JP2008134137A - バーンイン装置 - Google Patents

バーンイン装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008134137A
JP2008134137A JP2006320109A JP2006320109A JP2008134137A JP 2008134137 A JP2008134137 A JP 2008134137A JP 2006320109 A JP2006320109 A JP 2006320109A JP 2006320109 A JP2006320109 A JP 2006320109A JP 2008134137 A JP2008134137 A JP 2008134137A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
burn
temperature adjustment
measurement unit
unit
adjustment unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006320109A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4818891B2 (ja
Inventor
Yukio Miyahara
原 幸 夫 宮
Mitsuru Fukuda
田 充 福
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Engineering Corp
Original Assignee
Japan Engineering Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Engineering Corp filed Critical Japan Engineering Corp
Priority to JP2006320109A priority Critical patent/JP4818891B2/ja
Publication of JP2008134137A publication Critical patent/JP2008134137A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4818891B2 publication Critical patent/JP4818891B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

【課題】容易に分離して移動可能なバーンイン装置を提供する。
【解決手段】バーンイン装置は、被試験デバイスが挿入されたバーンインボードが収納される、測定ユニットと、前記測定ユニットに分離可能に連結される温度調整ユニットであって、冷媒を循環させるための冷却コンプレッサと、前記測定ユニットと当該温度調整ユニットとの間を循環する空気と前記冷媒との間で熱交換をしてこの空気を冷却するための熱交換器と、前記熱交換器と前記冷却コンプレッサとの間で冷媒を循環させるためのパイプとを有する、温度調整ユニットと、を備えて構成されている。
【選択図】図5

