JP2008134101A - パルス幅測定装置およびそれを備えた距離測定装置 - Google Patents

パルス幅測定装置およびそれを備えた距離測定装置 Download PDF

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Abstract

【課題】安価な部品構成でありながら、パルス幅を正確に測定することが可能なパルス幅測定装置を提供する。
【解決手段】積分器32がアナログ的に個々の位相差パルスSTDの幅に応じた電圧レベルVoを累算して出力するので、この電圧レベルVoを利用して、位相差パルスSTDの幅を正確に算出できる。また、位相差パルスSTDの数が多くなるほど、積分器32からの電圧レベルVoも大きなものとなり、個々の位相差パルスSTDの幅が容易に測定できる。しかも、ここで位相差パルスSTDの幅を電圧レベルVoに変換するのは、乗算器や高速で動作する高価な部品ではなく、安価な積分器32であるため、パルス幅測定装置48として安価な部品構成を実現できる。
【選択図】図2

Description

本発明は、パルス幅測定装置およびこのパルス幅測定装置を備えた距離測定装置に関する。
レーザ光源からの送信パルスを測定対象に照射し、当該測定対象に当たって反射した反射パルスと送信パルスとの遅延時間から、測定対象までの距離を計測するタイム・オブ・フライトの距離測定装置が知られている。これは、計測原理が単純であることから、市場に多く出回っている。
例えば特許文献1では、送信手段から測定対象に送信された送信波に対応するパルス信号(送信パルス)と、測定対象に当たって反射した反射波に対応するパルス信号(反射パルス)とを乗算して、双方のパルス信号が重なり合う期間に出力オンパルスを発生させ、前記送信パルスの立上りから乗算結果である出力オンパルスの立上りまでの遅延時間を求めることによって、測定対象までの距離を計測するようにしている。この場合の送信パルスの幅は、測定対象までの距離計測に必要な前記遅延時間よりも広く設定でき、結果的に必要な最大距離測定性能を備えることができる。
特開2001−42029号公報
上記従来技術において、送信パルスと出力オンパルスとの時間差を正確に計測できれば、測定対象までの距離を正しく測定することができるが、光の速度は極めて速く、この時間差は非常に短いことから、通常のパルス幅を計測する方法(例えば、超高速A/D変換器を用いる方法やパルスカウント法)では、高速で動作する非常に高価な部品を必要とするだけでなく、精度向上には限界がある。また、上記引用文献1において、送信パルスと反射パルスのミキシングに使用する乗算器も、同様に高価な部品でコスト上昇を招く懸念を生じていた。
本発明は上記問題点に鑑みなされたもので、安価な部品構成でありながら、パルス幅を正確に測定することが可能なパルス幅測定装置を提供することを目的とする。
また、本発明の別な目的は、安価な部品構成でありながら、送信パルスと反射パルスとの時間差パルスの幅を正確に測定して、最終的に測定対象までの距離を正しく測定することが可能な距離測定装置を提供することにある。
本発明の請求項1におけるパルス幅測定装置は、繰り返し出力されるパルスを入力とし、このパルスの幅とパルス数に比例した電圧レベルを出力する積分器と、前記積分器から出力される電圧レベルに基づいて、前記パルスの幅を算出するパルス幅演算手段と、を備えて構成される。
また、本発明の請求項2におけるパルス幅測定装置は、前記パルスの数をカウントするカウンタ手段と、前記積分器からの電圧レベルと閾値とを比較する比較器と、を備え、前記パルス幅演算手段は、前記比較器からの出力により、前記電圧レベルが前記閾値に達したと判断すると、前記カウント手段から前記パルスのカウント数を取得し、このカウント数から前記パルスの幅を算出するものであることを特徴としている。
また、本発明の請求項3におけるパルス幅測定装置は、前記パルスの数をカウントするカウンタ手段を備え、前記パルス幅演算手段は、前記カウンタ手段からの出力により、前記パルスが一定数に達したと判断すると、その時点における前記積分器からの電圧レベルを取得し、この電圧レベルから前記パルスの幅を算出するものであることを特徴としている。
