JP2008020613A - 表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】面積階調の設計自由度を大幅に改善し、開口率を向上した表示装置を提供する。
【解決手段】1画素を面積の異なる複数のサブ画素で構成し、面積階調で画像を表示する表示装置であって、前記複数のサブ画素の各サブ画素を構成する画素電極と、前記画素電極に映像信号を供給するデータ線と、前記データ線と前記画素電極との間に形成されたシールド電極と、前記データ線と前記シールド電極との間に形成された第1の絶縁膜と、前記画素電極と前記シールド電極との間に形成された第2の絶縁膜とを有し、少なくとも1つの画素電極は、前記データ線によって区画される一方の領域から、前記データ線を跨いで、前記データ線によって区画される他方の領域にまで及ぶ形状を有するとともに、前記画素電極が前記データ線を跨ぐ領域では、前記画素電極と前記データ線との間に、前記シールド電極と、前記第1の絶縁膜と、前記第2の絶縁膜とが、前記画素電極及び前記データ線に重畳して配置されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、表示装置に係り、特に面積階調表示における開口部を拡大し設計自由度を向上したアクティブ・マトリクス型の表示装置に関する。
アクティブ・マトリクス型の表示装置の典型例である薄膜トランジスタを用いた液晶表示装置では、二次元配置された画素ごとに設けた薄膜トランジスタで画素の点灯と非点灯を制御して画像を表示する。このような液晶表示装置では、ディジタルデータの階調信号をアナログ電圧に変換してから画素電極に印加するディジタル・アナログ・コンバータ方式と、1画素を面積の異なる複数のサブ画素で構成するとともに、表示画像の階調をディジタルデータのままサブ画素に供給することによって、面積で階調を表現する面積階調方式の2種類がある。
図13は、各色毎に6ビット(64階調)のディジタル・アナログ・コンバータを内蔵した液晶表示装置の要部構成図である。これは、ディジタル・アナログ・コンバータ方式の一例である。図13には、画素部(表示領域)ARの外側に配置されるデータ線駆動回路を示す。画素部ARには画素PXを選択するゲート線GLと選択された画素に表示データを供給するデータ線DLが交差配置されている。データ線駆動回路はシフトレジスタSRでデータバスDB上を転送されるデータ信号をラッチするラッチメモリLM、階調電圧を選択するディジタル・アナログ・コンバータDAC、階調電圧を発生する階調電圧発生回路SVGで構成される。
図14は、画素の平面図、図15は、図14のA―B線に沿った断面図、また、図16は、1画素の等価回路図である。図14では、2画素分を図示している。図15は、保持容量Cstの断面と、データ線近傍の断面を図示している。図14〜図16において、符号SUBはガラス基板、PSIはポリシリコン膜、BFはバッファ層(下地膜)、MoWとALは保持容量Cstを構成するメタル層、INSは層間絶縁膜、SD1はソース電極、DLはデータ線(ドレイン線ともいう)、THはスルーホール、ITOは画素電極、LCは液晶、STはストレージ線を示す。尚、保持容量Cstを構成するメタル層ALはソース電極SD1と一体に形成されている。また、保持容量Cstを構成するメタル層MoWは、ストレージ線STと一体に形成されている。
6ビットのディジタル・アナログ・コンバータDACを内臓する場合、階調に応じた液晶透過率を得るために、電圧に対する液晶透過率に合わせ64の電圧レベルを設定する。ノーマリホワイト表示では、低電圧V0が白(高透過)表示電圧、V63が黒(低透過)表示電圧になる。
図示しない水平走査回路で選択されたゲート線GLに対応した画素に対応し、表示データであるディジタル信号がラッチメモリLMに格納される。ラッチメモリLMに格納されたディジタル信号はディジタル・アナログ・コンバータDAC、階調電圧発生回路SVGでV0〜V63の階調電圧となって画素に書き込まれる。
一方、他の方式である面積階調に関する文献としては、特許文献1を挙げることができる。また、面積階調方式ではないが、透明なシールド電極で容量を形成するものに関しては特許文献2を挙げることができる。
特開2003−302946号公報 特開平5−127195号公報
図13に示した従来のディジタル・アナログ・コンバータ方式では、6ビットの階調の変換に64×6個の薄膜トランジスタを必要とする。低温ポリシリコン薄膜トランジスタ(LTPS−TFT)を用いてディジタル・アナログ・コンバータDACを内蔵しようとすると、現行加工精度では大きな面積が必要であり、基板の表示領域の周囲に作り込むと表示領域のスペースが縮小されるとともに画素の開口率が低下することになる。また、保持容量Cstやストレージ線STは不透明なメタル層を用いているため、開口率が落ちるという問題もあった。したがって、表示領域のスペースを確保しようとすると、階調数を少なくせざるを得ず、高精細化が困難になる。
さらに、図15に示したように、画素電極ITOとデータ線DLとの間の寄生容量CDSが発生するという問題がある。
特許文献1のような面積階調方式の場合、ディジタル・アナログ・コンバータDACが不要になるという利点があるものの、不透明な保持容量Cstや、寄生容量CDSの問題が残る。
特許文献2のような透明なシールド電極を用いる場合、透明なシールド電極を用いて透明な保持容量を形成可能である。しかしながら、面積階調については考慮されておらず、ディジタル・アナログ・コンバータDACが必要である。
以上のように、従来技術では、上記した様々な問題から、画素のレイアウトの設計自由度が制限されているという問題があった。
本発明の目的は、面積階調の設計自由度を大幅に改善し、開口率を向上した表示装置を提供することにある。
本発明は、例えば次のような構成とすることができる。
(1)1画素を面積の異なる複数のサブ画素で構成し、面積階調で画像を表示する表示装置であって、
前記複数のサブ画素の各サブ画素を構成する画素電極と、
前記画素電極に映像信号を供給するデータ線と、
前記データ線と前記画素電極との間に形成されたシールド電極と、
前記データ線と前記シールド電極との間に形成された第1の絶縁膜と、
前記画素電極と前記シールド電極との間に形成された第2の絶縁膜とを有し、
少なくとも1つの画素電極は、前記データ線によって区画される一方の領域から、前記データ線を跨いで、前記データ線によって区画される他方の領域にまで及ぶ形状を有するとともに、
前記画素電極が前記データ線を跨ぐ領域では、前記画素電極と前記データ線との間に、前記シールド電極と、前記第1の絶縁膜と、前記第2の絶縁膜とが、前記画素電極及び前記データ線に重畳して配置されている。
(2)(1)において、
前記シールド電極に所定電位が印加されている構成としても良い。
(3)(1)または(2)において、
前記シールド電極は透明電極である構成としても良い。
(4)(3)において、
前記画素電極は透明電極であり、
前記シールド電極は前記画素電極との間で容量を形成する構成としても良い。
本発明により、面積階調を作る面積の作り方の設計自由度が大幅に改善される。
また、透明シールド電極と透明電極の間の容量を利用することで薄膜トランジスタ側の不透明保持容量を削除し、大幅な界効率の向上が図られる。
さらに、ディジタル・アナログ変換が不要となるため、表示領域の周辺回路が大幅に簡略化される。特に、LTPSを用いてディジタル処理回路を構成することで電子部品の削減ができ、狭額縁化が可能となる。
以下、本発明の実施形態について、実施例の図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の実施例1を説明する画素の平面図である。また、図2は、図1のA−B線に沿った断面図である。図3は、本発明の実施例1における1サブ画素の等価回路図である。実施例1では、1画素を面積の異なる複数のサブ画素で構成する面積階調方式を採用しており、図1では面積の異なる2つのサブ画素を図示している。
本実施例では、画素電極ITOとデータ線DLとの間に、シールド電極SLが形成されている。シールド電極SLとデータ線DLとの間には、層間絶縁膜INS1が形成されている。また、画素電極ITOとシールド電極SLとの間には、層間絶縁膜INS2が形成されている。このシールド電極SLは、データ線DL及び画素領域のほぼ全てを覆っている。但し、ソース電極SD1と画素電極ITOとの間の電気的接続を取るためのスルーホールTHの近傍には形成されておらず、開口部となっている。シールド電極には、所定の電位(例えばコモン電位)が印加されており、データ線DLや画素電極ITOとは電気的に絶縁されている。
この構造により、データ線DLと画素電極ITOとの間の寄生容量CDSはシールド電極SLにより電磁的にシールドされる。そのため、レイアウト上、データ線DLの上に画素電極ITOを配置しても、画素電極ITOの電位はデータ線DLの電圧変動(他画素への電圧書き込み等)の影響を受けなくなるので、スメアのようなクロストークと称する画質劣化を生ずることがなくなり、画素電極ITOのレイアウトをする上で設計の自由度が増す。
面積階調方式では、面積の異なる複数のサブ画素を用意しなければならないが、データ線DLやゲート線GLのピッチなどを変化させることによってサブ画素の面積を調整することには限界がある。よって、サブ画素のレイアウトを設計する上で大きな制約となっていた。
一方、本発明によれば、シールド電極SLがあるので、少なくとも1つの画素電極ITOを、データ線DLによって区画される一方の領域から、データ線DLを跨いで、データ線DLによって区画される他方の領域にまで及ぶ形状とすることが可能である。その場合、画素電極ITOがデータ線DLを跨ぐ領域では、画素電極ITOとデータ線DLとの間に、シールド電極DLと、層間絶縁膜INS1と、層間絶縁膜INS2とが、画素電極ITO及びデータ線DLに重畳して配置されている。したがって、データ線DLやゲート線GLの位置にかかわらず、自由にサブ画素の画素電極ITOの形状や配置をレイアウトすることが可能となり、設計の自由度が大幅に向上する。
シールド電極SLに透明導電膜を用い、画素電極に透明導電膜を用いることが望ましい。層間絶縁膜INS2の厚みや、層間絶縁膜INS2の材料として適当な誘電率をもつ材料を選択することにより、シールド電極SLと画素電極ITOの層間容量で画素電極の電圧安定化のために必要な保持容量Cstをまかなうことができる。しかも、この保持容量Cstは透明な材料で構成できる。これにより、従来でよく用いられてきたポリシリコンPSIとストレージ線ST(メタルMoW)との間の容量や、メタルMoWとソース電極SD1(メタルAL)との間の容量を利用した不透明な保持容量Cstの面積を削減でき、開口率を大きくできる。
したがって、実施例1では、不透明なストレージ線STを省略することが可能となっている。
図4は、本発明の実施例1を説明するディジタル入力の表示装置を構成するこの液晶表示パネルの基板上回路レイアウト図である。また、図5は、面積階調方式の画素構造を説明する図である。図4に示したように、液晶表示パネルは、画素部AR、垂直走査回路VS、ディジタルバッファDB、ラッチメモリLM、水平走査回路HSから構成される。
画素部ARの1画素は、6ビット面積階調表示をしようとする場合、図5に示されたように、各々○で囲んだ数字(1,2,4,8,16,32)で示したような異なる面積をもつサブ画素の画素電極で構成される。この数字は面積比率を示し、ディジタルデータとは各々、1が1ビット目(最下位ビット)、2が2ビット目、4が3ビット目、8が4ビット目、16が5ビット目、32が6ビット目に対応し、各々に対応したディジタル信号が入力される。
図6は、各ビットの電極に信号を取り込むためのデータ線と画素の等価回路アレーの説明図である。6ビット面積階調表示では、6個のサブ画素で1画素(単位画素)を構成するが、その配置の仕方には図6の(a)〜(d)に点線で囲んで示す4通りが一般的である。単位画素の面積は限られているので、不透明なゲート線GL、データ線DLの数は少ない方が好ましい。この例では、図6(b)の縦3×横2のサブ画素構成による単位画素について説明する。
図7は、図5に示した画素構造におけるゲート線GL、データ線DL、スルーホールTHの位置を模式的に示す図である。1画素を構成するサブ画素を構成する画素電極ITOはドレイン線を越えて隣の領域に及んでいる。この画素電極ITOとデータ線DLの重畳部分に導電膜からなるシールド電極SLが形成されている。面積階調表示を精度よく実現しようとすると、従来技術ではデータ線DLと画素電極ITOの寄生容量CDSを避けるのが難しかったが、本発明の実施例では、図示されたように割り当てられた単位画素の中で、サブ画素は自由にレイアウトできるので、例えば図8に示したような自由なレイアウトも可能となり、面積配分により精度を向上することが容易になる。
図9は、ラッチメモリおよびバッファ部に用いる回路例の説明図である。図10は、図9で用いたラッチメモリ(データラッチ部)に用いられたシンボルの具体例の説明図である。図11は、図9の回路動作を行うためのクロックパルスおよび主要部の電位状態を示す図である。図12は、図4におけるm行、n列の画素PX(m,n)を示す図である。φFRAMEはフレームパルス、DATAはデータ、φSROUTnはn列目のラッチメモリ取り込みのためのシフトレジスタ出力、φTは転送パルス、φS1〜φS3は選択パルス、DATA(L)はラッチデータ、DATA(S)はストアデータ、DLnはn列のデータ線電位、Vpxnはn列の画素電位を示す。
ここでは、図12の画素PX(m,n)の3ビット目のサブ画素D4にデータを書き込む例で説明する。いま、n列目のD4のデータ(DATA)が太線で示したようにハイレベル(high)とする。シフトレジスタ(水平走査回路)の出力であるφcがハイレベルになると、m行n列のハイレベル電位がラッチメモリに読み込まれ、ラッチデータがハイレベルになる。水平期間のブランキング期間に転送パルスφTがハイレベルになり、ラッチデータのハイレベルデータがストアメモリに読み込まれ、ストアデータDATA(S)がハイレベルになる。(m+1)行目の水平期間に選択パルスφS2がハイレベルになったところで、ストアデータDATA(S)がn列目のデータ線に読み出される。図示はしないが、ここでるm行n列の画素の3ビット目のサブ画素(D4)の入力トランジスタのゲートが選択パルスφS2と同期してオン・オフすれば、ストアデータDATA(S)と同じハイレベルが書き込まれることになる。
ここでは、面積階調の各ビット1,2,3,4,5,6に1,2,4,8,16,32を対応させたが、本発明はこれに限定されるものではなく、液晶のガンマ特性などを反映した面積比を用いることもできる。
本発明は、液晶表示装置に限定されず、有機EL表示装置などの他の形式の表示装置にも適用可能である。
本発明の実施例1を説明する画素の平面図である。 図1のA−B線に沿った断面図である。 本発明の実施例1における1サブ画素の等価回路図である。 本発明の実施例1を説明するディジタル入力の表示装置を構成するこの液晶表示パネルの基板上回路レイアウト図である。 面積階調方式の画素構造を説明する図である。 各ビットの電極に信号を取り込むためのデータ線と画素の等価回路アレーの説明図である。 図5に示した画素構造におけるゲート線、ドレイン線、スルーホールの位置を模式的に示す図である。 要素ビット画素の自由レイアウトの一例を示す図である。 ラッチメモリおよびバッファ部に用いる回路例の説明図である。 図9で用いたラッチメモリ(データラッチ部)に用いられたシンボルの具体例の説明図である。 図9の回路動作を行うためのクロックパルスおよび主要部の電位状態を示す図である。 図4におけるm行、n列の画素PX(m,n)を示す図である。 各色毎に6ビット(64階調)のディジタル・アナログ・コンバータを内蔵した液晶表示装置の要部構成図である。 画素の平面図である。 図14のA―B線に沿った断面図である。 1画素の等価回路図である。
符号の説明
ITO・・・画素電極、TH・・・スルーホール、SL・・・シールド電極、INS2・・・層間絶縁膜、DL・・・データ線、CDS・・・寄生容量。

Claims (4)

  1. 1画素を面積の異なる複数のサブ画素で構成し、面積階調で画像を表示する表示装置であって、
    前記複数のサブ画素の各サブ画素を構成する画素電極と、
    前記画素電極に映像信号を供給するデータ線と、
    前記データ線と前記画素電極との間に形成されたシールド電極と、
    前記データ線と前記シールド電極との間に形成された第1の絶縁膜と、
    前記画素電極と前記シールド電極との間に形成された第2の絶縁膜とを有し、
    少なくとも1つの画素電極は、前記データ線によって区画される一方の領域から、前記データ線を跨いで、前記データ線によって区画される他方の領域にまで及ぶ形状を有するとともに、
    前記画素電極が前記データ線を跨ぐ領域では、前記画素電極と前記データ線との間に、前記シールド電極と、前記第1の絶縁膜と、前記第2の絶縁膜とが、前記画素電極及び前記データ線に重畳して配置されていることを特徴とする表示装置。
  2. 請求項1において、
    前記シールド電極に所定電位が印加されていることを特徴とする表示装置。
  3. 請求項1または2において、
    前記シールド電極は透明電極であることを特徴とする表示装置。
  4. 請求項3において、
    前記画素電極は透明電極であり、
    前記シールド電極は前記画素電極との間で容量を形成することを特徴とする表示装置。

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