
JP2005191162A (en) Rigid-flexible wiring board and electronic apparatus using the same
JP4651090B2 (en) Switching unit
KR100732021B1 (en) Lead frame and semiconductor device
JP4965393B2 (en) Resin-sealed semiconductor device
JP2009253153A (en) Resin seal type semiconductor device
JP2007202229A (en) Circuit component
JP4259364B2 (en) Semiconductor device
JP5144370B2 (en) Circuit structure and electrical junction box

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090218

A977 Report on retrieval

Effective date: 20090422

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110830

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120117