さらに、本発明の請求項4は、前記請求項1〜3の何れか一つに記載のパルス幅測定装置を備えた距離測定装置であって、測定対象に送信パルスを出力する送信手段と、前記送信パルスが前記測定対象に当たって反射した反射パルスを受信する受信手段と、前記送信パルスと前記反射パルスとの位相差パルスを、前記パルスとして生成するパルス生成手段と、前記パルス幅演算手段が算出した前記パルスの幅から、前記測定対象までの距離を算出する距離演算手段と、を備えている。
請求項1におけるパルス幅測定装置では、パルス幅が短いものであっても、積分器がアナログ的に個々のパルス幅に応じた電圧レベルを累算して出力するので、この電圧レベルを利用して、パルス幅を正確に算出することができる。また、パルス数が多くなるほど、積分器からの電圧レベルも大きなものとなり、個々のパルス幅の測定が容易になる。しかも、ここでパルス幅を電圧レベルに変換するのは、乗算器や高速で動作する高価な部品ではなく、安価な積分器であるため、パルス幅測定装置として安価な部品構成を実現できる。
請求項2におけるパルス幅測定装置では、電圧レベルが閾値に達したときに、それまでカウント手段でカウントしていたパルスの数を取得すれば、1パルス当りの電圧レベルの変動量を算出して、個々のパルス幅を算出できる。
請求項3におけるパルス幅測定装置では、パルスが一定数に達したときに、積分器からの電圧レベルがどの程度変化したのか取得すれば、1パルス当りの電圧レベルの変動量を算出して、個々のパルス幅を算出できる。
請求項4における距離測定装置では、前記パルス幅測定装置が、測定対象に出力した送信パルスと、その送信パルスが測定対象に当たって反射した反射パルスとの位相差パルスの幅を正確に測定して、最終的に測定対象までの距離を正しく測定することが可能になる。しかもこの場合も、位相差パルスの幅を電圧レベルに変換するのは、乗算器や高速で動作する高価な部品ではなく、安価な積分器であるため、距離測定装置として安価な部品構成を実現できる。
以下、添付図面に基づき、本発明におけるパルス幅測定装置を備えた距離測定装置の好ましい実施例を詳細に説明する。
先ず、距離測定装置の全体的な概略構成を図1に基づいて説明する。同図において、1は測定対象Sに向けられた距離測定装置で、これは測定光送信部2,測定光受信部3,制御・演算部4,位相差検出部5,操作・表示部6の各部により構成される。送信手段である測定光送信部2は、測定対象Sに送信パルスであるパルス変調された測定光を出力するもので、発振源であるレーザダイオード(LD)11と、対物レンズ12と、LD駆動回路13と、変調信号発生回路14と、を備えている。この中で、変調信号発生回路14は、後述するマイクロコンピュータ27からの制御信号Sを受けて、測定光のパルス幅に対応するパルス変調信号Sを生成し、これをLD駆動回路13に出力する。LD駆動回路13は、変調信号発生回路14から出力されるパルス変調信号Sを、レーザダイオード11が動作し得る駆動信号に変換する。この駆動信号を受けたレーザダイオード11は、前記パルス変調信号に基づく測定光を、対物レンズ12を介して測定対象Sに照射するようになっている。
一方、受信手段である測定光受信部3は、前記パルス変調された測定光が測定対象Sに当たって反射した反射光(受信レーザパルス)を受信するもので、集光用の対物レンズ21と、光検出器(PD)22と、光電流増幅回路23と、を備えている。そして、対物レンズ21を介して集光された反射光が、光検出器22によって電気信号に変換され、この電気信号が光電流増幅回路23により増幅および方形波状に波形整形されることで、反射光に対応したレベルの反射パルス信号Sを光電流増幅回路23から出力するようになっている。
なお、本実施例の測定光送信部2は、測定対象Sへの搬送波としてレーザ光を利用しているが、他の電磁波や音波を利用してもよい。また、光検出器22以外の検出手段を用いてもよい。
