JP2007206226A - 光源装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ランプの破損を未然に回避し、光源装置自体の破損を防ぐことが可能な光源装置を提供する。
【解決手段】光源装置１００において、管球部２を有する高圧放電ランプ１と、管球部２近傍に光を照射する照射部１０と、管球部２を挟んで照射部１０に対して対向配置されており、管球部２近傍に照射された光の光量を検出する検出部５とを備える。
【選択図】図２

Description

本発明は、プロジェクション装置などの光源として用いられる高圧放電ランプを備えた光源装置に関する。

一般に、プロジェクション装置は、光源装置、光学系、および表示デバイスを備えている。光源装置は光を発し、その光は光学系を介して表示デバイスに照射され、表示デバイスで光変調されてスクリーンへ画像として投射される。ここで、光源装置は高出力を必要とするため、通常は、ショートアーク高圧水銀ランプなどの高圧放電ランプ（以下、ランプと称す。）が用いられる。このようなランプを使用する光学装置では、発熱量が大きくなるため、冷却ファンを用いて熱を装置筐体の外部へ放出するようになっている。また、光源装置の機械強度や寿命に関しては、設計および製造上の配慮がなされており、通常の使用においては問題を生じない程度の耐久性を備えている。ところが、ランプ自体には寿命があるため、その寿命末期においては、ランプを構成している各種部材が劣化して使用中にランプが破損し、光源装置をも破損する可能性がある。
このランプの破損について、光源装置の使用環境や使用頻度といった使用条件に左右される場合と、ランプの個体バラツキやランプの点灯回路の個体バラツキなどといった、個々のデバイスの製品レベルのバラツキに左右される場合とがある。これらの結果、ランプの寿命特性にもバラツキが生じる。従って、製品としての定格寿命を想定して設計してはいても、その寿命まで使用できないランプもある。

さらに、個々のデバイスの製品レベルのバラツキに関して、より具体的には、ランプ発光管の欠陥に起因する場合と、ランプ発光管の材料の寿命劣化に起因する場合とがある。
ランプ発光管の仕上がりの欠陥については、ランプの製造プロセス中にスクリーニング手段を設けることで、欠陥製品の流出を防止可能である。しかし、ランプ発光管の材料の寿命劣化については、使用条件などから事前に材料の劣化を想定しておくのは、一般に困難である。
従って、ランプが破損することを想定して、光源装置自体の安全性を十分に高めておく必要がある。ランプの破損に備える光源装置としては、例えば、ランプの電圧変化を検出する手段を備えた光源装置が開示されている（特許文献１参照）。
特開２００４−３３５１２９号公報

しかしながら、上記従来の光源装置は、以下のような問題点を有する。すなわち、ランプの電圧は、ランプの点灯時間に伴って不安定に変動しているため、ランプが寿命により破損に至るか否かの判定が不確定になる。
図１０は、２本の１００Ｗ超高圧水銀ランプを用意し、図中に示すように同じ条件下で、ランプの電圧の時間変化を各々測定した結果を表している。これにより、ランプの使用条件を同じにしても、ランプの電圧の時間変化に違いがあることがわかる。また、図１１は、６本の１００Ｗ超高圧水銀ランプを用意し、ランプ始動時、つまりランプ点灯直後から点灯が安定するまでの各々のランプの電圧の立ち上がり特性を測定した結果を表している。これにより、同じ定格のランプであっても、点灯が安定するまでの時間に差があることがわかる。以上のように、ランプの電圧は、ランプ始動時、およびランプ点灯中のいわゆる定常状態においても変化し続けている。
ランプの電圧の変化は、ランプ発光管（以下、発光管と称す。）内部の圧力の変化に起因する。例えば、ランプの管球部が熱変形を起こして管球部の容積が大きくなることによって、内部の圧力が低下してランプの電圧が変化する。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、ランプの破損を未然に回避し、ひいては光源装置自体の破損を防ぐことが可能な光源装置を提供することを目的とする。

