CN210070864U - 一种承载基台及检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型的承载基台，包括具有平滑工作面的基台本体，基台本体工作面上设置有多个支撑体，多个支撑体呈矩阵方式排列，多个支撑体的顶端处于同一平面。本实用新型的检测设备包括该承载基台和扫描部，扫描部用于对待测基板玻璃进行第一方向和第二方向进行扫描。本实用新型在基台本体上设置多个支撑体，使得基台本体和基板玻璃之间存在间隙，使承载基台不会产生反射激光，利用多点接触的方式使得基板玻璃的可检测面积增加，通过垫片或者调整球形滚珠的直径大小使得支撑体的顶部始终处于同一水平面，不会使基板玻璃发生形变，从而保证了检测结果的准确性，通过检测设备对基板玻璃进行流向和非流向的同时检测，实现了对基板玻璃的全面检测。
Description
技术领域
本实用新型属于高精度检测技术领域，具体涉及一种承载基台，还涉及一种包括上述承载基台的检测设备。
背景技术
目前液晶面板产业中无论是TFT-LCD还是AMOLED面板，基板玻璃都是构成液晶显示器件的重要部件，也是液晶显示产业的关键基础材料之一。如今市场主流基板需求是G5以上世代基板玻璃，一般而言其尺寸为：G5＝1100mm×1300mm，G6＝1500mm×1850mm，G8.5＝2200mm×2500mm。
高世代的基板玻璃能有效提升大屏幕液晶面板的良率以及产出率，同时降低生产成本，进而能够顺应未来大屏、多屏时代的发展潮流，未来市场对于高世代基板玻璃的需求将日益提升，因此基板玻璃质量检测与质量控制尤为重要。
基板玻璃在流水线完成生产后流出后均需要进行翘曲度和厚度检测，目前基板玻璃检测，主要是人工用卡尺进行检测，但由于卡尺局限性，只能卡玻璃周围的厚度，无法对玻璃中心部分的厚度进行测量，而且也无法对整块玻璃进行翘曲度测量，不能全面表征玻璃实际情况；另一种方式是在生产线尾端设置整块石制、表面平整的基台，然后将基板玻璃放置于基台上利用激光检测机构进行检测，由于镜面的基台会和基板玻璃之间产生吸力，而且由于基板玻璃面积较大可能会在基台表面存在气泡，这些因素都会使基板玻璃的结构发生变化影响检测结果，同时也不利于检测完成后取下基板玻璃；更严重的是，由于激光在测量玻璃厚度时利用玻璃上表面与下表面的光的反射进行检测，但目前的基板玻璃下表面贴合于离承载基台的上表面，导致承载基台的上表面反射光会与基板玻璃的下表面反光混合，这会产生错误数据影响到检测结果。
上述问题严重制约了对流水线大批量生产的基板玻璃进行快速、准确的质量评价，甚至可能对生产的所有基板玻璃质量造成误判。因此生产厂商迫切需要解决对基板玻璃进行连续准确检测的问题，从而全面评判所生产的基板玻璃的质量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种承载基台，解决了现有的基台使得基板玻璃检测结果不准确的问题。
本实用新型的目的还在于提供一种具有上述承载基台的检测设备。
本实用新型所采用的一种技术方案是：一种承载基台，包括具有平滑工作面的基台本体，所述基台本体工作面上设置有多个支撑体，所述多个支撑体呈矩阵方式排列，所述多个支撑体的顶端处于同一平面。
进一步的，所述支撑体包括安装座和支撑件；
所述安装座设置于所述基台本体工作面上；
所述支撑件设置于所述安装座内。
进一步的，所述安装座内设置有垫片。
事例性的，所述支撑件为球形滚珠。
进一步的，多个所述球形滚珠的直径相同或不同。
本实用新型所采用的另一种技术方案是：一种检测设备，包括如上所述承载基台和扫描部，所述扫描部用于对待测基板玻璃进行第一方向和第二方向进行扫描。
具体的，所述扫描部包括沿第一方向设置的第一滑轨以及沿第二方向设置的第二滑轨，所述第二滑轨通过滑块活动连接于所述第一滑轨上；
所述扫描部还包括扫描头和控制总机，所述扫描头通过滑块活动连接于所述第二滑轨上，所述控制总机分别通过驱动器与所述第一滑轨和第二滑轨上的滑块相连，所述控制总机还与所述扫描头信号相连。
进一步的，所述第一方向为基板玻璃流向，所述第二方向垂直于所述第一方向。
本实用新型的有益效果是：本实用新型的承载基台，在基台本体上设置多个呈矩阵排列的支撑体，使得基台本体和待测基板玻璃之间存在间隙，不会发生吸合到一起的情况，也避免了气泡的产生，而且利用多点接触的方式支撑待测基板玻璃，使得待测基板玻璃的可检测面积大大增加，同时当基台本体平整度较差时，还可以针对性地利用垫片或者调整球形滚珠的直径大小使得支撑体的顶部始终处于同一水平面，不会使基板玻璃发生形变；而且由于支撑体使基板玻璃下表面和承载基台上表面之间距离较大，超过了检测头的光源工作距离，因此承载基台表面不会产生光的反射，从而保证了检测结果的准确性。本实用新型的检测设备利用该承载基台，可以对基板玻璃进行流向和非流向的同时检测，实现了对基板玻璃的全面检测，提高了检测结果的准确性。
附图说明
图1是本实用新型的承载基台的结构示意图；
图2是本实用新型的检测设备的结构示意图。
图中，1.基台本体，2.支撑体，21.安装座，22.支撑件，3.横向滑轨，4.纵向滑轨，5.扫描头。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。
实施例1
参见图1，本实施例提供一种承载基台，包括具有平滑工作面的基台本体1，基台本体1工作面上设置有多个支撑体2，多个支撑体2呈矩阵方式排列，多个支撑体2的顶端处于同一平面。
具体的，支撑体2包括安装座21和支撑件22；安装座21设置于基台本体1工作面上；支撑件22设置于安装座21内。事例性的，安装座21可以通过胶粘、焊接等方式固定于基台本体1的工作面上。本实施例中，支撑件22为球形滚珠。当然支撑件22也可以为其他部件，只需要其顶端均位于同一水平面，进而支撑基板玻璃即可；而本实施例之所以选择球形滚珠，是因为当基板玻璃与支撑件22顶端接触时，球形滚珠可以滚动，从而避免划伤基板玻璃。
由于基本本体1的工作面也是加工而成，因此其工作面难以避免地可能存在平整度较差的情况，如果进行二次加工，无非会耗费较多的时间和较大的经济支出。为了调整支撑件22的顶端处于同一水平面，本实用新型还在安装座22内设置有垫片，通过不同厚度的垫片来调整支撑件22的顶出位置。同理，针对球形滚珠，本实用新型还可以将多个球形滚珠的直径选择相同或不同来调整其顶端位置。
实施例2
参见图2，本实用新型提供一种检测设备，包括如实施例1所述的承载基台和扫描部，扫描部用于对待测基板玻璃进行第一方向和第二方向进行扫描。优选的，第一方向为基板玻璃流向，第二方向与第一方向互相垂直。
本实用新型的扫描部只需要完成沿互相垂直方向的移动及扫描工作即可，其结构可以选择现有的单向扫描的设备。具体的，扫描部包括沿第一方向设置的第一滑轨(即本实施例中的纵向滑轨4)以及沿第二方向设置的第二滑轨(即本实施例中的横向滑轨3)，横向滑轨3通过滑块连接于纵向滑轨4上，
扫描部还包括扫描头5和控制总机(图未示)，扫描头5通过滑块活动连接于横向滑轨3上，控制总机分别通过驱动器与纵向滑轨4和横向滑轨3上的滑块相连，从而控制横向滑轨3及横向滑轨3上的扫描头5在纵向滑轨4上移动、以及控制扫描头5在横向滑轨3上移动，控制总机还与扫描头5信号相连。本实施例中，驱动器为伺服电机。
实施例3
本实用新型公开利用如实施例2所述的检测装置进行检测的方法，包括步骤：
提供放置于承载基台上的待测基板玻璃；
控制总机控制扫描头5沿第一方向运动到预定位置，然后再控制扫描头5沿第二方向移动，利用扫描头5实现对待测基板玻璃沿第二方向的扫描工作；以及控制总机控制扫描头沿第二方向移动到预定位置，然后控制扫描头沿第一方向运动，利用扫描头实现对待测基板玻璃沿第一方向的扫描工作。
优选的，本实施例中第一方向为基板玻璃流向，第二方向与第一方向互相垂直。具体地，控制总机控制扫描头5移动到基板玻璃的一角，然后控制扫描头5沿第一方向移动到基板玻璃的底角，控制扫描头5沿第二方向移动预设的扫描间隔距离，再控制扫描头5沿反基板玻璃流向扫描，如此反复扫描，遇到支撑体2所在列时直接控制扫描头5跨过该列，从而实现沿基板玻璃的流向扫描；然后控制扫描头沿第二流向扫描、在第一流向移动扫描间隔距离，同样跨过支撑体2所在的行，从而实现沿基板玻璃非流向的扫描。
由于支撑体的存在，使得基板玻璃下表面距离承载基台距离较远，激光测头的光源工作距离不会到达承载基台表面，所以承载基台表面不会产生光的反射，因此检测装置不会接收到错误数据，从而保证了测量结果的准确性。
Claims (4)
1.一种承载基台，其特征在于，包括具有平滑工作面的基台本体，所述基台本体工作面上设置有多个支撑体，所述多个支撑体呈矩阵方式排列，所述多个支撑体的顶端处于同一平面，所述支撑体包括安装座和支撑件；所述安装座设置于所述基台本体工作面上；所述支撑件设置于所述安装座内，所述安装座内设置有垫片，所述支撑件为球形滚珠，多个所述球形滚珠的直径相同或不同。
2.一种检测设备，其特征在于，包括如权利要求1所述承载基台和扫描部，所述扫描部用于对待测基板玻璃进行第一方向和第二方向进行扫描。
3.如权利要求2所述的一种检测设备，其特征在于，所述扫描部包括沿第一方向设置的第一滑轨以及沿第二方向设置的第二滑轨，所述第二滑轨通过滑块活动连接于所述第一滑轨上；
所述扫描部还包括扫描头和控制总机，所述扫描头通过滑块活动连接于所述第二滑轨上，所述控制总机分别通过驱动器与所述第一滑轨和第二滑轨上的滑块相连，所述控制总机还与所述扫描头信号相连。
4.如权利要求2或3所述的一种检测设备，其特征在于，所述第一方向为基板玻璃流向，所述第二方向垂直于所述第一方。
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