JP2008197731A - 静的解析結果の分析表示装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】記録部3は、静的解析結果データ20を装置内部に取り込んで記録すると共に、内部データ形式に変換して内部静的解析結果データ21を生成する。抽出加工部4は、内部静的解析結果データ21から表示に必要なデータを抽出、加工して加工データ22を生成する。問題箇所指摘部5は、問題点パターンデータ23を参照して、加工データ22からソフトウェアの問題点を抽出し、指摘する。表示部は、静的解析結果データを3次元グラフとして可視化し、問題箇所指摘部5で指摘された問題箇所を強調して表示する。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明にかかる静的解析結果の分析表示装置の実施の形態1の構成を示すブロック図である。図1に示すように、本実施の形態は、本実施の形態を制御する制御部2と、静的解析ツール(図示せず)が出力した静的解析結果データ20を装置内部に取り込んで記録すると共に、内部データ形式に変換して内部静的解析結果データ21を生成する記録部3と、内部静的解析結果データ21から表示に必要なデータを抽出、加工して加工データ22を生成する抽出加工部4と、内部静的解析結果データ21および加工データ22から、解析対象であるソフトウェアの問題点を抽出し、指摘する問題箇所指摘部5と、ユーザからのデータの入力およびユーザへのデータの出力を行う入出力装置10と、入出力装置10を介して入力されたユーザからの指示を受け取るユーザ入力部6と、抽出、加工したデータ等をユーザに表示する表示部7と、を備えて構成される。また、問題点パターンデータ23は、問題点指摘部5にて問題点を指摘するために使用される問題点パターン、および新たに抽出された問題点パターンであり、本装置内部に保持されている。なお、静的解析結果データ20は、本発明の範囲に含まれない。また、図1の実線矢印はデータの移動を示し、点線矢印は制御データの移動を示す。
図8は、本発明にかかる静的解析結果の分析表示装置の実施の形態2の出力として表示されるスペクトルの一例を示す図である。
図9は、本発明にかかる静的解析結果の分析表示装置の実施の形態3における問題点パターンの一例を示す図である。また、図10は、実施の形態3により表示された3次元グラフの一例であり、問題点を指摘している例を示す図である。本実施の形態の構成は、図1に示す実施の形態1の構成と同様であるが、問題点指摘部5の機能について詳細に説明する。
2 制御部
3 記録部
4 抽出加工部
5 問題箇所指摘部
6 ユーザ入力部
7 表示部
10 入出力装置
20 静的解析結果データ
21 内部静的解析結果データ
22 加工データ
23 問題点パターンデータ
Claims (4)
- ソフトウェアの静的解析ツールが出力する警告情報またはメトリックス情報としてのソフトウェアの品質特性情報を含む静的解析結果データを分析し、その分析結果を表示する静的解析結果の分析表示装置であって、
ユーザからの指示が入力されるユーザ入力部と、
前記ユーザ入力部を介して入力されたユーザからの指示に基づいて、分析および表示の対象となる静的解析結果データを装置内部に取り込み、記録すると共に、内部データ形式に変換して内部静的解析結果データを生成する記録部と、
前記ユーザ入力部を介して入力されたユーザからの指示に基づいて、前記内部静的解析結果データから、表示に必要なデータを抽出、加工して加工データを生成する抽出加工部と、
前記抽出加工部が生成する前記加工データに基づいて、前記品質特性が計測されたソフトウェアの構成単位、前記品質特性の種類、および前記品質特性の評価値の3自由度を同時にグラフ化することにより、前記静的解析結果データを可視化する表示部と、
前記ユーザ入力部、前記記録部、前記抽出加工部、および前記表示部を含む装置の制御を行う制御部と、
を備えることを特徴とする静的解析結果の分析表示装置。 - 前記表示部は、前記3自由度を同時にグラフ化するために、3次元グラフ、または明度もしくは色相により色付けされたスペクトルを用いて表示することを特徴とする請求項1に記載の静的解析結果の分析表示装置。
- 前記表示部は、入力される複数の静的解析結果データに対して、前記複数の静的解析データを相互に比較できるように同一の指標で正規化された3次元グラフにて表示することを特徴とする請求項1または2に記載の静的解析結果の分析表示装置。
- 既存のソフトウェアにおける過去の不具合発生データに基づいて作成され、ソフトウェアに発生した問題箇所とそれらの相互関係をパターン化したデータである問題点パターンデータを参照し、前記加工データと前記問題点パターンデータとを同一の指標で正規化することによりグラフ上で相互に比較できるようにマッピングを行い、前記加工データに前記問題点パターンデータで表される問題点パターンが存在するか否かを、パターンの類似性を評価して判定し、前記加工データに問題箇所が存在すると判定されたときには、その問題箇所を指摘する表示を前記表示部にさせる問題箇所指摘部を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の静的解析結果の分析表示装置。
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