第１の発明に係る光源装置は、高圧放電ランプと、照射部と、検出部とを備えている。高圧放電ランプは、管球部を有する。照射部は、管球部近傍に光を照射する。検出部は、管球部を挟んで照射部に対して対向配置されており、管球部近傍を通過後の光の光量を検出する。
ここでは、高圧放電ランプの寿命を予測するために、光の光量を利用して管球部の変形量を測定する光源装置を示す。
高圧放電ランプの破損に備えて高圧放電ランプの寿命を予測するには、高圧放電ランプの電圧変化を利用するものがあるが、この電圧は不安定に変動しているため、寿命予測を精度よく行うことができない。
そこで、高圧放電ランプの管球部が熱変形を起こして管球部の容積が大きくなると、内部の圧力が低下して高圧放電ランプの電圧が変化することから、管球部の変形（膨張）量を検出して高圧放電ランプの寿命を予測する。管球部の変形量は、電圧変化よりも安定しており、また、管球部の熱に対する耐性は事前に把握できるため、管球部の変形量の最大許容値（限界値）も設定可能となる。変形量の検出は、具体的に、管球部近傍に照射部から光を照射して、照射した光が管球部近傍を通過後にその光量を検出部で検出することで行う。この時、正確に光量を検出するために照射部と検出部とは対向配置とする。すなわち、管球部の変形量が大きくなるほど光量は減少し、管球部の寿命が近づいていることがわかる。管球部の変形量が最大許容値近傍になれば、使用者にランプの交換を喚起するなどすればよい。
これにより、高圧放電ランプの寿命を予測して、高圧放電ランプおよび光源装置の破損を防ぐことが可能となる。

第２の発明に係る光源装置は、第１の発明に係る光源装置であって、照射部と検出部とは、高圧放電ランプの光軸と略直角をなす軸上に配置される。
ここでは、光源装置における照射部および検出部の配置について示す。
照射部および検出部は、高圧放電ランプの光軸を基準とした場合に、光軸と略直角をなすような軸上に配置される。管球部に照射される光の光量の測定結果から、精度よく管球部の変形量を得るためには、照射部および検出部の位置関係も重要である。管球部の変形により照射部からの光が遮られて、検出部に到達する光量が照射時から変化することで、管球部の寿命予測がなされるため、検出精度の安定性や装置の構成上、照射部および検出部を同じ軸上に対向配置することが好ましい。また、光源装置の構成や製造の容易さを考慮すると、照射部および検出部を左右対称となるように配置することが好ましい。
これにより、構成を複雑化することなく、高圧放電ランプの寿命を予測可能となる。

第３の発明に係る光源装置は、第２の発明に係る光源装置であって、軸は、光軸に対して略鉛直方向上側にある。
ここでは、光源装置における照射部および検出部の配置についてさらに示す。
高圧放電ランプにおいて、点灯中は管球部の内部でアーク放電が熱源となって熱対流が発生し、管球部の上部が最も高温になる。そのため、熱による管球部の変形は、管球部上部が最も顕著であることがわかっている。
そこで、検出部を配置する軸を光軸に対して略鉛直方向上側として、管球部上部の変形量を検出する。
これにより、管球部の変形を効率よく検出でき、高圧放電ランプの寿命を予測可能となる。

第４の発明に係る光源装置は、第２または第３の発明に係る光源装置であって、軸と光軸との垂直距離は、管球部の直径よりも小さい。
ここでは、光源装置における照射部および検出部の配置についてさらに示す。
管球部近傍を通過後の光の光量の測定結果から、精度よく管球部の変形量を得るためには、照射部および検出部の光源装置内での位置が重要である。照射部および検出部を配置する軸は、管球部上部の変形量を検出するために、光軸に対して鉛直方向上側に配置される。しかし、同時に、管球部の変形量を検出可能な程度に管球部に近づいていなくてはならない。
そこで、上記軸と光軸との垂直距離から、軸に関してさらに規定する。具体的には、軸と光軸との垂直距離は、管球部の直径よりも小さければよい。
これにより、管球部の変形を効率よく検出でき、高圧放電ランプの寿命を精度よく予測可能となる。

第５の発明に係る光源装置は、高圧放電ランプと、接触端子と、角度検出部とを備える。高圧放電ランプは、管球部を有する。接触端子は、管球部に対して当接する。角度検出部は、接触端子に接続されており、管球部に対して当接する際の回転角度を検出する。
ここでは、高圧放電ランプの寿命を予測するために、熱による管球部の変形によって変化するパラメータとして管球部に対して当接する際の回転角度を利用する光源装置を示す。
具体的に、例えば、基準位置から管球部に当接するまでの回転角度を測定することで行う。すなわち、管球部の変形量が大きくなるほど回転角度は小さくなり、管球部の寿命が近づいていることがわかる。あるいは、検出部を管球部に初めから当接させておき、管球部の熱による変形に伴う初期状態からの振れ角度を測定するものであってもよい。そして、管球部の変形量が最大許容値近傍になれば、使用者にランプの交換を喚起するなどすればよい。
これにより、高圧放電ランプの寿命を予測して、高圧放電ランプおよび光源装置の破損を防ぐことが可能となる。

第６の発明に係る光源装置は、第５の発明に係る光源装置であって、角度検出部は、ロータリーエンコーダである。
ここでは、上記角度検出部の具体例として、ロータリーエンコーダを用いる例を示す。
機械的な回転変位を、電気的なパルス量に変換する代表的な検出器であるロータリーエンコーダを用いることで、より正確に回転角度を検出することができる。
これにより、より正確に高圧放電ランプの寿命を予測可能となる。

本発明の光源装置によれば、高圧放電ランプが寿命末期であることを的確に検知し、破損を未然に回避でき、使用者にランプの交換を喚起することができる。

（実施の形態１）
以下に、本発明の光源装置１００の一実施形態を図１〜図６を参照して説明する。
図１は、光源装置１００の斜視図、図２および図３は、それぞれ光源装置１００の水平方向および垂直方向の断面図である。
光源装置１００は、筐体４内に、管球部２を有するランプ（高圧放電ランプ）１と、反射鏡３とを備えている。
ランプ１は、その一端が、回転楕円鏡または回転放物面鏡である反射鏡３に固定される。
反射鏡３には、その光軸Ｙと略直角をなし、かつ水平方向の軸である、軸Ｘ上に反射鏡開口窓９が２箇所形成されている。
ここで、軸Ｘは、管球部２の中心部から略鉛直方向における上部にあり、光軸Ｙとの垂直距離は、管球部２の半径に管球部２の直径の１０％を加えた距離である。この値は、管球部２に破損を引き起こす変形量の最大許容値（限界値）である。これについては、後段で詳述する。

さらに、軸Ｘ上でかつ筐体４の外部に、管球部２を挟んで、かつ反射鏡開口窓９を通して対向するように、照射部１０とフォトセンサ（検出部）５を配置する。未使用の光源装置１００の初期状態においては、照射部１０とフォトセンサ５との光路に障害物がない状態にしておく。

また、ランプ１からは広い範囲の波長を含む強烈な光が発射されるため、近接する反射鏡３の一部は輻射熱および熱伝導により３００〜６００℃の温度になり、反射鏡３が設置される筐体４においても熱伝導により２００℃に近い温度となる。そのため、光源装置１００は、筐体４と照射部１０との間、および筐体４とフォトセンサ５との間に、熱および光から照射部１０およびフォトセンサ５を保護するための保護カバー６を有している。

ランプ１を構成する材料としては、例えば、石英ガラスが用いられる。ランプ１は、点灯中１００〜２００Ｗの電力が加わり、管球部２の最高温度部は、１０００℃近くの高温になる。材料の熱特性を成立させるため、石英ガラスの軟化点を越えないように冷却がなされる。しかしながら、ランプ点灯時間の経過とともに、管球部２の内部の熱劣化により石英ガラスの軟化点を越え、次第に石英ガラス管に変形を生じ、管球部２が内部の圧力に耐え切れなくなった時に破裂する。図４に、管球部２が変形したときの形状の例を示す。ランプ１の点灯中は、管球部２の内部でアーク放電が熱源となって熱対流が発生して管球部２の鉛直方向上部（以下、管球部２上部と称す。）が最も高温になるため、管球部２上部の変形が大きい。従って、管球部２の変形量を測定する部位は、管球部２上部が適している。