位相差検出部5は、前記変調信号発生回路14で生成したパルス変調信号と、前記光電流増幅回路23から出力された反射パルス信号との時間的なずれである位相差を検出する位相差検出回路25を備えている。この位相差検出回路25による検出結果は、制御・演算部4を構成するマイクロコンピュータ27に出力される。マイクロコンピュータ27は、位相差検出回路25からの検出結果を受けて、距離測定装置1から測定対象Sに至る距離を算出するようになっている。さらに、操作・表示部6は、操作手段であるスイッチ28と、表示手段である表示器29とにより構成され、必要に応じてスイッチ28からの操作信号がマイクロコンピュータ27に送り出されると共に、前記測定対象Sまでの距離や、エラーメッセージなどが表示器29に表示出力されるようになっている。
図2は、特に距離測定に関連する要部の構成をあらわしている。同図において、位相差検出回路25は、繰り返しオン・オフするパルス変調信号Sと反射パルス信号Sとの位相差(時間差)パルスSTDを生成する位相差パルス生成回路31と、この位相差パルス生成回路31から繰り返し出力される位相差パルスSTDを入力として、当該位相差パルスSTDが入力される毎に、この位相差パルスSTDの幅に比例して段階的に変化するような電圧レベルVoを出力する積分器32と、積分器32からの電圧レベルVoと基準電源33からの基準電圧VREFとを比較する比較器34と、後述するリセット手段45からのリセット信号によりオンすると、積分器32をリセットしその電圧レベルVoをゼロにクリアするリセットスイッチ35と、を備えて構成される。
また、マイクロコンピュータ27は、内蔵するプログラムが実行する機能構成として、カウンタ手段41,パルス変調信号制御手段42,位相差パルス幅演算手段43,距離演算手段44,リセット手段45を各々備えている。この中で、パルス変調信号制御手段42は、変調信号発生回路14にパルス変調信号Sを生成するための制御信号Sを出力するもので、ここでの制御信号Scは予め決められた時間毎に繰り返される例えば矩形波状のパルスとして生成される。またカウンタ手段41は、制御信号Sのパルス出力数をカウントすることで、位相差パルス生成回路31から繰り返し出力される位相差パルスSTDの数をカウントして記憶保持するもので、必要に応じてその結果を位相差パルス幅演算手段43に出力することができる。
図2に示す位相差パルス幅演算手段43は、一つの例として、積分器32からの電圧レベルVoが基準電圧VREFを上回ったのを、比較器34からの出力電圧の変化で判断すると、その時点でカウンタ手段41から位相差パルスSTDのカウント数を取得するとともに、積分器32からの電圧レベルVoを取得して、個々の位相差パルスSTDの時間幅を算出するもので、ここで算出した個々の位相差パルスSTDの時間幅を用いて、距離演算手段44が測定対象Sまでの距離を算出し、これを例えば操作・表示部6の表示器29に表示出力するようになっている。またリセット手段45は、距離演算手段44による距離の算出がなされると、積分器32からの電圧レベルVoをゼロにすると共に、カウンタ手段41によるカウントをゼロに戻すリセット信号を出力するものである。なお、リセット信号の出力タイミングは、前記位相差パルス幅演算手段43が個々の位相差パルスSTDの時間幅を算出した時点であってもよい。
また、変調信号発生回路14から出力されるパルス変調信号Sが長い期間に渡って出力される場合には、積分器32の電圧レベルVoがリセットを伴いながら複数回基準電圧VREFを上回ることになるため、前記一連の動作はパルス変調信号Sの長さに応じて1回の測定に1回だけ行われる場合もあれば、繰り返し複数回行われる場合もある。この繰り返し回数が多くなればなるほど位相差パルスSTDの積算回数が増えるため、位相差パルスSTDの幅を正確に測定できるようになる。
さらに、別な例として、位相差パルスSTDの時間幅を算出する手段としては、カウンタ手段41によって制御信号Sのパルス出力数を一定数カウントするたびごとに位相差パルス幅演算手段43が積分器32の電圧レベルVoを取得することによってもよい。このときリセット手段45は、位相差パルス幅演算手段43が積分器32の電圧レベルVoを取得した後にリセット信号を積分器32に送る。
本実施例における距離測定装置1は、位相差パルスSTDの幅とパルス数に比例して増加する電圧レベルVoを出力する積分器32と、この電圧レベルVoに基づいて、個々の位相差パルスSTDの幅を算出するパルス幅演算手段としての位相差パルス幅演算手段43と、を備えたパルス幅測定装置48が組み込まれている。このパルス幅測定装置48は、位相差パルスSTD以外の各種パルスを入力として、そのパルスの時間幅を算出することができる。よって、距離測定装置1に限らず、パルスの時間幅算出の必要なあらゆる装置に、本実施例におけるパルス幅測定装置48を利用することができる。
次に、図3および図4に示す各部の波形図を参照しながら、上記構成の距離測定装置1について、その作用を説明する。なお図3では、位相差パルス生成回路31に入力する測定光(送信レーザパルス)に対応するパルス変調信号Sと、同じく位相差パルス生成回路31に入力する反射光(受信レーザパルス)に対応する反射パルス信号Sと、位相差パルス生成回路31からの位相差パルスSTDと、積分器32の電圧レベルVoとを、上段よりそれぞれ示している。また図4は、前記電圧レベルVoと基準電圧VREFとの関係を示すものである。
対物レンズ12,21を測定対象Sに向けた状態で、距離測定装置1の電源スイッチ(図示せず)をオンすると、マイクロコンピュータ27が作動して、パルス変調信号制御手段42から変調信号発生回路14に、一定周期で同一幅のパルス群からなるパルス制御信号Sが出力され、このパルス制御信号Sと同じ周期で同じ幅のパルス群を有するパルス変調信号Sが、測定光送信部2の変調信号発生回路14で生成される。これによりLD駆動回路13は、変調信号発生回路14からのパルス変調信号Sを駆動信号に変換してレーザダイオード11に出力し、これを受けてレーザダイオード11は、パルス変調信号Sで変調されたレーザ搬送波を、測定光として対物レンズ12を通して測定対象Sに照射する。
また、カウンタ手段41は、最初のリセット状態を起点として、パルス変調信号制御手段42から制御信号Sが出力される毎に、この制御信号Sのパルス出力数から、位相差パルスSTDのパルス出力数をカウントする。個々の位相差パルスSTDのパルス幅は非常に短いため、マイクロコンピュータ27でパルス出力数を直接カウントするのは困難であるが、図3に示すように、一つのパルス変調信号Sや反射パルス信号Sに対し、位相差パルスSTDは2パルス生成されるので、位相差パルスSTDよりもパルス幅の広い制御信号S(パルス変調信号STや反射パルス信号SRでもよい)のパルス数をカウントすれば、簡単に位相差パルスSTDのパルス数を取得できる。
前記測定光が測定対象Sに当たって反射した反射光は、別な対物レンズ21を通して光検出器22の受光面に集光され、電気信号に変換される。この電気信号は、光電流増幅回路23によって増幅および方形波状に波形整形され、反射光に対応したレベルの反射パルス信号Sが、位相差検出回路25に出力される。
位相差検出回路25を構成する位相差パルス生成回路31には、前記反射パルス信号Sの他に、前記変調信号発生回路14で生成したパルス変調信号Sが入力される。このときの反射パルス信号Sは、距離測定装置1から測定対象Sまでの距離dに比例した時間遅れTが、パルス変調信号Sとの間に生じている(図3を参照)。ここで、測定対象Sとの距離dと、時間遅れTは、次の式で表わせる。
Figure 2008134101

但し、cは媒質である光の速度である。図3に示すように、位相差パルス生成回路31は、パルス変調信号Sに対する反射パルス信号Sの時間遅れTに応じたパルスを発生させ、これを位相差パルスSTDとして積分器32に出力する。なお、ここでの位相差パルス生成回路31は、測定対象Sとの距離dと相関関係を持つ幅の位相差パルスSTDを出力できればよいので、例えばパルス変調信号Sの代わりにLD駆動回路13からの駆動信号や、パルス変調信号制御手段42からのパルス制御信号Sを入力としてもよい。
積分器32は、位相差パルス生成回路31から時間遅れTに相当する幅の位相差パルスSTDが出力される毎に、そのパルス幅に比例して上昇する電圧レベルVoが発生する。この電圧レベルVoは、図3に示すように、位相差パルスSTDのパルス幅とパルス数に比例してアナログ的に加算されてゆく。
