JP2008102072A - 外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、部材の変形の影響を抑制して、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめる、外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置を提供する。
【解決手段】本発明による外形測定方法は、平板状の部材の略平坦な平板面の外形形状を測定する外形測定方法であって、平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を測定する基準位置取得工程と、平板面上の測定対象部分の、平板面に垂直な方向の位置である測定部位置を測定する位置測定工程と、測定部位置を、基準位置取得工程で取得した垂直基準位置の中で当該測定対象部分から平板面方向の距離が最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、測定対象部分の高さを求める高さ算出工程と、を有する外形測定方法である。
【選択図】図6
【解決手段】本発明による外形測定方法は、平板状の部材の略平坦な平板面の外形形状を測定する外形測定方法であって、平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を測定する基準位置取得工程と、平板面上の測定対象部分の、平板面に垂直な方向の位置である測定部位置を測定する位置測定工程と、測定部位置を、基準位置取得工程で取得した垂直基準位置の中で当該測定対象部分から平板面方向の距離が最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、測定対象部分の高さを求める高さ算出工程と、を有する外形測定方法である。
【選択図】図6
Description
本発明は、平板状の部材の平板面の外形形状を測定する外形測定方法、外形測定装置、平板状の部材の外観形状を検査する外観検査方法、及び外観検査装置に関する。
従来から、カラー液晶装置のカラーフィルタ膜や有機エレクトロルミネセンス装置の発光膜などの機能膜を形成する技術として、液体を液滴として吐出する液滴吐出ヘッドを有する液滴吐出装置を用いて、機能膜の材料を含む液状材料の液滴を吐出して基板上の任意の位置に着弾させ、着弾した液状材料を乾燥させて機能膜を形成する技術が知られている。このような膜形成に用いられる液滴吐出装置の液滴吐出ヘッドは、その多数の液滴吐出ノズルが微小間隔で形成されていることで基板上の任意の位置に効率良く液滴を着弾させることができる。微小間隔で連なる液滴吐出ノズルや、当該液滴吐出ノズルに液体を供給する流路などの微細形状を効率良く形成することができる液滴吐出ヘッドの構造としては、液滴吐出ノズルや流路などを構成する孔を形成した板状やフィルム状の部材を積層する構造が知られている。このような板状やフィルム状の部材は、最初に大判のシート状の板やフィルムに多数の部材を構成し、次に大判シートを各部材に分割することで、効率良く製造される。
液滴吐出ノズルや流路などを構成する孔はプレス加工などによって形成されるが、当該加工の際に、孔の縁にバリが形成されることがある。積層される際に他の部材と接触する面に突出するバリは部材を密着させる妨げになるため、部材面から突出するバリが発生した部材は、排除する必要がある。バリの発生の有無の検出は、部材面の形状を測定することで行われる。特許文献1には、形状を精度良く測定できる3次元形状測定装置が開示されている。
しかしながら、液滴吐出ヘッドを構成する部材は、孔は微小間隔で形成されているため、バリが発生する可能性があって測定対象とするべき被測定部分が互いに近接しており、被測定部分に隣接した部材面を基準位置として測定することは困難な場合がある。また、板状やフィルム状の部材は、反りやうねりなどが発生し易いため、反りやうねりなどによって部材面に垂直な方向の形状の変形が発生することで、平坦な状態を保ち難い。従って、部材面から突出するバリの突出量を、バリの発生位置から離れた部材面を基準として測定すると、部材面に垂直な方向の変形の影響によって、バリの突出量の正確な測定は困難であるという課題があった。部材単体においては微小な変形であっても多数の部材が形成された大判シートにおいては変形量が大きくなることで、大判シートにおけるバリの突出量の正確な測定はより困難であるという課題もあった。例えば、うねりなどによって被測定部分が高くなると、あたかも、うねりなどによる変形量に相当する高さのバリが発生したかのように測定される。反対に、うねりなどによって被測定部分が低くなると、うねりなどによる変形量に相当する高さのバリが発生しても、バリが発生していないかのように測定される。
本発明は、上記課題を解決するものであり、部材の変形の影響を抑制して、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめる、外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置を実現することを目的とする。
本発明による外形測定方法は、平板状の部材の略平坦な平板面の外形形状を測定する外形測定方法であって、平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を測定する基準位置取得工程と、平板面上の測定対象部分の、平板面に垂直な方向の位置である測定部位置を測定する位置測定工程と、測定部位置を、基準位置取得工程で取得した垂直基準位置の中で当該測定対象部分から平板面方向の距離が最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、測定対象部分の高さを求める高さ算出工程と、を有することを特徴とする。なお、平板面は、平板状の部材の板面、即ち外形を構成する面の中の面積が大きい二面である。
本発明に係る外形測定方法によれば、測定対象部分の測定部位置を、当該測定対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較して、当該測定対象部分の高さが算出される。本来、高さは、測定対象部分の測定対象部分近傍の平板面からの高さであって、測定対象部分の測定部位置を測定対象部分近傍の平板面と比較することで、正確な高さを求めることができる。本発明に係る外形測定方法によれば、測定対象部分近傍の平板面の代わりに垂直基準位置を取得する基準領域を定めることで、垂直基準位置を取得する部分が不定の場合に比べて、垂直基準位置のばらつきを抑制することができる。さらに、測定対象部分の測定部位置を測定対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、他の基準領域の垂直基準位置を測定対象部分の測定部位置と比較する場合に比べて、部材の反りやうねりなどに起因する測定対象部分近傍の平板面と基準領域との平板面に垂直な方向の位置ずれの量を抑制することができる。これにより、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめることができる。
本発明において外形測定方法は、基準位置取得工程、及び位置測定工程において、接触式の変位計を用いて、垂直基準位置又は測定部位置を測定することが好ましい。
