JP2008107314A - 光周波数測定方法 - Google Patents
光周波数測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008107314A JP2008107314A JP2007066428A JP2007066428A JP2008107314A JP 2008107314 A JP2008107314 A JP 2008107314A JP 2007066428 A JP2007066428 A JP 2007066428A JP 2007066428 A JP2007066428 A JP 2007066428A JP 2008107314 A JP2008107314 A JP 2008107314A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- mode
- laser
- change
- beat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 70
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 35
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 claims abstract description 142
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 34
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 33
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims 1
- 210000001520 comb Anatomy 0.000 abstract description 6
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 6
- 238000007430 reference method Methods 0.000 description 4
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 3
- 238000010009 beating Methods 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical group [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
- G01J9/0246—Measuring optical wavelength
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/04—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Lasers (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Abstract
【解決手段】モード同期レーザの繰返し数を変えることによる、対応するビート周波数の変化によって、ビート発生コム線に対する未知のレーザの相対周波数位置が決定される。また、モード同期レーザのオフセット周波数を変えることによる、対応する未知のレーザとモード同期レーザ周波数コムの間のビート周波数変化によって、自己参照法で検出される真のオフセット周波数も決定され得る。様々な繰返し数における未知のレーザとモード同期レーザ周波数コムの間のビート周波数を測定し、対応するモード次数の変化を測定することによって、周波数コムのモード次数が一意的かつ絶対的に決定され、よって未知のレーザの光周波数が決定される。
【選択図】図3
Description
fn=n×fr+fo
で表される。ここで、nは正の整数、frはパルス繰返し周波数(「繰返し数」)、foは搬送波包絡線オフセット周波数(「オフセット周波数」)である。通常、オフセット周波数foは自己参照法によって測定される。図2はf-2f自己参照法を示す。
fL=n×fr+fo+fb
で表され、ここで、fo=fo1またはfo2、及びfb=fb1またはfb2である。
n=[±fo'−(±fo)+mfr'±fb'−(±fb)]/(fr−fr')
によって計算される。ここで、mは繰返し数がfrからfr'に変化したときのビート発生コム線のシフトモード次数、fb及びfb'はそれぞれ繰返し数調節前後の未知のレーザとビート発生コム線の間のビート周波数、fo及びfo'はそれぞれ周波数コム調節前後のオフセット周波数である。実際の光周波数測定において、fo,fo',fb及びfb'のそれぞれには2つの測定値があり得る。fo,fo',fb及びfb'のそれぞれの値は一意的に決定できないから、上式の±符号を個々に決定することはできない。したがって、ビート発生コム線の正しいモード次数nを同定するためには、2つまたはそれより多くの異なるm値の測定結果を比較及び解析しなければならない。
fL=nfra+foa+fba ・・・ 式(1)
で表される。
fL=(n+m)frb+fob+fbb ・・・ 式(2)
で表される。
n=(mfrb+fob−foa+fbb−fba)/(fra−frb) ・・・ 式(3)
である。
Claims (29)
- 少なくとも1つのモード同期レーザコムを用いる、未知のレーザの周波数を測定するための方法において、
前記モード同期レーザの繰返し数を第1の繰返し数に設定する工程及び前記未知のレーザと前記モード同期レーザの第n次コム線の間で第1のビート周波数を発生させる工程、
前記第1のビート周波数の変化によって前記第n次コム線に対する前記未知のレーザの相対周波数位置を決定するために前記第1の繰返し数を変える工程、及び
前記第1のビート周波数の変化によって前記モード同期レーザのオフセット周波数を同定するために前記モード同期レーザのオフセット周波数を変える工程、
を有してなることを特徴とする方法。 - 前記モード同期レーザの前記第1の繰返し数を第2の繰返し数に調節する工程、
前記未知のレーザとシフトされたビート発生コム線の間の第2のビート周波数を測定する工程、及び
前記第n次コム線のモード次数と前記シフトされたビート発生コム線のモード次数の間の差を測定する工程、
をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記第n次コム線のモード次数と前記シフトされたビート発生コム線のモード次数の間の差、前記繰返し数、前記オフセット周波数間の差、前記ビート周波数の差または和、及び前記繰返し数間の差によって、モード次数nを計算する工程、
をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。 - 前記第n次コム線のモード次数と前記シフトされたビート発生コム線のモード次数の間の差が、前記第1の繰返し数が前記第2の繰返し数に徐々に変わるときにシフトされるビート発生コム線のモード次数をカウントすることによって得られることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記第n次コム線のモード次数と前記シフトされたビート発生コム線のモード次数の間の差が、前記未知のレーザに隣接するコム線のモード次数を1だけシフトさせるに必要な繰返し数の差を測定することによって得られ、前記未知のレーザに隣接するコム線のモード次数を1だけシフトさせるに必要な繰返し数の前記差に対する前記第1の繰返し数と前記第2の繰返し数の間の差の比に最も近い整数に等しいことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 少なくとも1つのモード同期レーザコムを用いる、未知のレーザの周波数を測定する方法において、
第1のオフセット周波数及び第1の相補オフセット周波数を得るために自己参照法によって前記モード同期レーザのオフセット周波数を測定する工程であって、前記第1のオフセット周波数は前記第1の相補オフセット周波数より小さい値を有するものである工程、
前記モード同期レーザの繰返し数を第1の繰返し数に設定する工程及び、前記未知のレーザと前記モード同期レーザの隣接コム線との間または前記モード同期レーザの次に近いコム線との間で、値の小さい第1のビート周波数及び値の大きい第1の相補ビート周波数を発生させる工程であって、前記第1のビート周波数は前記未知のレーザと前記モード同期レーザの第n次コム線の間に生じるものである工程、
前記繰返し数の変化の符号と前記第1のビート周波数の変化の符号または前記第1の相補ビート周波数の変化の符号の間の関係によって前記第n次コム線に対する前記第1のビート周波数の位置を決定するために、前記モード同期レーザの前記第1の繰返し数を変える工程、及び
前記オフセット周波数の変化の符号と前記第1のビート周波数の変化の符号または前記第1の相補ビート周波数の変化の符号の間の関係によって実オフセット周波数を決定するために、前記モード同期レーザのオフセット周波数を変える工程、
を有してなることを特徴とする方法。 - 前記未知のレーザと前記モード同期レーザの隣接コム線との間または前記モード同期レーザの次に近いコム線との間で第2のビート周波数及び第2の相補ビート周波数を発生させるために前記モード同期レーザの繰返し数を第2の繰返し数に設定する工程であって、前記第2のビート周波数は前記未知のレーザと前記モード同期レーザの第(n+m)次コム線の間で生じ、前記第2の相補ビート周波数より低いものである工程、
前記モード同期レーザの繰返し数を変える工程及び、前記第2の繰返し数の変化の符号と前記第2のビート周波数の変化の符号または前記第2の相補ビート周波数の変化の符号の間の関係によって、前記第(n+m)次コム線に対する前記未知のレーザの相対周波数位置を決定する工程、
前記第1の繰返し数が前記第2の繰返し数に変わるときの前記第(n+m)次コム線のシフトされたモード次数mを測定する工程、及び
前記未知のレーザの周波数を得るために、前記第1の繰返し数と前記第2の繰返し数の間の差、前記第2の繰返し数、前記第1のビート周波数または前記第1の相補ビート周波数、前記第2のビート周波数または前記第2の相補ビート周波数、及び前記シフトされたモード次数mによって、前記第n次コム線のモード次数nを導く工程、
をさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の方法。 - 前記第1の繰返し数の変化の符号が前記第1のビート周波数の変化の符号に等しければ、前記未知のレーザの周波数が[前記第n次コム線の周波数−前記第1のビート周波数]に等しいことを特徴とする請求項6に記載の方法。
- 前記第1の繰返し数の変化の符号が前記第1のビート周波数の変化の符号に等しくなければ、前記未知のレーザの周波数が[前記第n次コム線の周波数+前記第1のビート周波数]に等しいことを特徴とする請求項6に記載の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第n次コム線の周波数+前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しければ、前記モード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1の相補オフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第n次コム線の周波数+前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しくなければ、前記モード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1のオフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第n次コム線の周波数−前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しければ、前記モード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1のオフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第n次コム線の周波数−前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しくなければ、前記モード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1の相補オフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 前記第1のビート周波数の変化の符号が前記第1の相補ビート周波数の変化の符号と逆であれば、前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1の相補オフセット周波数の変化の符号の逆であることを特徴とする請求項8,9,10,11,12または13に記載の方法。
- 前記第n次コム線から前記第(n+m)次コム線へのモード次数の前記変化が、前記未知のレーザに隣接するコム線のモード次数を1だけ変えるに必要な繰返し数の変化を測定することによって得られ、前記未知のレーザに隣接するコム線のモード次数を1だけ変えるに必要な繰返し数の前記差に対する前記第1の繰返し数と前記第2の繰返し数の間の差の比に最も近い整数に等しいことを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 未知のレーザの周波数を測定するために2つのモード同期レーザを用いる光周波数測定の方法において、
前記2つのモード同期レーザの、第1のモード同期レーザの第1のオフセット周波数及び第1の相補オフセット周波数を得るため及び第2のモード同期レーザの第2のオフセット周波数及び第2の相補オフセット周波数を得るために、自己参照法によりオフセット周波数を測定する工程であって、前記第1のオフセット周波数は前記第1のオフセット周波数より低い値を有し、前記第2のオフセット周波数は前記第2の相補オフセット周波数より低い値を有するものである工程、
前記第1のモード同期レーザの繰返し数を第1の繰返し数に設定し、前記第2のモード同期レーザの繰返し数を第2の繰返し数に設定し、前記未知のレーザと前記2つのモード同期レーザの間のビート周波数を同時に測定する工程、
前記未知のレーザ及び前記第1のモード同期レーザの隣接コム線または次に近いコム線により第1のビート周波数及び第1の相補ビート周波数を発生させる工程であって、前記第1のビート周波数は前記未知のレーザ及び前記第1のモード同期レーザの第n次コム線によって発生され、前記第1の相補ビート周波数より低いものである工程、
前記未知のレーザ及び前記第2のモード同期レーザの隣接コム線または次に近いコム線により第2のビート周波数及び第2の相補ビート周波数を発生させる工程であって、前記第2のビート周波数は前記未知のレーザ及び前記第2のモード同期レーザの第(n+m)次コム線によって発生され、前記第2の相補ビート周波数より低いものである工程、
前記第1のモード同期レーザの前記繰返し数の変化の符号と前記第1のビート周波数の変化の符号または前記第1の相補ビート周波数の変化の符号との間の関係によって前記第n次コム線に対する前記未知のレーザの相対周波数位置を決定するために、前記第1のモード同期レーザの繰返し数を変える工程、及び
前記第1のモード同期レーザの前記第1のオフセット周波数の変化の符号と前記第1のビート周波数の変化の符号または前記第1の相補ビート周波数の変化の符号との間の関係によって前記第1のモード同期レーザの実オフセット周波数を決定するために、前記第1のモード同期レーザの前記第1のオフセット周波数を変える工程、
を有してなることを特徴とする光周波数測定の方法。 - 前記第2のモード同期レーザの前記繰返し数の変化の符号と前記第1のビート周波数の変化の符号または前記第1の相補ビート周波数の変化の符号との間の関係によって前記第2のモード同期レーザの前記第(n+m)次コム線に対する前記未知のレーザの相対周波数位置を決定するために、前記第2のモード同期レーザの繰返し数を変える工程、
前記未知のレーザとの前記第1のビート周波数及び前記第2のビート周波数を発生している前記2つのモード同期レーザの前記第n次コム線と前記第(n+m)次コム線との間のモード次数差mを測定する工程、及び
前記2つのモード同期レーザの前記第1の繰返し数及び前記第2の繰返し数、前記2つのモード同期レーザの間のオフセット周波数の差、前記2つのモード同期レーザと前記未知のレーザとの間の前記ビート周波数及び前記相補ビート周波数、及び前記第n次コム線と前記第(n+m)次コム線の間の前記モード次数差によって、前記第n次コム線のモード次数nを導く工程、
をさらに含むことを特徴とする請求項16に記載の光周波数測定の方法。 - 前記第1のモード同期レーザの前記第1の繰返し数の変化の符号が前記第1のビート周波数の変化の符号と等しければ、前記未知のレーザの周波数が[前記第1のモード同期レーザの前記第n次コム線の周波数−前記第1のビート周波数]に等しいことを特徴とする請求項16に記載の光周波数測定の方法。
- 前記第1のモード同期レーザの前記第1の繰返し数の変化の符号が前記第1のビート周波数の変化の符号と等しくなければ、前記未知のレーザの周波数が[前記第1のモード同期レーザの前記第n次コム線の周波数+前記第1のビート周波数]に等しいことを特徴とする請求項16に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第1のモード同期レーザの前記第n次コム線の周波数+前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のモード同期レーザの前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しければ、前記第1のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1の相補オフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項19に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第1のモード同期レーザの前記第n次コム線の周波数+前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のモード同期レーザの前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しくなければ、前記第1のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1のオフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項19に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第1のモード同期レーザの前記第n次コム線の周波数−前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のモード同期レーザの前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しければ、前記第1のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1のオフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項18に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第1のモード同期レーザの前記第n次コム線の周波数−前記第1のビート周波数]に等しい場合に、前記第1のモード同期レーザの前記第1のオフセット周波数の変化の符号が前記第1のオフセット周波数の変化の間の前記第1のビート周波数の変化の符号に等しくなければ、前記第1のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第1の相補オフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項18に記載の光周波数測定の方法。
- 前記第2のモード同期レーザの前記第2の繰返し数の変化の符号が前記第2のビート周波数の変化の符号と等しければ、前記未知のレーザの周波数が[前記第2のモード同期レーザの前記第(n+m)次コム線の周波数−前記第2のビート周波数]に等しいことを特徴とする請求項17に記載の光周波数測定の方法。
- 前記第2のモード同期レーザの前記第2の繰返し数の変化の符号が前記第2のビート周波数の変化の符号と等しくなければ、前記未知のレーザの周波数が[前記第2のモード同期レーザの前記第(n+m)次コム線の周波数+前記第2のビート周波数]に等しいことを特徴とする請求項17に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第2のモード同期レーザの前記第(n+m)次コム線の周波数+前記第2のビート周波数]に等しい場合に、前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数が変えられている間の前記第2のビート周波数の変化の符号に前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数の変化の符号が等しければ、前記第2のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第2のモード同期レーザの前記第2の相補オフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項25に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第2のモード同期レーザの前記第(n+m)次コム線の周波数+前記第2のビート周波数]に等しい場合に、前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数が変えられている間の前記第2のビート周波数の変化の符号に前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数の変化の符号が等しくなければ、前記第2のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項25に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第2のモード同期レーザの前記第(n+m)次コム線の周波数−前記第2のビート周波数]に等しい場合に、前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数が変えられている間の前記第2のビート周波数の変化の符号に前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数の変化の符号が等しければ、前記第2のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項24に記載の光周波数測定の方法。
- 前記未知のレーザの周波数が[前記第2のモード同期レーザの前記第(n+m)次コム線の周波数−前記第2のビート周波数]に等しい場合に、前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数が変えられている間の前記第2のビート周波数の変化の符号に前記第2のモード同期レーザの前記第2のオフセット周波数の変化の符号が等しくなければ、前記第2のモード同期レーザの実オフセット周波数が前記第2のモード同期レーザの前記第2の相補オフセット周波数に等しいことを特徴とする請求項24に記載の光周波数測定の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW095139292A TWI300471B (en) | 2006-10-25 | 2006-10-25 | Method of optical frequency measurement |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008107314A true JP2008107314A (ja) | 2008-05-08 |
JP4620701B2 JP4620701B2 (ja) | 2011-01-26 |
Family
ID=39329350
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007066428A Active JP4620701B2 (ja) | 2006-10-25 | 2007-03-15 | 光周波数測定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7564561B2 (ja) |
JP (1) | JP4620701B2 (ja) |
TW (1) | TWI300471B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009098106A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Ind Technol Res Inst | 光周波数の測定方法および装置 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8477314B2 (en) * | 2007-06-26 | 2013-07-02 | UNIVERSITé LAVAL | Referencing of the beating spectra of frequency combs |
WO2010116288A2 (en) * | 2009-04-06 | 2010-10-14 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and device for detecting coherent radiation |
US8660596B2 (en) * | 2010-10-01 | 2014-02-25 | Mediatek Inc. | Electronic apparatus and associated frequency adjusting method |
JP6448236B2 (ja) * | 2014-07-10 | 2019-01-09 | 株式会社ミツトヨ | 光周波数コムを使ったレーザ周波数測定方法及び装置 |
US11791608B2 (en) | 2017-10-24 | 2023-10-17 | Drexel University | Compact highly-stable synthesized RF sources using self mode-locked beat-notes of multi-modes lasers |
US10135544B1 (en) * | 2018-01-19 | 2018-11-20 | Eagle Technology, Llc | Methods and apparatus for radio frequency (RF) photonic spectrometer using optical frequency combs |
CN110702985B (zh) * | 2018-07-09 | 2020-07-07 | 中国科学院半导体研究所 | 拍频式频谱侦测系统 |
CN109612590B (zh) * | 2018-12-27 | 2020-05-26 | 中国科学院半导体研究所 | 超快光波长测量系统 |
CN113746546B (zh) * | 2021-11-04 | 2022-02-15 | 济南量子技术研究院 | 一种基于事件计时的光频梳锁定方法及系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11503841A (ja) * | 1995-04-19 | 1999-03-30 | ハインリッヒ−ヘルツ−インステイテユート フユール ナツハリヒテンテヒニーク ベルリン ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 光学的周波数発生器 |
JP2002174552A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Japan Science & Technology Corp | 光周波数測定システム |
JP2004061126A (ja) * | 2002-07-24 | 2004-02-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光周波数測定装置および測定方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19911103B4 (de) * | 1999-03-12 | 2005-06-16 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Erzeugung stabilisierter, ultrakurzer Lichtpulse und deren Anwendung zur Synthese optischer Frequenzen |
US6850543B2 (en) * | 2000-03-30 | 2005-02-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Mode-locked pulsed laser system and method |
US6853456B2 (en) * | 2002-01-31 | 2005-02-08 | Tip Group, Llc | Method and apparatus for measuring a frequency of an optical signal |
JP4500809B2 (ja) * | 2004-03-26 | 2010-07-14 | 株式会社アドバンテスト | 光周波数測定装置及び光周波数測定方法 |
-
2006
- 2006-10-25 TW TW095139292A patent/TWI300471B/zh active
-
2007
- 2007-02-12 US US11/674,118 patent/US7564561B2/en active Active
- 2007-03-15 JP JP2007066428A patent/JP4620701B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11503841A (ja) * | 1995-04-19 | 1999-03-30 | ハインリッヒ−ヘルツ−インステイテユート フユール ナツハリヒテンテヒニーク ベルリン ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 光学的周波数発生器 |
