JP2008192788A - Electronic part - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、絶縁体ブロックの表面に複数の端子電極を持つ電子部品に関するものである。 The present invention relates to an electronic component having a plurality of terminal electrodes on the surface of an insulator block.
多端子構造の電子部品において、個々の端子のメッキ厚を一定化させる手法として、従来、図3に示されるようにバレルメッキ時にバレルが当たりやすい電子部品の外側の端子電極1aを、バレルの当たりにくい内側の端子電極1bより小さくすることにより、バレルの当たる確率を調節しメッキ厚を一定化させていた。
In an electronic component having a multi-terminal structure, as a technique for making the plating thickness of each terminal constant, conventionally, as shown in FIG. By making it smaller than the difficult
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
電子部品の高密度実装が進む中、電子部品のランド・グリッド・アレイ(以下、LGAと称す。)化が進められるようになり、LGA化された電子部品において先に述べたように外側の端子電極1aの大きさを内側の端子電極1bものより小さく設定し電極厚を一定化した場合、外部応力の加わりやすい実装面の外側の端子電極1aが小さくなってしまい接続強度不足の原因となっていた。
With the progress of high-density mounting of electronic components, the use of electronic components in the form of land grid arrays (hereinafter referred to as LGA) has been promoted. When the size of the electrode 1a is set smaller than that of the
そこで、本発明はこのような問題を解決し電子部品の接続強度を高めることを目的とする。 Accordingly, the present invention aims to solve such problems and increase the connection strength of electronic components.
この問題を解決するため本発明は、絶縁体ブロックの実装面において2つ以上設けられた第1の端子電極と、この第1の端子電極と略同じ大きさで第1の端子電極より少なく設けられた第2の端子電極と、絶縁体ブロックの内部で第1の端子電極の全てを直流的に接続する第1の内部電極と、第2の端子電極が複数の場合に絶縁体ブロックの内部で第2の端子電極の全てを直流的に接続する第2の内部電極を備え、第1の端子電極および第2の端子電極はそれぞれ電気導通性を有する下地層とこの下地層を覆う電解メッキ層からなり、第1の端子電極の下地層の大きさを第2の端子電極の下地層の大きさより小さくしたのである。 In order to solve this problem, the present invention provides two or more first terminal electrodes provided on the mounting surface of the insulator block, and the first terminal electrode is substantially the same size as the first terminal electrode and provided less than the first terminal electrode. The second terminal electrode, the first internal electrode that connects all of the first terminal electrodes in a DC manner inside the insulator block, and the interior of the insulator block when there are a plurality of second terminal electrodes. And a second internal electrode for connecting all of the second terminal electrodes in a DC manner, and the first terminal electrode and the second terminal electrode are each an electrically conductive underlayer and electrolytic plating covering the underlayer. The size of the base layer of the first terminal electrode is made smaller than the size of the base layer of the second terminal electrode.
本発明によれば、電子部品をこのような構成とすることにより電子部品の接続強度を高めることが出来るのである。 According to the present invention, the connection strength of the electronic component can be increased by configuring the electronic component in such a configuration.