この方法によれば、接触式の変位計は、測定時には部材に接触して接触圧を加える。部材の反りやうねりなどによる変形は、この接触圧で矯正される可能性があり、部材の反りやうねりなどに起因する誤差を抑制することができる。
本発明による外観検査方法は、平板状の部材の略平坦な平板面の外観形状を検査する外観検査方法であって、外観形状を規定する設計値及び当該設計値の許容誤差を含む規格値を取得する規格値取得工程と、平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を測定する基準位置取得工程と、平板面上の検査対象部分の、平板面に垂直な方向の位置である検査部位置を測定する位置測定工程と、検査部位置を、基準位置取得工程で取得した垂直基準位置の中で当該検査部位置を有する検査対象部分から平板面方向の距離が最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、検査対象部分の高さを求める高さ算出工程と、高さ算出工程で求めた検査対象部分の高さを、規格値と比較して、規格内か否か判定する判定工程と、を有することを特徴とする。なお、平板面は、平板状の部材の板面、即ち外形を構成する面の中の面積が大きい二面である。
本発明に係る外観検査方法によれば、検査対象部分の測定部位置を、当該検査対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較して、当該検査対象部分の高さが算出される。本来、高さは、検査対象部分の検査対象部分近傍の平板面からの高さであって、検査対象部分の検査部位置を検査対象部分近傍の平板面と比較することで、正確な高さを求めることができる。本発明に係る外観検査方法によれば、検査対象部分近傍の平板面の代わりに垂直基準位置を取得する基準領域を定めることで、垂直基準位置を取得する部分が不定の場合に比べて、垂直基準位置のばらつきを抑制することができる。さらに、検査対象部分の検査部位置を検査対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、他の基準領域の垂直基準位置を検査対象部分の検査部位置と比較する場合に比べて、部材の反りやうねりなどに起因する検査対象部分近傍の平板面と基準領域との平板面に垂直な方向の位置ずれの量を抑制することができる。これにより、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめることができる。突出部の突出量の正確な測定が可能となることで、突出部の突出量の可否を正しく判定できる、正確な外観検査を実行することができる。
本発明において外観検査方法は、基準位置取得工程、及び位置測定工程において、接触式の変位計を用いて、垂直基準位置又は検査部位置を測定することが好ましい。
この外観検査方法によれば、接触式の変位計は、測定時には部材に接触して接触圧を加える。部材の反りやうねりなどによる変形は、この接触圧で矯正される可能性があり、部材の反りやうねりなどに起因する誤差を抑制することができる。
本発明による外形測定装置は、平板状の部材の略平坦な平板面の外形形状を測定する外形測定装置であって、平板面の部分の平板面に垂直な方向の位置を測定する垂直位置測定部と、垂直位置測定部が計測した、平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を記憶する基準位置情報記憶部と、垂直位置測定部が計測した、平板面上の測定対象部分の、平板面に垂直な方向の位置である測定部位置を記憶する測定位置情報記憶部と、測定部位置を、基準位置情報記憶部に記憶された垂直基準位置の中で当該測定部位置を有する測定対象部分から平板面方向の距離が最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、測定対象部分の高さを求める高さ算出部と、を備えることを特徴とする。なお、平板面は、平板状の部材の板面、即ち外形を構成する面の中の面積が大きい二面である。
本発明に係る外形測定装置によれば、高さ算出部は、測定対象部分の測定部位置を、当該測定対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較して、当該測定対象部分の高さを算出する。本来、高さは、測定対象部分の測定対象部分近傍の平板面からの高さであって、測定対象部分の測定部位置を測定対象部分近傍の平板面と比較することで、正確な高さを求めることができる。本発明に係る外形測定装置によれば、測定対象部分近傍の平板面の代わりに垂直基準位置を取得する基準領域を定めることで、垂直基準位置を取得する部分が不定の場合に比べて、垂直基準位置のばらつきを抑制することができる。さらに、測定対象部分の測定部位置を測定対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、測定対象部分の測定部位置を他の基準領域の垂直基準位置と比較する場合に比べて、部材の反りやうねりなどに起因する測定対象部分近傍の平板面と基準領域との平板面に垂直な方向の位置ずれの量を抑制することができる。これにより、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめることができる。
本発明において外形測定装置は、垂直位置測定部が、垂直基準位置又は測定部位置を測定するために基準領域又は測定対象部分に接触させる接触プローブを備えることが好ましい。
この外形測定装置によれば、垂直位置測定部は、測定時には、部材に接触プローブを接触させて接触圧を加える。部材の反りやうねりなどによる変形は、この接触圧で矯正される可能性があり、部材の反りやうねりなどに起因する誤差を抑制することができる。
本発明において外形測定装置は、接触プローブが、当該接触プローブの自重によって基準領域又は測定対象部分に当接することが好ましい。
この外形測定装置によれば、接触プローブの自重が、測定を実行する際の接触圧となる。接触プローブの自重は一定であり、弾性部材のように変形量によって発生する力が異なる圧力発生部材を使用する場合に比べて、測定を実行する際の接触圧を一定に保つことができる。
本発明において外形測定装置は、接触プローブに着脱可能に固定された荷重用錘をさらに備え、接触プローブは、当該接触プローブの自重及び荷重用錘の重量によって基準領域又は測定対象部分に当接することが好ましい。
この外形測定装置によれば、荷重用錘の重量を変えることで、測定を実行する際の接触圧を調整することができる。
本発明において外形測定装置は、接触プローブの自重、又は接触プローブの自重と荷重用錘の重量との和が、30グラムであることが好ましい。
この外形測定装置によれば、測定を実行する際の接触圧が約30グラムとなる。接触圧が約30グラムであれば、突出部を潰す可能性を小さくすることと、部材の反りやうねりなどによる変形を矯正することとの両方を実現することができる可能性が高いことが、本発明の発明者らによって確認されている。
本発明において外形測定装置は、垂直位置測定部が、差動トランス方式の変位計であることが好ましい。
この外形測定装置によれば、差動トランス方式は構造が簡単であり、測定装置を小型軽量にすることができる。また、接触プローブが固定された可動部が摺動自在に嵌合した固定部と、可動部との間で物理的な力を及ぼしあうことがないため、固定部と可動部(接触プローブ)との相対位置によって接触プローブの接触圧が変化することを殆どなくすることができる。
