JP2008142956A - 印刷版及びその製造方法並びに液晶表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】パターンの寸法精度を保ちつつ、中抜けによるパターンの欠損を抑制することができる凸版反転オフセット印刷用印刷版及び該印刷版を用いた液晶表示装置の製造方法並びに液晶表示装置の提供。
【解決手段】基板に転写するパターンに対応する必要パターン部が凹部となり、基板に転写しないパターンに対応する不要パターン部が凸部となる凸版反転オフセット印刷用の印刷版6において、印刷版6の少なくとも一つの必要パターン部の内部に、少なくとも一つの凸型に形成された補助パターン9を備えるものであり、この補助パターン9により、大面積の必要パターン部の底部にブラケット1のインキ5が接触して残留する中抜けと呼ばれるパターンの欠損を抑制することができ、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在する場合であっても、印刷版6を用いてパターンを形成することができる。
【選択図】図1
【解決手段】基板に転写するパターンに対応する必要パターン部が凹部となり、基板に転写しないパターンに対応する不要パターン部が凸部となる凸版反転オフセット印刷用の印刷版6において、印刷版6の少なくとも一つの必要パターン部の内部に、少なくとも一つの凸型に形成された補助パターン9を備えるものであり、この補助パターン9により、大面積の必要パターン部の底部にブラケット1のインキ5が接触して残留する中抜けと呼ばれるパターンの欠損を抑制することができ、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在する場合であっても、印刷版6を用いてパターンを形成することができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、印刷版及びその製造方法並びに液晶表示装置に関し、特に、凸版反転オフセット印刷法で用いる印刷版の構造及びその製造方法並びにその印刷版を用いて製造された液晶表示装置に関する。
近年、高解像度のディスプレイとして液晶表示装置が広く用いられている。この液晶表示装置は、薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)等のスイッチング素子が形成された基板(以下、TFT基板と呼ぶ。)とカラーフィルタ、ブラックマトリクス等が形成された対向基板(以下、CF基板と呼ぶ。)との間に液晶を狭持し、TFT基板と対向基板の各々に設けた電極間、又はTFT基板内に設けた複数の電極間の電界で液晶分子の配向方向を変化させ、光の透過量を各々の画素で制御するものである。
このTFT基板やCF基板には,配線や電極などの高精細なパターンやカラーフィルタなどの比較的線幅の大きなパターン、絶縁膜などの基板全面を覆うパターン等、様々なパターンが形成されており、これらのパターンの形成方法として、従来はフォトリソグラフィー法が用いられてきた。しかし近年、液晶表示装置の低コスト化のため、工程が複雑で高価な製造装置を必要とするフォトリソグラフィー法の代替技術として、例えば、特許第3730002号などに記載されている凸版反転オフセット印刷法が提案されている。
図11を用いて凸版反転オフセット印刷法を説明する。
まず、エッチングマスクとなるレジストからなるインキ5をコーター4に用意し、このインキ5をシリコーン樹脂などからなるブランケット1の外周面に均一な厚さに塗布する。次に、インキ5の塗布膜が形成されたブランケット1を印刷版6に転動させながら接触させ、印刷版6の凸部にブランケット1上の不要なインキ5を転写する。この際の印刷版6には、所望のパターンを反転させたパターンが凸部となるようにあらかじめ形成されているため、ブランケット1の外周面には必要とする所望のパターンのインキ5が残る。次に、所望パターンのインキ5のみが形成されているブランケット1を基板8の上に転動させつつ接触させ、基板8に所望のレジストインキパターン7を形成する。
この印刷法は、コーター4でブランケット1上に塗布したインキ5の所望パターンのみを基板8に転写することができるため、フォトリソグラフィー法と同等の高精細なパターンの形成が可能であるが、大面積パターンの印刷を行う場合には、印刷版6の凹部の底にブランケット1上のインキ5が接触してしまい、大面積パターンの内部が欠落する中抜けと呼ばれる不具合が発生するという問題があった。
この中抜け現象を図12及び図13を参照して説明する。
図12は、従来の高精細パターンの凸版反転オフセット印刷法の動作概念図である。図12(a)に示すように、ブランケット1の外周面にインキ5が均一な厚さに塗布された状態で、印刷版6に転動させながら接触させると、印刷版6の凸部にブランケット上の不要なインキが転写する。その際、図12の例では所望のパターンが高精細パターンであるため、インキ5が印刷版6の凹部底に接触することがなく、図12(b)に示すように、中抜けは発生しない。
一方、図13は、大面積パターンを従来の凸版反転オフセット印刷法で形成する際の動作概念図である。この場合は、所望のパターンが大面積パターンであるため、図13(a)に示すように、ブランケット1を印刷版6に転動させながら接触させる際に、印刷版6の凹部底にブランケット1上のインキ5が接してしまい(中抜け発生箇所20参照)、図13(b)に示すように、印刷版6の凹部底に中抜けによる残留インキ21が生じ、ブランケット1上から必要パターンのインキ5が欠損してしまう。
図14に大面積の配線パターンを凸版反転オフセット印刷法にて印刷した場合の、出来上がりパターンの例を示す。配線パターンが大面積パターンであるためブラケット1上に中抜けが発生し、その結果、基板8に転写したインキ5をマスクとして配線パターン13をエッチングすると、図14のように配線パターン13内部に、残留インキ21に対応する中抜け部分22が生じてしまう。さらに、印刷版6の凹部底にブランケット1上のインキ5が接触する際に、凹部の底のインキ接触部とインキ非接触部とが同一平面上にあるため、ブラケット1上のインキ5が不均一に欠損し、中抜けによる欠損パターンは図14のようにゆがんでしまい、中抜けによる欠損パターンの大面積化、欠損パターンの周りのインキ膜厚不均一化などを引き起こしてしまう。
この問題に対して、印刷版6の凹凸の高さの差を大きくすれば中抜けは発生しにくくなるが、印刷版6は主にウェットエッチングにより形成しているために等方的にエッチングが進行し、パターン間隔が狭い領域では、高精細なパターンを形成することが困難となる。つまり、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在するTFT基板などの印刷版6を作製することは困難であった。また、凹凸の高さの差を大きくするために長時間のエッチングが必要となり、さらに長時間のエッチングによりパターンの寸法精度が悪化するなどの問題も有していた。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、その主たる目的は、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在する場合であっても、パターンの寸法精度を保ちつつ、中抜けによるパターンの欠損を抑制することができる凸版反転オフセット印刷用印刷版及びその製造方法並びに液晶表示装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明は、転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版において、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に、凸型に形成された補助パターンが形成されているものである。
本発明においては、前記補助パターンを含む前記第1のパターン部の表面に撥インキ処理層が形成されている構成、又は、少なくとも前記補助パターンの上面に撥インキ処理層が形成されている構成とすることができ、前記撥インキ処理層は、フッ素コーティング樹脂、シリコーン樹脂、シランカップリング剤のいずれか一つからなることが好ましい。
また、本発明においては、前記補助パターンは、前記第2のパターン部よりも低く形成されている構成とすることができる。
また、本発明においては、前記補助パターンの幅は、略3〜10μmとすることができまた、前記第1のパターン部と前記第2のパターン部の高さの差をAとした場合に、直径が17.8×A1.37μm以内の領域に対して、前記補助パターンが少なくとも一つ配置される構成とすることができる。
また、本発明の薄膜トランジスタ基板は、上記いずれか一に記載の前記印刷版を用いて形成された配線パターン又は透明導電層パターンを有し、前記配線パターン又は前記透明導電層パターンの内部に、配線又は透明導電層のない、前記補助パターンに基づく孤立した欠損パターンが形成されているものである。
また、本発明の薄膜トランジスタ基板は、上記いずれか一に記載の前記印刷版を用いて形成されたコンタクトホールを有し、前記コンタクトホールの外部に、層間接続に寄与しない、前記補助パターンに基づく他のコンタクトホールが形成されているものである。
また、本発明の液晶表示装置は、上記薄膜トランジスタ基板を備えるものである。
また、本発明は、転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、印刷版基板上に金属膜を成膜する工程と、前記金属膜上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、前記第1のレジストパターンをマスクとして前記金属膜をエッチングする工程と、前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、前記金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凹型の前記第1のパターン部を形成する工程と、前記金属膜をエッチングして除去する工程と、を少なくとも有し、前記第1のレジストパターンを形成する工程では、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残し、前記第1のパターン部を形成する工程では、前記所定の部分に凸型の補助パターンを形成するものである。
また、本発明は、転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、印刷版基板上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、前記第1のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凹型の前記第1のパターン部を形成する工程と、前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、を少なくとも有し、前記第1のレジストパターンを形成する工程では、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残し、前記第1のパターン部を形成する工程では、前記所定の部分に凸型の補助パターンを形成するものである。
本発明においては、前記印刷版基板上に第2のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第1のパターン部に隣接する前記第2のパターン部に前記第2のレジストを残した第2のレジストパターンを形成する工程と、前記第2のレジストパターンをマスクとして、前記印刷版基板に撥インキ処理を施す工程と、前記第2のレジストパターンを剥離する工程と、を有する構成、又は、前記第1のパターン部の内部に撥インキ処理液滴を滴下する工程を有する構成とすることができる。
また、本発明は、転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、印刷版基板上に第1の金属膜を成膜する工程と、前記第1の金属膜上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、前記第1のレジストパターンをマスクとして前記第1の金属膜をエッチングする工程と、前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、前記第1の金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凸型の補助パターンを形成する工程と、前記第1の金属膜をエッチングして除去する工程と、前記印刷版基板上に第2の金属膜を成膜する工程と、前記第2の金属膜上に第2レジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第2のレジストを残した第2のレジストパターンを形成する工程と、前記第2のレジストパターンをマスクとして前記第2の金属膜をエッチングする工程と、前記第2のレジストパターンを剥離する工程と、前記第2の金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、その内部に凸型の前記補助パターンが配置された前記第1のパターン部を形成する工程と、前記第2の金属膜をエッチングして除去する工程と、を少なくとも有するものであり、前記第2の金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチング後、前記第2の金属膜を除去する前に、前記印刷版基板全面に撥インキ処理を施す構成とすることができる。
また、本発明は、転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、印刷版基板上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、前記第1のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凸型の補助パターンを形成する工程と、前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、前記印刷版基板上に第2のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第2のレジストを残した第2のレジストパターンを形成する工程と、前記第2のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、その内部に凸型の前記補助パターンが配置された前記第1のパターン部を形成する工程と、前記第2のレジストパターンを剥離する工程と、を少なくとも有するものであり、前記第2のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチング後、前記第2のレジストパターンを剥離する前に、前記印刷版基板全面に撥インキ処理を施す構成とすることができる。
このように、凸版反転オフセット印刷用の印刷版において、印刷版の少なくとも一つの第1のパターン部の内部に凸型に形成された補助パターンを形成することにより、凸版反転オフセット印刷固有の問題である中抜けを抑制することができる。
すなわち、大面積パターンを凸版反転オフセット印刷法で印刷する場合であっても、大面積の第1のパターン部(必要パターン部)の内部に凸型の補助パターンが形成されているため、印刷版の凹部の底にインキが接触することによる中抜けを防止することができ、補助パターン部分のみに中抜け欠損パターンを限定することができる。また、補助パターンは凸型となっているため、中抜け欠損パターンを高精細に制御することができ、欠損パターン周囲の必要パターンのインキ膜厚が不均一になることもない。
また、凸型の補助パターンの少なくとも上面に撥インキ処理層を形成することにより、ブランケット上のインキが印刷版の補助パターンに接触しても、インキが転写されずに中抜けを防止することもできる。
また、凸型補助パターンの高さを第2のパターン部(不要パターン部)よりも低くすることにより、ブランケット上のインキが補助パターンに接触しても、ブランケットから補助パターンにかかる圧力、いわゆる印圧を低くすることができるため、よりインキが転写されにくくなり、中抜けを防止することができる。
本発明の凸版反転オフセット印刷用印刷版及びその製造方法並びに液晶表示装置によれば、印刷版の少なくとも一つの凹型の必要パターン部の内部に少なくとも一つの凸型の補助パターンを形成することにより、必要パターンが大面積の場合であっても、印刷版の凹部の底面にインキが接触して、パターン制御不能な大面積の中抜けパターン欠損が生じることが無く、また、インキの転写位置および面積を完全に制御することができる。
また、凸型の補助パターンに撥インキ処理層を設けることにより、ブランケットから凸型補助パターンへのインキの転写を抑制することができ、中抜けパターン欠損を防止することができる。
また、凸型の補助パターンの高さを不要パターン部よりも低くすることにより、印刷版へのインキ転写時に補助パターンにかかる印圧が低くなり、凸型補助パターンへのインキの転写をより抑制することができ、中抜けパターン欠損を防止することができる。
上記効果を、図4を用いて説明する。図4の領域1で示された部分は、従来の印刷版で中抜けが生じることなく印刷が可能な領域を示し、領域2で示された部分は、従来の印刷版ではパターン制御不能な大面積の中抜け不良が発生する領域を示す。本発明によれば、領域2の部分であっても、中抜けによるパターン欠損を防止もしくは抑制できるため、印刷版作製時のエッチング寸法精度が向上し、高精細パターンと大面積パターンとが共存したパターンを凸版反転オフセット印刷法で形成することができる。
本発明は、その好ましい一実施の形態において、基板に転写するパターンに対応する必要パターン部が凹部となり、基板に転写しないパターンに対応する不要パターン部が凸部となる凸版反転オフセット印刷用の印刷版において、印刷版の少なくとも一つの凹型の必要パターン部の内部に、少なくとも一つの凸型に形成された補助パターンを備えるものであり、この補助パターンにより、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在する場合であっても、パターンの寸法精度を保ちつつ、凸版反転オフセット印刷固有の問題である中抜けによるパターンの欠損を抑制することができ、液晶表示装置のTFT基板やCF基板などを高い歩留まりで安価に製造することができる。
上記した本発明の一実施の形態についてさらに詳細に説明すべく、本発明の第1の実施例に係る凸版反転オフセット印刷用印刷版及びその製造方法並びに液晶表示装置について、図1乃至図4を参照して説明する。図1は、本実施例の凸版反転オフセット印刷用印刷版の構造及び印刷時の動作を模式的に示す断面図であり、図2は、その印刷版の製造方法を示す工程断面図である。また、図3は、その印刷版によって形成される配線パターンの例を示す図であり、図4は、本実施例の効果を説明する図である。
以下、図1を参照して、本実施例の印刷版の構造及び印刷時の動作について説明する。
まず、印刷版の構造について説明する。本実施例の印刷版6は、凸版反転オフセット印刷用であり、必要パターン部(すなわち、TFT基板やCF基板に転写するパターンに対応する部分)は凹型、不要パターン部(すなわち、TFT基板やCF基板に転写するパターン以外に対応する部分)は凸型となるように凹凸パターンが設けられており、さらに、少なくとも一つの必要パターン部の内部には、凸型の補助パターン9が設けられている。
上記補助パターン9は、凹部と凸部の高さの差(凹凸高さ)をAとすると、必要パターン部の内部の直径が17.8×A1.37(μm)以内の領域に対して少なくとも一つ存在することが望ましい。その根拠は、図4に示した凹凸高さAと印刷線幅Bの関係図によるものである。すなわち、図4の領域1で示された部分は、従来の印刷版で中抜けが生じることなく印刷が可能な領域であり、領域2で示された部分は、従来の印刷版ではパターン制御不能な大面積の中抜け不良が発生する領域であり、その境界が、B=17.8×A1.37で表されることから、凹凸高さAに応じ、直径が17.8×A1.37(μm)以内の領域に対して補助パターン9が少なくとも一つ形成されていれば、凹凸高さAが小さい印刷版6でも中抜けを制御しながら不良が発生しない大面積パターンを印刷することが可能となるからである。