Description

本発明は、バーンイン装置に関し、特に、移動の容易化を図ったバーンイン装置に関する。
電子部品等の半導体装置の初期不良を顕在化し、初期故障品の除去を行うためのスクリーニング試験の一種であるバーンイン(Burn-In)試験を行う装置として、バーンイン装置が知られている。このバーンイン装置は半導体テスト装置の一種であり、被試験デバイス(Device Under Test)である半導体装置を複数装着したバーンインボードをバーンイン装置内に収納し、被試験デバイスに、電圧を印加して電気的ストレスを与えるとともに、恒温槽内部の空気を加熱して所定の温度の熱ストレスを与えることにより、初期不良を顕在化させる。また、このバーンイン試験においては、被試験デイバスに動作用の電源や信号を供給して、被試験デバイスの動作テストを行い、被試験デイバスが正常に動作しているかどうかを試す試験を行う。
このようなバーンイン装置では、数時間から数十時間に亘る長時間のバーンイン試験が行われることから、試験効率を向上させるために、複数の被試験デバイスを1枚のバーンインボードに挿入するとともに、このバーンインボードを複数毎、バーンイン装置に収納して、バーンイン試験を行うのが一般的である(例えば、特許文献1:特開2005−265665号公報参照)。
このように恒温槽の内部に複数のバーンインボードを収納するため、バーンイン装置が全体的に大きくなる傾向があり、大きなバーンイン装置の移動が困難な場合が生じている。例えば、バーンイン装置をエレベータに乗せようとする場合、エレベータの高さ、幅、奥行きには限りがあり、エレベータにバーンイン装置が乗せられないことも生じている。また、バーンイン装置を設置する室内の入り口の高さ、幅にも限りがあり、バーンイン装置をこの入り口から室内に搬入できないことも生じている。このような場合には、バーンイン装置をいくつかのパーツに分離して、エレベータに乗せたり、室内に搬入したりする必要がある。
しかしながら、バーンイン装置は基本的に分解して分離されることを前提として作成されていないため、分離作業と組み立て作業が非常に煩雑である。特に、冷却システムを備えているバーンイン装置においては、冷却コンプレッサと熱交換器との間で冷媒を循環させる必要があるが、バーンイン装置を分解する際に、この冷媒も抜けてしまう。冷却コンプレッサにおける冷媒のバルブと、熱交換器における冷媒のバルブを閉めれば、冷却コンプレッサや熱交換器からの冷媒の飛散は防ぐことができるが、冷却コンプレッサと熱交換器との間のパイプ内に存在する冷媒は、それでも飛散してしまう。このため、バーンイン装置の移動が完了して、組み立てが完了した後に、再び、冷媒を補充しなければならないという問題も生じている。
特開2005−265665号公報
そこで本発明は、前記課題に鑑みてなされたものであり、容易に分離して移動可能なバーンイン装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明に係るバーンイン装置は、
被試験デバイスが挿入されたバーンインボードが収納される、測定ユニットと、
前記測定ユニットに分離可能に連結される温度調整ユニットであって、冷媒を循環させるための冷却コンプレッサと、前記測定ユニットと当該温度調整ユニットとの間を循環する空気と前記冷媒との間で熱交換をしてこの空気を冷却するための熱交換器と、前記熱交換器と前記冷却コンプレッサとの間で冷媒を循環させるためのパイプとを有する、温度調整ユニットと、
を備えることを特徴とする。
この場合、前記温度調整ユニットは、前記測定ユニットと当該温度調整ユニットとの間を循環する空気を加熱するためのヒーターを、さらに備えるようにしてもよい。
また、前記温度調整ユニットは、前記測定ユニットと当該温度調整ユニットとの間で、空気を循環させるためのファンを、さらに備えるようにしてもよい。
また、前記測定ユニットは、バーンインボードが収納される領域に設けられた予備ヒーターを備えるようにしてもよい。
また、前記温度調整ユニットから前記測定ユニットに空気が送り出される第1ダクト開口に対応する位置に、前記温度調整ユニットから前記測定ユニットに空気が流れ込む第2ダクト開口が位置しており、前記第1ダクト開口と前記第2ダクトが連結されることにより、前記温度調整ユニットから前記測定ユニットに空気を流すためのダクトが形成され、
前記測定ユニットから前記温度調整ユニットに空気が送り出される試験領域開口に対応する位置に、前記測定ユニットから前記温度調整ユニットに空気が流れ込む調整領域開口が位置しており、前記試験領域開口と前記調整領域開口とが連結されることにより、前記測定ユニットから前記温度調整ユニットに空気が流れるようにしてもよい。
また、前記温度調整ユニット又は前記測定ユニットに分離可能に連結されて、前記冷却コンプレッサの駆動制御を行う制御ユニットをさらに備えるようにしてもよい。
発明を実施するための形態
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
図1は、本発明の一実施形態に係るバーンイン装置10の全体的な斜視図であり、図2は、図1のバーンイン装置10の全体的な正面図である。図3は、バーンイン装置10の内部構成を説明するための正面レイアウト図であり、バーンインボードBIBが収納された状態を示している。図4は、バーンイン装置10のコネクタ50にバーンインボードBIBのエッジコネクタを挿入した状態を示す部分的な斜視図である。
これらの図に示すように、本実施形態に係るバーンイン装置10は、温度調整ユニット100と、測定ユニット200と、制御ユニット300とにより、構成されている。温度調整ユニット100と測定ユニット200の内部には、断熱壁30で区画された空間により、恒温槽40が形成されている。この恒温槽40における測定ユニット200の内部には、1又は複数のバーンインボードBIBが収納される。
この図に示すバーンイン装置10の例では、バーンインボードBIBを挿入するためのコネクタ50が、15段×4組の配置で固定的に取り付けられており、合計60枚のバーンインボードを、これらのコネクタ50に挿入することが可能である。但し、この恒温槽40内に設けるコネクタ50の数や配置は任意に変更可能である。すなわち、恒温槽40内に収納されるバーンインボードBIBの数や配置は、任意に変更可能である。
また、このバーンイン装置10には、2枚のドア20が設けられており、ドア20を開状態にすることにより、バーンインボードを恒温槽40から出し入れできるようになる。また、このドア20にも断熱材が組み込まれており、ドア20を閉状態にすることにより、周囲から熱的に遮断された空間である恒温槽40が構成される。
また、本実施形態においては、キャリアラックCRごと、バーンインボードBIBが恒温槽40に収納される。すなわち、15枚のバーンインボードBIBを格納したキャリアラックCRを、恒温槽40に収納することにより、15枚のバーンインボードBIBが恒温槽40に収納される。したがって、本実施形態に係るバーンイン装置10には、4台のキャリアラックCRを収納することができることになる。
さらに、本実施形態に係るバーンイン装置10においては、この恒温槽40の左側、上側、右側と延びる空気循環ダクトDTが設けられている。空気循環ダクトDTの左上側には、ファン70が設けられている。このファン70が駆動すると、空気循環ダクトDTの左側から、バーンインボードBIBのある試験領域の空気が吸引され、空気循環ダクトDTの上側及び右側を通って、再び、バーンインボードBIBのある試験領域に送出される。つまり、ファン70により、恒温槽40内の空気の循環が形成され、恒温槽40の内部の空気が攪拌されて、恒温槽40の内部温度が場所によらずに均一になる。これにより、バーンインボードに装着された被試験デバイスDUTである半導体装置の周囲の温度を、所望の温度にすることができるようになる。
また、バーンイン装置10の左側には、上述した温度調整ユニット100が設けられている。この温度調整ユニット100内には、冷却コンプレッサ102と熱交換器104とが収納されている。本実施形態においては、この冷却ユニット100は、冷媒として冷却水を用いた冷却方式を採用している。このため、冷却コンプレッサ102は、冷却水を循環するためのコンプレッサであり、冷却コンプレッサ102から送出された冷却水は、パイプ106を通って熱交換器104に到達し、熱交換器104において、冷却水の冷熱が恒温槽40の内部の空気と熱交換される。熱交換器104で熱交換された冷却水は、再びパイプ106を通って冷却コンプレッサ102に戻る。
熱交換器104は、恒温槽40内に設けられている。このため、冷却ユニット100が稼働している状態で、ファン70により恒温槽内部の空気が循環すると、循環された空気が熱交換器104で冷却され、恒温槽40の内部の温度を下げることができる。
また、熱交換器104の左側には、ヒーター120が設けられている。このヒーター120は、例えば電熱ヒーターにより構成されており、ヒーター120に電源が供給されると発熱するように構成されている。ヒーター120が発熱している状態で、恒温槽40内の空気を循環させることにより、恒温槽40内の空気の温度を上げることができる。
さらに、測定ユニット200における中央部分に、予備ヒーター130が設けられている。すなわち、右側の列のコネクタ50と、左側の列のコネクタ50との間に、予備のヒーターである予備ヒーター130が設けられている。この予備ヒーター130も、例えば電熱ヒーターにより構成されており、予備ヒーター130に電源が供給されると発熱するように構成されている。予備ヒーター130が発熱している状態で、恒温槽40内の空気を循環させることにより、恒温槽40内の空気の温度を上げることができる。
また、本実施形態においては、予備ヒーター130は、個別に電源の供給を制御することができ、このため、個別にオン/オフ制御することができる。これにより、循環する空気の下流側に位置する図中左側のバーンインボードBIBが収納される領域の温度を、高い精度で制御することが可能となり、温度分布の均一化を図ることができる。
本実施形態においては、バーンイン装置10の全体的な制御を、制御ユニット300が行う。すなわち、ヒーター120や予備ヒーター130の制御や、冷却コンプレッサ102の制御は、制御ユニット300が行う。
図5は、本実施形態に係るバーンイン装置10を、温度調整ユニット100と、測定ユニット200と、制御ユニット300とに、分離した状態を説明するブロック図であり、図6は、これら温度調整ユニット100と、測定ユニット200と、制御ユニット300とを組み立てて、1つのバーンイン装置10を構成した状態を説明するブロック図である。これら図5及び図6は、上述した図3のバーンイン装置10を模式化して示している。
これら図5及び図6に示すように、本実施形態に係るバーンイン装置10では、温度調整ユニット100と、測定ユニット200と、制御ユニット300とに分離して、3つのパーツに分解することができる。