本発明において外形測定装置は、接触プローブの重力加速度方向への移動を規制する先端吊り下げ板を更に備えることが好ましい。
この外形測定装置によれば、接触プローブが固定された可動部が摺動自在に嵌合した固定部に対する、可動部(接触プローブ)の移動量を小さくして、接触プローブを部材に離接させるための変位計の移動量を抑制することができる。変位計の移動量を抑制することで、測定に要する時間を短縮することができる。
本発明による外観検査装置は、平板状の部材の略平坦な平板面の外観形状を検査する外観検査装置であって、予め入力された、外観形状を規定する設計値及び当該設計値の許容誤差を含む規格値を記憶する規格値記憶部と、平板面の部分の平板面に垂直な方向の位置を測定する垂直位置測定部と、垂直位置測定部が計測した、平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を記憶する基準位置情報記憶部と、垂直位置測定部が計測した、平板面上の検査対象部分の、平板面に垂直な方向の位置である検査部位置を記憶する測定位置情報記憶部と、検査部位置を、基準位置情報記憶部に記憶された垂直基準位置の中で当該検査部位置を有する検査対象部分から平板面方向の距離が最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、検査対象部分の高さを求める高さ算出部と、高さ算出部が求めた測定対象部分の高さを、規格値と比較して、規格内か否か判定する高さ判定部と、を備えることを特徴とする。なお、平板面は、平板状の部材の板面、即ち外形を構成する面の中の面積が大きい二面である。
本発明に係る外観検査装置によれば、高さ算出部は、検査対象部分の検査部位置を、当該測定対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較して、当該検査対象部分の高さを算出する。本来、高さは、検査対象部分の検査対象部分近傍の平板面からの高さであって、検査対象部分の検査部位置を検査対象部分近傍の平板面と比較することで、正確な高さを求めることができる。本発明に係る外形測定装置によれば、検査対象部分近傍の平板面の代わりに垂直基準位置を取得する基準領域を定めることで、垂直基準位置を取得する部分が不定の場合に比べて、垂直基準位置のばらつきを抑制することができる。さらに、検査対象部分の検査部位置を検査対象部分に最も近い基準領域の垂直基準位置と比較することで、検査対象部分の検査部位置を他の基準領域の垂直基準位置と比較する場合に比べて、部材の反りやうねりなどに起因する検査対象部分近傍の平板面と基準領域との平板面に垂直な方向の位置ずれの量を抑制することができる。これにより、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめることができる。突出部の突出量の正確な測定が可能となることで、突出部の突出量の可否を正しく判定できる、正確な外観検査を実行することができる。
本発明において外観検査装置は、垂直位置測定部が、垂直基準位置又は検査部位置を測定するために基準領域又は検査対象部分に接触させる接触プローブを備えることが好ましい。
この外観検査装置によれば、垂直位置測定部は、測定時には、部材に接触プローブを接触させて接触圧を加える。部材の反りやうねりなどによる変形は、この接触圧で矯正される可能性があり、部材の反りやうねりなどに起因する誤差を抑制することができる。
本発明において外観検査装置は、接触プローブが、当該接触プローブの自重によって基準領域又は検査対象部分に当接することが好ましい。
この外観検査装置によれば、接触プローブの自重が、測定を実行する際の接触圧となる。接触プローブの自重は一定であり、弾性部材のように変形量によって発生する力が異なる圧力発生部材を使用する場合に比べて、測定を実行する際の接触圧を一定に保つことができる。
本発明において外観検査装置は、接触プローブに着脱可能に固定された荷重用錘をさらに備え、接触プローブは、当該接触プローブの自重及び荷重用錘の重量によって基準領域又は検査対象部分に当接することが好ましい。
この外観検査装置によれば、荷重用錘の重量を変えることで、測定を実行する際の接触圧を調整することができる。
本発明において外観検査装置は、接触プローブの自重、又は接触プローブの自重と荷重用錘の重量との和が、30グラムであることが好ましい。
この外観検査装置によれば、測定を実行する際の接触圧が約30グラムとなる。接触圧が約30グラムであれば、突出部を潰す可能性を小さくすることと、部材の反りやうねりなどによる変形を矯正することとの両方を実現することができる可能性が高いことが、本発明の発明者らによって確認されている。
本発明において外観検査装置は、垂直位置測定部が、差動トランス方式の変位計であることが好ましい。
この外観検査装置によれば、差動トランス方式は構造が簡単であり、測定装置を小型軽量にすることができる。また、接触プローブが固定された可動部が摺動自在に嵌合した固定部と、可動部との間で物理的な力を及ぼしあうことがないため、固定部と可動部(接触プローブ)との相対位置によって接触プローブの接触圧が変化することを殆どなくすることができる。
本発明において外観検査装置は、接触プローブの重力加速度方向への移動を規制する先端吊り下げ板を更に備えることが好ましい。
この外観検査装置によれば、接触プローブが固定された可動部が摺動自在に嵌合した固定部に対する、可動部(接触プローブ)の移動量を小さくして、接触プローブを部材に離接させるための変位計の移動量を抑制することができる。変位計の移動量を抑制することで、測定に要する時間を短縮することができる。
以下、本発明に係る外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置の一実施形態について、図面を参照して説明する。本発明の実施形態は、液滴吐出ヘッドを構成するプレートが区画形成された大判プレートのプレート面の外形形状を測定することでプレートの良否を判定する外観検査装置を例に説明する。
<液滴吐出装置>
最初に、液滴吐出装置1について、図1を参照して説明する。液滴吐出装置1は、液滴吐出ヘッド10(図2参照)を備え、液滴吐出ヘッド10は、本発明の外観検査装置及び外観検査方法を用いて良否を判定する流路プレート20(図2又は3参照)を有する液滴吐出ヘッド10である。図1は、液滴吐出装置の概略構成を示す外観斜視図である。
最初に、液滴吐出装置1について、図1を参照して説明する。液滴吐出装置1は、液滴吐出ヘッド10(図2参照)を備え、液滴吐出ヘッド10は、本発明の外観検査装置及び外観検査方法を用いて良否を判定する流路プレート20(図2又は3参照)を有する液滴吐出ヘッド10である。図1は、液滴吐出装置の概略構成を示す外観斜視図である。
図1に示すように、液滴吐出装置1は、液状体を液滴として吐出する液滴吐出ヘッド10を有するヘッド機構部2と、液滴吐出ヘッド10から吐出された液滴の吐出対象であるワーク300を載置するワーク載置台301を有するワーク機構部3と、液滴吐出ヘッド10への液状体の供給を行う機能液供給部4と、液滴吐出ヘッド10の保守を行うメンテナンス装置部5と、を備えている。また、これら各機構部等を総括的に制御する吐出装置制御部6を備えている。
