JP2007200164A - 非接触ｉｃタグの検査方法、リードライト方法、検査装置、リーダライタ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 形状や大きさが異なる各種非接触ＩＣタグの連接体を、同一の検査装置で、確実に検査する非接触ＩＣタグの検査方法等を提供する。
【解決手段】 本発明の非接触ＩＣタグの検査方法は、１列に整列してつながる非接触ＩＣタグ連接体１Ｒの通信性能を検査する方法において、検査装置２０の読取アンテナ２１面と対面して被検査用非接触ＩＣタグ１のアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナ４を、検査時においてパッシブアンテナ４と該非接触ＩＣタグ１のアンテナパターンの外形が一致するように定間隔にして平行に置き、当該検査装置２０の読取アンテナ２１面とパッシブアンテナ４の平行面間を被検査用非接触ＩＣタグ連接体１Ｒが通過するようにして非接触ＩＣタグを検査することを特徴とする。
当該検査方法は、リードライト方法としても同様に利用できるものである。
【選択図】 図１

Description

本発明は、非接触ＩＣタグの検査方法、リードライト方法、および検査装置、リーダライタ装置に関する。詳しくは、大小さまざまな種類のある連続状の非接触ＩＣタグを、検査装置で確実に検査する方法、リーダライタで確実にリードライトする方法、検査装置、リーダライタ装置に関する。
従って、本発明の技術分野は非接触ＩＣタグやリーダライタの製造や利用に関する。

非接触ＩＣタグは、情報を記録して保持し非接触で外部装置と交信して情報交換できるので、運送や物流等における認識媒体として、あるいは商品の品質管理、在庫管理等の各種目的に多用されるようになってきている。
大量に生産される非接触ＩＣタグは、１列の帯状巻取り状態や一定数の連接状態で生産され、かつその状態でユーザーに納入される場合が多い。このような非接触ＩＣタグは、書き込みや読み取りが所定の条件で可能であることの検査が出荷前に行われる。

検査には、通常のリーダーライタ装置が用いられる。しかし、非接触ＩＣタグの形状は大小さまざまである一方、検査装置は一定の仕様の装置が使われるのが通常である。
その場合、検査装置のアンテナ面積に相応する非接触ＩＣタグを検査する場合は、誤書き込みや誤読み取りが生じることは少ないが、アンテナ面積よりもかなり小さい非接触ＩＣタグの連接体の場合、検査対象以外の前後のＩＣタグの影響で、検査対象との通信が阻害されて、正確な通信性能の検査ができない場合が生じる。

通常、リーダーライタ装置はＩＣカード用途に製造されるため、アンテナ板もカードサイズにされている場合が通常である。非接触ＩＣタグが、ほぼこのカードサイズである場合は検査に支障を生じることは少ない。しかし、非接触ＩＣタグの面積は大小様々で、カードサイズの半分とか１／４の大きさになると複数の非接触ＩＣタグを読み取りしてしまったり、他のタグの影響で読み取りが全く不可能になる場合が生じる。
このような現象は、非接触ＩＣタグの検査に限らず、同様に連接状態の非接触ＩＣタグに対する通常の読み取り書き込み（リードライト）操作にも生じるものである。

図５は、従来の検査方法を説明する図である。特に、検査装置２０の読取アンテナ２１の面積よりもかなり小面積の非接触ＩＣタグ１の連接体１Ｒを読み取りしている状態を示している。検査装置２０は、非接触ＩＣカード用リーダライタと同一構成と考えてよく、通常は平面状の読取アンテナ２１部分とリーダライタモジュール２２部分とが分離した構造になっており、専用ケーブル２３を用いて接続されている。
読取アンテナ２１部分は平面な基板に形成されていて、基板内には円形や矩形状等の各種ループ状アンテナが形成されている。リーダライタモジュール２２部分には、ＲＦ回路や通信制御回路、外部インターフェース回路、ＰＬＬ、必要により暗号処理回路等が含まれている。

非接触ＩＣタグ１の連接体１Ｒは、帯状の剥離紙８の面に単位の非接触ＩＣタグ１を打ち抜きして等ピッチで配列したもので、連続状の巻取りであったり、数単位の非接触ＩＣタグ１が１列に連接した形態になっている。剥離紙８と非接触ＩＣタグ１のベースフィルム間には粘着剤層７が設けられている。

図５の場合、検査装置２０の読取アンテナ２１部分の下面側には、約３単位の非接触ＩＣタグ１が位置している。読取アンテナ２１は矩形状アンテナの場合、２０ｍｍ×６０ｍｍ、乃至３０ｍｍ×５０ｍｍ程度の外形となる。連接体１Ｒの非接触ＩＣタグ１は、各種の形態があり、例えば、２７ｍｍ×４５ｍｍ、１５ｍｍ×２０ｍｍであり、最小のものは５ｍｍ角程度のものもある。読取アンテナ２１より大サイズのものも勿論存在する。

図５の状態で読み取りすると、読取アンテナ２１の３個の非接触ＩＣタグ１に電磁波ｗが分散するためか、複数のＩＣタグから同時に応答が生じるコリジョンの結果か、は明確ではないが読み取りが不可能になる場合がある。出力を高める場合に読み取りが可能になる場合が多く、過大な負荷をかけて読み取りするが電力の浪費も無視できない。
非接触ＩＣタグ１の形状に応じて複数種の検査装置を使用すれば良いが、全ての形状に対応して装置を備えるのは現実的でない。

そこで本願は、検査方法や読み取りまたは書き込み方法に、パッシブアンテナを併用することを提案するものである。
このような技術に関する先行技術を検出することはできないが、非接触ＩＣカード用エンコード装置やリーダライタにおいて、非接触ＩＣカードの背面に板状弱磁石を配置する技術に関しては、特許文献１がある。しかし、この場合も板状弱磁石は一定の形状のものであり、各種形状の非接触ＩＣタグには対応できない。また、パッシブアンテナを使用する通信システムとして、特許文献２があり、同様に、データ送受信システムとして、特許文献３がある。しかし、本願の検査方法等とは直接には関係しない。

特開２００２−１７００８３号公報 特開２００２−３６８６６５号公報 特開２００５−０８６４１９号公報

従来の検査方法やリードライト方法では、非接触ＩＣタグが連接体であったり、検査装置またはリーダライタ装置のアンテナと極端に異なるサイズの非接触ＩＣタグである場合、検査またはリードライトが不可能であったり不安定になる場合が多かった。
そこで、本発明は検査装置等のアンテナ面と対面して対象非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを、その外形が一致するようにして平行に置いて検査またはリードライトし、電磁波が正しく対象の非接触ＩＣタグに収束するようにして問題を解決すべく研究して本発明の完成に至ったものである。
本発明の検査装置やリーダライタ装置も同様の問題を課題としたものである。

上記課題を解決する本発明の要旨の第１は、１列に整列してつながる非接触ＩＣタグ連接体の通信性能を検査する方法において、検査装置のアンテナ面と対面して被検査用非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを、検査時において該パッシブアンテナと該非接触ＩＣタグのアンテナパターンと、がその外形が一致するようにして、定間隔かつ平行に置き、当該検査装置のアンテナ面とパッシブアンテナの面間を被検査用非接触ＩＣタグ連接体が通過するようにして非接触ＩＣタグを検査することを特徴とする非接触ＩＣタグの検査方法、にある。

上記の非接触ＩＣタグの検査方法において、検査装置のアンテナ面とパッシブアンテナ面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内とすれば、検査性能の向上のために適切である。また、非接触ＩＣタグの連接体は、剥離紙面上に粘着剤層を介して整列したものであってもよく、インレットベース自体であってもよい。
さらに、検査装置のアンテナ出力が可変であれば精度よい検査ができ、検査装置と検査対象非接触ＩＣタグとの通信が、検査装置が検査対象非接触ＩＣタグを検出してからの一定時間内に行われる、ようにすれば検査対象を間違えることがない。
またさらに、通信性能不良または通信不能の単位の非接触ＩＣタグについて、インクジェット、フェルトペン、穿孔、熱転写印字、スタンピング、シール貼り、等によりマーキングを施す、ようにすれば、後に当該非接触ＩＣタグの摘出に便利である。

上記課題を解決する本発明の要旨の第２は、１列に整列してつながる非接触ＩＣタグ連接体をリードライトする方法において、リーダライタ装置のアンテナ面と対面して非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを、リードライト時において該パッシブアンテナと該非接触ＩＣタグのアンテナパターンと、がその外形が一致するようににして、定間隔かつ平行に置き、当該リーダライタ装置のアンテナ面とパッシブアンテナの面間を非接触ＩＣタグ連接体が通過するようにして非接触ＩＣタグをリードライトすることを特徴とする非接触ＩＣタグのリードライト方法、にある。

上記の非接触ＩＣタグのリードライト方法において、リーダライタ装置のアンテナ面とパッシブアンテナ面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内とすれば、リードライト性能の向上のために適切である。また、非接触ＩＣタグの連接体が、剥離紙面上に粘着剤層を介して整列したものであってもよい。さらに、リーダライタ装置のアンテナ出力が可変であれば精度よいリードライトができる。

上記課題を解決する本発明の要旨の第３は、非接触ＩＣタグの通信性能を検査する検査装置において、該検査装置のアンテナ面と対面して被検査用非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを装着した平面状のホルダーを、パッシブアンテナの外形が被検査用非接触ＩＣタグのアンテナ外形に一致するようにして取り付けできる架台を、当該検査装置のアンテナ面と一定の間隔を置いて設置したことを特徴とする非接触ＩＣタグの検査装置、にある。

上記の非接触ＩＣタグの検査装置において、検査装置のアンテナ面とホルダー平面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内とすれば検査性能の向上のために適切である。また、検査装置のアンテナ出力が可変であれば精度よい検査ができる。

上記課題を解決する本発明の要旨の第４は、非接触ＩＣタグのリーダライタ装置において、該リーダライタ装置のアンテナ面と対面して被リードライト用非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを装着した平面状のホルダーを、パッシブアンテナの外形が被検査用非接触ＩＣタグのアンテナ外形に一致するようにして互換して取り付けできる架台を、当該リーダライタ装置のアンテナ面と一定の間隔を置いて設置したことを特徴とする非接触ＩＣタグのリーダライタ装置、にある。

上記において、リーダライタ装置のアンテナ面とホルダー平面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内とすれば、リードライト性能の向上のために適切である。また、リーダライタ装置のアンテナ出力が可変であれば精度よいリードライトができる。

本発明の検査方法は、検査対象である非接触ＩＣタグが、当該非接触ＩＣタグと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナが検査装置のアンテナ面と平行に置かれる面間隔を通過するようにされ、交信時に、非接触ＩＣタグとパッシブアンテナのアンテナ外形が一致し、電磁波の収束を効率よく行うことができる。その結果、隣接する非接触ＩＣタグ間とで生じる混信を排除でき、誤った検査を無くすことができる。
本発明のリードライト方法も同様の構成により同様の効果を奏するものである。

本発明の検査装置は、検査装置のアンテナ面と対面して被検査用非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを、その外形が一致するようにしてホルダーに取り付けし、当該ホルダーを互換できる架台を有するので被検査用非接触ＩＣタグに対応したパッシブアンテナを当該架台に取り付けでき、その結果、非接触ＩＣタグとパッシブアンテナ外形が一致し、電磁波の収束を効率よく行うことができるので隣接非接触ＩＣタグ間の混信を排除でき、誤った検査を無くすことができる。
本発明のリーダライタも同様の構成により同様の効果を奏するものである。

本発明の非接触ＩＣタグに関し、以下図面を参照して説明する。
図１は、本発明の検査方法、リードライト方法を説明する図、図２は、非接触ＩＣタグの平面形態を示す図、図３は、本発明の検査装置、リーダライタ装置を示す図、図４は、架台とホルダーの関係を示す図、である。

図１は、本発明の検査方法、リードライト方法を説明する図である。なお、以下は検査方法を主体に説明しているが、リードライト方法も同様に考えることができる。
図１（Ａ）のように、本発明の検査方法は、読取アンテナ２１面に対面してパッシブアンテナ４が平行して置かれた検査装置２０を使用して行う。検査装置２０は読取アンテナ２１部分とリーダライタモジュール２２部分からなるものであり、通常のリーダライタ装置と同一装置と考えてよい。読取アンテナ２１は前記のように、平面な基板に形成されていて、基板内にはループ状等のアンテナが形成されている。

パッシブアンテナ４とは、導体アンテナパターンのことであり、電源等との電気的な接続を行わない。本発明では、被検査用非接触ＩＣタグと同一非接触ＩＣタグの一単位をパッシブアンテナ４として用いる。そうすることが、実質的に同一パターン形状で同一特性となり好ましいからである。具体的には、検査対象の未使用の非接触ＩＣタグ１の先端の１単位を切り取りして、検査装置２０の平面状ホルダーに貼り付けし、架台に差し込みして使用するのが簡便である。従って、検査対象の非接触ＩＣタグが変わる場合には逐次同様にしてパッシブアンテナ４を交換して検査する。図１（Ａ）では、単位の非接触ＩＣタグ１のサイズが読取アンテナ２１とほぼ同一サイズの被検査用非接触ＩＣタグ連接体１Ｒが読み取りされている。
このように、両者が同一サイズの場合は読み取り不良になる場合は少ないが、検査装置の出力を小さくしても読み取りが可能になる。

図１（Ｂ）は、前記図５のように、読取アンテナ２１に対して小サイズの非接触ＩＣタグ１を検査している状態である。図１（Ｂ）のように、非接触ＩＣタグ連接体１Ｒの下側にパッシブアンテナ４を置き、検査装置２０の読取アンテナ２１から検査信号を送信すると、電磁波ｗはパッシブアンテナ４の方向に向かって収束するので、読み取りが効率よく、かつ確実に行われるようになる。パッシブアンテナ４の位置に特許文献１のように板状弱磁石を置くのと同様であるが、アンテナパターンの形状と特性が読み取りする非接触ＩＣタグと同一であるため、電磁波の収束効果が一層向上する。

読取アンテナ２１面とパッシブアンテナ４面間は、同一検査対象では定間隔かつ平行になるようにし、当該間隔内を非接触ＩＣタグの連接体１Ｒが通過するようにする。検査装置の読取アンテナ２１面とパッシブアンテナ４面間の当該間隔は、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内とするのが好ましい。０．５ｍｍ未満では非接触ＩＣタグの通過が困難になる場合があり、３０ｍｍを超える距離とする必要性は認められないからである。
非接触ＩＣタグ１のアンテナが、検査装置２０のアンテナ２１と顕著に異なる形状、特性である場合は、両者間の距離を比較的大きくしてもよい。ただし、非接触ＩＣタグ１とパッシブアンテナ４間は近接していることが好ましい。両者は同一パターン、特性であり近接していれば電磁波の収束効率が高くなるからである。

検査対象非接触ＩＣタグ１とパッシブアンテナ４のパターン形状が重なり合って一致した位置で、検査装置２０と非接触ＩＣタグ１との通信が行われ、読み取りされるのが好ましい。そのためには、検査装置２０が検査対象非接触ＩＣタグを光学的に認識して位置決めするのが好ましい。非接触ＩＣタグ連接体１Ｒは、読み取り時に停止して読み取られるものであっても、停止しないで走行状態で読み取られるものであっても構わない。例えば、非接触ＩＣタグが連接体であって間欠的に流れる場合は瞬時停止し、連続的に流れる場合は、アンテナパターンを透過光または反射光により光学的認識装置（センサ）により検知してから一定時間内に行われるようにするのが好ましい。

読み取り検査時に、読取アンテナ２１の出力が可変にできる検査装置が好ましい。通常のリーダライタ装置も一般的には出力可変にされているが、通常は高出力の状態のままで使用していることが多い。本発明の場合は、検査性能が向上するので、出力を低くして電力の節約が図れるからであり、読み取り困難時には出力アップして使用することも可能にするためである。長時間の検査では電力コストも無視できない問題がある。

図２は、非接触ＩＣタグの平面形態を示す図であって、図２（Ａ）は、非接触ＩＣタグが連接体１Ｒである場合を示している。非接触ＩＣタグ１は、良く知られるように透明なベースフィルム１１にアンテナパターン２を形成し、当該アンテナパターンの端部にＩＣチップ３を装着した形態のものである。通常は表面保護シートで覆われているので、ＩＣチップ３やアンテナパターン２は外面からは見えないようにされている。
本発明の検査方法では、非接触ＩＣタグ１が連続的に等間隔で繋がった連接体１Ｒを前提とする。勿論、非接触ＩＣタグ１の１単位も検査できるが、連接体１Ｒの場合が検査能率を高めることができる。連接体１Ｒの場合、連続した剥離紙８の面に打ち抜きしたＩＣタグの形状がラベル状に等間隔で置かれている。連接体はエンドレスに巻かれている状態のものでも、数単位または十数単位だけが直線平板状に繋がったものでもよい。
粘着剤層７（図１）は、剥離紙８とベースフィルム１１の間にのみ存在し、ラベルを使用する際は、剥離紙８から剥離して物品に貼付する。

図２（Ｂ）は、非接触ＩＣタグがインレットベース１Ｂである場合を示している。インレットベース１Ｂとは、ベースフィルム１１にアンテナパターン２を形成し、ＩＣチップ３を装着した直後の状態のものである。通常は、その後にラベルとするためのタック加工、表面保護シートのラミネート、打ち抜き加工を行うので、中間製品とも言えるが、インレットベース１Ｂの状態でも非接触ＩＣタグの機能を行うので、本発明では非接触ＩＣタグとして検査対象とする。最終加工を行う前の中間品の状態で検査することは通常のことである。最終加工をユーザー側で行う場合もあり、出荷検査が必要だからである。

このように、非接触ＩＣタグ１を検査する際は、通信性能不良または通信不能の非接触ＩＣタグを検出した場合は、その単位の非接触ＩＣタグ１について、インクジェット、フェルトペン、穿孔、熱転写印字、スタンピング、シール貼り、等によりマーキングを施すことが好ましい。通信性能不良とは間違った応答をする場合であり、通信不能とは検査装置２０から呼びかけしても応答しない場合である。インクジェット、フェルトペン、穿孔、熱転写印字、スタンピング、シール貼り、等のマーキングは、検査装置からの制御信号に基づいて、読取アンテナ２１から１ピッチまたは２ピッチ離れた位置で、それらの機構が動作してマーキングするようにされているのが好ましい。

次ぎに、検査装置、リーダライタ装置について説明する。図３は、本発明の検査装置、リーダライタ装置を示す概略断面図である。なお、以下は検査装置を主体に説明しているが、リーダライタ装置も同様の装置と考えることができる。
検査装置、リーダライタ装置は、１列に整列してつながる非接触ＩＣタグ連接体に使用できるが、整列状態ではない単品の非接触ＩＣタグやＩＣカードにも使用できるものである。単品であっても同種の非接触ＩＣタグやＩＣカードを連続して読み取り等する場合は、パッシブアンテナ４を使用するのが効率的となる。

本発明の検査装置２０は、図３のように、読取アンテナ２１とリーダライタモジュール２２を備え、板状の読取アンテナ２１の下面にパッシブアンテナ４を互換可能に装着する架台２４を備えている。前記のマーキング装置２７や光学的認識装置（センサ）２８も適宜な位置に設ける。非接触ＩＣタグ連接体１Ｒは、図上右側に移動して検査されている。 図３の場合、マーキング装置２７はインクジェットで検査結果不良の単位の非接触ＩＣタグ１にインキを吹き付けしてマークしている状態を示しているが、簡易な印刷装置であってもよい。架台２４は読取アンテナ２１と同等サイズかやや大きめの平面状ホルダーをスライドして保持できる構造とする。

図４は、架台とホルダーの関係を示す図である。ホルダー２５は例えば、図４（Ａ）のように、札入れサイズカード程度の大きさで、厚み０．５ｍｍから１．０ｍｍ程度はある平面状の単板とし、中央にパッシブアンテナ４を覗かせる開口２５ｋを設ける。開口２５ｋは無くても機能するが、プラスチック板の干渉をなくし位置合わせを容易にするためには開口を設けるのが好ましい。従って、パッシブアンテナ４の大きさ、種類により各種サイズを備え、各種開口２５ｋのホルダー２５を複数備えるのが好ましい。

架台２４は例えば、図４（Ｂ）のように、「コ」の字状に一方側が開口した枠体として、枠体の内側面には、ホルダー２５をスライドして嵌め込みするスリット溝２４ｍが形成されている。ホルダー２５の開口２５ｋにパッシブアンテナ４として、１単位の非接触ＩＣタグを平面になるようにセロハンテープ等により貼り付けし（図４（Ｃ））、前記架台２４のスリット溝２４ｍに差し込みして固定する。従って、スリット溝２４ｍは、ホルダー２５の単板を差し込みできる深さと溝厚みにする。
ホルダー２５がＩＣカード自体であって、当該ＩＣカードを架台２４の溝２４ｍに差し込みするものであってもよい。

ホルダー２５を架台２４のスリット溝２４ｍに差し込みして固定した際に、検査する非接触ＩＣタグ１とパッシブアンテナ４のアンテナの外形が一致した位置になるように調製する。架台２４を読取アンテナ２１や非接触ＩＣタグ１の停止位置に対して平行に上下動させたり、前後左右に移動させる微調製機構２９（図３）を設けることも好ましい。
架台２４とホルダー２５には金属材料を使用しないことが好ましい。電磁波の乱反射による干渉を避けるためである。

以上のような検査装置、リーダライタ装置は、非接触ＩＣタグの連接体のみならず、単一の非接触ＩＣタグやＩＣカードの検査、およびリードライトに利用できることは当業者には自明のことである。

本発明の検査方法、リードライト方法を説明する図である。 非接触ＩＣタグの平面形態を示す図でる。 本発明の検査装置、リーダライタ装置を示す図である。 架台とホルダーの関係を示す図である。 従来の検査方法を説明する図である。

符号の説明

１ 非接触ＩＣタグ
１Ｒ 非接触ＩＣタグ連接体
１Ｂ インレットベース
２ アンテナパターン
３ ＩＣチップ
４ パッシブアンテナ
７ 粘着剤層
８ 剥離紙
１１ ベースフィルム
２０ 検査装置、リーダライタ装置
２１ 読取アンテナ
２２ リーダライタモジュール
２３ 専用ケーブル
２４ 架台
２５ ホルダー

Claims (17)

1. １列に整列してつながる非接触ＩＣタグ連接体の通信性能を検査する方法において、検査装置のアンテナ面と対面して被検査用非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを、検査時において該パッシブアンテナと該非接触ＩＣタグのアンテナパターンと、がその外形が一致するようにして、定間隔かつ平行に置き、当該検査装置のアンテナ面とパッシブアンテナの面間を被検査用非接触ＩＣタグ連接体が通過するようにして非接触ＩＣタグを検査することを特徴とする非接触ＩＣタグの検査方法。
2. 検査装置のアンテナ面とパッシブアンテナ面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内であることを特徴とする請求項１記載の非接触ＩＣタグの検査方法。
3. 非接触ＩＣタグの連接体が、剥離紙面上に粘着剤層を介して整列していることを特徴とする請求項１または請求項２記載の非接触ＩＣタグの検査方法。
4. 非接触ＩＣタグの連接体が、インレットベースであることを特徴とする請求項１または請求項２記載の非接触ＩＣタグの検査方法。
5. 検査装置のアンテナ出力が可変であることを特徴とする請求項１記載の非接触ＩＣタグの検査方法。
6. 検査装置と検査対象非接触ＩＣタグとの通信が、検査装置が検査対象非接触ＩＣタグを検出してからの一定時間内に行われるものであり、非接触ＩＣタグの検出が非接触ＩＣタグを光学的に認識するものであることを特徴とする請求項１記載の非接触ＩＣタグの検査方法。
7. 通信性能不良または通信不能の単位の非接触ＩＣタグについて、インクジェット、フェルトペン、穿孔、熱転写印字、スタンピング、シール貼り、等によりマーキングを施すことを特徴とする請求項１記載の非接触ＩＣタグの検査方法。
8. １列に整列してつながる非接触ＩＣタグ連接体をリードライトする方法において、リーダライタ装置のアンテナ面と対面して非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを、リードライト時において該パッシブアンテナと該非接触ＩＣタグのアンテナパターンと、がその外形が一致するようににして、定間隔かつ平行に置き、当該リーダライタ装置のアンテナ面とパッシブアンテナの面間を非接触ＩＣタグ連接体が通過するようにして非接触ＩＣタグをリードライトすることを特徴とする非接触ＩＣタグのリードライト方法。
9. リーダライタ装置のアンテナ面とパッシブアンテナ面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内であることを特徴とする請求項８記載の非接触ＩＣタグのリードライト方法。
10. 非接触ＩＣタグの連接体が、剥離紙面上に粘着剤層を介して整列していることを特徴とする請求項８または請求項９記載の非接触ＩＣタグのリードライト方法。
11. リーダライタ装置のアンテナ出力が可変であることを特徴とする請求項８記載の非接触ＩＣタグのリードライト方法。
12. 非接触ＩＣタグの通信性能を検査する検査装置において、該検査装置のアンテナ面と対面して被検査用非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを装着した平面状のホルダーを、パッシブアンテナの外形が被検査用非接触ＩＣタグのアンテナ外形に一致するようにして取り付けできる架台を、当該検査装置のアンテナ面と一定の間隔を置いて設置したことを特徴とする非接触ＩＣタグの検査装置。
13. 検査装置のアンテナ面とホルダー平面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内であることを特徴とする請求項１２記載の非接触ＩＣタグの検査装置。
14. 検査装置のアンテナ出力が可変であることを特徴とする請求項１２記載の非接触ＩＣタグの検査装置。
15. 非接触ＩＣタグのリーダライタ装置において、該リーダライタ装置のアンテナ面と対面して被リードライト用非接触ＩＣタグのアンテナと実質的に同一パターン形状で同一特性のパッシブアンテナを装着した平面状のホルダーを、パッシブアンテナの外形が被検査用非接触ＩＣタグのアンテナ外形に一致するようにして互換して取り付けできる架台を、当該リーダライタ装置のアンテナ面と一定の間隔を置いて設置したことを特徴とする非接触ＩＣタグのリーダライタ装置。
16. リーダライタ装置のアンテナ面とホルダー平面の間隔が、０．５ｍｍ以上であって、３０ｍｍ以内であることを特徴とする請求項１５記載の非接触ＩＣタグのリーダライタ装置。
17. リーダライタ装置のアンテナ出力が可変であることを特徴とする請求項１５記載の非接触ＩＣタグのリーダライタ装置。
    
    
    
    
    

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