上述したように、温度調整ユニット100には、冷却コンプレッサ102と、熱交換器104とが組み込まれており、これら冷却コンプレッサ102と熱交換器104との間は冷媒を循環させるパイプ106で接続されている。しかし、本実施形態の温度調整ユニット100では、この冷却コンプレッサ102と熱交換器104は、温度調整ユニット100内に収納されているので、冷媒を循環させるパイプ106も温度調整ユニット100内に収納されている。このため、温度調整ユニット100と測定ユニット200とを分離したとしても、パイプ106内の冷媒が飛散することはない。また、温度調整ユニット100と測定ユニット200とを分離する際に、パイプ106の冷媒の飛散を極力抑えるために、パイプ106を閉止するためのバルブを閉めたり、冷却コンプレッサ102や熱交換器104のバルブを閉じたりする必要はない。
さらに、本実施形態に係るバーンイン装置10では、温度調整ユニット100内に、ヒーター120とファン70も収納されている。すなわち、冷却コンプレッサ102や熱交換器104を含め、このバーンイン装置10の冷却システム全体が、温度調整ユニット100内に収納されている。このため、温度調整ユニット100と測定ユニット200との分離作業を極めて容易に行うことができる。
温度調整ユニット100と測定ユニット200とを連結して、バーンイン装置10を組み立てる際には、バーンインボードBIBが収納される試験領域の上を空気が流れるためのダクト400とダクト410とを連結する。具体的には、ダクト400のダクト開口402と、ダクト410のダクト開口412との位置あわせをして連結することにより、温度調整ユニット100から測定ユニット200に空気を送り出すダクト開口402と、温度調整ユニット100から測定ユニット200に空気が流れ込むダクト開口412とが連結されて、温度調整ユニット100から測定ユニット200に空気が流れるための空気循環ダクトDTが形成される。
また、バーンインボードBIBが収納されている試験領域の空気が、図中右側の熱交換器104に向けて流れるようにするために、バーンインボードBIBが収納されている試験領域の開口420と、熱交換器104が収納されている収納領域の開口422との位置あわせをして連結する。これにより、測定ユニット200の試験領域の空気が、温度調整ユニット100に流れるようになる。そして、温度調整ユニット100と測定ユニット200との間の電気的な接続をするだけで、温度調整ユニット100と測定ユニット200との連結作業が終了する。
さらに、本実施形態に係るバーンイン装置10では、測定ユニット200と制御ユニット300との間も分離することができる。測定ユニット200と制御ユニット300との間を分離する場合には、測定ユニット200と制御ユニット300との間の電気的接続を切り離せばよい。そして、再度、測定ユニット200と制御ユニット300とを連結する場合には、測定ユニット200と制御ユニット300との間の電気的接続をするだけでよい。
図7は、温度調整ユニット100と、測定ユニット200と、制御ユニット300とを結合して、バーンイン装置10を組み立てる場合における、温度調整ユニット100と測定ユニット200との間を固定する手法の一例を説明する図であり、バーンイン装置10を正面から見た状態を示している。図8は、温度調整ユニット100と、測定ユニット200と、制御ユニット300とを結合して、バーンイン装置10を組み立てる場合における、温度調整ユニット100と測定ユニット200と制御ユニット300との間を固定する手法の一例を説明する図であり、バーンイン装置10を背面から見た状態を示している。
図7に示すように、バーンイン装置10の正面側においては、温度調整ユニット100と測定ユニット200との間は、上下に設けられた連結装置500によりそれぞれ連結される。
より具体的には、温度調整ユニット100の右下の角部には、L字状の第1連結部502が設けられており、この第1連結部502はネジ504により、温度調整ユニット100に取り付けられている。また、測定ユニット200の左下の角部には、逆L字状の第2連結部506が設けられており、この第2連結部はネジ508により、測定ユニット200に取り付けられている。
第1連結部502におけるバーンイン装置10から張り出した張り出し部510には、貫通孔512が形成されている。これに対応して、第2連結部506におけるバーンイン装置10から張り出した張り出し部520には、貫通孔522が形成されている。これら2つの貫通孔512、522との間の位置を合わせて、ネジ530を貫通孔512、522に貫通させて張り出し部510と張り出し部520とを共締めすることにより、第1連結部510と第2連結部506とが連結される。温度調整ユニット100の右上の角部と測定ユニット200の左上の角部との間に設けられている連結装置500も、これと同様の構成である。
なお、図1にも示したように、制御ユニット300の奥行きは、測定ユニット200の奥行きより短くなっていることから、バーンイン装置10の正面側においては、測定ユニット200と制御ユニット300との間は、段差が形成されている。このため、本実施形態においては、バーンイン装置10の正面側では、測定ユニット200と制御ユニット300との間は連結装置で連結されていない。但し、測定ユニット200と制御ユニット300との間の連結をより強固なものにするために、バーンイン装置10の正面側でも、測定ユニット200と制御ユニット300との間を連結装置で連結するようにしてもよい。
図8に示すように、バーンイン装置10の背面側においては、温度調整ユニット100と測定ユニット200との間は、上下に設けられた連結装置600によりそれぞれ連結されており、また、測定ユニット200と制御ユニット300との間も、上下に設けられた連結装置600によりそれぞれ連結されている。
より具体的には、温度調整ユニット100の左下の角部には、バーンイン装置10から張り出した第1張出連結部610が固定的に設けられており、この第1張出連結部610には、貫通孔612が形成されている。また、測定ユニット200の右下の角部には、バーンイン装置10から張り出した第2張出連結部620が固定的に設けられており、この第2張出連結部620には、貫通孔622が形成されている。
これら2つの貫通孔612、622との間の位置を合わせて、ネジ630を貫通孔612、622に貫通させて第1張出連結部610と第2張出連結部620とを共締めすることにより、第1連張出部610と第2張出部620とが連結される。
温度調整ユニット100の左上の角部と測定ユニット200の右上の角部との間に設けられている連結装置600も、これと同様の構成であり、測定ユニット200の左下の角部と制御ユニット300の右下の角部との間に設けられている連結装置600も、これと同様の構成であり、測定ユニット200の左上の角部と制御ユニット300の右上の角部との間に設けられている連結装置600も、これと同様の構成である。
以上のように、本実施形態に係るバーンイン装置10によれば、バーンイン装置10の温度調整ユニット100と測定ユニット200との間を容易に分離することができ、また、温度調整ユニット100と測定ユニット200とを容易に連結することができるので、バーンイン装置10を分解して容易に移動することができる。特に、冷却コンプレッサ102と熱交換器104とこれらの間で冷媒を循環させるパイプ106とが、いずれも温度調整ユニット100に収納されているので、温度調整ユニット100と測定ユニット200とを分離する際に、冷却コンプレッサ102と熱交換器104との間のパイプ106から、冷媒が飛散することを回避することができる。
また、空気循環ダクトDT内の空気を循環させるためのファン70も、温度調整ユニット100内に設けるようにしたので、測定ユニット200にファンを設ける場合と比べて、測定ユニット200の高さはその分、低くすることができ、ひいては、バーンイン装置10全体の高さも低くすることができる。すなわち、ファン70を温度調整ユニット100に設けることにより、ファン70の設置位置の自由度が増し、バーンイン装置10全体の高さを低く抑えることができる。
また、温度調整ユニット100と測定ユニット200を分離可能に構成しつつも、空気循環ダクトDTにおける空気の流路の断面積は、必要十分な大きさを確保することができるので、空気を循環させるための圧力損失を少なくでき、ファン70の出力も小さくて済むようになる。
さらに、予備ヒーター130を、バーンインボードBIBが収納される試験領域の中央部分に設けたので、バーンインボードBIBが収納されている試験領域内の温度の均一化を図ることができる。すなわち、予備ヒーター130を個別にオン/オフ制御することにより、恒温槽40内を循環する空気の下流側にある、図中左側のバーンインボードBIBが格納される領域の温度を安定化させることができる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されず種々に変形可能である。例えば、上述した実施形態では、制御ユニット300を測定ユニット200に分離可能に連結することとしたが、制御ユニット300は、温度調整ユニット100に分離可能に連結するようにしてもよい。
また、上述した実施形態では、制御ユニット300もバーンイン装置10から分離可能に構成したが、制御ユニット300は、必ずしも分離可能に構成する必要はない。例えば、制御ユニット300の制御機能を、温度調整ユニット100に組み込んでバーンイン装置10を構成するようにしてもよい。
また、上述した実施形態のバーンイン装置10では、キャリアラックCRごと、恒温槽40にバーンイン装置10を収納するとしたが、キャリアラックCRは恒温槽40に収納せずに、バーンインボードBIBだけを恒温槽40に収納するようにしてもよい。
図1は、本実施形態に係るバーンイン装置の全体構成の一例を説明する斜視図である。 図2は、図1に示したバーンイン装置の正面図である。 図3は、図1に示したバーンイン装置の内部レイアウトの一例を説明するための正面図である。 図4は、本実施形態に係るバーンイン装置におけるコネクタと、このコネクタに挿入されているバーンインボードとを示す部分的な斜視図である。 図5は、図1に示したバーンイン装置の温度調整ユニットと測定ユニットと制御ユニットとを分離した状態を説明するためのブロック図である。 図5に示した温度調整ユニットと測定ユニットと制御ユニットとを連結して、バーンイン装置を組み立てた状態を説明するためのブロック図である。 図7は、本実施形態に係る温度調整ユニットと測定ユニットとの間を連結する連結装置の構成の一例を説明するための正面図である。 図8は、本実施形態に係る温度調整ユニットと測定ユニットと制御ユニットの間を連結する連結装置の構成の一例を説明するための背面図である。
符号の説明
10 バーンイン装置
20 ドア
30 断熱壁
40 恒温槽
50 コネクタ
70 ファン
100 温度調整ユニット
200 測定ユニット
300 制御ユニット
BIB バーンインボード
CR キャリアラック

Claims (6)

  1. 被試験デバイスが挿入されたバーンインボードが収納される、測定ユニットと、
    前記測定ユニットに分離可能に連結される温度調整ユニットであって、冷媒を循環させるための冷却コンプレッサと、前記測定ユニットと当該温度調整ユニットとの間を循環する空気と前記冷媒との間で熱交換をしてこの空気を冷却するための熱交換器と、前記熱交換器と前記冷却コンプレッサとの間で冷媒を循環させるためのパイプとを有する、温度調整ユニットと、
    を備えることを特徴とするバーンイン装置。
  2. 前記温度調整ユニットは、前記測定ユニットと当該温度調整ユニットとの間を循環する空気を加熱するためのヒーターを、さらに備えることを特徴とする請求項1に記載のバーンイン装置。
  3. 前記温度調整ユニットは、前記測定ユニットと当該温度調整ユニットとの間で、空気を循環させるためのファンを、さらに備えることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のバーンイン装置。
  4. 前記測定ユニットは、バーンインボードが収納される領域に設けられた予備ヒーターを備える、ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のバーンイン装置。
  5. 前記温度調整ユニットから前記測定ユニットに空気が送り出される第1ダクト開口に対応する位置に、前記温度調整ユニットから前記測定ユニットに空気が流れ込む第2ダクト開口が位置しており、前記第1ダクト開口と前記第2ダクトが連結されることにより、前記温度調整ユニットから前記測定ユニットに空気を流すためのダクトが形成され、
    前記測定ユニットから前記温度調整ユニットに空気が送り出される試験領域開口に対応する位置に、前記測定ユニットから前記温度調整ユニットに空気が流れ込む調整領域開口が位置しており、前記試験領域開口と前記調整領域開口とが連結されることにより、前記測定ユニットから前記温度調整ユニットに空気が流れるようになる、
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載のバーンイン装置。
  6. 前記温度調整ユニット又は前記測定ユニットに分離可能に連結されて、前記冷却コンプレッサの駆動制御を行う制御ユニットをさらに備える、ことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載のバーンイン装置。
JP2006320109A 2006-11-28 2006-11-28 バーンイン装置 Expired - Fee Related JP4818891B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006320109A JP4818891B2 (ja) 2006-11-28 2006-11-28 バーンイン装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006320109A JP4818891B2 (ja) 2006-11-28 2006-11-28 バーンイン装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008134137A true JP2008134137A (ja) 2008-06-12
JP4818891B2 JP4818891B2 (ja) 2011-11-16

Family

ID=39559089

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006320109A Expired - Fee Related JP4818891B2 (ja) 2006-11-28 2006-11-28 バーンイン装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4818891B2 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01126576U (ja) * 1988-02-22 1989-08-29
JPH05315420A (ja) * 1992-05-06 1993-11-26 Fujitsu Ltd バーンイン装置
JPH1130642A (ja) * 1997-07-10 1999-02-02 Hitachi Electron Eng Co Ltd Icデバイスの試験装置
JP2002022794A (ja) * 2000-04-27 2002-01-23 Reliability Inc バーンイン装置のための冷却システム
WO2006009282A1 (ja) * 2004-07-23 2006-01-26 Advantest Corporation 電子部品試験装置
JP2008107143A (ja) * 2006-10-24 2008-05-08 Nippon Eng Kk 対象物移動装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01126576U (ja) * 1988-02-22 1989-08-29
JPH05315420A (ja) * 1992-05-06 1993-11-26 Fujitsu Ltd バーンイン装置
JPH1130642A (ja) * 1997-07-10 1999-02-02 Hitachi Electron Eng Co Ltd Icデバイスの試験装置
JP2002022794A (ja) * 2000-04-27 2002-01-23 Reliability Inc バーンイン装置のための冷却システム
WO2006009282A1 (ja) * 2004-07-23 2006-01-26 Advantest Corporation 電子部品試験装置
JP2008107143A (ja) * 2006-10-24 2008-05-08 Nippon Eng Kk 対象物移動装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4818891B2 (ja) 2011-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1842870B (zh) 温度控制装置、盘驱动单元测试设备和测试或操作多个盘驱动单元的方法
EP1973393B1 (en) Cooling system for information device
US6208510B1 (en) Integrated test cell cooling system
US11236754B2 (en) Universal fan system and configuration method
KR101437312B1 (ko) 데이터센터의 공기조화시스템
KR20160059691A (ko) 전자 디바이스 테스트 장치
JP4815466B2 (ja) 環境試験装置
US5978218A (en) Cooling system for IC tester
KR20090021160A (ko) 공기 조절 장치
JP4818891B2 (ja) バーンイン装置
KR20170115318A (ko) 온도조절 기능을 가지는 함체
WO2024017327A1 (zh) 液冷数据中心测试设备及液冷数据中心测试系统
KR20060008379A (ko) 반도체 검사를 위한 번인 테스터
JP6586698B2 (ja) 環境性能評価装置
TWM555109U (zh) 機櫃冷卻裝置
KR20170131095A (ko) 디스플레이용 냉각기 및 이를 적용한 디스플레이 장치
US10495565B2 (en) Environmental test chamber with uniform airflow
JP2007107919A (ja) バーンイン装置及びその制御方法
JP2007108111A (ja) バーンイン装置及びその制御方法
JP5047384B2 (ja) 環境試験装置
JP4805228B2 (ja) バーンイン装置
KR20190040816A (ko) 번인 장치
JP4886730B2 (ja) 環境試験装置
JP4732309B2 (ja) バーンイン装置
US11877426B2 (en) Temperature control cabinet and communications system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090520

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110225

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110328

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110415

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110609

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110708

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110805

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110831

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140909

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees