JP2007514953A - 多重回転スペクトロメータ - Google Patents
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Abstract
Description
[GA][IA/KA]≦最大出力 (1)
(式中、最大出力は、検出回路のリニア領域の最大出力電圧を表す)
が満たされるべきである。
[GA][IJ]≦最大出力 (2)
[GA][I1A]≦最大出力 (3)
実際、放射源314、316、および318からの電磁放射の放出強度の変動に対応するために、最大出力に安全係数(例えば、80%)を掛け合わせてもよく、このような変動は、時間の経過とともに生じたり、入力放射源ごとに生じたりするものである。
[GA][I2A]≦最大出力 (4)
再度言うが、放射源314、316、および318からの電磁放射の放出強度の変動に対応するために、最大出力に安全係数(例えば、80%)を掛け合わせてもよく、このような変動は、時間の経過とともに生じたり、入力放射源ごとに生じたりする。
Claims (45)
- 第1の可動本体に収容された複数の光学帯域通過フィルタと、
複数の検出器回路と、
を備えるスペクトロメータであって、前記各検出器回路は、単一の光学帯域通過フィルタに永久的に光電結合される、スペクトロメータ。 - 前記複数の検出器回路は、前記第1の本体とともに回転する第2の本体に配置される、請求項1に記載のスペクトロメータ。
- 前記第1の本体および前記第2の本体は、互いに固定結合される、請求項2に記載のスペクトロメータ。
- 前記スペクトロメータは、
前記検出器回路の各々に動作可能に結合されたコンピュータをさらに備える、請求項1に記載のスペクトロメータ。 - 前記スペクトロメータは、
前記検出器回路の各々に動作可能に結合されたコンピュータをさらに備える、請求項2に記載のスペクトロメータ。 - 前記検出器回路および前記コンピュータは、複数の電気経路を介して動作可能に結合され、前記各経路は、前記検出器回路と前記コンピュータとの間に介在させたスリップリングを通る、請求項5に記載のスペクトロメータ。
- 前記スペクトロメータは、
複数の光電素子をさらに有し、
前記各光電素子は、前記複数の光学帯域通過フィルタの1つと、前記複数の検出器回路の1つとの間に介在され、前記光電素子の各々は、電磁放射を受け取り、受け取った電磁放射の強度にほぼ比例した電気信号を生成するように配設される、請求項1に記載のスペクトロメータ。 - 前記各光電素子は、単一の光学帯域通過フィルタに永久的に光学的に結合され、単一の検出器回路に永久的に電気的に結合される、請求項7に記載のスペクトロメータ。
- 前記各光電素子は、前記第1の本体とともに回転する第2の本体に配置される、請求項8に記載のスペクトロメータ。
- 前記複数の検出器回路は、前記第2の本体に配置される、請求項9に記載のスペクトロメータ。
- 前記第1の本体および前記第2の本体は、互いに固定結合される、請求項9に記載のスペクトロメータ。
- 前記光電素子および前記検出回路は、複数の電気経路を介して動作可能に結合され、前記各経路は、前記光電素子と前記検出器回路との間に介在させたスリップリングを通る、請求項9に記載のスペクトロメータ。
- 電磁放射を伝える光導波路を受けるように各々が配設された複数の入力ポートと、
当該各光学帯域通過フィルタが各入力ポートと整列した状態になるように配設された第1の可動本体に収容された、複数の光学帯域通過フィルタと、
前記第1の本体とともに動く第2の本体に配置された複数の検出器回路と、
を具備するスペクトロメータであって、
前記各検出器回路が前記複数の光学帯域通過フィルタの1つに光電結合されることで、前記各検出器回路は、光電結合された帯域通過フィルタによって決定される波長範囲に応答することになる、スペクトロメータ。 - 前記各検出器回路は、制御可能な利得係数を有する、請求項13に記載のスペクトロメータ。
- 前記各検出器回路が、利得粗制御および利得微制御を有する、請求項14に記載のスペクトロメータ。
- 前記各検出器回路は、暗電流を補償するためのオフセット係数を有する、請求項13に記載のスペクトロメータ。
- 前記第2の本体は、前記第1の本体に固定結合される、請求項13に記載のスペクトロメータ。
- 前記スペクトロメータは、
前記検出器回路の各々に動作可能に結合されたコンピュータをさらに具備する、請求項13に記載のスペクトロメータ。 - 前記検出器回路および前記コンピュータが、複数の電気経路を介して動作可能に結合され、前記各経路は、前記検出器回路と前記コンピュータとの間に介在させたスリップリングを通る、請求項18に記載のスペクトロメータ。
- 前記スリップリングは、前記第2の本体に固定結合された、請求項19に記載のスペクトロメータ。
- 前記スリップリングを通り、前記検出回路まで延在する電気経路を介して、前記検出器回路に電力が供給される、請求項20に記載のスペクトロメータ。
- 前記入力ポートは、プレートの片面から反対側の面へ延在する開口を有する、請求項13に記載のスペクトロメータ。
- 前記第1の本体は、円形のプレートを有する、請求項13に記載のスペクトロメータ。
- 前記円形プレートは、前記プレートの片面から他方の面まで延在する複数の開口を有し、前記開口は、前記光学帯域通過フィルタを収容するような寸法のものである、請求項23に記載のスペクトロメータ。
- 電磁放射を伝える光導波路を受けるように各々が配設された複数の入力ポートと、任意の所与の前記入力ポートと整列した状態になるように各々が可動である複数の光学帯域通過フィルタと、1つの光学帯域通過フィルタに各々が光電結合された複数の検出器回路と、を具備するスペクトロメータにおいて検出器回路の利得係数を選択する方法であって、
放射源から前記光導波路の1つに沿って、前記光学帯域通過フィルタの1つに電磁放射を供給するステップと、
光電素子を用いて、前記1つの光学帯域通過フィルタを通過した電磁放射を受け取り、前記光電素子に衝突する電磁放射の強度にほぼ比例した振幅を有する電気信号を生じるステップと、
前記1つの光学帯域通過フィルタに結合された前記検出器回路に電気信号を供給することで、前記電気信号にほぼ比例した検出器出力信号を生じるステップと、
前記光導波路の別のものと整列するように前記1つの光学帯域通路フィルタを動かすことなく、前記1つの光学帯域通過フィルタに結合された前記検出器回路の利得係数を調節するステップと、
を有する方法。 - 前記電磁放射源は、選択可能な出力レベルを有し、前記出力レベルが、最大レベルに選択される、請求項25に記載の方法。
- 前記利得係数は、前記検出器出力信号を規定の電圧レベルにするように前記利得係数を選択することによって調節される、請求項26に記載の方法。
- 前記利得係数は、前記検出器出力信号を規定の電圧レベルにするように前記利得係数を選択することによって調節される、請求項25に記載の方法。
- 前記指定の電圧レベルは、前記1つの光学帯域通過フィルタに結合された前記検出器回路の最大出力電圧の約80パーセントである、請求項28に記載の方法。
- 前記光導波路の各々は、別個の電磁放射源からの電磁放射を方向付ける、請求項25に記載の方法。
- 前記別個の電磁放射源の各々は、実質的に同様の波長強度特性を呈する、請求項30に記載の方法。
- 前記光導波路の各々は、同一の電磁放射源からの電磁放射を方向付ける、請求項25に記載の方法。
- 前記光導波路の第1および第2の導波路が、第1の電磁放射源からの電磁放射を方向付け、第3の光導波路が、第2の電磁放射源からの電磁放射を方向付ける、請求項25に記載の方法。
- 少なくとも1つの製造段階中に、電磁放射にさらされる物品の製造方法であって、
第1の状態にある物質を電磁放射源にもたらすステップと、
前記物質を前記電磁放射にさらすことで、前記物質が第2の状態に転移されるステップと、
モータの制御下で回転する第1の本体に収容された複数の光学帯域通過フィルタと、単一の光学帯域通過フィルタに各々が永久的に光電結合された複数の検出器回路と、を有するスペクトロメータで電磁放射源をモニタリングするステップと、
を有する方法。 - 前記複数の検出器回路は、前記第1の本体とともに回転する第2の本体に配置される、請求項34に記載の方法。
- 前記第1の本体および第2の本体は、互いに固定結合される、請求項35に記載の方法。
- 前記スペクトロメータは、
前記検出器回路の各々に動作可能に結合されたコンピュータをさらに具備する、請求項34に記載の方法。 - 前記スペクトロメータは、
前記検出器回路の各々に動作可能に結合されたコンピュータをさらに具備する、請求項35に記載の方法。 - 前記検出器回路およびコンピュータは、複数の電気経路を介して動作可能に結合され、前記各経路は、前記検出器回路と前記コンピュータとの間に介在させたスリップリングを通る、請求項38に記載の方法。
- 前記スペクトロメータは、
複数の光電素子をさらに有し、
前記各光電素子は、前記複数の光学帯域通過フィルタの1つと、前記複数の検出器回路の1つとの間に介在され、前記光電素子の各々は、電磁放射を受け取り、受け取った電磁放射の強度にほぼ比例した電気信号を生成するように配設される、請求項34に記載の方法。 - 前記各光電素子は、単一の光学帯域通過フィルタに永久的に光学的に結合され、単一の検出器回路に永久的に電気的に結合される、請求項40に記載の方法。
- 前記各光電素子は、前記第1の本体とともに回転する第2の本体に配置される、請求項41に記載の方法。
- 前記複数の検出器回路は、前記第2の本体に配置される、請求項42に記載の方法。
- 前記第1の本体および前記第2の本体は、互いに固定結合される、請求項42に記載の方法。
- モータの制御下で回転する第1の本体に収容された複数の光学帯域通過フィルタと、
複数の検出器回路と、
を具備するスペクトロメータであって、減光フィルタを含まない、スペクトロメータ。
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Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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SG130048A1 (en) * | 2005-08-18 | 2007-03-20 | Glucostats System Pte Ltd | An arrangement for a selection of a wavelength |
US7679745B2 (en) * | 2006-11-21 | 2010-03-16 | Neptec Optical Solutions | Time-resolved fluorescence spectrometer for multiple-species analysis |
NL1033815C2 (nl) * | 2007-05-07 | 2008-11-10 | Friesland Brands Bv | Werkwijze en inrichting voor het bereiden van kaas uit melk. |
US8049894B2 (en) * | 2007-10-05 | 2011-11-01 | Lightwaves 2020, Inc. | Multiple wavelength optical analyzer device |
CN101419240B (zh) * | 2007-10-23 | 2013-07-17 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 样本分析装置和样本分析方法 |
CN101419156B (zh) * | 2007-10-23 | 2012-12-05 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 分光光度检测方法与装置以及检测系统 |
JP5527858B2 (ja) * | 2008-11-18 | 2014-06-25 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | フィルタホイール分光計 |
US9291506B2 (en) * | 2010-01-27 | 2016-03-22 | Ci Systems Ltd. | Room-temperature filtering for passive infrared imaging |
FI128285B (en) | 2014-06-27 | 2020-02-28 | Metso Automation Oy | Multichannel optical measurement unit, multichannel optical detector unit and related measurement method |
FR3046879B1 (fr) * | 2016-01-20 | 2022-07-15 | Ulis | Procede de fabrication d'un detecteur de rayonnement electromagnetique a micro-encapsulation |
KR102289043B1 (ko) * | 2017-07-25 | 2021-08-10 | 삼성전자주식회사 | 스펙트럼 측정 장치 및 방법 |
JPWO2021171905A1 (ja) * | 2020-02-28 | 2021-09-02 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6176330A (ja) * | 1984-09-25 | 1986-04-18 | Toyota Motor Corp | 成形品の表皮巻込み方法およびその巻込み装置 |
JPH06294512A (ja) * | 1993-04-06 | 1994-10-21 | Babcock Hitachi Kk | 燃焼診断装置 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE291855C (ja) | 1914-02-03 | |||
DE6946593U (de) | 1969-12-02 | 1973-08-02 | Heye Hermann Fa | Vorrichtung zur feststellung von unregelmaessigkeiten in hohlglasgegenstaenden. |
US3877812A (en) * | 1973-01-31 | 1975-04-15 | Wilks Scientific Corp | Multiple wavelength spectrometer |
JPS5832338B2 (ja) * | 1975-06-21 | 1983-07-12 | コニカ株式会社 | 走査型カラ−濃度計 |
JPS5934252B2 (ja) * | 1976-10-02 | 1984-08-21 | 国際技術開発株式会社 | 炎感知器 |
US4176916A (en) * | 1977-03-14 | 1979-12-04 | Neotec Corporation | Cam filter wheel |
DE2930431A1 (de) * | 1979-07-26 | 1981-02-26 | Boehringer Mannheim Gmbh | Polychromatisches photometer |
US4363967A (en) * | 1980-10-07 | 1982-12-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method and apparatus for far infrared detection |
US4477190A (en) | 1981-07-20 | 1984-10-16 | American Hospital Supply Corporation | Multichannel spectrophotometer |
SU1257414A1 (ru) | 1985-04-01 | 1986-09-15 | Вильнюсский Ордена Трудового Красного Знамени И Ордена Дружбы Народов Государственный Университет Им.В.Капсукаса | Способ фотометрировани звездного пол и мультиплексирующий сканирующий фотометр дл его осуществлени |
US4755054A (en) * | 1986-05-07 | 1988-07-05 | E-Squared Engineering, Inc. | Multichannel, optical-fiber-based spectrometer |
DE69103714T2 (de) * | 1990-10-01 | 1995-04-20 | Eastman Kodak Co | Spektralphotometer mit Mitteln zur gleichzeitigen Modulierung, Umschaltung und Wellenlängenauswahl einer Lichtquelle. |
US5165078A (en) * | 1991-03-25 | 1992-11-17 | Miles Inc. | Multi-channel, multi-wavelength detection system |
DE4125548A1 (de) | 1991-08-01 | 1993-02-04 | Hauck Gmbh | Licht- und farbintensitaets-messgeraet |
JP3400056B2 (ja) | 1992-12-25 | 2003-04-28 | ティーディーケイ株式会社 | リチウム二次電池 |
EP0633618B1 (en) * | 1992-12-25 | 2000-03-22 | TDK Corporation | Lithium secondary cell |
US6254385B1 (en) * | 1997-01-02 | 2001-07-03 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth |
JPH109961A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-01-16 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光波長監視装置 |
DK172795B1 (da) * | 1997-02-28 | 1999-07-19 | Slagteriernes Forskningsinst | Reflektionsmåleudstyr til bestemmelse af kvalitetsegenskaber ved emner, navnlig fedtholdige emner |
JPH11201817A (ja) | 1998-01-12 | 1999-07-30 | Satake Eng Co Ltd | 光学フィルタホイ−ルの駆動方法及びその駆動装置 |
EP0953838A1 (en) | 1998-05-01 | 1999-11-03 | F. Hoffmann-La Roche Ag | Apparatus for simultaneously monitoring reactions taking place in a plurality of reaction vessels |
JP4089093B2 (ja) | 1999-07-28 | 2008-05-21 | 住友電気工業株式会社 | 波長多重信号数監視装置 |
US7062178B1 (en) | 1999-10-08 | 2006-06-13 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Photodetector array and optical branching filter using the array |
DE10032948A1 (de) | 2000-07-06 | 2002-01-17 | Rudolf Huber | Spektroskopische Messung mehrerer Komponenten mit einem Filterrad |
-
2003
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6176330A (ja) * | 1984-09-25 | 1986-04-18 | Toyota Motor Corp | 成形品の表皮巻込み方法およびその巻込み装置 |
JPH06294512A (ja) * | 1993-04-06 | 1994-10-21 | Babcock Hitachi Kk | 燃焼診断装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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