JP2007200425A - 光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】光ディスク装置において、データ記録時の記録レーザ光パワーの最適化を図る。
【解決手段】記録レーザ光をメインレーザ光100、第1サブレーザ光102、第2サブレーザ光104の3つのレーザ光に分割し、光ディスクの同一トラック上に照射する。メインレーザ光100でピットを形成し、メインレーザ光100に後行する第2サブレーザ光104でピットの形成度合いを評価してメインレーザ光100のパワーを増減調整する。第1サブレーザ光102で光ディスクの面内反射率のバラツキやレンズシフトなどに起因するオフセット分を検出して第2サブレーザ光104の反射光量を正規化する。
【選択図】図2
【解決手段】記録レーザ光をメインレーザ光100、第1サブレーザ光102、第2サブレーザ光104の3つのレーザ光に分割し、光ディスクの同一トラック上に照射する。メインレーザ光100でピットを形成し、メインレーザ光100に後行する第2サブレーザ光104でピットの形成度合いを評価してメインレーザ光100のパワーを増減調整する。第1サブレーザ光102で光ディスクの面内反射率のバラツキやレンズシフトなどに起因するオフセット分を検出して第2サブレーザ光104の反射光量を正規化する。
【選択図】図2
Description
本発明は光ディスク装置、特にデータ記録時の記録レーザ光パワーの調整に関する。
データ記録可能な光ディスクにデータを記録する場合に、記録レーザ光のパワーを調整する種々の方法が提案されている。例えば、
(1)光ディスクのテストエリア(OPCエリア)で記録レーザ光パワーを複数段階に変化させてテストデータを記録し、該テストデータの再生信号品質に基づいて最適記録レーザ光パワーを探索する(いわゆるOPC:Optical Power Control)
(2)データ記録時に光ディスクからの反射光量のレベルB(反射光量のうち、ピット形成が完了し安定したレベルとなった時点のレベル)を検出し、このレベルBの大小に応じて記録レーザ光パワーを増減調整する(いわゆるROPC:Running Optical Power Control)
(3)データ記録時にデータ記録を一時的に中断し、直前の記録品質を検出し、検出結果に応じて記録レーザ光パワーを増減調整する
等が提案されている。しかし、(1)の方法ではデータ記録初期において記録レーザ光パワーが最適であることは保証されるものの、光ディスクの記録感度のバラツキに対応することができないといった問題を含んでおり、(3)の方法ではデータ記録を一時的に中断するため記録時間の増大を招くといった問題を含んでいる。したがって、前記提案の中では(2)の方法が有効であるが、(2)の方法ではレベルBの取得が不安定となり易いため、レベルBから記録レーザ光パワーを調整するフィードバック制御にも細かいチューニングが必要となる。
(1)光ディスクのテストエリア(OPCエリア)で記録レーザ光パワーを複数段階に変化させてテストデータを記録し、該テストデータの再生信号品質に基づいて最適記録レーザ光パワーを探索する(いわゆるOPC:Optical Power Control)
(2)データ記録時に光ディスクからの反射光量のレベルB(反射光量のうち、ピット形成が完了し安定したレベルとなった時点のレベル)を検出し、このレベルBの大小に応じて記録レーザ光パワーを増減調整する(いわゆるROPC:Running Optical Power Control)
(3)データ記録時にデータ記録を一時的に中断し、直前の記録品質を検出し、検出結果に応じて記録レーザ光パワーを増減調整する
等が提案されている。しかし、(1)の方法ではデータ記録初期において記録レーザ光パワーが最適であることは保証されるものの、光ディスクの記録感度のバラツキに対応することができないといった問題を含んでおり、(3)の方法ではデータ記録を一時的に中断するため記録時間の増大を招くといった問題を含んでいる。したがって、前記提案の中では(2)の方法が有効であるが、(2)の方法ではレベルBの取得が不安定となり易いため、レベルBから記録レーザ光パワーを調整するフィードバック制御にも細かいチューニングが必要となる。
なお、下記の特許文献1には、複数のレーザビームを用いて記録データを検査する技術が提案されている。具体的には、光ディスクに対して単一レーザビームにより情報の記録を行う際に、オーバライトの高速化及び信頼性の向上を図るために、単一レーザビームを2つのレーザビームに分割し、先行ビーム(メインビーム)で光ディスクに対する情報のオーバライトを実行するとともに、後行ビーム(サブビーム)で記録直後のデータを読み取ることで記録データのベリファイを実行することが開示されている。
また、下記の特許文献2には、光ピックアップから照射されるレーザ光の強度調整の高精度化を図るために、サブビームの光ディスクの記録が行われていない未記録部分からの反射光の強度を検出するとともに、光ディスクの記録が行われた既記録部分からの反射光の強度を検出し、未記録部分及び既記録部分からの両反射光量の強度比を算出し、算出される強度比が所定範囲内に収まるようにメインビームの出力を調整することが開示されている。
しかしながら、上記の特許文献1では記録データのベリファイについては開示されているものの、記録レーザ光のパワー調整に関しては何らの開示もない。仮に、記録データのベリファイの結果、記録データ品質がNGであったとしても、どのように記録レーザ光パワーを増減調整するか不明である。
また、特許文献2ではメインビームの出力を調整しているもののサブビームをメインビームが位置するトラックの隣接トラックに照射している。これは、隣接トラックにおいてピットの漏れ込みを観察するとの技術思想に依拠したものであるから、高精度にメインビームの出力を調整することは困難である。特に、光ディスク毎に内外周のトラックピッチにバラツキが生じていることを考慮すると、内外周においてピットの漏れ込み量も異なることになるから光ディスクの全周において高精度にメインビームの出力を調整することは困難である。
本発明は、上記従来技術の課題に鑑みなされたものであり、その目的は、データ記録時において記録レーザ光のパワーを高精度かつ確実に調整してデータ記録品質を向上させることにある。
本発明は、データ記録時の光ディスクからの反射光量に基づき記録レーザ光のパワーを調整する光ディスク装置であって、前記記録レーザ光をメインレーザ光及び前記メインレーザ光に対して先行する第1サブレーザ光と後行する第2サブレーザ光に分割し、かつ、前記メインレーザ光と第1サブレーザ光と第2サブレーザ光とを前記光ディスクの同一トラックに照射する照射手段と、データ記録時における前記第1サブレーザ光の前記光ディスクからの第1反射光量及び前記第2サブレーザ光の前記光ディスクからの第2反射光量に基づき前記メインレーザ光により形成されたピット形成度合いを評価して前記記録レーザ光パワーを増減調整する制御手段とを有することを特徴とする。
本発明では、記録レーザ光をメインレーザ光、メインレーザ光に先行する第1サブレーザ光、メインレーザ光に後行する第2サブレーザ光に分割し、データ記録時にはメインレーザ光でピットを形成し、形成されたピットの形成度合いを第2サブレーザ光で評価する。また、第1サブレーザ光の第1反射光量で第2サブレーザ光の第2反射光量に含まれるオフセット分を検出する。
本発明によれば、メインレーザ光により形成されたピットを、メインレーザ光と同一トラックに照射されたサブレーザ光で評価するので、トラックピッチのバラツキなどによらずに高精度にピットの形成度合いを評価し、これに基づいて記録レーザ光パワーを最適化できる。
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
<第1実施形態>
図1に、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図を示す。CD−RWやDVD+RW、DVD−RW、DVD−RAM等のデータ記録可能な光ディスク10はスピンドルモータ(SPM)12により回転駆動される。スピンドルモータSPM12は、ドライバ14で駆動され、ドライバ14はサーボプロセッサ30により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
図1に、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図を示す。CD−RWやDVD+RW、DVD−RW、DVD−RAM等のデータ記録可能な光ディスク10はスピンドルモータ(SPM)12により回転駆動される。スピンドルモータSPM12は、ドライバ14で駆動され、ドライバ14はサーボプロセッサ30により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
光ピックアップ16は、レーザ光を光ディスク10に照射するためのレーザダイオード(LD)や光ディスク10からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ(PD)を含み、光ディスク10に対向配置される。本実施形態では、光ピックアップ16はLDからのレーザ光を0次光、+1次光、及び−1次光の3つの光に分割する回折格子を含む。0次光をメインレーザ光、+1次光及び−1次光をサブレーザ光とする。メインレーザ光及び2つのサブレーザ光は、光ディスク10の同一トラックに照射される。光ピックアップ16はスレッドモータ18により光ディスク10の半径方向に駆動され、スレッドモータ18はドライバ20で駆動される。ドライバ20は、ドライバ14と同様にサーボプロセッサ30によりサーボ制御される。また、光ピックアップ16のLDはドライバ22により駆動され、ドライバ22はオートパワーコントロール回路(APC)24により駆動電流が所望の値となるように制御される。APC24は、光ディスク10のテストエリアにおいて実行されたOPCにより選択された最適記録パワーとなるようにドライバ22の駆動電流を制御する。OPCは、光ディスク10のPCAに記録パワーを複数段に変化させてテストデータを記録し、該テストデータを再生してその信号品質を評価し、所望の信号品質が得られる記録パワーを選択する処理である。信号品質には、β値やγ値、変調度、ジッタ等が用いられる。また、APC24は、データ記録時の光ディスク10からの反射光量に応じてドライバ22の駆動電流を制御するROPCを実行する。光ディスク10からの反射光量は、メインレーザ光ではなく2つのサブレーザ光の反射光量を用いる。
光ディスク10に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ16のLDから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がPDで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ16からの再生信号はRF回路26に供給される。RF回路26は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ30に供給する。サーボプロセッサ30は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ16をサーボ制御し、光ピックアップ16をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、RF回路26は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路28に供給する。アドレスデコード回路28はアドレス信号から光ディスク10のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ30やシステムコントローラ32に供給する。アドレス信号の1つの例は、CD−RWディスクの場合にはウォブル信号であり、光ディスク10の絶対アドレスを示す時間情報の変調信号で光ディスク10のトラックをウォブルさせ、このウォブル信号を再生信号から抽出しデコードすることでアドレスデータ(ATIP)を得ることができる。DVD−RWディスクの場合にはランドプリピット方式でアドレスデータを得ることができる。DVD−RAMディスクの場合にはCAPA(Complimentary Allocated Pit Adressing)方式でアドレスデータを得ることができ、セクタ内に記録されたヘッダ部にアドレスデータが存在する。また、RF回路26は、再生RF信号を2値化回路34に供給する。2値化回路34は、再生信号を2値化し、得られたEFM信号(CDディスク)あるいは8−16変調信号(DVDディスク)をエンコード/デコード回路36に供給する。エンコード/デコード回路36では、2値化信号をEFM復調あるいは8−16復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースI/F40を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード/デコード回路36はバッファメモリ38に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
光ディスク10にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースI/F40を介してエンコード/デコード回路36に供給される。エンコード/デコード回路36は、記録すべきデータをバッファメモリ38に格納し、当該記録すべきデータをエンコードしてEFMデータあるいは8−16変調データとしてライトストラテジ回路42に供給する。ライトストラテジ回路42は、EFMデータを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス(パルストレーン)に変換し、記録データとしてドライバ22に供給する。記録ストラテジは、例えばマルチパルスにおける先頭パルスのパルス幅や後続パルスのパルス幅、パルスデューティから構成される。記録ストラテジは記録品質に影響することから、通常はある最適ストラテジに固定される。OPC時に記録ストラテジを併せて設定してもよい。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ16のLDから照射されて光ディスク10にデータが記録される。本実施形態では上記のようにLDからのレーザ光はメインレーザ光と2つのサブレーザ光に分割されるが、このうち最も強度の大きいメインレーザ光によりデータが記録、つまりピットが形成される。サブレーザ光の強度は小さく、ピットの形成には寄与しない。データを記録した後、光ピックアップ16は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、RF回路26に供給する。RF回路26は再生信号を2値化回路34に供給し、2値化されたEFMデータあるいは8−16変調データはエンコード/デコード回路36に供給される。エンコード/デコード回路36は、EFMデータあるいは8−16変調データをデコードし、バッファメモリ38に記憶されている記録データと照合する。ベリファイの結果はシステムコントローラ32に供給される。システムコントローラ32はベリファイの結果に応じて引き続きデータを記録するか、あるいは交替処理を実行するかを決定する。
以下、本実施形態における、2つのサブレーザ光を用いたROPCについて詳細に説明する。
図2に、光ディスク10に照射されるメインレーザ光及び2つのサブレーザ光とこれらの反射光を受光するフォトディテクタとの関係を示す。LDから射出されたレーザ光はメインレーザ光100、第1サブレーザ光102、第2サブレーザ光104の3つに分割される。メインレーザ光100、第1サブレーザ光102、第2サブレーザ光104は同一トラック上に照射される。図では、グルーブにデータを記録する場合を例示しており、3つのレーザ光100、102、104は同一グルーブ上に照射される。第1サブレーザ光102はメインレーザ光100よりも先行する位置に照射され、第2サブレーザ光104はメインレーザ光100よりも後行する位置に照射される。メインレーザ光100は十分な光量を有し、図に示すピット46はメインレーザ光100により形成される。第1サブレーザ光102及び第2サブレーザ光104の光量はメインレーザ光100の光量よりも小さく、ピット形成に影響を与えない程度、例えばメインレーザ光100の光量の1/15程度に設定される。メインレーザ光100と第1サブレーザ光102との距離、及びメインレーザ光100と第2サブレーザ光104との距離はほぼ等しく設定される。メインレーザ光100の光ディスク10からの反射光量は図示しないメインフォトディテクタで検出され、第1サブレーザ光102の光ディスク10からの反射光量はサブフォトディテクタ16bで検出され、第2サブレーザ光104の光ディスク10からの反射光量はサブフォトディテクタ16aで検出される。サブフォトディテクタ16a、16bはいずれも光ディスク10の半径方向に2分割されており、2分割されたそれぞれのディテクタから検出信号を出力する。サブフォトディテクタ16aの内周側のディテクタは信号Fを出力し、外周側のディテクタは信号Eを出力する。同様に、サブフォトディテクタ16bの内周側のディテクタは信号Hを出力し、外周側のディテクタは信号Gを出力する。未記録状態の光ディスク10に対してデータを記録する場合、データ記録中において図に示すようにメインレーザ光100に先行するレーザ光である第1サブレーザ光102はピット46の影響を受けることはない(メインレーザ光100に先行するエリアでは未だピットが形成されていないから)。一方、メインレーザ光100の後行である第2サブレーザ光104はピット46の影響を受ける。このため、第2サブレーザ光104の光ディスク10からの反射光はメインレーザ光100により形成されたピット46の形成度合いに応じた変調を受ける。但し、第2サブレーザ光104の反射光量のみを検出したのでは、ピット46の影響によるものなのか、あるいはピット46の有無によらず光ディスク10自体の反射率のバラツキ、メインレーザ光100自体の光量バラツキ、レンズシフトによるバラツキによるものなのかを識別することができない。そこで、本実施形態では、第2サブレーザ光104の反射光量のみならず、ピット46の影響を受けていない第1サブレーザ光102の反射光量を用いてメインレーザ光100によるピット46の形成の度合い、すなわちメインレーザ光100の光量の適否を評価し、これに応じてメインレーザ光100の光量、つまり記録レーザ光のパワーを調整する。
図3に、ROPCを実行する回路構成を示す。この回路は図1におけるRF回路26内に組み込まれてもよく、RF回路とは別に光ディスク装置に組み込まれてもよい。サブフォトディテクタ16aからの信号E(出力E)及び信号F(出力F)は加算器で加算され、出力E+出力FとしてスイッチSW1及び差動アンプ50の非反転入力端子(+)に供給される。また、サブフォトディテクタ16bからの信号G(出力G)及び信号H(出力H)は加算器で加算され、出力G+出力HとしてスイッチSW3及び差動アンプ50の反転入力端子(−)に供給される。
差動アンプ50は、(出力E+出力H)と(出力G+出力H)との差分を演算し、すなわち、(出力E+出力H)−(出力G+出力H)を演算してスイッチSW2に出力する。
3つのスイッチSW1、SW2、SW3は、記録データエンコード部(図1におけるエンコード/デコード部のエンコード機能部に相当)36からの開閉制御信号に基づいて開閉制御される。記録データエンコード部36は、上記のように記録すべきデータを所定のストラテジに従ってエンコードするとともに、データを記録するタイミング、すなわちピットを形成するタイミングにおいてオンとなる開閉制御信号をスイッチSW1〜SW3に出力する。したがって、各スイッチSW1〜SW3は、ピット形成タイミング(「マーク」部分においてオンとなり、ピット未形成タイミング(「スペース」部分)においてオフとなる。SW1がオンになると、加算器からの(出力E+出力F)はピークホールド回路52に供給されてピークホールドされ、信号のピークレベルは差動アンプ56の非反転入力端子(+)に供給される。また、SW2がオンになると、差動アンプ50からの(出力E+出力F)−(出力G+出力H)はボトムホールド回路54に供給されてボトムホールドされ、信号のボトムレベルは差動アンプ56の反転入力端子(−)に供給される。また、SW3がオンになると、加算器からの(出力G+出力H)はピークホールド回路60及びボトムホールド回路62に供給されてピークホールド及びボトムホールドされ、信号のピークレベル及びボトムレベルがそれぞれ差動アンプ64の非反転入力端子と反転入力端子に供給される。
差動アンプ56は、(出力E+出力F)のピークレベルと、(出力E+出力F)−(出力G+出力H)のボトムレベルとの差分を演算し、差分値を差動アンプ58に出力する。
また、差動アンプ64は、(出力G+出力H)のピークレベルとボトムレベルの差分を演算し、差分値を差動アンプ58及びローパスフィルタ66に出力する。
差動アンプ58は、差動アンプ56からの差分値と差動アンプ64からの差分値の差分値、つまり、(出力E+出力F)のピークレベルと、(出力E+出力F)−(出力G+出力H)のボトムレベルとの差分値と、(出力G+出力H)のピークレベルとボトムレベルの差分値との差分を演算し、ゲインコントロールアンプ(GCA)68に出力する。また、ローパスフィルタ66は、(出力G+出力H)のピークレベルとボトムレベルの差分値の高周波ノイズを除去してゲインコントロールアンプ68に出力する。
ゲインコントロールアンプ68は、ローパスフィルタ66からの信号に基づいて差動アンプ58の出力ゲインを調整し、サンプルホールド回路(S/H)70に出力する。サンプルホールド回路70は、入力信号をサンプルホールドし、ピット形成度合いを示す評価信号としてシステムコントローラ32に出力する。システムコントローラ32は、評価信号に基づいてメインレーザ光のパワー、つまり記録レーザ光のパワーを増減調整する。
図4に、図3の構成における各部のタイミングチャートを示す。図4(a)は、記録データエンコード部36でエンコードされた記録パルス列である。DVD−RW等の場合、ピットはマルチパルスで記録される。メインレーザ光100及び第1サブレーザ光102、第2サブレーザ光104はいずれもこのようなマルチパルスで変調されて光ディスク10に照射される。
図4(b)は、メインレーザ光100に対する後行レーザ光である第2サブレーザ光104の照射関係を示す。第2サブレーザ光104は図4(a)のような変調を受けるとともに、先行するメインレーザ光100により形成されたピットの影響を受ける。図4(b)では、メインレーザ光100により形成されたピットによる影響分を実線で(RF成分)、マルチパルスによる変調成分を破線で示す。なお、図ではピット形成により反射率が低下するタイプの光ディスク10の場合であり、実線で示すRF信号のレベルが低下している部分にピットが形成されていることを示す。
図4(c)は、出力E+出力Fの信号波形を示す。第2サブレーザ光104の反射光を受光するサブフォトディテクタ16aの出力である出力E+出力Fは図4(b)の実線と破線を重ね合わせた波形となる。図4(c)の信号波形は、メインレーザ光100により形成されたピットの影響を受けているため、この信号波形のレベルに基づいて既形成ピットの形成度合い、つまり記録レーザ光のパワーの適否を評価することが可能である。但し、破線で示すマルチパルスの影響、具体的にはLDのパワー変動、光ディスク10の反射率の面内バラツキ、レンズシフトなどがオフセット成分として含まれているため、このオフセット分を除去する必要がある。
図4(d)、は出力G+出力Hの信号波形を示す。第1サブレーザ光102の反射光を受光するサブフォトディテクタ16bの出力である出力G+出力Hは図4(a)と同様な信号波形を示す。未記録の光ディスク10にデータを記録する場合、メインレーザ光100に先行する第1サブレーザ光102にはピットが存在せず、ピットによる変調を受けることがないからである。この信号はLDのパワー変動、光ディスク10の反射率の面内バラツキ、レンズシフトなどが含まれており、図4(c)の信号波形に含まれるオフセット分(第1オフセット分)を示すことになる。
図4(e)は、差動アンプ50の出力である、(出力E+出力F)−(出力G+出力H)の信号波形を示す。
図4(f)は、SW1〜SW3の開閉タイミングを示す。ピット形成タイミングでオン、ピットを未形成タイミングでオフとなる波形である。従って、ピット形成タイミングにおいてピークホールド回路52、60及びボトムホールド回路54、62でそれぞれピークレベル、ボトムレベルが検出され、ピット形成の度合いが評価される。なお、第2サブレーザ光104は上記のとおりメインレーザ光100の1/15の程度であって、反射光量も小さい。したがって、ピット未形成のタイミングの反射光信号にも既形成ピットの影響は含まれるものの全体としての反射光量が小さいため評価することが困難である。そこで、本実施形態ではピット形成時のタイミング、すなわち第2サブレーザ光104の光量が比較的大きいタイミングで評価する。
図4(g)は、ピークホールド回路52の信号波形を示す。図4(c)の信号波形のピークレベルVpをホールドした信号である(実線でピークレベル、破線で図4(c)の信号波形を示す)。ピークホールド回路52により図4(c)の信号波形の上側エンベロープが抽出される。
図4(h)は、ボトムホールド回路54の信号波形を示す。図4(e)の信号波形のボトムレベルVbをホールドした信号である(実線でボトムレベル、破線で図4(e)の信号波形を示す)。理論的には、ピットの形成度合いを評価するためには図4(b)の実線で示すRF振幅を検出すればよいが、図4(c)の信号波形のピークレベルを検出することでRF振幅の上側エンベロープを検出できるものの、図4(c)の信号波形のボトムレベルを検出してもRF振幅の下側エンベロープを検出することができない。そこで、RF振幅の下側エンベロープを浮き出させるために、(出力E+出力F)−(出力G+出力H)を演算し、この差分信号のボトムレベルを検出するのである。但し、このようにして検出したボトムレベルVbには(出力G+出力H)の振幅だけのオフセット分(第2オフセット分)が生じている。差動アンプ56では、ピークレベルVpとボトムレベルVbとの差分を演算する。
図4(i)は、ピークホールド回路60の信号波形及びボトムホールド回路62の信号波形を示す。実線はピークレベルとボトムレベルであり、破線は図4(d)の信号波形である。差動アンプ63は、これらピークレベルとボトムレベルの差分を演算するので、第2オフセット分が演算されることになる。第2オフセット分は差動アンプ58に供給される。差動アンプ58は、ピークレベルVpとボトムレベルVbの差分から、第2オフセット分を除去してゲインコントロールアンプ68に出力する。差動アンプ58の出力はRF振幅に応じたレベルを示し、これはピット形成度合い(記録レーザ光パワーが過剰でピットが過剰に形成されるとRF振幅はその分増大する)を示すが、この信号レベルには依然として上記のとおり第1オフセット分が含まれる。この第1オフセット分はサブフォトディテクタ16bの出力レベル、つまり差動アンプ64の出力で評価できるから、ゲインコントロールアンプ68は差動アンプ64の出力レベルに応じてゲインを調整して差動アンプ58の出力信号(ピットによるRF振幅)を増幅し、ピット形成度合いを示す評価信号としてシステムコントローラ32に出力する。ゲインコントロールアンプ68は、第1オフセット分に応じてピットによるRF振幅を増減調整するので、第1オフセット分に応じてRF振幅レベルを正規化するということもできる。
以上のようにして、第1サブレーザ光102及び第2サブレーザ光104を用いてメインレーザ光100により形成されたピットの形成度合いを評価し、評価結果に応じて記録レーザ光のパワーを正確に調整できる。
ROPCの具体的手順は以下のとおりである。すなわち、まず、光ディスク10のテストエリアで記録レーザ光パワーを複数段に変化させてテストデータを記録し、β値やγ値、変調度、エラーレート等が目標値となる最適のパワーPoを選択する。次に、レーザ光パワーPoでデータの記録を開始し、記録開始から数トラックまではレーザ光パワーPoを維持しつつ、評価信号(つまりRF振幅)を検出してシステムコントローラ32のメモリに記憶する。このときのRF振幅は記録レーザ光パワーが最適値であるときのRF振幅である。そして、数トラック分の記録が終了し、RF振幅の学習が完了した場合に、ROPCを実行する。すなわち、データ記録中に常に評価信号(RF振幅)を検出し、検出したRF振幅がメモリに記憶されているRF振幅よりも大きい場合にはパワー過剰でピット形成度合いが過剰であると判断して現在のパワーPoを減少制御する。また、検出したRF振幅がメモリに記憶されているRF振幅よりも小さい場合にはパワー不足でピット形成度合いが不足であると判断して現在のパワーPoを増大制御する。検出したRF振幅と学習したRF振幅との差分量に応じて増減量を設定してもよい。
<第2実施形態>
第1実施形態では、マルチパルスでピットを形成する場合について説明したが、マルチパルスではなく凸型ストラテジでピットを形成することも可能である。
第1実施形態では、マルチパルスでピットを形成する場合について説明したが、マルチパルスではなく凸型ストラテジでピットを形成することも可能である。
図5に、凸型ストラテジでピットを形成する場合の、ROPC実行回路の回路構成を示す。図3と異なるのは、差動アンプ50、58の代わりに、入力信号を単に増幅するアンプ51、59が設けられる点である。凸型ストラテジの場合、マルチパルスの場合のようにサブフォトディテクタ16aからの信号はマルチパルスで変調されることがない。従って、ピットの形成度合いを示すRF振幅は、単にサブフォトディテクタ16aからの信号のピークレベルとボトムレベルを検出し、その差分を演算することで抽出することができる。但し、光ディスク10の反射率のバラツキやレンズシフトなどによる第1オフセット分は含まれているため、ゲインコントロールアンプ68で抽出したRF振幅を正規化する必要があるのは第1実施形態と同様である。このため、差動アンプ64、ローパスフィルタ66等は第1実施形態と同様に設けられ、ゲインコントロールアンプ68はローパスフィルタ66からの信号に応じてRF振幅のゲインを調整する。
図6に、本実施形態の記録パルス波形とSW1〜SW3の開閉タイミング信号の波形を示す。凸型ストラテジでは、先頭及び後尾にレベルが増大し、それ以外は一定のレベルとなるような記録パルスでピットを形成する。マルチパルスと対比して、モノパルスと称することができる。記録データエンコード部36は、SW1〜SW3に対して、先頭及び後尾のタイミングを除いた、レベルが一定の期間においてオンとなる開閉制御信号をSW1〜SW3に出力する。これにより、第2サブレーザ光104の光量が比較的大きく、かつ、マルチパルスではないタイミングで既形成ピットによるRF振幅を抽出してピット形成度合いを評価することができる。
<第3実施形態>
第1実施形態及び第2実施形態では、光ディスク10が未記録状態でデータを記録する場合について説明したが、光ディスク10が既に記録済みであり、この光ディスク10にデータをオーバライトする場合には、メインレーザ光100に先行する第1サブレーザ光102にも既形成ピットの影響があるため、図3の構成ではRF振幅を正確に検出することができない。本実施形態では、このようにオーバライトする場合について説明する。
第1実施形態及び第2実施形態では、光ディスク10が未記録状態でデータを記録する場合について説明したが、光ディスク10が既に記録済みであり、この光ディスク10にデータをオーバライトする場合には、メインレーザ光100に先行する第1サブレーザ光102にも既形成ピットの影響があるため、図3の構成ではRF振幅を正確に検出することができない。本実施形態では、このようにオーバライトする場合について説明する。
図7に、本実施形態におけるROPC実行回路の回路構成を示す。図3と異なるのは、第1サブレーザ光102の反射光を受光するサブフォトディテクタ16bの出力である出力G+出力Hを差動アンプ50の反転入力端子に供給するのではなく、記録データエンコード部36からの記録パルスを所定ゲインAで増幅した信号を差動アンプ50に供給し、かつ、この信号のピークレベルとボトムレベルの差分を差動アンプ58の反転入力端子に供給する点である。オーバライトの場合には、上記のように出力G+出力Hにもピットの影響があるため、図4(d)に示すような波形とはならず、ピット成分が重畳した波形となってしまう。そこで、RF振幅の下側エンベロープを浮き出させるために、図4(d)のような信号波形を記録データエンコード部36からの記録パルスをアンプ72で増幅することで生成する。アンプ72で増幅された記録パルス信号はまたピークホールド回路74及びボトムホールド回路76に供給され、そのピークレベルとボトムレベルが検出され、さらに差動アンプ78で差分が演算されて差動アンプ58に供給される。差動アンプ56の出力であるRF振幅にはゲイン72で増幅された記録パルス信号の振幅分だけオフセットしている。差動アンプ78でこのオフセット分を演算し、差動アンプ58でRF振幅からオフセット分を除去する。なお、出力G+出力Hにはピットによるノイズがあるが、ピークホールド及びボトムホールドして得られた信号に基づいてゲインコントロールアンプ68でレベル調整、すなわち正規化を行っているので、ピットによるノイズの影響は無視できる。
<第4実施形態>
第1実施形態〜第3実施形態では、サブフォトディテクタ16a、16bの内周側のフォトディテクタと外周側のフォトディテクタのいずれも用いてピット形成度合いを示す評価信号を生成しているが、スポット形状やデータ記録中のデトラックによりサブフォトディテクタ16aからの内周側の信号である出力Fあるいは外周側の信号である出力E(図2を参照)にそれぞれ内周側からのクロストーク、外周側からのクロストークが混入するとRF振幅が影響を受け、メインレーザ光100により形成されたピットの形成度合いを正確に評価することが困難となる。このような場合には、サブフォトディテクタ16aのうち内周側の信号である出力Fのみ、あるいは外周側の信号である出力Eのみを用いるように切り替えることが好適である。
第1実施形態〜第3実施形態では、サブフォトディテクタ16a、16bの内周側のフォトディテクタと外周側のフォトディテクタのいずれも用いてピット形成度合いを示す評価信号を生成しているが、スポット形状やデータ記録中のデトラックによりサブフォトディテクタ16aからの内周側の信号である出力Fあるいは外周側の信号である出力E(図2を参照)にそれぞれ内周側からのクロストーク、外周側からのクロストークが混入するとRF振幅が影響を受け、メインレーザ光100により形成されたピットの形成度合いを正確に評価することが困難となる。このような場合には、サブフォトディテクタ16aのうち内周側の信号である出力Fのみ、あるいは外周側の信号である出力Eのみを用いるように切り替えることが好適である。
図8に、本実施形態におけるROPC実行回路の回路構成を示す。図3と異なるのは、出力Eと出力Fとを加算する加算器の前段にスイッチSW4、SW5が設けられるとともに、出力Gと出力Hとを加算する加算器の前段にスイッチSW6、SW7が設けられる点である。SW4、SW5とSW6、SW7とは連動して切り替わり、SW4が出力E側に切り替わるとSW6もこれに連動して出力G側に切り替わる。また、SW5が出力F側に切り替わるとSW7もこれに連動して出力H側に切り替わる。サブフォトディテクタ16aのうち外周側にクロストークが混入している場合には内周側の信号を用いるべく、SW4をRE側(接地側)とし、SW5を出力F側に切り替える。これに連動して、SW6はRE側、SW7は出力H側に切り替わる。このようにして出力Fと出力Hとがピークホールド回路52、差動アンプ50、ピークホールド回路60、ボトムホールド回路62に供給されて評価信号が生成される。内周側のみ、あるいは外周側のみの信号を用いた場合、レンズシフトの影響が残るが、これはゲインコントロールアンプ68でのレベル調整により解消し得る。クロストークの影響が無視できるような場合、SW4を出力E側、SW5を出力F側、SW6を出力G側、SW7を出力H側に切り替えることで、出力E+出力F、出力G+出力Hが差動アンプ50等に供給されることになり、図3の構成と同一の機能が得られる。
内周側の信号と外周側の信号との和、内周側の信号のみ、あるいは外周側の信号のみのいずれを用いるかは、データを記録すべく光ディスク10の種類や記録速度等の記録条件に応じて適宜選択すればよい。具体的には、予めこれらの記録条件の下でいずれの信号を用いるかを学習してシステムコントローラ32のメモリに記憶しておき、光ディスク10の種類や記録速度等に応じてメモリから読み出してシステムコントローラ32がSW4〜SW7を開閉制御する。
図8では、図3の構成を基本としているが、図5、図7の構成においても同様にSW4〜SW7を用いて切り替えることもできる。
10 光ディスク、16a、16b サブフォトディテクタ、32 システムコントローラ、100 メインレーザ光、102 第1サブレーザ光(先行サブレーザ光)、104 第2サブレーザ光(後行サブレーザ光)。
Claims (14)
- データ記録時の光ディスクからの反射光量に基づき記録レーザ光のパワーを調整する光ディスク装置であって、
前記記録レーザ光をメインレーザ光及び前記メインレーザ光に対して先行する第1サブレーザ光と後行する第2サブレーザ光に分割し、かつ、前記メインレーザ光と第1サブレーザ光と第2サブレーザ光とを前記光ディスクの同一トラックに照射する照射手段と、
データ記録時における前記第1サブレーザ光の前記光ディスクからの第1反射光量及び前記第2サブレーザ光の前記光ディスクからの第2反射光量に基づき前記メインレーザ光により形成されたピット形成度合いを評価して前記記録レーザ光パワーを増減調整する制御手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記制御手段は、ピットを形成するタイミングにおける前記第1反射光量及び前記第2反射光量に基づいて前記ピット形成度合いを評価することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記制御手段は、
前記第2反射光量に含まれる、前記メインレーザ光により形成されたピットの信号成分を抽出する抽出手段と、
前記ピットの信号成分に含まれるオフセット分を前記第1反射光量を用いて除去する除去手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項3記載の装置において、
前記抽出手段は、
前記第2反射光量のピークレベルを検出するピークレベル検出手段と、
前記第2反射光量と前記第1反射光量の差分を演算する第1差分演算手段と、
前記第1差分演算手段からの前記差分のボトムレベルを検出するボトムレベル検出手段と、
前記ピークレベル検出手段で検出された前記ピークレベルと、前記ボトムレベル検出手段で検出された前記ボトムレベルとの差分を演算する第2差分演算手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項4記載の装置において、
前記除去手段は、
前記第1反射光量のピークレベルを検出する第2ピークレベル検出手段と、
前記第1反射光量のボトムレベルを検出する第2ボトムレベル検出手段と、
前記第2ピークレベル検出手段で検出された前記ピークレベルと、前記第2ボトムレベル検出手段で検出されたボトムレベルとの差分を演算する第3差分演算手段と、
前記第2差分演算手段の出力と前記第3差分演算手段の出力との差分を演算する第4差分演算手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項5記載の装置において、
前記除去手段は、さらに、
前記第4差分演算手段の出力を、前記第3差分演算手段の出力で調整するレベル調整手段を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項4〜6のいずれかに記載の装置において、
前記メインレーザ光と前記第1サブレーザ光と前記第2サブレーザ光は、データ記録時にいずれもマルチパルスで変調されることを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項3記載の装置において、
前記抽出手段は、
前記第2反射光量のピークレベルを検出するピークレベル検出手段と、
前記第2反射光量のボトムレベルを検出するボトムレベル検出手段と、
前記ピークレベル検出手段で検出された前記ピークレベルと、前記ボトムレベル検出手段で検出された前記ボトムレベルとの差分を演算する第2差分演算手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項8記載の装置において、
前記除去手段は、
前記第1反射光量のピークレベルを検出する第2ピークレベル検出手段と、
前記第1反射光量のボトムレベルを検出する第2ボトムレベル検出手段と、
前記第2ピークレベル検出手段で検出された前記ピークレベルと、前記第2ボトムレベル検出手段で検出されたボトムレベルとの差分を演算する第3差分演算手段と、
前記第2差分演算手段の出力を、前記第3差分演算手段の出力で調整するレベル調整手段を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項8、9のいずれかに記載の装置において、
前記メインレーザ光と前記第1サブレーザ光と前記第2サブレーザ光は、データ記録時にいずれもモノパルスで変調されることを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項3記載の装置において、
前記メインレーザ光と第1サブレーザ光と第2サブレーザ光とを変調するための記録パルス信号を生成する手段を有し、
前記抽出手段は、
前記第2反射光量のピークレベルを検出するピークレベル検出手段と、
前記記録パルス信号を増幅する増幅手段と、
前記第2反射光量と前記増幅手段で増幅された前記記録パルス信号の差分を演算する第1差分演算手段と、
前記第1差分演算手段からの前記差分のボトムレベルを検出するボトムレベル検出手段と、
前記ピークレベル検出手段で検出された前記ピークレベルと、前記ボトムレベル検出手段で検出された前記ボトムレベルとの差分を演算する第2差分演算手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項11記載の装置において、
前記除去手段は、
前記増幅手段で増幅された前記記録パルス信号のピークレベルを検出する第2ピークレベル検出手段と、
前記増幅手段で増幅された前記記録パルス信号のボトムレベルを検出する第2ボトムレベル検出手段と、
前記第2ピークレベル検出手段で検出された前記ピークレベルと、前記第2ボトムレベル検出手段で検出された前記ボトムレベルとの差分を演算する第3差分演算手段と、
前記第2差分演算手段の出力と前記第3差分演算手段の出力との差分を演算する第4差分演算手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項12記載の装置において、
前記除去手段は、さらに、
前記第1反射光量のピークレベルを検出する第3ピークレベル検出手段と、
前記第1反射光量のボトムレベルを検出する第3ボトムレベル検出手段と、
前記第3ピークレベル検出手段で検出された前記ピークレベルと、前記第3ボトムレベル検出手段で検出されたボトムレベルとの差分を演算する第5差分演算手段と、
前記第4差分演算手段の出力を、前記第5差分演算手段の出力で調整するレベル調整手段を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1乃至13のいずれかに記載の装置において、
前記第1反射光量は前記光ディスクの内周側の第1内周側反射光量と外周側の第1外周側反射光量から構成され、
前記第2反射光量は前記光ディスクの内周側の第2内周側反射光量と外周側の第2外周側反射光量から構成され、
前記第1反射光量として、前記第1内周側反射光量、前記第1外周側反射光量、前記第1内周側反射光量と前記第1外周側反射光量の和のいずれかを選択的に出力する第1選択手段と、
前記第2反射光量として、前記第2内周側反射光量、前記第2外周側反射光量、前記第2内周側反射光量と前記第2外周側反射光量の和のいずれかを選択的に出力する第2選択手段と、
を有し、前記第1選択手段と前記第2選択手段は連動して動作し、前記第1選択手段で前記第1内周側反射光量が選択された場合に前記第2選択手段で前記第2内周側反射光量が選択され、前記第1選択手段で前記第1外周側反射光量が選択された場合に前記第2選択手段で前記第2外周側反射光量が選択され、前記第1選択手段で前記第1内周側反射光量と前記第1外周側反射光量の和が選択された場合に前記第2選択手段で前記第2内周側反射光量と前記第2外周側反射光量の和が選択されることを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006016268A JP2007200425A (ja) | 2006-01-25 | 2006-01-25 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2006016268A JP2007200425A (ja) | 2006-01-25 | 2006-01-25 | 光ディスク装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2007200425A true JP2007200425A (ja) | 2007-08-09 |
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ID=38454878
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2006016268A Pending JP2007200425A (ja) | 2006-01-25 | 2006-01-25 | 光ディスク装置 |
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Country | Link |
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-
2006
- 2006-01-25 JP JP2006016268A patent/JP2007200425A/ja active Pending
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