JP2007515306A - 電子装置 - Google Patents
電子装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007515306A JP2007515306A JP2006546458A JP2006546458A JP2007515306A JP 2007515306 A JP2007515306 A JP 2007515306A JP 2006546458 A JP2006546458 A JP 2006546458A JP 2006546458 A JP2006546458 A JP 2006546458A JP 2007515306 A JP2007515306 A JP 2007515306A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- electronic device
- movable element
- layer
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 29
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 62
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 3
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 2
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910015902 Bi 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020684 PbZr Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000012703 sol-gel precursor Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003631 wet chemical etching Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G5/00—Capacitors in which the capacitance is varied by mechanical means, e.g. by turning a shaft; Processes of their manufacture
- H01G5/16—Capacitors in which the capacitance is varied by mechanical means, e.g. by turning a shaft; Processes of their manufacture using variation of distance between electrodes
- H01G5/18—Capacitors in which the capacitance is varied by mechanical means, e.g. by turning a shaft; Processes of their manufacture using variation of distance between electrodes due to change in inclination, e.g. by flexing, by spiral wrapping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G5/00—Capacitors in which the capacitance is varied by mechanical means, e.g. by turning a shaft; Processes of their manufacture
- H01G5/40—Structural combinations of variable capacitors with other electric elements not covered by this subclass, the structure mainly consisting of a capacitor, e.g. RC combinations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H57/00—Electrostrictive relays; Piezoelectric relays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/20—Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators
- H10N30/204—Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators using bending displacement, e.g. unimorph, bimorph or multimorph cantilever or membrane benders
- H10N30/2041—Beam type
- H10N30/2042—Cantilevers, i.e. having one fixed end
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/0036—Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H57/00—Electrostrictive relays; Piezoelectric relays
- H01H2057/006—Micromechanical piezoelectric relay
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Micromachines (AREA)
- General Electrical Machinery Utilizing Piezoelectricity, Electrostriction Or Magnetostriction (AREA)
- Liquid Crystal Substances (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Sheets, Magazines, And Separation Thereof (AREA)
Abstract
マイクロ電気機械システム(MEMS)素子(101)は、基板(30)上にある第1電極(31)と、可動要素(40)とを有する。これは、少なくとも部分的に第1電極(31)に重なり、圧電アクチュエータを有する。可動要素(40)は、ギャップにより基板(30)から隔てられる第1位置と第2位置との間で、駆動電圧を印加することにより基板(30)から及び基板(30)に向かって移動可能である。ここで、上記圧電アクチュエータは、反対の表面にそれぞれ第2及び第3電極(21,22)を備えた圧電層(25)を有する。該第2電極(21)は基板(30)に面し、該第3電極(22)はMEMS素子(101)の入力電極を形成し、かくして、MEMS素子(101)間の電流経路は、上記圧電層(25)及び調整可能なギャップを有する。
Description
本発明は、マイクロ電気機械システム(MEMS)素子を備え、該MEMS素子は基板上にある第1電極と、少なくとも部分的に第1電極に重なり圧電アクチュエータを有する可動要素とを有し、該可動要素は該圧電アクチュエータへの駆動電圧の印加により、第1位置と第2位置との間を基板から及び/又は基板に向かって動くことができ、該第1位置では前記可動要素が基板からギャップにより隔てられている、電子装置に関する。
このような電子装置は、例えばGB−A2,353,410から知られている。この既知の電子装置は、圧電アクチュエータを備えた膜又はビームのような可動要素を有する。このアクチュエータは、駆動電極間に圧電材料の層を有する。可動要素は更に、基板上の第1電極に重なる第2電極を有する。駆動電圧を印加すると可動要素は湾曲し、第2電極は基板上の第1電極に向かって移動されるだろう。この第2の最終的な位置において、第2電極は第1電極に接触しうる。
可動要素の第2電極に別の層が必要とされることは、既知の電子装置の不利な点である。圧電材料の層は約600から800℃の高温で硬化されなければならないので、Ptが一般に電極材料として利用される。しかしながら、この材料は相対的に大きな内部抵抗を持つ。とりわけ高周波用途ではこのような内部抵抗は、損失及び散逸ばかりでなく、おそらく切り替えの遅延を生じうるので好ましくない。おそらくこのため、既知の電子装置は別の第2電極を有する。しかしながら、このような別の第2電極の利用は作製工程の複雑さを増大させる。
それゆえ本発明の目的は、可動要素を持つ冒頭に記載されたような電子装置であって、作製工程の複雑さを軽減したアクチュエータを備え、同時に依然として許容できる高周波性能を持つような電子装置を供給することにある。
本目的は、圧電アクチュエータが、第2及び第3電極をそれぞれ反対側の表面に備える圧電層を有することで達成される。アクチュエータの第2電極は基板に面しているが、一方第3電極はMEMS素子の入力電極を構成し、その結果MEMS素子間の電流経路は圧電層及び調整可能(tunable)なギャップを有する。
本発明の装置では作製工程の複雑さは、アクチュエータの電極の一つが、同時にMEMS素子の第2位置において第1電極と接触させることができる前記第2電極であるようにして軽減される。前記高周波性能は、アクチュエータがMEMS素子の一部であるコンデンサとして利用されることで維持される。実際にコンデンサが、そうでなければ必要とされる第3電極層における相互接続部の内部抵抗に代用される。圧電アクチュエータの容量は通常比較的大きいので、このコンデンサのインピーダンスは高周波性能に対して余り不利でない。アクチュエータを規定するためにかなりの表面面積が必要とされるだけでなく、圧電層は通常比較的高い誘電率を持つ。
第1実施例では第2の、可動要素の閉成位置において、第1電極が圧電層に接触するように、第1及び第2電極が配設される。接触する場所に第2電極がないことは、接触抵抗が低減されるという利点を持つ。その上第1及び第2電極は互いに絶縁され、所望であれば別々の電圧になりうる。
この実施例の変形において、可動要素がその第2の閉成位置にある場合、基板表面上に第2電極と接触する第4電極が存在する。MEMS素子は、そのように同時に入力に接続される2つの出力を備える。特に、MEMS素子の最大容量を増加させるために、並列に接続された2つのコンデンサがある。
第2実施例では、第2の、可動要素の閉成位置で、第1電極が第2電極に接触する。これによれば、MEMS素子はスイッチである。第1電極は単板として実施化できるが、しかし代わりに間隔をあけた複数のパッドとしても実施化されうる。これは、少なくともわずかに湾曲した可動要素でよい接触を得るための機会を増加させる。
第3電極は、他の素子との低インピーダンス結合を適切に備える。そのような低インピーダンス結合は、どんな種類の通常既知の相互接続でもありうる。第1の実施例では、第3電極は相互接続として横方向に延びる。この電極は通常圧電層の後に被着されるので、この選択は温度の制約条件に制限されない。特に、第3電極及び相互接続は十分な厚さを持つ金属層において規定される。十分な厚さとは、例えば第2電極の2倍の厚さであり、好ましくは少なくとも0.1ミクロンであって、より好ましくは0.5から3.0ミクロンのオーダーである。
有利なことに、相互接続はいかなるマイクロストリップとしても設計される。特に好ましいのは、第2電極が接地面の役割を果たす伝送線としての実施例である。しかしながらストリップラインの設計は除外されていない。
第2実施例では、相互接続は、圧電層から外に面した側で第3電極に結合される。この相互接続は、別の導電層でありうる。この導電層は第3電極に積層される又はそれに対してビアにより結合されうる。また相互接続は、1つ又はそれ以上のボンドワイヤーのような組み立てられた相互接合になりうる。
好ましくは、アクチュエータは、圧電層の湾曲する方向を規定するために利用されうるいかなる構造層もないものとする。そのかわり湾曲する方向は、第3電極が第2電極よりも厚くなることにより規定される。これは、可動要素の構成がかなり単純にできるという利点を持つ。理想的には両方の電極が同じ金属、特にPtを有する場合、第2電極の厚さは、第1電極の厚さの2倍と圧電層の厚さの半分との和に等しい。実際には、もし両方の電極の材料が同じであれば、その厚さの比率は4から10の間になり、もし似ていない材料が使われているならば、その厚さは、曲げ抵抗の比率が厚さの比率が4から10である同じ材料の2つの電極のものと同じになるように、調整されるべきである。
先行技術の文書GB−A2,353,410と比較すると、この利点を説明しうる。ここで示された可動要素は、カンチレバービーム又は膜のような別の構造層を持つ可動要素である。その結果、所望の湾曲する方向という観点では、アクチュエータはビーム又は膜の低い側に位置される。アクチュエータの湾曲は、可動要素を基板に向かって移動するためにビーム又は膜に伝達されなければならない。これは機械的な応力に関連し、膜とアクチュエータとの間の界面を例えばひび又は薄片に裂けることのような機械的な故障に対して傷つきやすくする。そのうえ、ある程度の剛性を意味する構造層の要件及び十分な弾性を意味する膜の要件もまた満たさなければならないので、ビーム又は膜のような材料の選択は本来的に困難である。更にアクチュエータの電極との接続が、可動要素上で必要である。本発明の装置では、可動要素は基本的に三つの層から構成されうる。界面の数はこのように制限され、可動要素の複雑さは軽減される。
本実施例の別の利点は、本実施例が静電MEMSの現行のプロセスにおける集積化を可能にする点である。適切なプロセスは、国際出願公開WO−A2004/54088の特に図7において知られており、3つの金属層、すなわち基板上の第1金属層、可動要素における第2及び第3層を有する。第3金属層は、機械的な安定性を提供すると共にコイルの規定を可能にするために、0.5から3.0ミクロンのオーダーの十分な厚さをもつ。第2層は、MEMS素子のより適切な規定のために利用される。これは独立して、第3層よりも高い解像度(resolution)でパターン成形可能である。好適には、犠牲層としての2つの無機層で利用され、第2及び第3層は垂直な相互接続により接続される。ここで、厚い第3電極を持ち、別の構造層を持たない構成は、構造的に静電MEMS処理に類似している。事実、第2電極上での圧電層の被着及びパターン成形ステップを含むことにより、作製工程の流れは、実質的に変更されない。
特に第3層の設計では、第2又は第3電極が全体に延在するプレートのような構造である必要はない、ということが理解されている。特に2つ又は複数の固定ビームの場合、圧電層の湾曲する振る舞いは、圧電層の部分が異なるように駆動されるように1つ又は両方の電極の構造化により改善される。好適には構造層は3つの部分に構造化され、第1電極に対向する中間の部分及び2つの縁部分からなる。好ましくは第3電極の層が構造化される。より好ましくは両方の金属層が構造化される。この構造化は、公開されていない欧州特許出願番号EP03104894.5(PHNL031531)においてより詳細に説明されている。
本発明の電子装置は、別の手法において製造されうる。一実施例では、犠牲層技術が利用され、第1及び第2電極の間のギャップが1つ又はそれ以上の犠牲層をエッチングすることによりつくられる。別の実施例では、先行技術特許出願GB−A2,353,410で公開されているような組み立て技術が利用される。当該電子装置におけるMEMS素子は、好適には別のパッケージ構造を備える。それは、好ましくはパッケージ構造における雰囲気が制御されるように、密閉して封入される。
本発明の方法の好ましい一実施例では、圧電層がペロブスカイト材料である。この例は、PbZrTiO3,Pb(X0.33Nb0.67)O3−PbTiO3(X=Mg、Zn、Ni又はその他)、Pb(Y0.5Nb0.5)O3−PbTiO3(Y=Sc、Mn、In、Y又はその他)を含む、La、Mn、W、Fe、Sb、Sr及びNiのような金属をドープされうる、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)族の材料である。これらの材料は、比較的穏やかな800℃以下の焼結温度でのゾルゲル前駆体を通じた良好なプロセス可能性と、直径6インチかそれより大きな大型基板でプロセスされるならば、制御可能な微細構造とに鑑みて好ましい。他の使われうるペロブスカイト材料は、例えば、Sr3TaGa3Si2O14;K(Sr1−xBax)2Nb5O15、ただし(0≦x≦1);Na(Sr1−xBax)2Nb5O15、ただし(0≦x≦1);BaTiO3;(K1−xNax)NbO3、ただし(0≦x≦1);(Bi,Na,K,Pb,Ba)TiO3;(Bi,Na)TiO3;Bi7Ti4NbO21;(K1−xNax)NbO3−(Bi,Na,K,Pb,Ba)TiO3,ただし(0≦x≦1);a(BixNa1−x)TiO3−b(KNbO3−c)1/2(Bi2O3−Sc2O3)、ただし(0≦x≦1)かつ(a+b+c=1);(BaaSrbCac)TixZr1−xO3、ただし(0≦x≦1)かつ(a+b+c=1);(BaaSrbLac)Bi4Ti4O15、ただし(a+b+c=1);Bi4Ti3O12;LiNbO3;La3Ga5.5Nb0.5O14;La3Ga5SiO14;La3Ga5.5Ta0.5O14;AlN;ZnOを含む。
MEMS素子は異なる手法で解釈されうる。効果的にはビームである圧電素子は1つの固定ビーム、2つの固定ビーム及び複数の固定ビームとして実施されうる。1つの固定ビームの場合、ビームに予備応力を加えることが有益である。これはゼロ駆動電圧で既定の湾曲が与えられることを意味する。駆動電圧の印加により圧電層は、印加された電場の方向と実質的に垂直な方向の伸張を見せるだろう。したがって、湾曲は小さくなり、第1及び第2MEMS電極間の容量は増加する又は第1及び第2電極間の電気的な接触が確立されるだろう。実験は、この平坦化が実際に達成されうることを示した。
本発明の装置のこれら及び他の態様は、図を参照して更に説明されるだろう。
図1は、本発明の装置の第1実施例の断面を概略図で示す。該装置は、MEMS素子101に限って示されている。これは本質的に、機械的なサポート38を通じて相互に接続された基板30及び可動要素40を有する。この実施例ではMEMS素子101は、基板30に可動要素40を組み立てることによって形成される。
可動要素40はアクチュエータとして利用され、圧電層25、第2電極21及び第3電極22を備える。それは、基板30の上に存在するサポート(support)38を通じて機械的に支持される。装置100は更に、基板30の上に第1電極31を有する。示されていないが、第2電極がアクチュエータには実質的に寄与しないように、可動要素には更なる電極がありえる。例えば第2及び第3電極21,22の間にアクチュエータ40への駆動電圧を印加すると、可動要素は第1電極31へ及び又は第1電極31から移動することができる。ビーム状の圧電素子を動かすという別の選択肢もある。通常可動要素は、駆動電圧を印加すると第1電極31に向かって移動され、駆動電圧を取り除いた後では基板30から離れた位置へ緩和されるだろう。
図1に示されたMEMS素子101は、ビーム状の圧電素子の担持層として圧電層25を持つ。この場合圧電層25は、Pb1.02La0.05Zr0.53Ti0.4O3なる組成の鉛ランタンジルコンチタンを有し、核となる層として鉛ジルコンチタンの第1層を含む。第3電極22を接続するように、垂直な相互接続23は圧電層25にある。この相互接続23は湿式ケミカルエッチング、例えば米国特許US4,759,823に記載の方法で形成される。第3電極22はTi/Ptを有し、第2電極21はTiW及びAlの2つの副層を有する。可動要素40は更に、この場合は窒化シリコンの構造層13と、この場合はTiO2のバリア層24とを有する。ボンドパッド(bond pad)26は、第2電極21の層に規定され、はんだ付け可能な金属(この場合Sn及びTiW/Auの層15,16,36,35で、それぞれ1から5マイクロメートルのオーダーの厚さを持つ)に覆われる。TiW/Al、TiW/Auの接続のため、ボンドパッド構造は、良い機械的安定性を持つ。TiW/Alを利用しているので、垂直相互接続23の導電性は非常に良い。
基板30は、この場合には熱酸化層32で覆われたシリコン基板であり、MEMS素子101を駆動するために必要とされる能動素子、並びに所望の集積回路及びフィルタに集積化されうる他の能動素子及び受動素子を有する。当業者が理解するように、MEMS素子101のための駆動電子は、部分的とはいえ取り除かれると、担持層に設けることができる。これは設計の問題であり、駆動電子を設けるために、必要とされる基板材料の品質及び、必要とされる機能の量に依存する。MEMS素子101は、可動要素(示されていない)の担体が少なくとも部分的に取り除かれることで形成される。特にそれが完全に表面から取り除かれる場合、組み立ての後にだけ担体を取り除くのが好ましい。取り除く場合、それ自体が既知の技術を利用することができる。特に窒化シリコンの構造層13もまたエッチング阻止層の役目を果たす。
図1に示された実施例は、コンデンサである。更にそれは、可動要素40の上の第2電極21及び基板30の上の第1電極31が、垂直に投影した場合に一方が他方と重ならないように配置されるという特徴をもつ。
コンデンサは以下のように動作する。駆動電圧を印加すると可動要素40は、基板30側に向かって湾曲するだろう。そして圧電層25は、第1電極31に接触するだろう。その結果コンデンサは、実質的に第3電極22、圧電層25及び第1電極31で構成される。
このコンデンサの利点は、MEMS素子101が開放される場合に良い絶縁状態であり、それでもなお電気的な損失は低い。これは、圧電層25を通じた漏洩電流が非常に制限され、圧電層25が例えば20から150Vという高い絶縁破壊電圧を持つことで達成される。これらの有利な特性は、圧電層25の無孔構造及び密度、並びに好ましくは200ナノメートル以上のその厚さに起因する。
図2は、図1に示された原理の他の実現を示す。前記素子101は、可動要素40を有し、とりわけ高周波入力102及び高周波出力103を有する。示された構造は、厚さ0.5マイクロメートルの圧電層25(この場合実質的にPbZr0.53Ti0.47O3で構成され、比誘電率は約1000)を備える。第3電極22は、厚さ1マイクロメートルのTiW/Al又はAlの層である。第2電極21は0.3マイクロメートルのPtの層である。前記素子は、閉成状態での容量が、典型的に5ナノメートル以上のオーダーである接触部21、31の表面の粗さにより制限される容量性のスイッチである。これはコンデンサ密度に負の影響を与える。高い誘電率の誘電体を用いることにより、結果としてのコンデンサは、平均誘電率が依然としてかなり大きいので、それでもなお十分な密度を持つ。
同じ構造は、直流電気のスイッチにも利用されうる。このスイッチの背景にある考えは、第3電極22が抵抗損失を低減させながら高周波信号を伝送するために使われるだろうということである。高周波信号は誘電体を通過しなければならないがこれは、コンデンサのエリアは完全な可動要素40と同じ大きさであるという事実、高い周波数及び高誘電性を考慮すると実際には不利ではない。
Claims (10)
- マイクロ電気機械システム(MEMS)素子を備える電子装置であって、
− 基板の表面上に存在する第1電極と、
− この第1電極に少なくとも部分的に重なると共に圧電アクチュエータを有する可動要素であって、駆動電圧を印加することにより、ギャップにより前記基板から隔てられた第1位置と第2位置との間において該基板から及び該基板に向かって移動可能な可動要素と、
を有する電子装置において、
前記圧電アクチュエータは、第2及び第3電極がそれぞれ反対側の表面に備えられている圧電層を有し、該第2電極が前記基板に面し、該第3電極が前記MEMS素子の入力電極を形成し、これにより、該MEMS素子間の電流経路が前記圧電層及び調整可能な前記ギャップを有する電子装置。 - 前記第1及び前記第2電極は、前記可動要素の閉じた第2位置において前記第1電極が誘電体層に接触するように構成される、請求項1に記載の電子装置。
- 前記基板の表面上に第4電極が存在し、該第4電極は前記可動要素が前記閉じた第2位置にある場合に前記第2電極と接触する、請求項2に記載の電子装置。
- 前記可動装置の閉じた第2位置において、前記第1電極が前記第2電極と接触する、請求項1に記載の電子装置。
- 前記可動要素がいかなる追加の構造層も持たず、前記第3電極の層及び前記圧電層の少なくとも1つが、該可動要素の担持層を構成する、請求項1に記載の電子装置。
- 前記第3電極が当該装置内の他の要素に対する相互接続部として横方向に延びる、請求項1又は5に記載の電子装置。
- 前記第3電極が伝送線として機能するように前記第2電極が接地される、請求項6に記載の電子装置。
- 前記第2電極が、前記第3電極の厚さのせいぜい半分の厚さを持つ、請求項1又は2に記載の電子装置。
- 前記第2電極の厚さが前記第3電極の厚さのせいぜい5分の1である、請求項8に記載の電子装置。
- 前記第2及び前記第3電極の層の少なくとも1つが、前記圧電層の部分に異なる駆動電圧を与えることができるように構造化される、請求項1又は5に記載の電子装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP03104892 | 2003-12-22 | ||
PCT/IB2004/052868 WO2005064701A2 (en) | 2003-12-22 | 2004-12-20 | Electronic device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007515306A true JP2007515306A (ja) | 2007-06-14 |
Family
ID=34717223
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006546458A Withdrawn JP2007515306A (ja) | 2003-12-22 | 2004-12-20 | 電子装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7345404B2 (ja) |
EP (1) | EP1726048B1 (ja) |
JP (1) | JP2007515306A (ja) |
CN (1) | CN1898814B (ja) |
AT (1) | ATE408241T1 (ja) |
DE (1) | DE602004016569D1 (ja) |
WO (1) | WO2005064701A2 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2382419B (en) * | 2001-11-22 | 2005-12-14 | Hewlett Packard Co | Apparatus and method for creating a trusted environment |
US7098577B2 (en) * | 2002-10-21 | 2006-08-29 | Hrl Laboratories, Llc | Piezoelectric switch for tunable electronic components |
US7085121B2 (en) | 2002-10-21 | 2006-08-01 | Hrl Laboratories, Llc | Variable capacitance membrane actuator for wide band tuning of microstrip resonators and filters |
US7656071B2 (en) * | 2002-10-21 | 2010-02-02 | Hrl Laboratories, Llc | Piezoelectric actuator for tunable electronic components |
CN1898814B (zh) | 2003-12-22 | 2010-08-11 | Nxp股份有限公司 | 电子器件 |
WO2005064634A1 (de) * | 2003-12-22 | 2005-07-14 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Elektronisches gerät mit einem mikro-elektromechanischen schalter aus piezoelektrischem material |
JP4580826B2 (ja) * | 2005-06-17 | 2010-11-17 | 株式会社東芝 | マイクロメカニカルデバイス、マイクロスイッチ、容量可変キャパシタ、高周波回路及び光学スイッチ |
KR20070081321A (ko) * | 2006-02-10 | 2007-08-16 | 삼성전자주식회사 | 모놀리식 rf 회로 및 이의 제조 방법 |
JP2008238330A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-09 | Toshiba Corp | Mems装置およびこのmems装置を有する携帯通信端末 |
US7830066B2 (en) * | 2007-07-26 | 2010-11-09 | Freescale Semiconductor, Inc. | Micromechanical device with piezoelectric and electrostatic actuation and method therefor |
JP2009055683A (ja) | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Toshiba Corp | 圧電駆動型mems装置および携帯端末 |
US8274200B2 (en) * | 2007-11-19 | 2012-09-25 | Xcom Wireless, Inc. | Microfabricated cantilever slider with asymmetric spring constant |
EP2562836A4 (en) * | 2010-04-23 | 2014-07-23 | Murata Manufacturing Co | PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME |
WO2012131911A1 (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-04 | 富士通株式会社 | 電子デバイスとその製造方法 |
CN106918397B (zh) * | 2015-12-28 | 2019-09-27 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | Mems器件、mems温度传感器及各自的制作方法 |
US10439581B2 (en) * | 2017-03-24 | 2019-10-08 | Zhuhai Crystal Resonance Technologies Co., Ltd. | Method for fabricating RF resonators and filters |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3646413A (en) * | 1970-09-25 | 1972-02-29 | Avco Corp | Piezoelectric-driven variable capacitor |
US4675960A (en) * | 1985-12-30 | 1987-06-30 | Motorola, Inc. | Method of manufacturing an electrically variable piezoelectric hybrid capacitor |
US4759823A (en) | 1987-06-02 | 1988-07-26 | Krysalis Corporation | Method for patterning PLZT thin films |
DE3728864A1 (de) * | 1987-08-28 | 1989-03-09 | Siemens Ag | Kondensatoranordnung |
DE8909563U1 (de) * | 1989-08-09 | 1989-10-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Piezoelektrischer Biegewandler |
US5880553A (en) * | 1996-05-15 | 1999-03-09 | Murata Manufacturing Co.,Ltd. | Electronic component and method of producing same |
GB2353410B (en) | 1999-08-18 | 2002-04-17 | Marconi Electronic Syst Ltd | Electrical switches |
TW469657B (en) * | 2000-11-30 | 2001-12-21 | Ind Tech Res Inst | Piezoelectric-actuated adjustable electronic device |
US6903491B2 (en) * | 2001-04-26 | 2005-06-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Piezoelectric element, actuator, and inkjet head |
JP4100202B2 (ja) * | 2002-03-18 | 2008-06-11 | セイコーエプソン株式会社 | 圧電アクチュエータ、及び、液体噴射ヘッド |
KR100485787B1 (ko) * | 2002-08-20 | 2005-04-28 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 스위치 |
US7098577B2 (en) * | 2002-10-21 | 2006-08-29 | Hrl Laboratories, Llc | Piezoelectric switch for tunable electronic components |
US7132723B2 (en) * | 2002-11-14 | 2006-11-07 | Raytheon Company | Micro electro-mechanical system device with piezoelectric thin film actuator |
GB0320405D0 (en) * | 2003-08-30 | 2003-10-01 | Qinetiq Ltd | Micro electromechanical system switch |
WO2005059932A1 (de) * | 2003-12-18 | 2005-06-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Kondensator mit veränderbarer kapazität, verfahren zum herstellen des kondensators und verwendung des kondensators |
CN1898814B (zh) | 2003-12-22 | 2010-08-11 | Nxp股份有限公司 | 电子器件 |
FR2864951B1 (fr) * | 2004-01-14 | 2006-03-31 | Suisse Electronique Microtech | Dispositif de type microsysteme electromecanique a film mince piezoelectrique |
JP4496091B2 (ja) * | 2004-02-12 | 2010-07-07 | 株式会社東芝 | 薄膜圧電アクチュエータ |
JP4408266B2 (ja) * | 2004-04-22 | 2010-02-03 | 日本碍子株式会社 | マイクロスイッチ及びその製造方法 |
-
2004
- 2004-12-20 CN CN200480038318.3A patent/CN1898814B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-20 AT AT04806599T patent/ATE408241T1/de not_active IP Right Cessation
- 2004-12-20 EP EP04806599A patent/EP1726048B1/en not_active Not-in-force
- 2004-12-20 JP JP2006546458A patent/JP2007515306A/ja not_active Withdrawn
- 2004-12-20 WO PCT/IB2004/052868 patent/WO2005064701A2/en active IP Right Grant
- 2004-12-20 US US10/584,042 patent/US7345404B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-20 DE DE602004016569T patent/DE602004016569D1/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE602004016569D1 (de) | 2008-10-23 |
ATE408241T1 (de) | 2008-09-15 |
WO2005064701A3 (en) | 2006-03-02 |
WO2005064701A8 (en) | 2006-10-26 |
EP1726048A2 (en) | 2006-11-29 |
US7345404B2 (en) | 2008-03-18 |
CN1898814A (zh) | 2007-01-17 |
EP1726048B1 (en) | 2008-09-10 |
US20070108875A1 (en) | 2007-05-17 |
WO2005064701A2 (en) | 2005-07-14 |
CN1898814B (zh) | 2010-08-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10160635B2 (en) | MEMS device and process for RF and low resistance applications | |
US6992878B2 (en) | Tunable capacitor and method of fabricating the same | |
KR101092536B1 (ko) | 압전형 rf 멤스 소자 및 그 제조방법 | |
JP4834443B2 (ja) | 圧電駆動型memsアクチュエータ | |
JP4496091B2 (ja) | 薄膜圧電アクチュエータ | |
WO2011132532A1 (ja) | 圧電アクチュエータおよび圧電アクチュエータの製造方法 | |
US7215066B2 (en) | Piezoelectric actuator and micro-electromechanical device | |
US7098577B2 (en) | Piezoelectric switch for tunable electronic components | |
JP2007515306A (ja) | 電子装置 | |
US8604670B2 (en) | Piezoelectric ALN RF MEM switches monolithically integrated with ALN contour-mode resonators | |
KR20070053515A (ko) | Rf 멤스 스위치 및 그 제조방법 | |
EP1385189A2 (en) | Switch | |
CN100547723C (zh) | 微移动器件及使用湿蚀刻的制造方法 | |
US7723822B2 (en) | MEMS element having a dummy pattern | |
JP2004172504A (ja) | 可変キャパシタ、それを備えたパッケージ及び可変キャパシタの製造方法 | |
JP2007123494A (ja) | 可変容量コンデンサ | |
JP3696193B2 (ja) | 可変キャパシタ及びその製造方法 | |
US7952259B2 (en) | Electronic apparatus with a micro-electromechanical switch made of a piezoeletric material | |
KR100798981B1 (ko) | 가변 커패시터 및 그 제조 방법 | |
JP2014229403A (ja) | スイッチ及びスイッチ装置及びスイッチ装置の駆動方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20070326 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071214 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20080424 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20090915 |