また、上記補助パターン9の幅は、略3〜10μmの範囲で形成することが望ましい。下限の3μmは、補助パターン9を印刷版6に形成する際にフォトリソグラフィー法を用いる必要があり、3μm以下ではパターン精度を出すことが困難だからである。また、上限の10μmは、一般的な配線幅は10μm程度であり、10μm幅の配線パターンを形成するには必要パターン部の幅は10μmとなり、必要パターン部内に形成する補助パターン9の幅は10μm未満とする必要があるからである。
なお、図1は本実施例の印刷版を模式的に示した図であり、印刷版6の厚み、印刷版6における必要パターン部及び不要パターン部の幅や数量、配置、ブラケット1のサイズなどは図の構成に限定されない。また、図1では、転写胴2として円筒型のものを記載しているが、円筒型以外の形状、例えば、平面の転写胴などを用いることができる。
次に、本実施例の印刷版6を用いた凸版反転オフセット印刷方法について説明する。まず、図1(a)に示すように、シリコーンゴムなどからなるブランケット1の外周面に、エッチングマスク用のレジストなどからなるインキ5を均一な厚さに塗布し、ソーダライムガラス、無アルカリガラス、石英ガラスなどの平坦性が高く、親インキ性の高い材料で形成された印刷版6に転動させながら接触させてゆくと、図1(b)に示すように、印刷版6の凸部にブランケット1上の不要なインキが転写する。その際、印刷版6の材料として親インキ性の材料を選んでいるため、ブランケット1上の不要なインキ5は印刷版6の凸部に100%転写する。また、印刷版6の必要パターン部には、凸型の補助パターン9が形成されているため、必要パターン部が大面積であっても、凹型の必要パターン部の底にインキ5が接触することがない。つまり、従来問題であった欠損位置が制御不能で欠損面積が大きい中抜けは発生せず、補助パターン9を設けた部分のみに高精細の中抜け欠損パターンを限定することができる。
その後、外周面に所望パターンのインキ5のみが形成されたブランケット1を基板(図示せず)の上に転動させつつ接触させ、インキ5を基板に転写する。インキ5を基板に100%転写させるためには、ブランケット1の表面エネルギー<基板の表面エネルギーの関係になる基板を選択することが望ましいが、ブランケットの表面エネルギー>基板の表面エネルギーとなる基板を用いる場合には、基板の表面にヘキサメチルジシラザン(HMDS)などの表面エネルギーを向上する処理を実施し、親インキ性を高めておくことが望ましい。このようにインキ5を基板に印刷することで、基板上に高精細なレジストパターンを形成することができる。
上記凸型の補助パターン9を設けた印刷版6を用いて形成した、中抜け欠損パターンを制御した配線パターンの例を図3(a)に示す。図14に示した従来のパターンと比べると、小面積で高精細な補助パターン9に対応する部分のみが欠損パターン14となるため、中抜けを抑制することが可能となる。また、本実施例の印刷版6は、従来の中抜け対策のように印刷版6の凹凸高さを大きくする必要がないため、高精細パターンを形成することができる。つまり、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在するTFT基板などの印刷版6も作製することが可能となる。
次に、本実施例の印刷版6の製造方法について図2を参照して説明する。
まず、図2(a)に示すように、印刷版基板11の不要パターン部となる領域に、金属膜などからなる版エッチング用マスク12を形成する。その際、必要パターン部の少なくとも一部の、後に凸型の補助パターン9となる領域にも版エッチング用マスク12を形成する。
この版エッチングマスク12は、フォトリソグラフィー法を用いて形成することができ、例えば、印刷版基板11にCrなどの金属膜を成膜し、フォトレジストを塗布、露光、現像して所定のパターンにし、レジストで被覆されていない部分の金属膜をエッチングにより除去した後、レジストを剥離することによって形成することができる。また、金属膜は、蒸着法、スパッタ法などによって成膜することができ、ウェットエッチング法などによりエッチングすることができる。また、この版エッチングマスク12は、金属膜を用いずにフォトリスグラフィー法でパターニングしたレジストを用いることもできる。
次に、図2(b)に示すように、印刷版基板11の版エッチングマスク12で被覆していない部分をエッチングして凹型とする。このエッチングは、フッ酸などによるウェットエッチング法を用いることができる。ここでエッチングする深さが印刷版6の凹凸高さAとなり、例えば、凹凸高さAを2〜5μm程度とすることができる。
最後に、図2(c)に示すように、版エッチングマスク12をウェットエッチングなどで除去し、本実施例の印刷版6が完成する。
以下に、本実施例の印刷版6の利用例として、TFT基板を作製する方法を説明する。ここでは、逆スタガ構造のチャネルエッチ型アモルファスシリコンTFT基板の製造方法について説明するが、他の構造や種類の基板に対しても同様に適用することができる。
まず、ガラス基板全面にゲート金属膜を例えばスパッタ法により成膜する。ゲート金属膜としては、例えば上層Mo50nm、下層Al200nmの積層膜を使用する。次に、本実施例の印刷版6を用いた凸版反転オフセット印刷法により、ゲートパターンエッチング用のレジストを形成する。次に、ゲート金属膜をエッチングする。MoとAlの積層膜をエッチングする場合は、例えばリン酸/硝酸/酢酸/水の混酸を用いて、一括して順テーパーにエッチングすることができる。エッチング後、レジストを剥離する。この製法で形成されたパターンは、必要パターン内に図3(a)のような、補助パターン8に対応した部分が欠損したゲート金属層パターンとなるが、欠損パターン14は孤立しており、パターン全体の面積に対して十分に小さいため、表示不良になる恐れはない。
