JP2008107205A - 空間情報の検出装置 - Google Patents
空間情報の検出装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008107205A JP2008107205A JP2006290353A JP2006290353A JP2008107205A JP 2008107205 A JP2008107205 A JP 2008107205A JP 2006290353 A JP2006290353 A JP 2006290353A JP 2006290353 A JP2006290353 A JP 2006290353A JP 2008107205 A JP2008107205 A JP 2008107205A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- target space
- optical path
- incident
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
【解決手段】発光源から対象空間に光を投光し、3個の光検出素子1a,1b,1cにより対象空間からの光を受光する。対象空間と光検出素子1a,1b,1cとの間の光路には光路制御要素11が配置され、光路制御要素11は、対象空間から入射した光を3分岐させて各光検出素子1a,1b,1cに振り分ける。光路制御要素11は、2個の部分透過ミラーからなる光分岐部12a,12bを備え、各光分岐部12a,12bは光の反射と透過により光を2分岐させ、それぞれ光検出素子1a,1b,1cに光を導く。距離演算部は、各光検出素子1a,1b,1cの受光出力のうち適正範囲のものを採用して距離を演算する。
【選択図】図1
Description
ψ=tan−1(A2−A0)/(A1−A3)
上式は積分する区間の取り方(たとえば、上述の例では1区間の位相幅が90度であるが、180度などにしてもよい)によって符号が変化したり位相が90度異なったりするが、位相差ψは4つの位相区間の受光量A0、A1、A2、A3を用いて求めることができる。
本実施形態では、上述の動作原理によって距離画像を生成するにあたり、図1に示すように、複数個(図示例では3個)の光検出素子1a,1b,1cを用いている。各光検出素子1a,1b,1cは、それぞれ複数個の感光部を有したイメージセンサであり、上述した光検出素子1と同じ構成のものである。また、各光検出素子1には同仕様のものを用いている。対象空間から各光検出素子1a,1b,1cへの光路上には、対象空間からの入射光を各光検出素子1a,1b,1cに振り分けて入射させる光路制御要素11が配置されている。
実施形態1では、光路制御要素11において透過率および反射率が一定で光路を2分岐させる部分透過ミラーからなる光分岐部12a,12bを用いたが、本実施形態では、光を透過させる状態と反射させる状態とを選択可能であり、光路を2系統に切り替える光分岐部12a,12bを用いている。光分岐部12a,12bの配置は、図1に示した実施形態1と同様であるものとする。
1a,1b,1c 光検出素子
2 発光源
3 タイミング制御部
4 距離演算部(評価部)
4a 出力判定部
4b セレクタ
5 受光光学系
11 光路制御要素
11a,11b,11c プリズム
12a,12b 光分岐部
Ob 物体
Claims (8)
- 対象空間に光を投光する発光源と、対象空間の同じ空間領域からの光を受光しそれぞれ受光量に応じた受光出力が得られる複数個の光検出素子と、対象空間から各光検出素子への光路上に配置され対象空間からの入射光を各光検出素子に振り分ける光路制御要素と、各光検出素子の受光出力のうち規定の選択条件を満たす受光出力を選択し光検出素子の受光出力を用いて対象空間に関する空間情報を検出する評価部とを備え、光路制御要素は、入射光を所定の分配比率で各光検出素子に振り分けることにより各光検出素子での受光量を互いに異ならせることを特徴とする空間情報の検出装置。
- 前記光路制御要素は、前記各光検出素子のうち、入射光の強度が大きいときに適正な受光出力が得られる光検出素子は、入射光の強度が小さいときに適正な受光出力が得られる光検出素子よりも入射光の分配比率が小さく設定されることを特徴とする請求項1記載の空間情報の検出装置。
- 前記光路制御要素は、光路を2分岐する部分透過ミラーからなる光分岐部を前記光検出素子の個数より1個少なく備え、光分岐部の反射率および透過率により前記分配比率が設定されていることを特徴とする請求項1または請求項2記載の空間情報の検出装置。
- 前記各光制御要素の露光時間は実質的同一であることを特徴とする請求項3記載の空間情報の検出装置。
- 前記光路制御要素は、光を透過させる状態と反射させる状態とが選択可能であって光路を2系統に切り替える光分岐部を前記光検出素子の個数より1個少なく備え、光分岐部での各光検出素子の露光時間により前記分配比率が制御されることを特徴とする請求項1または請求項2記載の空間情報の検出装置。
- 前記光路制御要素は、対象空間からの光を前記各光検出素子のいずれかに択一的に入射させ、各光検出素子に1回ずつ光を入射させる期間内において各光検出素子に光を入射させる期間を互いに連続させることを特徴とする請求項5記載の空間情報の検出装置。
- 前記評価部における選択条件は、規定の飽和閾値以下の範囲で最大の受光出力を選択することであって、前記各光検出素子は、それぞれ対象空間からの光を受光して受光量に応じた電荷を生成する複数個の感光部を有し対象空間を撮像することにより感光部で生成された電荷を受光出力とするイメージセンサであり、前記評価部は、各光検出素子において対象空間の同じ位置に対応付けられた各感光部で得られる受光出力のうち前記選択条件を満たす受光出力を対象空間の各位置ごとに選択することを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の空間情報の検出装置。
- 前記発光源は、所定周期の変調信号で強度変調された光を対象空間に照射し、前記評価部における選択条件は、規定の飽和閾値以下の範囲で最大の受光出力を選択することであって、前記各光検出素子は、それぞれ対象空間からの光を受光して受光量に応じた電荷を生成する複数個の感光部を有し対象空間を撮像することにより感光部で生成された電荷を受光出力とするイメージセンサであり、前記評価部は、各光検出素子において対象空間の同じ位置に対応付けられた各感光部で得られる受光出力のうち前記選択条件を満たす受光出力を用いて物体までの距離を求め、各感光部に対応付けた対象空間の位置ごとの距離を画素値とする距離画像を生成することを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の空間情報の検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006290353A JP5215547B2 (ja) | 2006-10-25 | 2006-10-25 | 空間情報の検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006290353A JP5215547B2 (ja) | 2006-10-25 | 2006-10-25 | 空間情報の検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008107205A true JP2008107205A (ja) | 2008-05-08 |
JP5215547B2 JP5215547B2 (ja) | 2013-06-19 |
Family
ID=39440671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006290353A Expired - Fee Related JP5215547B2 (ja) | 2006-10-25 | 2006-10-25 | 空間情報の検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5215547B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012202776A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Toyota Central R&D Labs Inc | 距離測定装置 |
JP2016139885A (ja) * | 2015-01-27 | 2016-08-04 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
JP2017003489A (ja) * | 2015-06-12 | 2017-01-05 | 三菱電機株式会社 | レーザレーダ装置 |
JP2023016984A (ja) * | 2018-07-27 | 2023-02-02 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0266484A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-06 | Nec Corp | パルスレーザ測距装置 |
JPH10332814A (ja) * | 1997-06-04 | 1998-12-18 | Nec Corp | 高速光量調整器およびそれを用いたレーザレーダ |
JPH1123710A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-29 | Nec Corp | 測距装置 |
JP2000121854A (ja) * | 1998-10-16 | 2000-04-28 | Nok Corp | 光部品、光分岐器、光分波器および光合波器 |
JP2000206246A (ja) * | 1999-01-18 | 2000-07-28 | Nec Corp | レ―ザレ―ダ装置 |
JP2003139513A (ja) * | 2001-11-01 | 2003-05-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学計測装置、及び光学計測方法 |
JP2006014133A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Lasertec Corp | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2006064468A (ja) * | 2004-08-25 | 2006-03-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 立体形状測定装置 |
JP2006133051A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Sick Optex Kk | 光学式変位センサ |
JP2006190791A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Matsushita Electric Works Ltd | 光検出素子、光検出素子の制御方法、空間情報検出装置 |
-
2006
- 2006-10-25 JP JP2006290353A patent/JP5215547B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0266484A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-06 | Nec Corp | パルスレーザ測距装置 |
JPH10332814A (ja) * | 1997-06-04 | 1998-12-18 | Nec Corp | 高速光量調整器およびそれを用いたレーザレーダ |
JPH1123710A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-29 | Nec Corp | 測距装置 |
JP2000121854A (ja) * | 1998-10-16 | 2000-04-28 | Nok Corp | 光部品、光分岐器、光分波器および光合波器 |
JP2000206246A (ja) * | 1999-01-18 | 2000-07-28 | Nec Corp | レ―ザレ―ダ装置 |
JP2003139513A (ja) * | 2001-11-01 | 2003-05-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学計測装置、及び光学計測方法 |
JP2006014133A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Lasertec Corp | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2006064468A (ja) * | 2004-08-25 | 2006-03-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 立体形状測定装置 |
JP2006133051A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Sick Optex Kk | 光学式変位センサ |
JP2006190791A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Matsushita Electric Works Ltd | 光検出素子、光検出素子の制御方法、空間情報検出装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012202776A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Toyota Central R&D Labs Inc | 距離測定装置 |
JP2016139885A (ja) * | 2015-01-27 | 2016-08-04 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
JP2017003489A (ja) * | 2015-06-12 | 2017-01-05 | 三菱電機株式会社 | レーザレーダ装置 |
JP2023016984A (ja) * | 2018-07-27 | 2023-02-02 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置 |
JP7397953B2 (ja) | 2018-07-27 | 2023-12-13 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5215547B2 (ja) | 2013-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9332246B2 (en) | Time of flight camera unit and optical surveillance system | |
US7009690B2 (en) | Three-dimensional measurement device and three-dimensional measurement method | |
RU2538418C2 (ru) | Оптический дальномер | |
KR102451010B1 (ko) | 물체까지의 거리를 결정하기 위한 시스템 | |
RU2602734C2 (ru) | Измерительное устройство для измерения расстояния между ним и целевым объектом с помощью измерительного оптического излучения | |
BE1023788B1 (nl) | Systeem en methode voor het bepalen van de afstand tot een object | |
US6741082B2 (en) | Distance information obtaining apparatus and distance information obtaining method | |
US8848172B2 (en) | Distance measuring device having homogenizing measurement evaluation | |
US6094270A (en) | Range finder | |
KR101279103B1 (ko) | 거리 측정 장치 | |
KR20190055238A (ko) | 물체까지의 거리를 결정하기 위한 시스템 및 방법 | |
US10048376B2 (en) | Distance measuring device and photodetector | |
JP5655133B2 (ja) | 空間情報検出装置 | |
JP2008209162A (ja) | 距離画像センサ | |
US11947068B2 (en) | Electromagnetic wave detection apparatus and information acquisition system | |
US20210132226A1 (en) | Optimizing a lidar system using sub-sweep sampling | |
JP5215547B2 (ja) | 空間情報の検出装置 | |
US20020135747A1 (en) | Distance measuring device | |
KR20160101312A (ko) | 거리 측정 장치 | |
JP2006337286A (ja) | 形状計測装置 | |
JP4673674B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP2006201037A (ja) | 形状測定装置 | |
JP2002296032A (ja) | 位置検出装置 | |
JPH03200940A (ja) | カメラ用測距装置 | |
KR20220157385A (ko) | 측거 시스템 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090420 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100825 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110617 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110712 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110912 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20120112 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120515 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120717 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130205 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130301 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160308 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |