JPH076835B2 - 放射計の軌道上校正装置 - Google Patents
放射計の軌道上校正装置Info
- Publication number
- JPH076835B2 JPH076835B2 JP1254345A JP25434589A JPH076835B2 JP H076835 B2 JPH076835 B2 JP H076835B2 JP 1254345 A JP1254345 A JP 1254345A JP 25434589 A JP25434589 A JP 25434589A JP H076835 B2 JPH076835 B2 JP H076835B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- light
- radiometer
- solid
- orbit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は宇宙飛行体搭載用放射計の軌道上校正装置に関
し、特に透過率可変器を使用して１個の校正光源により
放射計感度のリニアリティ及び０点校正即ち多点校正を
行うことができる放射計の軌道上校正装置に関する。
し、特に透過率可変器を使用して１個の校正光源により
放射計感度のリニアリティ及び０点校正即ち多点校正を
行うことができる放射計の軌道上校正装置に関する。
衛星等の宇宙飛行体からのリモートセンシングに用いら
れる放射計は、宇宙環境における不測の事態によって性
能劣化等が生じるため、感度の軌道上校正が画像データ
利用上重要な意味を持っている。ここで、入力が出力に
対し直線関係となる線形センタの放射計においては、出
力Ｖと入力Ｐとの間に次式に示す関係が成り立つ。
れる放射計は、宇宙環境における不測の事態によって性
能劣化等が生じるため、感度の軌道上校正が画像データ
利用上重要な意味を持っている。ここで、入力が出力に
対し直線関係となる線形センタの放射計においては、出
力Ｖと入力Ｐとの間に次式に示す関係が成り立つ。
Ｖ＝aP＋ｂ これは第３図に示す関係であり、放射計の校正とは、感
度ａとゼロ点ｂの決定を行うことである。このために、
入力Ｐの２レベル以上での校正即ち多点校正が必要とな
る。
度ａとゼロ点ｂの決定を行うことである。このために、
入力Ｐの２レベル以上での校正即ち多点校正が必要とな
る。
従来、上述のような放射計の軌道上校正装置では、２レ
ベル以上の校正光量を発生させるため、LANDSAT搭載TM
（Thematic Mapper）のように校正光源としてランプを
多数個設ける構成が採用されていた。第４図はそのよう
な放射計の軌道上校正装置の構成を示す。同図におい
て、１は図示しない被撮像体からの撮像光であり、通常
の動作時にはその撮像光１が望遠鏡２等の光学的手段に
よって固体撮像素子（例えばCCD）３に導かれてそこに
結像を生じ、この固体撮像素子３の出力によって地表の
放射エネルギのイメージング等を行うものである。ま
た、軌道上校正時には、光量の異なる複数個のランプ４
−1,4−2,4−３を制御部11′が適宜切り換えてその１つ
のランプの光をハーフミラー12−1,12−2,光ガイド（リ
レー光学系）５及び校正光導入ミラー６から構成される
光学的校正手段を通じて望遠鏡２に導き、撮像光１に代
えて校正光源の光を固体撮像素子３に入射させる。そし
て、その際に固体撮像素子３から得られる出力に基づき
制御部11′が放射系の軌道上校正を行うものである。な
お、光ガイド５には、波長選択ハーフミラー10とこの波
長選択ハーフミラー10によって選択された校正光の或る
波長の光の一部を受光する校正光モニタ素子（例えばホ
トダイオード）９とが設けられ、この校正光モニタ素子
９の出力を監視することにより、校正光のレベル変化が
モニタできるようになっている。
ベル以上の校正光量を発生させるため、LANDSAT搭載TM
（Thematic Mapper）のように校正光源としてランプを
多数個設ける構成が採用されていた。第４図はそのよう
な放射計の軌道上校正装置の構成を示す。同図におい
て、１は図示しない被撮像体からの撮像光であり、通常
の動作時にはその撮像光１が望遠鏡２等の光学的手段に
よって固体撮像素子（例えばCCD）３に導かれてそこに
結像を生じ、この固体撮像素子３の出力によって地表の
放射エネルギのイメージング等を行うものである。ま
た、軌道上校正時には、光量の異なる複数個のランプ４
−1,4−2,4−３を制御部11′が適宜切り換えてその１つ
のランプの光をハーフミラー12−1,12−2,光ガイド（リ
レー光学系）５及び校正光導入ミラー６から構成される
光学的校正手段を通じて望遠鏡２に導き、撮像光１に代
えて校正光源の光を固体撮像素子３に入射させる。そし
て、その際に固体撮像素子３から得られる出力に基づき
制御部11′が放射系の軌道上校正を行うものである。な
お、光ガイド５には、波長選択ハーフミラー10とこの波
長選択ハーフミラー10によって選択された校正光の或る
波長の光の一部を受光する校正光モニタ素子（例えばホ
トダイオード）９とが設けられ、この校正光モニタ素子
９の出力を監視することにより、校正光のレベル変化が
モニタできるようになっている。
上述した従来の放射計の軌道上校正装置によっても多点
校正は可能であるが、複数の校正光源を設けそれらの光
を幾つかのハーフミラー（或いはハーフプリズムでも良
い）によって適宜選択することにより２レベル以上の校
正光量を得ているので、全体の重量，電力，サイズが大
きくなり、また多数個のランプ間の劣化の相違から精度
解析が難しく校正精度の悪化を招いていた。
校正は可能であるが、複数の校正光源を設けそれらの光
を幾つかのハーフミラー（或いはハーフプリズムでも良
い）によって適宜選択することにより２レベル以上の校
正光量を得ているので、全体の重量，電力，サイズが大
きくなり、また多数個のランプ間の劣化の相違から精度
解析が難しく校正精度の悪化を招いていた。
なお、宇宙飛行体搭載用ではなく地上設置体の或る種の
装置では、第５図に示すように、回転軸22によって回転
可能な回転板21にそれぞれ減衰率の異なる複数個のNDフ
ィルタ23−1,23−2,23−３を取り付け、１個のランプ20
の出射光量をそれらNDフィルタの選択によって可変にす
る光源光量可変装置が採用されている。このような光源
光量可変装置を使用すれば１個のランプで済む利点があ
るが、サイズが大きいと共に機械的な動きを伴うので寿
命上に問題があって精度が劣化し易く、さらに光学系へ
のコンタミネーション等の問題を招くので、宇宙飛行体
搭載放射計に適用するのは好ましくない。
装置では、第５図に示すように、回転軸22によって回転
可能な回転板21にそれぞれ減衰率の異なる複数個のNDフ
ィルタ23−1,23−2,23−３を取り付け、１個のランプ20
の出射光量をそれらNDフィルタの選択によって可変にす
る光源光量可変装置が採用されている。このような光源
光量可変装置を使用すれば１個のランプで済む利点があ
るが、サイズが大きいと共に機械的な動きを伴うので寿
命上に問題があって精度が劣化し易く、さらに光学系へ
のコンタミネーション等の問題を招くので、宇宙飛行体
搭載放射計に適用するのは好ましくない。
以上のようなことから、重量，電力，サイズ，寿命等の
制約が大きい宇宙飛行体搭載放射計では、校正精度を犠
牲にして、１つの校正光量レベルを使用した１点校正の
みを行う場合もあり、宇宙飛行体搭載放射計に適した軌
道上校正装置が切望されているのが現状である。
制約が大きい宇宙飛行体搭載放射計では、校正精度を犠
牲にして、１つの校正光量レベルを使用した１点校正の
みを行う場合もあり、宇宙飛行体搭載放射計に適した軌
道上校正装置が切望されているのが現状である。
本発明はこのような要望に応えて為されたものであり、
宇宙飛行体搭載放射計に好適な軌道上校正装置を提供す
ることを目的としている。
宇宙飛行体搭載放射計に好適な軌道上校正装置を提供す
ることを目的としている。
本発明は、固体撮像素子から構成される光電変換手段と
前記固体撮像素子に被撮像体からの入射光を導く光学的
手段とを含む宇宙飛行体搭載用の放射計に設けられ、校
正光源からの光を前記光学的手段を通じて前記固体撮像
素子に入力しその際に得られる前記固体撮像素子の出力
に基づいて前記放射計の感度の軌道上校正を行う軌道上
校正装置において、制御信号に応じて光の透過率が変化
する透過率可変器を、前記校正光源と前記光学的手段と
の間の光路上に設けた構成を有している。
前記固体撮像素子に被撮像体からの入射光を導く光学的
手段とを含む宇宙飛行体搭載用の放射計に設けられ、校
正光源からの光を前記光学的手段を通じて前記固体撮像
素子に入力しその際に得られる前記固体撮像素子の出力
に基づいて前記放射計の感度の軌道上校正を行う軌道上
校正装置において、制御信号に応じて光の透過率が変化
する透過率可変器を、前記校正光源と前記光学的手段と
の間の光路上に設けた構成を有している。
本発明の放射計の軌道上校正装置においては、校正光源
と光学的手段との間の光路上に設けられた透過率可変器
の透過率が制御信号に応じて変化し、１個の校正光源か
ら２レベル以上の校正光量を選択的に生成せしめて光学
的手段に導き、多点校正を可能ならしめる。
と光学的手段との間の光路上に設けられた透過率可変器
の透過率が制御信号に応じて変化し、１個の校正光源か
ら２レベル以上の校正光量を選択的に生成せしめて光学
的手段に導き、多点校正を可能ならしめる。
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
第１図を参照すると、本発明の一実施例は、撮像光１を
望遠鏡２により固体撮像素子（例えばCCD）３に導いて
そこに結像させ、地表の放射エネルギのイメージング等
を行う放射計において、校正光源としてランプ４を設け
ると共に、このランプ４の光を望遠鏡２に校正光７とし
て導く光ガイド（リレー光学系）５および校正光導入ミ
ラー６から構成される光学的校正手段の光路上の適所
（本実施例ではランプ４の前方）に、制御部11からの制
御信号に応じて光の透過率が変化する透過率可変器８を
設けている。
望遠鏡２により固体撮像素子（例えばCCD）３に導いて
そこに結像させ、地表の放射エネルギのイメージング等
を行う放射計において、校正光源としてランプ４を設け
ると共に、このランプ４の光を望遠鏡２に校正光７とし
て導く光ガイド（リレー光学系）５および校正光導入ミ
ラー６から構成される光学的校正手段の光路上の適所
（本実施例ではランプ４の前方）に、制御部11からの制
御信号に応じて光の透過率が変化する透過率可変器８を
設けている。
透過率可変器８は、例えば第２図に示すような制御電圧
対光透過率特性を有するアモルファス半導体素子で構成
することができ、この場合には制御部11からの制御信号
（制御電圧）によって光透過率を安定な２レベルに可変
することができ、よって１個のランプ４で２レベルの安
定な光量の校正光を得ることができる。３レベル以上の
校正光を必要とする場合には、上記のような透過率可変
器８を多数個使用すれば良い。なお、透過率可変器８と
しては、他に、制御電圧により偏光特性の変わる素子
（例えばPLZT）を組み合わせて実現することも可能であ
る。
対光透過率特性を有するアモルファス半導体素子で構成
することができ、この場合には制御部11からの制御信号
（制御電圧）によって光透過率を安定な２レベルに可変
することができ、よって１個のランプ４で２レベルの安
定な光量の校正光を得ることができる。３レベル以上の
校正光を必要とする場合には、上記のような透過率可変
器８を多数個使用すれば良い。なお、透過率可変器８と
しては、他に、制御電圧により偏光特性の変わる素子
（例えばPLZT）を組み合わせて実現することも可能であ
る。
軌道上校正時、制御部11が制御信号によって透過率可変
器８の透過率を所望の値に切り換えると、ランプ４の光
は透過率可変器８によって所定量だけ減衰して光ガイド
（リレー光学系）５に入射し、この光ガイド５により校
正光７として出射する。この校正光７は、望遠鏡２の前
部に設けられた校正光導入ミラー６により望遠鏡２へ導
かれ、固体撮像素子３に入射せしめられる。制御部11は
従来と同様にして固体撮像素子３から得られる出力に基
づき放射系の軌道上校正を行うものである。なお、第４
図と同様に光ガイド５には波長選択ハーフミラー10と校
正光モニタ素子（例えばホトダイオード）９とが設けら
れ、この校正光モニタ素子９の出力を監視することによ
り、校正光のレベル変化がモニタできるようになってい
る。
器８の透過率を所望の値に切り換えると、ランプ４の光
は透過率可変器８によって所定量だけ減衰して光ガイド
（リレー光学系）５に入射し、この光ガイド５により校
正光７として出射する。この校正光７は、望遠鏡２の前
部に設けられた校正光導入ミラー６により望遠鏡２へ導
かれ、固体撮像素子３に入射せしめられる。制御部11は
従来と同様にして固体撮像素子３から得られる出力に基
づき放射系の軌道上校正を行うものである。なお、第４
図と同様に光ガイド５には波長選択ハーフミラー10と校
正光モニタ素子（例えばホトダイオード）９とが設けら
れ、この校正光モニタ素子９の出力を監視することによ
り、校正光のレベル変化がモニタできるようになってい
る。
以上の実施例は、校正光源としてランプを使用したが、
LEDや太陽光等の光源を校正光源とすることもできる。
また、光ガイド５の代わりに光ファイバを使用したり、
単数あるいは複数個の固体撮像素子を使用したり、望遠
鏡２の前部に走査鏡を有し機械走査式によって走査を行
ったりする各種の放射計に本発明は適用可能なものであ
る。
LEDや太陽光等の光源を校正光源とすることもできる。
また、光ガイド５の代わりに光ファイバを使用したり、
単数あるいは複数個の固体撮像素子を使用したり、望遠
鏡２の前部に走査鏡を有し機械走査式によって走査を行
ったりする各種の放射計に本発明は適用可能なものであ
る。
以上説明したように、本発明は、制御信号に応じて光の
透過率が変化する透過率可変器を使用して１個の校正光
源から複数レベルの校正光量を得て多点校正を可能なら
しめているので、第４図の如く複数個のランプとハーフ
ミラー等を使用した装置に比べて重量，サイズ，電力が
共に小さくなり、また多数個のランプ使用によって必然
的に生じるランプ間の劣化の相違等による問題点も解消
される。更に、第５図の回転板のように光学系へのコン
タミネーション等の問題もなく、寿命や精度も低下させ
ずに、２レベル以上の校正光量による多点校正によって
放射計データ利用者が満足する校正精度を得ることが可
能となる。
透過率が変化する透過率可変器を使用して１個の校正光
源から複数レベルの校正光量を得て多点校正を可能なら
しめているので、第４図の如く複数個のランプとハーフ
ミラー等を使用した装置に比べて重量，サイズ，電力が
共に小さくなり、また多数個のランプ使用によって必然
的に生じるランプ間の劣化の相違等による問題点も解消
される。更に、第５図の回転板のように光学系へのコン
タミネーション等の問題もなく、寿命や精度も低下させ
ずに、２レベル以上の校正光量による多点校正によって
放射計データ利用者が満足する校正精度を得ることが可
能となる。
第１図は本発明の一実施例の構成図、 第２図は透過率可変器８として使用するアモルファス半
導体素子の制御電圧対光透過率特性の一例を示す図、 第３図は放射計の入力対出力特性図、 第４図は従来の放射計の軌道上校正装置の構成図およ
び、 第５図は地上設置装置で使用される回転板形式の光源光
量可変装置の構成図である。 図において、 １…撮像光 ２…望遠鏡 ３…固体撮像素子 ４…ランプ ５…光ガイド ６…校正光導入ミラー ７…校正光 ８…透過率可変器 ９…校正光モニタ素子 10…波長選択ハーフミラー 11…制御部
導体素子の制御電圧対光透過率特性の一例を示す図、 第３図は放射計の入力対出力特性図、 第４図は従来の放射計の軌道上校正装置の構成図およ
び、 第５図は地上設置装置で使用される回転板形式の光源光
量可変装置の構成図である。 図において、 １…撮像光 ２…望遠鏡 ３…固体撮像素子 ４…ランプ ５…光ガイド ６…校正光導入ミラー ７…校正光 ８…透過率可変器 ９…校正光モニタ素子 10…波長選択ハーフミラー 11…制御部
Claims (1)
- 【請求項１】固体撮像素子から構成される光電変換手段
と前記固体撮像素子に被撮像体からの入射光を導く光学
的手段とを含む宇宙飛行体搭載用の放射計に設けられ、
校正光源からの光を前記光学的手段を通じて前記固体撮
像素子に入力しその際に得られる前記固体撮像素子の出
力に基づいて前記放射計の感度の軌道上校正を行う軌道
上校正装置において、 制御信号に応じて光の透過率が変化する透過率可変器
を、前記校正光源と前記光学的手段との間の光路上に設
けてなることを特徴とする放射計の軌道上校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1254345A JPH076835B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 放射計の軌道上校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1254345A JPH076835B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 放射計の軌道上校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03115816A JPH03115816A (ja) | 1991-05-16 |
| JPH076835B2 true JPH076835B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=17263705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1254345A Expired - Lifetime JPH076835B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 放射計の軌道上校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH076835B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5302823A (en) * | 1992-08-31 | 1994-04-12 | Itt Corporation | Satellite solar band calibration source target apparatus |
| JP4728499B2 (ja) * | 2001-04-06 | 2011-07-20 | 株式会社ワコール | 上半身衣類 |
| JP4766866B2 (ja) * | 2004-11-09 | 2011-09-07 | 興和株式会社 | 光測定方法及び装置 |
| DE102006043385A1 (de) | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Jena-Optronik Gmbh | Vorrichtung zur mehrstufigen Dämpfung einfallender Strahlungsenergie |
-
1989
- 1989-09-29 JP JP1254345A patent/JPH076835B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03115816A (ja) | 1991-05-16 |
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