JP2008078011A - Light-emitting device and electronic equipment - Google Patents

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峻 銭
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid occurrence of various problems resulting from precision insufficiency of coating formation in a light-emitting device. <P>SOLUTION: The light-emitting device 1 is provided with a substrate 10, first barrier ribs 20 which are formed on the substrate 10, extend in row direction, and divide the region on the substrate to separate into a plurality of rows R, and pixels which are arranged by a plurality of pieces in a plurality of rows R and interpose a hole injection layer 13 and a light-emitting layer 14 between a positive electrode 11 and a negative electrode formed on the substrate. The first barrier ribs 20 have a shape or a height which prevents that a negative electrode layer 15 formed by vapor deposition on a region of the substrate 10 to become the negative electrode climbs over the first barrier rib 20 and extends. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気的な作用に応じて光学的な特性が変化する発光装置および電子機器に関する。   The present invention relates to a light emitting device and an electronic apparatus whose optical characteristics change according to an electrical action.

特許文献1には、複数の領域の各々を囲む障壁を形成し、各領域内に材料を塗布して正孔注入層および発光層を形成し、その上に全ての発光層を覆う電極層を形成することにより、複数の画素(例えば有機EL素子)を有する装置を形成する方法が記載されている。この方法では、正孔注入層および発光層の材料の塗布にインクジェット方式が採用されており、領域毎の塗り分けが可能となっている。
特開2000−323276号公報
In Patent Document 1, a barrier surrounding each of a plurality of regions is formed, a material is applied in each region to form a hole injection layer and a light emitting layer, and an electrode layer covering all the light emitting layers is formed thereon. A method of forming a device having a plurality of pixels (for example, organic EL elements) by forming is described. In this method, an ink jet method is adopted for applying the material of the hole injection layer and the light emitting layer, and the coating can be performed for each region.
JP 2000-323276 A

インクジェット方式による塗り分けでは、各領域にインクジェット用ヘッドのインク吐出ノズルを正確に搬送し、さらに材料の吐出量および吐出タイミング等を細かく正確に制御する必要がある。つまり、高い精度が要求される。しかし、要求される解像度が高いほど(画素間ピッチが狭いほど)、十分に高い精度の塗り分けを行うことは困難となり、精度不足に起因する各種の問題が生じ易くなる。例えば、吐出量のバラツキに起因して発光ムラが生じたり、搬送や吐出タイミングの精度不足に起因して薄発光や非発光の有機EL素子が形成されたりする可能性が高くなる。   In the ink-jet method, it is necessary to accurately transport the ink discharge nozzles of the ink-jet head to each region, and to finely and accurately control the discharge amount and discharge timing of the material. That is, high accuracy is required. However, the higher the required resolution (the narrower the inter-pixel pitch), the more difficult it is to paint with sufficiently high accuracy, and various problems due to insufficient accuracy are likely to occur. For example, there is a high possibility that light emission unevenness occurs due to variations in the discharge amount, or that light-emitting or non-light-emitting organic EL elements are formed due to insufficient accuracy of conveyance or discharge timing.

そこで、本発明は、塗り分けの精度不足に起因する各種の問題の発生を回避することができる発光装置および電子機器を提供することを解決課題とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a light emitting device and an electronic apparatus that can avoid the occurrence of various problems due to insufficient accuracy of color separation.

本発明に係る発光装置は、基板と、前記基板上に形成され、行方向に延在し、前記基板上の領域を区切って複数の行に分離する第1障壁と、前記複数の行内に複数ずつ配置され、前記基板上に形成された第1電極と第2電極との間に1または複数の塗布層を挟んだ構成を有する画素とを備え、前記第1障壁は、前記領域への蒸着により形成されて前記第2電極となる導電層が前記第1障壁を乗り越えて延在することを妨げる形状または高さを有する、ことを特徴とする。
この発光装置によれば、行に対してインクジェット装置やディスペンサ装置を用いた塗布を行うことにより、その内部の全ての画素の少なくとも1つの塗布層を一括して形成することができる。したがって、その工程では、インクジェット装置やディスペンサ装置の制御に求められる精度(塗り分けの精度)を低く抑えることができる。よって、製造工程を簡素とすることができる。また、各画素において、塗布量の差による膜厚のバラツキが小さくなるため、画素毎の輝度や寿命のバラツキを小さくすることができる。
また、この発光装置によれば、画素のデューティ駆動が可能となる。これは、高い解像度(狭い画素間ピッチ)を実現する上で有利である。
また、この発光装置によれば、第1障壁が、蒸着により形成されて第2電極となる導電層が第1障壁を乗り越えて延在することを妨げる形状または高さを有するから、1回の蒸着によって複数の第2電極を一括して精度よく形成することができる。
A light-emitting device according to the present invention includes a substrate, a first barrier formed on the substrate, extending in a row direction, dividing a region on the substrate into a plurality of rows, and a plurality of the barriers in the rows. And a pixel having a configuration in which one or a plurality of coating layers are sandwiched between a first electrode and a second electrode formed on the substrate, and the first barrier is deposited on the region The conductive layer to be the second electrode formed by the step has a shape or height that prevents the conductive layer from extending over the first barrier.
According to this light emitting device, at least one coating layer of all the pixels in the inside can be collectively formed by performing coating using an inkjet device or a dispenser device on a row. Therefore, in that process, the accuracy required for controlling the ink jet device and the dispenser device (the accuracy of color separation) can be kept low. Therefore, the manufacturing process can be simplified. Moreover, since the variation in the film thickness due to the difference in the coating amount is reduced in each pixel, it is possible to reduce the variation in luminance and life of each pixel.
Further, according to this light emitting device, it is possible to drive the duty of the pixel. This is advantageous in realizing high resolution (narrow pixel pitch).
According to the light emitting device, the first barrier has a shape or height that prevents the conductive layer that is formed by vapor deposition and becomes the second electrode from extending over the first barrier. A plurality of second electrodes can be collectively formed with high accuracy by vapor deposition.

上記の発光装置において、前記複数の行の各々内に配置され、当該行内の前記導電層と接触するコンタクトと、前記基板上に形成され、前記行方向とは異なる方向に延在し、前記複数の行の各々において当該行を区切って前記コンタクトを含んで前記画素を含まない領域と他の領域とに分離する第2障壁を塗布障壁として備え、前記塗布障壁は、前記導電層が当該第2障壁を乗り越えて延在することを妨げず、かつ前記1または複数の塗布層のいずれにも乗り越えられない高さを有する、ようにしてもよい。この態様では、第2障壁が、画素を構成する全ての塗布層のいずれにも乗り越えられない高さを有するから、コンタクトと導電層とが直接的に接触する。したがって、両者間の導電性能が向上する。また、第2障壁は、導電層が第2障壁を乗り越えて延在することを妨げない。したがって、第2電極とコンタクトとを接続する配線と第2電極とを一括して形成することができる。   In the above light-emitting device, the contact disposed in each of the plurality of rows and in contact with the conductive layer in the row, the contact formed on the substrate, and extending in a direction different from the row direction. In each row, a second barrier that separates the row into a region that does not include the pixel and includes the contact and another region is provided as a coating barrier, and the conductive barrier includes the second barrier. It may have a height that does not hinder overcoming the barrier and cannot get over any of the one or more coating layers. In this aspect, since the second barrier has a height that cannot overcome any of all the coating layers constituting the pixel, the contact and the conductive layer are in direct contact with each other. Therefore, the conductive performance between the two is improved. Also, the second barrier does not prevent the conductive layer from extending beyond the second barrier. Therefore, the wiring connecting the second electrode and the contact and the second electrode can be formed collectively.

また、上記の発光装置において、前記基板上に形成され、前記行方向とは異なる方向に延在し、前記複数の行の各々を前記画素毎に区切って複数の個別塗布領域に分割する第3障壁を塗布障壁として備え、前記画素は、前記第1電極と前記第2電極との間に複数の塗布層を挟んだ構成を有し、前記塗布障壁は、前記複数の塗布層の最下層の前記画素毎の形成と前記複数の塗布層の最上層の前記行毎の形成とを可能とする高さを有する、ようにしてもよい。この態様では、第3障壁が存在するため、インクジェット装置を用いて塗布層の最下層を画素毎に形成することができる。塗布層の最下層は、通常、塗布層の最上層に比較して電気抵抗値が低い。したがって、塗布層の最下層を画素毎に形成可能ということは、隣接画素間でのリークの発生を防止することにつながる。なお、塗布層の最上層は、行毎に一括して形成されるから、前述の効果が維持される。   Further, in the above light emitting device, a third portion is formed on the substrate, extends in a direction different from the row direction, and divides each of the plurality of rows into a plurality of individual application regions by dividing each pixel. A barrier is provided as a coating barrier, and the pixel has a configuration in which a plurality of coating layers are sandwiched between the first electrode and the second electrode, and the coating barrier is a lowermost layer of the plurality of coating layers. You may make it have the height which enables formation for every said pixel, and formation for every said row | line | column of the uppermost layer of these application layers. In this aspect, since the third barrier exists, the lowermost layer of the coating layer can be formed for each pixel using the ink jet apparatus. The lowermost layer of the coating layer usually has a lower electrical resistance value than the uppermost layer of the coating layer. Therefore, the fact that the lowermost layer of the coating layer can be formed for each pixel leads to prevention of leakage between adjacent pixels. In addition, since the uppermost layer of the coating layer is formed collectively for each row, the above-described effects are maintained.

また、上記の発光装置において、前記基板上に形成され、全ての前記画素の各々を囲む第4障壁を塗布障壁として備え、前記画素は、前記第1電極と前記第2電極との間に複数の塗布層を挟んだ構成を有し、前記塗布障壁は、前記複数の塗布層の最下層の前記画素毎の形成と前記複数の塗布層の最上層の前記行毎の形成とを可能とする高さを有する、ようにしてもよい。この態様では、画素の周縁から第4障壁までの距離が略均一になる。したがって、塗布層の最下層の膜厚を画素の全域にわたって略均一とすることができる。   Further, in the above light emitting device, a fourth barrier formed on the substrate and surrounding each of the pixels is provided as a coating barrier, and a plurality of the pixels are provided between the first electrode and the second electrode. The coating barrier enables formation of the lowermost layer of the plurality of coating layers for each pixel and formation of the uppermost layer of the plurality of coating layers for each row. You may make it have height. In this aspect, the distance from the peripheral edge of the pixel to the fourth barrier is substantially uniform. Therefore, the thickness of the lowermost layer of the coating layer can be made substantially uniform over the entire area of the pixel.

上記の発光装置または各態様において、前記行方向に直交する面における前記第1障壁の断面形状は略逆台形であるようにしてもよいし、前記第1障壁の高さは前記塗布障壁の高さよりも高いようにしてもよい。
上記の発光装置または各態様において、前記第1障壁は複数の層から構成されている、ようにしてもよい。加えて、前記第1障壁を構成する複数の層のうち1つの層はエッチングレートの速い材料で形成され、当該層の上の層はエッチングレートの遅い材料で形成されている、ようにしてもよい。加えて、前記塗布障壁は前記1つの層と同じ材料で形成されている、ようにしてもよい。
また、本発明に係る電子機器は、上記の発光装置を有する。したがって、上述した各種効果に起因した効果を奏する。
In the light-emitting device or each aspect described above, a cross-sectional shape of the first barrier in a plane orthogonal to the row direction may be a substantially inverted trapezoid, and a height of the first barrier is a height of the coating barrier. You may make it higher than this.
In the above light emitting device or each aspect, the first barrier may be composed of a plurality of layers. In addition, one of the plurality of layers constituting the first barrier may be formed of a material having a high etching rate, and a layer above the layer may be formed of a material having a low etching rate. Good. In addition, the coating barrier may be made of the same material as the one layer.
An electronic apparatus according to the present invention includes the above light emitting device. Therefore, there are effects resulting from the various effects described above.

以下、添付の図面を参照しながら本発明に係る実施の形態を説明する。各実施の形態に係る発光装置は、電子写真方式の画像形成装置において感光体ドラムなどの像担持体に光を照射して潜像を形成する光ヘッドとして用いられるものであり、画素(光源)として有機EL素子を備えている。なお、図面においては、各部の寸法の比率は実際のものとは適宜に異ならせてある。   Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. The light emitting device according to each embodiment is used as an optical head for forming a latent image by irradiating light to an image carrier such as a photosensitive drum in an electrophotographic image forming apparatus. As an organic EL element. In the drawings, the ratio of dimensions of each part is appropriately changed from the actual one.

<第1の実施の形態>
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る発光装置1の平面図である。ただし、この図においては、有機EL素子を外気から保護するための保護層の図示を省略してある。発光装置1では、基板10上の複数の行Rの各々に画素が複数ずつ配置されている。この図では、各画素の開口Pを示してある。全ての画素は全体として千鳥状に配列されている。行Rは、基板10の長手方向(行方向)に延在する領域である。本実施の形態では、行Rの数を3としたが、2としてもよいし、4以上としてもよい。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a plan view of a light emitting device 1 according to a first embodiment of the present invention. However, in this figure, illustration of the protective layer for protecting an organic EL element from external air is abbreviate | omitted. In the light emitting device 1, a plurality of pixels are arranged in each of a plurality of rows R on the substrate 10. In this figure, the opening P of each pixel is shown. All the pixels are arranged in a zigzag pattern as a whole. The row R is an area extending in the longitudinal direction (row direction) of the substrate 10. In the present embodiment, the number of rows R is 3, but it may be 2 or 4 or more.

図2は、図1に示す発光装置1のA1−A1’線矢視断面図であり、図3は、図1に示す発光装置1のB1−B1’線矢視断面図である。基板10は、透明な平板上に画素を駆動するための層(例えば配線層)が形成された構成を有する。基板10上には、基板10上の複数の行R内に陽極(第1電極)11が複数ずつ配置されている。全ての陽極11は全体として千鳥状に配列されている。   2 is a cross-sectional view taken along line A1-A1 'of the light-emitting device 1 shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line B1-B1' of the light-emitting device 1 shown in FIG. The substrate 10 has a configuration in which a layer (for example, a wiring layer) for driving pixels is formed on a transparent flat plate. On the substrate 10, a plurality of anodes (first electrodes) 11 are arranged in a plurality of rows R on the substrate 10. All the anodes 11 are arranged in a zigzag pattern as a whole.

また、基板10上には、コンタクト30が形成されている。コンタクト30は、複数の行R内に2つずつ、各行Rにあっては両端部に1つずつ配置されている。また、基板10上には絶縁層12が形成されている。絶縁層12は、陽極11およびコンタクト30の上にあり、各陽極11の上面の中央領域および各コンタクト30の上面の中央領域が露出するように全ての陽極11および全てのコンタクト30を覆っている。陽極11の上面の中央領域が画素の開口Pである。つまり、絶縁層12は、各画素について、その形成領域(画素形成領域)を画定している。また、コンタクト30の上面の中央領域が接触領域Tである。コンタクト30は、接触領域Tに接触している導電部材を通じて、同一行R内の画素の電極に低電位を供給する。   A contact 30 is formed on the substrate 10. Two contacts 30 are arranged in each of the plurality of rows R, and one in each row R, one at each end. An insulating layer 12 is formed on the substrate 10. The insulating layer 12 is on the anode 11 and the contact 30 and covers all the anodes 11 and all the contacts 30 so that the central region of the upper surface of each anode 11 and the central region of the upper surface of each contact 30 are exposed. . A central region on the upper surface of the anode 11 is an opening P of the pixel. That is, the insulating layer 12 defines a formation region (pixel formation region) for each pixel. Further, the central region on the upper surface of the contact 30 is a contact region T. The contact 30 supplies a low potential to the electrodes of the pixels in the same row R through the conductive member in contact with the contact region T.

絶縁層12上には、複数の第1障壁20が形成されている。各第1障壁20は、行方向に延在し、全ての画素が配列される1つの領域(全画素配列領域)を行毎に区切って複数の行Rに分離している。つまり、行Rは、第1障壁20間の領域である。第1障壁20は、例えば、ネガ材料で形成されており、その断面形状(行方向に直交する面における断面形状)は略逆台形であり、その高さは例えば5μm〜6μmである。ネガ材料は、例えばポリイミドである。   A plurality of first barriers 20 are formed on the insulating layer 12. Each first barrier 20 extends in the row direction, and separates one region (all pixel array regions) in which all the pixels are arranged into a plurality of rows R by dividing each region. That is, the row R is a region between the first barriers 20. The first barrier 20 is made of, for example, a negative material, and has a substantially inverted trapezoidal cross-sectional shape (a cross-sectional shape in a plane orthogonal to the row direction), and a height of, for example, 5 μm to 6 μm. The negative material is, for example, polyimide.

また、絶縁層12上には、複数の第2障壁(塗布障壁)40が形成されている。第2障壁40は、複数の行R内に2つずつ、各行Rにあっては、2つのコンタクトの近傍に1つずつ配置されている。各行Rにおいて、各第2障壁40は、行方向と異なる方向、具体的には行方向と直交する列方向に延在し、その行Rを区切り、コンタクト30を含んで画素を含まない領域(端部)と他の領域とに分離している。つまり、各行Rは、第2障壁40により、一方の端部と他方の端部と両端部の間の領域(行内画素配列領域)とに分離されている。第2障壁40は、例えば、ポジ材料で形成されており、その平面形状は略四角形であり、その断面形状(行方向に直交する面における断面形状)は略台形であり、その高さは例えば2μm〜3μmである。ポジ材料は、例えばアクリルである。   A plurality of second barriers (application barriers) 40 are formed on the insulating layer 12. Two second barriers 40 are disposed in each of the plurality of rows R, and in each row R, one second barrier 40 is disposed in the vicinity of the two contacts. In each row R, each second barrier 40 extends in a direction different from the row direction, specifically in a column direction orthogonal to the row direction, delimits the row R, includes a contact 30 and a region that does not include a pixel ( The edge) and other areas. That is, each row R is separated by the second barrier 40 into one end portion and a region between the other end portion and both end portions (in-row pixel arrangement region). The second barrier 40 is made of, for example, a positive material, and the planar shape thereof is a substantially square shape, the cross-sectional shape thereof (the cross-sectional shape in a plane orthogonal to the row direction) is a substantially trapezoid, and the height thereof is, for example, 2 μm to 3 μm. The positive material is, for example, acrylic.

各画素形成領域では、陽極11上に正孔注入層(塗布層)13が、正孔注入層13上に発光層(塗布層)14が、塗布法により形成される。さらに、発光層14上に陰極層(導電層)15が、蒸着、スパッタリング、イオンプレーテイングなど物理気相成長法により形成されている。正孔注入層13の厚さは例えば50nmであり、発光層14の厚さは例えば120nmである。正孔注入層13および発光層14は、同一の行Rの行内画素配列領域の全域にわたって形成されている。つまり、正孔注入層13および発光層14は全ての画素に共通している。なお、絶縁層12の高さは、その上面が画素形成領域内の正孔注入層13の上面よりも高くなり、発光層14の上面よりも低くなるように定められている。このため、正孔注入層13の絶縁層12に接触する部分の厚さは著しく薄くなっており、その図示を省略してある。一般に、正孔注入層13の材料は、キャリアを注入する役割から、発光層14の材料よりも導電性が高いが、正孔注入層13の絶縁層12に接触する部分の厚さは著しく薄いため、開口P間における正孔注入層13による抵抗が高くなっており、開口P間のクロストークやリーク電流を低減している。   In each pixel formation region, a hole injection layer (coating layer) 13 is formed on the anode 11 and a light emitting layer (coating layer) 14 is formed on the hole injection layer 13 by a coating method. Further, a cathode layer (conductive layer) 15 is formed on the light emitting layer 14 by physical vapor deposition such as vapor deposition, sputtering, or ion plating. The thickness of the hole injection layer 13 is, for example, 50 nm, and the thickness of the light emitting layer 14 is, for example, 120 nm. The hole injection layer 13 and the light emitting layer 14 are formed over the entire in-row pixel arrangement region of the same row R. That is, the hole injection layer 13 and the light emitting layer 14 are common to all pixels. Note that the height of the insulating layer 12 is determined such that the upper surface thereof is higher than the upper surface of the hole injection layer 13 in the pixel formation region and lower than the upper surface of the light emitting layer 14. For this reason, the thickness of the portion of the hole injection layer 13 that contacts the insulating layer 12 is remarkably reduced, and the illustration thereof is omitted. In general, the material of the hole injection layer 13 has higher conductivity than the material of the light emitting layer 14 because of the role of injecting carriers, but the thickness of the portion of the hole injection layer 13 that contacts the insulating layer 12 is extremely thin. For this reason, the resistance of the hole injection layer 13 between the openings P is high, and crosstalk and leakage current between the openings P are reduced.

陰極層15は、同一の行Rの全域にわたって形成されている。つまり、陰極層15は、全ての画素に共通しており、各画素形成領域において各画素の陰極となっている。また、陰極層15は、同一行R内の全てのコンタクト30を覆っており、その下面で各コンタクト30の接触領域Tに接触している。図示を略すが、基板10上には、全ての陰極層15および全ての第1障壁20を覆って保護層が形成されている。なお、基板10、陽極11、絶縁層12、正孔注入層13、発光層14、陰極層15およびコンタクト30の形成材料や、保護層の形態は、公知の発光装置と同様である。   The cathode layer 15 is formed over the entire region of the same row R. That is, the cathode layer 15 is common to all the pixels, and serves as the cathode of each pixel in each pixel formation region. The cathode layer 15 covers all the contacts 30 in the same row R, and is in contact with the contact region T of each contact 30 on the lower surface thereof. Although not shown, a protective layer is formed on the substrate 10 so as to cover all the cathode layers 15 and all the first barriers 20. In addition, the formation material of the board | substrate 10, the anode 11, the insulating layer 12, the positive hole injection layer 13, the light emitting layer 14, the cathode layer 15, and the contact 30, and the form of a protective layer are the same as that of a well-known light-emitting device.

図4〜図7は、発光装置1の製造工程を説明するための図である。発光装置1の製造では、まず、図4に示すように、基板10の上に陽極11およびコンタクト30を形成し、次に絶縁層12を形成する。次に、図5に示すように絶縁層12の上に第1障壁20および第2障壁40を形成する。こうして複数の行Rが画定されるとともに、各行R内に行内画素配列領域が画定される。なお、第1障壁20および第2障壁40の形成には、印刷法やリソグラフィ法等、任意の方法を選択可能である。例えばフォトリソグラフィ法を選択する場合には、第1障壁20を例えば感光性を有するポリイミド等のネガ材料で形成し、第2障壁40を例えば感光性を有するアクリル等のポジ材料で形成すると、製造工程が簡素となる。   4-7 is a figure for demonstrating the manufacturing process of the light-emitting device 1. FIG. In manufacturing the light emitting device 1, first, as shown in FIG. 4, the anode 11 and the contact 30 are formed on the substrate 10, and then the insulating layer 12 is formed. Next, as shown in FIG. 5, the first barrier 20 and the second barrier 40 are formed on the insulating layer 12. Thus, a plurality of rows R are defined, and an in-row pixel array region is defined in each row R. For the formation of the first barrier 20 and the second barrier 40, any method such as a printing method or a lithography method can be selected. For example, when the photolithography method is selected, the first barrier 20 is formed of a negative material such as photosensitive polyimide, and the second barrier 40 is formed of a positive material such as photosensitive acrylic. The process is simplified.

次に、図6に示すように、正孔注入材料溶液をインクジェット装置またはディスペンサ装置で塗布し、乾燥させることで正孔注入層13を形成する。この塗布は行R毎に行内画素配列領域に対して行われる。各行内画素配列領域に塗布された正孔注入材料溶液は、その行内画素配列領域の全域に広がり、他の領域には溢れ出さない。なぜなら、塗布直後の正孔注入材料溶液の高さが、絶縁層12よりも高く、第1障壁20よりも低く、第2障壁40よりも低いからである。こうして、正孔注入層13が行R毎に形成される。   Next, as shown in FIG. 6, the hole injection layer 13 is formed by applying the hole injection material solution with an ink jet apparatus or a dispenser apparatus and drying it. This application is performed on the in-row pixel array region for each row R. The hole injection material solution applied to each in-row pixel array region spreads over the entire in-row pixel array region and does not overflow to other regions. This is because the height of the hole injection material solution immediately after application is higher than that of the insulating layer 12, lower than the first barrier 20, and lower than the second barrier 40. Thus, the hole injection layer 13 is formed for each row R.

次に、図7に示すように、発光材料溶液をインクジェット装置またはディスペンサ装置で塗布し、乾燥させることで発光層14を形成する。この塗布は行R毎に行内画素配列領域に対して行われる。各行内画素配列領域に塗布された発光材料溶液は、その行内画素配列領域の全域に広がり、他の領域には溢れ出さない。なぜなら、塗布直後の発光材料溶液の高さが、絶縁層12上の正孔注入層13よりも高く、第1障壁20よりも低く、第2障壁40よりも低いからである。こうして、発光層14が行R毎に形成される。   Next, as shown in FIG. 7, the light emitting material solution is applied by an ink jet apparatus or a dispenser apparatus and dried to form the light emitting layer 14. This application is performed on the in-row pixel array region for each row R. The luminescent material solution applied to each in-row pixel array region spreads over the entire in-row pixel array region and does not overflow into other regions. This is because the height of the luminescent material solution immediately after application is higher than the hole injection layer 13 on the insulating layer 12, lower than the first barrier 20, and lower than the second barrier 40. Thus, the light emitting layer 14 is formed for each row R.

次に、図7に示すように、全画素配列領域に対して導電材料の形成を行う。これにより、図1〜図3に示すように、複数の陰極層15が形成される。ここで、導電材料形成には、蒸着、スパッタリング、イオンプレーテイングなど物理気相成長法が用いられる。従来の発光装置において全画素配列領域に対する膜形成を行えば、全画素配列領域を覆う1つの薄膜が形成されることになるが、本実施の形態における膜形成では、複数の行Rをそれぞれ覆う複数の陰極層15が一括して形成される。次に、全ての陰極層15および全ての第1障壁20を覆うように保護層を形成する。こうして発光装置1が完成する。   Next, as shown in FIG. 7, a conductive material is formed on the entire pixel array region. Thereby, as shown in FIGS. 1-3, the some cathode layer 15 is formed. Here, physical vapor deposition methods such as vapor deposition, sputtering, and ion plating are used for forming the conductive material. In the conventional light emitting device, if a film is formed on all the pixel array regions, one thin film covering all the pixel array regions is formed. In the film formation in the present embodiment, each of the plurality of rows R is covered. A plurality of cathode layers 15 are collectively formed. Next, a protective layer is formed so as to cover all the cathode layers 15 and all the first barriers 20. Thus, the light emitting device 1 is completed.

ここで、全画素配列領域に対する蒸着によって複数の陰極層15を形成可能な理由を説明する。まず、第1の理由について説明する。蒸着では、蒸着材料の粒子が蒸着源から被蒸着面へ略直進する。粒子の進行方向と基板10とのなす角は約90度である。一方、第1障壁20の断面形状は略逆台形であり、根元の方が抉れた形状になっている。このため、蒸着源から第1障壁20の側面へ進行する粒子は、第1障壁20の上面に付着してしまい、第1障壁20側面にはほとんど到達しない。したがって、全画素配列領域に対する蒸着によって形成される陰極層15は、第1障壁20の側面において途切れることになる。   Here, the reason why the plurality of cathode layers 15 can be formed by vapor deposition for the entire pixel arrangement region will be described. First, the first reason will be described. In vapor deposition, particles of the vapor deposition material travel substantially straight from the vapor deposition source to the deposition surface. The angle between the traveling direction of the particles and the substrate 10 is about 90 degrees. On the other hand, the cross-sectional shape of the first barrier 20 is a substantially inverted trapezoidal shape, with the root being curled. For this reason, particles traveling from the vapor deposition source to the side surface of the first barrier 20 adhere to the upper surface of the first barrier 20 and hardly reach the side surface of the first barrier 20. Accordingly, the cathode layer 15 formed by vapor deposition on the entire pixel arrangement region is interrupted on the side surface of the first barrier 20.

次に、第2の理由について説明する。蒸着では、被蒸着面に付着する蒸着材料の粒子の密度は、粒子の進行方向と被蒸着面とのなす角が90度に近いほど高くなり、0(または180)度に近いほど低くなる。一方、第1障壁20の高さは発光層14の高さに比較して著しく高い。このため、発光層14の上面から第1障壁20の上面への距離が長くなっており、第1障壁20の側面は、発光層14の上面から急峻に立ち上がっている。つまり、蒸着材料の粒子の進行方向と第1障壁20の側面とのなす角は0(または180)度に近くなる。このため、第1障壁20の側面に蒸着粒子が付着したとしても、その密度は極めて低くなる。したがって、全画素配列領域に対する蒸着によって形成される陰極層15は、第1障壁20の側面において途切れることになる。
ここでは、蒸着により説明したが、蒸着と同様に薄膜が異方的に形成される上記の物理気相成長法を用いると、同様の構造を形成することができる。
Next, the second reason will be described. In the vapor deposition, the density of the particles of the vapor deposition material adhering to the vapor deposition surface increases as the angle formed by the traveling direction of the particles and the vapor deposition surface approaches 90 degrees, and decreases as the angle approaches 0 (or 180) degrees. On the other hand, the height of the first barrier 20 is significantly higher than the height of the light emitting layer 14. For this reason, the distance from the upper surface of the light emitting layer 14 to the upper surface of the first barrier 20 is increased, and the side surface of the first barrier 20 rises steeply from the upper surface of the light emitting layer 14. That is, the angle formed between the traveling direction of the particles of the vapor deposition material and the side surface of the first barrier 20 is close to 0 (or 180) degrees. For this reason, even if vapor deposition particles adhere to the side surface of the first barrier 20, the density is extremely low. Accordingly, the cathode layer 15 formed by vapor deposition on the entire pixel arrangement region is interrupted on the side surface of the first barrier 20.
Although the vapor deposition has been described here, a similar structure can be formed by using the physical vapor deposition method in which a thin film is anisotropically formed as in vapor deposition.

