JP2008165849A - ナノ構造作成方法、および磁気ディスク製造方法 - Google Patents

ナノ構造作成方法、および磁気ディスク製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008165849A
JP2008165849A JP2006350835A JP2006350835A JP2008165849A JP 2008165849 A JP2008165849 A JP 2008165849A JP 2006350835 A JP2006350835 A JP 2006350835A JP 2006350835 A JP2006350835 A JP 2006350835A JP 2008165849 A JP2008165849 A JP 2008165849A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
particle layer
particle
particles
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006350835A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuo Takeuchi
光生 竹内
Hiroaki Tamura
浩晃 田村
Kenichi Ito
健一 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2006350835A priority Critical patent/JP2008165849A/ja
Priority to US11/974,112 priority patent/US20080160190A1/en
Priority to KR1020070122717A priority patent/KR20080061267A/ko
Priority to CNA200710196350XA priority patent/CN101209814A/zh
Publication of JP2008165849A publication Critical patent/JP2008165849A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
    • G11B5/855Coating only part of a support with a magnetic layer
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/002Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
    • G11B7/0037Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs

Landscapes

  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

【課題】ナノ粒子が一様に配列された配列パターンを広い範囲に亘って簡単に得る。
【解決手段】樹脂基板21上に、シリカ粒子22が複数層敷き詰められた粒子層を形成する粒子層形成過程(ステップS111)と、樹脂基板21とシリカ粒子22の層と所定の保持体27とからなる積層物から樹脂基板21を、シリカ粒子22の層に対して不可侵の手法で除去して、樹脂基板21に接していた粒子配列面を露出させる基板除去過程(ステップS113)とを有した。
【選択図】 図7

Description

本発明は、ナノサイズの凹凸構造(ナノ構造)を作成するナノ構造作成方法と、そのようなナノ構造を用いて磁気ディスクを製造する磁気ディスク製造方法とに関する。
コンピュータの分野では、日常的に多量の情報が取り扱われるようになっており、このような多量の情報を記録再生する装置の1つとして、ハードディスク装置(HDD:Hard Disk Drive)が使用されている。このHDDには、情報が記録されるディスク状の磁気記録媒体である磁気ディスクおよびこの磁気ディスクに情報を記録再生する磁気ヘッドが内蔵されている。
従来、均一な磁性材料からなるタイプの磁気ディスクが知られているが、このタイプの磁気ディスクは、情報の記録密度の点で限界に近づきつつある。そこで、記録密度をさらに高めた磁気ディスクの一例として、以下に説明するパターンドメディアと呼ばれるタイプの磁気ディスクが提案されている。
図1は、パターンドメディアタイプの磁気ディスクと磁気ヘッドとを示す模式図である。
この図1に示すように、パターンドメディアタイプの磁気ディスク11は、各々に独立に1ビット相当の磁化が保持される複数の微小領域(1ビット領域)11aを有している。この図1の例では、各1ビット領域11aは、アルミニウム等の非磁性材料からなるディスクに穿たれた微小な穴に磁性物質が充填されたものである。この磁気ディスク11では、各1ビット領域11aの間に非磁性材料が存在しているので、1ビット領域11a間の磁化の相互干渉等といった、高い記録密度で情報を記録するときに特有の問題を回避することができる。
また、磁気ヘッドは、その磁気ヘッドを搭載したアーム12によって磁気ディスク11に近接して配置され、情報の記録時には、外部からの信号電流に応じた磁界を発生させ、上記磁気ディスク表面の各1ビット領域11aの磁化を適宜反転させることによって、1ビットの情報を1ビット領域11aにおける磁化の方向の形で記録する。また、情報の再生時には、各1ビット領域11aの磁化が発する漏れ磁界を磁気ヘッドで検知することによって、1ビット領域11aにおける磁化の方向の形で1ビットの情報を再生する。
ここで、このパターンドメディアタイプの磁気ディスク11で、均一な磁性材料からなるタイプの磁気ディスクにおける記録密度を超える記録密度を実現するためには、1ビット領域11aの配列パターンを、図1に示すように、各1ビット領域11aの径を1〜100nmにして、さらに配列間隔を10〜100nmにする等といったナノサイズにまで微小化する必要がある。近年では、精密加工で加工可能な構造のサイズがマイクロサイズからナノサイズにまで向上しており、このようなパターンドメディアタイプの磁気ディスクの製造が可能となってきている。
ナノサイズの精密加工方法の一例としては、被加工物に微小な針等で物理的な力を加えて加工する方法や、半導体素子の製造等において広く使われているフォトリソグラフィや電子ビームリソグラフィ等を利用する方法等が知られている。これらの方法は、ナノサイズの精密加工を正確に行えるという利点がある一方で、工数が多い上に一度に加工できる範囲が狭いため、磁気ディスク相当の広い範囲に亘って1ビット領域に相当する微小な穴を配列する等といった加工には多大な時間がかかってしまう。このため、これらの方法には、このような広い範囲についての精密加工を要する磁気ディスク等といった製品の量産には向かないという問題がある。
ここで、上記のリソグラフィの技術において、磁気ディスクにおける1ビットの配列パターンに相当するマスクを被加工面上に形成する手間を次のような方法で省くことで加工の簡単化を図るという技術が提案されている。この技術では、金属や樹脂等の、例えば径が1〜100nmの球形等といったナノサイズの微粒子(ナノ粒子)をいわゆる自己組織化現象を利用した配列方法によって被加工面上に配列し、それらのナノ粒子の配列をリソグラフィのマスクとして用いることで、加工の簡単化が図られている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照。)。しかし、このような方法では、加工の度にナノ粒子を被加工面上に敷き詰めなければならず、磁気ディスクの量産に利用するには未だ手間がかかり過ぎる。
そこで、例えば上記の1ビット領域に相当する穴の配列パターン等を被加工面に手軽に加工する方法として、そのような配列パターンに相当する押し型(スタンパ)を、上記のリソグラフィ等によって予め作成しておき、被加工面の加工の際には、その被加工面にこのスタンパを押し当てることで配列パターンを刻印するという技術が提案されている(例えば、特許文献3参照。)。
この技術は、1つのスタンパを繰り返し使用することで複数の被加工面を加工することができるので、量産に適していると言える。ここで、このスタンパは、使用される度に劣化するいわば消耗品であるので、例えば磁気ディスク等の量産に際しては、このスタンパ自体も複数必要となる。しかし、このスタンパを上記のようにリソグラフィ等によって作成するのでは、結局手間がかかり過ぎてしまう。
ところで、スタンパの元となる配列パターンを、微粒子等が基本的には外部からの制御なしに自発的に規則的な構造を作り出す自己組織化現象を利用した配列方法によってナノ粒子を配列することで手軽に作成する技術が提案されている(例えば、特許文献4参照。)。スタンパは、作成された配列パターンを写し取ることで得られる。
この自己組織化現象を利用したナノ粒子の配列方法には、例えば、この特許文献4に開示されている、基板上に微粒子の懸濁液を適宜に滴下して乾燥することにより懸濁液中の微粒子に自己組織化現象を生じさせて、その基板上に微粒子を配列する方法等といった様々な方法がある。以下、このような自己組織化現象を利用した配列方法の一例であって、工数が少なく手軽な移流集積法と呼ばれる方法でナノ粒子を配列する配列方法について説明する。
図2は、移流集積法によるナノ粒子の配列方法の代表例を示す模式図である。
この図2に示す配列方法における移流集積法は、ナノ粒子14の懸濁液15に垂直に浸された基板13が、毎秒数μm程度の超低速で図中の矢印A方向に引き上げられると、気液界面で、ナノ粒子14が基板13の表面に自発的に稠密構造で堆積していく自己組織化現象を利用するものである。例えばこのような方法で基板13の表面に配列されたナノ粒子14の配列を写し取ることでスタンパが手軽に作成される。
このような技術を上記の特許文献3の技術に適用することができれば、スタンパ自体を作成する手間も軽減され、例えば上記のような磁気ディスク等の量産が現実味を帯びることとなる。
特開2005−217390号公報 特開2005−339633号公報 特開2004−314238号公報 特開2005−76117号公報
ここで、上述の移流集積法による配列方法は、ナノ粒子14の懸濁液15から基板13を引き上げるだけというように工数が非常に少なく手軽である反面、次のような問題がある。
図3は、移流集積法による配列方法の問題点を示す模式図である。
この移流集積法における自己組織化現象は、周囲の温度や湿度等といった周囲環境、および、懸濁液の温度等といった液内環境に極めて敏感に左右される非常に不安定なものである。このため、移流集積法を使って配列されたナノ粒子14の配列は、基板13の引き上げ中に、上記の周囲環境や液内環境がわずかでも変動すると、その変動に影響されて、この図3のパート(a)やパート(b)に示すように、基板13上における層数が基板13の引き上げ中に変わってしまう。図3のパート(a)には、ナノ粒子14を2層で配列していたところ、部分的に3層になってしまった例が示されており、パート(b)には、4層で配列していたところ、部分的に5層になってしまった例が示されている。
この図3に示すように部分的に層数が増えているような乱れた配列パターンがそのままスタンパに写し取られると、当然ながら、そのスタンパを使って刻印される配列パターンも乱れたものとなってしまう。このため、上記のような移流集積法を使ってナノ粒子を配列するに当たっては、上記の周囲環境や液内環境を非常に厳密に制御する必要がある。ところが、このような厳密な制御は、ナノ粒子を配列する範囲が狭い場合には可能であるが、上記の磁気ディスク11の全面といった広い範囲にナノ粒子を配列する場合にはほぼ不可能であり、移流集積法によるナノ粒子の配列方法を利用して磁気ディスク11を量産するといったことは現実性に乏しいのが現状である。このため、上記のような広い範囲に亘るナノ粒子の配列パターンや、そのような配列パターンを写し取ったスタンパにおけるナノサイズの凹凸構造等といった広い範囲に亘るナノ構造を簡単に得る方法が望まれている。
尚、ここまで磁気ディスクの製造を例に挙げ、その製造においてナノ構造を簡単に得る方法が望まれているという事情についてを説明したが、このような事情は、磁気ディスクの製造に限るものではなく、例えば、磁気ディスク以外のパターンドメディアや、携帯電話機用のディスプレイ等で使用されるナノサイズの稠密な凹凸構造による無反射機能を有した導光板や、ナノサイズの稠密なホールを有した高性能フィルタ等といったナノ構造を必要とするものの製造において一般に生じ得る事情である。
本発明は、上記事情に鑑み、広い範囲に亘るナノ構造を簡単に得ることができるナノ構造作成方法と、そのようなナノ構造を用いて磁気ディスクを製造する磁気ディスク製造方法とを提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明のナノ構造作成方法は、ナノスケールで平坦な基板上に、その基板の材質とは異なる材質のナノサイズの粒子を1層以上敷き詰めて粒子層を形成する粒子層形成過程と、
上記粒子層の上に、その粒子層を構成する粒子に密着してその粒子層を保持する保持体を形成する保持体形成過程と、
上記基板を、上記粒子層に対して不可侵の手法で除去する基板除去過程とを有することを特徴とする。
この本発明のナノ構造作成方法によれば、上記基板上の粒子層における、基板側の粒子配列がナノ構造として得られる。この基板側では、上記粒子は確実に基板に沿って並ぶ。このため、例えば上述した移流集積法で広い範囲に亘って粒子層を形成したときにその粒子層における基板側とは反対側の表面に配列の乱れがあったとしても、そのような表面における乱れとは無関係に、基板に沿った一様なナノ構造が広い範囲に亘って得られることとなる。このため、本発明のナノ構造作成方法によれば、移流集積法等を利用した粒子層の形成において周辺環境に対する過度に厳密な制御等が不要となり、広い範囲に亘るナノ構造を簡単に得ることができる。
ここで、本発明のナノ構造作成方法において、「上記粒子層形成過程が、上記粒子の懸濁液に上記基板を浸し、その懸濁液からその基板を引き上げることで上記粒子層を形成する過程である」という形態は好ましい形態である。
この好ましい形態のナノ構造作成方法によれば、上記懸濁液から上記基板を引き上げたときに気液界面で粒子が自発的に稠密構造でその基板上に堆積していく自己組織化現象を利用した移流集積法により、上記粒子を上記基板上に簡単に敷き詰めることができる。
また、本発明のナノ構造作成方法において、「上記基板が樹脂製の基板であり、上記粒子がシリカ製の粒子であって、
上記基板除去過程が、上記基板を焼却することで除去する過程である」という形態や、あるいは、
「上記粒子層形成過程が、上記基板としてガラス製の基板を用い、上記粒子として樹脂製の粒子を用いる過程であり、
上記基板除去過程が、上記基板を所定の溶剤を用いて溶解させる過程である」という形態や、あるいは、
「上記基板がガラス製の基板であり、上記粒子が樹脂製の粒子であって、
上記基板除去過程が、上記基板を希フッ酸で溶解させることで除去する過程である」という形態も好ましい形態である。
これらの好ましい形態のナノ構造作成方法によれば、上記粒子層を残して上記基板を確実に除去することができる。ここで、周辺の不燃物への物理的な影響をナノレベルにまで抑えて対象物を焼却する方法としては、高温の酸素プラズマ等に有機物等の対象物を曝すことでその有機物を焼却するプラズマアッシャと呼ばれる装置を用いる方法等が知られている。また、例えば自己組織化現象等を利用して配列された粒子は、ある程度の強度を持って互いにしっかりと結びついていることが従来から知られており、上記粒子の配列を崩すことなく上記基板を上記溶剤や希フッ酸中で溶解させることが可能である。
また、本発明のナノ構造作成方法において、「上記保持体形成過程が、上記粒子層上に金属層を形成し、その金属層にブロック体を接着する過程である」という形態も好ましい形態である。
この好ましい形態のナノ構造作成方法によれば、上記ブロック体を持って持ち運ぶ等というような上記粒子層に対する容易な取り扱いが可能となる。
また、本発明のナノ構造作成方法において、「上記基板除去過程で基板が除去されて露出した上記粒子層のその露出した面に対して金属層を形成して、その面における粒子配列を固定する配列固定過程を有する」という形態も好ましい。
この好ましい形態のナノ構造作成方法によれば、例えば自己組織化現象による結びつきを超えた外力等によって上記の粒子配列が乱れてしまうことが回避される。従って、その後、その粒子配列を製品製造等に利用すること等が容易である。
また、本発明のナノ構造作成方法において、「上記基板除去過程で基板が除去されて露出した上記粒子層に対し、その粒子層のその露出した面における粒子配列が裏側に浮き出る程度に薄い金属層を形成して、その面における粒子配列を固定する配列固定過程を有する」という形態も好ましい形態である。
この好ましい形態のナノ構造作成方法によれば、上記粒子配列が固定されたものを、例えばナノ構造の押し型(スタンパ)の原型(マスター)として保存しておき、その粒子配列を写し取ることでスタンパを量産する等といった運用が可能となる。
また、本発明のナノ構造作成方法において、「上記基板除去過程で基板が除去されて露出した上記粒子層の面における粒子配列を写し取って型を作成する型作成過程を有する」という形態も好ましい形態である。
この好ましい形態のナノ構造作成方法によれば、粒子配列を写し取った型を上記のスタンパのマスターとして用いることでスタンパを量産する等といった運用が可能となる。
また、本発明のナノ構造作成方法において、「上記粒子層形成過程が、上記粒子を複数層敷き詰めて粒子層を形成する過程であり、
上記保持体形成過程が、上記粒子層上に金属層を形成し、その金属層に第1のブロック体を接着する過程であり、
上記基板除去過程で基板が除去されて露出した上記粒子層のその露出した面に対して金属層を形成してその面における粒子配列を固定し、その金属層に第2のブロック体を接着し、上記第1のブロック体および上記第2のブロック体に力を加えることによってその第1のブロック体の側とその第2のブロック体の側とを上記粒子層の部分で互いに引き剥がし、上記粒子層を構成していた粒子のうち、引き剥がしで上記第2のブロック体の側についてきた粒子を、その第2のブロック体の側における金属層に対して不可侵の手法で除去することで、上記粒子配列を写し取った型を作成する型作成過程を有する」という形態も好ましい。
この好ましい形態のナノ構造作成方法によれば、上記粒子配列が、金属膜という強固な物質の形状として写し取られて上記型が作成される。そして、そのような強固な型を上記のスタンパのマスターとして用いることでスタンパを量産する等といった運用が可能となる。
また、上記目的を達成する本発明の磁気ディスク製造方法は、ナノスケールで平坦な基板上に、その基板の材質とは異なる材質のナノサイズの粒子を1層以上敷き詰めて粒子層を形成する粒子層形成過程と、
上記粒子層の上に、その粒子層を構成する粒子に密着してその粒子層を保持する保持体を形成する保持体形成過程と、
上記基板を、上記粒子層に対して不可侵の手法で除去する基板除去過程と、
上記基板除去過程で基板が除去されて露出した上記粒子層の面における粒子配列を写し取って型を作成する型作成過程と、
上記型作成過程で作成された型を用いて非磁性材料からなるディスク上に、上記粒子配列と同じ配列を有する複数の穴を形成する穴形成過程と、
上記穴形成過程で形成された複数の穴それぞれに磁性金属を充填する充填過程とを有することを特徴とする。
この本発明の磁気ディスク製造方法によれば、上記型をスタンパのマスターとして用いることで、上記ディスク上に複数の穴の配列パターンというナノ構造を容易に設けることができる。そして、それらの穴に上記磁性金属が充填されることで、磁化を保持する微小領域が形成されて磁気ディスクが完成される。このように、上記型を用いることで上記磁気ディスクを少ない工数と手間で作成することができる。さらに、この本発明の磁気ディスク製造方法によれば、その型自体も簡単に得ることができるので、少ない工数と手間で磁気ディスクを量産することが可能となる。
尚、本発明の磁気ディスク製造方法については、ここではその基本形態と各方法に特有の形態のみを示すに止めるが、これは単に重複を避けるためであり、本発明の磁気ディスク製造方法には、上記の形態のみではなく、前述した本発明のナノ構造作成方法の各形態に対応する各種の形態が含まれる。
以上、説明したように、本発明によれば、広い範囲に亘るナノ構造を簡単に得ることができるナノ構造作成方法と、そのようなナノ構造を用いて磁気ディスクを製造する磁気ディスク製造方法とを得ることができる。
以下図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図4は、本発明の一実施形態である磁気ディスク製造方法を示すフローチャートである。
この図4のフローチャートが示す磁気ディスク製造方法は、本発明のうちの磁気ディスク製造方法の一実施形態に相当し、図1に示すようにアルミニウム製のディスク上に複数の1ビット領域11aをナノサイズの配列パターンで形成することで磁気ディスク11を製造する方法であって、スタンパ準備工程(ステップS100)と、製造工程(ステップS200)とを有している。
図1を参照して説明したように、上記の1ビット領域11aは、ディスクに穿たれた微小な穴に磁性物質が充填されたものである。スタンパ準備工程(ステップS100)は、そのスタンパ準備工程(ステップS100)に続く製造工程(ステップS200)において、上記の微小な穴の元となる窪みを、ナノサイズの配列パターンでアルミニウム基板に刻印する押し型(スタンパ)を作成する工程である。
まず、このスタンパ準備工程(ステップS100)の詳細について説明する。
図5は、図4に示すスタンパ準備工程(ステップS100)を示すフローチャートである。
この図5に示すようにスタンパ準備工程(ステップS100)は、スタンパ型準備工程(ステップS110)と、スタンパ取得工程(ステップS150)とを有している。
本実施形態で得られるスタンパは、微小な凸部がナノサイズの配列パターンで、磁気ディスク11の表面に相当する広い範囲に亘って一様に配列された金属板である。スタンパ準備工程(ステップS100)では、このスタンパの作成に当たり、まず、スタンパ型準備工程(ステップS110)において、上記の凸部の配列パターンに対応する凹部の配列パターンをスタンパと同等な広い範囲に亘って有する鋳型であるスタンパ型が作成される。そして、このスタンパ型準備工程(ステップS110)に続くスタンパ取得工程(ステップS150)では、上記のスタンパ型を使ってスタンパが作成される。
スタンパ型準備工程(ステップS110)では、まず、図2を参照して説明した移流集積法によるナノ粒子の配列方法を使って、磁気ディスク11の表面に相当する広い表面を有する基板上に、ナノ粒子がその広い表面に複数層敷き詰められた粒子層を形成する粒子層形成過程が実行される。
図6は、図5に示すスタンパ型準備工程(ステップS110)において実行される粒子層形成過程を示す模式図である。
この図6に示す粒子層形成過程(ステップS111)は、本発明にいう粒子層形成過程の一例に相当する。
上述したように、この粒子層形成過程(ステップS111)で使われるナノ粒子の配列方法は、上述した移流集積法によるナノ粒子の配列方法である。ただし、図2では、ナノ粒子や基板の種類までは特定しなかったが、本実施形態では、ナノ粒子として、径が1〜100nmの球形を有するシリカ製の粒子(シリカ粒子)22が使われ、基板として、厚さ数十μmの樹脂製の基板(樹脂基板)21が使われる。また、本実施形態では、シリカ粒子の懸濁液23に浸した樹脂基板21を引き上げるときには、樹脂基板21上にシリカ粒子22の層が複数層形成されるような速度で樹脂基板21が矢印A方向に引き上げられる。
尚、本実施形態では、上記のようにナノ粒子としてシリカ粒子22が使われ、基板として樹脂基板21が使われる例を示したが、本発明はこれに限るものではない。本発明の別例としては、例えば、ナノ粒子としてポリスチレン等の樹脂製の粒子が使われ、板としてガラス基板が使われる例等も挙げられる。以下では、ポリスチレン粒子とガラス基板を使った別例も踏まえながら説明を続ける。
図7は、図6に示す粒子層形成過程(ステップS111)で樹脂基板21上にシリカ粒子の層が形成されてから、スタンパが取得されるまでの処理の流れを示す図である。
この図7には、図6の粒子層形成過程(ステップS111)も記載されている。ここで、図6に示した移流集積法を使った配列方法では、樹脂基板21の引き上げ時の周囲環境や液内環境の微妙な変動の影響で、樹脂基板21上のシリカ粒子22の層数が引き上げ中に変わってしまう可能性が高い。図7には、粒子層形成過程(ステップS111)によって樹脂基板21上に形成されるシリカ粒子22の層の一例として、基本的には2層であって部分的に3層となっている粒子層が示されている。
粒子層形成過程(ステップS111)が終了すると、樹脂基板21上の粒子層の表面に密着してこの粒子層を支持する、シリコン製で数百nmの厚みを有する支持膜24をスパッタ法を用いて形成する支持膜形成過程(ステップS112)が実行され、その後、その形成された支持膜24に第1のブロック体25を接着剤26で貼り付けるブロック体接着過程(ステップS113)が実行される。これにより、支持膜24と第1のブロック体25とからなる保持体27が完成する。ここで、支持膜形成過程(ステップS112)とブロック体接着過程(ステップS113)とを合わせた過程が、本発明にいう保持体形成過程の一例に相当する。
続いて、樹脂基板21とシリカ粒子22の層と保持体27とからなる積層物から樹脂基板21を、シリカ粒子22の層に対して不可侵な以下の手法で除去する基板除去過程(ステップS114)が実行される。この基板除去過程(ステップS114)では、樹脂基板21の除去に、主に酸素ガス等の反応ガスをプラズマ化することで高温の酸素プラズマを発生させ、その酸素プラズマ中に有機物を置くことでその有機物を焼却するプラズマアッシャと呼ばれる装置が使用される。上記の基板除去過程(ステップS114)では、このプラズマアッシャによって上記の積層物のうち有機物である樹脂基板21のみが焼却されることとなる。この基板除去過程(ステップS114)は、本発明にいう基板除去過程の一例に相当する。ここで、このプラズマアッシャによる対象物の焼却方法は、周辺の不燃物への物理的な影響をナノレベルにまで抑えて対象物を焼却する方法として公知の方法であり、この基板除去過程(ステップS114)では、シリカ粒子22の層を崩すことなく樹脂基板21が焼却される。
尚、ここでは、樹脂基板21の除去方法の一例として、プラズマアッシャによって焼却する方法を例示したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば、樹脂基板21の除去方法は、トルエンやキシレン等の有機溶剤を使って樹脂基板21を溶解させる方法等であっても良い。この方法においても、無機物であるシリカ粒子22は残ることとなる。また、上記の移流集積法によって層が形成されたシリカ粒子22は、従来から知られているようにある程度の強度で互いにしっかりと結びついているため、シリカ粒子22の層が付いた樹脂基板21をこのような溶剤中で溶解させてもシリカ粒子22の層は崩れることなく残ることとなる。
ここで、上記のポリスチレン粒子とガラス基板を使った別例について説明する。この別例では、本実施形態と同様に、ガラス基板およびポリスチレン粒子の層と、図7の保持体27と同等な粒子層支持ブロックとからなる積層物が形成された後、ガラス基板が除かれる。ただし、この別例では、積層物を希フッ酸等の溶剤に浸けることでガラス基板を溶解させて除去する。また、この別例でも、ガラス基板上で層をなすポリスチレン粒子がある程度の強度で互いに結びついているため、ポリスチレン粒子の層が付いたガラス基板をこのような希フッ酸中で溶解させてもポリスチレン粒子の層は崩れることなく残ることとなる。
本実施形態に戻って説明を続ける。
上記の基板除去過程(ステップS114)によって樹脂基板21が除かれると、図7に示すように、シリカ粒子22の層の樹脂基板21側の面(最下層に相当する面)が露出される。シリカ粒子22の層において、基板側の層ではシリカ粒子22は確実に樹脂基板21に沿って並ぶ。このため、たとえ、粒子層形成過程(ステップS111)において層数のバラつきが生じ、この図7に示すように樹脂基板21とは反対側の表面に配列パターンの乱れが生じていたとしても、基板除去過程(ステップS114)によって露出される面は、広い範囲に亘ってシリカ粒子22が稠密に並んだ一様な配列パターンとなる。このシリカ粒子22の配列パターンは、本発明にいうナノ構造の一例に相当する。また、上記の粒子層形成過程(ステップS111)から基板除去過程(ステップS114)に至る一連の処理は、本発明のうちのナノ構造作成方法の一実施形態であると観念される。
ここで、本発明の発明者は、磁気ディスク相当の広い範囲に亘って得たシリカ粒子22の配列パターンの一様性について、その範囲中で無作為に選んだ20箇所の観測エリアを電子顕微鏡で撮影することによって確認している。以下に、この撮影で得た電子顕微鏡写真のうちの1枚を代表例として示す。
図8は、広い範囲に亘って得たシリカ粒子22の配列パターンの一様性を確認するために得た電子顕微鏡写真の代表例である。
この図8の電子顕微鏡写真には、シリカ粒子22が乱れることなく稠密に配列されている様子が写されている。他の電子顕微鏡写真については、ここでは提示を割愛するが、いずれの電子顕微鏡写真でも、シリカ粒子22の稠密な配列パターンが確認されていることから、図7の基板除去過程(ステップS114)で得られたシリカ粒子22の配列パターンは磁気ディスク相当の広い範囲に亘って一様性を有しているものと考えられる。
このような配列パターンが得られると、次に、その配列パターンに密着するシリコンの膜28をスパッタ法を用いて形成するシリコン膜形成過程(ステップS115)が実行され、その形成されたシリコンの膜28にこのシリコンの膜28を支持する第2のブロック体29を接着剤26で貼り付けるシリコン膜支持ブロック体接着過程(ステップS116)が実行される。
続いて、上記の第1のブロック体25と上記の第2のブロック体29とに互いに引き剥がす方向の力を加える引き剥がし過程(ステップS117)が実行される。この引き剥がし過程(ステップS117)では、上記の第1のブロック体25から第2のブロック体29に至る積層物が、複数層に積層されている最も脆いシリカ粒子22の層で分離されることとなる。その結果、図7に示すように、第2のブロック体29に接着されたシリコンの膜28に粒子層の一部が付着した状態の積層物が得られる。
そして、この引き剥がし過程(ステップS117)で得られた第2のブロック体29側の積層物を、希フッ酸等の溶剤に浸けて、シリコンの膜28に付着したシリカ粒子22を除去する粒子除去過程(ステップS118)が実行される。この粒子除去過程(ステップS118)は、本発明にいう粒子除去過程の一例に相当する。尚、この図7では、この粒子除去過程(ステップS118)直後の状態が、上記の第2ブロック体29と接着剤26が省略されて図示されている。
ここで、上記のポリスチレン粒子とガラス基板を使った別例について説明する。この別例では、本実施形態と同様に、ポリスチレン粒子の層の上にシリコンの膜が形成され、その後に、第2ブロック29と同等なブロックの接着と上述した引き剥がしが行われ、シリコンの膜にポリスチレン粒子が付着したものが得られる。そして、この別例では、このポリスチレン粒子の除去が、本実施形態とは異なり、上述したプラズマアッシャーを使ってポリスチレン粒子を焼却することで行われる。
本実施形態に戻って説明を続ける。
この粒子除去過程(ステップS118)では、シリコンの膜28の、第2ブロック体29とは反対側の面が露出されるが、この面は、上述した基板除去過程(ステップS114)で得られるシリカ粒子22の一様な配列パターンが、磁気ディスク相当の広い範囲に亘って凹凸を反転して写し取られた面となる。
ここで、本発明の発明者は、磁気ディスク相当の広い範囲に亘って得られたシリコンの膜28の凹凸パターンの一様性について、その範囲中で無作為に選んだ20箇所の観測エリアを電子顕微鏡で撮影することによって確認している。以下に、この撮影で得た電子顕微鏡写真のうちの1枚を代表例として示す。
図9は、シリコンの膜28の凹凸パターンの一様性を確認するために得た電子顕微鏡写真の代表例である。
この図9の電子顕微鏡写真には、シリコンの膜28の面に、図8の電子顕微鏡写真に写されているようなシリカ粒子22の稠密な配列パターンを凹凸を反転して写し取った稠密な凹凸パターンが現れている様子が写されている。ここでも、他の電子顕微鏡写真については提示を割愛するが、いずれの電子顕微鏡写真でもこのような稠密な凹凸パターンが確認されていることから、図7の粒子除去過程(ステップS118)で得られたシリコンの膜28の面における稠密な凹凸パターンは磁気ディスク相当の広い範囲に亘って一様性を有しているものと考えられる。
ここで、本実施形態では、このシリコンの膜28は、後述するようにスタンパを作成するための鋳型として使われるものであり、以下、この粒子除去過程(ステップS118)を経たシリコンの膜28をスタンパ型30と呼ぶ。
以上に説明したシリコン膜形成過程(ステップS115)から粒子除去過程(ステップS118)に至る一連の処理が、本発明にいう型作成過程の一例に相当し、上記のスタンパ型30が、本発明にいう型の一例に相当し、このスタンパ型30が有する凹凸構造が、本発明にいうナノ構造の一例に相当する。また、上記の粒子層形成過程(ステップS111)から粒子除去過程(ステップS118)に至る一連の処理も、本発明のうちのナノ構造作成方法の一実施形態であると観念される。
このようなスタンパ型30が得られると、電解メッキ法により所定の金属を鋳型にブロック状になるまで付着させその後に鋳型を剥がすといういわゆる電鋳処理を、そのスタンパ型30を鋳型として行うことでスタンパ31を得る、図5には1つのブロックで示したスタンパ取得工程(ステップS150)が実行される。尚、このスタンパ取得工程(ステップS150)は、上記のスタンパ型30を使って複数回繰り返し行うことができ、消耗品として扱われるスタンパ31を量産することができる。ここで、このスタンパ31が有する凹凸構造も、本発明にいうナノ構造の一例に相当する。さらに、上記の粒子層形成過程(ステップS111)からスタンパ取得工程(ステップS150)に至る一連の処理も、本発明のうちのナノ構造作成方法の一実施形態であると観念される。
以上、図6から図7を参照して説明した一連の処理が、図4に1つのブロックで示すスタンパ準備過程(ステップS100)に相当する。
次に、この図4に1つのブロックで示す製造工程(ステップS200)の詳細について説明する。
図10は、図4の製造工程(ステップS200)の詳細を示す図である。
この製造工程(ステップS200)では、まず、磁気ディスク11のベースとなるディスク状のアルミニウム板11bの表面に、上記のスタンパ準備過程(ステップS100)で用意されたスタンパ31を高圧力で押し付けることでその面に、ナノサイズの配列パターンで複数の窪みを形成するプレス過程(ステップS201)が実行される。
続いて、このプレス過程(ステップS201)で形成された複数の窪みそれぞれを、陽極酸化法を用いて成長させることで直径10〜100nmの穴11cに整形する整形過程(ステップS202)が実行される。
ここで、上記のプレス過程(ステップS201)と整形過程(ステップS202)とを合わせた過程は、本発明にいう穴形成過程の一例に相当する。
さらに、この整形過程(ステップS202)で得られた複数の穴11cに、磁性金属を充填する充填過程(ステップS203)が実行される。この充填過程(ステップS203)は、本発明にいう充填過程の一例に相当する。この充填過程(ステップS203)では、まず、アルミニウム板11bにおける複数の穴11cが穿たれた面が磁性金属でメッキされる。その後に、穴11cの中以外の部分の余分な磁性金属がラップ・ポリッシング法により除去されることで、各穴11cに磁性金属が充填された、図1にも示した1ビット領域11aが形成される。そして、最後に、ここでは図示を省略した様々な後処理が施されて磁気ディスク11が完成される。
これら一連の処理がスタンパ31を使って繰り返されることで、磁気ディスク11が量産される。また、スタンパ31は、磁気ディスク11を製造する度に劣化する消耗品であるが、上述したように、このスタンパ31自体も、上記のスタンパ型30(図7参照)を使って量産することができるので、磁気ディスク11の大量生産が可能となる。
以上、説明したように、本実施形態の磁気ディスク製造方法によれば、まず、シリカ粒子22の稠密かつ一様な配列パターンを磁気ディスク11相当の広い範囲に亘って得ることができる。これにより、そのような広い範囲に亘るシリカ粒子22の配列を写し取ったスタンパ型30の作成が可能となり、さらに、そのスタンパ型30を使ったスタンパ31、延いてはそのスタンパ31を使った磁気ディスク11の量産が可能となる。
尚、ここまで、本発明の一実施形態としてナノサイズの粒子によるナノ構造の作成から磁気ディスクの製造に至る磁気ディスク製造方法について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、本発明の実施形態は、ナノサイズの粒子を使って作成したナノ構造をそのまま保存できるように固定しておく等といったものであっても良い。以下、このナノ構造を保存するタイプの実施形態について説明する。ここで、このタイプの実施形態でもナノサイズの粒子として上記のシリカ粒子22が使われることとする。
このタイプの実施形態では、図7に示す粒子層形成過程(ステップS111)から基板除去過程(ステップS114)に至る一連の処理と同等な処理の後、その処理によって作成されたシリカ粒子22の配列パターン、即ちナノ構造を固定する配列固定過程が実行される。
図11は、配列固定過程を示す図である。
まず、この図11には、図7の基板除去過程(ステップS114)までの処理によって得られた、シリカ粒子22の層と保持体27とからなる積層物が示されている。
この図11に示す配列固定過程(ステップS301)では、シリカ粒子22の層に対し、その層の露出している面における配列パターンが裏側に浮き出る程度に薄いシリコン製の金属膜32が、蒸着法によって形成される。この配列固定過程(ステップS301)は、本発明にいう配列固定過程の一例に相当する。この配列固定過程(ステップS301)で形成された薄い金属膜32によって、シリカ粒子22の脆い配列パターンが固定される。これにより、そのような配列パターン自体を保存しておき、その固定された配列を上述した電鋳等といった公知の手法で写し取ることでナノ構造を量産する等といった運用が可能となる。
尚、上記では、本発明にいう粒子層形成過程の一例として、移流集積法を利用してナノ粒子を配列する粒子層形成過程(ステップS111)を例示したが、本発明はこれに限るものではない。本発明の粒子層形成過程は、例えば、自己組織化現象を利用した移流集積法以外の配列方法を利用してナノ粒子を配列するもの等であっても良い。
また、上記では、本発明にいう粒子層形成過程の一例として、移流集積法において基板上にナノ粒子を複数層敷き詰める引き上げ速度で基板を引き上げる粒子層形成過程(ステップS111)を例示したが、本発明はこれに限るものではない。本発明の粒子層形成過程は、例えば、移流集積法において基板上にナノ粒子を1層敷き詰める引き上げ速度で基板を引き上げるもの等であっても良い。
また、上記では、本発明にいう粒子の一例のうち樹脂製の粒子として、ポリスチレンの粒子を例示したが、本発明はこれに限るものではなく、この樹脂製の粒子は、ポリスチレン以外の樹脂で成形されたもの等であっても良い。
また、上記では、本発明のナノ構造作成方法の適用例として、スタンパを用意した後に、そのスタンパを使って磁気ディスクを製造する磁気ディスク製造方法を例示したが、本発明はこれに限るものではない。本発明のナノ構造作成方法は、例えば、磁気ディスク以外のパターンドメディアの製造に適用しても良く、あるいは、携帯電話機用のディスプレイ等で使用されるナノサイズの稠密な凹凸構造による無反射機能を有した導光板の製造に適用しても良く、ナノサイズの稠密なホールを有した高性能フィルタの製造に適用しても良い。
以下、本発明の各種形態について付記する。
(付記1)
ナノスケールで平坦な基板上に、該基板の材質とは異なる材質のナノサイズの粒子を1層以上敷き詰めて粒子層を形成する粒子層形成過程と、
前記粒子層の上に、該粒子層を構成する粒子に密着して該粒子層を保持する保持体を形成する保持体形成過程と、
前記基板を、前記粒子層に対して不可侵の手法で除去する基板除去過程とを有することを特徴とするナノ構造作成方法。
(付記2)
前記粒子層形成過程が、前記粒子の懸濁液に前記基板を浸し、該懸濁液から該基板を引き上げることで前記粒子層を形成する過程であることを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記3)
前記基板が樹脂製の基板であり、前記粒子がシリカ製の粒子であって、
前記基板除去過程が、前記基板を焼却することで除去する過程であることを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記4)
前記基板が樹脂製の基板であり、前記粒子がシリカ製の粒子であって、
前記基板除去過程が、前記基板を有機溶剤で溶解させることで除去する過程であることを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記5)
前記基板がガラス製の基板であり、前記粒子が樹脂製の粒子であって、
前記基板除去過程が、前記基板を希フッ酸で溶解させることで除去する過程であることを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記6)
前記保持体形成過程が、前記粒子層上に金属層を形成し、その金属層にブロック体を接着する過程であることを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記7)
前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層のその露出した面に対して金属層を形成して、その面における粒子配列を固定する配列固定過程を有することを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記8)
前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層に対し、該粒子層のその露出した面における粒子配列が裏側に浮き出る程度に薄い金属層を形成して、その面における粒子配列を固定する配列固定過程を有することを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記9)
前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層の面における粒子配列を写し取って型を作成する型作成過程を有することを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記10)
前記粒子層形成過程が、前記粒子を複数層敷き詰めて粒子層を形成する過程であり、
前記保持体形成過程が、前記粒子層上に金属層を形成し、その金属層に第1のブロック体を接着する過程であり、
前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層のその露出した面に対して金属層を形成してその面における粒子配列を固定し、その金属層に第2のブロック体を接着し、前記第1のブロック体および前記第2のブロック体に力を加えることによって該第1のブロック体の側と該第2のブロック体の側とを前記粒子層の部分で互いに引き剥がし、前記粒子層を構成していた粒子のうち、引き剥がしで前記第2のブロック体の側についてきた粒子を、該第2のブロック体の側における金属層に対して不可侵の手法で除去することで、前記粒子配列を写し取った型を作成する型作成過程を有することを特徴とする付記1記載のナノ構造作成方法。
(付記11)
ナノスケールで平坦な基板上に、該基板の材質とは異なる材質のナノサイズの粒子を1層以上敷き詰めて粒子層を形成する粒子層形成過程と、
前記粒子層の上に、該粒子層を構成する粒子に密着して該粒子層を保持する保持体を形成する保持体形成過程と、
前記基板を、前記粒子層に対して不可侵の手法で除去する基板除去過程と、
前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層の面における粒子配列を写し取って型を作成する型作成過程と、
前記型作成過程で作成された型を用いて非磁性材料からなるディスク上に、前記粒子配列と同じ配列を有する複数の穴を形成する穴形成過程と、
前記穴形成過程で形成された複数の穴それぞれに磁性金属を充填する充填過程とを有することを特徴とする磁気ディスク製造方法。
(付記12)
微小粒子の懸濁液に基板を浸す工程と、
前記基板を前記懸濁液から引き上げる工程と、
前記懸濁液から引き上げられた前記基板上に形成された前記微小粒子からなる粒子層の上に、第一の層を形成する工程と、
前記基板から、前記粒子層を前記第一の層とともに分離する工程と、
前記粒子層の前記基板に接していた面に、第二の層を形成する工程と、
前記第二の層から、前記粒子層及び前記第一の層を分離する工程と、
前記第二の層を型として、スタンパを形成する工程とを有することを特徴とするスタンパ形成方法。
(付記13)
微小粒子の懸濁液に基板を浸す工程と、
前記基板を前記懸濁液から引き上げる工程と、
前記懸濁液から引き上げられた前記基板上に形成された前記微小粒子からなる粒子層の上に、第一の層を形成する工程と、
前記基板から、前記粒子層を分離する工程と、
前記粒子層の前記基板に接していた面に、第二の層を形成する工程と、
前記第二の層から、前記粒子層を分離する工程と、
前記第二の層を型として、スタンパを形成する工程と、
前記スタンパを基材に押し付けて、パターンが形成された基体を生成する工程とを備えたことを特徴とする基体生成方法。
HDDに内蔵される磁気ディスクと磁気ヘッドとを示す模式図である。 移流集積法によるナノ粒子の配列方法の代表例を示す模式図である。 移流集積法による配列方法の問題点を示す模式図である。 本発明の一実施形態である磁気ディスク製造方法を示すフローチャートである。 図4に示すスタンパ準備工程(ステップS100)を示すフローチャートである。 図5に示すスタンパ型準備工程(ステップS110)において実行される粒子層形成過程を示す模式図である。 図6に示す粒子層形成過程(ステップS111)で樹脂基板21上にシリカ粒子の層が形成されてから、スタンパが取得されるまでの処理の流れを示す図である。 広い範囲に亘って得たシリカ粒子22の配列パターンの一様性を確認するために得た電子顕微鏡写真の代表例である。 シリコンの膜28の凹凸パターンの一様性を確認するために得た電子顕微鏡写真の代表例である。 図4の製造工程(ステップS200)の詳細を示す図である。 配列固定過程を示す図である。
符号の説明
11 磁気ディスク
11a 1ビット領域
12 アーム
13 基板
14 ナノ粒子
15,23 懸濁液
21 樹脂基板
22 シリカ粒子
24 支持膜
25 第1のブロック体
26 接着剤
27 粒子層支持ブロック
28 シリコンの膜
29 第2のブロック体
30 スタンパ型
31 スタンパ

Claims (10)

  1. ナノスケールで平坦な基板上に、該基板の材質とは異なる材質のナノサイズの粒子を1層以上敷き詰めて粒子層を形成する粒子層形成過程と、
    前記粒子層の上に、該粒子層を構成する粒子に密着して該粒子層を保持する保持体を形成する保持体形成過程と、
    前記基板を、前記粒子層に対して不可侵の手法で除去する基板除去過程とを有することを特徴とするナノ構造作成方法。
  2. 前記粒子層形成過程が、前記粒子の懸濁液に前記基板を浸し、該懸濁液から該基板を引き上げることで前記粒子層を形成する過程であることを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  3. 前記基板が樹脂製の基板であり、前記粒子がシリカ製の粒子であって、
    前記基板除去過程が、前記基板を焼却することで除去する過程であることを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  4. 前記基板が樹脂製の基板であり、前記粒子がシリカ製の粒子であって、
    前記基板除去過程が、前記基板を有機溶剤で溶解させることで除去する過程であることを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  5. 前記基板がガラス製の基板であり、前記粒子が樹脂製の粒子であって、
    前記基板除去過程が、前記基板を希フッ酸で溶解させることで除去する過程であることを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  6. 前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層のその露出した面に対して金属層を形成して、その面における粒子配列を固定する配列固定過程を有することを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  7. 前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層に対し、該粒子層のその露出した面における粒子配列が裏側に浮き出る程度に薄い金属層を形成して、その面における粒子配列を固定する配列固定過程を有することを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  8. 前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層の面における粒子配列を写し取って型を作成する型作成過程を有することを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  9. 前記粒子層形成過程が、前記粒子を複数層敷き詰めて粒子層を形成する過程であり、
    前記保持体形成過程が、前記粒子層上に金属層を形成し、その金属層に第1のブロック体を接着する過程であり、
    前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層のその露出した面に対して金属層を形成してその面における粒子配列を固定し、その金属層に第2のブロック体を接着し、前記第1のブロック体および前記第2のブロック体に力を加えることによって該第1のブロック体の側と該第2のブロック体の側とを前記粒子層の部分で互いに引き剥がし、前記粒子層を構成していた粒子のうち、引き剥がしで前記第2のブロック体の側についてきた粒子を、該第2のブロック体の側における金属層に対して不可侵の手法で除去することで、前記粒子配列を写し取った型を作成する型作成過程を有することを特徴とする請求項1記載のナノ構造作成方法。
  10. ナノスケールで平坦な基板上に、該基板の材質とは異なる材質のナノサイズの粒子を1層以上敷き詰めて粒子層を形成する粒子層形成過程と、
    前記粒子層の上に、該粒子層を構成する粒子に密着して該粒子層を保持する保持体を形成する保持体形成過程と、
    前記基板を、前記粒子層に対して不可侵の手法で除去する基板除去過程と、
    前記基板除去過程で基板が除去されて露出した前記粒子層の面における粒子配列を写し取って型を作成する型作成過程と、
    前記型作成過程で作成された型を用いて非磁性材料からなるディスク上に、前記粒子配列と同じ配列を有する複数の穴を形成する穴形成過程と、
    前記穴形成過程で形成された複数の穴それぞれに磁性金属を充填する充填過程とを有することを特徴とする磁気ディスク製造方法。
JP2006350835A 2006-12-27 2006-12-27 ナノ構造作成方法、および磁気ディスク製造方法 Pending JP2008165849A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006350835A JP2008165849A (ja) 2006-12-27 2006-12-27 ナノ構造作成方法、および磁気ディスク製造方法
US11/974,112 US20080160190A1 (en) 2006-12-27 2007-10-11 Method of fabricating nano structure, method of manufacturing magnetic disc, method of forming stamper, and method of generating base body
KR1020070122717A KR20080061267A (ko) 2006-12-27 2007-11-29 나노 구조 작성 방법 및 자기 디스크 제조 방법
CNA200710196350XA CN101209814A (zh) 2006-12-27 2007-11-30 纳米结构制造法、磁盘制造法、压模形成法及基体产生法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006350835A JP2008165849A (ja) 2006-12-27 2006-12-27 ナノ構造作成方法、および磁気ディスク製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008165849A true JP2008165849A (ja) 2008-07-17

Family

ID=39584352

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006350835A Pending JP2008165849A (ja) 2006-12-27 2006-12-27 ナノ構造作成方法、および磁気ディスク製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20080160190A1 (ja)
JP (1) JP2008165849A (ja)
KR (1) KR20080061267A (ja)
CN (1) CN101209814A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015531911A (ja) * 2012-07-27 2015-11-05 ナノメイド コンセプト 透明触知性表面を作製する方法、及びこの方法により得られる触知性表面

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5071143B2 (ja) * 2008-02-20 2012-11-14 富士通株式会社 成型品の製造方法および記録媒体の製造方法
WO2010117102A1 (ko) * 2009-04-09 2010-10-14 서강대학교 산학협력단 콜로이드 입자들을 단결정들로 정렬하는 방법
KR101001631B1 (ko) * 2009-06-15 2010-12-17 주식회사 아모그린텍 전기분해법을 이용한 은 나노 입자의 제조방법 및 그 장치
TWI413177B (zh) * 2010-08-23 2013-10-21 Univ Nat Cheng Kung 三維形狀微奈米結構之製造方法
KR101695496B1 (ko) 2010-09-08 2017-01-11 서강대학교산학협력단 기재상에 3개의 결정축 배향이 모두 정렬된 종자 결정들을 2차 성장시켜 형성된 막
CN104891422A (zh) * 2014-03-07 2015-09-09 群创光电股份有限公司 纳米结构及其制造方法
JP2016024838A (ja) * 2014-07-24 2016-02-08 株式会社東芝 磁気記録媒体の製造方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004237526A (ja) * 2003-02-05 2004-08-26 Fujitsu Ltd 微細パターン及びその母型を形成する方法
JP2005138011A (ja) * 2003-11-05 2005-06-02 Sony Corp 粒子配置構造体とその製造方法
JP2006075946A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Fujitsu Ltd ナノホール構造体及びその製造方法、並びに、磁気記録媒体及びその製造方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7156945B2 (en) * 2002-04-24 2007-01-02 Sipix Imaging, Inc. Process for forming a patterned thin film structure for in-mold decoration
JP4419507B2 (ja) * 2003-10-17 2010-02-24 富士ゼロックス株式会社 コンデンサの製造方法
KR100682887B1 (ko) * 2004-01-30 2007-02-15 삼성전자주식회사 나노구조 형성방법
JP4418300B2 (ja) * 2004-05-25 2010-02-17 株式会社日立製作所 記録媒体作製方法とこれを用いた記録媒体及び情報記録再生装置
US7279400B2 (en) * 2004-08-05 2007-10-09 Sharp Laboratories Of America, Inc. Method of fabricating single-layer and multi-layer single crystalline silicon and silicon devices on plastic using sacrificial glass
JP5103712B2 (ja) * 2005-06-16 2012-12-19 富士通株式会社 ナノホール構造体の製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004237526A (ja) * 2003-02-05 2004-08-26 Fujitsu Ltd 微細パターン及びその母型を形成する方法
JP2005138011A (ja) * 2003-11-05 2005-06-02 Sony Corp 粒子配置構造体とその製造方法
JP2006075946A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Fujitsu Ltd ナノホール構造体及びその製造方法、並びに、磁気記録媒体及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015531911A (ja) * 2012-07-27 2015-11-05 ナノメイド コンセプト 透明触知性表面を作製する方法、及びこの方法により得られる触知性表面

Also Published As

Publication number Publication date
CN101209814A (zh) 2008-07-02
US20080160190A1 (en) 2008-07-03
KR20080061267A (ko) 2008-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008165849A (ja) ナノ構造作成方法、および磁気ディスク製造方法
KR100647152B1 (ko) 나노 홀 구조체 및 그 제조 방법, 자기 기록 매체 및 그 제조 방법 및 자기 기록 장치 및 자기 기록 방법
JP4665720B2 (ja) パターン基板,パターン基板の製造方法、微細金型および磁気記録用パターン媒体
US20100215788A1 (en) Mold and method for producing the same
WO2006078952A1 (en) Methods for fabricating a long-range ordered periodic array of nano-features, and articles comprising same
JP2006346820A (ja) ナノホール構造体及びその製造方法、スタンパ及びその製造方法、磁気記録媒体及びその製造方法、並びに、磁気記録装置及び磁気記録方法
KR20070090086A (ko) 패턴화된 기판으로부터 스탬퍼를 분리하는 방법 및 장치
JP2008293609A (ja) 複製用型の製造方法、ナノホール構造体の製造方法、及び磁気記録媒体の製造方法
US8617643B2 (en) Reprogrammable parallel nanomanufacturing
JP4850817B2 (ja) 磁気転写用マスターディスクの製造方法
JP2010102820A (ja) モールド構造体、並びにそれを用いたインプリント方法及び磁気転写方法
JP4136653B2 (ja) 構造体の製造方法
JP2008305473A (ja) ナノ構造体の製造方法、磁気記録媒体の製造方法
JP2009070544A (ja) 磁気記録媒体の製造方法、及び磁気記録媒体
JP4742073B2 (ja) 磁気記録媒体の製造方法
JP2015056187A (ja) 微細パターン形成方法、剥離方法、磁気記録媒体の製造方法、磁気記録媒体、及びスタンパーの製造方法
US7785513B2 (en) Method of manufacturing molded product and method of manufacturing storage medium
JP2010080010A (ja) 情報記録媒体基板の製造方法
JP2008165947A (ja) 磁気記録媒体及びその製造方法
US8481245B2 (en) System, method and apparatus for pattern clean-up during fabrication of patterned media using forced assembly of molecules
US20070020386A1 (en) Encapsulation of chemically amplified resist template for low pH electroplating
JP2008001965A (ja) 多孔質体の製造方法および多孔質樹脂体の製造方法
JP2006277818A (ja) 磁気転写用マスターディスクの製造方法、電鋳浴成分濃度管理システム、及び磁気記録媒体
JP2007262510A (ja) ナノホール構造体の製造方法
JP2010131832A (ja) スタンパの製造方法及び記憶媒体の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090907

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100601

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101109