JP2008023899A - ライン位置算出方法、補正値取得方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】不良画素を正確に検出する。
【解決手段】このライン位置算出方法は、第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出する方法であって、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、前記閾値に基づいて範囲を設定し、前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとする。
【選択図】図３０

Description

本発明は、ライン位置算出方法、補正値取得方法及びプログラムに関する。

媒体（例えば紙や布など）を搬送方向に搬送するとともにヘッドにより媒体に記録を行う記録装置として、インクジェットプリンタが知られている。このような記録装置では、媒体を搬送する際に搬送誤差が生じると、媒体上の正しい位置にヘッドが記録できなくなる。特に、インクジェットプリンタでは、媒体上の正しい位置にインク滴が着弾しなくなると、印刷された画像に白スジや黒スジが生じ、画質が劣化するおそれがある。

そこで、媒体の搬送量を補正する方法が提案されている。例えば特許文献１では、テストパターンを印刷し、このテストパターンを読み取り、読取結果に基づいて補正値を算出し、画像を記録する際に補正値に基づいて搬送量を補正することが提案されている。
特開平５−９６７９６号公報

特許文献１では、テストパターンを読み取った後、画像データをどのように処理しているのか、何も記載されていない。しかし、テストパターンにごみの付着やドット抜け等があると、画像データ上に不良画素が発生し、この結果、正確な補正値を算出することができないことがある。
本発明は、ごみの付着やドット抜け等による不良画素がある場合に、正確に不良画素を検出することを目的とする。

上記目的を達成するための主たる発明は、第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出する方法であって、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、前記閾値に基づいて範囲を設定し、前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとすることを特徴とする。

本発明の他の特徴については、本明細書及び添付図面の記載により明らかにする。

本明細書及び添付図面の記載により、少なくとも、以下の事項が明らかとなる。

第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出する方法であって、
前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、
前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、
前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、
前記閾値に基づいて範囲を設定し、
前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、
検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、
検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとする
ことを特徴とするライン位置算出方法が明らかになる。
このようなライン位置算出方法によれば、正確に不良画素を検出することができる。

また、前記ばらつき度合いとは標準偏差であり、前記範囲を設定する際に、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値と、前記標準偏差と基づいて前記範囲が設定されることが望ましい。これにより、適切な範囲を設定することができる。また、前記閾値を設定する際に、前記標準偏差に所定の係数を乗じた値に基づいて前記閾値が設定されることが好ましい。これにより、標準偏差に応じた閾値が設定される。また、前記標準偏差の値が大きくなると前記係数が小さくなるように前記係数が設定されることが良い。これにより、不良画素が多い場合には多くの不良画素を検出することが可能になる。

また、検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出する際に、前記第１方向に並ぶ複数の画素のうちの前記不良画素以外の画素の画素データの平均値を算出し、前記平均値に基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出することが望ましい。これにより、ラインの位置を正確に算出できる。

また、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得した後に、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値に基づいて近似直線を算出し、前記近似直線に基づいて各前記階調値を補正し、前記不良画素を検出する際に、補正された前記階調値に基づいて前記不良画素を検出することが望ましい。これにより、不良画素を正確に特定することができる。

また、テストシートを搬送する搬送動作と、所定方向に沿うラインを形成する形成動作とを交互に印刷装置に繰り返し行わせて、複数の前記ラインを含む測定用パターンを前記テストシートに印刷し、
前記テストシートに印刷された前記測定用パターンをスキャナで読み取り、第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データを取得し、
前記画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出し、
前記位置に基づいて前記搬送動作のための補正値を取得する
補正値取得方法であって、
前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、
前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、
前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、
前記閾値に基づいて範囲を設定し、
前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、
検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、
検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとする
ことを特徴とする補正値取得方法が明らかになる。
このような補正値取得方法によれば、正確な補正値を算出できる。

また、印刷装置に、テストシートを搬送する搬送動作と、所定方向に沿うラインを形成する形成動作とを交互に繰り返し行わせ、複数の前記ラインを含む測定用パターンを前記テストシートに印刷させ、
スキャナに、前記テストシートに印刷された前記測定用パターンを読み取らせ、第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データをコンピュータに出力させ、
前記コンピュータに、前記画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出させ、
前記コンピュータに、前記位置に基づいて前記搬送動作のための補正値を取得させる
プログラムであって、
前記コンピュータに、
前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得させ、
前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出させ、
前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定させ、
前記閾値に基づいて範囲を設定させ、
前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出させ、
検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出させ、
検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとさせる
ことを特徴とするプログラムが明らかになる。
このようなプログラムによれば、コンピュータに、正確に不良画素を検出させることができる。

＝＝＝プリンタの構成＝＝＝
＜インクジェットプリンタの構成について＞
図１は、プリンタ１の全体構成のブロック図である。また、図２Ａは、プリンタ１の全体構成の概略図である。また、図２Ｂは、プリンタ１の全体構成の断面図である。以下、プリンタの基本的な構成について説明する。

プリンタ１は、搬送ユニット２０、キャリッジユニット３０、ヘッドユニット４０、検出器群５０、及びコントローラ６０を有する。外部装置であるコンピュータ１１０から印刷データを受信したプリンタ１は、コントローラ６０によって各ユニット（搬送ユニット２０、キャリッジユニット３０、ヘッドユニット４０）を制御する。コントローラ６０は、コンピュータ１１０から受信した印刷データに基づいて、各ユニットを制御し、紙に画像を印刷する。プリンタ１内の状況は検出器群５０によって監視されており、検出器群５０は、検出結果をコントローラ６０に出力する。コントローラ６０は、検出器群５０から出力された検出結果に基づいて、各ユニットを制御する。

搬送ユニット２０は、媒体（例えば、紙Ｓなど）を所定の方向（以下、搬送方向という）に搬送させるためのものである。この搬送ユニット２０は、給紙ローラ２１と、搬送モータ２２（ＰＦモータとも言う）と、搬送ローラ２３と、プラテン２４と、排紙ローラ２５とを有する。給紙ローラ２１は、紙挿入口に挿入された紙をプリンタ内に給紙するためのローラである。搬送ローラ２３は、給紙ローラ２１によって給紙された紙Ｓを印刷可能な領域まで搬送するローラであり、搬送モータ２２によって駆動される。プラテン２４は、印刷中の紙Ｓを支持する。排紙ローラ２５は、紙Ｓをプリンタの外部に排出するローラであり、印刷可能な領域に対して搬送方向下流側に設けられている。この排紙ローラ２５は、搬送ローラ２３と同期して回転する。

なお、搬送ローラ２３が紙Ｓを搬送するとき、紙Ｓは搬送ローラ２３と従動ローラ２６との間に挟まれている。これにより、紙Ｓの姿勢が安定する。一方、排紙ローラ２５が紙Ｓを搬送するとき、紙Ｓは排紙ローラ２５と従動ローラ２７との間に挟まれている。排紙ローラ２５は印刷領域よりも搬送方向下流側に設けられているので、従動ローラ２７は、紙Ｓとの接触面が小さくなるように構成されている（図４も参照）。このため、紙Ｓの下端が搬送ローラ２３を通過して、紙Ｓが排紙ローラ２５のみによって搬送されるとき、紙Ｓの姿勢は不安定になり易く、搬送特性も変化しやすい。

キャリッジユニット３０は、ヘッドを所定の方向（以下、移動方向という）に移動（「走査」とも呼ばれる）させるためのものである。キャリッジユニット３０は、キャリッジ３１と、キャリッジモータ３２（ＣＲモータとも言う）とを有する。キャリッジ３１は、移動方向に往復移動可能であり、キャリッジモータ３２によって駆動される。また、キャリッジ３１は、インクを収容するインクカートリッジを着脱可能に保持している。

ヘッドユニット４０は、紙にインクを吐出するためのものである。ヘッドユニット４０は、複数のノズルを有するヘッド４１を備える。このヘッド４１はキャリッジ３１に設けられているため、キャリッジ３１が移動方向に移動すると、ヘッド４１も移動方向に移動する。そして、ヘッド４１が移動方向に移動中にインクを断続的に吐出することによって、移動方向に沿ったドットライン（ラスタライン）が紙に形成される。

検出器群５０には、リニア式エンコーダ５１、ロータリー式エンコーダ５２、紙検出センサ５３、および光学センサ５４等が含まれる。リニア式エンコーダ５１は、キャリッジ３１の移動方向の位置を検出する。ロータリー式エンコーダ５２は、搬送ローラ２３の回転量を検出する。紙検出センサ５３は、給紙中の紙の先端の位置を検出する。光学センサ５４は、キャリッジ３１に取付けられている発光部と受光部により、紙の有無を検出する。そして、光学センサ５４は、キャリッジ３１によって移動しながら紙の端部の位置を検出し、紙の幅を検出することができる。また、光学センサ５４は、状況に応じて、紙の先端（搬送方向下流側の端部であり、上端ともいう）・後端（搬送方向上流側の端部であり、下端ともいう）も検出できる。

コントローラ６０は、プリンタの制御を行うための制御ユニット（制御部）である。コントローラ６０は、インターフェース部６１と、ＣＰＵ６２と、メモリ６３と、ユニット制御回路６４とを有する。インターフェース部６１は、外部装置であるコンピュータ１１０とプリンタ１との間でデータの送受信を行う。ＣＰＵ６２は、プリンタ全体の制御を行うための演算処理装置である。メモリ６３は、ＣＰＵ６２のプログラムを格納する領域や作業領域等を確保するためのものであり、ＲＡＭ、ＥＥＰＲＯＭ等の記憶素子を有する。ＣＰＵ６２は、メモリ６３に格納されているプログラムに従って、ユニット制御回路６４を介して各ユニットを制御する。

＜ノズルについて＞
図３は、ヘッド４１の下面におけるノズルの配列を示す説明図である。ヘッド４１の下面には、ブラックインクノズル群Ｋと、シアンインクノズル群Ｃと、マゼンタインクノズル群Ｍと、イエローインクノズル群Ｙが形成されている。各ノズル群は、各色のインクを吐出するための吐出口であるノズルを９０個備えている。

各ノズル群の複数のノズルは、搬送方向に沿って、一定の間隔（ノズルピッチ：ｋ・Ｄ）でそれぞれ整列している。ここで、Ｄは、搬送方向における最小のドットピッチ（つまり、紙Ｓに形成されるドットの最高解像度での間隔）である。また、ｋは、１以上の整数である。例えば、ノズルピッチが９０ｄｐｉ（１／９０インチ）であって、搬送方向のドットピッチが７２０ｄｐｉ（１／７２０インチ）である場合、ｋ＝８である。

各ノズル群のノズルは、下流側のノズルほど小さい数の番号が付されている（♯１〜♯９０）。つまり、ノズル♯１は、ノズル♯９０よりも搬送方向の下流側に位置している。なお、前述の光学センサ５４は、紙搬送方向の位置に関して、一番上流側にあるノズル♯９０とほぼ同じ位置にある。
各ノズルには、それぞれインクチャンバー（不図示）と、ピエゾ素子が設けられている。ピエゾ素子の駆動によってインクチャンバーが伸縮・膨張し、ノズルからインク滴が吐出される。

＝＝＝搬送誤差＝＝＝
＜紙の搬送について＞
図４は、搬送ユニット２０の構成の説明図である。
搬送ユニット２０は、コントローラ６０からの搬送指令に基づいて、所定の駆動量にて搬送モータ２２を駆動させる。搬送モータ２２は、指令された駆動量に応じて回転方向の駆動力を発生する。搬送モータ２２は、この駆動力を用いて搬送ローラ２３を回転させる。つまり、搬送モータ２２が所定の駆動量を発生すると、搬送ローラ２３は所定の回転量にて回転する。搬送ローラ２３が所定の回転量にて回転すると、紙は所定の搬送量にて搬送される。

紙の搬送量は、搬送ローラ２３の回転量に応じて定まる。本実施形態では、搬送ローラ２３が１回転すると、紙が１インチ搬送されるものとする（つまり、搬送ローラ２３の周長は、１インチである）。このため、搬送ローラ２３が１／４回転すると、紙が１／４インチ搬送される。
したがって、搬送ローラ２３の回転量が検出できれば、紙の搬送量も検出可能である。そこで、搬送ローラ２３の回転量を検出するため、ロータリー式エンコーダ５２が設けられている。

ロータリー式エンコーダ５２は、スケール５２１と検出部５２２とを有する。スケール５２１は、所定の間隔毎に設けられた多数のスリットを有する。このスケール５２１は、搬送ローラ２３に設けられている。つまり、スケール５２１は、搬送ローラ２３が回転すると、一緒に回転する。そして、搬送ローラ２３が回転すると、スケール５２１の各スリットが検出部５２２を順次通過する。検出部５２２は、スケール５２１と対向して設けられており、プリンタ本体側に固定されている。ロータリー式エンコーダ５２は、スケール５２１に設けられたスリットが検出部５２２を通過する毎に、パルス信号を出力する。搬送ローラ２３の回転量に応じてスケール５２１に設けられたスリットが順次検出部５２２を通過するので、ロータリー式エンコーダ５２の出力に基づいて、搬送ローラ２３の回転量が検出される
そして、例えば搬送量１インチで紙を搬送する場合、搬送ローラ２３が１回転したことをロータリー式エンコーダ５２が検出するまで、コントローラ６０が搬送モータ２２を駆動する。このように、コントローラ６０は、目標とする搬送量（目標搬送量）に応じた回転量になることをロータリー式エンコーダ５２が検出するまで、搬送モータ２２を駆動して、紙を目標搬送量にて搬送する。

＜搬送誤差について＞
ところで、ロータリー式エンコーダ５２は、直接的には搬送ローラ２３の回転量を検出するのであって、厳密にいえば、紙Ｓの搬送量を検出していない。このため、搬送ローラ２３の回転量と紙Ｓの搬送量が一致しない場合、ロータリー式エンコーダ５２は紙Ｓの搬送量を正確に検出することができず、搬送誤差（検出誤差）が生じる。搬送誤差としては、ＤＣ成分の搬送誤差及びＡＣ成分の搬送誤差の２種類がある。

ＤＣ成分の搬送誤差とは、搬送ローラが１回転したときに生じる所定量の搬送誤差のことである。このＤＣ成分の搬送誤差は、製造誤差等によって搬送ローラ２３の周長が個々のプリンタ毎に異なることが原因と考えられる。つまり、ＤＣ成分の搬送誤差は、設計上の搬送ローラ２３の周長と実際の搬送ローラ２３の周長が異なるために生じる搬送誤差である。このＤＣ成分の搬送誤差は、搬送ローラ２３が１回転するときの開始位置に関わらず、一定になる。但し、実際のＤＣ成分の搬送誤差は、紙の摩擦等の影響によって、紙の総搬送量に応じて異なる値になる（後述）。言い換えると、実際のＤＣ成分の搬送誤差は、紙Ｓと搬送ローラ２３（又は紙Ｓとヘッド４１）との相対位置関係に応じて異なる値になる。

ＡＣ成分の搬送誤差とは、搬送時に用いられる搬送ローラの周面の場所に応じた搬送誤差のことである。ＡＣ成分の搬送誤差は、搬送時に用いられる搬送ローラの周面の場所に応じて、異なる量になる。つまり、ＡＣ成分の搬送誤差は、搬送開始時の搬送ローラの回転位置と搬送量に応じて、異なる量になる。

図５は、ＡＣ成分の搬送誤差の説明用グラフである。横軸は、基準となる回転位置からの搬送ローラ２３の回転量である。縦軸は、搬送誤差を示す。このグラフを微分すれば、その回転位置で搬送ローラが搬送しているときに生じる搬送誤差が導き出される。ここでは、基準位置における累積搬送誤差をゼロとし、ＤＣ成分の搬送誤差もゼロとしている。

搬送ローラ２３が基準位置から１／４回転すると、δ_90の搬送誤差が生じ、紙は１／４インチ＋δ_90にて搬送される。但し、搬送ローラ２３が更に１／４回転すると、-δ_90の搬送誤差が生じ、紙は１／４インチ−δ_90にて搬送される。

ＡＣ成分の搬送誤差が生じる原因としては、例えば、以下の３つが考えられる。

まず第１に、搬送ローラの形状による影響が考えられる。例えば、搬送ローラが楕円形状や卵型である場合、搬送ローラの周面の場所に応じて、回転中心までの距離が異なっている。そして、回転中心までの距離が長い部分で媒体を搬送する場合、搬送ローラの回転量に対する搬送量が多くなる。一方、回転中心までの距離が短い部分で媒体を搬送する場合、搬送ローラの回転量に対する搬送量が少なくなる。

第２に、搬送ローラの回転軸の偏心が考えられる。この場合も、搬送ローラの周面の場所に応じて、回転中心までの長さが異なっている。このため、たとえ搬送ローラの回転量が同じであっても、搬送ローラの周面の場所に応じて、搬送量が異なることになる。

第３に、搬送ローラの回転軸と、ロータリー式エンコーダ５２のスケール５２１の中心との不一致が考えられる。この場合、スケール５２１が偏心して回転することになる。この結果、検出部５２２が検出するスケール５２１の場所に応じて、検出されたパルス信号に対する搬送ローラ２３の回転量が異なることになる。例えば、検出されるスケール５２１の場所が搬送ローラ２３の回転軸から離れている場合、検出されたパルス信号に対する搬送ローラ２３の回転量が少なくなるため、搬送量が少なくなる。一方、検出されるスケール５２１の場所が搬送ローラ２３の回転軸から近い場合、検出されたパルス信号に対する搬送ローラ２３の回転量が多くなるため、搬送量が多くなる。

上記の原因のため、ＡＣ成分の搬送誤差は、図５に示す通り、ほぼサインカーブになる。

＜本実施形態で補正する搬送誤差＞
図６は、１０１．６ｍｍ×１５２．４ｍｍ（４インチ×６インチ）の大きさの紙を搬送する際に生じる搬送誤差のグラフ（概念図）である。グラフの横軸は、紙の総搬送量を示している。グラフの縦軸は、搬送誤差を示している。図中の点線は、ＤＣ成分の搬送誤差のグラフである。図中の実線の値（トータルの搬送誤差）から図中の点線の値（ＤＣ成分の搬送誤差）を引けば、ＡＣ成分の搬送誤差が求められる。ＡＣ成分の搬送誤差は、紙の総搬送量に関わらず、ほぼサインカーブになる。一方、点線で示されるＤＣ成分の搬送誤差は、紙の摩擦等の影響によって、紙の総搬送量に応じて異なる値になる。

既に説明したように、ＡＣ成分の搬送誤差は、搬送ローラ２３の周面の場所に応じて異なる。このため、たとえ同じ紙を搬送する場合であっても、搬送開始時の搬送ローラ２３の回転位置が異なれば、ＡＣ成分の搬送誤差が異なるため、トータルの搬送誤差（グラフの実線で示す搬送誤差）は異なることになる。これに対し、ＤＣ成分の搬送誤差はＡＣ成分の搬送誤差とは異なり搬送ローラの周面の場所とは無関係なので、たとえ搬送開始時の搬送ローラ２３の回転位置が異なっていても、搬送ローラ２３が１回転したときに生じる搬送誤差（ＤＣ成分の搬送誤差）は同じになる。

また、ＡＣ成分の搬送誤差を補正しようとする場合、コントローラ６０は、搬送ローラ２３の回転位置を検出する必要がある。しかし、搬送ローラ２３の回転位置を検出するためには、ロータリー式エンコーダ５２に原点センサを更に用意する必要があり、コストアップとなる。
そこで、以下に示す本実施形態の搬送量の補正では、ＤＣ成分の搬送誤差を補正することにしている。

一方、ＤＣ成分の搬送誤差は、紙の総搬送量（言い換えると、紙Ｓと搬送ローラ２３との相対位置関係）に応じて異なる値になる（図６の点線参照）。このため、より多くの補正値を搬送方向の位置に応じて用意できれば、きめ細かく搬送誤差を補正することができる。そこで、本実施形態では、搬送ローラ２３の１回転分に相当する１インチの範囲ごとではなく、１／４インチの範囲ごとに、ＤＣ成分の搬送誤差を補正するための補正値を用意している。

＝＝＝概略説明＝＝＝
図７は、搬送量を補正するための補正値を決定するまでのフロー図である。図８Ａ〜図８Ｃは、補正値を決定するまでの様子の説明図である。これらの処理は、プリンタ製造工場の検査工程において行われる。この処理に先立って、検査者は、組み立て完了後のプリンタ１を工場内のコンピュータ１１０に接続する。工場内のコンピュータ１１０には、スキャナ１５０も接続されており、プリンタドライバ、スキャナドライバ及び補正値取得プログラムが予めインストールされている。

まず、プリンタドライバが印刷データをプリンタ１に送信し、プリンタ１がテストシートＴＳに測定用パターンを印刷する（Ｓ１０１、図８Ａ）。次に、検査者はテストシートＴＳをスキャナ１５０にセットし、スキャナドライバがスキャナ１５０に測定用パターンを読み取らせ、画像データを取得する（Ｓ１０２、図８Ｂ）。なお、スキャナ１５０にはテストシートＴＳとともに基準シートがセットされており、基準シートに描画されている基準パターンも一緒に読み取られる。
そして、補正値取得プログラムは、取得した画像データを解析し、補正値を算出する（Ｓ１０３）。そして、補正値取得プログラムは、補正データをプリンタ１に送信し、プリンタ１のメモリ６３に補正値を記憶させる（図８Ｃ）。プリンタに記憶される補正値は、個々のプリンタの搬送特性を反映したものになる。
なお、補正値を記憶したプリンタは、梱包されてユーザの下に届けられる。ユーザがプリンタで画像を印刷する際に、プリンタは、補正値に基づいて紙を搬送し、紙に画像を印刷する。

＝＝＝測定用パターンの印刷（Ｓ１０１）＝＝＝
まず、測定用パターンの印刷について説明する。通常の印刷と同様に、プリンタ１は、移動中のノズルからインクを吐出してドットを形成するドット形成処理と、紙を搬送方向に搬送する搬送動作とを交互に繰り返し、測定用パターンを紙に印刷する。なお、以下の説明では、ドット形成処理のことを「パス」と呼び、ｎ回目のドット形成処理のことを「パスｎ」と呼ぶ。

図９は、測定用パターンの印刷の様子の説明図である。測定用パターンの印刷されるテストシートＴＳの大きさは、１０１．６ｍｍ×１５２．４ｍｍ（４インチ×６インチ）である。

図中の右側には、テストシートＴＳに印刷される測定用パターンが示されている。図中の左側の長方形は、各パスにおけるヘッド４１の位置（テストシートＴＳに対する相対位置）が示されている。説明の都合上、ヘッド４１がテストシートＴＳに対して移動しているように描かれているが、同図はヘッドとテストシートＴＳとの相対的な位置関係を示すものであって、実際にはテストシートＴＳが搬送方向に間欠的に搬送されている。

テストシートＴＳが搬送され続けると、テストシートＴＳの下端が搬送ローラ２３を通過する。テストシートＴＳの下端が搬送ローラ２３を通過する時に最上流ノズル♯９０と対向するテストシートＴＳの位置が、「ＮＩＰライン」として図中に点線で示されている。つまり、図中においてヘッド４１がＮＩＰラインよりも上にあるパスでは、搬送ローラ２３と従動ローラ２６との間でテストシートＴＳが挟まれた状態（「ＮＩＰ状態」とも言う）で、印刷が行われる。また、図中において、ヘッド４１がＮＩＰラインよりも下にあるパスでは、搬送ローラ２３と従動ローラ２６との間にテストシートＴＳがない状態（排紙ローラ２５と従動ローラ２７だけでテストシートＴＳを搬送する状態であり「非ＮＩＰ状態」とも言う）で、印刷が行われる。

測定用パターンは、識別コードと、複数のラインとから構成される。
識別コードは、個々のプリンタ１をそれぞれ識別するための個体識別用の記号である。この識別コードは、Ｓ１０２において測定用パターンが読み取られるときに一緒に読み取られ、ＯＣＲによる文字認識によって、コンピュータ１１０に識別される。
各ラインは、いずれも移動方向に沿って形成されている。ＮＩＰラインよりも上端側には、多数のラインが形成される。ＮＩＰラインよりも上端側のラインについて、上端側から順にｉ番目のラインのことを「Ｌｉ」と呼ぶ。また、ＮＩＰラインよりも下端側には、２つのラインが形成される。ＮＩＰラインよりも下端側の２つのラインのうち、上端側のラインをＬｂ１と呼び、下端側のライン（一番下のライン）をＬｂ２と呼ぶ。特定のラインは、他のラインよりも長く形成されている。例えば、ラインＬ１、ラインＬ１３及びラインＬｂ２は、他のラインと比べて、長く形成されている。これらのラインは、以下のようにして形成される。

まず、テストシートＴＳが所定の印刷開始位置まで搬送された後、パス１において、ノズル♯９０のみからインク滴が吐出され、ラインＬ１が形成される。パス１の後、コントローラ６０は、搬送ローラ２３を１／４回転させて、テストシートＴＳを約１／４インチだけ搬送する。搬送後、パス２において、ノズル♯９０のみからインク滴が吐出され、ラインＬ２が形成される。以下、同様の動作が繰り返し行われ、約１／４インチ間隔でラインＬ１〜ラインＬ２０が形成される。このように、ＮＩＰラインよりも上端側にあるラインＬ１〜ラインＬ２０は、ノズル♯１〜ノズル♯９０のうちの最上流ノズル♯９０により形成される。これにより、ＮＩＰ状態で、できる限り多くのラインをテストシートＴＳに形成することができる。なお、ラインＬ１〜ラインＬ２０はノズル♯９０のみによって形成されるが、識別コードを印刷するパスでは、識別コードを印刷する際に、ノズル♯９０以外のノズルも用いられる。

テストシートＴＳの下端が搬送ローラ２３を通過した後、パスｎにおいて、ノズル♯９０のみからインク滴が吐出され、ラインＬｂ１が形成される。パスｎの後、コントローラ６０は、搬送ローラ２３を１回転させて、テストシートＴＳを約１インチだけ搬送する。搬送後、パスｎ＋１において、ノズル♯３のみからインク滴が吐出され、ラインＬｂ２が形成される。仮にノズル♯１が用いられると、ラインＬｂ１とラインＬｂ２との間隔が非常に狭くなり（約１／９０インチ）、後でラインＬｂ１とラインＬｂ２との間隔を測定する際に、測定しにくくなる。このため、本実施形態では、ノズル♯１よりも搬送方向上流側にあるノズル♯３を用いてラインＬｂ２を形成することにより、ラインＬｂ１とラインＬｂ２との間隔を広げて、測定し易くしている。

ところで、テストシートＴＳの搬送が理想的に行われた場合、ラインＬ１〜ラインＬ２０におけるライン同士の間隔は、ちょうど１／４インチになるはずである。しかし、搬送誤差があると、ライン間隔は１／４インチにならない。仮に理想的な搬送量よりも多くテストシートＴＳが搬送されると、ライン間隔は広がる。逆に、理想的な搬送量よりも少なくテストシートＴＳが搬送されると、ライン間隔が狭まる。つまり、ある２つのラインの間隔は、一方のラインが形成されるパスと他方のラインが形成されるパスとの間に行われる搬送処理での搬送誤差を反映している。このため、２つのラインの間隔を測定すれば、一方のラインが形成されるパスと他方のラインが形成されるパスとの間に行われる搬送処理での搬送誤差を測定することが可能になる。

同様に、ラインＬｂ１とラインＬｂ２との間隔は、テストシートＴＳの搬送が理想的に行われた場合（正確には、更にノズル♯９０とノズル♯３のインクの吐出が同じである場合）、ちょうど３／９０インチになるはずである。しかし、搬送誤差があると、ライン間隔は３／９０インチにならない。このため、ラインＬｂ１とラインＬｂ２の間隔は、非ＮＩＰ状態における搬送処理での搬送誤差を反映していると考えられる。このため、ラインＬｂ１とラインＬｂ２との間隔を測定すれば、非ＮＩＰ状態における搬送処理での搬送誤差を測定することが可能になる。

＝＝＝パターンの読み取り（Ｓ１０２）＝＝＝
＜スキャナの構成＞
まず、測定用パターンの読み取りに用いられるスキャナ１５０の構成について説明する。
図１０Ａは、スキャナ１５０の縦断面図である。図１０Ｂは、上蓋１５１を外した状態のスキャナ１５０の上面図である。

スキャナ１５０は、上蓋１５１と、原稿５が置かれる原稿台ガラス１５２と、この原稿台ガラス１５２を介して原稿５と対面しつつ副走査方向に移動する読取キャリッジ１５３と、読取キャリッジ１５３を副走査方向に案内する案内部１５４と、読取キャリッジ１５３を移動させるための移動機構１５５と、スキャナ１５０内の各部を制御するスキャナコントローラ（不図示）とを備えている。読取キャリッジ１５３には、原稿５に光を照射する露光ランプ１５７と、主走査方向（図１０Ａにおいて紙面に垂直な方向）のラインの像を検出するラインセンサ１５８と、原稿５からの反射光をラインセンサ１５８へ導くための光学系１５９とが設けられている。図中の読取キャリッジ１５３の内部の破線は、光の軌跡を示している。

原稿５の画像を読み取るとき、操作者は、上蓋１５１を開いて原稿５を原稿台ガラス１５２に置き、上蓋１５１を閉じる。そして、スキャナコントローラが、露光ランプ１５７を発光させた状態で読取キャリッジ１５３を副走査方向に沿って移動させ、ラインセンサ１５８により原稿５の表面の画像を読み取る。スキャナコントローラは、読み取った画像データをコンピュータ１１０のスキャナドライバへ送信し、これにより、コンピュータ１１０は、原稿５の画像データを取得する。

＜読み取り位置精度＞
後述するように、本実施形態ではスキャナ１５０は、テストシートＴＳの測定用パターンと基準シートの基準パターンとを、７２０ｄｐｉ（主走査方向）×７２０ｄｐｉ（副走査方向）の解像度で読み取る。このため、以下の説明では、７２０×７２０ｄｐｉの解像度で画像を読み取ることを前提にして説明を行う。

図１１は、スキャナの読み取り位置の誤差のグラフである。グラフの横軸は、読み取り位置（理論値）を示している（すなわち、グラフの横軸は、読取キャリッジ１５３の位置（理論値）を示している）。グラフの縦軸は、読み取り位置の誤差（読み取り位置の理論値と実際の読み取り位置との差）を示している。例えば、読取キャリッジ１５３を１インチ（＝２５．４ｍｍ）移動させると、約６０μｍの誤差が生じることになる。

仮に、読み取り位置の理論値と実際の読み取り位置が一致していれば、基準位置（読み取り位置がゼロの位置）を示す画素から副走査方向に７２０画素離れた画素は、基準位置からちょうど１インチ離れた位置の画像を示すはずである。しかし、グラフに示すような読み取り位置の誤差が生じた場合、基準位置を示す画素から副走査方向に７２０画素離れた画素は、基準位置から１インチ離れた位置よりも６０μｍだけ更に離れた位置の画像を示すことになる。
また、仮に、グラフの傾きがゼロであれば、１／７２０インチ毎に等間隔に、画像が読み取られるはずである。しかし、グラフの傾きがプラスの位置では、１／７２０インチよりも長い間隔で画像が読み取られることになる。また、グラフの傾きがマイナスの位置では、１／７２０インチよりも短い間隔で画像が読み取られることになる。

この結果、仮に測定用パターンのラインが等間隔に形成されたとしても、読み取り位置の誤差がある状態では、画像データ上のラインの画像が等間隔にならない。このように、読み取り位置の誤差がある状態では、測定用パターンを単に読み取っただけでは、ラインの位置を正確に計測することができない。

そこで、本実施形態では、テストシートＴＳをセットして測定用パターンをスキャナに読み取らせる際に、基準シートをセットして基準パターンも読み取らせている。

＜測定用パターンと基準パターンの読み取り＞
図１２Ａは、基準シートＳＳの説明図である。図１２Ｂは、原稿台ガラス１５２にテストシートＴＳと基準シートＳＳをセットした様子の説明図である。
基準シートＳＳの大きさは１０ｍｍ×３００ｍｍであり、基準シートＳＳは長細い形をしている。基準シートＳＳには、基準パターンとして３６ｄｐｉ間隔にて多数のラインが形成されている。基準シートＳＳは繰り返し使用されるため、紙ではなく、ＰＥＴフィルムから構成される。また、基準パターンは、レーザー加工により、高精度に形成されている。

不図示の治具を用いることによって、テストシートＴＳ及び基準シートＳＳは、原稿台ガラス１５２上の所定の位置にセットされる。基準シートＳＳは、長辺がスキャナ１５０の副走査方向に平行になるように、すなわち基準シートＳＳの各ラインがスキャナ１５０の主走査方向に平行になるように、原稿台ガラス１５２上にセットされる。この基準シートＳＳの横に、テストシートＴＳがセットされる。テストシートＴＳは、長辺がスキャナ１５０の副走査方向に平行になるように、すなわち測定用パターンの各ラインが主走査方向に平行になるように、原稿台ガラス１５２上にセットされる。

このようにテストシートＴＳと基準シートＳＳをセットした状態で、スキャナ１５０は、測定用パターンと基準パターンを読み取る。このとき、読み取り位置の誤差の影響のため、読取結果における測定用パターンの画像は実際の測定用パターンと比べて歪んだ画像になる。同様に、基準パターンの画像も実際の基準パターンと比べて歪んだ画像になる。

なお、読取結果における測定用パターンの画像は、読み取り位置の誤差の影響だけではなく、プリンタ１の搬送誤差の影響も受けている。一方、基準パターンはプリンタの搬送誤差とは何も関わりなく等間隔にて形成されているので、基準パターンの画像は、スキャナ１５０の読み取り位置の誤差の影響を受けているが、プリンタ１の搬送誤差の影響は受けていない。

そこで、補正値取得プログラムは、測定用パターンの画像に基づいて補正値を算出する際に、基準パターンの画像に基づいて、測定用パターンの画像における読み取り位置の誤差の影響をキャンセルさせる。

＝＝＝補正値の算出（Ｓ１０３）＝＝＝
補正値の算出の説明の前に、スキャナ１５０から取得した画像データについて説明する。画像データは、複数の画素データから構成されている。各画素データは、対応する画素の階調値を示している。スキャナの読み取り誤差を無視すれば、各画素は１／７２０インチ×１／７２０インチの大きさに相当する。このような画素を最小構成単位として画像（ディジタル画像）が構成されており、画像データは、このような画像を示すデータになっている。

図１３は、Ｓ１０３における補正値算出処理のフロー図である。コンピュータ１１０は、補正値取得プログラムに従って、各処理を実行する。つまり、補正値取得プログラムは、各処理をコンピュータ１１０に実行させるためのコードを有する。

＜画像の分割（Ｓ１３１）＞
まず、コンピュータ１１０は、スキャナ１５０から取得した画像データの示す画像を２つに分割する（Ｓ１３１）。
図１４は、画像の分割（Ｓ１３１）の説明図である。図中の左側には、スキャナから取得した画像データの示す画像が描かれている。図中の右側には、分割された画像が描かれている。以下の説明において、図中の左右方向（水平方向）をｘ方向と呼び、図中の上下方向（垂直方向）をｙ方向と呼ぶ。基準パターンの画像における各ラインはｘ方向にほぼ平行であり、測定用パターンの画像における各ラインもｘ方向にほぼ平行である。

コンピュータ１１０は、読取結果の画像から所定の範囲の画像を取り出すことによって、画像を２つに分割する。読取結果の画像が２つに分割されることにより、一方の画像が基準パターンの画像を示し、他方の画像が測定用パターンの画像を示すことになる。このように分割する理由は、基準シートＳＳとテストシートＴＳがそれぞれ別々に傾いてスキャナ１５０にセットされるおそれがあるので、それぞれ別々に傾き補正（Ｓ１３３）をするためである。

＜各画像の傾きの検出（Ｓ１３２）＞
次に、コンピュータ１１０は、画像の傾きを検出する（Ｓ１３２）。
図１５Ａは、測定用パターンの画像の傾きを検出する様子の説明図である。コンピュータ１１０は、画像データの中から、左からＫＸ２番目の画素であって、上からＫＹ１番目からＪＹ個の画素を取り出す。同様に、コンピュータ１１０は、画像データの中から、左からＫＸ３番目の画素であって、上からＫＹ１番目からＪＹ個の画素を取り出す。なお、取り出される画素の中にラインＬ１を示す画素が含まれるように、パラメータＫＸ２、ＫＸ３、ＫＹ１及びＪＹが設定されている。
図１５Ｂは、取り出された画素の階調値のグラフである。横軸は、画素の位置（Ｙ座標）を示している。縦軸は、画素の階調値を示している。コンピュータ１１０は、取り出されたＪＹ個の画素の画素データに基づいて、重心位置ＫＹ２、ＫＹ３をそれぞれ求める。
そして、コンピュータ１１０は、次式によりラインＬ１の傾きθを算出する。
θ＝ｔａｎ^−１｛（ＫＹ２−ＫＹ３）／（ＫＸ２−ＫＸ３）｝

なお、コンピュータ１１０は、測定用パターンの画像の傾きだけでなく、基準パターンの画像の傾きも検出する。基準パターンの画像の傾きの検出方法は、上記の方法とほぼ同様であるので、説明を省略する。

＜各画像の傾きの補正（Ｓ１３３）＞
次に、コンピュータ１１０は、Ｓ１３２において検出した傾きθに基づいて、画像を回転処理し、画像の傾きを補正する（Ｓ１３３）。測定用パターンの画像は、測定用パターンの画像の傾き結果に基づいて回転補正され、基準パターンの画像は、基準パターンの画像の傾き結果に基づいて回転補正される。
画像の回転処理のアルゴリズムには、バイリニア法が用いられる。このアルゴリズムは良く知られているので、説明は省略する。

＜印刷時の傾きの検出（Ｓ１３４）＞
次に、コンピュータ１１０は、測定用パターンの印刷時の傾き（スキュー）を検出する（Ｓ１３４）。測定用パターンを印刷するときにテストシートの下端が搬送ローラを通過すると、テストシートの下端がヘッド４１に接触し、テストシートが動くことがある。このようなことが起こると、その測定用パターンにより算出された補正値が不適切なものになる。そこで、測定用パターンの印刷時の傾きを検出することにより、テストシートの下端がヘッド４１に接触したか否かを検出し、接触した場合にはエラーとする。
図１６は、測定用パターンの印刷時の傾きの検出の様子の説明図である。まず、コンピュータ１１０は、ラインＬ１（一番上のライン）とラインＬｂ２（一番下のライン、下端が搬送ローラを通過した後に形成されるライン）における左側の間隔ＹＬと、右側の間隔ＹＲとを検出する。そして、コンピュータ１１０は、間隔ＹＬと間隔ＹＲの差を算出し、この差が所定範囲内であれば次の処理（Ｓ１３５）へ進み、この差が所定範囲外であればエラーとする。

＜余白量の算出（Ｓ１３５）＞
次に、コンピュータ１１０は、余白量を算出する（Ｓ１３５）。
図１７は、余白量Ｘの説明図である。図中の実線の四角形（外側の四角形）は、Ｓ１３３の回転補正後の画像を示している。図中の点線の四角形（内側の斜めの四角形）は、回転補正前の画像を示している。回転補正後の画像を長方形状にするため、Ｓ１３３の回転補正処理が行われる際に、回転後の画像の四隅に直角三角形状の余白が付加される。

仮に基準シートＳＳの傾きとテストシートＴＳの傾きとが異なると、付加される余白量が異なることになり、回転補正（Ｓ１３３）の前後において、基準パターンに対する測定用パターンのラインの位置が相対的にずれることになる。そこで、コンピュータ１１０は、次式により余白量Ｘを求め、Ｓ１３６において算出されるライン位置から余白量Ｘを差し引くことによって、基準パターンに対する測定用パターンのラインの位置のずれを防止する。
Ｘ＝（ｗ cosθ−Ｗ´／２）×tanθ

＜スキャナ座標系でのライン位置の算出（Ｓ１３６）＞
次に、コンピュータ１１０は、スキャナ座標系での基準パターンのラインの位置及び測定用パターンのラインの位置をそれぞれ算出する（Ｓ１３６）。
スキャナ座標系とは、１画素の大きさを１／７２０×１／７２０インチとしたときの座標系である。スキャナ１５０には読み取り位置の誤差があり、読み取り位置の誤差を考慮すると、各画素データの対応する実際の領域は厳密には１／７２０インチ×１／７２０インチにはならないが、スキャナ座標系では、各画素データの対応する領域（画素）の大きさを１／７２０×１／７２０インチとする。また、各画像における左上の画素の位置を、スキャナ座標系の原点とする。

図１８Ａは、ラインの位置を算出する際に用いられる画像の範囲の説明図である。図中の点線で示す範囲の画像の画像データが、ラインの位置を算出する際に用いられる。図１８Ｂは、ラインの位置の算出の説明図である。横軸は、画素のｙ方向の位置（スキャナ座標系）を示している。縦軸は、画素の階調値（ｘ方向に並ぶ画素の階調値の平均値）を示している。
コンピュータ１１０は、階調値のピーク値の位置を求め、この位置を中心とする所定の範囲を演算範囲とする。そして、この演算範囲の画素の画素データに基づいて、階調値の重心位置を算出し、この重心位置をラインの位置とする。

図１９は、算出されたラインの位置の説明図である（なお、図中に示す位置は、所定の演算が施されて無次元化されている）。基準パターンは等間隔のラインから構成されているにもかかわらず、基準パターンの各ラインの重心位置に注目すると、算出された各ラインの位置は、等間隔にはなっていない。これは、スキャナ１５０の読み取り位置の誤差の影響と考えられる。

なお、Ｓ１３６の処理については、後で詳細説明する。

＜測定用パターンの各ラインの絶対位置の算出（Ｓ１３７）＞
次に、コンピュータ１１０は、測定用パターンのラインの絶対位置をそれぞれ算出する（Ｓ１３７）。
図２０は、測定用パターンのｉ番目のラインの絶対位置の算出の説明図である。ここでは、測定用パターンのｉ番目のラインは、基準パターンのｊ−１番目のラインと、基準パターンのｊ番目のラインとの間に位置する。以下の説明では、測定用パターンのｉ番目のラインの位置（スキャナ座標系）を「Ｓ（ｉ）」と呼び、基準パターンのｊ番目のラインの位置（スキャナ座標系）を「Ｋ（ｊ）」と呼ぶ。また、基準パターンのｊ−１番目のラインとｊ番目のラインとの間隔（ｙ方向の間隔）を「Ｌ」と呼び、基準パターンのｊ−１番目のラインと測定用パターンのｉ番目のラインとの間隔（ｙ方向の間隔）を「Ｌ（ｉ）」と呼ぶ。

まず、コンピュータ１１０は、次式に基づいて、間隔Ｌに対する間隔Ｌ（ｉ）の比率Ｈを算出する。
Ｈ＝Ｌ（ｉ）／Ｌ
＝｛Ｓ（ｉ）−Ｋ（ｊ−１）｝／｛Ｋ（ｊ）−Ｋ（ｊ−１）｝

ところで、実際の基準シートＳＳ上の基準パターンは等間隔であるので、基準パターンの１番目のラインの絶対位置をゼロとすれば、基準パターンの任意のラインの位置を算出できる。例えば、基準パターンの２番目のラインの絶対位置は１／３６インチである。そこで、基準パターンのｊ番目のラインの絶対位置を「Ｊ（ｊ）」とし、測定用パターンのｉ番目のラインの絶対位置を「Ｒ（ｉ）」とすると、次式のようにしてＲ（ｉ）を算出できる。
Ｒ（ｉ）＝｛Ｊ（ｊ）−Ｊ（ｊ−１）｝×Ｈ＋Ｊ（ｊ−１）

ここで、図１９における測定用パターンの１番目のラインの絶対位置の算出の具体的な手順について説明する。まず、コンピュータ１１０は、Ｓ（１）の値（373.768667）に基づいて、測定用パターンの１番目のラインが、基準パターンの２番目のラインと３番目のラインの間に位置していることを検出する。次に、コンピュータ１１０は、比率Ｈが0.40143008（＝(373.7686667-309.613250)/(469.430413-309.613250)）であることを算出する。次に、コンピュータ１１０は、測定用パターンの１番目のラインの絶対位置Ｒ（１）が0.98878678ミリ（＝0.038928613インチ＝｛１／３６インチ｝×0.40143008＋１／３６インチ）であることを算出する。

このようにして、コンピュータ１１０は、測定用パターンの各ラインの絶対位置を算出する。

＜補正値の算出（Ｓ１３８）＞
次に、コンピュータ１１０は、測定用パターンを形成する際に行われた複数回の搬送動作に対応する補正値をそれぞれ算出する（Ｓ１３８）。各補正値は、理論上のライン間隔と実際のライン間隔との差に基づいて、算出される。

パスｉとパスｉ＋１との間で行われた搬送動作の補正値Ｃ（ｉ）は、「６．３５ｍｍ」（１／４インチ、すなわちラインＬｉとラインＬｉ＋１との理論上の間隔）から「Ｒ（ｉ＋１）−Ｒ（ｉ）」（ラインＬｉ＋１の絶対位置とラインＬｉの実際の間隔）を引いた値になる。例えば、パス１とパス２との間で行われた搬送動作の補正値Ｃ（１）は、６．３５ｍｍ−｛Ｒ（２）−Ｒ（１）｝となる。コンピュータ１１０は、このようにして補正値Ｃ（１）〜補正値Ｃ（１９）を算出する。

但し、ＮＩＰラインよりも下（搬送方向上流側）にあるラインＬｂ１及びＬｂ２を用いて補正値を算出する場合、ラインＬｂ１とラインＬｂ２の理論上の間隔は「０．８４７ｍｍ」（＝３／９０インチ）として計算する。コンピュータ１１０は、このようにして、非ＮＩＰ状態での補正値Ｃｂを算出する。

図２１は、補正値Ｃ（ｉ）の対応する範囲の説明図である。もし仮に、測定用パターンを印刷するときのパス１とパス２との間の搬送動作の際に、当初の目標搬送量から補正値Ｃ（１）を引いた値を目標にすれば、実際の搬送量がちょうど１／４インチ（＝６．３５ｍｍ）になったはずである。同様に、もし仮に、測定用パターンを印刷するときのパスｎとパスｎ＋１との間の搬送動作の際に、当初の目標搬送量から補正値Ｃｂを引いた値を目標にすれば、実際の搬送量がちょうど１インチになったはずである。

＜補正値の平均化（Ｓ１３９）＞
ところで、本実施形態のロータリー式エンコーダ５２は原点センサを備えていないので、コントローラ６０は、搬送ローラ２３の回転量は検出できるが、搬送ローラ２３の回転位置までは検出していない。このため、搬送開始時の搬送ローラ２３の回転位置をプリンタ１は保証することがでない。つまり、印刷する度に、搬送開始時の搬送ローラ２３の回転位置が異なるおそれがある。一方、測定用パターンにおける隣接する２つの罫線の間隔は、１／４インチにて搬送するときのＤＣ成分の搬送誤差の影響だけではなく、ＡＣ成分の搬送誤差の影響も受けている。

従って、目標搬送量を補正する際に、測定用パターンにおける隣接する２つの罫線の間隔に基づいて算出された補正値Ｃをそのまま適用してしまうと、ＡＣ成分の搬送誤差の影響のため、搬送量が正しく補正されないおそれがある。例えば、測定用パターンの印刷時と同じようにパス１とパス２との間で１／４インチの搬送量の搬送動作を行う場合であっても、搬送開始時の搬送ローラ２３の回転位置が測定用パターンの印刷時と異なるのであれば、目標搬送量を補正値Ｃ（１）で補正しても、搬送量は正しく補正されない。もし、搬送開始時の搬送ローラ２３の回転位置が測定用パターンの印刷時と比べて１８０度異なっていると、ＡＣ成分の搬送誤差の影響のため、搬送量は正しく補正されないどころか、むしろ搬送誤差が悪化することもあり得る。
そこで、本実施形態では、ＤＣ成分の搬送誤差だけを補正するようにするため、次式のように４個の補正値Ｃを平均化することによって、ＤＣ成分の搬送誤差を補正するための補正量Ｃａを算出している。
Ｃａ（ｉ）＝｛Ｃ（ｉ−１）＋Ｃ（ｉ）＋Ｃ（ｉ＋１）＋Ｃ（ｉ＋２）｝／４

ここで、ＤＣ成分の搬送誤差を補正するための補正値Ｃａを上式によって算出できる理由を説明する。
前述した通り、パスｉとパスｉ＋１との間で行われた搬送動作の補正値Ｃ（ｉ）は、「６．３５ｍｍ」（１／４インチ、すなわちラインＬｉとラインＬｉ＋１との理論上の間隔）から「Ｒ（ｉ＋１）−Ｒ（ｉ）」（ラインＬｉ＋１の絶対位置とラインＬｉの実際の間隔）を引いた値になる。そうすると、補正値Ｃａを算出するための上式は、次式のような意味になる。
Ｃａ（ｉ）＝［２５．４ｍｍ−｛Ｒ（ｉ＋３）−Ｒ（ｉ−１）｝］／４

つまり、補正値Ｃａ（ｉ）は、理論上１インチ離れるべき２つのライン（ラインＬｉ＋３とラインＬｉ−１）の間隔と１インチ（搬送ローラ２３の１回転分の搬送量）との差を４で割った値である。このため、補正値Ｃａ（ｉ）は、紙Ｓを１インチ（搬送ローラ２３の１回転分の搬送量）にて搬送したときに生じる搬送誤差の１／４を補正する値になる。そして、紙Ｓを１インチにて搬送したときに生じる搬送誤差は、ＤＣ成分の搬送誤差であり、この搬送誤差の中にはＡＣ成分の搬送誤差は含まれない。
ゆえに、４個の補正値Ｃを平均化して算出される補正値Ｃａ（ｉ）は、ＡＣ成分の搬送誤差の影響を受けず、ＤＣ成分の搬送誤差を反映した値になる。

図２２は、測定用パターンのラインと補正値Ｃａとの関係の説明図である。図に示すように、補正値Ｃａ（ｉ）は、ラインＬｉ＋３とラインＬ−１の間隔に応じた値になる。例えば、補正値Ｃａ（２）は、ラインＬ５とラインＬ１の間隔に応じた値になる。また、測定用パターンのラインは、ほぼ１／４インチ毎に形成されているため、補正値Ｃａは、１／４インチ毎に算出することができる。このため、各補正値Ｃａ（ｉ）は、理論上１インチ離れるべき２つのラインの間隔に応じた値になるにも関わらず、各補正値Ｃａの適用範囲を１／４インチにすることができる。つまり、本実施形態では、ＤＣ成分の搬送誤差を補正するための補正値を、搬送ローラ２３の１回転分に相当する１インチの範囲毎ではなく、１／４インチの範囲毎に設定することができる。これにより、総搬送量に応じて変化するＤＣ成分の搬送誤差（図６の点線を参照）を、きめ細かく補正することができる。

なお、パス２とパス３との間で行われる搬送動作の補正値Ｃａ（２）は、補正値Ｃ（１）〜Ｃ（４）の総和を４で割った値（補正値Ｃ（１）〜Ｃ（４）の平均値）として算出される。言い換えると、補正値Ｃａ（２）は、パス１で形成されるラインＬ１と、ラインＬ１を形成してから１インチ搬送した後のパス５で形成されるラインＬ５との間隔に応じた値になる。

また、補正値Ｃａ（ｉ）を算出する際にｉ−１がゼロ以下になる場合、補正値Ｃ（ｉ−１）はＣ（１）を適用する。例えば、パス１とパス２との間で行われる搬送動作の補正値Ｃａ（１）は、｛Ｃ（１）＋Ｃ（１）＋Ｃ（２）＋Ｃ（３）｝／４として算出される。また、補正値Ｃａ（ｉ）を算出する際にｉ＋１が２０以上になる場合、補正値Ｃａを算出するためのＣ（ｉ＋１）はＣ（１９）を適用する。同様に、ｉ＋２が２０以上になる場合、Ｃ（ｉ＋２）はＣ（１９）を適用する。例えば、パス１９とパス２０との間で行われる搬送動作の補正量Ｃａ（１９）は、｛Ｃ（１８）＋Ｃ（１９）＋Ｃ（１９）＋Ｃ（１９）｝／４として算出される。

コンピュータ１１０は、このようにして補正値Ｃａ（１）〜補正値Ｃａ（１９）を算出する。これにより、ＤＣ成分の搬送誤差を補正するための補正値が、１／４インチの範囲ごとに求められる。

＝＝＝補正値の記憶（Ｓ１０４）＝＝＝
次に、コンピュータ１１０は、補正値をプリンタ１のメモリ６３に記憶する（Ｓ１０４）。
図２３は、メモリ６３に記憶されるテーブルの説明図である。メモリ６３に記憶される補正値は、ＮＩＰ状態における補正値Ｃａ（１）〜Ｃａ（１９）と、非ＮＩＰ状態における補正値Ｃｂである。また、各補正値を適用する範囲を示すための境界位置情報も、各補正値に関連付けられてメモリ６３に記憶される。

補正値Ｃａ（ｉ）に関連付けられる境界位置情報は、測定用パターンのラインＬｉ＋１に相当する位置（理論上の位置）を示す情報であり、この境界位置情報は、補正値Ｃａ（ｉ）を適用する範囲の下端側の境界を示している。なお、上端側の境界は、補正値Ｃａ（ｉ−１）に関連付けられる境界位置情報から求めることができる。従って、例えば補正値Ｃ（２）の適用範囲は、紙Ｓに対してラインＬ１の位置とラインＬ２の位置の間（にノズル♯９０が位置する）の範囲となる。なお、非ＮＩＰ状態になる範囲は既知なので、補正値Ｃｂには境界位置情報を関連付けなくても良い。

プリンタ製造工場では、製造されるプリンタ毎に、各プリンタの個体の特徴を反映したテーブルがメモリ６３に記憶される。そして、このテーブルを記憶したプリンタは、梱包されて出荷される。

＝＝＝ユーザの下での印刷時の搬送動作＝＝＝
プリンタを購入したユーザの下で印刷が行われる際に、コントローラ６０は、メモリ６３からテーブルを読み出し、目標搬送量を補正値に基づいて補正し、補正された目標搬送量に基づいて搬送動作を行う。以下、ユーザの下での印刷時の搬送動作の様子について説明する。

図２４Ａは、第１のケースでの補正値の説明図である。第１のケースでは、搬送動作前のノズル♯９０の位置（紙に対する相対位置）が補正値Ｃａ（ｉ）の適用範囲の上端側の境界位置と一致し、搬送動作後のノズル♯９０の位置が補正値Ｃａ（ｉ）の適用範囲の下端側の境界位置と一致している。このような場合、コントローラ６０は、補正値をＣａ（ｉ）とし、当初の目標搬送量Ｆから補正値Ｃａ（ｉ）を加えた値を目標にして搬送モータ２２を駆動して、紙を搬送する。

図２４Ｂは、第２のケースでの補正値の説明図である。第２のケースでは、搬送動作前後のノズル♯９０の位置が、ともに補正値Ｃａ（ｉ）の適用範囲内にある。このような場合、コントローラ６０は、当初の目標搬送量Ｆと適用範囲の搬送方向長さＬとの比Ｆ／ＬをＣａ（ｉ）で掛けた値を補正値にする。そして、コントローラ６０は、当初の目標搬送量Ｆから補正値Ｃａ（ｉ）×（Ｆ／Ｌ）を加えた値を目標にして搬送モータ２２を駆動して、紙を搬送する。

図２４Ｃは、第３のケースでの補正値の説明図である。第３のケースでは、搬送動作前のノズル♯９０の位置が補正値Ｃａ（ｉ）の適用範囲内にあり、搬送動作後のノズル♯９０の位置が補正値Ｃａ（ｉ＋１）の適用範囲内にある。ここで、目標搬送量Ｆのうちの補正値Ｃａ（ｉ）の適用範囲内での搬送量をＦ１とし、補正値Ｃａ（ｉ＋１）の適用範囲内での搬送量をＦ２とする。このような場合、コントローラ６０は、Ｃａ（ｉ）をＦ１／Ｌで掛けた値と、Ｃａ（ｉ＋１）をＦ２／Ｌで掛けた値との和を補正値とする。そして、コントローラ６０は、当初の目標搬送量Ｆから補正値を加えた値を目標にして搬送モータ２２を駆動して、紙を搬送する。

図２４Ｄは、第４のケースでの補正値の説明図である。第４のケースでは、補正値Ｃａ（ｉ＋１）の適用範囲を通過するように紙が搬送される。このような場合、コントローラ６０は、Ｃａ（ｉ）をＦ１／Ｌで掛けた値と、Ｃａ（ｉ＋１）と、Ｃａ（ｉ＋２）をＦ２／Ｌで掛けた値との和を補正値にする。そして、コントローラ６０は、当初の目標搬送量Ｆから補正値を加えた値を目標にして搬送モータ２２を駆動して、紙を搬送する。

このように、コントローラが当初の目標搬送量Ｆを補正して、補正後の目標搬送量に基づいて搬送ユニットを制御すると、実際の搬送量が当初の目標搬送量Ｆになるように補正され、ＤＣ成分の搬送誤差が補正される。

ところで、上記のように補正値を計算すれば、目標搬送量Ｆが小さいとき、補正値も小さい値になる。目標搬送量Ｆが小さければ、その搬送を行う際に生じる搬送誤差も小さいと考えられるので、上記のように補正値を計算すれば、搬送時に生じる搬送誤差に合う補正値を算出できる。また、各補正値Ｃａに対して１／４インチ毎に適用範囲が設定されているので、これにより、紙Ｓとヘッド４１との相対位置に応じて変化するＤＣ成分の搬送誤差を的確に補正することができる。

なお、非ＮＩＰ状態で搬送を行うときには、補正値Ｃｂに基づいて目標搬送量を補正している。非ＮＩＰ状態での搬送量がＦの場合、コントローラ６０は、補正値ＣｂにＦ／Ｌで掛けた値を補正値にする。但し、この場合、Ｌは、非ＮＩＰ状態の範囲に関わらず、１インチに設定されている。そして、コントローラ６０は、当初の目標搬送量Ｆから補正値（Ｃｂ×Ｆ／Ｌ）を加えた値を目標にして搬送モータ２２を駆動して、紙を搬送する。

＝＝＝ライン位置の算出の詳細説明＝＝＝
ここでは、補正値の算出（Ｓ１０３）でのスキャナ座標系でのライン位置の算出（Ｓ１３６）について更に詳しく説明する。

＜基本的な流れ＞
図２５は、ラインの位置を算出する様子の説明図である。
図中の左側には、図１８Ａの点線で示す範囲の画像データが示されている。この画像データは、マトリクス状に配置された画素の画素データから構成される。この画像データでは、ｘ方向に所定数の画素が並んでいる。以下、図中の太線で囲んだ範囲の画素群のことを「画素列」と呼ぶ。
コンピュータ１１０は、ラインの位置を算出する際に、各画素列の画素データの平均値を算出する。この平均値は、画素列のｙ方向の位置に対応付けられており、グラフにすると図中の右側のようになる。このグラフは、図１８Ｂのグラフと同じである。
そして、コンピュータ１１０は、階調値がピーク値になる画素列を求め、この画素列を中心として所定範囲の複数の画素列を演算範囲と決定する。そして、演算範囲の画素列の階調値に基づいて、演算範囲における階調値の重心位置を算出し、この重心位置をラインの位置として算出する。

＜不良画素の影響＞
図２６Ａは、基準シートやテストシートにごみがあった場合の画素列内の階調値のグラフである。グラフの横軸は、画素列内における画素のｘ方向の位置を示している。縦軸は、画素の階調値を示している。実線のグラフは、各画素の階調値を示している。点線のグラフは、この画素列の画素データ（階調値）の平均値を示している。
ごみの画像を示す画素が画素列内にある場合、画素列の画素データの平均値が高くなってしまう。このような画素列が演算範囲にあると、ラインの位置の算出に影響を与えてしまう。例えば、ごみの影響で平均値が高くなった画素列が演算範囲の上の方（−ｙ方向）にあると、ラインの位置は、本来の位置よりも上の方に算出されてしまう。この結果、正しい補正値を算出できず、搬送誤差を正確に補正できなくなるおそれがある。

図２６Ｂは、ドット抜けのある場合のラインの画像を示す画素列内の階調値のグラフである。
測定用パターンのラインを構成するドット列にドット抜けがある場合、画素列の画素のデータの平均値が低くなってしまう。このような画素列が演算範囲内にあると、ラインの位置の算出に影響を与えてしまう。この結果、正しい補正値を算出できず、搬送誤差を正確に補正できなくなるおそれがある。

このように、不良画素（ごみの画像を示す画素やドット抜けの画像を示す画素等）が画素列内にあると、その画素列の画素データの平均値が影響をうけてしまい、ラインの位置を正確に算出することができなくなる。

＜比較例＞
図２７は、比較例の説明図である。
比較例では、コンピュータ１１０は、まず画素列内の全画素データの平均値を算出する。次に、コンピュータ１１０は、全画素データの平均値を中心にして所定の閾値の範囲を正常範囲と設定し、この正常範囲外の画素データを除去する。つまり、図中の点線で示す画素データを除去する（このとき、不良画素の画素データを除去することができる）。なお、比較例では、閾値は固定された値である。次に、コンピュータ１１０は、残りの画素データ（正常範囲内の画素データ）の平均値を算出する。つまり、図中の太線で示す画素データの平均値を算出する。
この比較例により算出された画素列の平均値に基づいてラインの位置を算出すれば、不良画素の影響を軽減させてラインの位置を算出することができる。

＜ラインが傾いた場合の問題点＞
図２８Ａは、測定用パターンのラインが傾いている様子の説明図である。この図の黒い領域は、測定用パターンのラインを示している。図中の升目は、測定用パターンをスキャナ１５０で読み取る際の各画素の領域に対応している。
Ｓ１３３において、測定用パターンの画像の傾きがラインＬ１の傾きに応じて補正されている。しかし、他のラインがラインＬ１に対して傾いていれば、Ｓ１３３において傾き補正しても、ラインＬ１以外のラインが傾いていることがある。
このようにラインが傾くと、ラインの境界の画素列（図中の矢印で示す画素列）において、画素に占めるラインの領域は、図中の右の画素ほど少なくなる。

図２８Ｂは、図２８Ａの矢印で示す画素列の階調値のグラフである。画素に占めるラインの領域が図中の右の画素ほど少なくなるため、グラフは右下がりになる。
このような画素列に対して、全画素データの平均値を中心にして所定の閾値の範囲を正常範囲と設定すると、不良画素ではない正常な画素の画素データが除去されてしまう。

＜閾値を固定した場合の問題点＞
図２９は、不良画素がない場合のグラフである。図中の下側のグラフは、ラインが形成されていない部分（テストシートの白地部分）の画素列の階調値のグラフである。図中の上側のグラフは、ラインが形成されている部分（ライン形成部分）の画素列の階調値のグラフである。
ラインが形成されていない部分では、テストシートの白地部分がそのままスキャナ１５０に読み取られるため、画素列内の階調値のばらつきが小さい。一方、ラインが形成されている部分では、ラインを構成する多数のドットをスキャナ１５０で読み取ることになるため、画素列内の階調値のばらつきが大きくなる。

白地部分では階調値のばらつきが小さいため（図２９の下側のグラフ参照）、図２７に示す閾値を小さく設定することができる。しかし、このような小さい閾値がライン形成部分の画素列の階調値に適用されると、不良画素ではない正常な画素の画素データが除去されてしまう。
一方、ライン形成部分では階調値のばらつきが大きいため（図２９の上側のグラフ参照）、正常な画素を不良画素と判別しないようにするためには、図２７に示す閾値を大きく設定する必要がある。しかし、このような大きい閾値が白地部分の画素列の階調値に適用されると、不良画素の識別の感度が低くなる。

＜本実施形態＞
上記の問題点を解決する本実施形態について以下に説明する。

図３０は、Ｓ１３６のライン位置算出処理のフロー図である。コンピュータ１１０は、補正値取得プログラムに従って、各処理を実行する。つまり、補正値取得プログラムは、各処理をコンピュータ１１０に実行させるためのコードを有する。

まず、コンピュータ１１０は、平均値算出の対象となる画素列の画素データを取得する（Ｓ２０１）。次に、コンピュータ１１０は、画素データの近似直線を算出する。

図３１Ａは、近似直線の説明図である。図中の点線で示すグラフは、画素列の階調値のグラフである（この画素列には不良画素がある）。この点線のグラフをＧ（ｘ）とする。図中の実線は、算出された近似直線である。この直線は、傾きをａ、切片をｂとして表現できる。傾きａと切片ｂは、最小二乗法により算出される。

次に、コンピュータ１１０は、近似直線に基づいて、階調値の傾きを補正する（Ｓ２０３）。図３１Ｂは、傾き補正後の階調値のグラフである。補正後の階調値のグラフをｇ（ｘ）とすると、ｇ（ｘ）＝Ｇ（ｘ）−（ａｘ＋ｂ）としてｇ（ｘ）が算出される。

次に、コンピュータ１１０は、傾き補正後の階調値ｇ（ｘ）の平均値ａｖｅと標準偏差σを算出する（Ｓ２０４）。なお、画素列に不良画素が無い場合又は不良画素の数が少ない場合には、画素列に不良画素が多い場合と比べて、標準偏差σは小さい値になる。また、画素列に不良画素が無い場合において、その画素列が白地部分の場合（図２９の下側のグラフ参照）には、ライン形成部分の場合（図２９の上側のグラフ参照）と比べて、更に小さい値になる。

次に、コンピュータ１１０は、標準偏差σが所定値以下か否かを判断する（Ｓ２０５）。この所定値としては、例えば「３」が予め設定されている。傾き補正後の階調値ｇ（ｘ）が図２９のいずれかのグラフのように不良画素が無い場合や、画素列に不良画素が少ない場合、標準偏差σは所定値以下になりやすい。一方、標準偏差σが所定値よりも大きい場合（Ｓ２０５でＮＯ）、その画素列には不良画素が多いと考えられる。

そして、コンピュータ１１０は、Ｓ２０５において標準偏差σが所定値以下と判断した場合、閾値として３×σを設定する（Ｓ２０６）。一方、コンピュータ１１０は、Ｓ２０５において標準偏差σが所定値よりも大きいと判断した場合、閾値としてσを設定する（Ｓ２０７）。

次に、コンピュータ１１０は、不良画素の検出を行う（Ｓ２０８）。不良画素の検出には、Ｓ２０６又はＳ２０７で設定された閾値が用いられ、傾き補正後のグラフｇ（ｘ）の平均値ａｖｅを中心とする閾値の範囲内が正常範囲と設定され、この正常範囲外の階調値になる画素が不良画素として検出される。

図３２Ａ〜図３２Ｄは、正常範囲の説明図である。
図３２Ａは、白地部分の画素列に不良画素が無い場合の正常範囲の説明図である。白地部分の画素列に不良画素が無い場合、この画素列の標準偏差σは比較的小さい値になり、正常範囲の階調値の幅は狭くなる。このため、仮に微小なごみ等があっても、不良画素を検出することが可能である。

図３２Ｂは、ライン形成部分の画素列に不良画素が無い場合の正常範囲の説明図である。ライン形成部分の画素列では、白地部分の画素列と比べて、標準偏差σが比較的大きい値になり、正常範囲の階調値の幅は広くなる。このため、正常な画素が、不良画素として検出されるおそれが軽減する。

図３２Ｃは、画素列に不良画素がある場合の正常範囲の説明図である。ごみが微小な場合や、ごみの数が少ない場合、標準偏差σは所定値以下になり、閾値は３×σに設定される（Ｓ２０６参照）。そして、傾き補正後のグラフｇ（ｘ）の平均値ａｖｅを中心にして閾値の範囲外の階調値になる画素が不良画素として検出される。

図３２Ｄは、画素列に多数の不良画素がある場合の正常範囲の説明図である。ごみが大きい場合やごみの数が多い場合、標準偏差σは所定値よりも大きくなり、閾値は、３×σよりも小さい値σに設定される（Ｓ２０７参照）。もし仮に、Ｓ２０５の判断処理を設けず、閾値が常に３×σに設定されるとすると、正常範囲が広く設定されてしまい、不良画素として検出すべき画素が、正常な画素と判断されてしまう。

次に、コンピュータ１１０は、Ｓ２０８で検出された不良画素の数が画素列の画素数の３０％以下か否かを判断する（Ｓ２０９）。画素列における不良画素の占有率が３０％を超える場合（Ｓ２０９でＮＯ）、不良画素を除去して画素列の画素データの平均値を算出しても、算出された平均値と画素列本来の階調（濃度）との関連性が希釈していると考えられる。このため、コンピュータ１１０は、エラーを報知し、以後の処理を行わずに終了する（Ｓ２１０）。本実施形態によれば、不良画素を精度良く検出できるので、エラーの報知を正確に行うことができる。なお、エラーが報知された場合、検査者は、テストパターンをスキャナ１５０に置き直してＳ１０２（図７）の処理を再度行っても良い。

画素列における不良画素の占有率が３０％以下の場合（Ｓ２０９でＹＥＳ）、コンピュータ１１０は、不良画素を除去して画素列の平均値を算出する（Ｓ２１１）。なお、このときの平均値の算出に用いられるデータは、傾き補正後のグラフｇ（ｘ）の値ではなく、傾き補正前のグラフＧ（ｘ）の値である。仮に傾き補正後のグラフｇ（ｘ）の値に基づいて平均値を算出すると、近似直線の切片ｂの値が不良画素の影響を受けているので、算出された平均値も不良画素の影響を受けたものになるからである。

コンピュータ１１０は、全ての画素列に対して上記の処理を繰り返し行い（Ｓ２０１〜Ｓ２１２）、各画素列の画素データの平均値を算出する（Ｓ２１３）。これにより、図１８Ｂや図２５右側のようなデータが得られる。

そして、コンピュータ１１０は、各画素列のそれぞれの階調値（上記の処理で算出された各画素列のそれぞれの平均値）に基づいて、画像データの示すラインの位置を算出する（Ｓ２１３）。具体的には、コンピュータ１１０は、階調値がピーク値になる画素列を求め、この画素列を中心として所定範囲の複数の画素列を演算範囲と決定する。そして、演算範囲の画素列の階調値に基づいて、演算範囲における階調値の重心位置を算出し、この重心位置をラインの位置として算出する。なお、重心位置は、「画素列の階調値とその画素列のｙ方向の位置の積の演算範囲での総和」を「画素列の階調値の演算範囲での総和」で割った値として算出される。本実施形態によれば、不良画素を適切に除去した状態で階調値の重心位置を算出できるので、正確にラインの位置を算出できる。

＝＝＝その他の実施の形態＝＝＝
上記の実施形態は、主としてプリンタについて記載されているが、その中には、印刷装置、記録装置、液体の吐出装置、搬送方法、印刷方法、記録方法、液体の吐出方法、印刷システム、記録システム、コンピュータシステム、プログラム、プログラムを記憶した記憶媒体、表示画面、画面表示方法、印刷物の製造方法、等の開示が含まれていることは言うまでもない。

また、一実施形態としてのプリンタ等を説明したが、上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物が含まれることは言うまでもない。特に、以下に述べる実施形態であっても、本発明に含まれるものである。

＜プリンタについて＞
前述の実施形態では、プリンタが説明されていたが、これに限られるものではない。例えば、カラーフィルタ製造装置、染色装置、微細加工装置、半導体製造装置、表面加工装置、三次元造形機、液体気化装置、有機ＥＬ製造装置（特に高分子ＥＬ製造装置）、ディスプレイ製造装置、成膜装置、ＤＮＡチップ製造装置などのインクジェット技術を応用した各種の記録装置に、本実施形態と同様の技術を適用しても良い。
また、ピエゾ素子を利用するものに限られず、例えばサーマルプリンタなどにも適用できる。また、液体を吐出するものに限られず、ワイヤドットプリンタなどにも適用できる。

＜テストシートについて＞
前述の実施形態によれば、搬送量を補正するためのテストシートに形成された各ラインの位置を算出する際に、図３０に示すライン位置算出処理が行われる。但し、画像データの示す画像のラインの位置を算出する場合であれば、前述のライン位置算出処理を適用することが可能である。

例えば、インクの吐出タイミングを補正するためのテストシートに対して、前述のライン位置算出処理を行うことも可能である。インクの吐出タイミングを補正するためのテストシートでは、キャリッジ３１が往路に移動するときに搬送方向下流側のノズル♯１〜♯４５からインクを同時に吐出することによって搬送方向に沿う第１ラインが形成され、その後テストシートを搬送せずに、キャリッジ３１が復路に移動するときに搬送方向上流側のノズル♯４６〜９０からインクを同時に吐出することによって搬送方向に沿う第２ラインが形成される。そして、第１ラインと第２ラインとの間隔を検出すれば、往路に対する復路のインク吐出タイミングを補正することができる。このようなテストシートをスキャナで読み取らせ、その画像データに基づいてインク吐出タイミングを補正する際に、図３０に示すライン位置算出処理を適用することが可能である。但し、前述の実施形態では、移動方向に沿うラインが形成されて、各ラインの搬送方向の位置を算出しているが、インクの吐出タイミングを補正するためのテストシートでは、搬送方向に沿うラインが形成されて、各ラインの移動方向の位置を算出する点で異なることになる。

また、画像データに基づいてラインの位置を算出する技術は、テストシートにおけるラインの位置の算出に限られず、基準シートのラインの位置の算出に適用しても良い。

＝＝＝まとめ＝＝＝
（１）前述の実施形態によれば、ｘ方向及びｙ方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、ｘ方向に沿うラインのｙ方向の位置を算出している（図２５参照）。この際に、ごみが付着していたり、ラインを形成するドットに抜けがあったりすると、ラインの位置を正確に算出することができなくなるおそれがある（図２６参照）。そこで、前述の実施形態によれば、画素列（ｘ方向に並ぶ複数の画素）の階調値の平均値を算出する際に、正常範囲を設定し、正常範囲外の階調値の画素を不良画素として検出することにしている。
但し、正常範囲の幅を固定してしまうと、不良画素ではない正常な画素の画素データが除去されてしまったり、不良画素の識別の感度が低くなったりするおそれがある。

そこで、前述の実施形態によれば、階調値のばらつき度合いに応じて閾値を設定し、この閾値に基づいて正常範囲を設定している。例えば、白地部分では階調値のばらつきが小さくなり、小さい値の閾値に基づいて幅の狭い正常範囲が設定される（図３２Ａ参照）。また、ライン形成部分では階調値のばらつきが大きくなり、大きい値の閾値に基づいて幅の広い正常範囲が設定される（図３２Ｂ参照）。これにより、本実施形態によれば、正常な画素を不良画素として検出しないようにしつつ、不良画素の識別の感度が低減しないようにしている。

（２）前述の実施形態によれば、階調値のばらつき度合いとして、標準偏差σを採用している。なお、標準偏差σは、分散（統計値と平均値との差を２乗し、算術平均したもの）の正の平方根として算出される。そして、平均値ａｖｅ±標準偏差σの範囲を正常範囲として設定すれば、正常な画素を不良画素として検出しないようにしつつ、不良画素の識別の感度が低減しないようにすることができる。
但し、必ずしも標準偏差σに基づいて正常範囲を設定しなくても良い。例えば、分散に基づいて正常範囲を設定しても良い。

（３）前述の実施形態によれば、標準偏差σが所定値以下であれば、標準偏差σに係数３を乗じた値を閾値としている（図３０のＳ２０６参照）。これにより、標準偏差σに応じて正常範囲を設定することが可能になる。

（４）更に前述の実施形態によれば、標準偏差σが所定値以下であれば、標準偏差σに係数３を乗じた値を閾値とし（図３０のＳ２０６参照）、標準偏差σが所定値よりも大きければ、標準偏差σに係数１を乗じた値を閾値としている（図３０のＳ２０７参照）。このように、標準偏差の値が大きくなると係数が小さくなるように係数が設定されることによって、画素列に不良画素が多い場合には多くの不良画素を検出することが可能になる。

（５）前述の実施形態によれば、検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出する際に、前記第１方向に並ぶ複数の画素のうちの前記不良画素以外の画素の画素データの平均値を算出し（図３０のＳ２１１参照）、前記平均値に基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出することにしている。仮に不良画素を含んだまま画素列の平均値を算出すると、不良画素の影響を受けた状態でラインの位置が算出されるためである。なお、不良画素が１つでも検出されたときにエラーにしてしまうと、作業が進まなくなってしまうため、前述の実施形態では不良画素占有率が３０％以下であれば、ライン位置算出処理を継続している。

（６）前述の実施形態によれば、画素列（ｘ方向に並ぶ複数の画素）の画素データの示す階調値Ｇ（ｘ）に基づいて近似直線を算出し、この近似直線に基づいて階調値Ｇ（ｓ）をｇ（ｘ）に補正し（図３１Ａ及び図３１Ｂ参照）、補正された階調値ｇ（ｘ）に基づいて不良画素を検出している。これにより、たとえ測定用パターンのラインが傾いていた場合であっても、不良画素を正確に特定することができる。

（７）前述の実施形態の全ての構成要素を備えれば、全ての効果が得られるので望ましい。但し、必ずしも前述の実施形態の全ての構成要素を備える必要は無い。例えば、仮にＳ１３５（図１３参照）の余白量の算出を行わなかったとしても、補正の精度は落ちるものの、ＤＣ成分の搬送誤差を補正することは可能である。

（８）なお、前述の実施形態の説明には、ラインの位置の算出方法の説明だけでなく、補正値を算出する方法の説明も含まれている。そして、前述の補正値算出方法によれば、ラインの位置を正確に算出できるので、補正値を正確に算出することが可能である。

（９）なお、前述の実施形態の説明には、ラインの位置の算出方法の説明だけでなく、コンピュータ１１０にインストールされたプログラムの説明も含まれている。そして、前述のプログラムによれば、ラインの位置を正確に算出できるようにプリンタ１、スキャナ１５０及びコンピュータ１１０を制御することができる。

プリンタ１の全体構成のブロック図である。 図２Ａは、プリンタ１の全体構成の概略図である。また、図２Ｂは、プリンタ１の全体構成の断面図である。 ノズルの配列を示す説明図である。 搬送ユニット２０の構成の説明図である。 ＡＣ成分の搬送誤差の説明用グラフである。 紙を搬送する際に生じる搬送誤差のグラフ（概念図）である。 搬送量を補正するための補正値を決定するまでのフロー図である。 図８Ａ〜図８Ｃは、補正値を決定するまでの様子の説明図である。 測定用パターンの印刷の様子の説明図である。 図１０Ａは、スキャナ１５０の縦断面図である。図１０Ｂは、上蓋１５１を外した状態のスキャナ１５０の上面図である。 スキャナの読み取り位置の誤差のグラフである。 図１２Ａは、基準シートＳＳの説明図である。図１２Ｂは、原稿台ガラス１５２にテストシートＴＳと基準シートＳＳをセットした様子の説明図である。 Ｓ１０３における補正値算出処理のフロー図である。 画像の分割（Ｓ１３１）の説明図である。 図１５Ａは、測定用パターンの画像の傾きを検出する様子の説明図である。図１５Ｂは、取り出された画素の階調値のグラフである。 測定用パターンの印刷時の傾きの検出の様子の説明図である。 余白量Ｘの説明図である。 図１８Ａは、ラインの位置を算出する際に用いられる画像の範囲の説明図である。図１８Ｂは、ラインの位置の算出の説明図である。 算出されたラインの位置の説明図である。 測定用パターンのｉ番目のラインの絶対位置の算出の説明図である。 補正値Ｃ（ｉ）の対応する範囲の説明図である。 測定用パターンのラインと補正値Ｃａとの関係の説明図である。 メモリ６３に記憶されるテーブルの説明図である。 図２４Ａは、第１のケースでの補正値の説明図である。図２４Ｂは、第２のケースでの補正値の説明図である。図２４Ｃは、第３のケースでの補正値の説明図である。図２４Ｄは、第４のケースでの補正値の説明図である。 ラインの位置を算出する様子の説明図である。 図２６Ａは、基準シートやテストシートにごみがあった場合の画素列内の階調値のグラフである。図２６Ｂは、ドット抜けのある場合のラインの画像を示す画素列内の階調値のグラフである。 比較例の説明図である。 図２８Ａは、測定用パターンのラインが傾いている様子の説明図である。図２８Ｂは、図２８Ａの矢印で示す画素列の階調値のグラフである。 不良画素がない場合のグラフである。 Ｓ１３６のライン位置算出処理のフロー図である。 図３１Ａは、近似直線の説明図である。図３１Ｂは、傾き補正後の階調値のグラフである。 図３２Ａ〜図３２Ｄは、正常範囲の説明図である。図３２Ａは、白地部分の画素列に不良画素が無い場合の正常範囲の説明図である。図３２Ｂは、ライン形成部分の画素列に不良画素が無い場合の正常範囲の説明図である。図３２Ｃは、画素列に不良画素がある場合の正常範囲の説明図である。図３２Ｄは、画素列に多数の不良画素がある場合の正常範囲の説明図である。

符号の説明

１ プリンタ、１１０ コンピュータ、
２０ 搬送ユニット、２１ 給紙ローラ、２２ 搬送モータ、２３ 搬送ローラ、
２４ プラテン、２５ 排紙ローラ、２６ 従動ローラ、２７ 従動ローラ、
３０ キャリッジユニット、３１ キャリッジ、３２ キャリッジモータ、
４０ ヘッドユニット、４１ ヘッド、
５０ 検出器群、５１ リニア式エンコーダ、
５２ ロータリー式エンコーダ、５２１ スケール、５２２ 検出部、
５３ 紙検出センサ、５４ 光学センサ、
６０ コントローラ、６１ インターフェース部、６２ ＣＰＵ、６３ メモリ、
６４ ユニット制御回路、
１５０ スキャナ、１５１ 上蓋、１５２ 原稿台ガラス、
１５３ 読取キャリッジ、１５４ 案内部、１５５ 移動機構、
１５７ 露光ランプ、１５８ ラインセンサ、１５９ 光学系、
ＴＳ テストシート、ＳＳ 基準シート

Claims (9)

1. 第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出する方法であって、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、
   前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、
   前記閾値に基づいて範囲を設定し、
   前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、
   検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、
   検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとする
   ことを特徴とするライン位置算出方法。
2. 請求項１に記載のライン位置算出方法であって、
   前記ばらつき度合いとは、標準偏差であり、
   前記範囲を設定する際に、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値と、前記標準偏差と基づいて前記範囲が設定される
   ことを特徴とするライン位置算出方法。
3. 請求項２に記載のライン位置算出方法であって、
   前記閾値を設定する際に、前記標準偏差に所定の係数を乗じた値に基づいて前記閾値が設定されることを特徴とするライン位置算出方法。
4. 請求項３に記載のライン位置算出方法であって、
   前記標準偏差の値が大きくなると前記係数が小さくなるように前記係数が設定されることを特徴とするライン位置算出方法。
5. 請求項１〜４のいずれかに記載のライン位置算出方法であって、
   検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出する際に、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素のうちの前記不良画素以外の画素の画素データの平均値を算出し、前記平均値に基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出する
   ことを特徴とするライン位置算出方法。
6. 請求項１〜５のいずれかに記載のライン位置算出方法であって、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得した後に、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値に基づいて近似直線を算出し、前記近似直線に基づいて各前記階調値を補正し、
   前記不良画素を検出する際に、補正された前記階調値に基づいて前記不良画素を検出する
   ことを特徴とするライン位置算出方法。
7. （１）第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出する方法であって、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、
   前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、
   前記閾値に基づいて範囲を設定し、
   前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、
   検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、
   検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとし、
   （２）前記ばらつき度合いとは、標準偏差であり、
   前記範囲を設定する際に、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値と、前記標準偏差と基づいて前記範囲が設定され、
   （３）前記閾値を設定する際に、前記標準偏差に所定の係数を乗じた値に基づいて前記閾値が設定され、
   （４）前記標準偏差の値が大きくなると前記係数が小さくなるように前記係数が設定され、
   （５）検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出する際に、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素のうちの前記不良画素以外の画素の画素データの平均値を算出し、前記平均値に基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、
   （６）前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得した後に、前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値に基づいて近似直線を算出し、前記近似直線に基づいて各前記階調値を補正し、
   前記不良画素を検出する際に、補正された前記階調値に基づいて前記不良画素を検出する
   ことを特徴とするライン位置算出方法。
8. テストシートを搬送する搬送動作と、所定方向に沿うラインを形成する形成動作とを交互に印刷装置に繰り返し行わせて、複数の前記ラインを含む測定用パターンを前記テストシートに印刷し、
   前記テストシートに印刷された前記測定用パターンをスキャナで読み取り、第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データを取得し、
   前記画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出し、
   前記位置に基づいて前記搬送動作のための補正値を取得する
   補正値取得方法であって、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、
   前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、
   前記閾値に基づいて範囲を設定し、
   前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、
   検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出し、
   検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとする
   ことを特徴とする補正値取得方法。
9. 印刷装置に、テストシートを搬送する搬送動作と、所定方向に沿うラインを形成する形成動作とを交互に繰り返し行わせ、複数の前記ラインを含む測定用パターンを前記テストシートに印刷させ、
   スキャナに、前記テストシートに印刷された前記測定用パターンを読み取らせ、第１方向及び第２方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データをコンピュータに出力させ、
   前記コンピュータに、前記画像データに基づいて、前記画像の中の前記第１方向に沿うラインの前記第２方向の位置を算出させ、
   前記コンピュータに、前記位置に基づいて前記搬送動作のための補正値を取得させる
   プログラムであって、
   前記コンピュータに、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得させ、
   前記第１方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出させ、
   前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定させ、
   前記閾値に基づいて範囲を設定させ、
   前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出させ、
   検出された前記不良画素の数が所定値以下の場合、前記画像データに基づいて前記ラインの前記第２方向の位置を算出させ、
   検出された前記不良画素の数が前記所定値よりも大きい場合、エラーとさせる
   ことを特徴とするプログラム。
   
   

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