また、管球部２に破損を引き起こす変形量の最大許容値を求めるために、ランプ電力がそれぞれ１５０Ｗおよび２００Ｗである数種類のランプを用いて点灯実験を行った。図５はその結果であり、ランプの点灯時間と、管球部上部における管球部の直径に対する変形率との関係をグラフに表したものである。一般のプロジェクション装置に用いられるショートアーク高圧水銀ランプにおいて、管球部の外形はおおよそ８ｍｍ〜１２ｍｍであり、石英ガラス厚は１ｍｍ〜３ｍｍ程度である。図５の結果から、初期の形状からみて管球部の直径に対する変形率が約１０％を越えたとき、ランプが破損に至る可能性が高くなることがわかる。従って、管球部２の熱変形の最大許容値を１０％とする。従って、軸Ｘと光軸Ｙとの垂直距離が、管球部２の半径に管球部２の直径の１０％を加えた距離であるとすると、軸Ｘ上に対向配置される照射部１０とフォトセンサ５とを用いて、光量の変化から管球部２の破裂を予測できる。

以下、光量の測定について具体的に説明する。
まず、ランプ１が点灯していない状態の時に、照射部１０から管球部２に向けて光を照射する。フォトセンサ５は、その光を検知して光量の測定を行う。この時、照射部１０と管球部２との光路には障害物がないため、フォトセンサ５で検出する光量は、照射部１０から照射された光の光量と同じになる。この測定は、使用者が光源装置１００を始動させるための図示しない電源スイッチを入れた時点から、実際にランプ１が点灯するまでの間に行われる。図６に、その測定のタイミングチャートを示す。

光源装置１００が始動した後、管球部２の測定時には、筐体４に固定されたモータ７が駆動し、回転軸ａを中心にして、反射鏡開口窓９を塞いでいた保護カバー６が回転運動をする（図３参照）。保護カバー６は、ランプ１が固定された反射鏡３の左右水平方向に向かい合う形で２つ設置されており、シャフト８にそれぞれ連結されている。保護カバー６が回転運動することで、塞がっていた反射鏡開口窓９が開放される。すると、照射部１０から光が照射され、管球部２近傍を通過した光の光量がフォトセンサ５において検出される。これにより、管球部２の熱による変形量を把握できる。
フォトセンサ５による測定が終了すると、モータ７が逆回転をし、保護カバー６が回転して初期の位置に戻る。

以上、述べたように、継続的にランプ１を点灯するのに伴うランプ１の熱劣化が進行し、管球部２の上部が変形してきた場合、その変形量が上記の最大許容値を超えると、照射部１０とフォトセンサ５の間の光路の障害物となる。このため、光量が減少するので、フォトセンサ５を用いることで、ランプ１が寿命末期であることを的確に判定できる。さらに、使用者にランプ１の交換を喚起することで、ランプ１および光学装置１００の破損を未然に防ぐことができる。なお、使用者への喚起は、例えば、プロジェクション装置のディスプレイ部におけるＯＳＤ表示や、またＬＥＤなどのインジケータにより行えばよい。

［光源装置１００の特徴］
（１）
本実施形態の光源装置１００は、管球部２を挟んで軸Ｘ上に対向配置されるフォトセンサ５と照射部１０とを有している。照射部１０は、高圧放電ランプ１の管球部２近傍に光を照射し、フォトセンサ５は、管球部２近傍を通過後の光の光量を検出する。この光量を基にして、管球部２の変形量を検出する。
高圧放電ランプ１の寿命を予測するために、高圧放電ランプ１の破損の直接原因となる管球部２の寿命を予測する。そのために、照射部１０から照射された光の光量が、管球部２の変形に伴って変化することを利用して管球部２の変形量を検出する。管球部２の変形量の最大許容値に対応する光量がフォトセンサ５において検出されると、管球部が寿命に到達したと把握できる。
これにより、高圧放電ランプ１の寿命を予測して、高圧放電ランプ１および光源装置１００の破損を防ぐことが可能となる。

（２）
本実施形態の光源装置１００では、高圧放電ランプ１の光軸Ｙと直角に交差するような軸Ｘを仮定し、照射部１０およびフォトセンサ５とを配置している。
光源装置１００の構成や製造の容易さを考慮すると、照射部１０および検出部５を左右対称となるように配置することが好ましい。
これにより、光源装置１００の構成を複雑化することなく、管球部２の寿命、すなわち高圧放電ランプ１の寿命を予測可能となる。

（３）
本実施形態の光源装置１００では、軸Ｘは、光軸Ｙに対して略鉛直方向上側にある。
高圧放電ランプ１において、熱による管球部２の変形は、点灯中の熱対流のために管球部２の上部が最も大きい。
そこで、照射部１０は、管球部２の鉛直方向上部に向けて光を照射できるように配置されることが好ましい。
これにより、管球部２の変形を効率よく検出でき、管球部２の寿命、すなわち高圧放電ランプ１の寿命を予測可能となる。

（４）
本実施形態の光源装置１００では、軸Ｘと光軸Ｙとの垂直距離は、管球部２の直径よりも小さい。
ここでは、管球部２の変形量を検出可能なように、照射部１０の照射方向が管球部２の鉛直方向上側になりすぎないように、照射部１０とフォトセンサ５に配置を規定する。
これにより、管球部２の変形を効率よく検出でき、管球部２の寿命、すなわち高圧放電ランプ１の寿命を予測可能となる。

（実施の形態２）
以下に、本発明の光源装置２００の一実施形態を図７〜図９を参照して説明する。
図７は、光源装置２００の斜視図、図８および図９は、それぞれ光源装置２００の水平方向および垂直方向の断面図である。
光源装置２００は、筐体１０４内に、管球部１０２を有するランプ（高圧放電ランプ）１０１と、反射鏡１０３と、接触端子１２１とを備えている。
ランプ１０１は、その一端が、回転楕円鏡または回転放物面鏡である反射鏡１０３に固定される。

反射鏡１０３には、開口部１０９が設けられ、光軸Ｙに対して直角かつ水平方向の回転軸ｂ上に配置されるシャフト１０８と接触端子１２１の一端とが開口部１０９を通して連結される。

接触端子１２１は、反射鏡１０３の曲面に略沿うように配置する。接触端子１２１の長さは、その一端が管球部１０２の上部に到達可能な長さとする。接触端子１２１の先端には、φ２〜φ４ｍｍの円盤形状の接触部１２４を設けて、管球部１０２の位置ずれを吸収する。

シャフト１０８は、直径をφ１ｍｍ以下とすることで、シャフト１０８の他端に結合するモータ１０７（図８参照）への熱伝導を最小限にできる。また、シャフト１０８の他端には、モータ１０７と歯車１２３（図８参照）により結合されたロータリーエンコーダ１２２（図８参照）が接続される。
シャフト１０８および接触端子１２１の材料としては、ステンレスなどの熱に対して腐食しにくい材料を用いる。

以下、管球部１０２に対して接触端子１２１が当接する際の当接角度θの測定について具体的に説明する。
ランプ１０１が点灯定常状態、あるいは消灯状態である場合、接触端子１２１は反射鏡フランジ外周位置Ａ（図９参照）に保持される。この時の測定タイミングは、実施の形態１と同様である（図６参照）。

使用者が光源装置２００を始動させるための図示しない電源スイッチを入れた時点からランプ１０１が点灯するまでの間に、モータ１０７が接触端子１２１を管球部１０２の測定位置Ｂ（図９参照）まで回転させる。その回転に要した当接角度θをロータリーエンコーダ１２２により測定する。
管球部１０２の熱による変形量が、最大許容値に達したか否かの判定は、未使用の光源装置２００の初期状態における当接角度θの初期値を、例えば、図示しないメモリに基準値として記録しておき、毎回の測定値と初期値との相対比較により行う。なお、最大許容値は、実施の形態１と同様である。

