JP2007527647A - 位相生成搬送波の復調位相オフセットと独立なセンサアレイ誘導位相角のフィルタリング計算方式 - Google Patents

位相生成搬送波の復調位相オフセットと独立なセンサアレイ誘導位相角のフィルタリング計算方式 Download PDF

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Abstract

センサアレイは、復調位相オフセットを有する位相生成搬送波を含む光信号上の時変位相角を誘導するパラメータを使用する。センサアレイからの出力信号がフィルタリングされ、フィルタリングされた信号を生成する。フィルタリングされた信号の使用によって、復調位相オフセットと独立に位相角が計算される。

Description

本発明は、概括的には信号処理に関し、より詳細には、光ファイバセンサアレイからの信号の復調に関する。
関連出願の相互参照
本願は、本願と同じ譲受人に譲渡された、以下の出願に関連する。2003年6月20日に出願されたその出願は、参照によりその全体が本明細書に援用される。
David B. Hallによる「CALCULATION OF SENSOR ARRAY INDUCED PHASE ANGLE INDEPENDENT FROM DEMODULATION PHASE OFFSET OF PHASE GENERATED CARRIER」
政府の権利について
アメリカ合衆国政府は、米国海軍省によって授与された契約第N00024−02−C−6305号に従って、本発明における権利を有する。
時分割多重式(「TDM」)システムの光ファイバセンサアレイは、パラメータ、たとえば、音響振動、流体圧変動、加速度、及び磁界強度の変化を測定するのに使用されることが多い。光ファイバセンサアレイは、周期Tを有する位相生成搬送波を使用して、所与のサンプリングレートでパラメータの変化を測定する。光ファイバセンサアレイは、パラメータに関連する位相角を、光出力パルス上の振幅変動に変換する。
位相角は、出力パルスの種々の復調技法によって測定される。典型的な復調技法は、出力パルスの直交成分Q及び同相成分Iを使用する。直交成分Qは、位相角の正弦(サイン)に対応し、同相成分Iは、位相角の余弦(コサイン)に対応する。比Q/Iのアークタンジェントは位相角に等しい。パラメータの変化のマグニチュードは、その後、位相角の変化から計算することができる。
直交成分Q及び同相成分Iの計算は、位相生成搬送波の特定の間隔での、出力パルスの複数のサンプルを必要とする。出力パルスは、出力パルスの特性を改善するためにフィルタリングされる。位相生成搬送波の周期は、出力パルスの周期より大幅に長い。位相生成搬送波のより長い周期は、位相生成搬送波のそれぞれ必要とされる間隔を得るために、いくつかの出力パルスに及ぶサンプルを必要とする。位相生成搬送波のより長い周期は、復調技法のサンプリングレートを減少させる。
高速の位相生成搬送波(たとえば、1MHzより大きい周波数、又は、1000ナノ秒より小さい周期)は、位相生成搬送波に関連する復調位相オフセットβの精密な制御を可能にしない。復調技法の1つの欠点は、復調位相オフセットβの一定値からの変動が、復調技法の精度を低下させることである。
したがって、位相生成搬送波とフィルタを使用する光ファイバセンサアレイの復調技法について、復調位相オフセットへの依存性を減らすことに対する必要性が存在する。
本発明は一実施形態において一方法を包含する。センサアレイは、復調位相オフセットβを有する位相生成搬送波を含む光信号上の時変(時間で変化する)位相角φを誘導するパラメータを使用する。センサアレイからの出力信号がフィルタリングされ、フィルタリングされた信号を生成する。フィルタリングされた信号の使用によって、復調位相オフセットβと独立に位相角φが計算される。
本発明の別の実施形態は一装置を包含する。センサアレイは、復調位相オフセットβを有する位相生成搬送波を含む光信号上の時変位相角φを誘導するパラメータを使用する。装置は、センサアレイからの出力信号をフィルタリングしてフィルタリングされた信号を生成するフィルタコンポーネントを備える。装置はさらに、フィルタリングされた信号を使用して、復調位相オフセットβと独立な位相角φを計算するプロセッサコンポーネントを備える。
本発明の更に別の実施形態は物品を包含する。センサアレイは、復調位相オフセットβを有する位相生成搬送波を含む光信号上の時変位相角φを誘導するパラメータを使用する。物品は、1つ又は複数のコンピュータ読み取り可能な信号保持媒体を備える。物品は、センサアレイからの出力信号をフィルタリングしてフィルタリングされた信号を生成するための、1つ又は複数の媒体内の手段を備える。製品は、フィルタリングされた信号の使用によって、復調位相オフセットβと独立に位相角φを計算するための、1つ又は複数の媒体内の手段を備える。
本発明の例示的な実施態様の特徴は、説明、特許請求の範囲、及び添付図面から明らかになるであろう。
図1を参照すると、1つの例としての装置100は、コンピュータソフトウェア及び/又はハードウェアコンポーネントなどの複数のコンポーネントを備える。複数のこうしたコンポーネントが、装置100において、結合するか又は分割することができる。装置100の例示的なコンポーネントは、当業者によって理解されるように、複数のプログラミング言語の任意の言語で書かれるか、又は、任意の言語で実施されるコンピュータ命令のセット及び/又はシリーズを使用し且つ/又は含む。
図1を参照すると、1つの例における装置100は、1つ又は複数のレーザ102、1つ又は複数の光スイッチ104、1つ又は複数の位相変調器106、1つ又は複数のセンサアレイ108、1つ又は複数の光レシーバ(受信機)110、1つ又は複数のフィルタコンポーネント111、及び1つ又は複数のプロセッサコンポーネント112を備える。1つの例において、装置100は、本明細書で述べるように、パラメータの変化を測定するために光信号を復調する。1つの例におけるレーザ102は、連続波レーザを備える。レーザ102は、光スイッチ104を通して光信号を生成し、位相変調器106を通して光信号をセンサアレイ108に送出する。
1つの例における光スイッチ104は、時分割多重式(「TDM」)スイッチを備える。光スイッチ104は、光信号が光パルスのストリームを含むように光信号をゲート制御する。位相変調器106は、位相生成搬送波(「PGC」)114を光パルスのストリームに印加する。たとえば、レーザ102、光スイッチ104、及び位相変調器106は、当業者によって理解されるように、協働して、位相生成搬送波114を含む1つ又は複数の光パルス116を生成する。光パルス116は周期Tpulseを含む。1つの例における周期Tpulseは、約100ナノ秒〜1000ナノ秒である。1つの例における位相生成搬送波114は、周期Tpgc及びMの変調深さを含む。周期Tpgcは、当業者によって理解されるように、周波数との関係fpgc=1/Tpgcを含む。1つの例における周波数fpgcは、約2MHz〜20MHzである。位相生成搬送波114は、復調位相オフセットβと関連する。位相生成搬送波114は、
M・sin(2π・t/Tpgc+β)
に等しい時変位相角を生成する。
1つの例におけるセンサアレイ108は、1つ又は複数のセンサ124、126、及び128、たとえば、不整合経路(mismatched path)干渉計を備える。センサアレイ108は、光パルス116を1つ又は複数の光パルス118、120、及び122に、たとえば、1つのセンサ当たり1つのパルスに分割する。1つの例における光パルス116、118、120、及び122は、実質的に同じである。センサアレイ108のセンサ124、126、及び128は、それぞれ、光パルス118、120、及び122を受信する。1つの例におけるセンサアレイ108のセンサ124、126、及び128は、1つ又は複数のパラメータ並びに光パルス118、120、及び122を使用して、1つ又は複数のそれぞれの干渉パルス130、132、及び134を生成する。例示的なパラメータは、音響振動、流体圧変動、加速度、及び磁界強度を含む。たとえば、センサ124は、光パルス118を第1部分と第2部分に分割する。センサ124は、パラメータを使用して、光パルス118の第2部分を基準にして、光パルス118の第1部分上の時間で変化する(時変)位相角φを誘導する。センサ124は、光パルス118の第1部分と光パルス118の第2部分とを再結合して、干渉パルス130を生成する。干渉パルス130の時変振幅変動は、光パルス118の第1部分と第2部分の間の時変位相角φを表す。
光パルス116は、干渉パルス130、132、及び134が、比較的小さい間隔、たとえば、本明細書で述べる高いデューティサイクルを含むように中間の間隔を備えている。干渉パルス130、132、及び134は、光パルス116の周期Tpulseに実質的に等しい周期を含む。センサアレイ108は、干渉パルス130、132、及び134を、パルス列136で、たとえば、シリアルで光レシーバ110に送出する。たとえば、光パルス列136は、干渉パルス130、132、及び134を含む。
1つの例における光レシーバ110は、1つ又は複数のフォトダイオード138を備える。さらなる例において、光レシーバ110は、トランスインピーダンス増幅器140を備える。1つの例における光レシーバ110は、本発明の譲受人に譲渡された米国特許第5,852,507号に示される、偏光ダイバーシチレシーバシステム(図示せず)を備える。光レシーバ110は光パルス列136を受信する。光レシーバ110は、その後、光パルス列136から、干渉パルス130、132、及び134を表す1つ又は複数のそれぞれのアナログ電気信号を生成する。たとえば、光レシーバ110は、光パルス列136のパワーのマグニチュードを電圧信号に変換する。
1つの例におけるフィルタコンポーネント111は、4次ベッセルローパスフィルタを備える。別の例では、フィルタコンポーネント111は、4次実数極(ポール)フィルタを備える。たとえば、フィルタコンポーネント111は、10MHz〜60MHzにおいて3デシベルロールオフ周波数を含む。1つの例におけるフィルタコンポーネント111の3デシベルロールオフ周波数は53MHzに等しい。フィルタコンポーネントは、光信号をフィルタリングしてフィルタリングされた信号を生成するのに役立つ。1つの例におけるフィルタコンポーネント111は、光レシーバ110からのアナログ電気信号をフィルタリングして、1つ又は複数のフィルタリングされた信号を生成する。たとえば、フィルタリングされた信号は、干渉信号130、132、及び134を表す。
1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、デジタル信号プロセッサを備える。さらなる例において、プロセッサコンポーネント112は、アナログ−デジタル変換器コンポーネント142を備える。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、本明細書で述べる、コンピュータ読み取り可能な信号保持媒体144の実現例を含む。アナログ−デジタル変換器コンポーネント142は、光レシーバ110からのフィルタリングされた信号をデジタル信号に変換する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、干渉パルス130、132、及び134の時変振幅変動を使用して、時変位相角φを計算することによって、パラメータの変化を検知するのに役立つ。
装置100の例示的な動作の具体例について説明する。レーザ102、光スイッチ104、及び位相変調器106は、協働して、1つ又は複数の光パルス116を生成する。センサアレイ108は、光パルス116を、光パルス118、120、及び122に分割する。センサ124、126、及び128は、パラメータ並びに光パルス118、120、及び122を使用して、干渉パルス130、132、及び134を生成する。センサアレイ108は、干渉パルス130、132、及び134を光パルス列136として光レシーバ110に送出する。
光レシーバ110は、1つ又は複数の干渉パルス130、132、及び134を表すアナログ電気信号を生成する。たとえば、アナログ電気信号は、以下のs(t,M,β,φ)によって定義される。
Figure 2007527647
ここで、Aは平均信号レベルであり、Bは干渉項信号レベルであり、Mは変調深さであり、Tpgcは位相生成搬送波の周期であり、βは復調位相オフセットであり、φは位相角である。s(t,M,β,φ)の位相角は、当業者によって理解されるように、位相生成搬送波による第1部分、すなわちM・sin(2π・t/Tpgc+β)、及びパラメータφによる第2部分を含む。
フィルタコンポーネント111は、アナログ電気信号をフィルタリングしてフィルタリングされた信号を生成する。1つの例におけるアナログ−デジタル変換器コンポーネント142は、フィルタリングされた信号を、干渉パルス130を表すデジタル信号に変換する。プロセッサコンポーネント112は、デジタル信号から、干渉パルス130の複数のサンプルS(n=0〜x)を取得する。プロセッサコンポーネント112は、周期Tにわたって時間間隔Δtで複数のサンプルSを取得する。1つの例における周期Tは、位相生成搬送波114の周期Tpgcに実質的に等しい。1つの例における周期Tは、当業者によって理解されるように、サンプリングレートの増加を促進するのに役立つ。1つの例における周期Tは、Tpulse以下である。
1つの例における時間間隔Δtは、周期Tpgcの偶数分数(たとえば、Tpgc/8又はTpgc/16)に等しい。1つの例において、プロセッサコンポーネント112は、Tpgc/8の時間間隔Δtで、時間tで始まる複数のサンプルSを取得する。たとえば、複数のサンプルSは、t、t+Δt、t+2Δt、t+3Δt、t+4Δt、t+5Δt、t+6Δt、及びt+7Δtにおける8つのサンプルを含む。別の例において、プロセッサコンポーネント112は、Tpgc/16の時間間隔Δtで、時間tで始まる複数のサンプルSを取得する。たとえば、複数のサンプルSは、t、t+Δt、t+2Δt、t+3Δt、t+4Δt、t+5Δt、t+6Δt、t+7Δt、t+8Δt、t+9Δt、t+10Δt、t+11Δt、t+12Δt、t+13Δt、t+14Δt、及びt+15Δtにおける16のサンプルを含む。
プロセッサコンポーネント112は、複数のサンプルSの1つ又は複数を使用して、1つ又は複数の直交項及び1つ又は複数の同相項を計算する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、直交項の集合Q(j=0〜y)を計算する。たとえば、直交項の集合Qは、複数のサンプルSのサンプル数の1/2に等しい複数の直交項を含む。複数のサンプルSが8つのサンプルを含む1つの例において、yは3に等しく、プロセッサコンポーネント112は、
=S−S、Q=S−S、Q=S−S、及びQ=S−S(図3)
として、直交項の集合Qを計算する。複数のサンプルSが16のサンプルを含む別の例において、yは7に等しく、プロセッサコンポーネント112は、
=S−S、Q=S−S、Q=S−S10、Q=S−S11、Q=S−S12、Q=S−S13、Q=S−S14、及びQ=S−S15(図4)
として、直交項の集合Qを計算する。
1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、同相項の集合I(k=0〜z)を計算する。たとえば、同相項の集合Iは、複数のサンプルSのサンプル数の1/4に等しい複数の同位相項を含む。複数のサンプルSが8つのサンプルを含む1つの例において、zは1に等しく、プロセッサコンポーネント112は、
=(S+S)−(S+S)、及び
=(S+S)−(S+S)(図3)
として、同位相項の集合Iを計算する。複数のサンプルSが16のサンプルを含む別の例において、zは3に等しく、プロセッサコンポーネント112は、
=(S+S)−(S+S12)、
=(S+S)−(S+S13)、
=(S+S10)−(S+S14)、及び
=(S+S11)−(S+S15)(図4)
として、同相項の集合Iを計算する。
プロセッサコンポーネント112は、直交項の集合Qを使用して、直交項Qを計算する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、以下の直交項Qを計算する。
Figure 2007527647
直交項Qは、当業者によって理解されるように、復調位相オフセットβと独立である。
プロセッサコンポーネント112は、同相項の集合Iを使用して、同相項Iを計算する。プロセッサコンポーネント112は、本明細書で述べる定数Cを計算する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、以下の同相項Iを計算する。
Figure 2007527647
同相項Iは、当業者によって理解されるように、復調位相オフセットβと独立である。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、直交項Q及び同相項Iのそれぞれの最大絶対値が、動作範囲の変調深さMにおいて実質的に等しいように定数Cを計算する。
1つの例における変調深さMは、1.0〜1.7ラジアンである。たとえば、変調深さMは、位相生成搬送波114の信号強度の増加を促進するのに十分に大きい。さらなる例における変調深さMは、変調深さMの変化に関する直交項Q及び同相項Iの安定性を促進するのに十分に小さい。たとえば、変調深さMは、ほぼπ/2に等しい。
プロセッサコンポーネント112は、直交項の集合Q及び直交項Qの1つ又は複数を使用して、直交項Qを計算する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、直交項Qのマグニチュード及び直交項の集合Qの直交項のうちの1つの直交項の符号を使用して、Qを計算する。たとえば、プロセッサコンポーネント112は、マグニチュードのゼロ交差を回避するために、比較的大きいマグニチュードを含む直交項Qを選択する。プロセッサコンポーネント112は、直交項Qのマグニチュードがゼロに近づくとき、より大きなマグニチュードを有する異なる直交項、たとえば、直交項Qを選択する。直交項Qは、当業者によって理解されるように、復調位相オフセットβと独立である。
プロセッサコンポーネント112は、同相項の集合I及び同相項Iのうちの1つ又は複数を使用して、同相項Iを計算する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、同相項Iのマグニチュード及び、同相項の集合Iの同相項のうちの1つの同相項の符号を使用して、Iを計算する。たとえば、プロセッサコンポーネント112は、マグニチュードのゼロ交差を回避するために、比較的大きいマグニチュードを含む同相項Iを選択する。プロセッサコンポーネント112は、同相項Iのマグニチュードがゼロに近づくとき、異なる同相項、たとえば、同相項Iを選択する。同相項Iは、当業者によって理解されるように、復調位相オフセットβと独立である。
1つの例における復調位相オフセットβの変化は、直交項Q及び/又は同相項Iの符号を変える。1つの例における幅π/2の4つの動作帯域は、復調位相オフセットβについて、0〜2πの全範囲にわたって存在する。復調位相オフセットβのマグニチュードが動作帯域の境界に近い場合、Iの符号を決定するために選択される同相項Iのマグニチュード、及び/又はQの符号を決定するために選択される直交項Qのマグニチュードはゼロに近づく場合がある。Iの符号を決定するために選択される同相項Iのマグニチュード、及び/又はQの符号を決定するために選択される直交項Qのマグニチュードがゼロに近づく場合、プロセッサコンポーネント112は、異なる直交項Q及び/又は同相項Iを選択する。プロセッサコンポーネント112は、異なる直交項Q及び/又は同相項Iを選択して、復調位相オフセットβと独立な位相角φの計算を促進する。1つの例における位相変調器106は、復調位相オフセットβをπ/2よりかなり小さい範囲内に維持し、したがって、当業者によって理解されるように、復調位相オフセットβは既知である必要はない。
プロセッサコンポーネント112は、直交項Q及び同相項Iを使用して、復調位相オフセットβと独立な位相角φを計算する。直交項Q及び同相項Iは、復調位相オフセットβと独立であるため、位相角φの計算は、復調位相オフセットβと独立である。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、位相角、
φ=arctangent(Q/I)
を計算する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、干渉パルス130、132、及び134の複数の出現値の間の位相角φの変化を使用して、センサ124、126、及び128によって使用されるパラメータの変化を決定する。
図2を参照すると、プロット202は、干渉パルス130、132、及び134並びにプロセッサコンポーネント112のための適切なサンプリング時間の、時間tに関する例示的な図を含む。干渉パルス130、132、及び134は、アナログ電気信号s(t,M,β,φ)によって表される。干渉パルスの直交成分及び同相成分は、それぞれ、s(t,M,β,π/2)及びs(t,M,β,0)によって表される。1つ又は複数の方形パルス230、232、及び234は、それぞれ、干渉パルス130、132、及び134の周期Tpulseを表す。方形パルス230、232、及び234は、Tspaceの間隔周期を含む。1つの例における方形パルス230、232、及び234は、高いデューティサイクルを含み、たとえば、サンプリング周期Tは隙間周期Tspaceより実質的に長い。
1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、それぞれの干渉パルス130、132、及び134から8つのサンプルを取得する。1つの例におけるプロセッサコンポーネント112は、周期Tにわたって一定レートでサンプルを取得する。たとえば、プロセッサコンポーネント112は、干渉パルス130について、8つのサンプル、すなわちS〜Sを取得し、次の3つのサンプルSdiscardを破棄し、干渉パルス132について、次の8つのサンプル、すなわちS〜Sを取得し、次の3つのサンプルSdiscardを破棄するなどである。
図3を参照すると、プロット302は、干渉パルス130の8つのサンプルについての直交項Q及び同相項Iのための計算のセットを示す図を含む。8つのサンプルがとられる場合、x=7、y=3、及びz=1である。プロセッサコンポーネント112は、所与の項のそれぞれの行において複数のサンプルSを加算及び減算することによって所与の項を計算する。プロセッサコンポーネント112は、所与の項及びサンプルについて、行/列の対で指定された符号に応じてサンプルを加算又は減算する。符号がサンプルについて記載されていない場合、所与の項について、サンプルは使用されない。たとえば、プロセッサコンポーネント112は、+S−SとしてQを、+S−SとしてQを、+S−S+S−SとしてIを計算する。
図4を参照すると、プロット402は、干渉パルス130の16のサンプルについての直交項Qj及び同相項Iのための計算のセットを示す図を含む。16のサンプルがとられる場合、x=15、y=7、及びz=3である。たとえば、プロセッサコンポーネント112は、+S−SとしてQを、+S−SとしてQを、+S−S+S−S12としてIを計算する。図3及び図4を考えると、1つの例における+符号及び−符号のパターンは、それぞれ、直交項Q及び同相項Iについて見ることができる。たとえば、同じパターンは、異なる数のサンプルを有する複数のサンプルについて直交項の集合Q及び同相項の集合Iを計算するのに使用することができる。
図5〜図14を参照すると、プロット502、602、702、802、902、1002、1102、1202、1302、及び1402は、4次ベッセルローパスフィルタを備えるフィルタコンポーネント111の例示的な特性、及び図1の装置による位相角φの計算の例示的な精度プロットを示す。プロット502、602、702、802、902、1002、1102、1202、1302、及び1402は、MathCAD(Mathsoft Enginnering & Education, Inc., Cambridge, MA 02142, http://www.mathcad. com)を使用して生成された。プロット502は、例示的な4次ベッセルローパスフィルタの振幅応答S(f)を示す。プロット602は、図4の例示的なフィルタコンポーネント111のインパルス応答b(t)を示す。プロット702は、図4のフィルタコンポーネント111への例示的な入力信号env(t)及びフィルタコンポーネント111からのそれぞれの出力信号ENV(t)を示す。プロット802は、プロット702の出力信号ENV(t)の拡大図を示す。プロット902は、プロット702の出力信号ENV(t)と共に、例示的な位相生成搬送波114の例示的なフィルタリングされた信号S(t)を示す。プロット1002は、復調位相オフセットβの関数としての、例示的な比Rを示す。プロット1102は、変調深さMの関数としてプロット1002の比Rを示す。プロット1202は、復調位相オフセットβの関数として、例示的な直交項Qのピーク値及び例示的な同相項Iのピーク値を示す。プロット1302は、復調位相オフセットβの関数として、位相角φの計算の例示的な精度Δφを示す。プロット1402は、位相角φの関数としての位相角φの計算の例示的な精度Δφを示す。
図5を参照すると、プロット502は、フィルタコンポーネント111についての例示的な振幅応答S(f)を含む。4次ベッセルローパスフィルタを備えるフィルタコンポーネント111の複素周波数応答B(f)は、次の式に等しい。
Figure 2007527647
フィルタコンポーネント111の3デシベルロールオフは、2.114fに等しい。
図6を参照すると、プロット602は、フィルタコンポーネント111のインパルス応答b(t)を含む。インパルス応答b(t)は、フィルタコンポーネント111の周波数応答B(f)のフーリエ変換に等しい。インパルス応答b(t)は、次の式に等しい。
Figure 2007527647
プロット602は、実数部Re(b(t))、及びインパルス応答b(t)の1000で乗算された虚数部Im(b(t))を含む。プロット602はさらに、実数部Re(b(t))の後縁上のリップルを強調するために、複数の10倍の実数部Re(b(t))を含む。虚数部Im(b(t))はゼロに等しいため、インパルス関数b(t)は実数である。
図7を参照すると、プロット702は、フィルタコンポーネント111に対する例示的な入力信号env(t)を含む。たとえば、入力信号env(t)は、出力信号130を表す、光検出器110からの電気信号を表す。1つの例における出力信号130は、1ナノ秒の立上がり時間及び立下り時間を有する、幅90ナノ秒の上部が平坦なパルスである。入力信号env(t)は、以下のスーパガウシアン(super-gaussian)包絡線関数によって近似される。
Figure 2007527647
フィルタコンポーネント111は、入力信号env(t)のインパルス関数b(t)による畳み込みENV(t)を含むフィルタリングされた信号を作成する。ENV(t)の計算を高速化するために、インパルス関数bfit(t)を使用して、インパルス関数b(t)を近似する。畳み込みENV(t)は、次の式のようになる。
Figure 2007527647
畳み込みENV(t)は、前縁及び後縁におけるリップルを含む。
図8を参照すると、プロット802は、プロット702の畳み込みENV(t)の前縁及び後縁におけるリップルの強調を含む。見られるように、畳み込みENV(t)は、およそ30ナノ秒〜90ナノ秒において平坦ゾーンを有する。プロセッサコンポーネント112は、平坦ゾーン内から複数のサンプルSを採取する。
図9を参照すると、プロット902は、畳み込みENV(t)と共に位相生成搬送波114のフィルタリングされた出力S(t)を含む。位相生成搬送波114は、位相変調器106によって作成され、s(t,M,β,φ)は次の式によって表される。
Figure 2007527647
ここで、Aは平均信号レベルであり、Bは干渉項信号レベルである。たとえば、A=1.2、B=1.0、及びM=1.5である。βの値は、任意であるが、図9では、1.0ラジアンに等しい。位相生成搬送波114は、入力信号env(t)上に重ね合わされる。フィルタリングされた出力S(t)は、インパルス関数bfit(t)による入力信号env(t)とs(t)との積の畳み込みに等しい。すなわち、次のようになる。
Figure 2007527647
φの2つの値を使用して、フィルタリングされた出力S(t,M,β,φ)の直交成分及び同相成分が示される。たとえば、同相成分についてφは0に等しく、直交成分についてφはπ/2に等しい。同相項成分は、25ナノ秒の周期を有する40MHzの第2高調波周波数を有する。直交成分は、50ナノ秒の周期を有する20MHzの基本周波数を有する。プロセッサコンポーネント112は、50ナノ秒の周期にわたって、且つ、畳み込みENV(t)の平坦ゾーン内で、複数のサンプルSを取得する。たとえば、x=7である場合、プロセッサコンポーネント112は、6.25ナノ秒間隔で8つのサンプルを採取する。8つのサンプルの第1サンプルと最後のサンプルは、43.75ナノ秒離れている。プロセッサコンポーネント112は、平坦ゾーン内で複数のサンプルSを取得するために、29ナノ秒〜45ナノ秒において第1サンプルを採取する。
図10を参照すると、プロット1002は、変調深さM=1.5である、復調位相オフセットβの関数として比Rを含む。比Rは、次の式に等しい。
Figure 2007527647
変調深さM=1.5について、定数Cはほぼ1.944に等しい。比Rは、QとIがピーク値にあるときに計算される。Qのピーク値は、φ=π/2においてである。Iのピーク値は、φ=0においてである。図10は、M=1.5で、且つ、βが−π〜+πであるRを示す。Rについて、1の比からの変動は、約±0.1%である。
図11を参照すると、プロット1102は、復調位相オフセットβの2つの値について、変調深さMの関数としての比Rを含む。図11は、Mの所与の値についてのβの変化が、比Rをそれほど変えないことを示す。
図12を参照すると、プロット1202は、復調位相オフセットβの関数として、直交項Qのピーク値及び同相項Iのピーク値を含む。プロセッサコンポーネント112は、直交項の集合Qのうちの1つの直交項、たとえば、Qを使用することによって、直交項Qの符号を計算する。直交項Qは、位相角φの正弦に比例する。プロセッサコンポーネント112は、同相項の集合Iのうちの1つの同位相項、たとえば、Iを使用することによって、同相項Iの符号を計算する。同相項Iは、位相角φの余弦に比例する。φ=π/2であるQについてのピーク値と、φ=0であるIについてのピーク値が、図12において、位相オフセットβの関数としてプロットされる。Qの符号及びIの符号が変わらない、幅π/2のβにおける4つのゾーンは、Iが0を交差する場合に指定される。プロセッサコンポーネント112は、Q及びIについて、βの値に基づいてQの符号及びIの符号を計算する。たとえば、βが約1.1〜2.6である場合、QとIは共に正であるため、Q=+Q及びI=+Iである。
図13を参照すると、プロット1302は、変調深さMの種々の値について、復調位相オフセットβの関数として位相角φの計算の誤差Δφ(M,β,φ)を含む。誤差Δφ(M,β,φ)は、次のようになる。
Figure 2007527647
測定された出力位相角アークタンジェント(Q/I)が、入力位相角φに等しい場合、誤差Δφは0に等しく、計算の精度が最大になる。図13は、φ=1である場合、M=1.48、M=1.50、及びM=1.52についてのΔφ(M、β、φ)のプロットを示す。精度Δφは、M=1.50である場合、1.1〜2.6ラジアンであるβについて±1ミリラジアン以内である。M=1.48である場合、精度Δφは約7ミリラジアンである。Mが1.50から20ミリラジアンだけ逸脱する。たとえば、M=1.52又はM=1.48である場合、精度Δφは約7ミリラジアンである。
図14を参照すると、プロット1402は、変調深さM=1.5であり、且つ、復調位相オフセットβの3つの値が1.1〜2.6のゾーン内にある場合の、位相角φを関数とする誤差Δφ(M、β、φ)を含む。β=1.2、1.7、及び2.4である場合、精度Δφ(M,β,φ)は、±1.0ミリラジアン以内である。図13及び図14を参照すると、復調位相オフセットβの変動は、位相角φの計算の精度Δφ(M,β,φ)にそれほど影響を与えない。
1つの例における装置100は、1つ又は複数のコンピュータ読み取り可能な信号保持媒体を使用する。装置100のためのコンピュータ読み取り可能な信号保持媒体の1つの例は、プロセッサコンポーネント112の記録可能なデータ記憶媒体144を備える。たとえば、装置100のためのコンピュータ読み取り可能な信号保持媒体は、磁気、電気、光、生体、及び原子データ記憶媒体の1つ又は複数を備える。1つの例では、コンピュータ読み取り可能な信号保持媒体は、装置100を備えるか、又は、装置100と結合するネットワーク、たとえば、電話ネットワーク、ローカルエリアネットワーク(LAN)、インターネット、及び無線ネットワークのうちの1つ又は複数を通じて伝送される変調された搬送波信号を含む。
本明細書で述べるステップ又は動作は例示であるに過ぎない。本発明の精神から逸脱することなくこれらステップ又は動作に対して多くの変形が可能である。たとえば、ステップは、異なる順序で実施されてもよく、或いは、ステップは、付加されるか、削除されるか、又は修正されてもよい。
本明細書において、本発明の例示的な実施態様を詳細に示し、且つ説明したが、本発明の精神から逸脱することなく、種々の修正、追加、置換などを行うことができ、したがって、これらは特許請求の範囲に規定される本発明の範囲内に含まれると考えられることは、当業者に明らかであろう。
1つ又は複数のレーザ、1つ又は複数の光スイッチ、1つ又は複数の位相変調器、1つ又は複数のセンサアレイ、1つ又は複数の光レシーバ、1つ又は複数のフィルタコンポーネント、及び復調位相オフセットと独立に光信号の位相角を計算するための、1つ又は複数のプロセッサコンポーネントを備える装置の1つの例示的な実施態様の図である。 図1の例示的な実施態様についての、1つ又は複数の干渉パルスの例示的なプロット図である。 図1の例示的な実施態様についての、1つの例示的な計算のセットを示す図である。 図1の例示的な実施態様についての、別の例示的な計算のセットを示す図である。 図1の装置の例示的なフィルタコンポーネントとしての、4次ベッセルローパスフィルタの振幅応答の図である。 図5の例示的なフィルタコンポーネントを有する、図1の例示的な実施態様のインパルス応答の図である。 図5のフィルタコンポーネントへの例示的な入力信号及びフィルタコンポーネントからのそれぞれの出力信号の図である。 図7の出力信号の拡大図である。 例示的な位相生成搬送波の図5のフィルタコンポーネントからの例示的なフィルタリングされた信号及び図7の出力信号の図である。 復調位相オフセットの関数としての図5のフィルタコンポーネントの例示的な比Rの図である。 変調深さの関数としての図5のフィルタコンポーネントの例示的な比Rの図である。 復調位相オフセットの関数として、図5のフィルタコンポーネントからの例示的な直交項のピーク値及び例示的な同相項のピーク値のプロット図である。 復調位相オフセットの関数としての、図5のフィルタコンポーネントを有する図1の装置による位相角の計算の例示的な精度Δφのプロット図である。 位相角φの関数としての、図5のフィルタコンポーネントを有する図1の装置による位相角の計算の例示的な精度Δφのプロット図である。

Claims (28)

  1. センサアレイが、復調位相オフセットβを有する位相生成搬送波を含む光信号上の時変位相角φを誘導するパラメータを使用する、方法であって、
    前記センサアレイからの出力信号をフィルタリングしてフィルタリングされた信号を生成するステップと、
    前記フィルタリングされた信号の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算するステップと、
    を含む方法。
  2. 請求項1に記載の方法において、前記センサアレイからの出力信号をサンプリングしてn=0〜xである複数のサンプルSを取得するステップをさらに含み、
    前記フィルタリングされた信号の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算する前記ステップは、
    前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算するステップを含む、方法。
  3. 請求項1に記載の方法において、前記複数のサンプルSの前記1つ又は複数の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算する前記ステップは、
    前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって、1つ又は複数の直交項及び1つ又は複数の同相項を計算するステップであって、前記1つ又は複数の直交項のうちの1つ又は複数及び前記1つ又は複数の同相項のうちの1つ又は複数は、前記復調位相オフセットβと実質的に独立である、ステップと、
    前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項の使用によって前記位相角φを計算するステップと、
    を含む方法。
  4. 請求項2に記載の方法において、前記出力信号は周期Tpulseを含み、前記センサアレイからの前記出力信号をサンプリングしてn=0〜xである前記複数のサンプルSを取得する前記ステップは、
    前記センサアレイからの前記出力信号をサンプリングして周期T内において複数のサンプルSを取得するステップであって、n=0〜xであり、TがTpulse以下である、ステップを含む方法。
  5. 請求項4に記載の方法において、前記複数のサンプルSの前記1つ又は複数の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算する前記ステップは、
    前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって、1つ又は複数の直交項及び1つ又は複数の同相項を計算するステップであって、前記1つ又は複数の直交項のうちの1つ又は複数及び前記1つ又は複数の同相項のうちの1つ又は複数は、前記復調位相オフセットβと実質的に独立である、ステップと、
    前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項の使用によって前記位相角φを計算するステップと、
    を含む方法。
  6. 請求項5に記載の方法において、前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって、前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項を計算する前記ステップであって、前記1つ又は複数の直交項のうちの前記1つ又は複数及び前記1つ又は複数の同相項のうちの前記1つ又は複数は、前記復調位相オフセットβと実質的に独立である、前記ステップは、
    前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって、直交項の集合Q及び同相項の集合Iを計算するステップであって、j=0〜yであり、k=0〜zである、計算するステップと、
    以下の直交項を計算するステップであって、Qは、前記復調位相オフセットβと実質的に独立である、ステップと、
    Figure 2007527647
    以下の同相項を計算するステップであって、Iは、前記復調位相オフセットβと実質的に独立である、ステップと、
    Figure 2007527647
    前記直交項Qの最大マグニチュード及び前記同相項Iの最大マグニチュードが、前記位相生成搬送波のための動作範囲の変調深さMについて実質的に同じマグニチュードを含むように定数Cを計算するステップと、
    を含む方法。
  7. 請求項6に記載の方法において、x=7、y=3、z=1であり、前記複数のサンプルSの前記1つ又は複数の使用によって、前記直交項の集合Q及び前記同相項の集合Iを計算する前記ステップであって、j=0〜yであり、k=0〜zである、前記ステップは、
    =S−Sを計算するステップと、
    =S−Sを計算するステップと、
    =S−Sを計算するステップと、
    =S−Sを計算するステップと、
    =(S+S)−(S+S)を計算するステップと、
    =(S+S)−(S+S)を計算するステップと、
    を含む方法。
  8. 請求項6に記載の方法において、x=15、y=7、z=3であり、前記複数のサンプルSの前記1つ又は複数の使用によって、前記直交項の集合Q及び前記同相項の集合Iを計算する前記ステップであって、j=0〜yであり、k=0〜zである、前記ステップは、
    =S−Sを計算するステップと、
    =S−Sを計算するステップと、
    =S−S10を計算するステップと、
    =S−S11を計算するステップと、
    =S−S12を計算するステップと、
    =S−S13を計算するステップと、
    =S−S14を計算するステップと、
    =S−S15を計算するステップと、
    =(S+S)−(S+S12)を計算するステップと、
    =(S+S)−(S+S13)を計算するステップと、
    =(S+S10)−(S+S14)を計算するステップと、
    =(S+S11)−(S+S15)を計算するステップと、
    を含む方法。
  9. 請求項6に記載の方法において、前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項の使用によって前記位相角φを計算する前記ステップは、
    前記直交項Qのマグニチュード及び前記直交項の集合Qの1つ又は複数の直交項から直交項Qを計算するステップと、
    前記同相項Iのマグニチュード及び前記同相項の集合Iの1つ又は複数の同相項から同相項Iを計算するステップと、
    量Q/Iのアークタンジェントから前記出力信号の前記位相角φを計算するステップと、
    を含む方法。
  10. センサアレイが、復調位相オフセットβを有する位相生成搬送波を含む光信号上の時変位相角φを誘導するパラメータを使用する、装置であって、
    前記センサアレイからの出力信号をフィルタリングしてフィルタリングされた信号を生成するフィルタコンポーネントと、
    前記フィルタリングされた信号を使用して、前記復調位相オフセットβと独立な前記位相角φを計算するプロセッサコンポーネントと、
    を備えた装置。
  11. 請求項10に記載の装置において、前記プロセッサコンポーネントは、n=0〜xである前記フィルタリングされた信号の複数のサンプルSを取得し、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記複数のサンプルSの1つ又は複数を使用して、前記復調位相オフセットβと独立な前記位相角φを計算する、装置。
  12. 請求項11に記載の装置において、前記プロセッサコンポーネントは、前記出力信号の前記複数のサンプルSの1つ又は複数を使用して、1つ又は複数の直交項及び1つ又は複数の同相項を計算し、前記1つ又は複数の直交項のうちの1つ又は複数及び前記1つ又は複数の同相項のうちの1つ又は複数は、前記位相生成搬送波の前記復調位相オフセットβと実質的に独立であり、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項を使用して、前記位相角φを計算する、装置。
  13. 請求項11に記載の装置において、前記出力信号は周期Tpulseを含み、前記プロセッサコンポーネントは、TがTpulse以下である周期T内において前記複数のサンプルSを取得する、装置。
  14. 請求項13に記載の装置において、前記プロセッサコンポーネントは、前記出力信号の前記複数のサンプルSの1つ又は複数を使用して、1つ又は複数の直交項及び1つ又は複数の同相項を計算し、前記1つ又は複数の直交項のうちの1つ又は複数及び前記1つ又は複数の同相項のうちの1つ又は複数は、前記位相生成搬送波の前記復調位相オフセットβと実質的に独立であり、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項を使用して、前記位相角φを計算する、装置。
  15. 請求項14に記載の装置において、前記1つ又は複数の直交項のうちの前記1つ又は複数は直交項Qを含み、前記1つ又は複数の同相項のうちの前記1つ又は複数は同相項Iを含み、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記複数のサンプルS、前記直交項Q、及び前記同相項Iのうちの1つ又は複数を使用して、前記位相角φを計算する、装置。
  16. 請求項15に記載の装置において、前記プロセッサコンポーネントは、前記複数のサンプルSを使用して、j=0〜yでありk=0〜zである、直交項の集合Q及び同相項の集合Iを計算し、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記直交項の集合Q及び前記同相項の集合Iを使用して、前記直交項Q及び前記同相項Iを計算する、装置。
  17. 請求項16に記載の装置において、前記プロセッサコンポーネントは定数Cを計算し、前記プロセッサコンポーネントは、次の式を計算し、
    Figure 2007527647
    前記プロセッサコンポーネントは、次の式を計算し、
    Figure 2007527647
    前記プロセッサコンポーネントは、前記直交項Qのマグニチュード及び前記同相項Iのマグニチュードが、前記位相生成搬送波のための動作範囲の変調深さMにおいて実質的に同じマグニチュードを含むように前記定数Cを計算する、装置。
  18. 請求項17に記載の装置において、前記プロセッサコンポーネントは、前記直交項Q及び前記直交項の集合Qを使用して、直交項Qを計算し、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記同相項I及び前記同相項の集合Iを使用して、同相項Iを計算し、
    前記プロセッサコンポーネントは、
    Q=±Q
    を計算し、
    前記プロセッサコンポーネントは、
    I=±I
    を計算し、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記直交項の集合Qを使用して、Qの符号を決定し、
    前記プロセッサコンポーネントは、前記同相項の集合Iを使用して、Iの符号を決定し、
    前記プロセッサコンポーネントは、
    φ=arctangent(Q/I)
    を計算する、装置。
  19. 請求項18に記載の装置において、x=7、y=3、及びz=1であり、
    前記プロセッサコンポーネントは、
    =S−S、Q=S−S、Q=S−S、及びQ=S−S
    を計算し、
    前記プロセッサコンポーネントは、
    =(S+S)−(S+S)、及びI=(S+S)−(S+S
    を計算する、装置。
  20. 請求項18に記載の装置において、x=15、y=7、及びz=3であり、
    前記プロセッサコンポーネントは、
    =S−S、Q=S−S、Q=S−S10、Q=S−S11、Q=S−S12、Q=S−S13、Q=S−S14、及びQ=S−S15
    を計算し、
    前記プロセッサコンポーネントは、
    =(S+S)−(S+S12)、I=(S+S)−(S+S13)、I=(S+S10)−(S+S14)、及びI=(S+S11)−(S+S15
    を計算する、装置。
  21. 請求項10に記載の装置において、前記位相生成搬送波の前記周期Tpgcは、1/Tpgcに等しい周波数fpgcを含み、該周波数fpgcは約2MHz〜20MHzであり、前記位相生成搬送波は、約1.0ラジアン〜1.7ラジアンの変調深さMを含み、前記フィルタコンポーネントは、約10MHz〜60MHzにおいて3dBロールオフ周波数を含む、装置。
  22. 請求項21に記載の装置において、前記フィルタコンポーネントは4次ベッセルローパスフィルタを備える、装置。
  23. 請求項21に記載の装置において、前記フィルタコンポーネントは4次実数極フィルタを備える、装置。
  24. センサアレイが、復調位相オフセットβを有する位相生成搬送波を含む光信号上の時変位相角φを誘導するパラメータを使用する、物品であって、
    1つ又は複数のコンピュータ読み取り可能な信号保持媒体と、
    前記センサアレイからの出力信号をフィルタリングして、フィルタリングされた信号を生成するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段と、
    前記フィルタリングされた信号の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段と、
    を備えた物品。
  25. 請求項24に記載の物品において、前記フィルタリングされた信号をサンプリングして、n=0〜xである複数のサンプルSを取得するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段をさらに備え、
    前記フィルタリングされた信号の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の前記手段は、
    前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段を備える、物品。
  26. 請求項25に記載の物品において、前記複数のサンプルSの前記1つ又は複数の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の前記手段は、
    前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって1つ又は複数の直交項及び1つ又は複数の同相項を計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段であって、前記1つ又は複数の直交項のうちの1つ又は複数及び前記1つ又は複数の同相項のうちの1つ又は複数は、前記復調位相オフセットβと実質的に独立である、前記1つ又は複数の媒体内の手段と、
    前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項の使用によって前記位相角φを計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段と、
    を備える物品。
  27. 請求項26に記載の物品において、前記出力信号は周期Tpulseを含み、前記センサアレイからの前記出力信号をサンプリングして、n=0〜xである前記複数のサンプルSを取得するための、前記1つ又は複数の媒体内の前記手段は、
    前記センサアレイからの前記出力信号をサンプリングして、周期T内において複数のサンプルSを取得するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段であって、n=0〜xであり、TがTpulse以下である、1つ又は複数の媒体内の手段を備える、物品。
  28. 請求項27に記載の物品において、前記複数のサンプルSの前記1つ又は複数の使用によって、前記復調位相オフセットβと独立に前記位相角φを計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の前記手段は、
    前記複数のサンプルSの1つ又は複数の使用によって1つ又は複数の直交項及び1つ又は複数の同相項を計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段であって、前記1つ又は複数の直交項のうちの1つ又は複数及び前記1つ又は複数の同相項のうちの1つ又は複数は、前記復調位相オフセットβと実質的に独立である、前記1つ又は複数の媒体内の手段と、
    前記1つ又は複数の直交項及び前記1つ又は複数の同相項の使用によって前記位相角φを計算するための、前記1つ又は複数の媒体内の手段と、
    を備える物品。
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