図1は本発明の一実施形態を示す電子部品を示す模式図であり、複数のセラミック層からなる絶縁体ブロック2の内層に所定の回路を構成する内部電極3a,3bおよびビアホール4が適宜配置されたものであり、この電子部品の実装面となる上面には電子部品の入出力接続するための端子電極5aと、グランド接続するための端子電極5bが設けられたLGA構造となっている。また、内部電極3a,3bは入出力接続用の端子電極5a間を直流的に接続(以下、DC接続と称する。)する内部電極3aと、グランド接続用の端子電極5bをそれぞれDC接続し電子部品のシールド性を確保する内部電極3bを示している。
FIG. 1 is a schematic view showing an electronic component according to an embodiment of the present invention. Internal electrodes 3a and 3b and via
なお、内部電極3bは電子部品のシールド性を向上させるために絶縁体ブロック2における内層領域のほぼ全面に設けられており、グランド接続用の端子電極3bは内部電極3bのグランド電位を安定化させるため入出力接続用の端子電極3aに比べ多く設けられている。
The internal electrode 3b is provided on almost the entire inner layer region in the
そして、この電子部品の実装面に設けられた端子電極5a,5bは図2に示されるごとく、先ず絶縁体ブロック2の実装面上にAgの下地層6をメタライズにより形成し、次いでこの下地層6の表面に電解メッキによりNi−Snの電解メッキ層7を形成している。
As shown in FIG. 2, the
ここで、この電子部品においては、入出力接続用の端子電極5aとグランド接続用の端子電極5bを比較して電解メッキ層7の大きさが同じであるのに対して下地層6の大きさを異ならせることで電子部品の接続強度を向上させているのである。
Here, in this electronic component, the size of the
すなわち、入出力接続用の端子電極5aは内部電極3aによりDC接続されており、グランド接続用の端子電極5bも内部電極3bによりDC接続されている。つまりDC接続された端子数が多いグランド接続用の端子電極5bの下地層6の大きさを入出力接続用の端子電極5aの下地層6より小さく設定することにより、従来のように端子電極5a,5bの大きさを変えることなく電解メッキにより形成する電極厚みを一定化させることが出来るのである。
That is, the terminal electrode 5a for input / output connection is DC-connected by the internal electrode 3a, and the
なぜなら、電解メッキにおけるバレルが一つの端子電極5aに接触したとしても、この端子電極とDC接続された他の端子電極5aについても電気が導通するので両方の端子電極5aに対して同時にメッキ層が形成される。そして、入出力接続用の端子電極5aとグランド接続用の端子電極5bのように、DC接続された端子数が異なる場合、バレルの接触確率がそのDC接続数に比例するため、DC接続数の多いグランド接続用の端子電極5bの下地層6の大きさをDC接続数の少ない入出力接続用の端子電極5aの下地層6の大きさより小さくすることで、いずれの端子電極5a,5bにおける最終形状の大きさ、つまりメッキ層7の大きさを異ならせなくとも端子電極5a,5bの厚みを一定と出来るのである。
This is because even if the barrel in electrolytic plating comes into contact with one terminal electrode 5a, electricity is conducted to the other terminal electrode 5a DC-connected to this terminal electrode, so that a plating layer is simultaneously formed on both terminal electrodes 5a. It is formed. When the number of DC-connected terminals is different like the terminal electrode 5a for input / output connection and the
そして、この実施形態の電子部品のようにLGA構造となっている場合、その端子電極5a,5bの厚みを一定化させるため、従来であれば端子電極5a,5bの形状を異ならせ、これにより電子部品の接続強度を確保することが困難であったが、以上のように端子電極5a,5bの大きさを変えることなくメッキ厚を一定なものと出来ることから、LGAタイプの電子部品の接続強度を高めることが出来るのである。
And when it is LGA structure like the electronic component of this embodiment, in order to make the thickness of the
なお、この一実施形態において端子電極5a,5bは入出力接続用のものとグランド接続用のものを例に挙げて説明したが、これに限らずDC接続された端子数の割合に応じて適宜下地層の大きさを設定することで同様の作用効果が得られる。
In this embodiment, the
本発明によれば、電子部品をこのような構成とすることにより電子部品の接続強度を高めることが出来るのである。 According to the present invention, the connection strength of the electronic component can be increased by configuring the electronic component in such a configuration.
2 絶縁体ブロック
3a 第2の内部電極
3b 第1の内部電極
5a 第2の端子電極
5b 第1の端子電極
6 下地層
7 電解メッキ層
2 Insulator block 3a Second internal electrode 3b First internal electrode 5a
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007025019A JP2008192788A (en) | 2007-02-05 | 2007-02-05 | Electronic part |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007025019A JP2008192788A (en) | 2007-02-05 | 2007-02-05 | Electronic part |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2008192788A true JP2008192788A (en) | 2008-08-21 |
Family
ID=39752616
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007025019A Pending JP2008192788A (en) | 2007-02-05 | 2007-02-05 | Electronic part |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2008192788A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2149820A1 (en) | 2008-07-25 | 2010-02-03 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Tandem type photosensitive unit and image forming apparatus |
JP2016149424A (en) * | 2015-02-12 | 2016-08-18 | Tdk株式会社 | Stack penetration capacitor |
JP2016149426A (en) * | 2015-02-12 | 2016-08-18 | Tdk株式会社 | Stack penetration capacitor |
-
2007
- 2007-02-05 JP JP2007025019A patent/JP2008192788A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2016149424A (en) * | 2015-02-12 | 2016-08-18 | Tdk株式会社 | Stack penetration capacitor |
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