さらに、液滴吐出装置1は、床上に設置された複数の支持脚8と、支持脚8の上側に設置された定盤9とを備えている。定盤9の上側には、ワーク機構部3が定盤9の長手方向(X軸方向)に延在するように配設されている。ワーク機構部3の上方には、定盤9に固定された2本の支持柱で支持されているヘッド機構部2が、ワーク機構部3と直交する方向(Y軸方向)に延在するように配設されている。また、定盤9の傍らには、ヘッド機構部2の液滴吐出ヘッド10に連通する供給管を有する機能液供給部4の液状体タンクなどが配置されている。ヘッド機構部2の一方の支持柱の近傍には、メンテナンス装置部5がワーク機構部3と並んでX軸方向に配設されている。さらに、定盤9の下側に、吐出装置制御部6が収容されている。
ヘッド機構部2は、液滴吐出ヘッド10を有するヘッドユニット221と、ヘッドユニット221を支持するヘッドキャリッジ222とを有し、ヘッドキャリッジ222をY軸方向に移動させることで、液滴吐出ヘッド10をY軸方向に自在に移動させる。また、移動した位置に保持する。ワーク機構部3は、ワーク載置台301をX軸方向に移動させることで、ワーク載置台301に載置されたワーク300をX軸方向に自在に移動させる。また、移動した位置に保持する。
このように、液滴吐出ヘッド10は、Y軸方向の吐出位置まで移動して停止し、下方にあるワーク300のX軸方向の移動に同調して、液状体を液滴として吐出する。X軸方向に移動するワーク300と、Y軸方向に移動する液滴吐出ヘッド10とを相対的に制御することにより、ワーク300上の任意の位置に液滴を着弾させることで、所望する描画などを行うことが可能である。
<液滴吐出ヘッドの構成>
次に、外観検査装置を用いて外観検査を実行する検査対象である流路プレート20を有する液滴吐出ヘッド10について、図2及び図3を参照して説明する。図2は、液滴吐出ヘッドの要部であるヘッド体を示す図である。図2(a)は、ヘッド体の外観を示す斜視図であり、図2(b)は、ヘッド体の概構造を示す断面図である。
次に、外観検査装置を用いて外観検査を実行する検査対象である流路プレート20を有する液滴吐出ヘッド10について、図2及び図3を参照して説明する。図2は、液滴吐出ヘッドの要部であるヘッド体を示す図である。図2(a)は、ヘッド体の外観を示す斜視図であり、図2(b)は、ヘッド体の概構造を示す断面図である。
図2(b)に示すように、ヘッド体10Aは、ノズルプレート11と、ノズルフィルム21と、液室プレート22と、液室フィルム23と、流路プレート20と、圧力室フィルム24と、圧力室プレート26と、素子プレート27と、を有しており、これらが積層されて、互いに接着されている。これらのプレートやフィルムには様々な孔が形成されており、プレートやフィルムが積層されることで、孔が立体的に接続されて、液状体の流路などを構成している。
図2(a)に示すように、ヘッド体10Aの1面はノズルプレート11によって形成されており、ノズルプレート11には、材料液の液滴を吐出する吐出ノズル12が形成されている。複数の吐出ノズル12がノズル列を形成するように設けられており、液滴吐出ヘッド10は、当該ノズル列を2本有している。ノズルプレート11の反対側の面には、圧電素子28の駆動信号などを伝達するためのフラットケーブル16が接続されている。ヘッド体10Aは、液滴吐出ヘッド10の主要部であり、図2(b)に示したようにヘッドケース36に組み込まれて、液滴吐出ヘッド10を構成する。
図2(b)に示すように、吐出ノズル12は、ノズルフィルム21と液室プレート22と液室フィルム23とに形成された孔と、流路プレート20に形成された連通口孔20cと、圧力室フィルム24に形成された孔と、を介して圧力室33に連通している。圧力室33は、素子プレート27に形成された孔が、圧力室フィルム24と素子プレート27とに挟まれて形成された空間である。素子プレート27の圧力室33に対応する位置の圧力室33の反対面には、圧電素子28が配設されている。圧電素子28を変形させることによって圧力室33の容積を変化させることで、吐出ノズル12から液状体を液滴として吐出する。
圧力室33は、圧力室フィルム24に形成された孔と、流路プレート20に形成された供給口孔20bと、を介して液たまり32に連通している。液たまり32は、ノズルフィルム21と液室プレート22と液室フィルム23とに形成された孔が、ノズルプレート11と流路プレート20とに挟まれて形成された空間である。流路プレート20に形成された導入口孔20aを介して供給されてくる液状体が、液たまり32に貯留される。圧力室33の液状体が吐出ノズル12から吐出されるのに対応して、液状体が、供給口孔20bを介して、液たまり32から圧力室33に供給される。
導入口孔20aには、導入口31を有する導入口部材29が配設されており、ヘッド体10Aがヘッドケース36に組み込まれた状態で、導入口31は、液滴吐出ヘッド10の液状体導入部に接続される。機能液供給部4の供給管が液状体導入部に接続されて、液状体が導入口31を通って液滴吐出ヘッド10に供給される。液滴吐出ヘッド10は、ノズルプレート11がワーク300を載置するワーク載置台301に臨むようにヘッドユニット221に固定されている。ノズルプレート11の周囲には、ヘッドカバー14が被されており、ノズルプレート11の吐出ノズル12が形成された面が他の部材などに当ったりすることがないように保護している。機能液供給部4から液状体導入部を介して供給された液状体は、図2(b)に矢印a,b,cで示したように、導入口31を通って液たまり32に入り、供給口孔20bを通って圧力室33に供給され、圧力室33で圧縮されることで、連通口孔20cを通って吐出ノズル12から液滴として吐出される。
<流路プレートの構成>
次に、流路プレート20の構成について、図3を参照して説明する。図3(a)は、流路プレートを示す概略平面図であり、図3(b)は、複数の流路プレートが形成されたマザープレートの概略平面図である。
次に、流路プレート20の構成について、図3を参照して説明する。図3(a)は、流路プレートを示す概略平面図であり、図3(b)は、複数の流路プレートが形成されたマザープレートの概略平面図である。
図3(a)に示すように、流路プレート20には、上述した導入口孔20aと、供給口孔20bと、連通口孔20cと、が形成されている。また、プレート内基準孔41と、図示省略した空気逃げ孔と、が形成されている。吐出ノズル12に1対1に対応する連通口孔20cは、92個の連通口孔20cからなる孔列が2列形成されており、1枚の流路プレート20あたり184個の孔が形成されている。供給口孔20bは、連通口孔20cに並列するように、184個の孔が形成されている。なお、図3では連通口孔20c及び供給口孔20bの形状及び配列を分かり易く示すために、それらの幅及び間隔を実際よりも大幅に広く描いている。よって、連通口孔20c及び供給口孔20bの個数が少なく描かれている。導入口孔20aは、1枚の流路プレート20あたり2個の孔が形成されている。プレート内基準孔41は、流路プレート20と、上述した他のプレート又はフィルムとを貼り合わせる際の位置決めの基準となる孔であって、1枚の流路プレート20あたり4個の孔が形成されている。
図3(b)に示すように、流路プレート20は、マザープレート20A上にマトリクス状に形成され、マザープレート20Aを分割することにより取り出される。マザープレート20Aは、2種類のステンレス鋼板を貼り合せた複合材を用いることができる。分割方法としては、ダイシング、レーザーカット、プレス等を用いることができる。
流路プレート20には、流路プレート20に形成される孔の他に、方向識別穴54と、アライメント孔53と、分割基準孔52と、が形成されている。また、図3(b)に二点鎖線で示した基準領域51が設定されている。方向識別穴54は、加工や検査の際に、加工装置や検査装置に載置されたマザープレート20Aの方向を識別するための孔であって、1枚のマザープレート20Aに1個形成されている。アライメント孔53は、加工や検査の際に、加工装置や検査装置に載置されたマザープレート20Aの位置及び方向を正確に位置決めするための基準とする孔であって、1枚のマザープレート20Aに2個形成されている。分割基準孔52は、マザープレート20Aから流路プレート20を分割形成する際に基準とする孔であって、1枚のマザープレート20Aに4個形成されている。
マザープレート20Aに形成される上記した各孔は、プレス加工を用いて形成される。プレス加工では、プレート面から突出するいわゆる縦バリが発生する可能性がある。縦バリは、流路プレート20と他のフィルムなどとを貼り合せる際に、流路プレート20と他のフィルムなどとの密着を妨げることで好適な貼り合わせを阻害する可能性がある。このため、縦バリが発生した流路プレート20を排除するために、縦バリの有無を確認する、検査が必要である。上記したように多数の孔が形成される流路プレート20においては、縦バリの有無を確認するべき位置が近接しているため、縦バリの高さの基準として測定するべき流路プレート20の面が、孔の近傍では得られない。そのため、各流路プレート20の周辺にあたる位置に基準領域51が設定されている。マザープレート20Aでは、基準領域51が、9個所設定されている。
<外観検査装置>
次に、本実施形態で用いる外観検査装置60について説明する。最初に、外観検査装置60の全体構成について、図4を参照して説明する。図4は、外観検査装置の構成を示す模式図である。図4に示すように、外観検査装置60は、変位計61と、変位計昇降機構62と、プレート移動機構63と、これらの各機構などを制御するメインコンピュータ66と、これらの各機構などを支持する枠体である装置台88と、を備えている。
次に、本実施形態で用いる外観検査装置60について説明する。最初に、外観検査装置60の全体構成について、図4を参照して説明する。図4は、外観検査装置の構成を示す模式図である。図4に示すように、外観検査装置60は、変位計61と、変位計昇降機構62と、プレート移動機構63と、これらの各機構などを制御するメインコンピュータ66と、これらの各機構などを支持する枠体である装置台88と、を備えている。
変位計61は、変位検出部71と、変位計保持部78と、接触子74と、荷重錘76と、吊下げ板77と、A/D変換部79とを備えている。変位検出部71は、固定軸73と、固定軸73に摺動自在に嵌合している移動軸72とを有している。変位計61は差動トランス方式の変位計であり、固定軸73に固定された3本のコイル(図示省略)と、移動軸72に固定された可動鉄心(図示省略)とを有する。3本のコイルの中の一次コイルに交流電流を流した状態で、移動軸72が固定軸73に対して移動することで、3本のコイルに対して可動鉄心が動くと、その変位量に応じて2本の二次コイルに誘起電圧が発生する。これを電圧差として取り出し、A/D変換部79でデジタル信号に変換して、変位量を求める。
固定軸73は、変位計保持部78に固定されている。移動軸72の先端には接触子74が固定されており、中間には荷重錘76が固定されている。吊下げ板77は変位計保持部78に固定されており、先端側が荷重錘76を係止することで、移動軸72と接触子74と荷重錘76とを支持している。変位計保持部78が図4のZ軸下方方向に移動し、接触子74が測定対象物200に当接すると、二点鎖線で示したように、吊下げ板77と荷重錘76との係合が外れて、接触子74は、移動軸72と接触子74と荷重錘76との重量による力で測定対象物200を押圧する。二点鎖線で示した接触子74は、模式的に大きく表示した縦バリ200aに当接している。移動軸72と接触子74と荷重錘76との重量の合計は、例えば30グラムになるように、荷重錘76の重量を調節する。
変位計昇降機構62は、固定部62bと、固定部62bに摺動自在に嵌合している昇降部62aと、を備えている。昇降部62aは、図示省略した昇降駆動機構によって、Z軸方向に移動させられると共に、任意の位置で保持される。固定部62bは図示省略した支持機構を介して装置台88に支持されている。昇降部62aには、変位計保持部78が固定されており、昇降部62aを昇降させることで、変位計保持部78が支持する接触子74を測定対象物200に離接させることができる。
昇降部62aを降下させて、接触子74を測定対象物200に接触させると、その位置で接触子74及び移動軸72は停止し、昇降部62aと共にさらに下降した固定軸73と移動軸72とは相対移動する。固定軸73と移動軸72との相対移動が発生した状態で昇降部62aを保持すると、上述したように、固定軸73と移動軸72との相対移動量が、電圧差として取り出されて、変位量が求められる。当該変位量と、昇降部62aのZ軸方向の位置とから、接触子74の先端位置、即ち、測定対象物200の表面のZ軸方向の位置を検出する。
プレート移動機構63は、X軸スライド機構81と、Y軸スライド機構82と、回動機構84と、ステージ83と、を備えている。X軸スライド機構81を構成するX軸スライド台81bが装置台88に固定されており、X軸スライド機構81を構成するX軸スライダ81aが、X軸方向に摺動自在且つ固定可能にX軸スライド台81bと係合している。Y軸スライド機構82を構成するY軸スライド台82bがX軸スライダ81aに固定されており、Y軸スライド機構82を構成するY軸スライダ82aが、Y軸方向に摺動自在且つ固定可能にY軸スライド台82bと係合している。回動機構84を構成する回動機構台84bがY軸スライダ82aに固定されており、回動機構84を構成する回動テーブル84aが、Z軸回りに回動自在且つ固定可能に回動機構台84bと係合している。X軸スライダ81a、Y軸スライダ82a、回動テーブル84aは、それぞれX軸スライド台81b、Y軸スライド台82b、回動機構台84bとの間に構成されたサーボモータ(図示省略)によって駆動される。
ステージ83は、回動テーブル84aに固定されており、マザープレート20Aなどの測定対象物200を載置するために用いられる。ステージ83に載置された測定対象物200は、回動機構84によって、Z軸回りに回動可能であり、測定対象物200のZ軸回り方向の姿勢が補正できる。X軸スライド機構81及びY軸スライド機構82によって、測定対象物200を、X軸Y軸平面方向に移動することで、測定対象物200の任意の部分を、接触子74が臨む位置に移動する。
上記各構成を制御する制御部としてのメインコンピュータ66は、制御装置91を備えている。また、メインコンピュータ66には、外観測定の際に用いられる各種データを入力する入力装置68と、測定結果や良否判定などの各種情報を表示する表示装置67が接続されている。
次に、図5を参照して、外観検査装置60の機能的構成について説明する。図5は、外観検査装置の機能的構成を示す機能ブロック図である。上述したように、外観検査装置60は、変位計61と、変位計昇降機構62と、プレート移動機構63と、これらを統括制御する制御装置91と、を備えており、変位計61は、変位検出部71と、A/D変換部79と、を備えている。図5に示したように、制御装置91は、統括制御部92と、基準位置情報記憶部93と、測定位置情報記憶部94と、規格値記憶部95と、高さ算出部97と、高さ判定部98と、変位計制御部101と、位置情報取得部99と、変位計昇降制御部102と、プレート移動制御部103と、を備えている。これらの各部は、内部バス106で相互に接続されている。入力装置68と、表示装置67とは、入出力インタフェース107を介して、統括制御部92と、内部バス106で相互に接続されている。
プレート移動制御部103は、プレート移動機構63を制御して、ステージ83をX軸Y軸平面内で移動することで、測定対象物200の任意の部分を、接触子74が臨む位置に移動する。変位計昇降制御部102は、変位計昇降機構62を制御して、変位計61をZ軸方向に移動させることで、接触子74を測定対象物200に当接させる。変位計制御部101は、変位計61を制御して、接触子74が測定対象物200に当接したときの、Z軸方向の位置を計測させる。位置情報取得部99は、変位検出部71から出力され、A/D変換部79でデジタル信号に変換された位置情報を取得する。
基準位置情報記憶部93は、位置情報取得部99が取得した位置情報の中から、基準領域(マザープレート20Aの基準領域51)の位置情報を、垂直基準位置として、記憶する。垂直基準位置は、当該位置であることを測定された基準領域のX軸Y軸平面方向の位置(以降、「基準領域平面位置」と表記する。)と、対応付けられて記憶される。測定位置情報記憶部94は、位置情報取得部99が取得した位置情報の中から、測定対象部分の位置情報を、測定部位置として、記憶する。測定部位置は、当該測定部位置であることを測定された測定対象部分のX軸Y軸平面方向の位置(以降、「対象平面位置」と表記する。)と、対応付けられて記憶される。
高さ算出部97は、測定部位置を、当該測定部位置であることを測定された測定対象部分の対象平面位置に最も近い基準領域平面位置である基準領域の垂直基準位置と比較することで、当該測定対象部分の高さを算出する。
規格値記憶部95は、入力装置68などを介して予め入力された、測定対象部分の高さの規格値及び許容誤差を記憶する。高さ判定部98は、高さ算出部97が算出した測定対象部分の高さを、規格値記憶部95に記憶された規格値及び許容誤差と比較して、測定対象部分の高さの良否を判定する。
<外観検査>
次に、外観検査装置60を用いて、マザープレート20Aの表面における縦バリ200aの有無を検査する外観検査について、図6を参照して説明する。図6は、外観検査の工程を示すフローチャートである。
次に、外観検査装置60を用いて、マザープレート20Aの表面における縦バリ200aの有無を検査する外観検査について、図6を参照して説明する。図6は、外観検査の工程を示すフローチャートである。
図6のステップS21では、マザープレート20Aの外観検査の実行に先立って、マザープレート20Aにおける測定対象部分の規格値を、入力装置68を介して入力する。入力された規格値は、規格値記憶部95に記憶される。マザープレート20Aの面は平坦であって、バリなどが無いことが好ましい。従って、マザープレート20Aの面である測定対象部分の高さの設計値は零であり、許容誤差は、縦バリ200aの許容値である。マザープレート20Aの母材が持っていた歪や、プレス加工による部分変形なども、必要に応じて考慮する。ステップS21が、規格値取得工程に相当する。
次に、ステップS22では、マザープレート20Aをステージ83に載置してセットする。次に、ステップS23では、マザープレート20Aに形成された方向識別穴54(図3(b)参照)を検出する。方向識別穴54の検出は、画像認識装置を用いて、マザープレート20Aがステージ83に正しくセットされた場合に方向識別穴54が在るべきあたりを認識することで、実行する。
次に、ステップS24では、ステージ83にセットされたマザープレート20Aの方向が概ね正しいか否かを判定する。方向識別穴54はマザープレート20Aに1個だけ形成されているため、マザープレート20Aの方向が約90度或は約180度違ってセットされた場合には、方向識別穴54が在るべきあたりでは検出できないことから、ステップS23で方向識別穴54を検出できれば、マザープレート20Aは正しい方向でセットされたと判定できる。
マザープレート20Aが正しい方向でセットされていなかった場合(ステップS24でNO)には、ステップS25に進む。ステップS25では、マザープレート20Aを正しい方向で再セットする。ステップS25の次はステップS23に進み、ステップS23とステップS24とを再度実行する。なお、ステップS22とステップS25とを手作業で行い、ステップS23は目視によって確認し、ステップS24は操作者が判断してもよい。
マザープレート20Aが正しい方向でセットされていた場合(ステップS24でYES)には、ステップS26に進む。ステップS26では、マザープレート20Aに2個形成されているアライメント孔53を、それぞれ検出して、それぞれのX軸Y軸平面における位置を取得する。次に、ステップS27では、ステージ83にセットされたマザープレート20Aの方向が正しいか否か、即ち、X軸又はY軸方向に対する傾きが規格内であるか否かを判定する。詳細には、ステップS26で取得したアライメント孔53のX軸Y軸平面における位置から、2個のアライメント孔53の中心を結ぶ直線の、X軸又はY軸に対する傾きが規格内であるか否かを判定する。
マザープレート20Aの傾きが規格を満たさない場合(ステップS27でNO)には、ステップS28に進む。ステップS28では、マザープレート20Aの方向を調整して、傾きを修正する。マザープレート20Aの方向の調整は、回動機構84によってステージ83をZ軸回りに回動させることで実行する。ステップS28の次はステップS26に進み、ステップS26とステップS27とを再度実行する。
マザープレート20Aの傾きが規格を満たしていた場合(ステップS27でYES)には、ステップS29に進む。ステップS29では、基準領域51のZ軸方向の位置を測定して、垂直基準位置を取得する。より具体的には、最初に、プレート移動制御部103が、プレート移動機構63を制御して、ステージ83をX軸Y軸平面内で移動することで、マザープレート20A上に設定された基準領域51を、接触子74が臨む位置に移動する。この状態で、変位計昇降制御部102が、変位計昇降機構62を制御して、変位計61をZ軸方向に移動させることで、接触子74を基準領域51に当接させる。変位計制御部101が、変位計61を制御して、接触子74が基準領域51に当接した状態の、Z軸方向の位置を計測させる。位置情報取得部99が、変位検出部71から出力され、A/D変換部79でデジタル信号に変換されたZ軸方向の位置情報を、垂直基準位置として取得する。取得された垂直基準位置は、測定した基準領域51の基準領域平面位置と共に、基準位置情報記憶部93に記憶される。垂直基準位置の取得は、マザープレート20A上に設定された9個所の基準領域51のそれぞれについて実行する。ステップS29が、基準位置取得工程に相当する。接触子74が、接触プローブに相当する。
次に、ステップS30では、測定対象部分のZ軸方向の位置を測定して、測定部位置を取得する。より具体的には、最初に、プレート移動制御部103が、プレート移動機構63を制御して、ステージ83をX軸Y軸平面内で移動することで、マザープレート20A上の測定対象部分を、接触子74が臨む位置に移動する。この状態で、変位計昇降制御部102が、変位計昇降機構62を制御して、変位計61をZ軸方向に移動させることで、接触子74を測定対象部分に当接させる。変位計制御部101が、変位計61を制御して、接触子74が測定対象部分に当接した状態の、Z軸方向の位置を計測させる。位置情報取得部99が、変位検出部71から出力され、A/D変換部79でデジタル信号に変換されたZ軸方向の位置情報を、測定部位置として取得する。取得された測定部位置は、測定した測定対象部分の対象平面位置と共に、測定位置情報記憶部94に記憶される。接触子74の先端面は例えば直径3mmの円形であり、接触子74の先端面が覆うマザープレート20A上の円形の範囲が1回で測定する測定対象部分の範囲となる。測定部位置の取得は、マザープレート20Aの孔が形成された部分の総てについて実行する。ステップS30が、位置測定工程に相当する。変位計昇降機構62と、変位計61とが、垂直位置測定部に相当する。測定対象部分が、検査対象部分又は測定対象部分に相当し、測定部位置が、検査部位置又は測定部位置に相当する。
次に、ステップS31では、測定対象部分の高さを算出する。より具体的には、高さ算出部97が、測定位置情報記憶部94に記憶されている測定対象部分の対象平面位置の情報と、基準位置情報記憶部93に記憶されている基準領域51の基準領域平面位置の情報とから、高さを算出する測定対象部分に最も近い基準領域51を特定する。続いて、基準位置情報記憶部93に記憶されている当該最も近い基準領域51の垂直基準位置を取得し、測定位置情報記憶部94に記憶されている測定部位置を取得した垂直基準位置と比較することで、当該測定対象部分の高さを算出する。マザープレート20Aにおいては、測定対象部分と基準領域51とは同一の平面の一部であって、変形が生じたり、バリが発生したりすることがなければ、高さは零になる。ステップS31が、高さ算出工程に相当する。
次に、ステップS32では、測定対象部分の高さが規格内か否かを判定する。より具体的には、高さ判定部98が、ステップS31で高さ算出部97が算出した高さを、予め入力されて規格値記憶部95に記憶された規格値に照らして、測定対象部分の高さが規格を満たすか否かを判定する。ステップS32が、判定工程に相当する。
測定対象部分の高さが規格を満たしていなかった場合(ステップS32でNO)は、ステップS33に進む。ステップS33では、表示装置67に、算出した高さを測定結果として表示すると共に、測定対象のマザープレート20Aが規格を満たさない旨の不良表示を表示する。
測定対象部分の高さが規格を満たしていた場合(ステップS32でYES)は、ステップS34に進む。ステップS34では、表示装置67に、算出した高さを測定結果として表示する。ステップS34又はステップS33を終了して、マザープレート20Aの外観検査を終了する。
以下、実施形態の効果を記載する。本実施形態によれば、以下の効果が得られる。
(1)縦バリの高さの基準として測定するべき流路プレート20の面として基準領域51が設定されている。基準高さを測定する位置を基準領域51に限定することで、基準高さを測定する位置が不定の場合に比べて、基準高さのばらつきを抑制することができる。
(1)縦バリの高さの基準として測定するべき流路プレート20の面として基準領域51が設定されている。基準高さを測定する位置を基準領域51に限定することで、基準高さを測定する位置が不定の場合に比べて、基準高さのばらつきを抑制することができる。
(2)高さ算出部97が、測定位置情報記憶部94に記憶されている測定対象部分の対象平面位置の情報と、基準位置情報記憶部93に記憶されている基準領域51の基準領域平面位置の情報とから、高さを算出する測定対象部分に最も近い基準領域51を特定する。続いて、基準位置情報記憶部93に記憶されている当該最も近い基準領域51の垂直基準位置を取得し、測定位置情報記憶部94に記憶されている測定部位置を取得した垂直基準位置と比較することで、当該測定対象部分の高さを算出する。測定対象部分の測定部位置を測定対象部分に最も近い基準領域51の垂直基準位置と比較することで、他の基準領域51の垂直基準位置を測定対象部分の測定部位置と比較する場合に比べて、マザープレート20Aの反りやうねりなどに起因する測定対象部分近傍のマザープレート20Aの面と基準領域51とのマザープレート20Aの面に垂直な方向の位置ずれの量を抑制することができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施形態について説明したが、本発明の実施形態は、前記実施形態に限らない。本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論であり、以下のように実施することもできる。
(変形例1)前記実施形態においては、外観検査装置60は高さ判定部98を備え、高さ判定部98が、測定値の良否を判定することでマザープレート20Aの良否を判定していたが、高さ判定部を設けることや、良否判定を行うことは必須ではない。高さ判定部を設けない外形測定装置を用いて、良否判定は装置の操作者などが実行してもよい。
(変形例2)前記実施形態においては、外観検査装置60は表示装置67を備え、測定結果及び判定結果を表示装置67に表示していたが、表示装置を設けることや測定結果などを表示装置に表示することは必須ではない。表示装置に代えて他の出力装置を用いてもよい。出力装置としては、例えば、後工程の分割装置に、オンライン又は記録媒体を介して、不良のマザープレートのデータを出力する装置などであってもよい。
(変形例3)前記実施形態においては、外観検査装置60は回動機構84を備え、マザープレート20Aの平面方向の傾きを検出して、回動機構84によって平面方向に回動させることで、マザープレート20Aの方向調整をしていたが、回動機構を設けることや方向調整を実行することは必須ではない。回動機構は設けず、測定対象物を載置する際の位置決め精度を確保することで、平面方向の傾きを所定の規格内に収めてもよい。例えば、ステージ83に突起を形成し、当該突起にアライメント孔53を係合させることで方向を定めてもよい。
10…液滴吐出ヘッド、20…流路プレート、20A…マザープレート、20a…導入口孔、20b…供給口孔、20c…連通口孔、41…プレート内基準孔、51…基準領域、52…分割基準孔、53…アライメント孔、54…方向識別穴、60…外観検査装置、61…変位計、62…変位計昇降機構、63…プレート移動機構、71…変位検出部、74…接触子、76…荷重錘、77…吊下げ板、81…X軸スライド機構、82…Y軸スライド機構、83…ステージ、84…回動機構、91…制御装置、92…統括制御部、93…基準位置情報記憶部、94…測定位置情報記憶部、95…規格値記憶部、97…高さ算出部、98…高さ判定部、101…変位計制御部、102…変位計昇降制御部、103…プレート移動制御部。
Claims (18)
- 平板状の部材の略平坦な平板面の外形形状を測定する外形測定方法であって、
前記平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における前記平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を測定する基準位置取得工程と、
前記平板面上の測定対象部分の、前記平板面に垂直な方向の位置である測定部位置を測定する位置測定工程と、
前記測定部位置を、前記基準位置取得工程で取得した前記垂直基準位置の中で当該測定対象部分から前記平板面方向の距離が最も近い前記基準領域の前記垂直基準位置と比較することで、前記測定対象部分の高さを求める高さ算出工程と、を有することを特徴とする外形測定方法。 - 前記基準位置取得工程、及び前記位置測定工程において、接触式の変位計を用いて、前記垂直基準位置又は前記測定部位置を測定することを特徴とする、請求項1に記載の外形測定方法。
- 平板状の部材の略平坦な平板面の外観形状を検査する外観検査方法であって、
前記外観形状を規定する設計値及び当該設計値の許容誤差を含む規格値を取得する規格値取得工程と、
前記平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における前記平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を測定する基準位置取得工程と、
前記平板面上の検査対象部分の、前記平板面に垂直な方向の位置である検査部位置を測定する位置測定工程と、
前記検査部位置を、前記基準位置取得工程で取得した前記垂直基準位置の中で当該検査部位置を有する前記検査対象部分から前記平板面方向の距離が最も近い前記基準領域の前記垂直基準位置と比較することで、前記検査対象部分の高さを求める高さ算出工程と、
前記高さ算出工程で求めた前記検査対象部分の高さを、前記規格値と比較して、規格内か否か判定する判定工程と、を有することを特徴とする外観検査方法。 - 前記基準位置取得工程、及び前記位置測定工程において、接触式の変位計を用いて、前記垂直基準位置又は前記検査部位置を測定することを特徴とする、請求項3に記載の外観検査方法。
- 平板状の部材の略平坦な平板面の外形形状を測定する外形測定装置であって、
前記平板面の部分の前記平板面に垂直な方向の位置を測定する垂直位置測定部と、
前記垂直位置測定部が計測した、前記平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における前記平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を記憶する基準位置情報記憶部と、
前記垂直位置測定部が計測した、前記平板面上の測定対象部分の、前記平板面に垂直な方向の位置である測定部位置を記憶する測定位置情報記憶部と、
前記測定部位置を、前記基準位置情報記憶部に記憶された前記垂直基準位置の中で当該測定部位置を有する前記測定対象部分から前記平板面方向の距離が最も近い前記基準領域の前記垂直基準位置と比較することで、前記測定対象部分の高さを求める高さ算出部と、を備えることを特徴とする外形測定装置。 - 前記垂直位置測定部は、前記垂直基準位置又は前記測定部位置を測定するために前記基準領域又は前記測定対象部分に接触させる接触プローブを備えることを特徴とする、請求項5に記載の外形測定装置。
- 前記接触プローブは、当該接触プローブの自重によって前記基準領域又は前記測定対象部分に当接することを特徴とする、請求項6に記載の外形測定装置。
- 前記接触プローブに着脱可能に固定された荷重用錘をさらに備え、前記接触プローブは、当該接触プローブの自重及び前記荷重用錘の重量によって前記基準領域又は前記測定対象部分に当接することを特徴とする、請求項6に記載の外形測定装置。
- 前記接触プローブの自重、又は前記接触プローブの自重と前記荷重用錘の重量との和が、30グラムであることを特徴とする、請求項6または7に記載の外形測定装置。
- 前記垂直位置測定部は、差動トランス方式の変位計であることを特徴とする、請求項5乃至9のいずれか一項に記載の外形測定装置。
- 前記接触プローブの重力加速度方向への移動を規制する先端吊り下げ板を更に備えることを特徴とする、請求項6乃至9のいずれか一項に記載の外形測定装置。
- 平板状の部材の略平坦な平板面の外観形状を検査する外観検査装置であって、
予め入力された、前記外観形状を規定する設計値及び当該設計値の許容誤差を含む規格値を記憶する規格値記憶部と、
前記平板面の部分の前記平板面に垂直な方向の位置を測定する垂直位置測定部と、
前記垂直位置測定部が計測した、前記平板面上に設定された複数の基準領域の、それぞれの基準領域における前記平板面に垂直な方向の位置である垂直基準位置を記憶する基準位置情報記憶部と、
前記垂直位置測定部が計測した、前記平板面上の検査対象部分の、前記平板面に垂直な方向の位置である検査部位置を記憶する測定位置情報記憶部と、
前記検査部位置を、前記基準位置情報記憶部に記憶された前記垂直基準位置の中で当該検査部位置を有する前記検査対象部分から前記平板面方向の距離が最も近い前記基準領域の前記垂直基準位置と比較することで、前記検査対象部分の高さを求める高さ算出部と、
前記高さ算出部が求めた前記測定対象部分の高さを、前記規格値と比較して、規格内か否か判定する高さ判定部と、を備えることを特徴とする外観検査装置。 - 前記垂直位置測定部は、前記垂直基準位置又は前記検査部位置を測定するために前記基準領域又は前記検査対象部分に接触させる接触プローブを備えることを特徴とする、請求項12に記載の外観検査装置。
- 前記接触プローブは、当該接触プローブの自重によって前記基準領域又は前記検査対象部分に当接することを特徴とする、請求項13に記載の外観検査装置。
- 前記接触プローブに着脱可能に固定された荷重用錘をさらに備え、前記接触プローブは、当該接触プローブの自重及び前記荷重用錘の重量によって前記基準領域又は前記検査対象部分に当接することを特徴とする、請求項13に記載の外観検査装置。
- 前記接触プローブの自重、又は前記接触プローブの自重と前記荷重用錘の重量との和が、30グラムであることを特徴とする、請求項14または15に記載の外観検査装置。
- 前記垂直位置測定部は、差動トランス方式の変位計であることを特徴とする、請求項12乃至16のいずれか一項に記載の外観検査装置。
- 前記接触プローブの重力加速度方向への移動を規制する先端吊り下げ板を更に備えることを特徴とする、請求項12乃至17のいずれか一項に記載の外観検査装置。
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JP2006286028A JP2008102072A (ja) | 2006-10-20 | 2006-10-20 | 外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置 |
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JP2010190894A (ja) * | 2009-02-16 | 2010-09-02 | Kofukin Seimitsu Kogyo (Shenzhen) Yugenkoshi | 接触式測定装置 |
KR200479564Y1 (ko) * | 2015-03-09 | 2016-02-12 | 주식회사 새광이엔지 | 디지털 평탄도 검사 장치 |
JP2016085126A (ja) * | 2014-10-27 | 2016-05-19 | 有限会社ナンカ | 電子組立部品の検査装置 |
-
2006
- 2006-10-20 JP JP2006286028A patent/JP2008102072A/ja not_active Withdrawn
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