次に、例えばプラズマCVD法を用いて、基板全面にSiNx膜からなるゲート絶縁膜を300nmの厚さで形成する。次に、例えばプラズマCVD法を用いて、ゲート絶縁膜の上に、TFTの半導体層となるa−Si層を200nm、さらにその上にn+型a−Si層を形成する。次に、本実施例の印刷版6を用いた凸版反転オフセット印刷法により、半導体層のアイランド状パターンエッチング用のレジストを形成する。このレジスト印刷の際に、半導体層表面の親インキ性を高めるために、HMDS処理を施すことが望ましい。その後、例えばドライエッチングにてn+型a−Si層およびa−Si層の二層をエッチングし、エッチング後にレジストを剥離する。このようにして二層構造のTFT領域を形成する。この状態では、TFT領域以外の箇所はゲート絶縁膜が露出している構造となっている。上記半導体層に本実施例の印刷版6を用いる場合は、補助パターン9を薄膜トランジスタのチャネル領域以外に配置する必要がある。これは、チャネル領域に補助パターン9による半導体層の欠損パターンが生じると、トランジスタ特性を著しく劣化する恐れがあるためである。また、望ましくは、後述する第2の実施例や第3の実施例の印刷版6を用いることで、補助パターン9に対応する部分を欠損させることなく、半導体層を形成することができる。
次に、例えばスパッタ法を用いて、基板全面にドレイン金属膜を成膜する。ドレイン金属膜としては、例えば上層からMo50nm、Al200nm、Mo50nm三層の積層膜を使用する。次に、本実施例の印刷版6を用いた凸版反転オフセット印刷法により、ドレインパターンエッチング用のレジストを形成する。次に、ドレイン金属膜をエッチングする。MoとAlの積層膜をエッチングする場合は、例えばリン酸/硝酸/酢酸/水の混酸を用いて、一括して順テーパーにエッチングすることができる。このドレイン層パターニングにより、同時にトランジスタのドレイン電極およびソース電極も形成される。この製法で形成されたパターンは、ゲート金属層パターンと同様に、必要パターン内に図3(a)のような、補助パターン9に対応する部分が欠損したドレイン金属層パターンとなるが、欠損パターン14は孤立しており、パターン全体の面積に対して十分に小さいため、表示不良になる恐れはない。
次に、TFT領域にあるn+型a−Si層の、ドレイン電極とソース電極とで挟まれた箇所(チャネル領域)を例えばドライエッチングなどで選択的にエッチングする。このエッチングの後にドレイン層パターニング時に印刷にて形成したレジストを剥離する。
次に、例えばプラズマCVD法を用いて、200nmの厚さのSiNx膜からなるパッシベーション絶縁膜を、基板全面に成膜する。
次に、パッシベーション膜とその下にあるゲート絶縁膜にコンタクトホールを形成する。まず、本実施例の印刷版6を用いた凸版反転オフセット印刷法により、コンタクトホールパターンエッチング用のレジストを形成する。このレジスト印刷の際に、パッシベーション膜表面の親インキ性を高めるために、HMDS処理を施すことが望ましい。その後、パッシベーション膜とその下にあるゲート絶縁膜を例えばドライエッチングによりエッチングする。このコンタクトホールエッチングによりパッシベーション膜およびゲート絶縁膜の下のゲート層およびドレイン層の表面が露出する。エッチング後、レジストを剥離する。なお、このコンタクトホールエッチング工程には、バッファードフッ酸などの薬液によるウェットエッチングを使用することも可能である。この製法で形成されたコンタクトホールは、所望のコンタクトホール以外にも、補助パターン9で欠損したレジストにより孤立した不要なコンタクトホールが形成されるが、ホール面積が小さく、また、補助パターン9で欠損する箇所をあらかじめ設計できるため、表示不良になる恐れはない。
次に、例えばスパッタ法を用いて、基板全面にピクセル電極となる透明導電膜を成膜する。透明導電膜としては、例えば、ITOやIZOなどを50nmの厚さで形成できる。次に、本実施例の印刷版6を用いた凸版反転オフセット印刷法により、ピクセル電極パターンエッチング用のレジストを形成する。このレジスト印刷の際に、透明導電膜表面の親インキ性を高めるために、HMDS処理を施すことが望ましい。次に、透明導電膜を例えばウェットエッチングでエッチングする。エッチング後にレジストを剥離する。この製法で形成されたパターンは、ゲート/ドレイン金属層パターンと同様に、必要パターン内に図3(a)のような、補助パターン9に対応する部分が欠損したピクセル電極パターンとなるが、欠損パターン14は孤立しており、パターン全体の面積に対して十分に小さいため、表示不良になる恐れはない。
なお、上記説明では本実施例の印刷版6を用いてエッチングマスク用のレジストを形成したが、エッチングマスク用のレジストのみならず、以下のようなTFT基板やCF基板を直接構成する各層の機能を果たすインキを用いて、構成材料を基板に直接印刷法でパターニングすることも可能であり、構成材料を直接パターニングすることにより、レジストパターンを印刷してパターニングする際に必要なエッチング工程やレジスト剥離工程などが不要となり、製造工程を簡略化することができる。
直接印刷用のインキの例を以下に挙げる。ゲート層、ドレイン層、遮光層は、ナノ粒子径の金属を分散させたインキを用いる。ナノ粒子の粒径は、1〜60nmがよく、望ましくは5nm程度とする。また、ピクセルなどに使用する透明導電層用のインキは、ITO及びIZOなどの透明金属をナノ粒子径で分散させたものを用いる。絶縁膜層は、アクリル樹脂などを溶剤に溶解させたものを使用する。カラーフィルタの色層は、各種染料顔料を溶媒に分散させたインキを使用する。また、半導体層を形成するインキとしては、ペンタセン、テトラセンなどを溶媒に分散させたものや、導電性高分子であるポリチオフェンやポリフェニレンビニレンなどを用いることができる。
このように、印刷版6の少なくとも一つの必要パターン部の内部に、少なくとも一つの凸型に形成された補助パターン9を設けることにより、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在するパターンであっても、パターンの寸法精度を保ちつつ、凸版反転オフセット印刷固有の問題である中抜けによるパターンの欠損を抑制することができ、液晶表示装置を構成するTFT基板やCF基板などを高い歩留まりで安価に製造することができる。
次に、本発明の第2の実施例に係る凸版反転オフセット印刷用印刷版及びその製造方法並びに液晶表示装置について、図5乃至図8を参照して説明する。図5及び図6は、本実施例の凸版反転オフセット印刷用印刷版の構造及び印刷時の動作を模式的に示す断面図であり、図7及び図8は、その印刷版の製造方法を示す工程断面図である。
以下、図5を参照して、本実施例の印刷版の構造及び印刷時の動作について説明する。
まず、印刷版の構造について説明する。本実施例の印刷版6は凸版反転オフセット印刷用であり、必要パターン部は凹型、不要パターン部は凸型に凹凸パターンが設けられており、少なくとも一つの必要パターン部の内部に凸型の補助パターン9が設けられている。さらに、必要パターン部の表面には撥インキ処理層16が形成されている。なお、補助パターン9の配置や幅、転写胴2の形状、印刷版6の材料などに関しては前記した第1の実施例と同様である。
次に、本実施例の印刷版を用いた印刷方法を説明する。まず、図5(a)に示すように、シリコーンゴムなどからなるブランケット1の外周面に、エッチングマスク用のレジストなどからなるインキ5が均一な厚さに塗布された状態で、印刷版6に転動させながら接触させてゆくと、図5(b)に示すように、印刷版6の凸部にブランケット1上の不要なインキ5が転写する。その際、印刷版6の材料として親インキ性の材料を選んでいるため、ブランケット1上の不要なインキ5が印刷版6の凸部に100%転写する。このインキ転写の際に、補助パターン9にもブランケット1上のインキ5が接触するが、印刷版6の必要パターン部の表面には撥インキ処理層16が形成されているため、補助パターン9にはインキが転写しない。つまり、従来問題だった中抜け欠損の問題を完全に抑制することができる。
その後、外周面に所望パターンのインキ5のみが形成されたブランケット1を基板(図示せず)の上に転動させつつ接触させ、インキ5を基板に転写する。なお、基板の選択や処理に関しては第1の実施例と同様である。このようにインキ5を基板に印刷することで、高精細なレジストパターンを基板に形成することができる。
上記凸型の補助パターン9を設けた印刷版6を用いて形成した、中抜け欠損パターンを制御した出来上がり配線パターンの例を図3(b)に示す。従来、配線パターンが大面積である場合に発生していた中抜け欠損パターンがなく、所望の配線パターンが形成されている。また、本実施例の印刷版6は従来の中抜け対策のように、印刷版6の凹凸高さを大きくする必要がないため、高精細パターンを形成することができる。つまり、高精細パターンと大面積パターンが両方存在するTFT基板などの印刷版も作製することが可能となる。
なお、この撥インキ処理層16は、必要パターン部の全てに形成されている必要はなく、例えば、図6に示すように、補助パターン9の上面及びその周辺にのみ撥インキ処理層16が形成されている構成としてもよいし、補助パターン9の上面にのみ撥インキ処理層16が形成されている構成としてもよい。
次に、本実施例の印刷版の製造方法について説明する。図7は、図5の印刷版6の製造方法の概略図である。
まず、図7(a)に示すように、印刷版基板11の不要パターン部となる領域に、金属膜などからなる版エッチング用マスク12を形成する。その際、必要パターン部の少なくとも一部の、後に凸型の補助パターン9となる領域にも版エッチング用マスク12を形成する。この版エッチングマスク12は、第1の実施例と同様に、フォトリソグラフィー法を用いて、例えばCrなどの金属膜で形成してもよいし、金属膜を用いずにフォトリスグラフィー法でパターニングしたレジストを用いてもよい。
次に、図7(b)に示すように、印刷版基板11の版エッチングマスク12で被覆していない領域をエッチングして凹型とする。このエッチングは、第1の実施例と同様に、フッ酸などによるウェットエッチング法を用いることができる。ここでエッチングする深さが印刷版6の凹凸高さAとなり、例えば、凹凸高さAを2〜5μm程度とすることができる。
次に、図7(c)に示すように、版エッチングマスク12をウェットエッチングなどで除去する。
次に、図7(d)に示すように、印刷版基板11の不要パターン部を覆うように撥インキ処理用マスク15を形成する。この撥インキ処理用マスク15としては、フォトリソグラフィー法にて形成したレジストを用いることができる。
次に、図7(e)に示すように、印刷版基板11表面の撥インキ処理用マスク15で覆われていない領域に撥インキ処理を施して撥インキ処理層16を形成する。例えば、ポリテトラフルオロエチレンからなるフッ素コーティング樹脂やジメチルシロキサンなどのシリコーン樹脂およびシランカップリング剤などを溶剤に溶かしておき、それを塗布、乾燥することで、撥インキ性を持たせることができる。塗布の方法としては、スピンコート法、スリットコート法または、スプレー法などを用いることができる。このとき撥インキ材の乾燥後の表面エネルギーは、撥インキ材<インキとなるような撥インキ材を使用する。好ましくは、撥インキ材の表面エネルギーが18dyn/cm以下となるような材料を使用する。具体的には、撥インキ材として、Novec EGC-1720(住友スリーエム(株)製)を使用すると、コーティング後の表面エネルギーは、13dyn/cmとなり、撥インキ材として優れた機能を示す。
最後に、図7(f)に示すように、撥インキ処理用マスク15を剥離して、本実施例の印刷版6が完成する。
図8は、図6の印刷版6の製造方法の概略図である。印刷版基板11に凹凸加工を施す図8(a)〜(c)は、上記した図7(a)〜(c)と同様である。その後、図8(d)に示すように、必要パターン部の全て、もしくは補助パターン9の上面および周辺に撥インキ処理液滴17を滴下する。滴下後、撥インキ処理液滴17を乾燥させることにより、図8(e)に示すように補助パターン9の上面および周辺に撥インキ処理層16が形成され、本実施例の印刷版6が完成する。
このように、印刷版6の少なくとも一つの必要パターン部に内部に、少なくとも一つの凸型に形成された補助パターン9を設け、かつ、少なくとも補助パターン9の上面に撥インキ処理層16を形成することにより、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在するパターンであっても、パターンの寸法精度を保ちつつ、凸版反転オフセット印刷固有の問題である中抜けによるパターンの欠損を防止することができ、この印刷版6を用いることにより、液晶表示装置を構成するTFT基板やCF基板などを高い歩留まりで安価に製造することができる。
次に、本発明の第3の実施例に係る凸版反転オフセット印刷用印刷版及びその製造方法並びに液晶表示装置について、図9及び図10を参照して説明する。図9は、本実施例の凸版反転オフセット印刷用印刷版の構造及び印刷時の動作を模式的に示す断面図であり、図10は、その印刷版の製造方法を示す工程断面図である。
以下、図9を参照して、本実施例の印刷版の構造及び印刷時の動作について説明する。
まず、印刷版の構造について説明する。本実施例の印刷版6は凸版反転オフセット印刷用であり、必要パターン部は凹型、不要パターン部は凸型に凹凸パターンが設けられており、少なくとも一つの必要パターン部の内部に凸型の補助パターン9が設けられている。さらに、補助パターン9は不要パターン部よりも低く形成されている。なお、補助パターン9の配置や幅、転写胴2の形状、印刷版6の材料などに関しては前記した第1の実施例と同様である。また、少なくとも補助パターン9の上面に撥インキ処理層16を形成してもよい。
次に、本実施例の印刷版を用いた印刷方法を説明する。まず、図9(a)に示すように、シリコーンゴムなどからなるブランケット1の外周面に、エッチングマスク用のレジストなどからなるインキ5が均一な厚さに塗布された状態で、印刷版6に転動させながら接触させてゆくと、図9(b)に示すように、印刷版6の凸部にブランケット1上の不要なインキ5が転写する。その際、印刷版6の材料として親インキ性の材料を選んでいるため、ブランケット1上の不要なインキ5が印刷版6の凸部に100%転写する。このインキ転写の際に、補助パターン9にもブランケット1上のインキ5が接触するが、補助パターン9は不要パターン部よりも低く形成されているため、補助パターン9にかかる印圧は不要パターン部よりも低くなり、補助パターン9へのインキ転写抑制効果が高くなる。
その後、外周面に所望パターンのインキ5のみが形成されたブランケット1を基板(図示せず)の上に転動させつつ接触させ、インキ5を基板に転写する。なお、基板の選択や処理に関しては第1の実施例と同様である。このようにインキ5を基板に印刷することで、高精細なレジストパターンを基板に形成することができる。
次に、本実施例の印刷版の製造方法について説明する。図10は、図9の印刷版の製造方法の概略図である。
まず、図10(a)に示すように、印刷版基板11の補助パターン9となる領域に第1エッチング用マスク18を形成する。この第1エッチング用マスク18は、フォトリソグラフィー法を用いて、例えばCrなどの金属膜で形成してもよいし、金属膜を用いずにフォトリスグラフィー法でパターニングしたレジストを用いてもよい。
次に、図10(b)に示すように、印刷版基板11の第1エッチング用マスク18で被覆していない領域をエッチングする。ここでエッチングする深さは、後の補助パターン9の高さとなり、1〜3μm程度とすることができる。
次に、第1エッチング用マスク18をウェットエッチングなどで除去した後、図10(c)に示すように、不要パターン部に第2エッチング用マスク19を形成する。この第2エッチング用マスク19も、フォトリソグラフィー法を用いて、例えばCrなどの金属膜で形成してもよいし、金属膜を用いずにフォトリスグラフィー法でパターニングしたレジストを用いてもよい。
次に、図10(d)に示すように、印刷版基板11の第2エッチング用マスク19で被覆していない部分をエッチングして凹型とする。ここでエッチングする深さが、印刷版6の凹凸高さAとなり、例えば、凹凸高さAを2〜5μmとすることができる。また、このエッチングの際に補助パターン9の部分も同時にエッチングされるため、補助パターン9の高さを不要パターン領域よりも低く形成することができる。つまり、第1のエッチング深さ<第2のエッチング深さとする。
次に、図10(e)に示すように、印刷版基板11表面の第2エッチング用マスク19で被覆していない領域に撥インキ処理を施して撥インキ処理層16を形成する。この撥インキ処理は、前記した第2の実施例と同様の手法、材料を使用することができる。
最後に、図10(f)に示すように、第2エッチング用マスク19をウェットエッチングなどで除去して、本実施例の印刷版6が完成する。
このように、印刷版6の少なくとも一つの必要パターン部の内部に、少なくとも一つの凸型に形成された補助パターン9を設け、かつ、補助パターン9を不要パターン部よりも低くし、更に、必要に応じて少なくとも補助パターン9の上面に撥インキ処理層16を形成することにより、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在するパターンであっても、パターンの寸法精度を保ちつつ、凸版反転オフセット印刷固有の問題である中抜けによるパターンの欠損を防止することができ、この印刷版6を用いることにより、液晶表示装置を構成するTFT基板やCF基板などを高い歩留まりで安価に製造することができる。
なお、上記各実施例では、本発明の印刷版6を用いてTFT基板やCF基板などの液晶表示装置を構成する基板を製造したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、高精細なパターンと大面積パターンとが両方存在するパターンを備える任意の基板に対して同様に適用することができる。
本発明は、凸版反転オフセット印刷法で使用する印刷板、及びその印刷板を用いた基板の製造方法、並びにその方法で製造される基板に利用可能である。
1 ブラケット
2 転写胴
3 転写軸
4 コーター
5 インキ
6 印刷版
7 レジストインキパターン
8 基板
9 補助パターン
11 印刷版基板
12 版エッチング用マスク
13 配線パターン
14 欠損パターン
15 撥インキ処理用マスク
16 撥インキ処理層
17 撥インキ処理滴
18 第1エッチング用マスク
19 第2エッチング用マスク
20 中抜け発生箇所
21 中抜けによる残留インキ
22 中抜け部分
2 転写胴
3 転写軸
4 コーター
5 インキ
6 印刷版
7 レジストインキパターン
8 基板
9 補助パターン
11 印刷版基板
12 版エッチング用マスク
13 配線パターン
14 欠損パターン
15 撥インキ処理用マスク
16 撥インキ処理層
17 撥インキ処理滴
18 第1エッチング用マスク
19 第2エッチング用マスク
20 中抜け発生箇所
21 中抜けによる残留インキ
22 中抜け部分
Claims (18)
- 転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版において、
少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に、凸型に形成された補助パターンが形成されていることを特徴とする印刷版。 - 前記補助パターンを含む前記第1のパターン部の表面に撥インキ処理層が形成されていることを特徴とする請求項1記載の印刷版。
- 少なくとも前記補助パターンの上面に撥インキ処理層が形成されていることを特徴とする請求項1記載の印刷版。
- 前記撥インキ処理層は、フッ素コーティング樹脂、シリコーン樹脂、シランカップリング剤のいずれか一つからなることを特徴とする請求項2又は3に記載の印刷版。
- 前記補助パターンは、前記第2のパターン部よりも低く形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一に記載の印刷版。
- 前記補助パターンの幅は、略3〜10μmであることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一に記載の印刷版。
- 前記第1のパターン部と前記第2のパターン部の高さの差をAとした場合に、前記第1のパターン部の内部の直径が17.8×A1.37μm以内の領域に対して、前記補助パターンが少なくとも一つ配置されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一に記載の印刷版。