JP2002174552A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Japan Science & Technology Corp | 光周波数測定システム |
JP2004061126A (ja) * | 2002-07-24 | 2004-02-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光周波数測定装置および測定方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009098106A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Ind Technol Res Inst | 光周波数の測定方法および装置 |
JP4633103B2 (ja) * | 2007-10-16 | 2011-02-16 | 財団法人工業技術研究院 | 光周波数の測定方法および装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4620701B2 (ja) | 2011-01-26 |
TWI300471B (en) | 2008-09-01 |
US7564561B2 (en) | 2009-07-21 |
US20080100281A1 (en) | 2008-05-01 |
TW200819714A (en) | 2008-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4620701B2 (ja) | 光周波数測定方法 | |
US8149419B2 (en) | Optical reflectometry and optical reflectometer | |
US5557196A (en) | Jitter analyzer | |
EP2811672A1 (en) | Communication apparatus, communication system, and communication method for time synchronization | |
JP2009008681A (ja) | 標準セルライブラリーの性能改善のための測定装置 | |
JP4633103B2 (ja) | 光周波数の測定方法および装置 | |
CN112613168B (zh) | 利用铯原子Ramsey跃迁模型评估铯原子钟频移因素偏差的方法 | |
JP5914718B2 (ja) | 発振器を有する時間ベース、周波数分割回路及びクロックパルス抑制回路 | |
TWI399562B (zh) | 測量裝置、並列測量裝置、測試裝置以及被測試元件 | |
RU2419098C2 (ru) | Цифровой способ измерения фазового сдвига гармонических колебаний | |
Breuer et al. | Precise packet delay measurement in an Ethernet network | |
Ekstrom et al. | Error bars for three-cornered hats | |
US20160308667A1 (en) | Method and device for transmitting data on asynchronous paths between domains with different clock frequencies | |
US20050057312A1 (en) | Built-in jitter measurement circuit for voltage controlled oscillator and phase locked loop | |
TWI772810B (zh) | 時間測量裝置以及方法 | |
JP4630359B2 (ja) | 遅延クロック生成装置および遅延時間測定装置 | |
JP2009014438A (ja) | プログラマブル遅延回路の評価方法および装置 | |
Xu et al. | Hybrid optical link for ultra-stable frequency comparison | |
Riley | A test suite for the calculation of time domain frequency stability | |
JP6617604B2 (ja) | 信号処理装置及び画像形成装置 | |
JP6522414B2 (ja) | 光周波数コム装置を用いたレーザ周波数測定装置の評価方法 | |
JP2019211379A (ja) | 測定装置および測定システム | |
JP2007043622A (ja) | クロック発生装置 | |
CA3221367A1 (en) | Device and method for monitoring two time bases of two communication devices with the aid of a computer | |
Baynham et al. | Absolute frequency measurement of the $^ 2$ S $ _ {1/2}\rightarrow^ 2$ F $ _ {7/2} $ optical clock transition in $^{171} $ Yb $^+ $ with an uncertainty of $4\times 10^{-16} $ using a frequency link to International Atomic Time |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090526 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090602 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090902 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091104 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100204 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100209 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100304 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100727 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100917 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101012 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101028 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131105 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4620701 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131105 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |