JP2008055480A - レーザマーキング方法及びレーザマーキングシステム - Google Patents

レーザマーキング方法及びレーザマーキングシステム Download PDF

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Abstract

【課題】印字不良品の数を低減することができるレーザマーキング装置のレーザマーキング方法及びレーザマーキングシステムを提供する。
【解決手段】制御部51は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物2上の正式マーキング領域への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域へのテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。これにより、テストマーキングによりレーザマーキングシステムのマーキング動作の判定をすることができる。
【選択図】図2

Description

本発明は、レーザ光を印字対象物の表面に照射してマーキング加工を施すレーザマーキング装置におけるレーザマーキング方法及びレーザマーキングシステムに関するものである。
この種のレーザマーキング装置では、レーザ光源から出射されたレーザ光を光走査手段により印字対象物の表面に走査することで、レーザマーキング装置に予め入力された所望の文字、図形、記号等(以下「マーキングパターン」)をマーキング加工するようになっている(例えば特許文献1参照)。
特開2002−292483号公報
しかしながら、上記のようなレーザマーキング装置では、光走査手段の作動不良やレーザ光源21の出力不足、また、マーキングデータの切り替えミス等により所望のマーキングパターンどおりにマーキング加工がなされないことがあり、印字不良品を出してしまう虞があった。特に、大量の印字対象物に対してまとめて自動でマーキング加工を行う際には、大量の印字不良品を出してしまうこととなる。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、印字不良品の数を低減することができるレーザマーキング装置のレーザマーキング方法及びレーザマーキングシステムを提供することにある。
上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、レーザ光源から出射されるレーザ光を印字対象物に照射することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムのレーザマーキング方法であって、前記所定領域への正式なマーキング加工の前に、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキングステップを備えたことをその要旨とする。
この発明では、印字対象物上の所定領域への正式なマーキング加工の前に、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキングステップが備えられている。このため、テストマーキングによりマーキング動作が正常に行われているかを判定することができるので、印字不良品の数を低減することができる。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングステップにおけるテストマーキングの終了後にて、テストマーキングされたテストパターンの印字状態の良否を撮像による画像解析にて判定する判定ステップと、前記判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキングステップとを備えたことをその要旨とする。
この発明では、テストマーキングステップにおけるテストマーキングの終了後にて、テストマーキングされたテストパターンの印字状態の良否を撮像による画像解析にて判定する判定ステップと、この判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキングステップとが備えられている。このため、テストパターンの印字状態の良否の判定を画像解析にて行うことで、テストマーキングから正式マーキングまでのマーキング加工の自動化が可能である。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングのパターンと同一パターンであることをその要旨とする。
この発明では、テストマーキングによるテストパターンは、正式マーキングによる印字対象物上の所定領域へのマーキングのパターンと同一パターンである。このため、印字不良を発見することができる。
請求項4に記載の発明は、請求項1〜3のいずれか1項に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物に対して1つのみマーキングされることをその要旨とする。
この発明では、テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物に対して1つのみマーキングされる。このため、マーキング加工を効率よく行うことができる。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜3のいずれか1項に記載のレーザマーキング方法において、前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物以外の対象物上に1つのみマーキングされることをその要旨とする。
この発明では、テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物以外の対象物上に1つのみマーキングされる。このため、マーキング加工を効率よく行うことができる。
請求項6に記載の発明は、レーザ光を出射するレーザ光源と、前記レーザ光を走査する光走査手段と、前記レーザ光源及び前記光走査手段の作動を制御する制御手段とを備え、印字対象物に照射する前記レーザ光を走査することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムであって、テスト印字トリガ信号の入力により、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキング手段と、前記テストマーキング手段にてテストマーキングされたテストパターンを撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像されたテストパターンを画像解析し、テストパターンの印字状態の良否を判定する判定手段と、前記テストマーキング手段によるテストマーキング終了後にマーキング加工を停止させる停止手段と、前記判定手段による印字状態の良判定に基づいて、前記停止手段によるマーキング加工の停止状態を解除するとともに、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキング手段とを備えたことをその要旨とする。
この発明では、テスト印字トリガ信号の入力により、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキング手段が備えられる。また、テストマーキング手段にてテストマーキングされたテストパターンを撮像する撮像手段と、撮像手段により撮像されたテストパターンを画像解析し、テストパターンの印字状態の良否を判定する判定手段とが備えられる。また、テストマーキング手段によるテストマーキング終了後にマーキング加工を停止させる停止手段と、判定手段による印字状態の良判定に基づいて、停止手段によるマーキング加工の停止状態を解除するとともに、印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキング手段とが備えられる。このため、テストマーキングから、そのテストパターンの判定、更に正式マーキングまでのマーキング加工を自動で行うことができ、印字不良品の数を低減することができる。
請求項7に記載の発明は、請求項6に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記判定手段による前記テストパターンの印字状態の良判定でない判定結果に基づいて、該判定結果を外部に報知する報知手段を備えたことをその要旨とする。
この発明では、判定手段によるテストパターンの印字状態の良判定でない判定結果を報知手段が外部に報知するため、該判定結果を確認することができる。
請求項8に記載の発明は、請求項6又は7に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段は、前記判定手段による良判定でない判定結果に基づいて、再テストマーキングを行うことをその要旨とする。
この発明では、テストマーキング手段は、判定手段による良判定でない判定結果に基づいて、再テストマーキングを行うため、テストマーキングによるマーキング動作が正常に行われているかの判定の確実性を向上させることができる。
請求項9に記載の発明は、請求項6〜8のいずれか1項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段にてマーキングされるテストパターンは、前記正式マーキング手段にてマーキングされるパターンと同一のパターンであることをその要旨とする。
この発明では、テストマーキング手段にてマーキングされるテストパターンは、正式マーキング手段にてマーキングされるパターンと同一パターンである。このため、印字不良を発見することができる。
請求項10に記載の発明は、請求項6〜9のいずれか1項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物に対して1つのみテストマーキングを行うことをその要旨とする。
この発明では、テストマーキング手段は、複数の印字対象物に対して1つのみテストマーキングを行うため、テストマーキングを効率よく行うことができる。
請求項11に記載の発明では、請求項6〜9のいずれか1項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物以外の対象物上に1つのみテストマーキングを行うことをその要旨とする。
この発明では、テストマーキング手段は、複数の印字対象物以外の対象物上に1つのみテストマーキングを行うため、テストマーキングを効率よく行うことができる。
従って、上記記載の発明によれば、印字不良品の数を低減することができる。
以下、本発明を具体化した一実施形態を図面に従って説明する。
図1及び図2に、本実施形態のレーザマーキングシステム1の構成を示す。レーザマーキングシステム1は、印字対象物2上にマーキング加工を行うレーザマーキング装置3と、該レーザマーキング装置3と接続された撮像装置4とからなる。
レーザマーキング装置3は、ヘッド部11と、該ヘッド部11に接続されたコントローラ部12とからなる。ヘッド部11は、加工用のレーザ光Lを出射するレーザ光源21を備えている。レーザ光源21は、レーザ発振器からなり、コントローラ部12に備えられた制御部51にてその発振が制御されている。
レーザ光Lの光路途中には、レーザ光源21側から順に光走査手段としての一対のガルバノミラー22x,22yと収束レンズ23とが配設されている。各ガルバノミラー22x,22yは、制御部51の制御に基づく駆動装置24x,24yの駆動により角度制御されており、これらガルバノミラー22x,22yによりレーザ光Lが2次元的に走査される。
各ガルバノミラー22x,22yによって走査されたレーザ光Lは、前記収束レンズ23に入射される。収束レンズ23は、該収束レンズ23に入射したレーザ光Lを印字対象物2の表面において所定のスポット径となるまで収束させ、マーキング加工に適したエネルギー密度まで高める。このように収束した状態で印字対象物2の表面に照射するレーザ光Lは、前記ガルバノミラー22x,22yにより印字対象物2の表面を2次元的に走査され、所望のマーキングパターンをマーキングするようになっている。
図1に示すように、コントローラ部12は、テーブル制御部31と電気的に接続されている。テーブル制御部31は、コントローラ部12の制御部51からの入力信号に基づいてアクチュエータ32の作動を制御している。アクチュエータ32の作動により、スライドテーブル33は2次元的(図1のX方向及びY方向)にスライドするようになっている。スライドテーブル33上には、マーキング加工される印字対象物2が配置される。
コントローラ部12は、撮像装置4と電気的に接続されている。撮像装置4は、判定手段としての処理部41と、撮像手段としてのイメージセンサ42とからなる。イメージセンサ42は、その撮像面が前記スライドテーブル33の上面に対向するように設けられており、イメージセンサ42の撮像領域は該スライドテーブル33上になるように設定されている。そして、スライドテーブル33が2次元的にスライドすることにより、印字対象物2上の任意の領域の画像を撮像することができるようになっている。
図2は、本実施形態のレーザマーキングシステム1の電気的構成を示すブロック図である。
ヘッド部11とコントローラ部12とは電気的に接続されている。コントローラ部12は、制御手段、テストマーキング手段、停止手段及び正式マーキング手段としての制御部51と、マーキングパターン設定手段、マーキング位置設定手段及び入力手段としての入出力装置52と、記憶手段としてのメモリ53とからなる。
制御部51は、入出力装置52から入力されるマーキングパターン及びマーキング位置等のデータに基づいて、マーキングするために必要な座標データを生成する。尚、制御部51にて生成された座標データは、メモリ53に記憶される。制御部51は、生成した座標データに基づき前記レーザ光源21と前記ガルバノミラー22x,22yを駆動する駆動装置24x,24yとを制御して、テストマーキング及び正式マーキングを実行する。
正式マーキングは、印字対象物2上への所望のマーキングパターンのマーキング加工である。本実施形態では、図3に示すように、正式マーキングを実行する正式マーキング領域61は、印字対象物2上において3×3行列に正方に分割された領域である。この行列のそれぞれに正式マーキングを実行して、9つの正式パターン61aがマーキングされる(図3(b)参照)。尚、9つすべてが正式パターン61aであるが、便宜上1つの正式パターン61aのみに符号を付した。
一方、テストマーキングを実行するテストマーキング領域62は、印字対象物2上における正式マーキング領域61の隣に位置する例えば長方形の領域であり、このテストマーキング領域62内にテストパターン62aがマーキングされる。尚、このテストマーキング領域62は、印字対象物2上における正式マーキング領域61以外のテストマーキングが可能な領域に設定されている。
図2に示すように、コンソール等からなる入出力装置52は、正式パターン61a及びテストパターン62aとその各マーキング位置とを設定し、これらのデータを制御部51に出力する。尚、入出力装置52には、ディスプレイ等の報知手段としての表示部(図示略)が備えられており、設定した正式パターン61a及びテストパターン62aとその各マーキング位置とを該表示部上で確認することができる。
制御部51は、正式パターン61aのデータを撮像装置4の処理部41に出力する。処理部41は、この正式パターン61aのデータを画像データに変換するとともに、この正式パターン61aの画像データと、撮像したテストパターン62aの画像データとのパターンマッチングを行うようになっている。
次に、本実施形態のレーザマーキングシステム1のレーザマーキング方法について説明する。本実施形態の制御部51は、時系列順にテストマーキングステップ、判定ステップ及び正式マーキングステップを実行する。
制御部51に対して、入出力装置52やレーザマーキングシステム1外部に設けたシーケンサ(図示略)等からテスト印字トリガ信号が入力されると、レーザマーキング装置3は、入出力装置52にて予め設定されていたテストマーキング位置に、同じく予め設定されていたテストパターン62aをマーキングする。尚、テストマーキング位置は、テストマーキング領域62内に設定される。本実施形態では、図3(a)に示すように、テストパターン62aは正式パターン61aと同一に設定されており、共に「A」である。
テストマーキングが終了すると、制御部51がマーキング加工を停止させるとともに、判定ステップが実行される。判定ステップでは、コントローラ部12の制御部51が、テストマーキング位置等のデータをテーブル制御部31に出力する。テーブル制御部31は、アクチュエータ32を制御して、撮像装置4のイメージセンサ42の撮像範囲内にテストパターン62aを配置すべくスライドテーブル33をスライドさせる。そして、イメージセンサ42によりテストパターン62aが撮像される。イメージセンサ42は、テストパターン62aの画像データを処理部41に出力する。一方、コントローラ部12の制御部51は、正式パターン61aを処理部41に出力する。そして、上記したように、処理部41は、イメージセンサ42によって撮像されたテストパターン62aの画像データと、正式パターン61aの画像データとのパターンマッチングを行い、テストパターン62aの良否を判定する。処理部41は、テストパターン62aの画像データと、正式パターン61aの画像データとが略一致する場合に判断結果を「良」とし、それ以外を「否」とする。尚、制御部51によりマーキング加工が停止されているため、イメージセンサ42による撮像中又は処理部41による判定中等に、印字対象物2に対して誤ってマーキング加工されることはない。
ここで、処理部41は「否」の判断結果を下すと、正式マーキングは実行されず、前記入出力装置52の表示部に「否」の判定結果を示す表示がなされる。処理部41が「否」の判断を下すのは、レーザ光源21の出力不足等によるテストパターン62aのかすれや、ガルバノミラー22x,22yの作動不良等によるテストパターン62aのつぶれ等が発生した場合である。尚、例えばコントローラ部12及び撮像装置4に対して外部から又はメモリ53と撮像装置4に設けたメモリ(図示略)等とから別々にマーキングデータが入力される構成にしたときにおいて、マーキングデータの切り替えミス等により正式パターン61aの「A」に対して例えば「B」とテストマーキングされた場合も、処理部41は「否」の判断結果を下すようになっている。尚、この場合は、テストパターン62aと正式パターン61aとが同一に設定されているため、処理部41は良否判断を下すことができる。
判定ステップにおける処理部41にて「良」の判断結果が下されると、制御部51が前記マーキング加工の停止状態を解除するとともに、正式マーキングステップが実行される。この「良」の判断結果に基づいて、処理部41は、正式マーキングトリガ信号を制御部51に出力する。そして、正式マーキングトリガ信号が制御部51に入力されることにより、図3(b)に示すように、レーザマーキング装置3は、生成した座標データに基づいて正式マーキングを行うようになっている。
次に、本実施形態の特徴的な作用効果を記載する。
(1)制御部51は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物2上の正式マーキング領域61への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域62にテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。このため、テストマーキングによりレーザマーキングシステム1のマーキング動作が正常に行われているかを判定することができるので、印字不良品の数を低減することができる。
(2)撮像装置4は、撮像手段としてのイメージセンサ42と、判断手段としての処理部41とを備え、制御部51は正式マーキング手段及び停止手段を備えている。そして、テストマーキング終了後にて、テストパターン62aの印字状態の良否を処理部41によるパターンマッチングにて判定する判定ステップと、この判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、印字対象物2上の正式マーキング領域61へのマーキングを行う正式マーキングステップとが実行される。このため、テストパターン62aの印字状態の良否を撮像装置4の処理部41によるパターンマッチングにて行うことで、テストマーキングから正式マーキングまでのマーキング加工の自動化が可能である。
(3)テストパターン62aは、正式パターン61aと同一に設定されているため、印字不良を発見することができる。
(4)処理部41により「否」の判定が下された場合、入出力装置52の表示部に「否」の判定結果を示す表示がなされるため、「否」の判定結果を確認することができる。
尚、本発明の実施形態は、以下のように変更してもよい。
・上記実施形態では、テストマーキングは、印字対象物2上に行われたが、印字対象物2以外の対象物上に行ってもよい。例えば、印字対象物2をトレイ等に載せ、テストマーキングをそのトレイ上に行ってもよい。
・上記実施形態では、印字対象物2は1つのみ設けたが、テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の印字対象物に対して1つのみマーキングされる構成としてもよい。また、複数の印字対象物以外の例えばトレイ上に1つのみマーキングされる構成としてもよい。これらの構成により、マーキング加工を効率よく行うことができる。
・上記実施形態では、スライドテーブル33がスライドすることにより、撮像装置4のイメージセンサ42の撮像範囲内にテストパターン62aが配置されたが、撮像装置4が移動する構成としてもよい。この場合、印字対象物2は、スライドしない固定テーブルに配置される構成としてもよい。また、予めイメージセンサ42の撮像範囲内にテストパターン62aがマーキングされる位置を配置すべく撮像装置4を斜めに配置して、イメージセンサ42により撮像された画像データを正方補正した後、パターンマッチングを行う構成としてもよい。
・上記実施形態では、テストパターン62aは正式パターン61aと同一に設定されたが、テストパターン62aはそれ以外の文字、図形、記号等としてもよい。
・上記実施形態では、テストマーキングステップの終了後に判定ステップ及び正式マーキングステップが実行されたが、テストマーキングステップのみを実行する構成として撮像装置4を省略し、人が良否判定してもよい。
・上記実施形態では、テストマーキング領域62は、正式マーキング領域61とは別な領域であるが、テストマーキング領域62を正式マーキング領域61内のテストマーキングが可能な位置に設けてもよい。この場合、正式パターンにてテストパターンを塗りつぶしてもよい。
・上記実施形態では、正式マーキング領域61は、3×3の行列に分割されたが、特にこれに限定するものではなく、例えば4×4等の行列や、行と列との数が異なる行列に分割してもよい。また、正式マーキング領域61を分割されていない領域としてもよい。
・上記実施形態では、9つすべての正式パターン61aの正式マーキングに対して1回しか行われなかったが、これ以外にも、例えば正式パターン61aの1列毎や1行毎にテストマーキングを行ってもよい。また、任意の数の正式パターン61aがマーキングされた後にテストマーキングを行ってもよい。
・上記実施形態では、処理部41により「否」の判定が下された場合、入出力装置52の表示部に「否」の判定結果を示す表示がなされたが、それ以外にも、例えば入出力装置52から警告音が発生してもよい。
・上記実施形態以外に、処理部41によるテストパターン62aの「否」の判定後、再テストマーキングを行ってもよい。この構成により、テストマーキングによるマーキング動作が正常に行われているかの判定の確実性を向上させることができる。尚、再テストマーキングする位置は、1回目のテストマーキングと同じ位置としても、異なる位置としてもよい。
本実施形態におけるレーザマーキングシステムの構成図である。 レーザマーキングシステムの電気的構成を示すブロック図である。 (a),(b)は、印字対象物へのマーキングを示す図である。
符号の説明
L…レーザ光、1…レーザマーキングシステム、2…印字対象物、4…撮像装置、21…レーザ光源、22x,22y…光走査手段としてのガルバノミラー、41…判定手段としての処理部、42…撮像手段としてのイメージセンサ、51…制御手段、テストマーキング手段、正式マーキング手段及び停止手段としての制御部、52…報知手段としての入出力装置、61…正式マーキング領域、61a…正式パターン、62…テストマーキング領域、62a…テストパターン。

Claims (11)

  1. レーザ光源から出射されるレーザ光を印字対象物に照射することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムのレーザマーキング方法であって、
    前記所定領域への正式なマーキング加工の前に、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキングステップを備えたことを特徴とするレーザマーキング方法。
  2. 請求項1に記載のレーザマーキング方法において、
    前記テストマーキングステップにおけるテストマーキングの終了後にて、テストマーキングされたテストパターンの印字状態の良否を撮像による画像解析にて判定する判定ステップと、
    前記判定ステップにおける印字状態の良判定に基づいて、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキングステップと
    を備えたことを特徴とするレーザマーキング方法。
  3. 請求項1又は2に記載のレーザマーキング方法において、
    前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングのパターンと同一パターンであることを特徴とするレーザマーキング方法。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載のレーザマーキング方法において、
    前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物に対して1つのみマーキングされることを特徴とするレーザマーキング方法。
  5. 請求項1〜3のいずれか1項に記載のレーザマーキング方法において、
    前記テストマーキングにてマーキングされるテストパターンは、複数の前記印字対象物以外の対象物上に1つのみマーキングされることを特徴とするレーザマーキング方法。
  6. レーザ光を出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光を走査する光走査手段と、
    前記レーザ光源及び前記光走査手段の作動を制御する制御手段と
    を備え、印字対象物に照射する前記レーザ光を走査することで該印字対象物上の所定領域にマーキング加工を行うレーザマーキングシステムであって、
    テスト印字トリガ信号の入力により、前記印字対象物以外の対象物上、前記印字対象物上における前記所定領域外及び前記所定領域の一部のいずれかにおける予め設定したテストマーキングが可能な位置にテストマーキングを行うテストマーキング手段と、
    前記テストマーキング手段にてテストマーキングされたテストパターンを撮像する撮像手段と、
    前記撮像手段により撮像されたテストパターンを画像解析し、テストパターンの印字状態の良否を判定する判定手段と、
    前記テストマーキング手段によるテストマーキング終了後にマーキング加工を停止させる停止手段と、
    前記判定手段による印字状態の良判定に基づいて、前記停止手段によるマーキング加工の停止状態を解除するとともに、前記印字対象物上の所定領域へのマーキングを行う正式マーキング手段と
    を備えたことを特徴とするレーザマーキングシステム。
  7. 請求項6に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
    前記判定手段による前記テストパターンの印字状態の良判定でない判定結果に基づいて、該判定結果を外部に報知する報知手段を備えたことを特徴とするレーザマーキングシステム。
  8. 請求項6又は7に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
    前記テストマーキング手段は、前記判定手段による良判定でない判定結果に基づいて、再テストマーキングを行うことを特徴とするレーザマーキングシステム。
  9. 請求項6〜8のいずれか1項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
    前記テストマーキング手段にてマーキングされるテストパターンは、前記正式マーキング手段にてマーキングされるパターンと同一のパターンであることを特徴とするレーザマーキングシステム。
  10. 請求項6〜9のいずれか1項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
    前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物に対して1つのみテストマーキングを行うことを特徴とするレーザマーキングシステム。
  11. 請求項6〜9のいずれか1項に記載のレーザマーキングシステムにおいて、
    前記テストマーキング手段は、複数の前記印字対象物以外の対象物上に1つのみテストマーキングを行うことを特徴とするレーザマーキングシステム。
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