- 請求項1乃至7のいずれか一に記載の前記印刷版を用いて形成された配線パターン又は透明導電層パターンを有し、前記配線パターン又は前記透明導電層パターンの内部に、配線又は透明導電層のない、前記補助パターンに基づく孤立した欠損パターンが形成されていることを特徴とする薄膜トランジスタ基板。
- 請求項1乃至7のいずれか一に記載の前記印刷版を用いて形成されたコンタクトホールを有し、前記コンタクトホールの外部に、層間接続に寄与しない、前記補助パターンに基づく他のコンタクトホールが形成されていることを特徴とする薄膜トランジスタ基板。
- 請求項8又は9に記載の前記薄膜トランジスタ基板を備えることを特徴とする液晶表示装置。
- 転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、
印刷版基板上に金属膜を成膜する工程と、
前記金属膜上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、
前記第1のレジストパターンをマスクとして前記金属膜をエッチングする工程と、
前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、
前記金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凹型の前記第1のパターン部を形成する工程と、
前記金属膜をエッチングして除去する工程と、を少なくとも有し、
前記第1のレジストパターンを形成する工程では、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残し、前記第1のパターン部を形成する工程では、前記所定の部分に凸型の補助パターンを形成することを特徴とする印刷版の製造方法。 - 転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、
印刷版基板上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、
前記第1のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凹型の前記第1のパターン部を形成する工程と、
前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、を少なくとも有し、
前記第1のレジストパターンを形成する工程では、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残し、前記第1のパターン部を形成する工程では、前記所定の部分に凸型の補助パターンを形成することを特徴とする印刷版の製造方法。 - 前記印刷版基板上に第2のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第1のパターン部に隣接する前記第2のパターン部に前記第2のレジストを残した第2のレジストパターンを形成する工程と、
前記第2のレジストパターンをマスクとして、前記印刷版基板に撥インキ処理を施す工程と、
前記第2のレジストパターンを剥離する工程と、を有することを特徴とする請求項11又は12に記載の印刷版の製造方法。 - 前記第1のパターン部の内部に撥インキ処理液滴を滴下する工程を有することを特徴とする請求項11又は12に記載の印刷版の製造方法。
- 転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、
印刷版基板上に第1の金属膜を成膜する工程と、
前記第1の金属膜上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、
前記第1のレジストパターンをマスクとして前記第1の金属膜をエッチングする工程と、
前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、
前記第1の金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凸型の補助パターンを形成する工程と、
前記第1の金属膜をエッチングして除去する工程と、
前記印刷版基板上に第2の金属膜を成膜する工程と、
前記第2の金属膜上に第2レジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第2のレジストを残した第2のレジストパターンを形成する工程と、
前記第2のレジストパターンをマスクとして前記第2の金属膜をエッチングする工程と、
前記第2のレジストパターンを剥離する工程と、
前記第2の金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、その内部に凸型の前記補助パターンが配置された前記第1のパターン部を形成する工程と、
前記第2の金属膜をエッチングして除去する工程と、を少なくとも有することを特徴とする印刷版の製造方法。 - 前記第2の金属膜をマスクとして前記印刷版基板をエッチング後、前記第2の金属膜を除去する前に、前記印刷版基板全面に撥インキ処理を施すことを特徴とする請求項15に記載の印刷版の製造方法。
- 転写パターンに対応して凹型に形成された第1のパターン部と、凸型に形成された第2のパターン部とを含む凸版反転オフセット印刷用の印刷版の製造方法であって、
印刷版基板上に第1のレジストを塗布し、露光・現像して、少なくとも一つの前記第1のパターン部の内部に対応する所定の部分に前記第1のレジストを残した第1のレジストパターンを形成する工程と、
前記第1のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、凸型の補助パターンを形成する工程と、
前記第1のレジストパターンを剥離する工程と、
前記印刷版基板上に第2のレジストを塗布し、露光・現像して、前記第2のパターン部に対応する部分に前記第2のレジストを残した第2のレジストパターンを形成する工程と、
前記第2のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチングして、その内部に凸型の前記補助パターンが配置された前記第1のパターン部を形成する工程と、
前記第2のレジストパターンを剥離する工程と、を少なくとも有することを特徴とする印刷版の製造方法。 - 前記第2のレジストパターンをマスクとして前記印刷版基板をエッチング後、前記第2のレジストパターンを剥離する前に、前記印刷版基板全面に撥インキ処理を施すことを特徴とする請求項17に記載の印刷版の製造方法。
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