JP2007187762A - 自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラム - Google Patents
自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007187762A JP2007187762A JP2006004264A JP2006004264A JP2007187762A JP 2007187762 A JP2007187762 A JP 2007187762A JP 2006004264 A JP2006004264 A JP 2006004264A JP 2006004264 A JP2006004264 A JP 2006004264A JP 2007187762 A JP2007187762 A JP 2007187762A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- deterioration
- gradation value
- pixel
- dummy
- luminance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【課題】発光時間の寿命を単に延長するだけであり、焼きつき現象の発生を本質的に補正できない。
【解決手段】表示パネルの有効表示領域の外側に、ダミー画素と輝度検出センサーを搭載する。この場合に、ダミー画素に有効表示領域内の平均階調値の２倍値を与え、将来の劣化状態を事前に発生する。このように劣化が進んだダミー画素の発光輝度を通じて、将来時点に相当する累積劣化量を測定する。この後、累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量を対応付けた参照テーブルを参照し、入力表示データに対応する単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する。
【選択図】図３
【解決手段】表示パネルの有効表示領域の外側に、ダミー画素と輝度検出センサーを搭載する。この場合に、ダミー画素に有効表示領域内の平均階調値の２倍値を与え、将来の劣化状態を事前に発生する。このように劣化が進んだダミー画素の発光輝度を通じて、将来時点に相当する累積劣化量を測定する。この後、累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量を対応付けた参照テーブルを参照し、入力表示データに対応する単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する。
【選択図】図３
Description
この明細書で説明する発明は、経時的な劣化特性の変動に応じ、適切な補正制御を実現する技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラムとしての側面を有する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラムとしての側面を有する。
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主に液晶ディスプレイパネルが多く採用されている。しかし、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることが一般にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
また、基本発光色毎に複数種類の自発光素子を用いる場合や複数種類の基本発光色を発生できる発光素子を用いる場合、各発光色の劣化特性が一致しない場合が多く見られる。
この場合、“焼きつき”部分では、ホワイトバランスがずれて色がついたように見えたり、暗く見える現象が発生する。
これらの理由により、従来から“焼きつき”現象の抑制方法又は改善方法が検討されてきた。特に従来は、発光体を構成する材料の発光寿命を改善することにより、画面の“焼きつき”現象を抑えることが一番好ましいと考えられてきた。
この場合、“焼きつき”部分では、ホワイトバランスがずれて色がついたように見えたり、暗く見える現象が発生する。
これらの理由により、従来から“焼きつき”現象の抑制方法又は改善方法が検討されてきた。特に従来は、発光体を構成する材料の発光寿命を改善することにより、画面の“焼きつき”現象を抑えることが一番好ましいと考えられてきた。
しかし、自発光表示装置では発光体を構成する材料の発光寿命がいくら延びたとしても、原理的に焼きつきを０（ゼロ）にすることはできない。また、自発光表示装置に映し出される映像の内容は様々であり、“焼きつき”が起こりやすい映像信号のみが入力される場合がある。すなわち、発光体を構成する材料の発光寿命を改善するだけでは“焼きつき”を防ぐことができない。また、このように発光体を構成する材料の発光寿命に依存する方法は、“焼きつき”の改善が材料の開発スピードやコスト等に依存する問題がある。
発光体を構成する材料の発光寿命を改善する方法以外には、特許文献１その他の改善方法が検討されている。
特許文献１には、表示パネルが発光している時間を累積し、その時間に応じて全体輝度を抑制する改善方法が開示されている。すなわち、この改善方法では、発光特性の劣化速度を抑制することにより焼き付き現象を軽減する手法が開示されている。
特開２０００−３５６９８１号公報
特許文献１には、表示パネルが発光している時間を累積し、その時間に応じて全体輝度を抑制する改善方法が開示されている。すなわち、この改善方法では、発光特性の劣化速度を抑制することにより焼き付き現象を軽減する手法が開示されている。
しかし、特許文献に開示された発明は、発光時間の寿命を単に延長しているだけであり、焼きつき現象の発生を本質的に補正することができない。
そこで、発明者らは、劣化特性が経時的に変動する場合にも、焼き付き現象を効果的に補正できる仕組みを提案する。
（Ａ）仕組み１
ダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値をダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は基準画素よりも大きい階調値をダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値をダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）ダミー画素について測定された発光輝度に基づいて、将来時点に対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
（Ａ）仕組み１
ダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値をダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は基準画素よりも大きい階調値をダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値をダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）ダミー画素について測定された発光輝度に基づいて、将来時点に対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
（Ｂ）仕組み２
第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合に、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の測定タイミングの直前期間には、基準画素と同じ階調値を前記第１のダミー画素に与える一方で、基準画素よりも大きい階調値を第２のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、現在時点と将来時点に対応するテーブル値を読み出し、それらの平均値で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合に、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の測定タイミングの直前期間には、基準画素と同じ階調値を前記第１のダミー画素に与える一方で、基準画素よりも大きい階調値を第２のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、現在時点と将来時点に対応するテーブル値を読み出し、それらの平均値で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
（Ｃ）仕組み３
第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合に、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を第１及び第２のダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与え、第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）現在時点の累積劣化量と将来時点の累積劣化量とに基づいて将来期間に対応する劣化率を算出する劣化率算出処理
（ｄ）平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合に、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を第１及び第２のダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与え、第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）現在時点の累積劣化量と将来時点の累積劣化量とに基づいて将来期間に対応する劣化率を算出する劣化率算出処理
（ｄ）平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
（Ｄ）仕組み４
