JP2007207335A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 実際の使用上において、充分なフォーカスバイアス値を調整可能でありながらも、光ディスク装置への光ディスクのマウント時間を大幅に短縮することが可能なフォーカスバイアス値調整機能を有する光ディスク装置を提供する。
【解決手段】 バイアスマージンのマージン幅Ｍを利用することにより、フォーカスバイアス値と反射光の指標値との関係を計測するポイント数を大幅に削減し、フォーカスバイアス値の調整時間を短縮し、光ディスク装置１０への光ディスク２０の装着時間を大幅に短縮することができる光ディスク装置１０である。
【選択図】 図６

Description

本発明は、フォーカスバイアス調整機能を有する光ディスク装置に関し、より詳細には、フォーカスバイアス値の調整時間を大幅に短縮することが可能な光ディスク装置に関する。

光ディスク装置において、フォーカスバイアス値を調整する際においては、複数のフォーカスバイアス値に対する光ディスクからの反射光信号のジッタ値を計測し、図９に示すようなフォーカスバイアス値と、反射光信号のジッタ値との相関関係を示すグラフを作成することにより、最適なフォーカスバイアス値の調整を行っている。このような技術は、例えば特許文献１に記載されているようなものがある。
特開２００３−１５１１４８号公報

しかしながら、フォーカスバイアス値と反射光信号のジッタ値のグラフの作成においては、３０箇所以上のプロットが必要（図９はそのうちの一部を取り出したものである）になっており、しかも、一箇所当たり数回の計測を実行しているため、フォーカスバイアス値の調整には多大な時間を要し、光ディスク装置への光ディスクのマウント時間が長くなってしまうといった課題がある。

本発明は上記課題を解決すべくなされたものであり、その目的とするところは、実際の使用上において、充分なフォーカスバイアス値を調整可能でありながらも、光ディスク装置への光ディスクのマウント時間を大幅に短縮することが可能なフォーカスバイアス値調整機能を有する光ディスク装置を提供することにある。

本発明に係る光ディスク装置は以下の構成を備える。
すなわち、検査用光ディスクと、複数台の光ディスク装置を用いた実験により得られた光ディスク装置毎のフォーカスバイアス値のばらつき分布における中心値と、ある光ディスク装置の組立工程時に、前記検査用光ディスクを用いた計測により得られたある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値とを比較して求められた、光ディスク装置毎のフォーカスバイアス値のばらつきの分布における中心値に対するある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値のずれ量と、予め実験により得られた光ディスクの規格毎におけるフォーカスバイアス値のばらつき分布およびその中心値と、予め、経験値として算出されているある光ディスク装置における光ピックアップのバイアスマージン幅と、がそれぞれ記憶されている記憶手段と、前記ある光ディスク装置に装着された光ディスクからの反射光に基づいて、当該装着された光ディスクの規格を識別した後、前記記憶手段から前記装着された光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値のばらつき分布と、前記ある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値のずれ量を抽出すると共に、前記装着された光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値のばらつき分布における中心値から、前記ある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値のずれ量だけ移動させた点におけるフォーカスバイアス値を基準フォーカスバイアス値とし、該基準フォーカスバイアス値から前記光ピックアップのバイアスマージン幅の間隔で複数点のフォーカスバイアス値に対する光ディスクからの反射光を読み取り、反射光信号の読み取り品位を計測した後、前記複数点のフォーカスバイアス値に対する反射光信号の読み取り品位のうち、最も読み取り品位の高いフォーカスバイアス値をその光ディスク装置の調整フォーカスバイアス値として採用する調整フォーカスバイアス値設定手段を有していることを特徴とする光ディスク装置である。

また、前記光ピックアップのバイアスマージン幅の間隔で複数点のフォーカスバイアス値に対する光ディスクからの反射光の読み取りをする際は、前記光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値のばらつき分布のうち、所望の範囲をカバーすることができるように設定されていることを特徴とする。
これにより、フォーカスバイアス値の調整値の精度を向上させることができる。また、フォーカスバイアス値の調整時間の長短を設定することができる。

さらに、前記光ディスクの規格毎におけるフォーカスバイアス値のばらつき分布は、特定の光ディスクにおけるフォーカスバイアス値を、複数の光ディスク装置を用いてそれぞれ計測すると共に、複数の光ディスク装置における特定の光ディスクに対する平均フォーカスバイアス値を算出するステップを、複数の光ディスクに対してそれぞれ実行することにより得られたものであることを特徴とする。
これにより、光ディスクの規格毎のフォーカスバイアス値のばらつき分布の信頼性を向上させることができる。

また、前記調整フォーカスバイアス値として採用されたフォーカスバイアス値を用いて、光ディスクからのデータ読み込みまたは光ディスクへのデータ書き込みを行った際に、前記光ピックアップが計測した光ディスクからの反射光信号のエラーレートが所定値以上であった場合には、前記調整フォーカスバイアス値設定手段は、フォーカスバイアス値を前記光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値の中心値に設定すると共に、当該フォーカスバイアス値に対応するジッタ量を計測するステップを複数回実行し、前記ジッタ量が最小となる点に対応するフォーカスバイアス値を、前記光ディスク装置における調整フォーカスバイアス値の修正値として採用することを特徴とする。
これにより、算出されたフォーカスバイアス値が良好でなかった場合には、従来技術におけるフォーカスバイアス値の算出手順を実行するため、光ディスクのデータ読み取りおよびデータ書き込みを確実に行うことができる。

また、前記調整フォーカスバイアス値として採用されたフォーカスバイアス値を用いて、光ディスクからのデータ読み込みまたは光ディスクへのデータ書き込みを行った際に、前記光ピックアップが計測した光ディスクからの反射光信号のエラーレートが所定値以上であった場合には、前記調整フォーカスバイアス値設定手段は、フォーカスバイアス値を前記光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値の中心値に設定すると共に、当該フォーカスバイアス値に対応する反射光信号の振幅を計測するステップを複数回実行し、前記反射光信号の振幅が最大となる点に対応するフォーカスバイアス値を、前記光ディスク装置における調整フォーカスバイアス値の修正値として採用することを特徴とする。
これにより、算出されたフォーカスバイアス値が良好でなかった場合には、従来技術におけるフォーカスバイアス値の算出手順を実行するため、光ディスクのデータ読み取りおよびデータ書き込みを確実に行うことができる。

本発明に係るフォーカスバイアス調整機能を有する光ディスク装置によれば、各光ディスクの特性を考慮したフォーカスバイアス値を算出することができると共に、光ディスクのデータを読み書きする際において十分な精度を有するフォーカスバイアス値を非常に短時間で算出することができる。さらに、万が一、算出したフォーカスバイアス値が良好なものでない場合には、従来技術と同様の手法を用いてフォーカスバイアス値を算出するため、データの読み書きができなくなってしまうおそれがない。

以下、本実施の形態におけるフォーカスバイアス値調整機能を有する光ディスク装置の最良の形態を説明する。図１は、本実施の形態における光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。図２は、光ディスク装置において、装着した光ディスクの規格に対応したフォーカスバイアス値の一般的なばらつき分布を示す説明図である。図３は、光ディスク装置の製造ライン上において、その光ディスク装置の特性を求める工程の説明図である。図４は、光ディスクの規格毎のフォーカスバイアス値のばらつき分布を示す説明図である。
なお、本実施の形態においては、説明を簡略にするため、デジタル多目的ディスク装置１０について説明を行うものとする。

図１に示すように本実施の形態における光ディスク装置１０は、光ディスク２０へレーザー光を照射する光ピックアップ３０と、光ピックアップ３０からのＲＦ信号を２値化するＲＦアンプ４０と、制御手段５０と、記憶手段６０と、光ディスク２０に記録するデータを変換するエンコーダ７０からなる一般的な構成を有するものである。
光ピックアップ３０は、光ディスク２０にレーザー光を照射するレーザーダイオード３２と、光ディスク２０からの反射光を受光するフォトダイオード３４を有している。
また、制御手段５０は、ＣＰＵ５２と、光ピックアップ３０のレーザーダイオード３２へ供給する電力量を制御するためのレーザードライバー５４により構成されており、記憶手段６０に予め記憶されているファームウェアＦに従って光ディスク装置１０の各構成部品の動作を制御している。

図２に示すフォーカスバイアス値のばらつきの分布図は、光ディスク装置メーカー等により予め実験などにより求められたものである。具体的には、ある基準となる光ディスク（本実施の形態においては、シングルレイヤディスク、デュアルレイヤディスクのレイヤ０、デュアルレイヤディスクのレイヤ１を準備した。）を用いて、複数台の光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値をそれぞれ計測し、計測結果のばらつきを表したものである。このばらつきの分布は、光ディスク装置１０の記憶手段６０に記憶させておく必要はなく、実験者が適切な記憶手段（例えば、計測対象となる光ディスク装置１０を接続するパーソナルコンピュータ（以下、ＰＣという）において使用可能に設定されているハードディスク装置等の記憶手段）に記憶させておけばよい。

製造ラインに流されているそれぞれの光ディスク装置１０は、製造ライン上における光ディスク装置１０の組み立て者（以下、組立作業者等という）により先述の基準となる光ディスクを用いてフォーカスバイアス値の計測が行われる。ここでのフォーカスバイアス値の計測方法は従来方式（例えば、図７に示す方法）と同様にして行われる。具体的には、フォーカスバイアス値とジッタ値（ジッタ量）の相関や、フォーカスバイアス値とＲＦ信号の振幅との相関をそれぞれ３０点以上プロットすることにより最適なフォーカスバイアス値を決定するものである。

次に、組立作業者等は、図２に示されているフォーカスバイアス値のばらつきの分布のうち、使用した基準光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値のばらつき分布を計測用のＰＣに抽出し、抽出したフォーカスバイアス値のばらつき分布における中心値から、製造ライン上に流されているそれぞれの光ディスク装置１０における基準光ディスクに対するフォーカスバイアス値の計測値がどれだけズレているかを算出する（図３）。計測されたフォーカスバイアス値のズレ量をそれぞれの光ディスク装置１０における特性値Ｄとして、光ディスク装置１０の記憶手段６０にそれぞれ記憶させる。

また光ディスク装置１０の製造ラインにおいては、組立作業者がそれぞれの光ディスク装置１０の記憶手段６０に、光ディスク２０の規格毎に応じたフォーカスバイアス値のばらつきの分布情報を記憶させている。
なお、光ディスクの規格毎に応じたフォーカスバイアス値のばらつきの分布はデジタル多目的ディスクに限定されるものではなく、ＣＤ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等の他の光ディスクについても同様にして行うことができるのはもちろんである。

まず、デジタル多目的ディスク（ＤＶＤ）の層数およびデジタル多目的ディスクのレイヤの種類が等しい光ディスクにおいて、メディアメーカーや、データ書き込み倍速度が異なるデジタル多目的ディスクをいくつか用意する。そして、それぞれのデジタル多目的ディスクにおけるフォーカスバイアス値を複数台の光ディスク装置を用いて計測し、ある共通するデジタル多目的ディスクを検査対象とした各光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値の平均値を、そのデジタル多目的ディスクにおけるフォーカスバイアス値の代表値としてプロットする。
以上の処理をそれぞれのデジタル多目的ディスクについて同様に行い、同一規格のデジタル多目的ディスクにおいて、メディアメーカーや、データ書き込み倍速度の相違によるフォーカスバイアス値の度数分布を作成する。このようにして図４に示す度数分布が完成する。図４に示す同一規格のデジタル多目的ディスクにおけるフォーカスバイアス値の度数分布は、組立作業者により光ディスク装置１０の記憶手段６０に記憶される。この際、ある規格のデジタル多目的ディスクにおけるフォーカスバイアス値の度数分布は予め正規分布に変換しておけば好適である。

さらに光ディスク装置１０の製造ラインにおいては、組立作業者等によりそれぞれの光ディスク措置１０におけるマージン幅Ｍが記憶手段６０に記憶される。ここで、マージン幅Ｍとは、光ピックアップ２０をあるフォーカスバイアス値に固定した場合において、そのフォーカスバイアス値で許容されるフォーカスバイアス値の範囲のことをいう。より具体的には、図５に示すようなグラフに示す幅Ｍのことをいう。ここに、図５におけるグラフの縦軸及び横軸は、それぞれ反射光信号のＰＩＥエラーと、フォーカスバイアス値をあらわしているものである。
このフォーカスバイアス値のマージン幅Ｍは、光ピックアップ２０や光ディスク装置１０の構成に基づいて経験値として予め算出しておくことができる。また、フォーカスバイアス値のマージン幅Ｍは、実測により算出することももちろん可能である。

以上が、光ディスク装置１０の製造ライン上におけるセッティングである。次に、光ディスク装置１０を実際に使用した際における説明を行うことにする。
図６，図７は、本実施の形態における光ディスク装置によるフォーカスバイアス値の算出方法を示す説明図である。
まず、ユーザーにより光ディスク装置１０に光ディスク２０が装着される。光ディスク２０が光ディスク装置１０に装着されると、制御手段５０が、光ディスク２０のリードイン情報を読み取る。制御手段５０は、読み取ったリードイン情報から、装着された光ディスク２０の規格を判断し、光ディスク２０の規格に対応したフォーカスバイアス値のばらつきの分布（ＤＥＶ１）と、その光ディスク装置１０におけるフォーカスバイアス値の特性値Ｄを記憶手段６０からそれぞれ抽出する（図６）。

制御手段５０は、光ディスク２０の規格に対応したフォーカスバイアス値のばらつきの分布（ＤＥＶ１）における中心値を算出し、算出した中心値から光ディスク装置１０における特性値Ｄの分をスライドさせた位置におけるフォーカスバイアス値をその光ディスク装置１０におけるフォーカスバイアス値調整の基準値Ｚとする。また、記憶手段６０から抽出した光ディスク２０の規格に対応したフォーカスバイアス値のばらつきの分布をスライドさせる処理を行う。図６中において破線で示された部分が、ＤＥＶ１を光ディスク装置１０の特性値Ｄ分だけスライドさせたフォーカスバイアス値のばらつき分布（ＤＥＶ２）である。

つづいて制御手段５０は、記憶手段６０からフォーカスバイアス値のマージン幅Ｍを抽出し、スライドさせた光ディスク２０の規格に対応したフォーカスバイアス値のばらつきの分布（ＤＥＶ２）における標準偏差σの３倍の分布をカバーするフォーカスバイアス値の分布範囲に対して、マージン幅Ｍがいくつ必要であるかを算出する。

制御手段５０は、その光ディスク装置１０における特性値Ｄを反映させたフォーカスバイアス値調整における基準値Ｚにフォーカスバイアス値のマージン幅Ｍの中心値Ｍｃをセットし、マージン幅Ｍの両端に対して交互にマージン幅Ｍ２およびＭ３をそれぞれ連続させる。ここで、マージン幅Ｍ，Ｍ２，Ｍ３は、Ｍ＝Ｍ２＝Ｍ３であるのはもちろんである。
本実施の形態においては、図７に示すようにマージン幅Ｍにマージン幅Ｍ２およびＭ３を連続させる順番は、光ディスク装置１０における特性値が光ディスク２０に対するフォーカスバイアス値のばらつきの分布の中心値に対してフォーカスバイアス値が小さくなる方向にスライドしているため、第１のマージン幅Ｍにおけるフォーカスバイアス値に対し、フォーカスバイアス値が大きい側の端部に第２のマージン幅Ｍを接続させた後、第３のマージン幅Ｍを他端側に接続させる順番に接続している。
すなわち、光ディスク装置１０における特性値が光ディスク２０に対するフォーカスバイアス値のばらつきの分布の中心値に対してフォーカスバイアス値が大きくなる方向にスライドしている場合には、本実施の形態で説明しているマージン幅Ｍの接続順番とは逆の順番に接続させる形態となる。

次に制御手段５０は、マージン幅Ｍでカバーしている範囲を対象として、各マージン幅Ｍの中央値に対応するフォーカスバイアス値（図８におけるＦＢ＝Ｚ−Ｍ，ＦＢ＝Ｚ，ＦＢ＝Ｚ＋Ｍ）を用いて光ディスク２０からの反射光を計測し、反射光信号のＲＦ振幅やジッタ値などにより代表される反射光の指標値を計測する。各マージン幅Ｍの中央値に対応するフォーカスバイアス値における反射光の指標値は、各フォーカスバイアス値をそれぞれ複数回計測し、計測値の平均値を採用する。
各マージン幅Ｍの中央値に対応するフォーカスバイアス値における反射光の指標値が最も良好な値となる部分のフォーカスバイアス値（図８中ではＦＢ＝Ｚ＋Ｍ）をその光ディスク装置１０における調整フォーカスアス値ＣＦＢとして記憶手段６０に記憶させる。

また、制御手段５０は、以上の手順により算出した調整フォーカスバイアス値ＣＦＢにおける反射光の指標値を予め記憶手段６０に記憶されている閾値と比較を行うようにしても良い。具体的には、調整フォーカスバイアス値ＣＦＢに対応する反射光の指標値（例えば、ジッタ値（ジッタ量）やＲＦ信号の振幅、または、反射光信号のエラーレート）が、閾値より低かった場合には、先述の従来技術を用いて修正調整フォーカスバイアス値ＭＣＦＢを算出し、記憶手段６０に記憶させてあった調整フォーカスバイアス値ＣＦＢを削除した後に、修正調整フォーカスバイアス値ＭＣＦＢを記憶させる処理を行う。これにより、調整フォーカスバイアス値ＣＦＢが不良である場合であっても、光ディスク２０のデータの読み込みおよび書き込みができなくなってしまうといった不具合を回避することができるため好適である（この場合、閾値は予め記憶手段６０に記憶されている）。

以上に、実施の形態に基づいて、本発明にかかる光ディスク装置について詳細に説明してきたが、本発明の技術的範囲は以上の実施の形態に限定されるものではない。例えば、上記の実施の形態においては、デジタル多目的ディスク（ＤＶＤ）装置を例にして説明をしているが、本発明は、デジタル多目的ディスク装置の他にも、ＣＤ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ装置やデジタル多目的ディスクと一連のコンパクトディスクの両者に対応する光ディスク装置にも適用可能であるのはもちろんである。
また、上記の実施の形態においては、制御手段５０が記憶手段６０から抽出したフォーカスバイアス値のばらつきの分布における中心値を算出している形態について説明しているが、光ディスクの規格に対応させたフォーカスバイアス値のばらつきの分布を記憶手段６０に記憶させる際に、ばらつきの分布における中心値を予め算出し、中心値と共に記憶手段６０に記憶させておく形態であってもよい。

また、本実施の形態においては、マージン幅Ｍを当てはめる範囲をフォーカスバイアス値のばらつきの分布における標準偏差σの３倍の分布範囲としているが、この範囲に限定される必要はない。
上記実施例の形態とは異なる形態として、例えば、光ディスク装置１０の本体に入力手段を設ける他、光ディスク装置１０を接続したユーザーのＰＣの入力手段や、データの読み書きなどに用いられる制御ソフト上から入力手段を介してユーザーにより、マージン幅Ｍを当てはめるべきフォーカスバイアス値のばらつきの分布の範囲を入力可能に設けておくこともできる。このようにすることで、フォーカスバイアス値の算出精度を適宜調整することができるため好都合である。

本実施の形態における光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。 光ディスク装置において、装着した光ディスクの規格に対応したフォーカスバイアス値の一般的なばらつき分布を示す説明図である。 光ディスク装置の製造ライン上において、その光ディスク装置の特性を求める工程の説明図である。 光ディスクの規格毎のフォーカスバイアス値のばらつき分布を示す説明図である。 マージン幅の算出方法を示す説明図である。 本実施の形態における光ディスク装置によるフォーカスバイアス値の算出方法を示す説明図である。 本実施の形態における光ディスク装置によるフォーカスバイアス値の算出方法を示す説明図である。 本実施の形態における光ディスク装置によるフォーカスバイアス値の算出方法を示す説明図である。 従来技術におけるフォーカスバイアス値の算出方法の一例を示す説明図である。

符号の説明

１０ 光ディスク装置
２０ 光ディスク
３０ 光ピックアップ
３２ レーザーダイオード
３４ フォトダイオード
４０ ＲＦアンプ
５０ 制御手段
５２ ＣＰＵ
５４ レーザーダイオード
６０ 記憶手段
７０ エンコーダ
ＤＥＶ１ 光ディスクの規格に対応したフォーカスバイアス値のばらつきの分布
ＤＥＶ２ ＤＥＶ１を光ディスク装置の特性値分だけスライドさせたフォーカスバイアス値のばらつき分布
ＦＢ フォーカスバイアス値
Ｍ マージン幅
Ｚ ある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値調整の基準値
σ ばらつき分布における標準偏差

Claims (5)

1. 検査用光ディスクと、複数台の光ディスク装置を用いた実験により得られた光ディスク装置毎のフォーカスバイアス値のばらつき分布における中心値と、ある光ディスク装置の組立工程時に、前記検査用光ディスクを用いた計測により得られたある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値とを比較して求められた、光ディスク装置毎のフォーカスバイアス値のばらつきの分布における中心値に対するある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値のずれ量と、
   予め実験により得られた光ディスクの規格毎におけるフォーカスバイアス値のばらつき分布およびその中心値と、
   予め、経験値として算出されているある光ディスク装置における光ピックアップのバイアスマージン幅と、
   がそれぞれ記憶されている記憶手段と、
   前記ある光ディスク装置に装着された光ディスクからの反射光に基づいて、当該装着された光ディスクの規格を識別した後、
   前記記憶手段から前記装着された光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値のばらつき分布と、前記ある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値のずれ量を抽出すると共に、前記装着された光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値のばらつき分布における中心値から、前記ある光ディスク装置におけるフォーカスバイアス値のずれ量だけ移動させた点におけるフォーカスバイアス値を基準フォーカスバイアス値とし、該基準フォーカスバイアス値から前記光ピックアップのバイアスマージン幅の間隔で複数点のフォーカスバイアス値に対する光ディスクからの反射光を読み取り、反射光信号の読み取り品位を計測した後、
   前記複数点のフォーカスバイアス値に対する反射光信号の読み取り品位のうち、最も読み取り品位の高いフォーカスバイアス値をその光ディスク装置の調整フォーカスバイアス値として採用する調整フォーカスバイアス値設定手段を有していることを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記光ピックアップのバイアスマージン幅の間隔で複数点のフォーカスバイアス値に対する光ディスクからの反射光の読み取りをする際は、
   前記光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値のばらつき分布のうち、所望の範囲をカバーすることができるように設定されていることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 前記光ディスクの規格毎におけるフォーカスバイアス値のばらつき分布は、
   特定の光ディスクにおけるフォーカスバイアス値を、複数の光ディスク装置を用いてそれぞれ計測すると共に、複数の光ディスク装置における特定の光ディスクに対する平均フォーカスバイアス値を算出するステップを、複数の光ディスクに対してそれぞれ実行することにより得られたものであることを特徴とする請求項１または２記載の光ディスク装置。
4. 前記調整フォーカスバイアス値として採用されたフォーカスバイアス値を用いて、光ディスクからのデータ読み込みまたは光ディスクへのデータ書き込みを行った際に、
   前記光ピックアップが計測した光ディスクからの反射光信号のエラーレートが所定値以上であった場合には、
   前記調整フォーカスバイアス値設定手段は、フォーカスバイアス値を前記光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値の中心値に設定すると共に、当該フォーカスバイアス値に対応するジッタ量を計測するステップを複数回実行し、前記ジッタ量が最小となる点に対応するフォーカスバイアス値を、前記光ディスク装置における調整フォーカスバイアス値の修正値として採用することを特徴とする請求項１〜３のうちのいずれか一項記載の光ディスク装置。
5. 前記調整フォーカスバイアス値として採用されたフォーカスバイアス値を用いて、光ディスクからのデータ読み込みまたは光ディスクへのデータ書き込みを行った際に、
   前記光ピックアップが計測した光ディスクからの反射光信号のエラーレートが所定値以上であった場合には、
   前記調整フォーカスバイアス値設定手段は、フォーカスバイアス値を前記光ディスクの規格に該当するフォーカスバイアス値の中心値に設定すると共に、当該フォーカスバイアス値に対応する反射光信号の振幅を計測するステップを複数回実行し、前記反射光信号の振幅が最大となる点に対応するフォーカスバイアス値を、前記光ディスク装置における調整フォーカスバイアス値の修正値として採用することを特徴とする請求項１〜４のうちのいずれか一項記載の光ディスク装置。