積分器32の電圧レベルVoの取得と積分器32のリセットを、前述の一つの例のように、基準電源33の基準電圧VREFを基に行う場合には、図4に示すように、積分器32からの電圧レベルVoが上昇して、基準電源33の基準電圧VREFにまで達したとき、比較器34の出力を例えばLレベルからHレベルに反転させる。
マイクロコンピュータ27に組み込まれた位相差パルス幅演算手段43は、比較器34の出力が反転したのを受けて、積分器32からの電圧レベルVoが閾値である基準電圧VREFに達したと判断すると、それまでカウント手段41がカウントしていた位相差パルスSTDのパルス数を取得し、積分器32の電圧レベルVoあるいは基準電圧VREFを位相差パルスSTDのパルスカウント数で割り算することで、位相差パルスSTDのパルス幅と積分器32の電圧レベルVoとの間に成り立っている既知の関係から、個々の位相差パルスSTD当りのパルス幅ひいては時間遅れTを算出する。
一方、積分器32の電圧レベルVoの取得と積分器32のリセットを、前記別な例のようにカウント手段41における制御信号Sのパルス出力カウント数を基に行う場合には、図5に示すようにカウント値が、たとえばNカウントまで達したとき、位相差パルス幅演算手段43が積分器32の電圧レベルVoを取得し、位相差パルスSTDのパルスカウント数たとえばNで割り算することで、前記の処理同様、時間遅れTを算出する。
こうして、時間遅れTが算出されれば、距離演算手段44は、前記数1の関係式を用いて、測定対象Sとの距離dを簡単に算出することができる。この距離dの値は、必要に応じて表示器29に表示することもできる。またリセット手段45は、位相差パルス幅演算手段43が積分器32の電圧レベルVoあるいは基準電圧VREFを取得すると、リセットスイッチ35およびカウンタ手段41にリセット信号を送出する。これによりリセットスイッチ35がオンして、図4あるいは図5に示すように、積分器32の電圧レベルVoは0になると共に、カウンタ手段41による位相差パルスSTDのパルスカウント数は0に戻され、再び上述した手順による距離dの測定を開始することができる。なお、表示器29に表示する最終的な測定対象Sまでの距離の値は、距離演算手段44で得られたn回の距離dの値の例えば平均値としてもよい。
以上のように、本実施例では、パルス幅測定装置48として、繰り返し出力されるパルスすなわち位相差パルスSTDを入力とし、この位相差パルスSTDの幅とパルス数に比例した電圧レベルVoを出力する積分器32と、この積分器32から出力される電圧レベルVoに基づいて、位相差パルスSTDの幅を算出するパルス幅演算手段としての位相差パルス幅演算手段43と、を備えている。
この場合、位相差パルスSTDの幅が短いものであっても、積分器32がアナログ的に個々の位相差パルスSTDの幅に応じた電圧レベルVoを累算して出力するので、この電圧レベルVoを利用して、位相差パルスSTDの幅を正確に算出することができる。また、位相差パルスSTDの数が多くなるほど、積分器32からの電圧レベルVoも大きなものとなり、個々の位相差パルスSTDの幅が容易に測定できる。しかも、ここで位相差パルスSTDの幅を電圧レベルVoに変換するのは、乗算器や高速で動作する高価な部品ではなく、安価な積分器32であるため、パルス幅測定装置48として安価な部品構成を実現できる。
以上のように、本実施例では、位相差パルスSTDの数をカウントするカウンタ手段41と、積分器32からの電圧レベルVoと閾値である基準電圧VREFとを比較する比較器34とを備え、位相差パルス幅演算手段43は、比較器34からの出力により、積分器32からの電圧レベルVoが基準電圧VREFに達したと判断すると、カウント手段41から位相差パルスSTDのカウント数を取得し、このカウント数から位相差パルスSTDの幅を算出するように構成したり、カウンタ手段41からの出力により、このカウント手段41からの位相差パルスSTDのカウント数が一定値に達したと判断すると、その時点における積分器32からの電圧レベルVoを取得し、この電圧レベルVoから個々の位相差パルスSTDのパルス幅を算出するように構成するなどしてもよい。
前者の構成とした場合は、電圧レベルVoが基準電圧VREFに達したときに、それまでカウント手段41でカウントしていた位相差パルスSTDのパルス数を取得すれば、1パルス当りの電圧レベルVoの変動量を算出して、個々の位相差パルスSTDのパルス幅を算出できる。
また、後者の構成とした場合は、位相差パルスSTDのパルス数が一定値に達したときに、積分器32からの電圧レベルVoがどの程度変化したのか取得すれば、1パルス当りの電圧レベルVoの変動量を算出して、個々の位相差パルスSTDのパルス幅を算出できる。
また、特に本実施例では、上記パルス幅測定装置48を距離測定装置1に組み込み、この距離測定装置1は他に、測定対象Sに送信パルスである測定光を出力する送信手段としての測定光送信部2と、測定光が測定対象Sに当たって反射した反射パルスとしての反射光を受信する受信手段としての測定光受信部3と、測定光と反射光との位相差パルスSTDを生成するパルス生成手段としての位相差パルス生成回路31と、位相差パルス幅演算手段43が算出した前記パルスの幅から、前記測定対象までの距離を算出する距離演算手段44と、を備えている。
こうして、パルス幅測定装置48が、測定対象Sに出力した測定光と、その測定光が測定対象Sに当たって反射した反射パルスとの位相差パルスSTDの幅を正確に測定して、最終的に測定対象Sまでの距離dを正しく測定することが可能になる。しかもこの場合も、位相差パルスSTDの幅を電圧レベルVoに変換するのは、乗算器や高速で動作する高価な部品ではなく、安価な積分器32であるため、距離測定装置1としても安価な部品構成を実現できる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲において種々の変形実施が可能である。
本発明の好ましい実施例に共通する距離測定装置のブロック構成図である。 同上、距離計測に関する要部の回路構成図である。 同上、各部の波形図である。 同上、一つの例において、積分器出力の電圧レベルVoと基準電源出力の基準電圧との関係を示す波形図である。 同上、別な例において、積分器出力の電圧レベルVoと基準電源出力の基準電圧との関係を示す波形図である。
符号の説明
1 距離測定装置
2 測定光送信部(送信手段)
3 測定光受信部(受信手段)
31 位相差パルス生成手段(パルス生成手段)
32 積分器
34 比較器
41 カウンタ手段
43 位相差パルス幅演算手段(パルス幅演算手段)
44 距離演算手段
48 パルス幅測定装置

Claims (4)

  1. 繰り返し出力されるパルスを入力とし、このパルスの幅とパルス数に比例した電圧レベルを出力する積分器と、
    前記積分器から出力される電圧レベルに基づいて、前記パルスの幅を算出するパルス幅演算手段と、を備えたことを特徴とするパルス幅測定装置。
  2. 前記パルスの数をカウントするカウンタ手段と、
    前記積分器からの電圧レベルと閾値とを比較する比較器と、を備え、
    前記パルス幅演算手段は、前記比較器からの出力により、前記電圧レベルが前記閾値に達したと判断すると、前記カウント手段から前記パルスのカウント数を取得し、このカウント数から前記パルスの幅を算出するものであることを特徴とする請求項1記載のパルス幅測定装置。
  3. 前記パルスの数をカウントするカウンタ手段を備え、
    前記パルス幅演算手段は、前記カウンタ手段からの出力により、前記パルスが一定数に達したと判断すると、その時点における前記積分器からの電圧レベルを取得し、この電圧レベルから前記パルスの幅を算出するものであることを特徴とする請求項1記載のパルス幅測定装置。
  4. 前記請求項1〜3の何れか一つに記載のパルス幅測定装置を備えた距離測定装置であって、
    測定対象に送信パルスを出力する送信手段と、
    前記送信パルスが前記測定対象に当たって反射した反射パルスを受信する受信手段と、
    前記送信パルスと前記反射パルスとの位相差パルスを、前記パルスとして生成するパルス生成手段と、
    前記パルス幅演算手段が算出した前記パルスの幅から、前記測定対象までの距離を算出する距離演算手段と、を備えたことを特徴とする距離測定装置。
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