JP2008166699A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】モールド成形時の樹脂の流れを制御してモールド樹脂の品質を確保する。
【解決手段】樹脂封止型半導体装置10は、半導体素子14と、半導体素子14が実装された回路基板12と、半導体素子14と隣接して回路基板12に配置され、樹脂モールド成形時に回路基板上を流れる樹脂の流動状態を制御するための樹脂流動状態制御部材20と、半導体素子14、回路基板12、及び樹脂流動状態制御部材20を一体に封止するモールド樹脂28と、を備える。従って、モールド成形時には、樹脂流動状態制御部材20によって、樹脂の流れのアンバランス等を解消することができ、樹脂にボイドやエアトラップなどを生じさせない均一な樹脂充填が可能となる。これにより、モールド樹脂28の品質を確保することができる。
【選択図】図1
【解決手段】樹脂封止型半導体装置10は、半導体素子14と、半導体素子14が実装された回路基板12と、半導体素子14と隣接して回路基板12に配置され、樹脂モールド成形時に回路基板上を流れる樹脂の流動状態を制御するための樹脂流動状態制御部材20と、半導体素子14、回路基板12、及び樹脂流動状態制御部材20を一体に封止するモールド樹脂28と、を備える。従って、モールド成形時には、樹脂流動状態制御部材20によって、樹脂の流れのアンバランス等を解消することができ、樹脂にボイドやエアトラップなどを生じさせない均一な樹脂充填が可能となる。これにより、モールド樹脂28の品質を確保することができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、樹脂封止型半導体装置に係り、特に、半導体素子を被実装部材に実装した状態で、この半導体素子及び被実装部材をモールド成形してモールド樹脂と一体化した樹脂封止型半導体装置に関する。
例えば、自動車用のモータコントローラとして、制御用の半導体素子がモールド樹脂で封止された樹脂封止型半導体装置がある。この樹脂封止型半導体装置では、一般に、その全体のパッケージの厚さが厚いためにモールド成形時に樹脂流れのアンバランスやエアトラップ等が発生し、これらがモールド樹脂の品質の低下を招くことがある。樹脂封止型半導体装置をモールド成形するための金型は形状が単純な方がコストの観点からも望ましく、また標準化の観点からは金型の中身(例えば、半導体素子等)のバリエーションを増やしても金型の形状が同一であることが望ましい。
一方、モールド樹脂の品質を確保するためには、モールド成形時に樹脂にボイドやエアトラップなどを生じさせない均一な樹脂充填が重要となる。この樹脂充填には、インジェクション工程時の樹脂の流れ込みの全体の速度バランスが大きく影響することが知られている。
しかしながら、金型の中身(例えば、半導体素子等)の構成が変われば樹脂流れが変動し、樹脂の流れ込みの速度を均一にするためにはモールド樹脂を最適な形状にする必要がある。このことから、モールド樹脂の形状のバリエーションが増える傾向にあった。また、樹脂流れについてシミュレーションを実施することもあるが実際の樹脂流れとシミュレーションの結果とが一致するとは限らず、実際の金型の微調整や追加工が必要となり、しばしば開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くなどの問題があった。
例えば、この種の樹脂封止型半導体装置において、モールド成形時の樹脂の流れを制御するようにしたものとしては、例えば、次のものがある(例えば、特許文献1参照)。この特許文献1に記載の例では、リードフレームの一部にダミーリードを設けている。ところが、このように、ダミーリードを樹脂流れの制御に使用する場合、使用可能なリードの(端子)数に制限が生じる結果となる。また、金型の中身(例えば、半導体素子等)の構成が変更された場合には、ダミーリードの変更を要するが、このダミーリードはリードフレームの一部であるために、リードフレームという比較的に大きな部品の変更に伴って金型の変更を要し、結局のところ、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことになる。
特開平6−104364号公報
特開平4−92459号公報
特開平5−190733号公報
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであって、その目的は、金型の中身(例えば、半導体素子等)の構成が変更された場合でも、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことなく、モールド成形時の樹脂の流れを制御してモールド樹脂の品質を確保することができる樹脂封止型半導体装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置は、半導体素子と、前記制御素子が実装された被実装部材と、前記半導体素子と隣接して前記被実装部材に配置され、樹脂モールド成形時に前記被実装部材上を流れる樹脂の流動状態を制御するための樹脂流動状態制御部材と、前記半導体素子、前記被実装部材、及び前記樹脂流動状態制御部材を一体に封止するモールド樹脂と、を備えたことを特徴とする。
請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置では、例えば、半導体素子が被実装部材に実装されると共に、この被実装部材に樹脂流動状態制御部材が配置された状態で、これらが金型内にセットされる。そして、金型内に樹脂が充填されると、この樹脂が硬化されてモールド樹脂が形成され、このモールド樹脂によって、半導体素子、被実装部材、及び樹脂流動状態制御部材が一体に封止される。
ここで、上述の金型を用いたモールド成形時には、樹脂が被実装部材上を流れる。このとき、この被実装部材には樹脂流動状態制御部材が配置されているので、この樹脂流動状態制御部材が樹脂の流れに対し抵抗となることによって、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などが制御される。従って、この樹脂流動状態制御部材の形状や配置等を最適に構成すれば、樹脂の流動状態を最適化することができ、モールド成形時に樹脂にボイドやエアトラップなどを生じさせない均一な樹脂充填が可能となる。これにより、モールド樹脂の品質を確保することができる。
また、金型の中身(例えば、半導体素子等)の構成が変更された場合でも、樹脂流動状態制御部材の形状や配置等を変更すれば、被実装部材上を流れる樹脂の流動状態を最適に制御することができる。これにより、金型の変更を必要とせず、樹脂流動状態制御部材の変更のみで足りるので、この結果、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
このように、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置によれば、金型の中身(例えば、半導体素子等)の構成が変更された場合でも、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことなく、モールド成形時の樹脂の流れを制御してモールド樹脂の品質を確保することができる。
請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記樹脂流動状態制御部材は、前記被実装部材に固定されていることを特徴とする。
請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置では、被実装部材に樹脂流動状態制御部材が固定された状態で、これらが金型内にセットされる。従って、モールド成形時に樹脂流動状態制御部材を金型等によって位置決めする必要が無い。この結果、樹脂流動状態制御部材の形状や配置等の変更が必要となった場合でも、金型の変更を必要とせず、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
請求項3に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記樹脂流動状態制御部材には、樹脂モールド成形時に前記被実装部材上を流れる樹脂と接する部位に凹部又は孔部が設けられていることを特徴とする。
請求項3に記載の樹脂封止型半導体装置では、上述の金型を用いたモールド成形時には、樹脂が被実装部材上を流れるが、このときの樹脂は、被実装部材に設けられた樹脂流動状態制御部材の凹部又は孔部を通過する。従って、この樹脂流動状態制御部材の凹部又は孔部の形状や配置等を最適に設定すれば、樹脂の流動状態(特に、流速)をより最適化することができる。
請求項4に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記樹脂流動状態制御部材は、前記半導体素子を冷却するための放熱板、前記半導体素子をシールドするためのシールド板、前記半導体素子を流れる電流を検出するための電流検出器の少なくともいずれかの機能を兼ね備えることを特徴とする。
請求項4に記載の樹脂封止型半導体装置では、樹脂流動状態制御部材が、半導体素子を冷却するための放熱板、半導体素子をシールドするためのシールド板、半導体素子を流れる電流を検出するための電流検出器の少なくともいずれかの機能を兼ね備えるので、部材の共有化によりコストを削減することができる。
請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記樹脂流動状態制御部材は、前記半導体素子の作動に非関与状態で前記被実装部材に配置されたダミーワイヤボンディングとされていることを特徴とする。
請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置では、樹脂流動状態制御部材としてダミーワイヤボンディングが用いられている。このダミーワイヤボンディングは、半導体素子の作動に関与状態で被実装部材に配置される他のワイヤボンディングと同部材且つ同工程で被実装部材に配置することができる。従って、部品種類の増加及び製造工程の増加を防ぐことができるので、大幅なコストアップを招くことなく、モールド成形時における樹脂の流動状態を制御することができる。
さらに、このダミーワイヤボンディングは、半導体素子の作動に非関与状態で被実装部材に配置されるので、モールド成形時に樹脂の流動に伴って被実装部材から剥離される方向に力を受けた場合でも、半導体素子に電気的な接続不良等が発生することを抑制できる。
請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記ダミーワイヤボンディングは、前記半導体素子と電気的に非接続とされていることを特徴とする。
請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置では、ダミーワイヤボンディングが半導体素子と電気的に非接続とされているので、これにより、ダミーワイヤボンディングを半導体素子の作動に非関与状態とすることができる。
請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項5又は請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記ダミーワイヤボンディングは、複数設けられていることを特徴とする。
請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置では、ダミーワイヤボンディングが複数設けられているので、例えば、この複数のダミーワイヤボンディングの本数を最適に設定することで、樹脂の流動状態を簡単に最適化することができる。
請求項8に記載の樹脂封止型半導体装置は、請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置において、前記複数のダミーワイヤボンディングのうち少なくとも一つのダミーワイヤボンディングは、他のダミーワイヤボンディングと形態が異なっていることを特徴とする。
請求項8に記載の樹脂封止型半導体装置では、例えば、この複数のダミーワイヤボンディングのうち少なくとも一つのダミーワイヤボンディングの形態(例えば、被実装部材からの突出高さ、太さ、ループの大きさ等)が、この複数のダミーワイヤボンディングのうちの他のダミーワイヤボンディングと異なっていることで、樹脂の流動状態をより最適化することができる。
[第一実施形態]
以下、図1乃至図3に基づき本発明の第一実施形態について説明する。
以下、図1乃至図3に基づき本発明の第一実施形態について説明する。
図1乃至図3は、本発明の第一実施形態を示す図であり、図1は樹脂封止型半導体装置10の全体構成を示す斜視図、図2は樹脂封止型半導体装置10の側面断面図、図3は樹脂封止型半導体装置10に設けられた樹脂流動状態制御部材20の斜視図である。
はじめに、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の構成について説明する。
図1に示される本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10は、例えば、自動車に搭載されたモータを駆動するために該モータに一体的に取り付けられる制御回路用の装置である。この樹脂封止型半導体装置10には、被実装部材としての回路基板12が設けられている。回路基板12は、セラミックス材料により構成され、その表面に図示しない回路パターンが形成されて構成されている。
回路基板12には、半導体素子14及びその他周辺の電気部品16(例えば、チップ抵抗など)が実装されている。半導体素子14としては、例えばSOP(Small Outline Package)等の小型のものが使用されている。この半導体素子14には、側部に複数のリード部18が設けられている。そして、この半導体素子14及びその他の周辺の電気部品16は、上述の回路基板12の回路パターンに半田付けにより電気的に接続されている。
また、回路基板12には、半導体素子14と隣接して樹脂流動状態制御部材20が実装されて固定されている。樹脂流動状態制御部材20は、例えば平板が板金加工等により折り曲げられることで凸字状に構成されたものである。この樹脂流動状態制御部材20には、後述する如く、樹脂モールド成形時に回路基板12上を流れる樹脂と接する一対の側壁部22に孔部24が設けられている。この孔部24は、モールド成形時の樹脂の流れの方向(矢印X)に沿って貫通して形成されている。
そして、この一対の側壁部22を備えた樹脂流動状態制御部材20は、後に詳述するように、モールド成形時に回路基板12上を流れる樹脂に対し、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などを最適化することができるように、その形状や配置等が予め最適に設定されて構成されている。
また、この半導体素子14及びその他の周辺の電気部品16が半田付けされた回路基板12は、リードフレーム26の表面に接着材を用いて固定されている。リードフレーム26は、例えば銅合金等で構成された板が機械加工されることにより構成されたものである。また、このリードフレーム26と回路基板12とは、アルミニウム又は金を用いた細線(不図示)により電気的に接続されている。この細線は、ダミーワイヤボンディング工法により配線される。
そして、上述の半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、樹脂流動状態制御部材20、回路基板12、及び、リードフレーム26は、その全体がモールド成形されることによってモールド樹脂28により封止されている。なお、リードフレーム26の端子30は、モールド樹脂28の外部に突出されて外部の装置と接続可能となっている。
次に、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の作用及び効果について説明する。
本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10では、例えば、半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、樹脂流動状態制御部材20が回路基板12に実装されると共に、この回路基板12がリードフレーム26の表面に固定された状態で、これらが金型内にセットされる。そして、金型内に樹脂が充填されると、この樹脂が硬化されてモールド樹脂28が形成され、このモールド樹脂28によって、半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、樹脂流動状態制御部材20、回路基板12、及び、リードフレーム26が一体に封止される。
ここで、上述の金型を用いたモールド成形時には、矢印Xで示されるように、樹脂が回路基板12上を流れる。このとき、この回路基板12には樹脂流動状態制御部材20が配置されているので、この樹脂流動状態制御部材20が樹脂の流れに対し抵抗となることによって、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などが最適に制御される。
つまり、樹脂流動状態制御部材20を用いない場合には、樹脂が半導体素子14を挟んだ両側に周り込み、この際に二つの樹脂の流れの速さ等にアンバランスが生じ、樹脂にボイドやエアトラップなどが生じるが、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10では、樹脂の流れのアンバランス等を解消することができ、モールド成形時に樹脂にボイドやエアトラップなどを生じさせない均一な樹脂充填が可能となる。これにより、モールド樹脂28の品質を確保することができる。
また、金型の中身(例えば、半導体素子14等)の構成が変更された場合でも、樹脂流動状態制御部材20の形状(例えば、孔部24の配置位置、配置数、その他形状等)や配置等を適宜変更することで、回路基板12上を流れる樹脂の流動状態を最適に制御することができる。これにより、金型の変更を必要とせず、樹脂流動状態制御部材20の変更のみで足りるので、この結果、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
このように、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10によれば、金型の中身(例えば、半導体素子14等)の構成が変更された場合でも、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことなく、モールド成形時の樹脂の流れを制御してモールド樹脂28の品質を確保することができる。
また、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10では、回路基板12に樹脂流動状態制御部材20が固定された状態で、これらが金型内にセットされる。従って、モールド成形時に樹脂流動状態制御部材20を金型等によって位置決めする必要が無い。この結果、樹脂流動状態制御部材20の形状や配置等の変更が必要となった場合でも、金型の変更を必要とせず、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
さらに、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10では、上述の金型を用いたモールド成形時には、矢印Xで示されるように、樹脂が回路基板12上を流れるが、このときの樹脂は、回路基板12に設けられた樹脂流動状態制御部材20の孔部24を通過する。従って、この樹脂流動状態制御部材20の孔部24によって樹脂の流動状態(特に、流速)をより最適化することができる。
次に、本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10の変形例について説明する。
上記実施形態では、樹脂流動状態制御部材20に孔部24が設けられていたが、樹脂流動状態制御部材20には、孔部24の代わりに凹部が設けられていても良い。このようにしても、この凹部によって樹脂の流動状態(特に、流速)をより最適化することができる。また、樹脂流動状態制御部材20には、孔部24と凹部の両方が設けられていても良い。
また、上記実施形態では、半導体素子14が被実装部材としての回路基板12に実装されると共に回路基板12がリードフレーム26の上に固定された状態で、半導体素子14、樹脂流動状態制御部材20、回路基板12、及び、リードフレーム26の全体がモールド成形されることによってモールド樹脂28により封止されていたが、回路基板12を省いた構成とされると共に半導体素子14が実装部材としてのリードフレーム26に電気的に接続された上で、半導体素子14、樹脂流動状態制御部材20、及び、リードフレーム26の全体がモールド成形されることによってモールド樹脂28により封止されていても良い。
[第二実施形態]
以下、図4乃至図6に基づき本発明の第二実施形態について説明する。
以下、図4乃至図6に基づき本発明の第二実施形態について説明する。
図4乃至図6は、本発明の第二実施形態を示す図であり、図4は樹脂封止型半導体装置40の全体構成を示す斜視図、図5は樹脂封止型半導体装置40の側面断面図、図6は樹脂封止型半導体装置40に設けられた樹脂流動状態制御部材50の斜視図である。
はじめに、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40の構成について説明する。
本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40は、上述の本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10に対し、樹脂流動状態制御部材20の代わりに樹脂流動状態制御部材50を設けたものである。なお、本発明の第二実施形態において、樹脂流動状態制御部材50以外の構成については、上述の本発明の第一実施形態と同一であるので、上述の本発明の第一実施形態と同一の符号を用いることとしてその詳細な説明を省略する。
本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40において、樹脂流動状態制御部材50は、例えばアルミニウム等の金属材料で構成され、半導体素子14を上方から覆う上壁部51を備えた構成とされている。この上壁部51は、半導体素子14の上面の略全域に密着して設けられている。樹脂流動状態制御部材50は、この上壁部51を備えることにより、半導体素子14を冷却するための放熱板、及び、半導体素子14をシールドするためのシールド板の機能を兼ね備える構成とされている。なお、この樹脂流動状態制御部材50は、上壁部51に重畳したノイズを回路基板12へ逃すために、回路基板12上の基準電位(ゼロボルト:安定電位)に半田付け等によって接続されている。
また、上壁部51の両側には、回路基板12上に上壁部51を支持するための側壁部52が設けられている。この側壁部52は、後述する如く、樹脂モールド成形時に回路基板12上を流れる樹脂と接する位置に設けられている。また、側壁部52には、モールド成形時の樹脂の流れの方向(矢印X)に沿って貫通して形成された孔部54が設けられている。
そして、この上壁部51及び側壁部52を備えた樹脂流動状態制御部材50は、後に詳述するように、モールド成形時に回路基板12上を流れる樹脂に対し、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などを最適化することができるように、その形状や配置等が予め最適に設定されて構成されている。
次に、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40の作用及び効果について説明する。
本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、例えば、半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、樹脂流動状態制御部材50が回路基板12に実装されると共に、この回路基板12がリードフレーム26の表面に固定された状態で、これらが金型内にセットされる。そして、金型内に樹脂が充填されると、この樹脂が硬化されてモールド樹脂28が形成され、このモールド樹脂28によって、半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、樹脂流動状態制御部材50、回路基板12、及び、リードフレーム26が一体に封止される。
ここで、上述の金型を用いたモールド成形時には、矢印Xで示されるように、樹脂が回路基板12上を流れる。このとき、この回路基板12には樹脂流動状態制御部材50が配置されているので、この樹脂流動状態制御部材50が樹脂の流れに対し抵抗となることによって、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などが最適に制御される。
つまり、樹脂流動状態制御部材50を用いない場合には、樹脂が半導体素子14を挟んだ両側に周り込み、この際に二つの樹脂の流れの速さ等にアンバランスが生じ、樹脂にボイドやエアトラップなどが生じるが、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、樹脂の流れのアンバランス等を解消することができ、モールド成形時に樹脂にボイドやエアトラップなどを生じさせない均一な樹脂充填が可能となる。これにより、モールド樹脂28の品質を確保することができる。
また、金型の中身(例えば、半導体素子14等)の構成が変更された場合でも、樹脂流動状態制御部材50の形状(例えば、孔部54の配置位置、配置数、その他形状等)や配置等を適宜変更することで、回路基板12上を流れる樹脂の流動状態を最適に制御することができる。これにより、金型の変更を必要とせず、樹脂流動状態制御部材50の変更のみで足りるので、この結果、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
このように、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40によれば、金型の中身(例えば、半導体素子14等)の構成が変更された場合でも、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことなく、モールド成形時の樹脂の流れを制御してモールド樹脂28の品質を確保することができる。
また、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、回路基板12に樹脂流動状態制御部材50が固定された状態で、これらが金型内にセットされる。従って、モールド成形時に樹脂流動状態制御部材50を金型等によって位置決めする必要が無い。この結果、樹脂流動状態制御部材50の形状や配置等の変更が必要となった場合でも、金型の変更を必要とせず、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
さらに、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、上述の金型を用いたモールド成形時には、矢印Xで示されるように、樹脂が回路基板12上を流れるが、このときの樹脂は、回路基板12に設けられた樹脂流動状態制御部材50の孔部54を通過する。従って、この樹脂流動状態制御部材50の孔部54によって樹脂の流動状態(特に、流速)をより最適化することができる。
また、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40では、樹脂流動状態制御部材50が、半導体素子14を冷却するための放熱板、及び、半導体素子14をシールドするためのシールド板の機能を兼ね備えるので、部材の共有化によりコストを削減することができる。
次に、本発明の第二実施形態に係る樹脂封止型半導体装置40の変形例について説明する。
上記実施形態では、樹脂流動状態制御部材50に孔部54が設けられていたが、樹脂流動状態制御部材50には、孔部54の代わりに凹部が設けられていても良い。このようにしても、この凹部によって樹脂の流動状態(特に、流速)をより最適化することができる。また、樹脂流動状態制御部材50には、孔部54と凹部の両方が設けられていても良い。
また、上記実施形態では、樹脂流動状態制御部材50が、半導体素子14を冷却するための放熱板、及び、半導体素子14をシールドするためのシールド板の機能を兼ね備える構成とされていたが、樹脂流動状態制御部材50が、半導体素子14を冷却するための放熱板、半導体素子14をシールドするためのシールド板、半導体素子14を流れる電流を検出するための電流検出器の少なくともいずれかの機能を兼ね備える構成とされていても良い。
また、樹脂流動状態制御部材50が、回路基板12に実装されたダミーチップ抵抗等によって構成されていても良い。このように構成されていても、モールド成形時に、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などを最適に制御することができる。
また、上記実施形態では、半導体素子14が被実装部材としての回路基板12に実装されると共に回路基板12がリードフレーム26の上に固定された状態で、半導体素子14、樹脂流動状態制御部材50、回路基板12、及び、リードフレーム26の全体がモールド成形されることによってモールド樹脂28により封止されていたが、回路基板12を省いた構成とされると共に半導体素子14が実装部材としてのリードフレーム26に電気的に接続された上で、半導体素子14、樹脂流動状態制御部材50、及び、リードフレーム26の全体がモールド成形されることによってモールド樹脂28により封止されていても良い。
[第三実施形態]
以下、図7に基づき本発明の第三実施形態について説明する。
以下、図7に基づき本発明の第三実施形態について説明する。
図7は、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60の全体構成を示す斜視図である。
はじめに、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60の構成について説明する。
本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60は、上述の本発明の第一実施形態に係る樹脂封止型半導体装置10に対し、樹脂流動状態制御部材20の代わりに樹脂流動状態制御部材としてのダミーワイヤボンディング70を複数設けたものである。なお、本発明の第三実施形態において、ダミーワイヤボンディング70以外の構成については、上述の本発明の第一実施形態と同一であるので、上述の本発明の第一実施形態と同一の符号を用いることとしてその詳細な説明を省略する。
本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60において、複数のダミーワイヤボンディング70は、それぞれ両端部が回路基板12上に形成された一対のパッド部62と半田付け等によって電気的に接続されており、且つ、半導体素子14とは電気的に非接続とされている。さらに、この複数のダミーワイヤボンディング70は、後に詳述するように、モールド成形時に回路基板12上を流れる樹脂に対し、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などを最適化することができるように、その形状や配置等が予め最適に設定されて構成されている。なお、この複数のダミーワイヤボンディング70は、互いに同形状とされている。
次に、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60の作用及び効果について説明する。
本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60では、例えば、半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、複数のダミーワイヤボンディング70が回路基板12に実装されると共に、この回路基板12がリードフレーム26の表面に固定された状態で、これらが金型内にセットされる。そして、金型内に樹脂が充填されると、この樹脂が硬化されてモールド樹脂28が形成され、このモールド樹脂28によって、半導体素子14、その他の周辺の電気部品16、複数のダミーワイヤボンディング70、回路基板12、及び、リードフレーム26が一体に封止される。
ここで、上述の金型を用いたモールド成形時には、矢印Xで示されるように、樹脂が回路基板12上を流れる。このとき、この回路基板12には複数のダミーワイヤボンディング70が配置されているので、この複数のダミーワイヤボンディング70が樹脂の流れに対し抵抗となることによって、樹脂の流動状態、すなわち、例えば、樹脂の流量、流速、流動方向などが最適に制御される。
つまり、複数のダミーワイヤボンディング70を用いない場合には、樹脂が半導体素子14を挟んだ両側に周り込み、この際に二つの樹脂の流れの速さ等にアンバランスが生じ、樹脂にボイドやエアトラップなどが生じるが、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60では、樹脂の流れのアンバランス等を解消することができ、モールド成形時に樹脂にボイドやエアトラップなどを生じさせない均一な樹脂充填が可能となる。これにより、モールド樹脂28の品質を確保することができる。
また、金型の中身(例えば、半導体素子14等)の構成が変更された場合でも、例えば、複数のダミーワイヤボンディング70の本数を適宜変更することで、回路基板12上を流れる樹脂の流動状態を最適に制御することができる。これにより、金型の変更を必要とせず、複数のダミーワイヤボンディング70の本数の変更のみで足りるので、この結果、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
このように、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60によれば、金型の中身(例えば、半導体素子14等)の構成が変更された場合でも、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことなく、モールド成形時の樹脂の流れを制御してモールド樹脂28の品質を確保することができる。
また、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60では、回路基板12に複数のダミーワイヤボンディング70が固定された状態で、これらが金型内にセットされる。従って、モールド成形時に複数のダミーワイヤボンディング70を金型等によって位置決めする必要が無い。この結果、複数のダミーワイヤボンディング70の本数の変更が必要となった場合でも、金型の変更を必要とせず、開発期間の延伸やイニシャルコストの上昇を招くことを防止できる。
また、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60では、樹脂流動状態制御部材としてダミーワイヤボンディング70が用いられている。このダミーワイヤボンディング70は、半導体素子14の作動に関与状態(すなわち、半導体措置14と電気的に接続された状態)で回路基板12に配置される他のワイヤボンディングと同部材且つ同工程で回路基板12に配置することができる。従って、部品種類の増加及び製造工程の増加を防ぐことができるので、大幅なコストアップを招くことなく、モールド成形時における樹脂の流動状態を制御することができる。
また、放熱板、シールド板、電流検出器の少なくともいずれかの機能を兼ね備えた樹脂流動状態制御部材によってモールド成形時における樹脂の流動状態を制御するようにした場合、製品によってはこれらの機能を有する樹脂流動状態制御部材が必要の無いこともある。この点、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60では、樹脂流動状態制御部材としてダミーワイヤボンディング70が用いられているため、放熱板、シールド板、電流検出器の機能が不要にもかかわらず、これらの機能を兼ね備えた樹脂流動状態制御部材を用いる必要が無く、コストダウンを図ることができる。
さらに、このダミーワイヤボンディング70は、半導体素子14と電気的に非接続とされることで半導体素子14の作動に非関与状態で回路基板上に実装されている。従って、モールド成形時に樹脂の流動に伴って回路基板12から剥離される方向に力を受けた場合でも、半導体素子14に電気的な接続不良等が発生することを抑制できる。
また、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60では、ダミーワイヤボンディング70が複数設けられているので、例えば、この複数のダミーワイヤボンディング70の本数を最適に設定することで、樹脂の流動状態を簡単に最適化することができる。
次に、本発明の第三実施形態に係る樹脂封止型半導体装置60の変形例について説明する。
上記実施形態では、複数のダミーワイヤボンディング70が、互いに同形状とされていたが、例えば、図8に示されるように、互いの形態(例えば、回路基板12からの突出高さ、太さ、ループの大きさ等)が異なっていても良い。また、この場合に、複数のダミーワイヤボンディング70の全てが互いに異なる形態を有している必要は無く、樹脂の流動状態に応じて、複数のダミーワイヤボンディング70のうち少なくとも一つのダミーワイヤボンディング70が、他のダミーワイヤボンディング70と異なる形態を有していても良い。
このように、複数のダミーワイヤボンディング70のうち少なくとも一つのダミーワイヤボンディング70の形態(例えば、被実装部材からの突出高さ、太さ、ループの大きさ等)が、この複数のダミーワイヤボンディング70のうちの他のダミーワイヤボンディング70と異なっていることで、樹脂の流動状態をより最適化することができる。
また、上記実施形態では、半導体素子14が被実装部材としての回路基板12に実装されると共に回路基板12がリードフレーム26の上に固定された状態で、半導体素子14、複数のダミーワイヤボンディング70、回路基板12、及び、リードフレーム26の全体がモールド成形されることによってモールド樹脂28により封止されていたが、回路基板12を省いた構成とされると共に半導体素子14が実装部材としてのリードフレーム26に電気的に接続された上で、半導体素子14、複数のダミーワイヤボンディング70、及び、リードフレーム26の全体がモールド成形されることによってモールド樹脂28により封止されていても良い。
10,40,60…樹脂封止型半導体装置、12…回路基板(被実装部材)、14…半導体素子、16…電気部品、18…リード部、20,50…樹脂流動状態制御部材、22,52…側壁部、24,54…孔部、26…リードフレーム、28…モールド樹脂、30…端子、51…上壁部、70…ワイヤボンディング(樹脂流動状態制御部材)
Claims (8)
- 半導体素子と、
前記半導体素子が実装された被実装部材と、
前記半導体素子と隣接して前記被実装部材に配置され、樹脂モールド成形時に前記被実装部材上を流れる樹脂の流動状態を制御するための樹脂流動状態制御部材と、
前記半導体素子、前記被実装部材、及び前記樹脂流動状態制御部材を一体に封止するモールド樹脂と、
を備えたことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。 - 前記樹脂流動状態制御部材は、前記被実装部材に固定されていることを特徴とする請求項1に記載の樹脂封止型半導体装置。
- 前記樹脂流動状態制御部材には、樹脂モールド成形時に前記被実装部材上を流れる樹脂と接する部位に凹部又は孔部が設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置。
- 前記樹脂流動状態制御部材は、前記半導体素子を冷却するための放熱板、前記半導体素子をシールドするためのシールド板、前記半導体素子を流れる電流を検出するための電流検出器の少なくともいずれかの機能を兼ね備えることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の樹脂封止型半導体装置。
- 前記樹脂流動状態制御部材は、前記半導体素子の作動に非関与状態で前記被実装部材に配置されたダミーワイヤボンディングとされていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置。
- 前記ダミーワイヤボンディングは、前記半導体素子と電気的に非接続とされていることを特徴とする請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置。
- 前記ダミーワイヤボンディングは、複数設けられていることを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の樹脂封止型半導体装置。
- 前記複数のダミーワイヤボンディングのうち少なくとも一つのダミーワイヤボンディングは、他のダミーワイヤボンディングと形態が異なっていることを特徴とする請求項7に記載の樹脂封止型半導体装置。
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
JP2014127561A (ja) * | 2012-12-26 | 2014-07-07 | Sanken Electric Co Ltd | パワー半導体モジュールおよびその製造方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08115943A (ja) * | 1994-10-13 | 1996-05-07 | Nec Kansai Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
JPH09266223A (ja) * | 1996-03-28 | 1997-10-07 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置 |
JPH10144822A (ja) * | 1996-11-05 | 1998-05-29 | Ibiden Co Ltd | 電子部品搭載用基板 |
JP2002261198A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | 自動車用電子回路装置及びそのパッケージ製造方法 |
JP2003258184A (ja) * | 2002-02-27 | 2003-09-12 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置およびリードフレーム |
JP2004296815A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置 |
-
2007
- 2007-09-28 JP JP2007256468A patent/JP2008166699A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08115943A (ja) * | 1994-10-13 | 1996-05-07 | Nec Kansai Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
JPH09266223A (ja) * | 1996-03-28 | 1997-10-07 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置 |
JPH10144822A (ja) * | 1996-11-05 | 1998-05-29 | Ibiden Co Ltd | 電子部品搭載用基板 |
JP2002261198A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | 自動車用電子回路装置及びそのパッケージ製造方法 |
JP2003258184A (ja) * | 2002-02-27 | 2003-09-12 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置およびリードフレーム |
JP2004296815A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014127561A (ja) * | 2012-12-26 | 2014-07-07 | Sanken Electric Co Ltd | パワー半導体モジュールおよびその製造方法 |
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