JP2007502973A - 大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置 - Google Patents

大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007502973A
JP2007502973A JP2006523651A JP2006523651A JP2007502973A JP 2007502973 A JP2007502973 A JP 2007502973A JP 2006523651 A JP2006523651 A JP 2006523651A JP 2006523651 A JP2006523651 A JP 2006523651A JP 2007502973 A JP2007502973 A JP 2007502973A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveguide
sensor
phantom
power
test area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006523651A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007502973A5 (ja
JP5106851B2 (ja
Inventor
フィリップ、ガーロー
リュック、デュシュスヌ
ジャン‐シャルル、ボロメイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Societe d'Applications Technologiques de l'Imagerie Micro Onde SATIMO SA
Original Assignee
Societe d'Applications Technologiques de l'Imagerie Micro Onde SATIMO SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Societe d'Applications Technologiques de l'Imagerie Micro Onde SATIMO SA filed Critical Societe d'Applications Technologiques de l'Imagerie Micro Onde SATIMO SA
Publication of JP2007502973A publication Critical patent/JP2007502973A/ja
Publication of JP2007502973A5 publication Critical patent/JP2007502973A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5106851B2 publication Critical patent/JP5106851B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0878Sensors; antennas; probes; detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0807Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
    • G01R29/0814Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
    • G01R29/0857Dosimetry, i.e. measuring the time integral of radiation intensity; Level warning devices for personal safety use

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

【解決手段】本発明は、大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置に関する。本発明は、テスト領域に位置する対象物によって放射される電力を測定する少なくとも一つのセンサーと、このように測定された電力を解析する少なくとも一つのプロセス部とを備えている。当該センサーは、前記テスト領域と反対側に配置された開口部を含む導波管を有し、少なくとも一つの測定プローブが前記導波管内部に配置されている。

Description

本発明は、大量生産される放射物、特に携帯電話の比吸光率、すなわちSARの照合(モニタリング)に関する。
既知の生物組織の重量あたりに受けることができる最大のSARが一般的に定義された標準によって、携帯電話の使用者が受ける電磁波の量が定められていることは知られている。
これに関して、標準は、特にヨーロッパ、アメリカ及び中国にある。しかしながら、これらの標準によって定義される測定方法は、道具がかなり複雑で面倒である。
一般的に、これらの標準によって、人体に相当する生物媒体にとても似た状態を再形成するファントムにおける測定電場量の基準に基づいて、集積された最大SAR、すなわち<SAR>を計算することができる。
ヨーロッパを例に取ると、このように調査される量は、約2cmであり、サンプリング間隔は数ミリメータであるため、実行される測定回数は、数百回のオーダーになる。
さらに、これらの測定は、少なくとも3つ(又はデュアルバンドの携帯電話に対しては6つ)の周波数だけでなく、ファントムの両側面に対し、携帯電話の少なくとも二つの位置で繰り返して行われなければならない。
それゆえ、これらの標準書類によって提示されるプロトコルは、特に長く、このような方法では市場に出回る全ての携帯電話をテストすることはできない。
このため、製造工程の最後に、これらの携帯電話を迅速に照合(モニタリング)するできるテストが必要である。
この目的のために、本発明は、大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置において、テスト領域に位置する目的物によって放射される電力を測定する少なくとも一つのセンサーと、このように測定された電力を解析する少なくとも一つのプロセス部とを備え、センサーは、前記テスト領域と反対側に配置される開口部を含む導波管を有し、少なくとも一つの測定プローブが前記導波管内部に配置されていることを特徴とする装置を提供する。
このような装置は、一つ又は技術的に可能な全ての組合せによって用いられる以下に示す様々な特徴によって有益にも補助されている。装置は、目的物をテスト領域まで搬送する手段を有しており、センサーは、材料として、生物組織と同様の誘電特性を有するファントムを更に有し、ファントム内に、導波管が配置されており、ファントムは、円筒形状又はより複雑な形状であり、導波管は、長方形又は円形の横断面を有し、導波管は、選択的に角錐からなるように変形でき、導波管は角錐であり、センサーは、導波管内に設けられた少なくとも二つの直交するプルーブを有し、導波管は二対の直交するプルーブを有し、二対のプルーブはプロセス手段、特に使用されるデビオメトリック装置に連結され、プロセス部は、大きさや範囲がセンサーによって測定された放射電力に応じて変化するとともに、位置がデビオメトリック法測定(deviometric measurements)に応じて変化する湾曲形状をスクリーンに表示し、装置は、様々な方向に配置された複数のセンサーの配列を有し、放射物が移動体通信ターミナルの場合には、テスト領域の上流にシミュレータ基地を有し、装置は、センサー上流に放射物を所定位置に配置することができる案内手段を有しプロセス部は、集積された比吸光率の値と、電力の値との間の対応表を有し、この対応表は前もって測定によって決定されている。
製造工場から対象物をサンプリングし、センサー又は多数の導波管センサー、及び測定プローブを含む遮蔽され、かつ無響となる容器内で解析することによって、製造過程又は製造の最後でテストを実施することも好ましい、
本発明のその他の特徴及び有利な点は、純粋に管理のみのためのものであって限定させず、添付図面を参照として示される記載からより明らかになる。
図1には、例えば、携帯電話1を製造するためのラインの端部に配置され、製造された電話の集積SARを検査することができる装置を有している領域が示されている。
携帯電話1は、携帯電話1を運んで前記テスト領域を通過させるベルトコンベア2によってテスト領域まで運ばれる。
このテスト領域は、特に一以上のセンサー3を有し、センサー3はベルトコンベア2の上方及び/又は下方であって、ベルトコンベア2の反対側又は近傍に配置されており、集積SARを測定することができる。センサー3はプロセス部4に連結されている。プロセス部4は、ベルトコンベア2の駆動方向で、シミュレータ基地局5の下流側に配置されている。
シミュレータ5の役割は、テスト領域まで来て、センサー3を通過するとき、最大パワーPmaxを発揮するよう、テスト領域に到着する携帯電話1を活性化することにある。
案内傾斜路6は、テスト領域上流のベルトコンベア2上にちょうど配置されており、携帯電話を、所定の方向、例えばテスト領域にあるとき、ベルトコンベア2によって移動する軸に、携帯電話の縦軸が概ね一致する方向に配向させることができる。
図2及び図3に、典型的なセンサー3が、より正確に記載されている。
このセンサー3は、導波管を構成する金属構造7を有しており、少なくとも二つの直交する検知プローブ8,9までの伝播を照合するよう、電磁波をガイドすることができ、検知プローブ8,9によって、二つの分極方向における電場を測定することができる。
このように測定される電場はプロセス部4に送信され、二つの分極方向に沿って測定された電場に対応する電力を決定することができる。前もって分極状態が解析された電場の所定成分だけを測定するので、容易に測定することができる。この場合、センサーの適した方向の電場成分だけ測定することで十分である。
この場合、図2に示すように、導波管7は円筒形状をしている。
図3に示すように、最大の入口領域に沿って集積される電波を確認できるよう、導波管7が角錐になっていることも好ましい。
円筒状又は角錐状のような導波管7は、生物組織の誘電体に相当する性質のファントム10が満たされた材料内に配置されている。
材料は当量液体からなることが好ましい。
ファントムは、例えば、標準書類で顧客向けに提案されている形状(単純形状(特に球体)の一般的なファントムや擬人化したファントム)に相当する形状になっている。
例えば、図2及び図3に示すように、円筒形状になっている。
この場合、容積、具体化の複雑さ及びコストを抑えることができる。
この点、容積を減らすことによって、プローブを並列に配置することができる。
図4には特別な場合が示されており、携帯電話1が通過する領域の周りにアーチ状に配置された多数のセンサー3が示されている。
アーチ状にプローブを配列することによって、ベルトの主軸に対して携帯電話が整列せずにある程度ばらついても測定することができ、かつテスト配置を変えることができる。
図2及び図3に示されたタイプのセンサーの導波管7は、通常テストにおいて、典型的には数mmから数cmの単位で、携帯電話のアンテナにかなり近い距離で配置されている。
さらに、図5a及び図5bに示されているように、センサー3は二つではなく四つの直交するプローブを有していることが好ましい。四つのプローブ又はアンテナを用いることによって、実際、ファントムにおける消費や電力の領域や「スポット」の位置や大きさに関する情報を得ることができるデビオメトリック法測定を行うことができる。
この目的のため、図6に示すように、一方で第一軸(X軸)、他方で第二軸(Y軸)に沿ってプローブによって測定できる電場の大きさの合計や相違を計算することができる3dB−180°連結器(参照番号11)(デビオメトリック装置(deviometric means))を用いることが好ましい。これらの合計や相違に関する信号は、それ自体がプロセス部4に送信され、プロセス部4において、合計や相違に関する信号が解析されて、発生しうる故障だけでなく携帯電話1の位置及び/又は方向に関するSARや補助部の情報を得ることができる。
特に、このデビオメトリック法測定によって、テストされている電話の位置を照合(モニタリング)することができ、このデビオメトリック法測定は、電話に関して得られる測定と、マッチアップされる参照測定との間のあらゆる違いに対して得られる判断に役立つ。消費電力量をより良く評価することもできる。
プロセス部4は、強度と範囲が測定された電力に応じて変化し、デビオメトリー湾曲形状の強度から位置を導くことができるスポットをスクリーンに表示することができることが、さらに好ましい。
上述された装置によって測定される集積された電場測定に関する情報は、解析される携帯電話の集積<SARs>を予め収納されたマッチアップ表を用いることによって、導き出されることが好ましい。
この目的のために、センサーによって測定される電場と、標準的な測定作業台で測定される携帯電話の集積されたSARsとをマッチアップすることができる測定手段が前もって行われる。
この<SAR>は、実際に、ファントムで消費される電力にとても密接に関連しており、電力は使用されるファントム(形状、大きさ、誘電体の性質など)、携帯電話(アンテナのタイプ、ハウジングの連結など)、ファントムに対する携帯電話の相対的位置に、本質的に依存している。
導波管センサーを用いることによって、開口部を通過する電力変化を集積することができるため、ファントムで消費される全体的な電力を測定することができ、このようにして、ファントムにおいて消費される全体の電力を測定することができる。この電力は、ファントムに対する電話の相対的な位置において、所望のタイプの電話及び所望のタイプのファントムに関し、マッチアップ表を介して<SAR>の値に直接リンクしている。
装置は、センサー又は多数の導波管センサー、及び測定プローブを含む遮蔽され、かつ無響となる容器内に配置することもできる。このような容器によって、製造プラントから対象物をサンプリングすることによってテストすることができる。
装置は、例えば更に完全にテストするために、単独で、又はコンベアー工場に沿って配置されたセンサーの補助として用いられる。
このテスト装置には様々な利点がある。
このことによって、迅速に(一秒間に数個の電話を)テストすることができる。
このテスト装置は、製造される放射物(電話など)を分類できる<SAR>の整合性及び/又は評価のリアルタイムで示し、リサイクルできるよう、判断を示すことができる
このテスト装置は易い。
このテスト装置は対象物を傷つけない。
製造ラインに組み込むことが容易である。
このテスト装置は、少ない数の、典型的には二個から四個、のプローブが必要である。
本発明によって実現できる実施の形態による装置を設けたテスト領域。 実現できる典型的なセンサーの概略図。 別の実現できる典型的なセンサーの概略図。 アーチ状に配置された複数のセンサーを用いた図。 円形の横断面の導波管センサーを用いた場合において、四つのプローブを有するセンサーを示す概略横断面図。 四角形の横断面の導波管センサーを用いた場合において、四つのプローブを有するセンサーを示す概略横断面図。 四つのプローブセンサーを有する主要なデビオメトリック装置の概略図。

Claims (15)

  1. 大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置において、
    テスト領域に位置する対象物によって放射される電力を測定する少なくとも一つのセンサーと、
    このように測定された電力を解析する少なくとも一つのプロセス部とを備え、
    センサーは、前記テスト領域と反対側に配置される開口部を含む導波管を有し、
    少なくとも一つの測定プローブが前記導波管内部に配置されていることを特徴とする装置。
  2. 対象物をテスト領域まで搬送する手段を有することを特徴とする請求項1記載の装置。
  3. センサーは、材料として、生物組織と同様の誘電特性を有するファントムを更に有し、
    ファントム内に、導波管が配置されていることを特徴とする請求項1又は2のいずれかに記載の装置。
  4. ファントムは、円筒形状又はより複雑な形状であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の装置。
  5. 導波管は、長方形、円形又はより複雑な横断面を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の装置。
  6. 導波管は角錐であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の装置。
  7. 導波管内に設けられた少なくとも二つの直交するプローブを有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の装置。
  8. 導波管は、デビオメトリック法を実施するため、二対の直交するプローブを有することを特徴とする請求項7記載の装置。
  9. 二対のプローブはデビオメトリック装置に連結していることを特徴とする請求項8記載の装置。
  10. プロセス部は、大きさや範囲が測定された放射電力に応じて変化するとともに、位置がデビオメトリック法測定に応じて変化する湾曲形状をスクリーンに表示することを特徴とする請求項9記載の装置。
  11. 様々な方向に配置された複数のセンサー配列を有することを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の装置。
  12. 放射物が移動体通信ターミナルの場合には、テスト領域の上流にシミュレータ基地を備えたことを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の装置。
  13. センサー上流に放射物を所定位置に配置することができる案内手段を有することを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の装置。
  14. プロセス部は、集積された比吸光率の値と、電力の値との間の対応表を有し、この対応表は前もって測定によって決定されていることを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記載の装置。
  15. センサー又は多数の導波管センサー、及び測定プローブを含む遮蔽され、かつ無響となる容器を有することを特徴とする請求項1乃至14のいずれか1項に記載の装置。
JP2006523651A 2003-08-18 2004-08-18 大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置 Active JP5106851B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0309994A FR2859064B1 (fr) 2003-08-18 2003-08-18 Dispositif de controle du debit d'absorption specifique d'objets rayonnants fabriques en serie et notamment de telephones portables
FR0309994 2003-08-18
PCT/FR2004/002154 WO2005019843A1 (fr) 2003-08-18 2004-08-18 Dipositif de controle du debit d’absorption specifique d’objets rayonnants fabriques en serie

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2007502973A true JP2007502973A (ja) 2007-02-15
JP2007502973A5 JP2007502973A5 (ja) 2010-10-21
JP5106851B2 JP5106851B2 (ja) 2012-12-26

Family

ID=34112807

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006523651A Active JP5106851B2 (ja) 2003-08-18 2004-08-18 大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7782262B2 (ja)
EP (1) EP1656562B1 (ja)
JP (1) JP5106851B2 (ja)
CN (1) CN100504407C (ja)
CA (1) CA2535933C (ja)
FR (1) FR2859064B1 (ja)
WO (1) WO2005019843A1 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100365420C (zh) * 2003-02-26 2008-01-30 松下电器产业株式会社 无线电通信装置用比吸收率测定装置
EP1878811A1 (en) 2006-07-11 2008-01-16 ARCELOR France Process for manufacturing iron-carbon-manganese austenitic steel sheet with excellent resistance to delayed cracking, and sheet thus produced
FR2907909B1 (fr) * 2006-10-31 2009-02-13 Antennessa Procede et dipositif de mesure du taux d'absorption de rayonnement electromagnetique produit dans un milieu absorbant
EP1995598B1 (de) * 2007-05-25 2014-04-30 Lambda: 4 Entwicklungen GmbH Verfahren und kompakte Vorrichtung zum differenzierten Nachweis von Elektrosmog und dessen Analyse
FR2917835B1 (fr) * 2007-06-22 2009-08-28 Thales Sa Dispositif et procede de mesure des deux polarisations d'un champ electromagnetique produit par une source, notamment une antenne
CN101883413A (zh) * 2010-05-12 2010-11-10 中兴通讯股份有限公司 降低无线终端辐射危害的方法、控制装置及无线终端
US9871544B2 (en) 2013-05-29 2018-01-16 Microsoft Technology Licensing, Llc Specific absorption rate mitigation
US10893488B2 (en) 2013-06-14 2021-01-12 Microsoft Technology Licensing, Llc Radio frequency (RF) power back-off optimization for specific absorption rate (SAR) compliance
US10044095B2 (en) 2014-01-10 2018-08-07 Microsoft Technology Licensing, Llc Radiating structure with integrated proximity sensing
US9813997B2 (en) 2014-01-10 2017-11-07 Microsoft Technology Licensing, Llc Antenna coupling for sensing and dynamic transmission
US9769769B2 (en) 2014-06-30 2017-09-19 Microsoft Technology Licensing, Llc Detecting proximity using antenna feedback
US9785174B2 (en) 2014-10-03 2017-10-10 Microsoft Technology Licensing, Llc Predictive transmission power control for back-off
US9871545B2 (en) 2014-12-05 2018-01-16 Microsoft Technology Licensing, Llc Selective specific absorption rate adjustment
EP3187887A1 (en) * 2015-12-29 2017-07-05 ART-Fi Electromagnetic field measurement system
US10013038B2 (en) 2016-01-05 2018-07-03 Microsoft Technology Licensing, Llc Dynamic antenna power control for multi-context device
US10461406B2 (en) 2017-01-23 2019-10-29 Microsoft Technology Licensing, Llc Loop antenna with integrated proximity sensing
US10224974B2 (en) 2017-03-31 2019-03-05 Microsoft Technology Licensing, Llc Proximity-independent SAR mitigation
EP3945325B1 (en) * 2020-07-28 2024-03-27 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Field probe and method for conducting antenna measurements
CN115021839B (zh) * 2022-05-26 2023-06-16 中国计量科学研究院 一种基于5g信号的无线设备sar值修正方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02223865A (ja) * 1988-12-16 1990-09-06 Eslab Srl エネルギー測定用センサ及びエネルギー測定装置
JP2000097878A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Nec Corp Sar測定センサ及びsar測定装置
WO2001075460A1 (en) * 2000-03-31 2001-10-11 Kildal Antenna Consulting Ab A method and an apparatus for measuring the performance of antennas, mobile phones and other wireless terminals
JP2003024925A (ja) * 2001-07-12 2003-01-28 Re Project:Kk リサイクルシステムと電子機器分解装置
WO2003014717A1 (fr) * 2001-08-08 2003-02-20 Ntt Docomo, Inc. Dispositif de mesure de la puissance d'absorption
JP2003087207A (ja) * 2001-09-10 2003-03-20 Kenwood Corp 携帯形端末等のsar検査装置およびsar検査方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2047999C (en) * 1991-07-30 2000-10-31 Gary A. Gibson Broadband electromagnetic field simulator
JP3210889B2 (ja) * 1997-01-14 2001-09-25 シャープ株式会社 直交2偏波導波管入力装置およびそれを用いた衛星放送受信用のコンバータ
US6021315A (en) * 1997-11-19 2000-02-01 Cellular Technical Services Co., Inc. System and method for testing of wireless communication devices
US6211750B1 (en) * 1999-01-21 2001-04-03 Harry J. Gould Coaxial waveguide feed with reduced outer diameter
US6525657B1 (en) * 2000-04-25 2003-02-25 Aprel, Inc. Apparatus and method for production testing of the RF performance of wireless communications devices
DE60109567D1 (de) * 2001-01-16 2005-04-28 Ericsson Telefon Ab L M Kammer und Verfahren zur Bearbeitung elektronischer Geräte und deren Anwendung
WO2002056041A1 (en) * 2001-01-16 2002-07-18 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) A chamber for and a method of processing electronic devices and the use of such a chamber
CA2511134C (en) * 2004-07-05 2011-04-19 Ntt Docomo, Inc. Measurement system of specific absorption rate
JP2006132970A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Ntt Docomo Inc 比吸収率測定システム及び方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02223865A (ja) * 1988-12-16 1990-09-06 Eslab Srl エネルギー測定用センサ及びエネルギー測定装置
JP2000097878A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Nec Corp Sar測定センサ及びsar測定装置
WO2001075460A1 (en) * 2000-03-31 2001-10-11 Kildal Antenna Consulting Ab A method and an apparatus for measuring the performance of antennas, mobile phones and other wireless terminals
JP2003024925A (ja) * 2001-07-12 2003-01-28 Re Project:Kk リサイクルシステムと電子機器分解装置
WO2003014717A1 (fr) * 2001-08-08 2003-02-20 Ntt Docomo, Inc. Dispositif de mesure de la puissance d'absorption
JP2003087207A (ja) * 2001-09-10 2003-03-20 Kenwood Corp 携帯形端末等のsar検査装置およびsar検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2005019843A1 (fr) 2005-03-03
FR2859064B1 (fr) 2005-12-30
CN1839321A (zh) 2006-09-27
JP5106851B2 (ja) 2012-12-26
CA2535933A1 (fr) 2005-03-03
EP1656562A1 (fr) 2006-05-17
FR2859064A1 (fr) 2005-02-25
US20070063905A1 (en) 2007-03-22
US7782262B2 (en) 2010-08-24
EP1656562B1 (fr) 2017-06-28
CA2535933C (fr) 2015-07-07
CN100504407C (zh) 2009-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5106851B2 (ja) 大量生産される放射物の比吸光率を照合する装置
US6525657B1 (en) Apparatus and method for production testing of the RF performance of wireless communications devices
Schmid et al. Automated E-field scanning system for dosimetric assessments
US7186377B2 (en) Absorption power measuring device
US20020160717A1 (en) Chamber for and a method of processing electronic devices and the use of such a chamber
US9615274B2 (en) Plane wave generation within a small volume of space for evaluation of wireless devices
CN103323807A (zh) 一种超高频局部放电测试仪考核校验和量值标定方法
CN106707037A (zh) 一种材料电磁特性参数无损反射测量方法及装置
JP2007502973A5 (ja)
CN108088913B (zh) 用于钢轨轨底探伤的压电超声导波探头及其探伤方法
CN109557043B (zh) 一种使用太赫兹电磁波检测物体的电磁特性的系统及方法
CN106771897A (zh) 一种gis特高频局部放电信号衰减测试系统及方法
CN105187135B (zh) 测试无线设备的方法及系统
CN107656228A (zh) 一种基于gtem的局部放电特高频标定的场强溯源方法及系统
CN103592521B (zh) 一种现场道床环境对应答器频率影响的测试方法及系统
Camell et al. Free-space antenna factors through the use of time-domain signal processing
JP2003087207A (ja) 携帯形端末等のsar検査装置およびsar検査方法
Aberbour et al. Analysis of vector E-field sensor array for real-time SAR assessment
Benjamin et al. Comparison of Two Thermal Probe Technologies for the Dosimetric Investigations of RF Exposure Systems
CN206057444U (zh) 一种耦合测试天线
CN209877882U (zh) 一种电池盒检具
CN208736832U (zh) 综合性混凝土检测装置
JP2001165982A (ja) 電磁シールド測定装置及び測定方法
Carobbi et al. A new procedure for evaluating the performance of the sites for radiation tests or antenna calibration
Livermore Quantifying Signal Leakage--How do Current Methods Measure Up?

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070727

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100302

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100602

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100609

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100702

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100709

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100802

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100809

A524 Written submission of copy of amendment under article 19 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20100902

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110705

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111004

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111012

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111031

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111108

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111205

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120907

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121003

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5106851

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151012

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250