JP2007292659A - 色度測定方法および色度測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】三刺激値直読型計測器を利用して分光型計測器の測定精度に準じた高精度の測定を可能とする色度測定方法を提供すること。
【課題手段】色度測定方法は、リファレンス光源の明るさ毎の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器で計測するリファレンス光源計測工程S1と、明るさ毎の分光プロファイルから三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過領域毎の分光プロファイルを取得し、各明るさの三刺激値と分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース作成工程S2と、被測定光源を三刺激値直読型計測器で計測した三刺激値に対応する分光プロファイルを前記データベースから求める分光プロファイル取得工程S3と、この分光プロファイルを合成した合成分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出する三刺激値算出工程S4とを備える。
【選択図】図5
【課題手段】色度測定方法は、リファレンス光源の明るさ毎の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器で計測するリファレンス光源計測工程S1と、明るさ毎の分光プロファイルから三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過領域毎の分光プロファイルを取得し、各明るさの三刺激値と分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース作成工程S2と、被測定光源を三刺激値直読型計測器で計測した三刺激値に対応する分光プロファイルを前記データベースから求める分光プロファイル取得工程S3と、この分光プロファイルを合成した合成分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出する三刺激値算出工程S4とを備える。
【選択図】図5
Description
本発明は、色度測定方法および色度測定装置に関し、例えば、プロジェクタ等の表示機から射出される赤色、緑色、青色等の各色の色度を測定する色度測定方法および色度測定装置に関する。
従来、光学像を投射するプロジェクタが知られ、このプロジェクタから射出される赤色、緑色、青色が設計通りの色度特性になっているかを確認するための色度測定が行われている。
このような色度測定を行う計測器としては、分光型計測器と三刺激値直読型計測器が用いられている。分光型計測器は高精度の測定が可能であるが、高価でありかつ測定に時間が掛かる。このため、工場の生産ラインにおいては、安価でかつ測定時間が短い三刺激値直読型計測器が用いられ、分光型計測器は三刺激値直読型計測器のキャリブレーションを行う際の標準測定器として用いられている。
すなわち、キャリブレーションにおける標準光源を、三刺激値直読型計測器および分光型計測器で測定し、光源の各波長毎に各計測器の出力を比較し、三刺激値直読型計測器の出力が分光型計測器の出力に一致するような補正値を光源の各波長毎に求めて記憶しておき、測定データを光源の波長に応じて補正することで三刺激値直読型計測器を用いても精度の高い測定を可能とするものが知られている(例えば、特許文献1)
このような色度測定を行う計測器としては、分光型計測器と三刺激値直読型計測器が用いられている。分光型計測器は高精度の測定が可能であるが、高価でありかつ測定に時間が掛かる。このため、工場の生産ラインにおいては、安価でかつ測定時間が短い三刺激値直読型計測器が用いられ、分光型計測器は三刺激値直読型計測器のキャリブレーションを行う際の標準測定器として用いられている。
すなわち、キャリブレーションにおける標準光源を、三刺激値直読型計測器および分光型計測器で測定し、光源の各波長毎に各計測器の出力を比較し、三刺激値直読型計測器の出力が分光型計測器の出力に一致するような補正値を光源の各波長毎に求めて記憶しておき、測定データを光源の波長に応じて補正することで三刺激値直読型計測器を用いても精度の高い測定を可能とするものが知られている(例えば、特許文献1)
しかしながら、液晶プロジェクタ等の液晶デバイスにより明るさを制御する製品においては次のような問題があった。
すなわち、検査対象となる被測定製品毎にその光源の分光ピーク波長が変化し、また、各被測定製品の光源の分光プロファイルが明るさにより変化するという問題があった。
このため、標準光源の波長毎に計測器の出力を補正するようにしてあったとしても、僅かな誤差が生じてしまうという問題があった。
従って、三刺激値直読型計測器を用いて分光型計測器の測定精度に準じた測定を行いたいという要望に必ずしも応えることができないという問題があった。
すなわち、検査対象となる被測定製品毎にその光源の分光ピーク波長が変化し、また、各被測定製品の光源の分光プロファイルが明るさにより変化するという問題があった。
このため、標準光源の波長毎に計測器の出力を補正するようにしてあったとしても、僅かな誤差が生じてしまうという問題があった。
従って、三刺激値直読型計測器を用いて分光型計測器の測定精度に準じた測定を行いたいという要望に必ずしも応えることができないという問題があった。
本発明は、上述のような課題に鑑みてなされたものであり、三刺激値直読型計測器を利用して分光型計測器の測定精度に準じた高精度の測定を可能とする色度測定方法および色度測定装置を提供することを目的とする。
本発明の色度測定方法は、基準となるリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させて明るさ毎の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測するリファレンス光源計測工程と、前記明るさ毎の分光プロファイルから前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性に基づいて設定された分光透過領域毎の分光プロファイルを取得し、前記各明るさの三刺激値と分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース作成工程と、被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を取得し、前記データベースに基づいて取得した被測定光源の三刺激値に対応する分光プロファイルを求める分光プロファイル取得工程と、取得した分光プロファイルを合成して合成分光プロファイルを求め、この合成分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出する三刺激値算出工程と、を備えることを特徴とする。
このような本発明においては、リファレンス光源を分光型計測器および三刺激値直読型計測器で計測し、さらに三刺激値直読型計測器の光学フィルタの分光透過領域毎の分光プロファイルを求めて、光源の明るさに応じた三刺激値と各分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けしたデータベースを予め作成している。
そして、被測定光源を測定する際には、三刺激値直読型計測器で光源の明るさを測定し、その明るさに対応する各分光透過領域毎の分光プロファイルを前記データベースに基づいて取得し、取得した分光プロファイルを合成した合成分光プロファイルと等色関数とから三刺激値を算出している。
このため、被測定光源の分光プロファイルが明るさに応じて変化する場合でも、明るさに対応する分光プロファイルをデータベースを用いて求め、その分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出しているから、三刺激値直読型計測器で測定していても、分光型計測器と同程度の精度で測定することができる。
そして、被測定光源を測定する際には、三刺激値直読型計測器で光源の明るさを測定し、その明るさに対応する各分光透過領域毎の分光プロファイルを前記データベースに基づいて取得し、取得した分光プロファイルを合成した合成分光プロファイルと等色関数とから三刺激値を算出している。
このため、被測定光源の分光プロファイルが明るさに応じて変化する場合でも、明るさに対応する分光プロファイルをデータベースを用いて求め、その分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出しているから、三刺激値直読型計測器で測定していても、分光型計測器と同程度の精度で測定することができる。
さらに、リファレンス光源を測定する際には分光型計測器を利用するが、実際に被測定光源を測定する際には三刺激値直読型計測器のみで測定できるので、分光型計測器で被測定光源を測定する場合に比べて、測定時間を短縮できる。このため、被測定光源を検査する際に、高精度の検査を行うことができるとともに、その検査時間を短縮できる。
本発明において、前記リファレンス光源計測工程は、少なくともリファレンス光源の100%出力時の分光プロファイルを計測する工程を備え、前記分光プロファイル取得工程は、被測定光源の明るさ100%出力時の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測し、被測定光源の明るさ100%出力時の分光プロファイルとリファレンス光源の100%出力時の分光プロファイルとから補正係数を求め、前記データベースの各分光プロファイルを前記補正係数を用いて補正して更新する基準スペクトル補正工程と、被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を取得する三刺激値計測工程と、前記更新されたデータベースから前記被測定光源の三刺激値に対応する分光プロファイルを算出する分光プロファイル算出工程と、を備えることが好ましい。
前記補正係数を算出してデータベースを更新しているので、リファレンス光源に対して被測定光源のピーク波長が変化している場合でも、その変化分を補正したデータベースに基づいて三刺激値を算出できるため、測定精度をより一層向上することができる。
ここで、前記データベース作成工程は、前記リファレンス光源計測工程で計測された三刺激値を明るさ100%出力時に計測された三刺激値で正規化して最大値に対する明るさのデータとするリファレンス光源正規化工程と、前記明るさ毎の分光プロファイルから前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性に基づいて設定された分光透過領域毎の分光プロファイルを取得する分光透過領域プロファイル取得工程と、前記各明るさのデータと分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース保存工程と、を備え、前記三刺激値計測工程は、被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を計測する被測定光源計測工程と、計測された三刺激値を前記被測定光源の明るさ100%出力時の三刺激値で正規化して最大値に対する明るさのデータとする被測定光源正規化工程と、を備え、前記分光プロファイル算出工程は、前記データベースに保存された各明るさのデータのうち、前記被測定光源正規化工程で得られた明るさのデータを挟む前後の明るさデータおよび各明るさデータに対応する分光プロファイルに基づいて、計測された被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを求めることが好ましい。
三刺激値直読型計測器によって測定されるリファレンス光源および被測定光源の明るさを、それぞれ100%出力時に対する割合となるように正規化しているので、被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを前記データベースから確実に求めることができる。すなわち、被測定光源の最大の明るさは、通常、各固体(被測定光源)によって異なるため、リファレンス光源や各被測定光源の明るさの情報を絶対値で保存している場合には、各光源の最大輝度の相違の影響を無くすために計算して正規化する必要がある。これに対し、最初から正規化しておけば、その後に正規化のための計算を行う必要がないため処理時間を短縮でき、かつ、本発明を最大輝度が異なるすべての被測定光源に対応することができる。
さらに、データベースから被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを算出する際に、前記被測定光源の明るさを挟む前後の明るさに対応する分光プロファイルに基づいて、前記被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを求めているので、データベースに保存されている明るさが例えば数種類であっても、前記被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを精度良く求めることができる。
なお、前記被測定光源の明るさを挟む前後の明るさに対応する分光プロファイルに基づいて、前記分光プロファイルを求める具体的な方法としては、比例分配で求めても良いし、被測定光源の特性に合わせて2次曲線や3次曲線、またはスプライン補間などを適用して求めてもよい。要するに、測定値間の値を補間して求めることができるものであればよい。
さらに、データベースから被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを算出する際に、前記被測定光源の明るさを挟む前後の明るさに対応する分光プロファイルに基づいて、前記被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを求めているので、データベースに保存されている明るさが例えば数種類であっても、前記被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを精度良く求めることができる。
なお、前記被測定光源の明るさを挟む前後の明るさに対応する分光プロファイルに基づいて、前記分光プロファイルを求める具体的な方法としては、比例分配で求めても良いし、被測定光源の特性に合わせて2次曲線や3次曲線、またはスプライン補間などを適用して求めてもよい。要するに、測定値間の値を補間して求めることができるものであればよい。
本発明の色度計測装置は、分光型計測器と、三刺激値直読型計測器と、各計測器を制御する制御装置とを備え、前記制御装置は、基準となるリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させて明るさ毎の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測するリファレンス光源計測手段と、前記明るさ毎の分光プロファイルから前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性に基づいて設定された分光透過領域毎の分光プロファイルを取得し、前記各明るさの三刺激値と分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース作成手段と、被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を取得し、前記データベースに基づいて取得した被測定光源の三刺激値に対応する分光プロファイルを求める分光プロファイル取得手段と、取得した分光プロファイルを合成して合成分光プロファイルを求め、この合成分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出する三刺激値算出手段と、を備えることを特徴とする。
このような本発明においても、前記色度計測方法と同じ作用効果を奏することができる。
図1は本発明の実施の形態に係る色度測定装置の構成を示すブロック図である。
色度測定装置は、三刺激値直読型計測器1と、分光型計測器10と、制御装置20とを備えて構成されている。
色度測定装置は、三刺激値直読型計測器1と、分光型計測器10と、制御装置20とを備えて構成されている。
三刺激値直読型計測器1は、図2に示すように、赤(RED)、緑(GREEN)、青(BLUE)の3種類の光学フィルタ2A〜2Cと、受光素子3A〜3Cと、電流/電圧変換回路(I/V変換回路)4A〜4Cと、増幅回路5A〜5Cと、アナログ/デジタル変換回路(A/D変換回路)6A〜6Cと、制御回路7と、記憶回路8とを備えて構成されている。
赤(RED)、緑(GREEN)、青(BLUE)の3種類の光学フィルタ2A〜2Cは、図3に示すように、波長λ(380nm〜780nm)に対し、それぞれSR(λ),SG(λ),SB(λ)の分光透過特性を持っている。
受光素子3A〜3Cは、フォトダイオードなどで構成され、前記光学フィルタ2A〜2Cに対応して設けられている。そして、各光学フィルタ2A〜2Cを透過した入力光が照射されると、受光素子3A〜3Cは各光の強さに応じた信号(電流)を出力する。
受光素子3A〜3Cは、フォトダイオードなどで構成され、前記光学フィルタ2A〜2Cに対応して設けられている。そして、各光学フィルタ2A〜2Cを透過した入力光が照射されると、受光素子3A〜3Cは各光の強さに応じた信号(電流)を出力する。
I/V変換回路4A〜4Cは、各受光素子3A〜3Cに接続され、受光素子3A〜3Cから出力される電流を電圧に変換する。
増幅回路5A〜5Cは、各I/V変換回路4A〜4Cに接続され、各I/V変換回路4A〜4Cから出力される電圧を増幅する。
A/D変換回路6A〜6Cは、増幅回路5A〜5Cで増幅された電圧(アナログ値)をデジタル値に変換し、制御回路7に出力する。
増幅回路5A〜5Cは、各I/V変換回路4A〜4Cに接続され、各I/V変換回路4A〜4Cから出力される電圧を増幅する。
A/D変換回路6A〜6Cは、増幅回路5A〜5Cで増幅された電圧(アナログ値)をデジタル値に変換し、制御回路7に出力する。
制御回路7は、CPU(central processing unit)などで構成され、A/D変換回路6A〜6Cから出力されるデジタル値を制御装置20に出力する処理などを行う。制御装置20は、三刺激値直読型計測器1や分光型計測器10からの出力データを処理し、制御装置20の記憶装置に記憶する。
なお、制御装置20において行われる処理を制御回路7で行ってもよい。すなわち、三刺激値直読型計測器1に、分光型計測器10から送られるデータを入力するインターフェースを設け、三刺激値直読型計測器1で測定されたデータや分光型計測器10からのデータを処理し、記憶回路8に記憶してもよい。この場合、制御装置20を不要にすることも可能となる。
なお、制御装置20において行われる処理を制御回路7で行ってもよい。すなわち、三刺激値直読型計測器1に、分光型計測器10から送られるデータを入力するインターフェースを設け、三刺激値直読型計測器1で測定されたデータや分光型計測器10からのデータを処理し、記憶回路8に記憶してもよい。この場合、制御装置20を不要にすることも可能となる。
記憶回路8は、例えば、EEPROM(Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)などのメモリや、ハードディスクなどで構成され、前記CPUを駆動するためのプログラムや、処理によって得られた結果(前記補正値など)を記憶する。
以上の三刺激値直読型計測器1では、光学フィルタ2A、受光素子3A、I/V変換回路4A、増幅回路5A、A/D変換回路6Aを備えてR(赤)用のセンサが構成され、光学フィルタ2B、受光素子3B、I/V変換回路4B、増幅回路5B、A/D変換回路6Bを備えてG(緑)用のセンサが構成され、光学フィルタ2C、受光素子3C、I/V変換回路4C、増幅回路5C、A/D変換回路6Cを備えてB(青)用のセンサが構成されている。
分光型計測器10は、従来から用いられている公知のものであるため、説明を省略する。
制御装置20は、一般的なPC(Personal Computer)等で構成され、CRTや液晶ディスプレイなどで構成された表示装置25と、キーボードやマウスなどで構成された入力装置26とが接続されている。
この制御装置20は、図4に示すように、リファレンス光源計測手段21と、データベース作成手段22と、分光プロファイル取得手段23と、三刺激値算出手段24とを備えている。
制御装置20は、一般的なPC(Personal Computer)等で構成され、CRTや液晶ディスプレイなどで構成された表示装置25と、キーボードやマウスなどで構成された入力装置26とが接続されている。
この制御装置20は、図4に示すように、リファレンス光源計測手段21と、データベース作成手段22と、分光プロファイル取得手段23と、三刺激値算出手段24とを備えている。
次に、このような構成の色度測定装置を用いた測定手順について、図5のフローチャートを参照して説明する。なお、本実施形態では、以下の処理は、制御装置20で行われるものとするが、三刺激値直読型計測器1の制御回路7にて行ってもよい。
まず、制御装置20は、図5に示すように、リファレンス光源計測工程S1、データベース作成工程S2、分光プロファイル取得工程S3、三刺激値算出工程S4を順次実行する。
なお、このような工程S1〜S4によって測定値を算出するのは以下の理由からである。すなわち、図6に示すように、三刺激値直読型計測器1におけるR(赤),G(緑),B(青)の各センサの光学フィルタ分光透過特性x、y、zと、等色関数x’、y’、z’とは、ピーク波長や透過領域にズレが生じている。そして、このズレが三刺激値直読型計測器1における色度計測誤差の原因になっている。従って、本実施形態では、リファレンス光源計測工程S1およびデータベース作成工程S2からなる測定準備工程においては、後述するように分光型計測器10を併用して三刺激値直読型計測器1の特性を記憶し、実際の測定時にその特性を利用してデータを補正できるように準備している。
なお、このような工程S1〜S4によって測定値を算出するのは以下の理由からである。すなわち、図6に示すように、三刺激値直読型計測器1におけるR(赤),G(緑),B(青)の各センサの光学フィルタ分光透過特性x、y、zと、等色関数x’、y’、z’とは、ピーク波長や透過領域にズレが生じている。そして、このズレが三刺激値直読型計測器1における色度計測誤差の原因になっている。従って、本実施形態では、リファレンス光源計測工程S1およびデータベース作成工程S2からなる測定準備工程においては、後述するように分光型計測器10を併用して三刺激値直読型計測器1の特性を記憶し、実際の測定時にその特性を利用してデータを補正できるように準備している。
次に、各工程S1〜S4について詳細に説明する。
リファレンス光源計測工程S1を行う場合、図7に示すように、予め、三刺激値直読型計測器1と分光型計測器10とを測定台11上に併置し、基準となるリファレンス光源30からの光を受光可能な位置に配置する。また、各計測器1,10およびリファレンス光源30を制御装置20に接続し、制御装置20で制御できるようにしておく。
なお、リファレンス光源30は、例えば、プロジェクタの光源からの光を三刺激値直読型計測器1で検査する場合には、基準となるプロジェクタが用いられる。
リファレンス光源計測工程S1を行う場合、図7に示すように、予め、三刺激値直読型計測器1と分光型計測器10とを測定台11上に併置し、基準となるリファレンス光源30からの光を受光可能な位置に配置する。また、各計測器1,10およびリファレンス光源30を制御装置20に接続し、制御装置20で制御できるようにしておく。
なお、リファレンス光源30は、例えば、プロジェクタの光源からの光を三刺激値直読型計測器1で検査する場合には、基準となるプロジェクタが用いられる。
リファレンス光源計測工程S1が実行されると、制御装置20のリファレンス光源計測手段21は、リファレンス光源30の明るさを変化させながら、リファレンス光源30から発せられる光を、分光型計測器10と三刺激値直読型計測器1で同時に計測し、それぞれ分光プロファイルfref_i(λ)と、三刺激値Xref_i,Yref_i,Zref_iを得る。
すなわち、図8に示すように、リファレンス光源計測手段21は、リファレンス光源30の明るさを、100%出力を含む複数段階に設定する(S11)。例えば、10,30,60,80,100%の5段階に順次切り替えて設定する。
すなわち、図8に示すように、リファレンス光源計測手段21は、リファレンス光源30の明るさを、100%出力を含む複数段階に設定する(S11)。例えば、10,30,60,80,100%の5段階に順次切り替えて設定する。
次に、リファレンス光源計測手段21は、設定された明るさのリファレンス光源30を、三刺激値直読型計測器1および分光型計測器10で同時に計測する(S12)。三刺激値直読型計測器1で測定された三刺激値Xref_i,Yref_i,Zref_iと、分光型計測器10で測定された分光プロファイルfref_i(λ)とはそれぞれ制御装置20に出力され、制御装置20のメモリに記憶される。
リファレンス光源計測手段21は、各明るさの測定が完了したかを判定し(S13)、完了するまでS11,S12を繰り返す。そして、各明るさの測定が完了したら、リファレンス光源計測工程S1を終了する(S14)。
リファレンス光源計測手段21は、各明るさの測定が完了したかを判定し(S13)、完了するまでS11,S12を繰り返す。そして、各明るさの測定が完了したら、リファレンス光源計測工程S1を終了する(S14)。
リファレンス光源計測工程S1が終了すると、図5に示すようにデータベース作成工程S2が実行される。
データベース作成工程S2が実行されると、図9に示すように、データベース作成手段22は、次の式(1)から式(3)により、三刺激値Xref_i,Yref_i,Zref_iを明るさ100%(MAX)時の計測値Xref_i=max,Yref_i=max,Zref_i=maxで正規化し、最大値に対する明るさ(割合)のデータX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iとするリファレンス光源正規化工程S21を行う。
データベース作成工程S2が実行されると、図9に示すように、データベース作成手段22は、次の式(1)から式(3)により、三刺激値Xref_i,Yref_i,Zref_iを明るさ100%(MAX)時の計測値Xref_i=max,Yref_i=max,Zref_i=maxで正規化し、最大値に対する明るさ(割合)のデータX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iとするリファレンス光源正規化工程S21を行う。
次に、データベース作成手段22は、次の式(4)から式(6)に示すように、明るさX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iのときに同時に計測した分光プロファイルfref_i(λ)に、予め作成しておいたマスクUR(λ),UG(λ),UB(λ)を掛けて、各分光透過領域のプロファイルfref_Xi(λ),fref_Yi(λ),fref_Zi(λ)を取得する分光透過領域プロファイル取得工程S22を行う。
なお、前記各マスクは、三刺激値直読型計測器1のR,G,Bの各センサの分光透過特性に基づいて予め作成されたものである。具体的には、RGB用の各マスクUR(λ),UG(λ),UB(λ)は、以下の式(7)から式(9)により求めている。なお、各式において、SR(λ),SG(λ),SB(λ)は各光学フィルタ2A〜2Cの分光透過特性、MAX[SR(λ)],MAX[SG(λ)],MAX[SB(λ)]は、各分光透過特性の最大値、Tは透過率の閾値である。Tは例えば0.005(つまり0.5%)等に設定する。従って、各マスクは、透過特性が最大値に比べて0.5%以上の領域ではそのまま出力させ、0.5%未満の領域では出力を「0」とするものである。
次に、データベース作成手段22は、前記正規化された明るさX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iと、その明るさの際に測定されて分光透過領域プロファイル取得工程S22で求められた分光透過領域ごとのプロファイルfref_Xi(λ),fref_Yi(λ),fref_Zi(λ)とをそれぞれ対応付けてデータベースとして保存するデータベース保存工程S23を行う。
例えば、リファレンス光源30の各明るさのスペクトルが図10に示すようなものであった場合、XYZの各波長領域のデータベースを図示すれば、図11〜13に示すようになる。なお、図11は、Z波長領域のデータベースであり、明るさZ'ref_i=1〜Z'ref_i=maxの時の分光プロファイルfref_Zi(λ)を示す。図12は、Y波長領域のデータベースであり、明るさY'ref_i=1〜Y'ref_i=maxの時の分光プロファイルfref_Yi(λ)を示す。図13は、X波長領域のデータベースであり、明るさX'ref_i=1〜X'ref_i=maxの時の分光プロファイルfref_Xi(λ)を示す。
データベースが保存されたら、データベース作成手段22は、データベース作成工程S2を終了する。
データベースが保存されたら、データベース作成手段22は、データベース作成工程S2を終了する。
データベース作成工程S2が終了すると、図5に示すように分光プロファイル取得工程S3が実行される。
分光プロファイル取得工程S3が実行されると、分光プロファイル取得手段23は、図14に示すように、まず、基準スペクトル補正工程S31を行う。
分光プロファイル取得工程S3が実行されると、分光プロファイル取得手段23は、図14に示すように、まず、基準スペクトル補正工程S31を行う。
すなわち、分光プロファイル取得手段23は、測定台11または被測定光源40を移動し、三刺激値直読型計測器1および分光型計測器10を被測定光源40に対向する位置に配置し、被測定光源40の基準スペクトル補正工程S31を行う。
基準スペクトル補正工程S31では、分光プロファイル取得手段23は、まず、被測定光源40の明るさ100%出力時の分光プロファイルfdat_i=max(λ)を分光型計測器10で計測し、同時に、三刺激値直読型計測器1で被測定光源40の明るさ100%出力時の三刺激値Xdot_i=max,Ydot_i=max,Zdot_i=maxを取得する被測定光源100%出力測定工程S311を行う。
基準スペクトル補正工程S31では、分光プロファイル取得手段23は、まず、被測定光源40の明るさ100%出力時の分光プロファイルfdat_i=max(λ)を分光型計測器10で計測し、同時に、三刺激値直読型計測器1で被測定光源40の明るさ100%出力時の三刺激値Xdot_i=max,Ydot_i=max,Zdot_i=maxを取得する被測定光源100%出力測定工程S311を行う。
次に、分光プロファイル取得手段23は、前記計測値fdat_i=max(λ)と、リファレンス光源30の分光プロファイルfref_i=max(λ)とから次の式(10)によって補正係数K(λ)を算出する補正係数算出工程S312を行う。
次に、分光プロファイル取得手段23は、次の式(11)から式(13)のように、補正係数K(λ)を、データベースに保存されたリファレンス光源30の各分光プロファイルfref_Xi(λ),fref_Yi(λ),fref_Zi(λ)に掛けることで、被測定光源40の各明るさ(本実施形態では10,30,60,80,100%)の分光プロファイルを求め、データベースを更新するデータベース更新工程S313を行う。
以上によって、基準スペクトル補正工程S31が終了すると、分光プロファイル取得手段23は、三刺激値計測工程S32を行う。
三刺激値計測工程S32では、分光プロファイル取得手段23は、まず、三刺激値直読型計測器1のみを用いて測定対象製品である被測定光源40を計測し、三刺激値Xdot,Ydot,Zdotを取得する被測定光源計測工程S321を行う。この際、被測定光源40の明るさを変化させて検査する必要がある場合には、分光プロファイル取得手段23は、被測定光源40の明るさを変化させながら計測し、各明るさ毎の三刺激値Xdot,Ydot,Zdotを取得し、メモリに保存する。
三刺激値計測工程S32では、分光プロファイル取得手段23は、まず、三刺激値直読型計測器1のみを用いて測定対象製品である被測定光源40を計測し、三刺激値Xdot,Ydot,Zdotを取得する被測定光源計測工程S321を行う。この際、被測定光源40の明るさを変化させて検査する必要がある場合には、分光プロファイル取得手段23は、被測定光源40の明るさを変化させながら計測し、各明るさ毎の三刺激値Xdot,Ydot,Zdotを取得し、メモリに保存する。
次に、分光プロファイル取得手段23は、得られた計測値Xdot,Ydot,Zdotを明るさ100%の計測値Xdot_i=max,Ydot_i=max,Zdot_i=maxで正規化し、明るさX'dot,Y'dot,Z'dotを取得する被測定光源正規化工程S322を行う。具体的には、次の式(14)から式(16)によって各明るさX'dot,Y'dot,Z'dotを算出する。
以上によって、三刺激値計測工程S32が終了すると、分光プロファイル取得手段23は、分光プロファイル算出工程S33を行う。
具体的には、分光プロファイル取得手段23は、データベース更新工程S313で更新された前記データベースを利用して前記明るさX'dot,Y'dot,Z'dotに対応する分光プロファイルを取得する。
すなわち、前記明るさX'dot,Y'dot,Z'dotがデータベースに記憶された明るさX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iと一致する場合には、対応する分光プロファイルfref_Xi(λ),fref_Yi(λ),fref_Zi(λ)を取得する。
具体的には、分光プロファイル取得手段23は、データベース更新工程S313で更新された前記データベースを利用して前記明るさX'dot,Y'dot,Z'dotに対応する分光プロファイルを取得する。
すなわち、前記明るさX'dot,Y'dot,Z'dotがデータベースに記憶された明るさX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iと一致する場合には、対応する分光プロファイルfref_Xi(λ),fref_Yi(λ),fref_Zi(λ)を取得する。
一方、一致しない場合には、その前後の明るさに対応する分光プロファイルを用い、次の式(17)から式(19)に基づいて分光プロファイルを算出する。なお、各式において、明るさX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iおよび明るさX'ref_i+1,Y'ref_i+1,Z'ref_i+1は、データベースに記憶された明るさのうち、前記明るさX'dot,Y'dot,Z'dotを挟んで前後となる明るさである。例えば、データベースに10,30,60,80,100%の5段階の明るさのデータが保存されている場合に、被測定光源の測定値X'dot,Y'dot,Z'dotが55%の明るさであった場合、明るさX'ref_i,Y'ref_i,Z'ref_iおよび明るさX'ref_i+1,Y'ref_i+1,Z'ref_i+1は、それぞれ30%および60%の明るさとなる。
被測定光源40の明るさに対応する分光プロファイルが求められたら、分光プロファイル取得手段23は分光プロファイル取得工程S3を終了する。
そして、分光プロファイル取得工程S3が終了すると、図5に示すように三刺激値算出工程S4が実行される。
三刺激値算出工程S4が実行されると、三刺激値算出手段24は、図15に示すように、まず、合成プロファイル算出工程S41を行う。
すなわち、三刺激値算出手段24は、式(17)〜(19)で算出された分光プロファイルから以下の式(20)により合成分光プロファイルfout(λ)を求め、合成プロファイル算出工程S41を行う。
そして、分光プロファイル取得工程S3が終了すると、図5に示すように三刺激値算出工程S4が実行される。
三刺激値算出工程S4が実行されると、三刺激値算出手段24は、図15に示すように、まず、合成プロファイル算出工程S41を行う。
すなわち、三刺激値算出手段24は、式(17)〜(19)で算出された分光プロファイルから以下の式(20)により合成分光プロファイルfout(λ)を求め、合成プロファイル算出工程S41を行う。
次に、三刺激値算出手段24は、式(21)から式(23)を用い、図16に示すような合成分光プロファイルfout(λ)と、等色関数x(λ),y(λ),z(λ)から三刺激値Xout,Yout,Zoutを求めて三刺激値直読型計測器1の出力とする三刺激値出力工程S42を行う。なお、「683」は比例定数K=683 lm/Wである。
以上によって、分光プロファイルおよび等色関数に基づいて算出された三刺激値が出力されると、三刺激値算出手段24は、三刺激値算出工程S4を終了する。そして、三刺激値算出工程S4が終了すると、制御装置20は、一連の計測処理を終了する。
なお、他の被測定光源40の測定を行う場合、リファレンス光源計測工程S1およびデータベース作成工程S2は再度行う必要がないため、制御装置20は分光プロファイル取得手段23による分光プロファイル取得工程S3および三刺激値算出手段24による三刺激値算出工程S4を繰り返し行えばよい。この場合、分光型計測器10は、基準スペクトル補正工程S31における被測定光源100%出力測定工程S311のみに利用されることになる。
なお、他の被測定光源40の測定を行う場合、リファレンス光源計測工程S1およびデータベース作成工程S2は再度行う必要がないため、制御装置20は分光プロファイル取得手段23による分光プロファイル取得工程S3および三刺激値算出手段24による三刺激値算出工程S4を繰り返し行えばよい。この場合、分光型計測器10は、基準スペクトル補正工程S31における被測定光源100%出力測定工程S311のみに利用されることになる。
この実施の形態によれば、次のような効果がある。
(1)三刺激値直読型計測器1は、予め測定対象の明るさに応じた分光プロファイルを測定してデータベース化しており、被測定光源40を測定する際には、光源40の明るさを測定し、その明るさに対応する分光プロファイルを算出し、合成した分光プロファイルから等色関数を用いて再度三刺激値を求めているので、分光型計測器10と同程度の精度で測定することができる。
(1)三刺激値直読型計測器1は、予め測定対象の明るさに応じた分光プロファイルを測定してデータベース化しており、被測定光源40を測定する際には、光源40の明るさを測定し、その明るさに対応する分光プロファイルを算出し、合成した分光プロファイルから等色関数を用いて再度三刺激値を求めているので、分光型計測器10と同程度の精度で測定することができる。
(2)さらに、リファレンス光源計測工程S1や分光プロファイル取得工程S3の基準スペクトル補正工程S31では分光型計測器10を三刺激値直読型計測器1と併用しているが、分光プロファイル取得工程S3の三刺激値計測工程S32、分光プロファイル算出工程S33や、三刺激値算出工程S4では三刺激値直読型計測器1のみで測定できるため、分光型計測器10のみで測定する場合に比べて測定時間を短縮することができる。
特に、リファレンス光源計測工程S1やデータベース作成工程S2は、最初に行えば良く、複数の被測定光源40を測定する場合には、分光プロファイル取得工程S3、三刺激値算出工程S4を繰り返して行えばよいため、分光型計測器10を利用するのは被測定光源100%出力測定工程S311のみであり、他の測定は三刺激値直読型計測器1のみで行うことができるため、複数の被測定光源40を検査する際の検査時間を大幅に短縮することができる。
従って、液晶プロジェクタや液晶ディスプレイなどのγ特性計測時にも高精度の計測を短時間で行うことができる。
特に、リファレンス光源計測工程S1やデータベース作成工程S2は、最初に行えば良く、複数の被測定光源40を測定する場合には、分光プロファイル取得工程S3、三刺激値算出工程S4を繰り返して行えばよいため、分光型計測器10を利用するのは被測定光源100%出力測定工程S311のみであり、他の測定は三刺激値直読型計測器1のみで行うことができるため、複数の被測定光源40を検査する際の検査時間を大幅に短縮することができる。
従って、液晶プロジェクタや液晶ディスプレイなどのγ特性計測時にも高精度の計測を短時間で行うことができる。
(3)三刺激値直読型計測器1は、光学フィルタ2A〜2Cの分光透過特性から透過領域ごとに分光プロファイルをデータベースに記憶し、明るさに応じてそれら分光プロファイルを合成しているので、精度の高い分光プロファイルを得ることができ、精度の高い三刺激値を出力することができる。
(4)リファレンス光源30の分光プロファイルと被測定光源40の分光プロファイルから補正係数Kを求めているので、被測定光源40の分光ピーク波長変化に対応することができる。このため、分光ピーク波長が異なる各被測定光源40を順次検査する場合にも、その分光ピーク波長の変化を補正することができ、より一層精度の高い色度測定を行うことができる。
(5)三刺激値直読型計測器1によって測定されるリファレンス光源30および被測定光源40の明るさを、それぞれ100%出力時に対する割合となるように正規化しているので、被測定光源40の明るさに対応する分光プロファイルを前記データベースから確実に求めることができる。
さらに、データベースから被測定光源40の明るさに対応する分光プロファイルを算出する際に、前記被測定光源40の明るさを挟む前後の明るさに対応する分光プロファイルを比例配分し、前記被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを求めているので、データベースに保存されている明るさが例えば数種類であっても、前記被測定光源40の明るさに対応する分光プロファイルを精度良く求めることができる。
さらに、データベースから被測定光源40の明るさに対応する分光プロファイルを算出する際に、前記被測定光源40の明るさを挟む前後の明るさに対応する分光プロファイルを比例配分し、前記被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを求めているので、データベースに保存されている明るさが例えば数種類であっても、前記被測定光源40の明るさに対応する分光プロファイルを精度良く求めることができる。
なお、本発明は、前記実施形態に限らない。
例えば、基準スペクトル補正工程S31を設けていたが必ずしも必要ではない。但し、基準スペクトル補正工程S31を設けた方が、被測定光源40の分光ピーク波長変化に対応して精度の高い測定が可能になる利点がある。
例えば、基準スペクトル補正工程S31を設けていたが必ずしも必要ではない。但し、基準スペクトル補正工程S31を設けた方が、被測定光源40の分光ピーク波長変化に対応して精度の高い測定が可能になる利点がある。
また、各明るさを正規化して求めていたが、正規化せずに直接明るさのデータをデータベースに保存し、その明るさのデータから分光プロファイルを求めるようにしてもよい。
本発明は、単一の光源を測定する場合に限らず、混合光源に対してそれを一つの光源とみなしてデータベースを作成することで適用可能である。
前記実施形態では、制御装置20を設けていたが、制御装置20の機能を三刺激値直読型計測器1の制御回路7に組み込むことで、三刺激値直読型計測器1および分光型計測器10のみで色度測定装置を構成してもよい。
検出対象としては、前記のようなTFT素子を用いた液晶ライトバルブに限られるものではなく、その他のダイオード素子を用いた液晶パネルやプラズマディスプレイ、ELディスプレイ、DMD(ダイレクト・ミラー・デバイス)などの表示体部品、ならびにそれらを使用したフロントプロジェクタやリアプロジェクタ等の表示装置・製品の検査に利用することができるものであり、これらに使用した場合でも本発明の範囲から除外されるものでないことはいうまでもない。
1…三刺激値直読型計測器、2A〜2C…光学フィルタ、3A〜3C…受光素子、4A〜4C…電圧変換回路(I/V変換回路)、5A〜5C…増幅回路、6A〜6C…デジタル変換回路(A/D変換回路)、8…記憶回路、10…分光型計測器、11…測定台、20…制御装置、21…リファレンス光源計測手段、22…データベース作成手段、23…分光プロファイル取得手段、24…三刺激値算出手段、25…表示装置、26…入力装置、30…リファレンス光源、40…被測定光源。
Claims (4)
- 基準となるリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させて明るさ毎の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測するリファレンス光源計測工程と、
前記明るさ毎の分光プロファイルから前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性に基づいて設定された分光透過領域毎の分光プロファイルを取得し、前記各明るさの三刺激値と分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース作成工程と、
被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を取得し、前記データベースに基づいて取得した被測定光源の三刺激値に対応する分光プロファイルを求める分光プロファイル取得工程と、
取得した分光プロファイルを合成して合成分光プロファイルを求め、この合成分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出する三刺激値算出工程と、
を備えることを特徴とする色度測定方法。 - 請求項1に記載の色度測定方法において、
前記リファレンス光源計測工程は、少なくともリファレンス光源の100%出力時の分光プロファイルを計測する工程を備え、
前記分光プロファイル取得工程は、
被測定光源の明るさ100%出力時の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測し、被測定光源の明るさ100%出力時の分光プロファイルとリファレンス光源の100%出力時の分光プロファイルとから補正係数を求め、前記データベースの各分光プロファイルを前記補正係数を用いて補正して更新する基準スペクトル補正工程と、
被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を取得する三刺激値計測工程と、
前記更新されたデータベースから前記被測定光源の三刺激値に対応する分光プロファイルを算出する分光プロファイル算出工程と、
を備えることを特徴とする色度測定方法。 - 請求項2に記載の色度測定方法において、
前記データベース作成工程は、
前記リファレンス光源計測工程で計測された三刺激値を明るさ100%出力時に計測された三刺激値で正規化して最大値に対する明るさのデータとするリファレンス光源正規化工程と、
前記明るさ毎の分光プロファイルから前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性に基づいて設定された分光透過領域毎の分光プロファイルを取得する分光透過領域プロファイル取得工程と、
前記各明るさのデータと分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース保存工程と、を備え、
前記三刺激値計測工程は、
被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を計測する被測定光源計測工程と、
計測された三刺激値を前記被測定光源の明るさ100%出力時の三刺激値で正規化して最大値に対する明るさのデータとする被測定光源正規化工程と、を備え、
前記分光プロファイル算出工程は、
前記データベースに保存された各明るさのデータのうち、前記被測定光源正規化工程で得られた明るさのデータを挟む前後の明るさデータおよび各明るさデータに対応する分光プロファイルに基づいて、計測された被測定光源の明るさに対応する分光プロファイルを求めることを特徴とする色度測定方法。 - 分光型計測器と、三刺激値直読型計測器と、各計測器を制御する制御装置とを備え、
前記制御装置は、
基準となるリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させて明るさ毎の分光プロファイルおよび三刺激値を、分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測するリファレンス光源計測手段と、
前記明るさ毎の分光プロファイルから前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性に基づいて設定された分光透過領域毎の分光プロファイルを取得し、前記各明るさの三刺激値と分光透過領域毎の分光プロファイルとを対応付けてデータベースに保存するデータベース作成手段と、
被測定光源を前記三刺激値直読型計測器で計測して三刺激値を取得し、前記データベースに基づいて取得した被測定光源の三刺激値に対応する分光プロファイルを求める分光プロファイル取得手段と、
取得した分光プロファイルを合成して合成分光プロファイルを求め、この合成分光プロファイルおよび等色関数から三刺激値を算出する三刺激値算出手段と、
を備えることを特徴とする色度測定装置。
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JP2006122274A JP2007292659A (ja) | 2006-04-26 | 2006-04-26 | 色度測定方法および色度測定装置 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103398779A (zh) * | 2013-07-11 | 2013-11-20 | 华北水利水电大学 | 一种恒照度透射色敏测量装置 |
WO2017164134A1 (ja) * | 2016-03-23 | 2017-09-28 | コニカミノルタ株式会社 | 二次元測色装置 |
CN114441040A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-06 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种色度测量装置及方法 |
-
2006
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