測定後、接触端子１２１は再度モータ１０７の駆動により反射鏡フランジ外周位置Ａに保持される。これによると、ランプ１０１の点灯中は、接触端子１２１が光路上の障害物にならず、光学特性を悪化させることがない。さらに、接触端子１２１にかかる熱負荷を最小限にすることができる。

以上、述べたように、継続的にランプ１を点灯するのに伴うランプ１の熱劣化が進行し、管球部２の上部が変形していくと、接触端子１２１が管球部２の上部に当接するまでの当接角度θが変化する。本実施の形態の場合は、当接角度θが小さくなっていく。そのため、ロータリーエンコーダ１２２を用いることで、ランプ１０１が寿命末期であることを的確に判定できる。さらに、使用者にランプ１０１の交換を喚起することで、ランプ１０１および光学装置２００の破損を未然に防ぐことができる。なお、使用者への喚起は、例えば、プロジェクション装置のディスプレイ部におけるＯＳＤ表示や、またＬＥＤなどのインジケータにより行えばよい。

［光源装置２００の特徴］
（１）
本実施形態の光源装置２００では、高圧放電ランプ１０１の管球部１０２の鉛直方向上部に接触端子１２１が当接するまでの回転角度を、角度検出部で検出する。この回転角度を基にして、管球部１０２の変形量を検出する。
ここでは、管球部１０２の変形、すなわち管球部１０２の形状が膨張することに伴って、基準位置から管球部１０２までの回転角度が変化することを利用して、管球部１０２の変形量を検出する。管球部１０２の変形量の最大許容値に対応する回転角度が角度検出部おいて検出されると、管球部１０２が寿命に到達したと把握できる。
これにより、高圧放電ランプ１０１の寿命を予測して、高圧放電ランプ１０１および光源装置２００の破損を防ぐことが可能となる。

（２）
本実施形態の光源装置２００では、角度検出部として、ロータリーエンコーダ１２２を用いている。
ロータリーエンコーダ１２２を用いることで、正確に回転角度を検出することができることから、管球部１０２の寿命をより正確に予測可能となる。
これにより、より正確に高圧放電ランプ１０１の寿命を予測可能となる。
［他の実施形態］

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。

（Ａ）
上記実施の形態２では、接触端子１２１を反射鏡フランジ外周位置Ａ（図９参照）から管球部１０２の測定位置Ｂまで回転させて、回転に要した当接角度θをロータリーエンコーダ１２２により測定し、管球部１０２の熱による変形量を検出する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、接触端子１２１を管球部１０２に初めから当接させておき、管球部１０２の熱による変形に伴う初期状態からの振れ角度を測定する構成であってもよい。この場合、継続的にランプ１を点灯するのに伴うランプ１の熱劣化が進行し、管球部２の上部が変形していくと、振れ角度は大きくなっていく。そして、管球部１０２の変形量が最大許容値になれば、使用者にランプの交換を喚起するなどすればよい。この時、最大許容値、測定方法、および測定タイミングなどは、実施の形態１と同様である。
これによっても、高圧放電ランプの寿命を予測して、高圧放電ランプおよび光源装置の破損を防ぐことが可能となる。

（Ｂ）
上記実施の形態１および２では、管球部の熱変形の最大許容値を１０％とする例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。最大許容値は、光源装置の構成、および管球部個々の特性に合わせて適宜、変更することが可能である。
図５に示す、ランプの点灯時間と管球部上部における管球部の直径に対する変形率との実験結果より、各ランプが破損する直前の変形率については、平均値が１５．５２％、バラツキをσとすると３σ＝７．９９５であった。そのため、管球部の熱変形の最大許容値が７．５％以上２３．５％以下の範囲の値であれば、ランプ破損が生じる可能性のある範囲をほぼカバーすることが可能である。この範囲内で、光源装置の構成および管球部個々の特性に合わせた最大許容値を設定する場合は、ランプが破損する危険性を考慮して低めの値をとっておくことが望ましい。
これにより、高圧放電ランプの寿命を予測して、高圧放電ランプおよび光源装置の破損を防ぐことが可能となる。

（Ｃ）
上記実施の形態１および２では、光源装置１００および２００が、高圧放電ランプ１および１０１を備えている例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
これらの高圧放電ランプとしては、例えば、高圧水銀ランプ、高圧ナトリウムランプ、セラミック放電ランプ、高圧キセノンランプ、およびメタルハライドランプなどを、光源装置の使用態様や構成などに合わせて、適宜用いることができる。

（Ｄ）
上記実施の形態１および２では、高圧放電ランプ１および１０１が、回転楕円鏡または回転放物面鏡である例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
反射鏡３の形状は、光源装置の使用態様や構成などに合わせて、適宜変更することができる。

（Ｅ）
上記実施の形態１では、照射部１０とフォトセンサ５とが配置される軸Ｘが、光軸Ｙと直角をなす例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
管球部１０２の熱による変形量を検出するために、光源装置１００の構成などに合わせて、適宜変更することができる。
照射部１０とフォトセンサ５が同軸上に配置され、かつ軸Ｘが管球部１０２の上部を通るのであれば、管球部１０２に対して接触端子１２１が当接する際の当接角度θの測定は可能となり、管球部２の熱による変形量を検出できるため、本発明と同様の効果が得られる。従って、軸Ｘと光軸Ｙとは必ずしも直角をなしていなくともよい。
これによっても、高圧放電ランプの寿命を予測して、高圧放電ランプおよび光源装置の破損を防ぐことが可能となる。
（Ｆ）
上記実施の形態１では、接触端子１２１が、反射鏡１０３の曲面に略沿うように配置する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
接触端子１２１の形状は、反射鏡１０３の形状に合わせて、適宜変更することができる。

本発明にかかる光源装置は、高圧放電ランプが寿命末期であることを検知して、使用者にランプの交換を喚起することで、光源装置の破損を防ぐ機能を有することから、プロジェクション装置などに用いられる光源装置および高圧放電ランプを有する装置に対して広く適用可能である。

本発明の実施の形態１における光源装置の斜視図。 本発明の実施の形態１における光源装置の水平方向の断面図。 本発明の実施の形態１における光源装置の垂直方向の断面図。 管球部の熱変形例を示した図。 ランプの点灯時間と管球部上部の変形率の関係をグラフ。 電圧測定のタイミングチャート。 本発明の実施の形態２における光源装置の斜視図。 本発明の実施の形態２における光源装置の水平方向の断面図。 本発明の実施の形態２における光源装置の垂直方向の断面図。 高圧放電ランプのランプ電圧の時間変化を示すグラフ。 高圧放電ランプ点灯始動時のランプ電圧立ち上がり特性を示すグラフ。

符号の説明

１，１０１ ランプ（高圧放電ランプ）
２，１０２ 管球部
３，１０３ 反射鏡
４，１０４ 筐体
５ フォトセンサ（検出部）
６ 保護カバー
７，１０７ モータ
８，１０８ シャフト
９ 反射鏡開口窓
１０ 照射部
１０９ 開口部
１２１ 接触端子
１２２ ロータリーエンコーダ
１２３ 歯車
１２４ 接触部
１００，２００ 光源装置
ａ，ｂ 回転軸
Ｘ 軸
Ｙ 光軸

Claims (6)

1. 管球部を有する高圧放電ランプと、
   前記管球部近傍に光を照射する照射部と、
   前記管球部を挟んで前記照射部に対して対向配置されており、前記管球部近傍を通過後の前記光の光量を検出する検出部と、
   を備えた、光源装置。
2. 前記照射部と前記検出部とは、前記高圧放電ランプの光軸と略直角をなす軸上に配置される、
   請求項１記載の光源装置。
3. 前記軸は、前記光軸に対して略鉛直方向上側にある、
   請求項２に記載の光源装置。
4. 前記軸と前記光軸との垂直距離は、前記管球部の直径よりも小さい、
   請求項２または３に記載の光源装置。
5. 管球部を有する高圧放電ランプと、
   前記管球部に対して当接する接触端子と、
   前記接触端子に接続されており、前記管球部に当接する際の回転角度を検出する角度検出部と、
   を備えた、光源装置。
6. 前記角度検出部は、ロータリーエンコーダである、
   請求項５に記載の光源装置。
   
   

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