第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合に、各画素の劣化情報に応じて補正量を決定する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を第１及び第２のダミー画素に与え、輝度劣化の加速期間中は第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与える一方で、第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）現在時点の累積劣化量、将来時点の累積劣化量及び階調値／劣化率変換テーブルを参照して入力表示データより算出した基準画素に対する各画素の累積劣化量差に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定処理
第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合に、各画素の劣化情報に応じて補正量を決定する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
（ａ）輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を第１及び第２のダミー画素に与え、輝度劣化の加速期間中は第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与える一方で、第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定処理
（ｂ）第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
（ｃ）現在時点の累積劣化量、将来時点の累積劣化量及び階調値／劣化率変換テーブルを参照して入力表示データより算出した基準画素に対する各画素の累積劣化量差に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定処理
有効表示領域の外側に配置したダミー画素に基準画素に与えられる階調値よりも大きい階調値を与えて、将来時点の劣化状態に対応する発光輝度の事前測定を可能とし、将来期間の劣化状況を反映した階調値／劣化特性変換テーブルの更新又は補正値の決定を実現する。この結果、焼き付き現象の補正精度が向上する。
以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
（Ａ）発光特性の変動を劣化量の見積もり時に正確に反映する技術
（Ａ−１）基本的な考え方
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機ＥＬ素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。
（Ａ−１）基本的な考え方
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機ＥＬ素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。
そこで、発明者らは、有機ＥＬ素子の発光特性の経時的な変動を実測し、実測結果を劣化量の見積もりに反映する仕組みを提案する。
図１に、発光時間長の違いによる劣化速度（率）の経時変化を示す。図１は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線ＤAPL は、ある画素（例えば、劣化特性測定用のダミー画素）を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。
図１に、発光時間長の違いによる劣化速度（率）の経時変化を示す。図１は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線ＤAPL は、ある画素（例えば、劣化特性測定用のダミー画素）を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。
図１に波線で示す直線αt1は、ｔ１時点での輝度劣化の進行速度（劣化率）を示す。また、図１に一点鎖線で示す直線αt2は、ｔ２時点での輝度劣化の進行速度（劣化率）を示す。２つの直線の傾きを比べて分かるように、輝度劣化の進行速度は時間の経過に伴って変化する。すなわち、一定の階調値で発光体が点灯制御される場合でも劣化速度は時間の経過とともに変化する。
従って、正確な劣化量の見積もりを実現するには、経時変化を加味して階調値と劣化率（量）の対応関係を可変する必要がある。
従って、正確な劣化量の見積もりを実現するには、経時変化を加味して階調値と劣化率（量）の対応関係を可変する必要がある。
ただし、前述したように階調値と劣化率（量）の対応関係は、パネル間の特性差その他の要因により変化する。このため、事前の実験等を通じて全ての要因を満たす対応関係を用意することは事実上困難である。
そこで、発明者らは、各発光パネルに固有の劣化特性を使用中に実測し、実測された階調値と劣化率（量）との対応関係に基づいて劣化量を見積もり精度や補正精度を向上させる手法を提案する。
そこで、発明者らは、各発光パネルに固有の劣化特性を使用中に実測し、実測された階調値と劣化率（量）との対応関係に基づいて劣化量を見積もり精度や補正精度を向上させる手法を提案する。
（Ａ−２）表示パネルの構成例
図２に、有機ＥＬパネルモジュールの構成例を示す。図２は、説明上必要となる主要な構成要素の観点から表した図であり、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
有機ＥＬパネルモジュール１は、有効表示領域３とダミー画素領域５で構成する。
有効表示領域３は、発光が外部から観察できる領域である。一方、ダミー画素領域５は、発光が外部から観察されないように遮光された領域であり、有効表示領域３の外側に配置される。
図２に、有機ＥＬパネルモジュールの構成例を示す。図２は、説明上必要となる主要な構成要素の観点から表した図であり、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
有機ＥＬパネルモジュール１は、有効表示領域３とダミー画素領域５で構成する。
有効表示領域３は、発光が外部から観察できる領域である。一方、ダミー画素領域５は、発光が外部から観察されないように遮光された領域であり、有効表示領域３の外側に配置される。
図２の場合、ダミー画素領域５は１つのダミー画素５１で構成する。ダミー画素５１は、画面全体の劣化特性の検出用に使用する。図３に、ダミー画素５１の発光制御例を示す。現在又は過去の劣化特性を測定する場合、ダミー画素５１には画面全体の平均階調値ＤAPL を与え、継続的に発光制御する。ただし、これだけでは将来期間に発生する画素間の劣化量差を測定することができない。
そこで、発明者らは、加速期間の開始まで（ｔ１まで）はダミー画素５１を画面全体の平均階調値ＤAPL で発光制御し、加速期間中（ｔ１〜ｔ２まで）はダミー画素５１を画面全体の平均階調値ＤAPL の２倍（２ＤAPL ）で発光制御する手法を提案する。
なお、加速期間終了時の劣化量は、期間ｔ１〜ｔ３を画面全体の平均階調値平均階調値ＤAPLで発光制御した場合の劣化量と同じになる。
なお、加速期間終了時の劣化量は、期間ｔ１〜ｔ３を画面全体の平均階調値平均階調値ＤAPLで発光制御した場合の劣化量と同じになる。
ダミー画素５１に与える階調値を、平均階調値よりも大きな値（図３の場合は２倍）に制御することにより、その倍率に応じた将来期間の劣化量を予測値として測定することが可能になる。勿論、この劣化量は、将来期間も加速期間中と同じ平均階調値で画面全体が発光制御されることが前提となる。しかし、多くの場合、表示される映像の内容は長期的にはほぼ一定になる。このため、実用上十分な見積もり精度を保証することができる。
なお、ダミー画素５１は、それぞれ表示上の１画素に対応する。表示上の１画素は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）に対応する３つのダミー画素で構成される。将来期間の劣化量は、基本発光色単位で算出する。
図４に、有機ＥＬパネルモジュールの具体例を示す。図４の場合、基本発光色単位でのダミー画素数は各１個である。図４の場合、１行目からＮ行目までが有効表示領域３であり、Ｎ＋１行目がダミー画素領域５である。ダミー画素５１は、ブランキング期間に発光制御する。
図４に、有機ＥＬパネルモジュールの具体例を示す。図４の場合、基本発光色単位でのダミー画素数は各１個である。図４の場合、１行目からＮ行目までが有効表示領域３であり、Ｎ＋１行目がダミー画素領域５である。ダミー画素５１は、ブランキング期間に発光制御する。
なお、発明者らの提案する表示パネルは、一般的な表示パネルに選択線（ゲート駆動線）を１本追加するだけで実現することができる。すなわち、ダミー画素５１は、有効表示領域３内の各画素と同じ構造で良く、既存の駆動回路を流用することができる。従って、ダミー画素の駆動には、専用の駆動回路や大規模な駆動回路を必要としない。
ダミー画素５１を構成する各発光体の発光輝度は、不図示の輝度検出センサーによって検出する。
ダミー画素５１を構成する各発光体の発光輝度は、不図示の輝度検出センサーによって検出する。
図５に、輝度検出センサー７の配置例を示す。輝度検出センサー７は、ダミー画素５１を単位としてその全体を覆うように、又は基本発光色別のダミー画素を単位としてその全体を覆うように配置する。もっとも、輝度検出センサーは、基本発光色別の各ダミー画素内に配置することもできる。輝度検出センサー７は、ダミー画素５１から出力される可視光を検出して電気信号に変換する。
光検出素子には任意の検出センサーを適用する。この形態例の場合、光検出素子には、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーを使用する。
なお、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、光検出信号として出力される。
なお、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、光検出信号として出力される。
（Ｂ）好適な形態例
以下、前述した劣化特性の更新技術を採用する有機ＥＬディスプレイ装置の形態例を説明する。
（Ｂ−１）形態例１
（ａ）概略構成
この形態例では、将来期間の劣化特性を実測し、実測結果に基づいて階調値／劣化量変換テーブルを更新する場合について説明する。
図６に、この形態例で説明する有機ＥＬディスプレイ装置１１のシステム構成の概略を示す。有機ＥＬディスプレイ装置１１は、有機ＥＬパネルモジュール１３、入力表示データ補正部１５及び変換テーブル更新部１７で構成する。
以下、前述した劣化特性の更新技術を採用する有機ＥＬディスプレイ装置の形態例を説明する。
（Ｂ−１）形態例１
（ａ）概略構成
この形態例では、将来期間の劣化特性を実測し、実測結果に基づいて階調値／劣化量変換テーブルを更新する場合について説明する。
図６に、この形態例で説明する有機ＥＬディスプレイ装置１１のシステム構成の概略を示す。有機ＥＬディスプレイ装置１１は、有機ＥＬパネルモジュール１３、入力表示データ補正部１５及び変換テーブル更新部１７で構成する。
有機ＥＬパネルモジュール１３には、図４に示す構造を採用する。すなわち、全画面の平均階調値で発光制御するダミー画素５１とその２倍の階調値で発光制御するダミー画素５２を有効表示領域３の外側に配置した表示パネルを採用する。
入力表示データ補正部１５は、有効表示領域３を構成する各画素の劣化量が基本発光色別に定めた基準画素の劣化量に揃うように入力表示データを個別に補正する処理デバイスである。ここでの基準画素には、入力表示データの平均階調値で継続的に発光制御される画素を想定する。
入力表示データ補正部１５は、有効表示領域３を構成する各画素の劣化量が基本発光色別に定めた基準画素の劣化量に揃うように入力表示データを個別に補正する処理デバイスである。ここでの基準画素には、入力表示データの平均階調値で継続的に発光制御される画素を想定する。
変換テーブル更新部１７は、ダミー画素５１に対するダミー画素データを生成する処理と、各ダミー画素に対応する発光輝度の測定値に基づいて将来期間の劣化状態を反映した階調値と劣化率の関係を特定する処理を実行する処理デバイスである。
なお、特定された階調値と劣化率の対応関係は、変換テーブル更新データとして入力表示データ補正部１５に出力される。
なお、特定された階調値と劣化率の対応関係は、変換テーブル更新データとして入力表示データ補正部１５に出力される。
（ｂ）入力表示データ補正部の構成
図７に、入力表示データ補正部１５の詳細構成例を示す。入力表示データ補正部１５は、階調値／劣化量変換テーブル１５１、単位劣化量差算出部１５３、累積劣化量差蓄積部１５５、補正量決定部１５７及び映像信号補正部１５９で構成する。
図７に、入力表示データ補正部１５の詳細構成例を示す。入力表示データ補正部１５は、階調値／劣化量変換テーブル１５１、単位劣化量差算出部１５３、累積劣化量差蓄積部１５５、補正量決定部１５７及び映像信号補正部１５９で構成する。
階調値／劣化量変換テーブル１５１は、入力表示データ（階調値）を単位劣化量に変換するテーブルである。変換テーブルを用いるのは、有機ＥＬ素子の劣化の進行が階調値と比例関係にないためである。図８に、階調値／劣化量変換テーブル１５１の一例を示す。階調値／劣化量変換テーブル１５１には、入力表示データの全階調値と、これらに対応する単位劣化量とが関連付けられて記憶されている。単位劣化量Ｒは、各階調値に対応する劣化速度（劣化率）と発光期間ｔとの積として与えられる。発光期間ｔは、固定でも可変でも良い。
単位劣化量差算出部１５３は、ある基準画素と有効表示領域内の各画素との間に新たに発生する単位劣化量差を算出する処理デバイスである。基準画素は、１フレームを構成する全画素の平均階調値で発光する画素を想定する。平均階調値は基本発光色別に設定する。
累積劣化量差蓄積部１５５は、基準画素に対する各画素の単位劣化量差を累積した劣化量差を保存する記憶領域又は記憶装置である。累積劣化量差は、基準画素に対する劣化の進行度（進んでいるか遅れているか）及び進行度の度合いを表す。
累積劣化量差蓄積部１５５は、基準画素に対する各画素の単位劣化量差を累積した劣化量差を保存する記憶領域又は記憶装置である。累積劣化量差は、基準画素に対する劣化の進行度（進んでいるか遅れているか）及び進行度の度合いを表す。
補正量決定部１５７は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。補正量の決定方法には、累積劣化量差を無くすように補正値を決定する方法を採用する。
映像信号補正部１５９は、入力表示データを補正表示データに変換する処理デバイスである。この形態例の場合、映像信号補正部１５９は、入力表示データに補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部１５７より与えられる。変換後の補正表示データは、階調値／劣化量変換テーブル１５１と変換テーブル更新部１７に与えられる。
映像信号補正部１５９は、入力表示データを補正表示データに変換する処理デバイスである。この形態例の場合、映像信号補正部１５９は、入力表示データに補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部１５７より与えられる。変換後の補正表示データは、階調値／劣化量変換テーブル１５１と変換テーブル更新部１７に与えられる。
（ｃ）変換テーブル更新部の構成
図７に、変換テーブル更新部１７の詳細構成例を示す。変換テーブル更新部１７は、ダミー画素データ決定部１７１、ダミー画素データ多重部１７３、累積劣化量検出部１７５及びテーブル更新部１７７で構成する。
ダミー画素データ決定部１７１は、Ｎ＋１行目に配置されたダミー画素５１に供給するダミー画素データを決定する処理デバイスである。前述したように、ダミー画素５１には、加速開始前の期間と加速期間中とで異なるダミー画素データを供給する。
図７に、変換テーブル更新部１７の詳細構成例を示す。変換テーブル更新部１７は、ダミー画素データ決定部１７１、ダミー画素データ多重部１７３、累積劣化量検出部１７５及びテーブル更新部１７７で構成する。
ダミー画素データ決定部１７１は、Ｎ＋１行目に配置されたダミー画素５１に供給するダミー画素データを決定する処理デバイスである。前述したように、ダミー画素５１には、加速開始前の期間と加速期間中とで異なるダミー画素データを供給する。
例えば加速期間が開始されるまで（ｔ１まで）の間、ダミー画素５１には、画面全体の平均階調値ＤAPL を与える。なお、平均階調値は、基本発光色別（すなわちＲＧＢ別）に算出され、それぞれ対応する発光体に与えられる。
また例えば加速期間（ｔ１〜ｔ２まで）の間、ダミー画素５１には、画面全体の平均階調値ＤAPL の２倍値（２ＤAPL ）が与えられる。
なお、劣化特性の測定タイミング（ｔ２）において、ダミー画素５１には、基本発光色別に設定された階調値（例えば１００％輝度レベルに対応する階調値）が与えられる。
また例えば加速期間（ｔ１〜ｔ２まで）の間、ダミー画素５１には、画面全体の平均階調値ＤAPL の２倍値（２ＤAPL ）が与えられる。
なお、劣化特性の測定タイミング（ｔ２）において、ダミー画素５１には、基本発光色別に設定された階調値（例えば１００％輝度レベルに対応する階調値）が与えられる。
ダミー画素データ多重部１７３は、ダミー画素データを補正表示データに多重して有機ＥＬパネルモジュール１３に出力する処理デバイスである。
累積劣化量検出部１７５は、劣化特性の測定タイミングでのダミー画素の発光輝度の劣化度合いを初期輝度に対する累積劣化量Ｒ（実測値）として検出する処理デバイスである。図９に示すように、累積劣化量Ｒ（実測値）は、初期輝度を１００％とした低下割合として与えられる。
累積劣化量検出部１７５は、劣化特性の測定タイミングでのダミー画素の発光輝度の劣化度合いを初期輝度に対する累積劣化量Ｒ（実測値）として検出する処理デバイスである。図９に示すように、累積劣化量Ｒ（実測値）は、初期輝度を１００％とした低下割合として与えられる。
テーブル更新部１７７は、検出された累積劣化量Ｒに関連づけられた階調値と単位劣化量（劣化率）の対応関係を参照テーブルより読み出し、読み出された対応関係で階調値／劣化量変換テーブル１５１を更新する処理デバイスである。参照テーブルには、事前に設定された累積劣化量別の対応関係が全ての階調値に対応づけて格納されている。図１０に、参照テーブルの一例を示す。図１０の場合、全階調値と単位劣化量（劣化率）との対応関係が１％刻みで累積劣化量Ｒに関連づけられている。
（ｄ）劣化特性の測定及び変換テーブルの更新動作
図１１に、この形態例における処理動作の内容を示す。
図１１に示すように、有機ＥＬパネルモジュール１３の使用開始から時点ｔ１までの間、ダミー画素５１には、フレーム単位で算出される入力表示データの平均階調値ＤAPL がダミー画素データとして与えられる。この際、平均階調値は、基本発光色別（ＲＧＢ別）に与えられる。
図１１に、この形態例における処理動作の内容を示す。
図１１に示すように、有機ＥＬパネルモジュール１３の使用開始から時点ｔ１までの間、ダミー画素５１には、フレーム単位で算出される入力表示データの平均階調値ＤAPL がダミー画素データとして与えられる。この際、平均階調値は、基本発光色別（ＲＧＢ別）に与えられる。
これにより、ダミー画素５１の発光特性は、有効表示領域の全体的な発光特性と同様に低下する。
なお、この期間中、単位劣化量差算出部１５３は、初期設定時の階調値／劣化量変換テーブル１５１を参照して補正表示データを単位劣化量（劣化率）に変換する。また、補正量決定部１５７は、基準画素に対する各画素の単位劣化量差に応じ、各画素の累積劣化量が基準画素の累積劣化量に近づくように補正値を決定する。この結果、映像信号補正部１５９から有効ＥＬパネルモジュール１３に対しては、補正値により補正された入力表示データが補正表示データとして出力される。
なお、この期間中、単位劣化量差算出部１５３は、初期設定時の階調値／劣化量変換テーブル１５１を参照して補正表示データを単位劣化量（劣化率）に変換する。また、補正量決定部１５７は、基準画素に対する各画素の単位劣化量差に応じ、各画素の累積劣化量が基準画素の累積劣化量に近づくように補正値を決定する。この結果、映像信号補正部１５９から有効ＥＬパネルモジュール１３に対しては、補正値により補正された入力表示データが補正表示データとして出力される。
やがて、時点ｔ１になると、ダミー画素データ決定部１７１は、事前に設定した時点ｔ２までの間、フレーム単位で算出される入力表示データの平均階調値の２倍値２ＤAPL をダミー画素５１に与える。これにより、ダミー画素５１の発光特性の劣化特性は加速される。
この期間中も、単位劣化量差算出部１５３は、初期設定時の階調値／劣化量変換テーブル１５１を参照して補正表示データを劣化量に変換する。
この期間中も、単位劣化量差算出部１５３は、初期設定時の階調値／劣化量変換テーブル１５１を参照して補正表示データを劣化量に変換する。
また、補正量決定部１５７は、基準画素に対する各画素の累積劣化量差に応じ、各画素の累積劣化量が基準画素の累積劣化量に近づくように補正値を決定する。この結果、映像信号補正部１５９から有効ＥＬパネルモジュール１３に対しては、補正値により補正された入力表示データが補正表示データとして出力される。
やがて、時点ｔ２になると、ダミー画素データ決定部１７１は、ダミー画素の発光特性の測定用に設定した特定階調値（例えば、階調値が８ビットで与えられる場合は２５５）をダミー画素データとして出力する。
やがて、時点ｔ２になると、ダミー画素データ決定部１７１は、ダミー画素の発光特性の測定用に設定した特定階調値（例えば、階調値が８ビットで与えられる場合は２５５）をダミー画素データとして出力する。
この際の発光輝度が輝度検出センサー７により検出され、検出結果が累積劣化量検出部１７５に与えられる。累積劣化量検出部１７５は、検出された発光輝度の初期輝度に対する劣化率Ｒを求め、求められた値をテーブル更新部１７７に出力する。
テーブル更新部１７７は、実測された累積劣化量Ｒに対応する全階調値と単位劣化量との対応関係を参照テーブルより読み出し、読み出された対応関係で階調値／劣化量変換テーブル１５１を更新する。
テーブル更新部１７７は、実測された累積劣化量Ｒに対応する全階調値と単位劣化量との対応関係を参照テーブルより読み出し、読み出された対応関係で階調値／劣化量変換テーブル１５１を更新する。
これにより、時点ｔ２後における各画素の累積劣化量は、この更新後の変換テーブルを用いて算出される。
前述したように、更新後の対応関係は、これからの使用期間における各画素（発光体）の劣化特性を正確に反映している。このため、劣化量の見積もり精度は向上する。結果として補正精度が向上し、画素間の劣化量差の拡大が抑制され又は改善される。
前述したように、更新後の対応関係は、これからの使用期間における各画素（発光体）の劣化特性を正確に反映している。このため、劣化量の見積もり精度は向上する。結果として補正精度が向上し、画素間の劣化量差の拡大が抑制され又は改善される。
（ｅ）形態例の効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、有効表示領域３の外側にダミー画素５１を１つ配置し、将来期間の劣化特性の測定を開始するまでは（すなわち、加速期間の開始までは）、各基本発光色に対応する入力表示データの平均階調値で発光制御する。これにより、将来期間の劣化特性の測定を開始するまでのダミー画素の劣化特性と有効表示領域内の劣化特性との一致が保証される。
以上説明したように、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、有効表示領域３の外側にダミー画素５１を１つ配置し、将来期間の劣化特性の測定を開始するまでは（すなわち、加速期間の開始までは）、各基本発光色に対応する入力表示データの平均階調値で発光制御する。これにより、将来期間の劣化特性の測定を開始するまでのダミー画素の劣化特性と有効表示領域内の劣化特性との一致が保証される。
この状態で、入力表示データの平均階調値の２倍値をダミー画素５１に与える。これにより、加速期間と同じ表示が将来期間も継続する場合の劣化状態を将来期間の開始前に再現することができる。このように劣化が加速されたダミー画素の発光輝度を測定すれば将来時点の累積劣化量Ｒが判明し、累積劣化量Ｒに応じた対応関係で階調値／劣化量変換テーブル１５１を更新することができる。
この結果、将来期間に入力される入力表示データに対応する劣化量の正確な見積もりを可能にできる。
この結果、将来期間に入力される入力表示データに対応する劣化量の正確な見積もりを可能にできる。
かくして、補正量決定部１５７で決定される補正量の精度も向上することができ、長時間の使用でも焼き付き現象の発生し難い、又は焼き付き現象の改善が可能な有機ＥＬディスプレイ装置を実現することができる。
勿論、これらの効果は、実測結果を使用した簡単な信号処理だけで実現できる。このため、従来技術のように、経時変化等の全ての事象を考慮した事前の膨大な実験を不要にできる。このため、製造コストの大幅な削減を実現できる。
勿論、これらの効果は、実測結果を使用した簡単な信号処理だけで実現できる。このため、従来技術のように、経時変化等の全ての事象を考慮した事前の膨大な実験を不要にできる。このため、製造コストの大幅な削減を実現できる。
また、形態例で説明した処理手法は、制御内容が単純であるので画面サイズが大型化しても低コストで実現できる。
また、ダミー画素は有効表示領域とまったく同じ画素構成で製造でき、ダミー画素専用の複雑な回路構成や特殊な制御動作を必要としない。この点でも、回路規模の削減と生産難易度の低減との点で有利である。
また、ダミー画素は有効表示領域とまったく同じ画素構成で製造でき、ダミー画素専用の複雑な回路構成や特殊な制御動作を必要としない。この点でも、回路規模の削減と生産難易度の低減との点で有利である。
（Ｂ−２）形態例２
この形態例では、ダミー画素を複数個配置し、使用期間中に階調値／劣化量変換テーブル１５１を複数回更新する手法について説明する。
図１２に、この形態例で採用する有機ＥＬパネルモジュール１３の構成例を示す。図１２の場合、有効表示領域１３１の外側に４つのダミー画素１３３１〜１３３４で構成されるダミー画素領域１３３を配置する。この形態例では、これら４つのダミー画素１３３１〜１３３４を使用することで、有機ＥＬパネルモジュール１３の使用中に階調値／劣化量変換テーブル１５１を４回更新する技術を説明する。
この形態例では、ダミー画素を複数個配置し、使用期間中に階調値／劣化量変換テーブル１５１を複数回更新する手法について説明する。
図１２に、この形態例で採用する有機ＥＬパネルモジュール１３の構成例を示す。図１２の場合、有効表示領域１３１の外側に４つのダミー画素１３３１〜１３３４で構成されるダミー画素領域１３３を配置する。この形態例では、これら４つのダミー画素１３３１〜１３３４を使用することで、有機ＥＬパネルモジュール１３の使用中に階調値／劣化量変換テーブル１５１を４回更新する技術を説明する。
図１３に、これらの４つのダミー画素の発光制御例を示す。
図１３の場合、期間ｔ１〜ｔ２の間、ダミー画素１３３１を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３１は、将来時点ｔ３の劣化状態の予測に使用する。また、期間ｔ２〜ｔ３の間、ダミー画素１３３２を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３２は、将来時点ｔ４の劣化状態の予測に使用する。また、期間ｔ３〜ｔ４の間、ダミー画素１３３３を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３３は、将来時点ｔ５の劣化状態の予測に使用する。また、期間ｔ４〜ｔ５の間、ダミー画素１３３４を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３４は、将来時点ｔ６の劣化状態の予測に使用する。
図１３の場合、期間ｔ１〜ｔ２の間、ダミー画素１３３１を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３１は、将来時点ｔ３の劣化状態の予測に使用する。また、期間ｔ２〜ｔ３の間、ダミー画素１３３２を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３２は、将来時点ｔ４の劣化状態の予測に使用する。また、期間ｔ３〜ｔ４の間、ダミー画素１３３３を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３３は、将来時点ｔ５の劣化状態の予測に使用する。また、期間ｔ４〜ｔ５の間、ダミー画素１３３４を平均階調値の２倍値（２ＤAPL ）で発光制御する。ダミー画素１３３４は、将来時点ｔ６の劣化状態の予測に使用する。
勿論、各ダミー画素は、加速条件での発光制御が開始されるまでは、有効表示領域１３１の平均階調値で発光制御する。例えば、ダミー画素１３３２であれば、時点ｔ２までは有効表示領域１３１の平均階調値で発光制御する。
このように、４つのダミー画素を順番に発光制御すれば、使用期間中に劣化特性が大きく変化する場合は勿論のこと、劣化特性の変化が比較的少ない場合でも単位劣化量への変換精度を向上させることができる。
このように、４つのダミー画素を順番に発光制御すれば、使用期間中に劣化特性が大きく変化する場合は勿論のこと、劣化特性の変化が比較的少ない場合でも単位劣化量への変換精度を向上させることができる。
（Ｂ−３）形態例３
この形態例では、一組のダミー画素を配置し、階調値／劣化量変換テーブルを更新する他の手法について説明する。
図１４に、一組のダミー画素を搭載する有機ＥＬパネルモジュール２３の構成例を示す。図１４の場合、有効表示領域２３１の外側に２つのダミー画素２３３１及び２３３２で構成されるダミー画素領域２３３を配置する。
ただし、この形態例の場合、２つのダミー画素を一組として同時並行的に発光制御し、その測定結果に基づいて変換テーブルの更新データを算出する。
この形態例では、一組のダミー画素を配置し、階調値／劣化量変換テーブルを更新する他の手法について説明する。
図１４に、一組のダミー画素を搭載する有機ＥＬパネルモジュール２３の構成例を示す。図１４の場合、有効表示領域２３１の外側に２つのダミー画素２３３１及び２３３２で構成されるダミー画素領域２３３を配置する。
ただし、この形態例の場合、２つのダミー画素を一組として同時並行的に発光制御し、その測定結果に基づいて変換テーブルの更新データを算出する。
具体的には、図１５に示すように、ダミー画素２３３１を平均階調値ＤAPL で発光制御している最中に、ダミー画素２３３２を平均階調値ＤAPL
の２倍値で発光制御し、一定時間経過後の累積劣化量Ｒを実測する。そして、図１６に示すように、各累積劣化量Ｒに関連付けられている単位劣化量セットを参照テーブル（図１０）より読み出し、その平均値セットを各階調値に対応する更新用の単位劣化量として算出する。
図１６の場合、時点ｔ２現在の劣化状態が単位劣化量セット１、将来時点ｔ３の劣化状態が単位劣化量セット２が同時に読み出され、その階調値別の平均値が更新データとなる。図１７に、具体例を示す。図１７は、現在時点ｔ２の累積劣化量Ｒが１６％であり、将来時点ｔ３の累積劣化量Ｒが２０％である場合の更新データの算出原理を示す。
の２倍値で発光制御し、一定時間経過後の累積劣化量Ｒを実測する。そして、図１６に示すように、各累積劣化量Ｒに関連付けられている単位劣化量セットを参照テーブル（図１０）より読み出し、その平均値セットを各階調値に対応する更新用の単位劣化量として算出する。
図１６の場合、時点ｔ２現在の劣化状態が単位劣化量セット１、将来時点ｔ３の劣化状態が単位劣化量セット２が同時に読み出され、その階調値別の平均値が更新データとなる。図１７に、具体例を示す。図１７は、現在時点ｔ２の累積劣化量Ｒが１６％であり、将来時点ｔ３の累積劣化量Ｒが２０％である場合の更新データの算出原理を示す。
勿論、この更新データの生成処理は、テーブル更新部１７７（図７）が実行する。
以上説明したように、現在時点の累積劣化量Ｒ１に関連付けられた単位劣化量セットと将来時点の累積劣化量Ｒ２に関連付けられた単位劣化量セットを読み出し、各階調値に対応付けられた単位劣化量の平均値を算出することにより、現在時点から将来時点の期間（すなわち将来期間）内の平均的な単位劣化量を求めることができる。
このように算出された単位劣化量で階調値／劣化量変換テーブル１５１を更新することにより、単位劣化量差算出部１５３で算出される単位劣化量差の見積もり誤差を一段と小さくすることができる。
以上説明したように、現在時点の累積劣化量Ｒ１に関連付けられた単位劣化量セットと将来時点の累積劣化量Ｒ２に関連付けられた単位劣化量セットを読み出し、各階調値に対応付けられた単位劣化量の平均値を算出することにより、現在時点から将来時点の期間（すなわち将来期間）内の平均的な単位劣化量を求めることができる。
このように算出された単位劣化量で階調値／劣化量変換テーブル１５１を更新することにより、単位劣化量差算出部１５３で算出される単位劣化量差の見積もり誤差を一段と小さくすることができる。
また、この形態例の場合も、前述した形態例２の場合と同様、階調値／劣化量変換テーブル１５１の更新回数を複数回とすることで、長期間に亘って累積誤差の発生し難い有機ＥＬディスプレイ装置を実現することができる。
例えば更新回数が２回の場合、図１８（Ａ）に示すように、２つのダミー画素で構成される一組のダミー画素を２組配置しても良いし、図１８（Ｂ）に示すように、常に平均階調値で発光制御される１つのダミー画素と、対応する加速期間についてのみ平均階調値の２倍値で発光制御される複数個のダミー画素を配置しても良い。
例えば更新回数が２回の場合、図１８（Ａ）に示すように、２つのダミー画素で構成される一組のダミー画素を２組配置しても良いし、図１８（Ｂ）に示すように、常に平均階調値で発光制御される１つのダミー画素と、対応する加速期間についてのみ平均階調値の２倍値で発光制御される複数個のダミー画素を配置しても良い。
前者の場合、ダミー画素は、更新回数Ｎの２倍（すなわち、２Ｎ個）必要になる。後者の場合、ダミー画素は、更新回数Ｎに基準画素用の１つを加えた数（すなわち、Ｎ＋１個）必要になる。
いずれにしても、ダミー画素に与えるダミー画素データ値を適切に制御することと、累積劣化量を測定するダミー画素を適切に切り替えることで、階調値／劣化量変換テーブルを実際の劣化特性に応じて複数回更新することができる。
いずれにしても、ダミー画素に与えるダミー画素データ値を適切に制御することと、累積劣化量を測定するダミー画素を適切に切り替えることで、階調値／劣化量変換テーブルを実際の劣化特性に応じて複数回更新することができる。
（Ｂ−４）形態例４
この形態例も、２つのダミー画素を用いて実測される現在時点の累積劣化量と将来時点の累積劣化量に基づいて階調値／劣化量変換テーブルを更新する手法について説明する。
ただし、この形態例の場合、変更データは、将来期間について推定する平均階調値とその際に発生する累積劣化量差の実測値とに基づいて算出する手法を採用する。
この形態例も、２つのダミー画素を用いて実測される現在時点の累積劣化量と将来時点の累積劣化量に基づいて階調値／劣化量変換テーブルを更新する手法について説明する。
ただし、この形態例の場合、変更データは、将来期間について推定する平均階調値とその際に発生する累積劣化量差の実測値とに基づいて算出する手法を採用する。
図１９に、この形態例で説明する有機ＥＬディスプレイ装置１１を構成する入力表示データ補正部１５及び変換テーブル更新部１７の詳細構成を示す。図１９は、図７との対応部分に同一符号を付して示す。
なお、有機ＥＬパネルモジュールには、形態例３と同様の構成を採用する。すなわち、有効表示領域の外側に２つのダミー画素を配置する有機ＥＬパネルモジュールを採用する。勿論、更新回数を増やしたい場合には、形態例３と同様、一組のダミー画素を複数組配置する手法を採用する。
なお、有機ＥＬパネルモジュールには、形態例３と同様の構成を採用する。すなわち、有効表示領域の外側に２つのダミー画素を配置する有機ＥＬパネルモジュールを採用する。勿論、更新回数を増やしたい場合には、形態例３と同様、一組のダミー画素を複数組配置する手法を採用する。
図１９に示すように、有機ＥＬディスプレイ装置１１の基本構成は、図７に示す有機ＥＬディスプレイ装置と同じである。
ただし、この形態例の場合、変換テーブル更新部１７を、ダミー画素データ決定部１７１、ダミー画素データ多重部１７３、累積劣化量検出部１７５、平均劣化率算出部１７９及びテーブル更新部１８１で構成する。
ただし、この形態例の場合、変換テーブル更新部１７を、ダミー画素データ決定部１７１、ダミー画素データ多重部１７３、累積劣化量検出部１７５、平均劣化率算出部１７９及びテーブル更新部１８１で構成する。
平均劣化率算出部１７９は、加速期間終了時に検出された２つの累積劣化量の差分ΔＲと加速期間の時間長とに基づいて、将来期間に対応する平均劣化率を算出する処理デバイスである。図２０に、２つのダミー画素間に発生する累積劣化量差ΔＲを示す。この累積劣化量差ΔＲは、将来期間にも加速期間と同じ平均階調値の入力表示データが入力される場合に、将来期間の間に新たに発生する累積劣化量差に対応する。
図２１は、この将来期間に対応する平均劣化率の算出原理を示す。図２１は、現在時点ｔ２の検出輝度が９０％、将来時点ｔ３の検出輝度が８５％の場合を示す。
図２１は、この将来期間に対応する平均劣化率の算出原理を示す。図２１は、現在時点ｔ２の検出輝度が９０％、将来時点ｔ３の検出輝度が８５％の場合を示す。
従って、図２１の場合、累積劣化量差（輝度差）ΔＲは５％である。この累積劣化量差ΔＲを将来期間（現在時点ｔ２と将来時点ｔ３の間）のフレーム数Ｆで割った値が将来期間の平均劣化率ΔＲ／Ｆとして、テーブル更新部１８１に出力される。
テーブル更新部１８１は、加速期間中の平均階調値（将来期間の推定平均階調値）と将来期間の平均劣化率とに基づいて、将来区間の劣化特性を反映した階調値と単位劣化量の対応関係を算出する処理デバイスである。
テーブル更新部１８１は、加速期間中の平均階調値（将来期間の推定平均階調値）と将来期間の平均劣化率とに基づいて、将来区間の劣化特性を反映した階調値と単位劣化量の対応関係を算出する処理デバイスである。
ここで、テーブル更新部１８１が基準とする平均階調値と平均劣化率は、表示画像の内容や使用環境等を反映した実際の対応関係を表している。ただし、この対応関係は、２５６通り（階調が８ビットで与えられる場合）の対応関係の１つでしかない。そこで、テーブル更新部１８１は、全ての入力階調値を劣化状態に応じた単位劣化量を以下のように算出する。
この際、テーブル更新部１８１は、図２２に示す平均階調値と平均劣化率の基本対応関係を満たすように、残り２５５階調（階調が８ビットで与えられる場合）に対応する単位劣化量（劣化率）を算出する。
この際、テーブル更新部１８１は、図２２に示す平均階調値と平均劣化率の基本対応関係を満たすように、残り２５５階調（階調が８ビットで与えられる場合）に対応する単位劣化量（劣化率）を算出する。
基本対応関係を参照するのは、平均階調値に対応する平均劣化率が経時的に変化しても、実測値以外の対応関係は基本的に図２２に示す基本対応関係を維持すると考えられるからである。図２２に示す基本対応関係は、基本テーブル情報としてテーブル更新部１８１に格納されている。
図２３に、各階調値に対応する単位劣化量（劣化率）の算出原理を示す。
図２３に、各階調値に対応する単位劣化量（劣化率）の算出原理を示す。
図２３は、加速期間（ｔ１〜ｔ２）の平均階調値を１００（階調が８ビットで表される場合）とし、実測された平均劣化率（以下、「実測劣化率」ともいう。）をＸ100 として表している。このとき、任意の階調値ａに対応する実測劣化率Ｘa は、図２４に示す基本テーブル曲線を通じて特定される平均劣化率間の比率αa ／α100 を実測劣化率Ｘ100 に乗算することにより算出することができる。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率（劣化速度）だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率（劣化速度）だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
テーブル更新部１８１は、全ての階調値に対応する実測劣化率Ｘa が算出されると、これらの値で階調値／劣化量変換テーブル１５１を更新する。図２５に、階調値／劣化量変換テーブル１５１を構成する全ての階調値について劣化率が更新される様子を示す。
因みに、予測する将来期間（周期）は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。
因みに、予測する将来期間（周期）は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。
このように、形態例４を用いれば、他の３つの形態例のように累積劣化量別に階調値と単位劣化量との関係を事前に全て算出する必要を無くすことができる。すなわち、階調値と平均劣化率（劣化速度）との相対的な関係を与える基本対応関係と１つの実測劣化率とに基づいて、階調値／劣化量変換テーブル１５１の対応関係を更新することができる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量を大幅に削減することが可能になり、この点で製造コストの大幅な低減を実現できる。
また、この形態例の場合も、画面サイズに関係なく適応できる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量を大幅に削減することが可能になり、この点で製造コストの大幅な低減を実現できる。
また、この形態例の場合も、画面サイズに関係なく適応できる。
（Ｂ−５）形態例５
この形態例では、一組のダミー画素について測定される累積劣化量の差分に基づいて、補正値を決定する手法について説明する。なお、この形態例の場合も、一組のダミー画素を複数組用意すれば、複数期間について階調値／劣化量変換テーブル１５１を複数回更新することができる。
この形態例では、一組のダミー画素について測定される累積劣化量の差分に基づいて、補正値を決定する手法について説明する。なお、この形態例の場合も、一組のダミー画素を複数組用意すれば、複数期間について階調値／劣化量変換テーブル１５１を複数回更新することができる。
（ａ）概略構成
図２６に、この形態例で説明する有機ＥＬディスプレイ装置３１のシステム構成の概略を示す。有機ＥＬディスプレイ装置３１は、有機ＥＬパネルモジュール３３、入力表示データ補正部３５及び劣化度情報検出部３７で構成する。
有機ＥＬパネルモジュール３３には、図１４に示す構造を採用する。すなわち、全画面の平均階調値で発光制御するダミー画素とその２倍の階調値で発光制御するダミー画素を有効表示領域の外側に配置した表示パネルを採用する。
図２６に、この形態例で説明する有機ＥＬディスプレイ装置３１のシステム構成の概略を示す。有機ＥＬディスプレイ装置３１は、有機ＥＬパネルモジュール３３、入力表示データ補正部３５及び劣化度情報検出部３７で構成する。
有機ＥＬパネルモジュール３３には、図１４に示す構造を採用する。すなわち、全画面の平均階調値で発光制御するダミー画素とその２倍の階調値で発光制御するダミー画素を有効表示領域の外側に配置した表示パネルを採用する。
入力表示データ補正部３５は、有効表示領域を構成する各画素の劣化量が基本発光色別に定めた基準画素の劣化量に揃うように入力表示データを個別に補正する処理デバイスである。ただし、補正値の決定には、２つのダミー画素について実測した累積劣化量（発光輝度）を使用する。
劣化度情報検出部３７は、図２７の加速期間に示すように、一組のダミー画素に対応するダミー画素データを生成する処理と、各ダミー画素に対応する累積劣化量（発光輝度）を検出する処理とを実行する処理デバイスである。
劣化度情報検出部３７は、図２７の加速期間に示すように、一組のダミー画素に対応するダミー画素データを生成する処理と、各ダミー画素に対応する累積劣化量（発光輝度）を検出する処理とを実行する処理デバイスである。
（ｂ）入力表示データ補正部及び劣化度情報検出部の構成
図２８に、入力表示データ補正部３５と劣化度情報検出部３７の詳細構成例を示す。図２８には、図７との対応部分に同一符号を付して示す。
すなわち、入力表示データ補正部３５は、階調値／劣化量変換テーブル１５１、単位劣化量差算出部１５３、累積劣化量差蓄積部１５５、補正量決定部３５１及び映像信号補正部１５９で構成する。また、劣化度情報検出部３７は、ダミー画素データ決定部１７１、ダミー画素データ多重部１７１及び累積劣化量検出部１７５で構成する。
図２８に、入力表示データ補正部３５と劣化度情報検出部３７の詳細構成例を示す。図２８には、図７との対応部分に同一符号を付して示す。
すなわち、入力表示データ補正部３５は、階調値／劣化量変換テーブル１５１、単位劣化量差算出部１５３、累積劣化量差蓄積部１５５、補正量決定部３５１及び映像信号補正部１５９で構成する。また、劣化度情報検出部３７は、ダミー画素データ決定部１７１、ダミー画素データ多重部１７１及び累積劣化量検出部１７５で構成する。
従って、この形態例に特有の構成部分は、補正量決定部３５１だけである。以下、補正量決定部３５１の処理動作について説明する。
補正量決定部３５１は、累積劣化量検出部１７５より２つのダミー画素について測定された累積劣化量（実測値）と、個別の画素毎に算出されている相対的な累積劣化量差とに基づいて、補正期間（ダミー画素の劣化を加速させて予測した将来期間）内に各画素の累積劣化量が基準画素の累積劣化量に一致するように補正値を決定する処理デバイスとして動作する。
補正量決定部３５１は、累積劣化量検出部１７５より２つのダミー画素について測定された累積劣化量（実測値）と、個別の画素毎に算出されている相対的な累積劣化量差とに基づいて、補正期間（ダミー画素の劣化を加速させて予測した将来期間）内に各画素の累積劣化量が基準画素の累積劣化量に一致するように補正値を決定する処理デバイスとして動作する。
すなわち、この形態例で説明する補正量決定部３５１は、累積劣化量の実測値を参照して補正値を決定することにより、経時変化や誤差の累積の影響を排除する。
図２９に補正原理を示す。図２９において、時点ｔ２におけるＲαaplと時点ｔ３における２Ｒαaplが、２つのダミー画素（一方は、平均階調値ＤAPL で発光制御され、他方は、その２倍値で発光制御される。）について実測される累積劣化量に対応する。
これら２つの累積劣化量Ｒαapl及び２Ｒαaplは、基準画素に関する現在時点と将来時点の累積劣化量の現状を正確に表している。
図２９に補正原理を示す。図２９において、時点ｔ２におけるＲαaplと時点ｔ３における２Ｒαaplが、２つのダミー画素（一方は、平均階調値ＤAPL で発光制御され、他方は、その２倍値で発光制御される。）について実測される累積劣化量に対応する。
これら２つの累積劣化量Ｒαapl及び２Ｒαaplは、基準画素に関する現在時点と将来時点の累積劣化量の現状を正確に表している。
従って、基準画素に対する各画素の累積劣化量差（累積劣化量差蓄積部１５５から与えられる）Ｙ１を用いれば、将来期間（ｔ２〜ｔ３）の間に基準画素との間で累積劣化量差を０（ゼロ）とするための補正量β１を次式で求めることができる。
すなわち、β１＝（２Ｒαapl−Ｒαapl−Ｙ１）÷（ｔ３−ｔ２）として算出することができる。
すなわち、β１＝（２Ｒαapl−Ｒαapl−Ｙ１）÷（ｔ３−ｔ２）として算出することができる。
この補正量の決定処理を、時点ｔ２の終了時点で実行し、将来期間（ｔ２〜ｔ３）で使用することにより、階調値／劣化量変換テーブルを更新する場合と同じ効果を得ることが可能となる。すなわち、補正量の決定精度が向上され、焼き付き現象の発生を抑制し又は改善することができる。
勿論、この形態例の場合も、図１８に示すように、平均階調値で発光制御するダミー画素と、加速期間が異なる複数のダミー画素とを用意すれば、長期間に亘って焼き付き現象の発生を抑制し又は改善することができる。
勿論、この形態例の場合も、図１８に示すように、平均階調値で発光制御するダミー画素と、加速期間が異なる複数のダミー画素とを用意すれば、長期間に亘って焼き付き現象の発生を抑制し又は改善することができる。
（Ｃ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、基本発光色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
（ｂ）前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
（ａ）前述の形態例では、基本発光色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
（ｂ）前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
（ｃ）前述の形態例では、表示上の１画素に対応するダミー画素（ＲＧＢに対応する個々のダミー画素）を有効表示領域の外側に１つ又は複数個配置する場合について説明した。しかし、ダミー画素の数や配置位置は任意である。
（ｄ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
（ｄ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
（ｅ）前述の形態例では、ダミー画素の劣化特性を実測して階調値／劣化量変換テーブルを更新する機能や補正量を決定する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置について説明した。
しかし、変換テーブルの更新機能や補正量の決定機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、変換テーブルの更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
しかし、変換テーブルの更新機能や補正量の決定機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、変換テーブルの更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
（ｆ）前述の形態例では、ダミー画素の劣化特性を実測して階調値／劣化量変換テーブルを更新する機能や補正量を決定する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置について説明した。
しかし、変換テーブルの更新機能や補正量の決定機能は、自発光表示装置と独立した画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、変換テーブルの更新機能や補正量の決定機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
しかし、変換テーブルの更新機能や補正量の決定機能は、自発光表示装置と独立した画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、変換テーブルの更新機能や補正量の決定機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
（ｇ）前述の形態例では、変換テーブルの更新機能や補正量の決定機能を機能的な側面から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｈ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｈ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
５、１３３、２３３ ダミー画素
７ 輝度検出センサー
１１、３１ 有機ＥＬディスプレイ装置
１３、３３ 有機ＥＬパネルモジュール
１５、３５ 入力表示データ補正部
１７ 変換テーブル更新部
３７ 劣化度情報検出部
１５７、３５１ 補正量決定部
１７１ ダミー画素データ決定部
１７５ 累積劣化量検出部
１７７、１８１ テーブル更新部
１７９ 平均劣化率算出部
７ 輝度検出センサー
１１、３１ 有機ＥＬディスプレイ装置
１３、３３ 有機ＥＬパネルモジュール
１５、３５ 入力表示データ補正部
１７ 変換テーブル更新部
３７ 劣化度情報検出部
１５７、３５１ 補正量決定部
１７１ ダミー画素データ決定部
１７５ 累積劣化量検出部
１７７、１８１ テーブル更新部
１７９ 平均劣化率算出部
Claims (12)
- ダミー画素を有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、前記ダミー画素の発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記ダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は基準画素よりも大きい階調値を前記ダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素について測定された発光輝度に基づいて、将来時点に対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 第１及び第２のダミー画素を有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、前記第１及び第２のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
輝度劣化の測定タイミングの直前期間には、基準画素と同じ階調値を前記第１のダミー画素に与える一方で、基準画素よりも大きい階調値を前記第２のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、現在時点と将来時点に対応するテーブル値を読み出し、それらの平均値で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 第１及び第２のダミー画素を有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、前記第１及び第２のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記第１及び第２のダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は前記第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与え、前記第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
現在時点の累積劣化量と将来時点の累積劣化量とに基づいて将来期間に対応する劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 第１及び第２のダミー画素を有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、前記第１及び第２のダミー画素それぞれの発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記第１及び第２のダミー画素に与え、輝度劣化の加速期間中は前記第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与える一方で、前記第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
現在時点の累積劣化量、将来時点の累積劣化量及び階調値／劣化率変換テーブルを参照して入力表示データより算出した基準画素に対する各画素の累積劣化量差に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - ダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記ダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は基準画素よりも大きい階調値を前記ダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素について測定された発光輝度に基づいて、将来時点に対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
輝度劣化の測定タイミングの直前期間には、基準画素と同じ階調値を前記第１のダミー画素に与える一方で、基準画素よりも大きい階調値を前記第２のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、現在時点と将来時点に対応するテーブル値を読み出し、それらの平均値で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記第１及び第２のダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は前記第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与え、前記第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
現在時点の累積劣化量と将来時点の累積劣化量とに基づいて将来期間に対応する劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報に応じて補正量を決定する補正量決定装置であって、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記第１及び第２のダミー画素に与え、輝度劣化の加速期間中は前記第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与える一方で、前記第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
現在時点の累積劣化量、将来時点の累積劣化量及び階調値／劣化率変換テーブルを参照して入力表示データより算出した基準画素に対する各画素の累積劣化量差に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする補正量決定装置。 - ダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記ダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は基準画素よりも大きい階調値を前記ダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素について測定された発光輝度に基づいて、将来時点に対応する累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
輝度劣化の測定タイミングの直前期間には、基準画素と同じ階調値を前記第１のダミー画素に与える一方で、基準画素よりも大きい階調値を前記第２のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与える処理と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、現在時点と将来時点に対応するテーブル値を読み出し、それらの平均値で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記第１及び第２のダミー画素に与える一方で、輝度劣化の加速期間中は前記第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与え、前記第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与える処理と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する処理と、
現在時点の累積劣化量と将来時点の累積劣化量とに基づいて将来期間に対応する劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値／劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 第１及び第２のダミー画素と、各ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報に応じた補正量の決定処理を実現するコンピュータプログラムであって、
輝度劣化の加速期間の開始までは基準画素と同じ階調値を前記第１及び第２のダミー画素に与え、輝度劣化の加速期間中は前記第１のダミー画素に基準画素と同じ階調値を与える一方で、前記第２のダミー画素に基準画素よりも大きい階調値を与え、輝度劣化の測定タイミングには、前記第１及び第２のダミー画素に測定用の同一階調値を与える処理と、
前記第１及び第２のダミー画素について測定された各発光輝度に基づいて、現在時点と将来時点のそれぞれに対応する累積劣化量を検出する処理と、
現在時点の累積劣化量、将来時点の累積劣化量及び階調値／劣化率変換テーブルを参照して入力表示データより算出した基準画素に対する各画素の累積劣化量差に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006004264A JP4882379B2 (ja) | 2006-01-11 | 2006-01-11 | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006004264A JP4882379B2 (ja) | 2006-01-11 | 2006-01-11 | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007187762A true JP2007187762A (ja) | 2007-07-26 |
| JP4882379B2 JP4882379B2 (ja) | 2012-02-22 |
Family
ID=38342989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006004264A Expired - Fee Related JP4882379B2 (ja) | 2006-01-11 | 2006-01-11 | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4882379B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007187763A (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-26 | Sony Corp | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置及びプログラム |
| JP2010139837A (ja) * | 2008-12-12 | 2010-06-24 | Sony Corp | 画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法 |
| US20120162285A1 (en) * | 2010-12-28 | 2012-06-28 | Sony Corporation | Signal processing device, signal processing method, display device, and electronic apparatus |
| CN102687193A (zh) * | 2009-09-29 | 2012-09-19 | 全球Oled科技有限责任公司 | 利用参考子像素的电致发光器件老化补偿 |
-
2006
- 2006-01-11 JP JP2006004264A patent/JP4882379B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007187763A (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-26 | Sony Corp | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置及びプログラム |
| JP2010139837A (ja) * | 2008-12-12 | 2010-06-24 | Sony Corp | 画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法 |
| CN102687193A (zh) * | 2009-09-29 | 2012-09-19 | 全球Oled科技有限责任公司 | 利用参考子像素的电致发光器件老化补偿 |
| JP2013506168A (ja) * | 2009-09-29 | 2013-02-21 | グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 基準サブピクセルを用いるエレクトロルミネッセントデバイス経時変化補償 |
| EP2483885B1 (en) * | 2009-09-29 | 2016-07-27 | Global OLED Technology LLC | Electroluminescent device aging compensation with reference subpixels |
| US20120162285A1 (en) * | 2010-12-28 | 2012-06-28 | Sony Corporation | Signal processing device, signal processing method, display device, and electronic apparatus |
| US8872867B2 (en) * | 2010-12-28 | 2014-10-28 | Sony Corporation | Signal processing device, signal processing method, display device, and electronic apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4882379B2 (ja) | 2012-02-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10991317B2 (en) | Display device and method for controlling luminance thereof | |
| KR102330866B1 (ko) | 표시장치의 휘도 보상 시스템 및 그 휘도 보상 방법 | |
| AU2008254180B2 (en) | Display device, display device drive method, and computer program | |
| JP5124939B2 (ja) | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置及びプログラム | |
| JP2007156044A (ja) | 自発光表示装置、階調値／劣化率変換テーブル更新装置及びプログラム | |
| JP2005539252A (ja) | 表示装置 | |
| JP2007156045A (ja) | 自発光表示装置、消費電力検出装置及びプログラム | |
| KR20100038394A (ko) | 디스플레이 장치 | |
| JP2007164003A (ja) | 自発光表示装置、画像処理装置、点灯時間長制御装置及びプログラム | |
| JP2007163712A (ja) | 表示パネル、自発光表示装置、階調値／劣化率変換テーブル更新装置、入力表示データ補正装置及びプログラム | |
| EP3223266B1 (en) | Organic light emitting diode display device and method of operating the same | |
| JP2008176115A (ja) | 表示装置、制御演算装置、表示駆動方法 | |
| TWI669694B (zh) | Display device and image data correction method | |
| JPWO2016027435A1 (ja) | 表示装置および表示装置の駆動方法 | |
| JP4934963B2 (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| CN111554238A (zh) | 有机发光二极体显示面板亮度补偿方法 | |
| JP2007240803A (ja) | 自発光表示装置、黒レベル補正装置及びプログラム | |
| JP4830495B2 (ja) | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置及びプログラム | |
| KR20150075605A (ko) | 유기 발광 표시 장치 및 그의 구동 방법 | |
| JP4946062B2 (ja) | 自発光表示装置、見積もり劣化情報修正装置、入力表示データ補正装置及びプログラム | |
| JP2006284970A (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| JP2006201630A (ja) | 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム | |
| JP4882379B2 (ja) | 自発光表示装置、変換テーブル更新装置、補正量決定装置及びプログラム | |
| JP2011082213A (ja) | 表示パネルおよびモジュールならびに電子機器 | |
| JP2007240802A (ja) | 自発光表示装置、ホワイトバランス調整装置及びプログラム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081204 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20081219 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20081219 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20081225 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111031 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111108 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111121 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216 Year of fee payment: 3 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |