JP2007235022A - 接着フィルム - Google Patents

接着フィルム Download PDF

Info

Publication number
JP2007235022A
JP2007235022A JP2006057440A JP2006057440A JP2007235022A JP 2007235022 A JP2007235022 A JP 2007235022A JP 2006057440 A JP2006057440 A JP 2006057440A JP 2006057440 A JP2006057440 A JP 2006057440A JP 2007235022 A JP2007235022 A JP 2007235022A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor element
adhesive film
semiconductor device
package
sided adhesive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006057440A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Kodama
洋一 児玉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Chemicals Inc
Original Assignee
Mitsui Chemicals Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Chemicals Inc filed Critical Mitsui Chemicals Inc
Priority to JP2006057440A priority Critical patent/JP2007235022A/ja
Publication of JP2007235022A publication Critical patent/JP2007235022A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】半導体パッケージの小型化に伴い、半導体素子は薄くなると機械的強度が大きく低下する。そのため、薄いパッケージの外に剥き出しに搭載されたフリップチップ型半導体パッケージにおいて、半導体素子は外部からの衝撃で容易に欠けや割れを防ぐパッケージの小型化が可能であり、製造が容易な汎用性のある、半導体素子の放熱構造体を提供する。
【解決手段】基板3にフリップチップ方式で実装された半導体素子1上に、金属層5と接着層6とからなる片面接着フィルムが接着層6を介して貼り付けられた構造を有することを特徴とする半導体素子1の放熱構造体。
【選択図】図1

Description

本発明は、フリップチップ実装された半導体素子の放熱構造体に関する。
従来提案されている基板にフリップチップ実装された半導体素子の放熱構造体としては、図2に示すような半導体素子にヒートシンクを取り付けたもの(構造1)や、図3に示すような高熱伝導性樹脂で半導体素子全体を封止したもの(構造2)や、図4に示すような基板に形成したビアホールから放熱する構造体(構造3)等を挙げることができる。
一方、近年の半導体パッケージの小型化に伴い、半導体素子の厚みは年々薄型化しているが、一般に、半導体素子は薄くなると機械的強度が大きく低下する。そのため、薄い半導体素子がパッケージの外に剥き出しに搭載されたフリップチップ型半導体パッケージにおいて、半導体素子は外部からの衝撃で容易に欠けや割れが発生し問題になっていた。
特開2006−19535 特開平5−129474 特開2004−253579
前述した従来の構造1は、スペーサやヒートシンクといった使用部品が多くなるばかりでなく、最終的な基板占有面積が大きくなり、パッケージの小型化に限界がある。
前述した従来の構造2は、印刷もしくはディスペンサで高熱伝導性樹脂を塗布する方法で形成させるため簡便であるが、高熱伝導性樹脂の熱伝導率はそれほど高くなく、放熱性の観点から限界がある。また、ペースト状であるためパッケージ周辺に広がりやすく、パッケージの小型化に不向きである。
前述した従来の構造3は、半導体素子表面に放熱用バンプ形成用のパッドを有した特殊な半導体素子を設計しなければならず、汎用性に欠ける。
本発明の目的は、従来の構造体の欠点を回避可能な半導体素子の放熱構造体を提供することである。
金属層と接着層とからなる片面接着フィルムを半導体素子に貼り付けることにより、前述の課題を解決できることを見出し本願発明を完成した。
また、片面接着フィルムを、個片パッケージ毎ではなく、ウェーハレベルで貼り付けることができるため、製造時の工数を格段に少なくできる。さらに、構造上、半導体素子と同面積であるため、小型パッケージに好適に使用することができる。同時に、本片面接着フィルムはパッケージ外部からの衝撃に対して保護フィルムとしての機能も発現する。
本発明の半導体素子の放熱構造体について図を参照して詳細に説明する。図1は本発明の一実施の形態を示す。半導体素子1が基板3に対してフリップチップ方式で実装されている。半導体素子1と基板3との間にはバンプ2がある。バンプ2は、半導体素子1や基板3に対して、AuとAuの圧着やはんだを使用して接続される。半導体素子1と基板3との隙間は、アンダーフィル4で封止される。アンダーフィル4としては、非導電性ペースト(NCP)、非導電性フィルム(NCF)、異方導電性ペースト(ACP)、異方導電性フィルム(ACF)等が挙げられる。
本発明に関わる片面接着フィルムは半導体素子1上に形成され、金属層5と接着層6から構成される。
金属層5の材質は、特に限定されないが、銅、ニッケル、アルミニウム及びステンレス鋼、並びにそれらの合金等が挙げられ、中でも入手のしやすさから銅が好適である。
金属層5の厚みは5μm以上200μm以下が好ましい。5μm未満でも200μmを超えてもハンドリングが困難である。
接着層6の材質は、特に限定されないが、ポリイミド系、ウレタン系、エポキシ系、アクリル系、シリコーン系等が挙げられ、中でも耐熱性の観点からポリイミド系が好適である。本接着層6はヒートシンクとして機能する金属層5と発熱源である半導体素子1とを接着するためのものであるため、高熱伝導率の樹脂からなることが好ましい。また、接着可能温度は低い方が好ましい。
接着層6の厚みは2μm以上50μm以下が好ましい。2μm未満では接着が困難であり、50μmを超えても接着性は変わらない。
次に、本発明の放熱構造体の製造方法について説明する。本発明では、上述の片面接着フィルムをウェーハレベルで貼り付けることが好ましい態様である。すなわち、半導体素子を個片化する前のウェーハに片面接着フィルムをロールラミネートや真空ラミネート等により貼り付け、その後、ウェーハをダイシングし、半導体素子を個片化し、基板にフリップチップ方式で実装する。バンプの形成は片面接着フィルム貼り付けの前でも後でも構わない。
以上述べたように、本発明の、金属層と接着層とからなる片面接着フィルムを半導体素子に貼り付けることを特徴とする半導体素子の放熱構造体は、製造時の工数を格段に少なくできるだけでなく、パッケージ外部からの衝撃に対して保護フィルムとしての機能も発現するため、小型パッケージに好適に使用することができる。
本発明の一実施形態における半導体装置の概略構成を示す断面図 従来の半導体装置の概略構成を示す断面図(構造1) 従来の半導体装置の概略構成を示す断面図(構造2) 従来の半導体装置の概略構成を示す断面図(構造3)
符号の説明
1 半導体素子
2 バンプ
3 基板
4 アンダーフィル
5 金属層
6 接着層
7 ヒートシンク
8 接着剤
9 スペーサ
10 高熱伝導性樹脂
11 ビアホール

Claims (3)

  1. 基板にフリップチップ方式で実装された半導体素子上に、金属層と接着層とからなる片面接着フィルムが接着層を介して貼り付けられた構造を有することを特徴とする半導体素子の放熱構造体。
  2. 片面接着フィルムを半導体素子に貼り付けたのち、半導体チップに個片化する工程を具備することを特徴とする請求項1に記載の放熱構造体の製造方法。
  3. 請求項2に記載の方法で製造されたフリップチップ型半導体パッケージ。
JP2006057440A 2006-03-03 2006-03-03 接着フィルム Pending JP2007235022A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006057440A JP2007235022A (ja) 2006-03-03 2006-03-03 接着フィルム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006057440A JP2007235022A (ja) 2006-03-03 2006-03-03 接着フィルム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007235022A true JP2007235022A (ja) 2007-09-13

Family

ID=38555272

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006057440A Pending JP2007235022A (ja) 2006-03-03 2006-03-03 接着フィルム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007235022A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012033626A (ja) * 2010-07-29 2012-02-16 Nitto Denko Corp フリップチップ型半導体裏面用フィルム及びその用途
JP2013219371A (ja) * 2013-05-23 2013-10-24 Nitto Denko Corp フリップチップ型半導体裏面用フィルム及びその用途
WO2017168825A1 (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 古河電気工業株式会社 電子デバイスパッケージ用テープ
WO2017168829A1 (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 古河電気工業株式会社 電子デバイスパッケージ用テープ
JP2017186483A (ja) * 2016-04-08 2017-10-12 積水化学工業株式会社 積層シート、接着層及び金属材付き半導体チップの製造方法、及び半導体装置の製造方法
KR20180064367A (ko) 2016-03-31 2018-06-14 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지, 전자 디바이스 패키지의 제조 방법 및 전자 디바이스 패키지용 테이프
KR20180067522A (ko) 2016-03-31 2018-06-20 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
KR20180097445A (ko) 2015-12-25 2018-08-31 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 반도체 가공용 테이프
KR20180098125A (ko) 2015-12-25 2018-09-03 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 반도체 가공용 테이프
KR20180127365A (ko) 2016-03-31 2018-11-28 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
KR20180127362A (ko) 2016-03-31 2018-11-28 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102382587A (zh) * 2010-07-29 2012-03-21 日东电工株式会社 倒装芯片型半导体背面用膜及其用途
CN102382587B (zh) * 2010-07-29 2015-09-30 日东电工株式会社 倒装芯片型半导体背面用膜及其用途
US10211083B2 (en) 2010-07-29 2019-02-19 Nitto Denko Corporation Film for flip chip type semiconductor back surface and its use
JP2012033626A (ja) * 2010-07-29 2012-02-16 Nitto Denko Corp フリップチップ型半導体裏面用フィルム及びその用途
JP2013219371A (ja) * 2013-05-23 2013-10-24 Nitto Denko Corp フリップチップ型半導体裏面用フィルム及びその用途
KR20180097445A (ko) 2015-12-25 2018-08-31 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 반도체 가공용 테이프
KR20180098125A (ko) 2015-12-25 2018-09-03 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 반도체 가공용 테이프
WO2017168829A1 (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 古河電気工業株式会社 電子デバイスパッケージ用テープ
KR20180064367A (ko) 2016-03-31 2018-06-14 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지, 전자 디바이스 패키지의 제조 방법 및 전자 디바이스 패키지용 테이프
KR20180067522A (ko) 2016-03-31 2018-06-20 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
JP2017179262A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 古河電気工業株式会社 電子デバイスパッケージ用テープ
CN108779375A (zh) * 2016-03-31 2018-11-09 古河电气工业株式会社 电子器件封装用带
KR20180127365A (ko) 2016-03-31 2018-11-28 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
KR20180127361A (ko) 2016-03-31 2018-11-28 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
KR20180127362A (ko) 2016-03-31 2018-11-28 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
KR20180127366A (ko) 2016-03-31 2018-11-28 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
WO2017168825A1 (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 古河電気工業株式会社 電子デバイスパッケージ用テープ
KR102165006B1 (ko) 2016-03-31 2020-10-13 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전자 디바이스 패키지용 테이프
CN108779375B (zh) * 2016-03-31 2020-11-10 古河电气工业株式会社 电子器件封装用带
JP2017186483A (ja) * 2016-04-08 2017-10-12 積水化学工業株式会社 積層シート、接着層及び金属材付き半導体チップの製造方法、及び半導体装置の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007235022A (ja) 接着フィルム
US20220122938A1 (en) Packaged microelectronic devices having stacked interconnect elements and methods for manufacturing the same
KR101715761B1 (ko) 반도체 패키지 및 그 제조방법
US7833810B2 (en) Method of fabricating isolation structures for CMOS image sensor chip scale packages
TWI379364B (en) Process of grounding heat spreader/stiffener to a flip chip package using solder and film adhesive
US8378480B2 (en) Dummy wafers in 3DIC package assemblies
KR102327141B1 (ko) 프리패키지 및 이를 사용한 반도체 패키지의 제조 방법
JP5387685B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US7626251B2 (en) Microelectronic die assembly having thermally conductive element at a backside thereof and method of making same
TWI240399B (en) Chip package structure and process for fabricating the same
KR20150094135A (ko) 반도체 패키지 및 이의 제조방법
JP2008218926A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2007042719A (ja) 半導体装置
KR20130012500A (ko) 칩 패키지 구조물 및 그 제조 방법
US20050211749A1 (en) Bumpless die and heat spreader lid module bonded to bumped die carrier
US9887144B2 (en) Ring structure for chip packaging
JP2008135521A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2008130706A (ja) 半導体装置の製造方法
TWM610767U (zh) 晶片封裝組件
TW201642439A (zh) 半導體裝置
TWI430376B (zh) The Method of Fabrication of Semiconductor Packaging Structure
JP6792322B2 (ja) 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2009038266A (ja) 半導体装置及びその製造方法
KR101616272B1 (ko) 반도체 패키지 제작 방법
US20230048302A1 (en) Package structure and manufacturing method thereof