以上の説明から明らかなように、発光装置1によれば、行内画素配列領域に対してインクジェット装置やディスペンサ装置を用いた塗布を行うことにより、その内部の全ての画素の正孔注入層13および発光層14を一括して形成することができる。行内画素配列領域は個々の画素が形成される各領域よりも遥かに広いから、発光装置1によれば、インクジェット装置やディスペンサ装置の制御に求められる精度(塗り分けの精度)を低く抑えることができる。また、各画素において、塗布量の差による膜厚のバラツキが小さくなるため、画素毎の輝度や寿命のバラツキを小さくすることができる。   As is clear from the above description, according to the light emitting device 1, by performing application using an inkjet device or a dispenser device to the in-row pixel arrangement region, the hole injection layer 13 of all the pixels inside The light emitting layer 14 can be formed collectively. Since the in-row pixel arrangement region is far wider than each region where individual pixels are formed, the light emitting device 1 can suppress the accuracy (coloring accuracy) required for controlling the ink jet device and the dispenser device to be low. it can. Moreover, since the variation in the film thickness due to the difference in the coating amount is reduced in each pixel, it is possible to reduce the variation in luminance and life of each pixel.

また、発光装置1では、陰極層15が行毎に分離されているから、駆動電流を有機EL素子に供給するための配線(具体的には陽極11に接触する配線)を、列方向に並ぶ3つの画素に共通して設け、1本の配線を用いて3つの画素をデューティ駆動する形態を採ることができる。つまり、発光装置1によれば、配線のために必要となる領域を減らすことができる。これは、高い解像度(狭い画素間ピッチ)を実現する上で有利な点である。   In the light emitting device 1, since the cathode layer 15 is separated for each row, wiring for supplying a driving current to the organic EL element (specifically, wiring that contacts the anode 11) is arranged in the column direction. It is possible to adopt a configuration in which the three pixels are provided in common to the three pixels and the three pixels are duty-driven using one wiring. That is, according to the light-emitting device 1, the area | region required for wiring can be reduced. This is an advantage in realizing high resolution (narrow pixel pitch).

また、陰極層15を行毎に分離させる方法としては、蒸着マスクを用いた蒸着によって陰極層を形成する方法が考えられる。しかし、この方法では、数百μmの位置ズレや加工誤差が生じるため、行間の画素間ピッチを広くとらなければならない。これに対して、発光装置1では、行方向に延在して複数の行Rを画定する第1障壁20が、全画素配列領域への蒸着により形成されて画素の陰極となる陰極層15が第1障壁20を乗り越えて延在することを妨げる形状および高さを有するから、1回の蒸着によって複数の陰極層15を一括して精度よく形成することができる。   As a method of separating the cathode layer 15 for each row, a method of forming the cathode layer by vapor deposition using a vapor deposition mask can be considered. However, in this method, a positional deviation of several hundred μm or a processing error occurs, so that the inter-pixel pitch between rows must be wide. On the other hand, in the light emitting device 1, the first barrier 20 that extends in the row direction and defines the plurality of rows R is formed by vapor deposition on the entire pixel arrangement region, and the cathode layer 15 that becomes the cathode of the pixel. Since it has a shape and a height that prevent it from extending over the first barrier 20, the plurality of cathode layers 15 can be formed with high accuracy by a single deposition.

また、発光装置1では、第2障壁40が、正孔注入層13および発光層14のいずれにも乗り越えられない高さを有するから、コンタクト30と陰極層15とが直接的に接触する。したがって、両者間の導電性能が向上する。また、第2障壁40は、陰極層15が第2障壁40を乗り越えて延在することを妨げない。したがって、画素の陰極とコンタクト30とを接続する配線と画素の陰極とを一括して形成することができる。   Further, in the light emitting device 1, the second barrier 40 has such a height that it cannot get over any of the hole injection layer 13 and the light emitting layer 14, so that the contact 30 and the cathode layer 15 are in direct contact with each other. Therefore, the conductive performance between the two is improved. Further, the second barrier 40 does not prevent the cathode layer 15 from extending over the second barrier 40. Accordingly, the wiring connecting the cathode of the pixel and the contact 30 and the cathode of the pixel can be formed together.

また、第2障壁40の少なくとも表面はフッ素原子を含むようにし、正孔注入材料溶液などの塗布液に対し、撥液性を付与することが好ましい。第2障壁40にフッ素原子を含ませる方法としては、CFなどのフルオロカーボンガスやフッ素ガスなどの材料ガスを解離させたプラズマを第1障壁が形成された基板に曝す表面処理方法や、第2障壁40の形成材料にフッ素原子を含ませて形成する方法がある。第1障壁20及び第2障壁40をアクリルやポリイミドなどの有機樹脂で形成し、陽極11や絶縁膜12をそれぞれITO、SiOなどの無機材料で形成し、上記のプラズマに曝すことで、陽極11や絶縁膜12に比べて第1障壁20及び第2障壁40を正孔注入材料溶液や発光材料溶液に対して撥液性にすることができる。尚、フルオロカーボンガスやフッ素ガスなどの材料ガスを解離させたプラズマを曝す前に、酸素ガスを含む材料ガスを解離させたプラズマを曝してもよい。ここで、正孔注入材料溶液や発光材料溶液などの材料液を塗布する際に、第1及び第2障壁20、40により、画素形成領域から他の領域(例えば、コンタクト30が形成された領域)に材料液が溢れ出すのを防止するとともに、複数の陰極層15を形成する際には、第2障壁40の上の導電層を介して画素形成領域とコンタクト30とが電気的に接続される。この際に、第2障壁40の少なくとも表面はフッ素原子を含むようにしてあれば、第2障壁40の高さを低くすることができ、上記材料液が溢れ出すのを防止しつつ、導電層による画素形成領域とコンタクト30との電気的導通を確実に行うことができる。
なお、本実施の形態では、第2障壁40の平面形状を略四角形としたが、他の形状としてもよい。他の形状の例を図8に示す。この図の(A)〜(C)では、行内画素配列領域を画定する辺が、第2障壁40に最も近接している画素の開口Pに沿って曲がっている。つまり、この画素の開口Pの周縁から第2障壁40までの距離が略均一になっている。このため、各画素における正孔注入層13および発光層14の膜厚のバラツキがより小さくなる。行Rの端部を画定する辺は、(A)のように行内画素配列領域を画定する辺の逆側に曲がっていてもよいし、(B)のように直線であってもよいし、(C)のように行内画素配列領域を画定する辺と同じ側に曲がっていてもよい。
In addition, it is preferable that at least the surface of the second barrier 40 contains fluorine atoms to impart liquid repellency to a coating solution such as a hole injection material solution. As a method of including fluorine atoms in the second barrier 40, a surface treatment method in which plasma obtained by dissociating a material gas such as a fluorocarbon gas such as CF 4 or a fluorine gas is exposed to the substrate on which the first barrier is formed, There is a method in which the material for forming the barrier 40 is formed by including fluorine atoms. The first barrier 20 and the second barrier 40 are formed of an organic resin such as acrylic or polyimide, the anode 11 and the insulating film 12 are each formed of an inorganic material such as ITO or SiO 2 , and exposed to the above plasma, whereby the anode 11 and the insulating film 12, the first barrier 20 and the second barrier 40 can be made liquid repellent with respect to the hole injection material solution and the light emitting material solution. In addition, you may expose the plasma which dissociated material gas containing oxygen gas before exposing plasma which dissociated material gas, such as fluorocarbon gas and fluorine gas. Here, when a material liquid such as a hole injection material solution or a light emitting material solution is applied, the first and second barriers 20 and 40 cause another region (for example, a region where the contact 30 is formed) from the pixel formation region. ), The pixel formation region and the contact 30 are electrically connected via the conductive layer on the second barrier 40 when the plurality of cathode layers 15 are formed. The At this time, if at least the surface of the second barrier 40 contains fluorine atoms, the height of the second barrier 40 can be lowered, and the pixel of the conductive layer can be prevented while preventing the material liquid from overflowing. Electrical continuity between the formation region and the contact 30 can be ensured.
In the present embodiment, the planar shape of the second barrier 40 is a substantially rectangular shape, but other shapes may be used. An example of another shape is shown in FIG. In (A) to (C) of this figure, the side defining the in-row pixel arrangement region is bent along the opening P of the pixel closest to the second barrier 40. That is, the distance from the periphery of the opening P of the pixel to the second barrier 40 is substantially uniform. For this reason, the variation in the film thickness of the hole injection layer 13 and the light emitting layer 14 in each pixel becomes smaller. The side that defines the end of the row R may be bent to the opposite side of the side that defines the in-row pixel arrangement region as in (A), or may be a straight line as in (B), As shown in (C), it may be bent to the same side as the side defining the in-row pixel arrangement region.

また、本実施の形態では、第1障壁20が、全画素配列領域への蒸着により形成されて画素の陰極となる陰極層15が第1障壁20を乗り越えて延在することを妨げる形状および高さを有することとしたが、そのような形状のみ、またはそのような高さのみを有するようにしてもよい。例えば、第1障壁20の断面形状が第2障壁40と同様に台形であっても、その高さが、陰極層15が第1障壁20を乗り越えて延在することを妨げる高さであれば、その側面において陰極層15を分離することができる。そのような高さとしては、第2障壁40の高さよりも高い高さを挙げることができる。   In the present embodiment, the first barrier 20 is formed by vapor deposition over the entire pixel arrangement region, and the shape and height of the cathode layer 15 that serves as the cathode of the pixel is prevented from extending over the first barrier 20. However, only such a shape or only such a height may be provided. For example, even if the cross-sectional shape of the first barrier 20 is a trapezoid like the second barrier 40, the height of the first barrier 20 is not high enough to prevent the cathode layer 15 from extending over the first barrier 20. The cathode layer 15 can be separated on the side surface. Examples of such height include a height higher than the height of the second barrier 40.

また例えば、第1障壁20の高さが、陰極層15が第1障壁20を乗り越えて延在することを妨げる高さより低くても、その形状が、陰極層15が第1障壁20を乗り越えて延在することを妨げる形状であれば、その側面において陰極層15を分離することができる。言うまでもないが、後者の場合には、第1障壁20の上面は、少なくとも、発光層14上の陰極層15の上面よりも上に位置していなければならないという条件がある。もちろん、この条件は、第1障壁20の高さを第2障壁40の高さよりも高くすることで満たされる。   In addition, for example, even if the height of the first barrier 20 is lower than the height that prevents the cathode layer 15 from extending over the first barrier 20, the shape of the first barrier 20 exceeds the first barrier 20. If it is a shape which prevents extending, the cathode layer 15 can be isolate | separated in the side surface. Needless to say, in the latter case, there is a condition that the upper surface of the first barrier 20 must be positioned at least above the upper surface of the cathode layer 15 on the light emitting layer 14. Of course, this condition is satisfied by making the height of the first barrier 20 higher than the height of the second barrier 40.

また、本実施の形態では、第1障壁20を単層で構成することを前提としているが、複数の層で構成するようにしてもよい。2つの層で構成された第1障壁と1つの層で構成された第2障壁とを示す断面図を図9に示す。この図の(A)が第1障壁であり、(B)が第2障壁である。第1障壁において、下層は窒化珪素などのエッチングレートの速い材料で形成されており、その上層はガラスなどのエッチングレートの遅い材料で形成されている。第2障壁は窒化珪素などのエッチングレートの速い材料で形成されている。このため、フォトリソグラフィ法でウェットエッチングを行って第1障壁および第2障壁を一括して形成する工程では、上層よりも下層の方が大きく削れて(A)の形状となる。したがって、第1障壁の下層の上部において陰極層15が分離されることになる。   Further, in the present embodiment, it is assumed that the first barrier 20 is configured by a single layer, but may be configured by a plurality of layers. FIG. 9 is a cross-sectional view showing a first barrier composed of two layers and a second barrier composed of one layer. (A) of this figure is a 1st barrier, (B) is a 2nd barrier. In the first barrier, the lower layer is made of a material having a high etching rate such as silicon nitride, and the upper layer is made of a material having a low etching rate such as glass. The second barrier is made of a material having a high etching rate such as silicon nitride. For this reason, in the step of forming the first barrier and the second barrier at once by performing wet etching by photolithography, the lower layer is sharpened more than the upper layer to have the shape of (A). Therefore, the cathode layer 15 is separated on the lower layer of the first barrier.

図9において、第2障壁の形成材料と第1障壁の下層の形成材料とは同一であっても異なっていてもよいし、第2障壁をエッチングレートの速い材料で形成してもよい。なお、第1障壁を(A)のような形状とする方法は上記の方法に限らない。例えば、第1障壁の下層および第2障壁をウェットエッチングにより形成し、第1障壁の上層をドライエッチングで形成する方法であってもよい。   In FIG. 9, the formation material of the second barrier and the formation material of the lower layer of the first barrier may be the same or different, and the second barrier may be formed of a material having a high etching rate. In addition, the method of making the first barrier into the shape as shown in (A) is not limited to the above method. For example, a method of forming the lower layer of the first barrier and the second barrier by wet etching and forming the upper layer of the first barrier by dry etching may be used.

<第2の実施の形態>
図10は、本発明の第2の実施の形態に係る発光装置2の平面図である。ただし、この図においては、有機EL素子を外気から保護するための保護層の図示を省略してある。図11は、図10に示す発光装置2のA2−A2’線矢視断面図である。これらの図において、発光装置1と共通する部分には同一の符号が付してある。発光装置2が発光装置1と異なる点は、第2障壁40に代えて第3障壁(塗布障壁)41を有する点である。
<Second Embodiment>
FIG. 10 is a plan view of the light emitting device 2 according to the second embodiment of the present invention. However, in this figure, illustration of the protective layer for protecting an organic EL element from external air is abbreviate | omitted. 11 is a cross-sectional view taken along line A2-A2 ′ of the light emitting device 2 shown in FIG. In these drawings, parts common to the light emitting device 1 are denoted by the same reference numerals. The light emitting device 2 is different from the light emitting device 1 in that a third barrier (application barrier) 41 is provided instead of the second barrier 40.

第3障壁41は、絶縁層12上に形成されており、複数の行R内に複数ずつ配置されている。各行Rにおいて、各第3障壁41は、行方向と異なる方向、具体的には行方向と直交する列方向に延在し、その行Rを画素毎に区切り、画素を1つだけ含む複数の領域(個別塗布領域)に分割している。第3障壁41の断面形状、平面形状、層構成および形成材料は第2障壁40と同様である。第3障壁41の高さは、正孔注入層13の画素毎の形成と発光層14の行R毎の形成とを可能とする高さである。すなわち、第3障壁41の高さは、その上面が、塗布直後の正孔注入材料溶液の上面よりも上になり、かつ、塗布直後の発光材料溶液の上面よりも下になる高さである。具体的には2〜3μmである。   The third barrier 41 is formed on the insulating layer 12, and a plurality of third barriers 41 are arranged in the plurality of rows R. In each row R, each third barrier 41 extends in a direction different from the row direction, specifically, in a column direction orthogonal to the row direction, divides the row R for each pixel, and includes a plurality of pixels including only one pixel. It is divided into areas (individual application areas). The cross-sectional shape, planar shape, layer configuration, and forming material of the third barrier 41 are the same as those of the second barrier 40. The height of the third barrier 41 is a height that enables formation of the hole injection layer 13 for each pixel and formation of the light emitting layer 14 for each row R. That is, the height of the third barrier 41 is such that the top surface is above the top surface of the hole injection material solution just after application and below the top surface of the luminescent material solution just after application. . Specifically, it is 2 to 3 μm.

正孔注入層13は発光層14に比較して電気抵抗値が低いため、正孔注入層13を複数の画素に共通して形成すると、隣接画素間でリークが発生する虞がある。しかし、発光装置2によれば、第3障壁41が存在するため、インクジェット装置を用いて正孔注入層13を画素毎に形成することができる。したがって、発光装置2によれば、隣接画素間でのリークの発生を防止することができる。   Since the hole injection layer 13 has a lower electrical resistance value than the light emitting layer 14, if the hole injection layer 13 is formed in common for a plurality of pixels, there is a risk of leakage between adjacent pixels. However, according to the light emitting device 2, since the third barrier 41 exists, the hole injection layer 13 can be formed for each pixel using an ink jet device. Therefore, according to the light emitting device 2, it is possible to prevent the occurrence of leakage between adjacent pixels.

一方、発光層14についてはインクジェット装置やディスペンサ装置を用いて行R毎に一括して形成することができる。したがって、発光装置2によれば、発光層14の形成に関して、塗り分けの精度を低く抑えることができる。よって、製造工程が簡素となる。また、各画素において、発光層14の塗布量の差による膜厚のバラツキが小さくなるため、画素毎の輝度や寿命のバラツキを小さくすることができる。   On the other hand, the light emitting layer 14 can be collectively formed for each row R using an ink jet device or a dispenser device. Therefore, according to the light emitting device 2, it is possible to suppress the color separation accuracy with respect to the formation of the light emitting layer 14. Therefore, the manufacturing process is simplified. Further, in each pixel, the variation in film thickness due to the difference in the coating amount of the light emitting layer 14 is reduced, so that the variation in luminance and life of each pixel can be reduced.

また、発光装置2によれば、発光装置1と同様に、画素のデューティ駆動が可能となる、1回の蒸着によって複数の陰極層15を一括して精度よく形成することができる、画素の陰極とコンタクト30とを接続する配線と画素の陰極とを一括して形成することができる、という効果が得られる。   In addition, according to the light emitting device 2, as in the light emitting device 1, the pixel cathode can be driven, and a plurality of cathode layers 15 can be accurately and collectively formed by a single vapor deposition. As a result, it is possible to collectively form the wiring connecting the contact 30 and the cathode of the pixel.

また、本実施の形態に対しても、第1の実施の形態に対する変形と同様の変形が可能である。例えば、第3障壁41の平面形状を図8(A)に示す形状としてもよい。また例えば、第1障壁20が、陰極層15が第1障壁20を乗り越えて延在することを妨げる形状のみ、またはそのような高さのみを有することとしてもよい。そのような高さとしては、第3障壁41の高さよりも高い高さを挙げることができる。また例えば、図9に示すように、第1障壁20を複数の層で構成するようにしてもよい。   Also, the present embodiment can be modified in the same manner as the modification of the first embodiment. For example, the planar shape of the third barrier 41 may be the shape shown in FIG. Further, for example, the first barrier 20 may have only a shape that prevents the cathode layer 15 from extending over the first barrier 20, or only such a height. Examples of such height include a height higher than the height of the third barrier 41. Further, for example, as shown in FIG. 9, the first barrier 20 may be composed of a plurality of layers.

<第3の実施の形態>
図12は本発明の第3の実施の形態に係る発光装置3の平面図である。ただし、この図においては、有機EL素子を外気から保護するための保護層の図示を省略してある。この図において、発光装置1と共通する部分には同一の符号が付してある。発光装置3が発光装置1と異なる点は、第2障壁40に代えて第4障壁(塗布障壁)42を有する点である。
<Third Embodiment>
FIG. 12 is a plan view of the light emitting device 3 according to the third embodiment of the present invention. However, in this figure, illustration of the protective layer for protecting an organic EL element from external air is abbreviate | omitted. In this figure, parts that are the same as those of the light emitting device 1 are given the same reference numerals. The light emitting device 3 is different from the light emitting device 1 in that a fourth barrier (application barrier) 42 is provided instead of the second barrier 40.

第4障壁42は、筒状の障壁であり、絶縁層12上に形成されており、複数の行R内に複数ずつ配置されている。各行Rにおいて、各第4障壁42は、その行R内の全ての画素の各々を囲んでいる。画素の開口Pの周縁から第4障壁42までの距離は略均一になっている。第4障壁42の断面形状、層構成および形成材料は、第2障壁40と同様である。第4障壁42の高さは、第3障壁41の高さと同様である。したがって、本実施の形態では、第4障壁42に囲まれた領域が個別塗布領域となっている。   The fourth barrier 42 is a cylindrical barrier, is formed on the insulating layer 12, and a plurality of fourth barriers 42 are arranged in the plurality of rows R. In each row R, each fourth barrier 42 surrounds each of all the pixels in that row R. The distance from the periphery of the pixel opening P to the fourth barrier 42 is substantially uniform. The cross-sectional shape, layer configuration, and forming material of the fourth barrier 42 are the same as those of the second barrier 40. The height of the fourth barrier 42 is the same as the height of the third barrier 41. Therefore, in the present embodiment, the region surrounded by the fourth barrier 42 is an individual application region.

発光装置3によれば、発光装置2と同様の効果を得ることができる。さらに、発光装置3によれば、画素の開口Pの周縁から第4障壁42までの距離が略均一になっているから、各画素において、正孔注入層13の膜厚を開口Pの全域にわたって略均一とすることができる。なお、本実施の形態に対しても、第1の実施の形態に対する変形と同様の変形が可能である。例えば、第1障壁20が、陰極層15が第1障壁20を乗り越えて延在することを妨げる形状のみ、またはそのような高さのみを有することとしてもよい。そのような高さとしては、第4障壁42の高さよりも高い高さを挙げることができる。また例えば、図9(A)に示すように、第1障壁20を複数の層で構成するようにしてもよい。   According to the light emitting device 3, the same effect as the light emitting device 2 can be obtained. Furthermore, according to the light emitting device 3, since the distance from the periphery of the opening P of the pixel to the fourth barrier 42 is substantially uniform, the film thickness of the hole injection layer 13 is increased over the entire area of the opening P in each pixel. It can be made substantially uniform. Note that the present embodiment can be modified in the same manner as the modification of the first embodiment. For example, the first barrier 20 may have only a shape that prevents the cathode layer 15 from extending beyond the first barrier 20, or only such a height. Examples of such height include a height higher than the height of the fourth barrier 42. Further, for example, as shown in FIG. 9A, the first barrier 20 may be composed of a plurality of layers.

<他の変形>
図13に、本発明の電子機器であるパーソナルコンピュータの構成を示す。パーソナルコンピュータ1030は、表示ユニットとしての表示部1031と本体部1032を備える。表示部1031は、上述の発光装置1〜3のいずれか1つを備えている。本体部1032には、電源スイッチ1033及びキーボード1034が設けられている。なお、本発明に係る発光装置の適用先の電子機器としては、他に、電子写真方式の画像形成装置が挙げられる。なお、陽極11と陰極との間に発光層のみを有する有機EL素子を画素として用いてもよいし、陽極11と陰極とを逆転させてもよいし、有機EL素子に代えて他の発光素子を画素として採用してもよい。
<Other variations>
FIG. 13 shows a configuration of a personal computer which is an electronic apparatus of the present invention. The personal computer 1030 includes a display unit 1031 and a main body unit 1032 as display units. The display unit 1031 includes any one of the light emitting devices 1 to 3 described above. The main body portion 1032 is provided with a power switch 1033 and a keyboard 1034. In addition, examples of the electronic device to which the light emitting device according to the present invention is applied include an electrophotographic image forming apparatus. Note that an organic EL element having only a light emitting layer between the anode 11 and the cathode may be used as a pixel, the anode 11 and the cathode may be reversed, or another light emitting element instead of the organic EL element. May be adopted as a pixel.

本発明の第1の実施の形態に係る発光装置1の平面図である。It is a top view of the light-emitting device 1 which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 図1に示す発光装置1のA1−A1’線矢視断面図である。It is A1-A1 'arrow sectional drawing of the light-emitting device 1 shown in FIG. 図1に示す発光装置1のB1−B1’線矢視断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line B1-B1 ′ of the light emitting device 1 shown in FIG. 発光装置1の製造工程を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a manufacturing process of the light emitting device 1. 発光装置1の製造工程を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a manufacturing process of the light emitting device 1. 発光装置1の製造工程を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a manufacturing process of the light emitting device 1. 発光装置1の製造工程を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a manufacturing process of the light emitting device 1. 発光装置1の第2障壁の平面形状の他の例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating another example of the planar shape of the second barrier of the light emitting device 1. 発光装置1の変形例における第1障壁の断面と第2障壁の断面を示す図である。It is a figure which shows the cross section of the 1st barrier in the modification of the light-emitting device 1, and the cross section of a 2nd barrier. 本発明の第2の実施の形態に係る発光装置2の平面図である。It is a top view of the light-emitting device 2 which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 図10に示す発光装置2のA2−A2’線矢視断面図である。It is A2-A2 'arrow sectional drawing of the light-emitting device 2 shown in FIG. 本発明の第3の実施の形態に係る発光装置3の平面図である。It is a top view of the light-emitting device 3 which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の電子機器であるパーソナルコンピュータの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the personal computer which is an electronic device of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1〜3…発光装置、10…基板、11…陽極(第1電極)、12…絶縁層、13…正孔注入層、14…発光層、15…陰極層(導電層)、20…第1障壁、30…コンタクト、40…第2障壁、41…第3障壁、42…第4障壁、1030…パーソナルコンピュータ(電子機器)。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1-3 ... Light-emitting device, 10 ... Board | substrate, 11 ... Anode (1st electrode), 12 ... Insulating layer, 13 ... Hole injection layer, 14 ... Light emitting layer, 15 ... Cathode layer (conductive layer), 20 ... 1st Barrier, 30 ... contact, 40 ... second barrier, 41 ... third barrier, 42 ... fourth barrier, 1030 ... personal computer (electronic device).

Claims (10)

基板と、
前記基板上に形成され、行方向に延在し、前記基板上の領域を区切って複数の行に分離する第1障壁と、
前記複数の行内に複数ずつ配置され、前記基板上に形成された第1電極と第2電極との間に1または複数の塗布層を挟んだ構成を有する画素とを備え、
前記第1障壁は、前記領域に物理気相成長法より形成されて前記第2電極となる導電層が前記第1障壁を乗り越えて延在することを妨げる形状または高さを有する、
ことを特徴とする発光装置。
A substrate,
A first barrier formed on the substrate, extending in a row direction, and dividing the region on the substrate into a plurality of rows;
A plurality of pixels arranged in the plurality of rows, each having a configuration in which one or a plurality of coating layers are sandwiched between a first electrode and a second electrode formed on the substrate,
The first barrier has a shape or height that is formed by physical vapor deposition in the region and prevents the conductive layer serving as the second electrode from extending over the first barrier.
A light emitting device characterized by that.
前記複数の行の各々内に配置され、当該行内の前記導電層と接触するコンタクトと、
前記基板上に形成され、前記行方向とは異なる方向に延在し、前記複数の行の各々において当該行を区切って前記コンタクトを含んで前記画素を含まない領域と他の領域とに分離する第2障壁を塗布障壁として備え、
前記塗布障壁は、前記導電層が当該第2障壁を乗り越えて延在することを妨げず、かつ前記1または複数の塗布層のいずれにも乗り越えられない高さを有する、
ことを特徴とする1に記載の発光装置。
A contact disposed in each of the plurality of rows and in contact with the conductive layer in the row;
Formed on the substrate, extending in a direction different from the row direction, dividing the row in each of the plurality of rows and separating the region including the contact and not including the pixel and another region. A second barrier as an application barrier;
The coating barrier has a height that does not prevent the conductive layer from extending over the second barrier and cannot overcome any of the one or more coating layers;
2. The light-emitting device according to 1, wherein
前記基板上に形成され、前記行方向とは異なる方向に延在し、前記複数の行の各々を前記画素毎に区切って複数の個別塗布領域に分割する第3障壁を塗布障壁として備え、
前記画素は、前記第1電極と前記第2電極との間に複数の塗布層を挟んだ構成を有し、
前記塗布障壁は、前記複数の塗布層の最下層の前記画素毎の形成と前記複数の塗布層の最上層の前記行毎の形成とを可能とする高さを有する、
ことを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
A third barrier formed on the substrate, extending in a direction different from the row direction, and dividing each of the plurality of rows into pixels to divide into a plurality of individual application regions, as an application barrier;
The pixel has a configuration in which a plurality of coating layers are sandwiched between the first electrode and the second electrode,
The coating barrier has a height that enables formation of the bottom layer of the plurality of coating layers for each pixel and formation of the top layer of the plurality of coating layers for each row.
The light-emitting device according to claim 1.
前記基板上に形成され、全ての前記画素の各々を囲む第4障壁を塗布障壁として備え、
前記画素は、前記第1電極と前記第2電極との間に複数の塗布層を挟んだ構成を有し、
前記塗布障壁は、前記複数の塗布層の最下層の前記画素毎の形成と前記複数の塗布層の最上層の前記行毎の形成とを可能とする高さを有する、
ことを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
A fourth barrier formed on the substrate and surrounding each of the pixels as a coating barrier;
The pixel has a configuration in which a plurality of coating layers are sandwiched between the first electrode and the second electrode,
The coating barrier has a height that enables formation of the bottom layer of the plurality of coating layers for each pixel and formation of the top layer of the plurality of coating layers for each row.
The light-emitting device according to claim 1.
前記行方向に直交する面における前記第1障壁の断面形状は略逆台形である、
ことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の発光装置。
A cross-sectional shape of the first barrier in a plane orthogonal to the row direction is a substantially inverted trapezoid;
The light emitting device according to claim 1, wherein the light emitting device is a light emitting device.
前記第1障壁の高さは前記塗布障壁の高さよりも高い、
ことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の発光装置。
The height of the first barrier is higher than the height of the coating barrier;
The light emitting device according to claim 1, wherein the light emitting device is a light emitting device.
前記第1障壁は複数の層から構成されている、
ことを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の発光装置。
The first barrier is composed of a plurality of layers.
The light-emitting device according to claim 1, wherein the light-emitting device is a light-emitting device.
前記第1障壁を構成する複数の層のうち1つの層はエッチングレートの速い材料で形成され、当該層の上の層はエッチングレートの遅い材料で形成されている、
ことを特徴とする請求項7に記載の発光装置。
One of the plurality of layers constituting the first barrier is formed of a material having a high etching rate, and a layer above the layer is formed of a material having a low etching rate.
The light-emitting device according to claim 7.
前記塗布障壁は前記1つの層と同じ材料で形成されている、
ことを特徴とする請求項8に記載の発光装置。
The coating barrier is formed of the same material as the one layer;
The light emitting device according to claim 8.
請求項1ないし9のいずれか1項に記載の発光装置を備える、
ことを特徴とする電子機器。
The light-emitting device according to claim 1.
An electronic device characterized by that.
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