JP2007167261A - Ｘ線ｃｔ装置および部分散乱係数テーブル取得方法 - Google Patents

Abstract

【課題】コリメータを配設することなく、チャネル方向の散乱Ｘ線による画質劣化を防止するＸ線ＣＴ装置を実現する。
【解決手段】厚さＴが異なる複数の円弧ファントム、散乱Ｘ線遮蔽ブロックおよび長さｌが異なる複数の透過Ｘ線遮蔽ブロックを用いて、円弧ファントムの厚さＴごとのＸ線ビームの部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）をステップＳ４０１の散乱Ｘ線情報取得処理により求め、さらに被検体の経路長をステップＳ４０４の被検体情報取得処理により求め、この経路長に対応する厚さＴの部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）の総和から、被検体投影情報の散乱補正をステップＳ４０５の被検体投影情報補正処理で行うこととしているので、チャネル方向の散乱Ｘ線の補正を実験データに基づいて正確に行い、ひいてはシンチレータ４１のチャネル方向のコリメータを配置することなく、散乱Ｘ線による画質の劣化を抑えることを実現する。
【選択図】図４

Description

この発明は、厚みを持って扇状に拡がるＸ線ビーム（ｂｅａｍ）を発生し、このＸ線ビームを被検体に照射し、Ｘ線ビームの発生方向と概ね直交する面に２次元配列されるＸ線検出器により、被検体を透過するＸ線ビームを検出し、被検体の断層画像情報を画像再構成するＸ線ＣＴ装置に関する。

近年、Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出器として、固体Ｘ線検出器が用いられている。この固定Ｘ線検出器では、高分解能化のために、固体Ｘ線検出器の走査方向であるチャネル（ｃｈａｎｎｅｌ）方向に多チャネル化および厚み方向への多列化が進んでいる。ここで、チャネル方向の固体Ｘ線検出器は、１０００チャネル程度のものとなり、厚み方向の固体Ｘ線検出器は、数十列程度のものとなっている（例えば、特許文献１参照）。

一方、固体Ｘ線検出器のＸ線ビームが入射する側には、コリメータ（ｃｏｌｌｉｍａｔｏｒ）が配設され、直進するＸ線に、周囲から散乱Ｘ線が混入することを防止している。このコリメータは、チャネル方向に配列され、チャネル方向から固体Ｘ線検出器に混入する散乱Ｘ線を除去する。これにより、チャネル方向の散乱Ｘ線による画質劣化を低減し、高い品質の画質が維持されている。
特開２００３−１４４４２９号公報、（第６頁、図３）

しかしながら、上記背景技術によれば、コリメータは、配設が容易でなく高いコスト（ｃｏｓｔ）が必要になると同時に、固体Ｘ線検出器の感度を低下させる要因となる。すなわち、上述した多チャネル化によりコリメータも精細で高コストのものとなり、また固体Ｘ線検出器を構成する素子は、高分解能化によりＸ線の受光面が１ｍｍ×１ｍｍ以下のものとなって来ており、素子間の境界線上に正確にコリメータを配設することは難しいものとなりつつある。

特に、コリメータは、タングステン（ｔｕｎｇｓｔｅｎ）等の材質からなり、０．１〜０．３ｍｍ程度の厚みを有する。この厚みは、素子の受光面サイズ（ｓｉｚｅ）を考慮すると、Ｘ線の受光面として有効に機能する素子面積を大きく減少させ、感度ひいてはＳ／Ｎ（ｓｉｇｎａｌ ｔｏ ｎｏｉｓｅ ｒａｔｉｏ）の低下をもたらす。

これらのことから、コリメータを配設することなく、チャネル方向の散乱Ｘ線による画質劣化を防止するＸ線ＣＴ装置をいかに実現するかが重要となる。
この発明は、上述した背景技術による課題を解決するためになされたものであり、コリメータを配設することなく、チャネル方向の散乱Ｘ線による画質劣化を防止するＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、第１の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線ビームを発生するＸ線発生部と、前記Ｘ線ビームを検出するＸ線検出器を配列したＸ線検出部と、前記Ｘ線発生部および前記Ｘ線検出部の間に配設され、前記Ｘ線発生部の位置を中心位置とし、前記中心位置から等距離にある円弧と壁面が一致する円弧ファントムと、前記円弧ファントムを用いた複数の投影情報を収集するデータ処理部とを備える。

この第１の観点による発明では、円弧ファントムのＸ線ビームが透過する壁面は、Ｘ線発生部から等距離に置かれる。
また、第２の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１の観点に記載の発明において、前記円弧ファントムが、前記Ｘ線ビームが透過する方向に一定の厚さを備えることを特徴とする。

この第２の観点による発明では、円弧ファントムを透過するＸ線ビームの経路長を一定にする。
また、第３の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第２の観点に記載の発明において、前記データ処理部が、前記円弧ファントムの円弧ファントム投影情報を取得する散乱Ｘ線情報取得手段を備えることを特徴とする。

この第３の観点による発明では、散乱Ｘ線情報取得手段は、円弧ファントムの散乱Ｘ線を含む投影情報を取得する。
また、第４の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第３の観点に記載の発明において、前記Ｘ線検出部の前記Ｘ線ビームが入射する検出面に配設され、前記円弧ファントムの散乱Ｘ線の透過を防止しつつ、中央近傍に前記Ｘ線ビームを部分的に透過する透過窓を有する散乱Ｘ線遮蔽ブロックを備えることを特徴とする。

この第４の観点による発明では、散乱Ｘ線遮蔽ブロックは、散乱Ｘ線を遮蔽する。
また、第５の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第４の観点に記載の発明において、前記散乱Ｘ線遮蔽ブロックが、１つの前記Ｘ線検出器の検出面に相当する大きさの透過窓を備えることを特徴とする。

この第５の観点による発明では、散乱Ｘ線遮蔽ブロックは、１つのＸ線検出器だけはＸ線ビームを検出する。
また、第６の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第５の観点に記載の発明において、前記散乱Ｘ線情報取得手段が、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される透過Ｘ線情報を取得することを特徴とする。

この第６の観点による発明では、散乱Ｘ線情報取得手段は、散乱Ｘ線を含まない、透過窓の位置に透過してくるＸ線ビームのみを取得する。
また、第７の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第６の観点に記載の発明において、前記壁面に配設され前記Ｘ線ビームの透過を部分的に防止する透過Ｘ線遮蔽ブロックを備えることを特徴とする。

この第７の観点による発明では、透過Ｘ線遮蔽ブロックは、Ｘ線ビームが円弧ファントムを透過するのを防止する。
また、第８の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第７の観点に記載の発明において、前記透過Ｘ線遮蔽ブロックが、前記円弧の接線方向であるチャネル方向に沿って、複数個の前記Ｘ線検出器に相当する幅を備えることを特徴とする。

この第８の観点による発明では、透過Ｘ線遮蔽ブロックは、円弧ファントムのＸ線が透過する領域を変化させる。
また、第９の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第８の観点に記載の発明において、前記散乱Ｘ線情報取得手段が、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される散乱Ｘ線情報を取得することを特徴とする。

この第９の観点による発明では、散乱Ｘ線情報取得手段は、透過窓の位置から外れた周囲からの散乱Ｘ線情報のみを取得する。
また、第１０の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第３，６および９の観点に記載の発明において、前記データ処理装置が、前記Ｘ線発生部および前記Ｘ線検出部を有するＸ線ＣＴ装置を用いて被検体の被検体投影情報を取得する際に、前記円弧ファントム投影情報、前記透過Ｘ線情報および前記散乱Ｘ線情報に基づいて、前記被検体投影情報に含まれる被検体の散乱Ｘ線情報を補正する被検体投影情報補正手段を備えることを特徴とする。

この第１０の観点による発明では、被検体投影情報補正手段は、実験的に取得された円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を用いて、定量的な散乱Ｘ線の補正を行う。

また、第１１の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１０の観点に記載の発明において、前記データ処理装置が、前記補正を行う前に、前記被検体投影情報の画像再構成により断層画像情報を求め、前記断層画像情報から前記被検体を透過するＸ線ビームの経路長を求める被検体情報取得手段を備えることを特徴とする。

また、第１２の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１０または１１の観点に記載の発明において、前記散乱Ｘ線情報取得手段が、前記幅が前記Ｘ線検出器が有する前記チャネル方向の幅の整数倍だけ異なる複数の透過Ｘ線遮蔽ブロックを用いて前記複数の散乱Ｘ線情報を含む散乱Ｘ線テーブルおよび前記円弧に沿った散乱位置ごとの前記散乱Ｘ線情報の差分から求まる部分散乱Ｘ線係数情報を含む部分散乱係数テーブルを備えることを特徴とする。

この第１２の観点による発明では、散乱Ｘ線テーブルおよ散乱係数テーブルは、円弧に沿った散乱位置ごとの散乱Ｘ線情報を含む。
また、第１３の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１２の観点に記載の発明において、前記被検体投影情報補正手段が、前記経路長と概ね等しい厚さを有する円弧ファントムを用いた際の前記部分散乱Ｘ線係数情報に基づいて、前記被検体投影情報の補正を行うことを特徴とする。

この第１３の観点による発明では、被検体投影情報補正手段は、被検体の経路長も考慮する。
また、第１４の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１３の観点に記載の発明において、前記補正が、前記部分散乱係数を前記チャネル方向の散乱位置で加算した散乱係数を用いることを特徴とする。

この第１４の観点による発明では、補正は、散乱係数を部分散乱係数の加算により求める。
また、第１５の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１０ないし１４の観点のいずれか１つに記載の発明において、前記散乱Ｘ線情報取得手段は、前記厚さが異なる複数の円弧ファントムを用いて円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を取得することを特徴とする。

この第１５の観点による発明では、散乱Ｘ線情報取得手段は、複数の経路長に対応する円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を取得する。
また、第１６の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１２および１５の観点に記載の発明において、前記散乱Ｘ線テーブルおよび前記部分散乱係数テーブルが、前記厚さごとの部分散乱Ｘ線係数情報を含むことを特徴とする。

この第１６の観点による発明では、散乱Ｘ線テーブルおよび部分散乱係数テーブルは、複数の経路長に対応する。
また、第１７の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１０ないし１６の観点のいずれか１つに記載の発明において、前記散乱Ｘ線情報取得手段が、被検体の異なる複数の組織領域とＸ線線吸収係数が近似する複数の円弧ファントムを用いて、円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を取得することを特徴とする。

この第１７の観点による発明では、散乱Ｘ線情報取得手段は、Ｘ線線吸収係数が異なる複数の円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を取得する。
また、第１８の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１７の観点に記載の発明において、前記被検体投影情報補正手段が、前記補正を行う際に、前記円弧ファントム投影情報、前記透過Ｘ線情報および前記散乱Ｘ線情報を用いることを特徴とする。

この第１８の観点による発明では、被検体投影情報補正手段は、Ｘ線線吸収係数が異なる部位ごとに補正を行う。
また、第１９の観点の発明にかかるＸ線ＣＴ装置は、第１７または１８の観点に記載の発明において、前記異なる組織領域が、被検体の軟部組織領域および骨部組織領域であることを特徴とする。

この第１９の観点による発明では、異なる組織領域は、Ｘ線線吸収係数が大きく異なる部位とする。
また、第２０の観点の発明にかかる部分散乱係数テーブル取得方法は、Ｘ線発生部およびＸ線検出部の間に配設され、前記Ｘ線発生部の位置を中心位置とし、前記中心位置から等距離にある円弧と壁面が一致する円弧ファントムの円弧ファントム投影情報を取得し、前記円弧ファントムと共に、前記Ｘ線検出部の前記Ｘ線発生部で発生されたＸ線ビームが入射する検出面に配設され、前記円弧ファントムの散乱Ｘ線の透過を防止しつつ、中央近傍に前記Ｘ線ビームを部分的に透過する透過窓を有する散乱Ｘ線遮蔽ブロックを用いて、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される透過Ｘ線情報を取得し、前記円弧ファントムおよび前記散乱Ｘ線遮蔽ブロックと共に、前記壁面に配設され、前記Ｘ線ビームの透過を部分的に防止する透過Ｘ線遮蔽ブロックを用いて、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される散乱Ｘ線情報を取得し、前記円弧ファントム投影情報、前記透過Ｘ線情報および前記散乱Ｘ線情報を用いて、前記Ｘ線ビームが透過する方向に異なる厚さを有する円弧ファントムごとに、前記円弧に沿った散乱位置ごとの前記散乱Ｘ線情報の差分から求まる部分散乱Ｘ線係数情報を含む部分散乱係数テーブルを求める。

以上説明したように、本発明によれば、円弧ファントム、散乱Ｘ線遮蔽ブロックおよび透過Ｘ線遮蔽ブロックを用いて、円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を取得し、被検体投影情報に含まれる被検体の散乱Ｘ線情報の補正を行うこととしているので、被検体投影情報に含まれるチャネル方向の散乱Ｘ線に対して、実験データに基づいた高い精度の補正を行い、ひいてはＸ線検出部にコリメータを装着することなく、低コストで高い品質の断層画像情報を取得することができる。

以下に添付図面を参照して、この発明にかかるＸ線ＣＴ装置を実施するための最良の形態について説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
まず、本実施の形態にかかるＸ線ＣＴ装置の全体構成について説明する。図１は、Ｘ線ＣＴ装置のブロック（ｂｌｏｃｋ）図を示す。図１に示すように、本装置は、走査ガントリ（ｇａｎｔｒｙ）１０,撮影テーブル４（ｔａｂｌｅ）、操作コンソール（ｃｏｎｓｏｌｅ）６および図示しない付属品を有する。なお、付属品については、後に詳述する。

走査ガントリ１０は、Ｘ線発生部であるＸ線管２０を有する。Ｘ線管２０は、Ｘ線を発生し、コリメータ２２により、例えば、厚みを持って扇状に拡がるＸ線ビームとなるように整形され、Ｘ線検出部２４に照射される。

Ｘ線検出部２４は、Ｘ線ビームの拡がり方向および厚み方向にマトリックス（ｍａｔｒｉｘ）状に配列された複数のＸ線検出器である固体Ｘ線検出器を有する。Ｘ線検出部２４は、複数の固体Ｘ線検出器をマトリックス状に配列した、幅のある多チャネルの検出器となっている。

Ｘ線検出部２４は、全体として、凹面状に湾曲したＸ線入射面を形成する。固体Ｘ線検出器は、例えば無機結晶からなるシンチレータ（ｓｃｉｎｔｉｌｌａｔｏｒ）と光電変換器であるフォトダイオード（ｐｈｏｔｏ ｄｉｏｄｅ）等を組み合わせたものである。

Ｘ線検出部２４には、データ収集部２６が接続されている。データ収集部２６は、Ｘ線検出部２４の個々のシンチレータの検出情報を収集する。Ｘ線管２０からのＸ線の照射は、Ｘ線コントローラ（ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）２８によって制御される。なお、Ｘ線管２０とＸ線コントローラ２８との接続関係およびコリメータ２２とコリメータコントローラ３０との接続関係については図示を省略する。コリメータ２２は、コリメータコントローラ３０によって制御される。

以上の、Ｘ線管２０からコリメータコントローラ３０までのものが、走査ガントリ１０の回転部３４に搭載されている。ここで、被検体あるいはファントム（ｐｈａｎｔｏｍ）は、回転部３４の中心に位置するボア（ｂｏｒｅ）２９内の撮影テーブル（ｔａｂｌｅ）４上に載置される。回転部３４は、回転コントローラ３６により制御されつつ回転し、Ｘ線管２０からＸ線を爆射し、Ｘ線検出部２４において被検体およびファントムの透過Ｘ線を、回転角度に応じた各ビュー（ｖｉｅｗ）ごとの投影情報として検出する。なお、回転部３４と回転コントローラ３６との接続関係については図示を省略する。

操作コンソール６は、データ処理装置６０を有する。データ処理装置６０は、例えばコンピュータ（ｃｏｍｐｕｔｅｒ）等によって構成される。データ処理装置６０には、制御インタフェース（ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）６２が接続されている。制御インタフェース６２は、走査ガントリ１０に接続されている。データ処理装置６０は、制御インタフェース６２を通じて走査ガントリ１０を制御する。

走査ガントリ１０内のデータ収集部２６、Ｘ線コントローラ２８、コリメータコントローラ３０および回転コントローラ３６は、制御インタフェース６２を通じて制御される。なお、これら各部と制御インタフェース６２との個別の接続については図示を省略する。

また、データ処理装置６０には、データ収集バッファ（ｂｕｆｆｅｒ）６４が接続されている。データ収集バッファ６４は、走査ガントリ１０のデータ収集部２６に接続されている。データ収集部２６で収集されたデータがデータ収集バッファ６４を通じてデータ処理装置６０に入力される。

また、データ処理装置６０は、データ収集バッファ６４を通じて収集した透過Ｘ線信号すなわち投影情報を用いて画像再構成を行う。データ処理装置６０には、記憶装置６６が接続されている。記憶装置６６は、データ収集バッファ６４に収集された投影情報や再構成された断層画像情報および本装置の機能を実現するためのプログラム（ｐｒｏｇｒａｍ）等を記憶する。

また、データ処理装置６０は、散乱Ｘ線情報取得手段、被検体情報取得手段および被検体投影情報補正手段を有する。散乱Ｘ線情報取得手段は、付属品のファントムを用いて散乱Ｘ線情報を取得し、被検体情報取得手段は、被検体の経路長あるいはＣＴ値等の被検体情報を取得し、被検体投影情報補正手段は、この散乱Ｘ線情報に基づいて、被検体の投影情報に含まれる散乱Ｘ線の補正を行う。なお、散乱Ｘ線情報取得手段、被検体情報取得手段および被検体投影情報補正手段の動作については、後に散乱Ｘ線情報取得処理、被検体情報取得処理および被検体投影情報補正処理において詳述する。

また、データ処理装置６０には、表示装置６８と操作装置７０がそれぞれ接続されている。表示装置６８は、データ処理装置６０から出力される断層画像情報やその他の情報を表示する。操作装置７０は、オペレータによって操作され、各種の指示や情報等をデータ処理装置６０に入力する。オペレータは表示装置６８および操作装置７０を使用してインタラクティブ（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ）に本装置を操作する。なお、走査ガントリ１０、撮影テーブル４および操作コンソール６は、被検体あるいはファントムを撮影して断層画像を取得する。

図２は、Ｘ線管２０、Ｘ線検出部２４およびデータ収集部２６の立体的な配置を図示したものである。Ｘ線検出部２４は、Ｘ線管２０により生成されるコーン（ｃｏｎｅ）状のＸ線ビームを検出するシンチレータ４１、シンチレータ４１の発光を検出する光電変換器であるフォトダイオード４２および基盤４３を含む。ここで、Ｘ線ビームは、仮想上の焦点位置から発生されるＸ線ビーム束と見なすことができ、焦点位置から等距離に当たる部分では円弧面を形成する。

シンチレータ４１は、コーン状のＸ線ビームと対向する面に２次元配列され、Ｘ線が入射すると発光する。ここで、シンチレータ４１は、コーン状のＸ線ビームの厚み方向である列方向およびＸ線ビームの扇状の拡がり方向であるチャネル方向に、概ね６４列および１０００チャネル程度の数が配列される。

フォトダイオード４２は、基盤４３上に形成され、シンチレータ４１の発光を検出する。ここで、フォトダイオード４２は、複数チャネルに対応するものが基盤４３上に一体構造をなして形成され、図２の例では、４チャネルのフォトダイオード４２が一体構造を形成している。

データ収集部２６は、プリント（ｐｒｉｎｔ）板および電気ケーブル（ｃａｂｌｅ）等からなり、フォトダイオード４２で検出したＸ線の電気信号を増幅し、このアナログ（ａｎａｌｏｇ）信号をデジタル（ｄｉｇｉｔａｌ）信号に変換し、このデジタル信号を後段のデータ収集バッファ６４に転送する。

図３は、Ｘ線ＣＴ装置の付属品である、円弧ファントム４０、散乱Ｘ線遮蔽ブロック（ｂｌｏｃｋ）４５および透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を示す。図３（Ａ）は、円弧ファントム４０の外観を示す。円弧ファントム４０は、Ｘ線ビームの円弧面と一致する壁面Ａおよび壁面Ｂを有し、壁面Ａおよび壁面Ｂは一定の間隔Ｔを持った構造とされる。ここで、間隔Ｔは、概ね被検体のアキシャル（ａｘｉａｌ）断面の幅に近似する大きさで、被検体ごとに異なる幅をすべてカバー（ｃｏｖｅｒ）する範囲で、間隔Ｔが連続して異なる複数の円弧ファントム４０が準備される。

また、同時に円弧ファントム４０を構成する物質は、Ｘ線線吸収係数が被検体に近似する物質により形成される。この物質としては、アクリル（ａｃｒｙｌ）、水等が使用され、これら物質ごとの複数の円弧ファントムが準備される。

図３（Ｂ）は、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５の外観を示す。散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５は、タングステン等のＸ線を遮蔽する物質から形成される概ね直方体の形状を有する。ここで、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５は、チャネル方向に円弧状の若干の歪みと、チャネル方向の中心位置に、Ｘ線を透過させるシンチレータ４１一個分のＸ線透過窓４６とを有する。また、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５の列方向は、概ねＸ線検出部２４と同様の幅を有する。なお、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５のチャネル方向および列方向と直交する方向の高さは、高い方が好ましいが、重量および設置されるシンチレータ４１上の設置環境を考慮して適切な高さに設定される。

図３（Ｃ）は、透過Ｘ線遮蔽ブロック４８の外観を示す。透過Ｘ線遮蔽ブロック４８は、タングステン等のＸ線を遮蔽する物質から形成される概ね直方体の形状を有する。この直方体は、チャネル方向に円弧状の若干の歪みと、チャネル方向に長さｌとを有する。ここで、長さｌは、１つのシンチレータ４１が有するチャネル方向長さの奇数倍の長さを有し、この奇数倍数が連続して異なる複数の透過Ｘ線遮蔽ブロック４８が用いられる。

なお、円弧ファントム４０、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５および透過Ｘ線遮蔽ブロック４８は、Ｘ線管２０およびＸ線検出部２４の間に配設および設置されるが、これらの配設および設置に際しては、適宜図示しない支持機材を用いて所定の位置に固定される。

つぎに、本実施の形態にかかるＸ線ＣＴ装置の動作について、図４を用いて説明する。図４は、本実施の形態にかかるＸ線ＣＴ装置の動作を示すフローチャートである。まず、オペレータは、付属品に含まれる円弧ファントム４０、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５および透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いて散乱Ｘ線情報取得処理を行う（ステップＳ４０１）。

図５は、この散乱Ｘ線情報取得処理の動作を示すフローチャートである。まず、オペレータは、円弧ファントムをボア２９の中心位置近傍の配設する（ステップＳ５０１）。図６は、ボア２９の中心位置近傍に配設された円弧ファントム４０を示すｘｙ断面図である。円弧ファントム４０は、Ｘ線ビームの円弧面に壁面Ａおよび壁面Ｂが一致するように配設される。この場合、例えばチャネル方向の中央位置近傍に位置するチャネルｉには、円弧ファントム４０を透過し、Ｘ線管２０から直進したプライマリビーム（ｐｒｉｍａｒｙ ｂｅａｍ）およびＸ線管２０からプライマリビームと異なる方向に照射され、円弧ファントム４０で散乱された散乱ビームが入射する。

その後、データ収集部２６は、円弧ファントム４０の円弧ファントム投影情報を取得する（ステップＳ５０２）。ここで、円弧ファントム投影情報ＤＴは、例えば先に示したチャネルｉでは、プライマリビームＰ_Tおよび散乱ビームＳ_Tを加算して、
ＤＴ＝Ｐ_T＋Ｓ_T
で現される。ここで、添字Ｔは、円弧ファントムの厚さを示している。

その後、オペレータは、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５を、Ｘ線透過窓４６がＸ線検出部２４のチャネル方向中心位置近傍に位置するチャネルｉと重なり合う様に設置する（ステップＳ５０３）。図７は、ボア２９の中心位置近傍に配設された円弧ファントム４０およびチャネルｉに重ねて設置された散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５のｘｙ断面を示す断面図である。チャネルｉでは、Ｘ線透過窓４６を通過したプライマリビームＰ_Tが入射する。一方で、散乱ビームＳ_Tは散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５で遮蔽される。

そして、データ収集部２６は、チャネルｉの透過Ｘ線情報を取得する（ステップＳ５０４）。ここで、チャネルｉの透過Ｘ線情報ＤＰは、プライマリビームＰ_Tのみからなるので、
ＤＰ＝Ｐ_T
で現される。

その後、オペレータは、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５を外し、透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を、円弧ファントム４０の壁面Ａに設置する（ステップＳ５０５）。図８は、ボア２９の中心位置近傍に配設された円弧ファントム４０および円弧ファントム４０のプライマリビームが通過する位置を中心とする位置に設置された透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を示すｘｙ断面図である。チャネルｉでは、プライマリビームＰ_Tが遮蔽される一方で、長さｌの透過Ｘ線遮蔽ブロック４８で遮蔽されない散乱ビームＳ_T（ｌ）が入射する。

そして、データ収集部は、チャネルｉの散乱Ｘ線情報を取得する（ステップＳ５０６）。ここで、チャネルｉの散乱Ｘ線情報ＤＳは、散乱Ｘ線情報Ｓ_T（ｌ）のみからなるので、
ＤＰ＝Ｓ_T（ｌ）
で現される。

その後、オペレータは、すべての長さｌの透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いて散乱Ｘ線情報を取得したかどうかを判定する（ステップＳ５０７）。そして、すべての長さｌの透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いて散乱Ｘ線情報を取得していない場合には（ステップＳ５０７否定）、取得していない長さの透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を選択し（ステップＳ５０８）、ステップＳ５０５に移行し、再度透過Ｘ線遮蔽ブロック４８の設置および散乱Ｘ線情報の取得を行う。

また、オペレータは、すべての長さｌの透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いて散乱Ｘ線情報を取得した場合には（ステップＳ５０７肯定）、さらに厚さの異なるすべての円弧ファントム４０を用いて、異なる長さｌの透過Ｘ線遮蔽ブロック４８ごとの散乱Ｘ線情報を取得したかどうかを判定する（ステップＳ５０９）。そして、厚さの異なるすべての円弧ファントム４０を用いた散乱Ｘ線情報が、取得されていない場合には（ステップＳ５０９否定）、厚さの異なる円弧ファントム４０を選択し（ステップＳ５１０）、ステップＳ５０１に移行する。ステップＳ５０１以降では、円弧ファントム４０を配設し、透過Ｘ線情報を取得し、長さｌの異なる透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いた散乱Ｘ線情報を取得する。

また、オペレータは、厚さの異なるすべての円弧ファントム４０を用いた散乱Ｘ線情報を、取得した場合には（ステップＳ５０９肯定）、材質の異なるすべての円弧ファントム４０で、円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報からなる情報を取得したかどうかを判定する（ステップＳ５１１）。そして、材質の異なるすべての円弧ファントム４０を用いた情報が、取得されていない場合には（ステップＳ５１１否定）、材質の異なる円弧ファントム４０を選択し（ステップＳ５１２）、ステップＳ５０１に移行する。ステップＳ５０１以降では、円弧ファントム４０を配設し、透過Ｘ線情報を取得し、長さｌの異なる透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いた散乱Ｘ線情報を取得する。

また、オペレータは、材質の異なるすべての円弧ファントム４０で、情報を取得した場合には（ステップＳ５１１肯定）、上述した円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報に基づいて、各チャネルに対応する散乱位置ごとの部分散乱Ｘ線情報である部分散乱係数Ｗを求め（ステップＳ５１３）、本処理を終了する。ここで、部分散乱係数Ｗは、厚さＴの円弧ファントム４０、長さｌ＝２（ｋ−ｉ−１）＋１および２（ｋ−ｉ）＋１の透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いて、ｋチャネルのプライマリビームが通過する領域からｉチャネルのシンチレータ４１に入射する散乱Ｘ線を、
Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）＝｛Ｓ_T（２（ｋ−ｉ−１）＋１）−Ｓ_T（２（ｋ−ｉ）＋１）｝／（２（Ｓ_T＋Ｐ_T））
により求める。

図９（Ａ）は、本処理で取得される、異なる厚さＴの円弧ファントム４０および異なる長さｌの透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いた場合に取得される散乱Ｘ線情報Ｓ_T（ｌ）をマトリックス（ｍａｔｒｉｘ）状の散乱Ｘ線テーブル（ｔａｂｌｅ）にまとめたものである。なお、横軸は、透過Ｘ線遮蔽ブロック４８の長さｌを、１つのシンチレータ４１のチャンネル方向の長さを単位長さとして現したもので、縦軸は、厚さＴを指標１、２、３‥で現したものである。この指標は、必ずしも指標の数が厚さに比例するものでなくても良く、円弧ファントムの厚さと一対一の対応付けがされていれば良い。また、異なる長さｌを有する透過Ｘ線遮蔽ブロック４８の数は、散乱補正の精度およびデータ収集の効率を考慮し決定される。

図９（Ｂ）は、上式を用いて図９（Ａ）の散乱Ｘ線情報Ｓ_T（ｌ）から部分散乱Ｘ線情報である部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）を求めた部分散乱係数テーブルである。この部分散乱係数テーブルの横軸は、透過Ｘ線情報を求めたｉチャネルのシンチレータ４１とのチャネル番号の差分ｋ−ｉを現し、部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）は、ｉチャネルを中心として、チャネル方向に拡がる各チャネルごとに求められる。また、縦軸は、厚さＴを示す指標である。なお、部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）は、ｉチャネルを中心として、チャネル方向に左右対称の係数値を有するので、一方向のみを求めた。

また、円弧ファントム４０の材質が異なる場合には、異なる材質の円弧ファントム４０ごとに部分散乱係数テーブルを作成する。
図４に戻り、オペレータは、被検体を撮影テーブル４に載値し（ステップＳ４０２）、ボア２９の中心部分に移動し、スキャンを行う（ステップＳ４０３）。

その後、オペレータは、スキャンで取得された被検体投影情報を用いて、被検体情報取得処理を行う（ステップＳ４０４）。図１０は、被検体情報取得処理の動作を示すフローチャートである。まず、オペレータは、被検体投影情報を用いて、画像再構成を行う（ステップＳ１００１）。これにより、被検体の散乱Ｘ線補正を含まない断層画像情報が取得される。

その後、データ処理装置６０は、この断層画像情報に基づいて、回転部３４の回転角度を現すビュー番号およびチャネル番号ごとに、プライマリビームが透過する線上の断層画像情報に基づいて、Ｘ線ビームの経路長を求める（ステップＳ１００２）。この経路長を求める際には、例えば断層画像情報に含まれる被検体領域を２値化等により抽出し、この領域での経路長を計測する。

その後、データ処理装置６０は、すべてのビュー番号で、被検体の経路長を求めたかどうかを判定し（ステップＳ１００３）、経路長を求めていないビュー番号がある場合には（ステップＳ１００３否定）、ステップＳ１００２に移行し、このビュー番号の経路長を求める。また、すべての経路長を求めた場合には（ステップＳ１００３肯定）、本被検体情報取得処理を終了する。

図１１は、被検体情報取得処理で取得される経路長テーブルを模式的に示した図である。横方向をチャネル番号、縦方向をビュー番号として、この経路長テーブルには、チャネル番号およびビュー番号ごとの経路長が数値データＰａｔｈ（ｉ，ｊ）として保存される．
図４に戻り、オペレータは、被検体投影情報補正処理を行う（ステップＳ４０５）。図１２は、被検体投影情報補正処理の動作を示すフローチャートである。まず、データ処理装置６０は、被検体情報取得処理で求めた経路長テーブルＰａｔｈ（ｉ，ｊ）を用いて、ビュー番号およびチャネル番号ごとの散乱係数Ｗ_ijを求める（ステップＳ１１０１）。ここで、散乱係数Ｗ_ijは、経路長テーブルＰａｔｈ（ｉ，ｊ）および部分散乱係数テーブルＷ（ｋ−ｉ、Ｔ）を用い、経路長Ｐａｔｈ（ｉ，ｊ）に近似する厚さＴの円弧ファントム４０の部分散乱係数Ｗの和により、

により求める。ここで、ｋは、全チャネルに渡る和を行う場合のパラメータである。なお、経路長Ｐａｔｈ（ｉ，ｊ）＝０の部分では、散乱Ｘ線が存在しないので部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、０）＝０とする。

その後、データ処理装置６０は、ビュー番号ｊ、チャネル番号ｉの被検体投影情報Ｉ_ijに対してＸ線散乱補正を行う（ステップＳ１１０２）。この散乱Ｘ線補正では、補正後の投影情報をＣＩ_ijとして、
ＣＩ_ij＝Ｉ_ij（１−Ｗ_ij）
により算出し、被検体投影情報補正処理を終了する。

図４に戻り、データ処理装置６０は、補正後の投影情報をＣＩ_ijを用いて画像再構成を行い（ステップＳ４０６）、生成された断層画像情報を表示装置６８に表示し（ステップＳ４０７）、本処理を終了する。

上述してきたように、本実施の形態では、厚さＴが異なる複数の円弧ファントム４０、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５および長さｌが異なる複数の透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を用いて、円弧ファントム４０の厚さＴごとのＸ線ビームの部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）を求め、さらに被検体の断層画像情報からビュー番号およびチャネル番号ごとの経路長を求め、この経路長に対応する厚さＴの部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）の総和から、ビュー番号およびチャネル番号ごとの散乱係数を求め、被検体の投影情報Ｉ_ijの散乱補正を行うこととしているので、チャネル方向の散乱Ｘ線の補正を実験データに基づいて正確に行い、ひいてはシンチレータ４１のチャネル方向のコリメータを配置することなく、散乱Ｘ線による画質の劣化を抑えることができる。

また、本実施の形態では、経路長テーブルＰａｔｈ（ｉ，ｊ）は１つとしたが、断層画像情報の画像強度に応じて、複数の経路長テーブルを求めることもできる。例えば、骨部は、画像強度が大きく異なる領域を形成する。そこで、別途画像強度に基づいてこの領域を抽出し、この領域に対する経路長テーブルを求めることもできる。そして、この経路長テーブルを用いて、例えば骨部に類似するＸ線線吸収係数の円弧ファントム４０を用いた部分散乱係数Ｗ（ｋ−ｉ、Ｔ）を求め、上述したと同様の総和を行い、ビュー番号およびチャネル番号ごとの散乱係数Ｗ_ijをより精度の高いものとすることもできる。

また、本実施の形態では、画像再構成を行った断層画像情報に基づいて被検体情報を取得したが、被検体投影情報から被検体情報を求めることもできる。被検体の投影情報の値であるプロジェクション長Ｐは、被検体の経路長をｔ、この経路に沿った被検体のＸ線線吸収係数をｆ（ｓ）とすると、

の関係を有する。ここで、経路に沿ったＸ線線吸収係数ｆ（ｓ）を一定の平均Ｘ線線吸収係数と仮定して経路長を求める等のこともできる。
また、本実施の形態では、断層画像情報から経路長を求めることとしたが、さらに断層画像情報からＣＴ値を求めることもでき、被検体投影情報を共に用いて経路長を取得することもできる。特に、Ｘ線線吸収係数が大きく異なる骨部では、高い相関を示すＣＴ値とＸ線線吸収係数の関係を用いてＸ線線吸収係数を精密に求め、骨部の経路長を投影情報から求めることもできる。

また、本実施の形態では、被検体の散乱補正を、すべて円弧ファントム４０の実験データから求めた散乱係数を用いて行うこととしたが、プロジェクション長Ｐを用いて散乱Ｘ線の一次補正を行い、その後骨部等の散乱が大きく異なる部分を、上述した円弧ファントム４０を用いた実験データから精密に補正することもできる。

また、本実施の形態では、チャネル方向の散乱Ｘ線を補正する場合を示したが、同様に列方向の散乱Ｘ線を補正することもできる。
また、本実施の形態では、円弧ファントム４は、支持機材を用いてボア２９内の所定位置に固定されるとしたが、被検体をボア２９内へ搬送する撮影テーブル４のクレードル５を支持機材とし、設置を容易なものとすることもできる。また、補助機材を用いて散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５および透過Ｘ線遮蔽ブロック４８の設置も容易なものとすることができる。

図１３は、クレードル５にエクステンダ７を介して円弧ファントム４、ブロックスライダ９および透過Ｘ線遮蔽ブロック４８を設置した外観図である。なお、Ｘ線検出部２４上のボア２９内部には、ブロックスライダ８および散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５が設置されている。

ここで、円弧ファントム４０は、クレードル５により、ボア２９中心部に搬送される。また、円弧ファントム４０上に設置されるブロックスライダ９は、透過Ｘ線遮蔽ブロック４８をチャネル方向に移動可能となっている。また、Ｘ線検出部２４上のブロックスライダ８は、散乱Ｘ線遮蔽ブロック４５をチャネル方向に移動可能となっており、透過Ｘ線遮蔽ブロック４８と相対的な位置の調整を行うことができる。さらに、円弧ファント４０は、エクステンダ７に着脱可能となっており、厚みの異なる円弧ファントムを用いた複数の投影情報の収集を行うこともできる。

Ｘ線ＣＴ装置の全体構成を示すブロック図である。 実施の形態のＸ線管、Ｘ線検出器およびデータ収集部を示す外観図である。 Ｘ線ＣＴ装置の付属品を示す外観図である。 Ｘ線ＣＴ装置の動作を示すフローチャートである。 Ｘ線ＣＴ装置の散乱Ｘ線情報取得処理の動作を示すフローチャートである。 散乱Ｘ線情報取得処理の際の、円弧ファントムの配置を示す断面図である。 散乱Ｘ線情報取得処理の際の、円弧ファントムおよび散乱Ｘ線遮蔽ブロックの配置を示す断面図である。 散乱Ｘ線情報取得処理の際の、円弧ファントムおよび透過Ｘ線遮蔽ブロックの配置を示す断面図である。 散乱Ｘ線情報取得処理で取得される散乱Ｘ線テーブルおよび部分散乱係数テーブルを模式的に示す模式図である。 Ｘ線ＣＴ装置の被検体情報取得処理の動作を示すフローチャートである。 被検体情報取得処理で取得される経路長テーブルを模式的に示す模式図である。 Ｘ線ＣＴ装置の被検体投影情報補正処理の動作を示すフローチャートである。 クレードルを用いた円弧ファントムの支持機材の一例を示す外観図である。

符号の説明

４ 撮影テーブル
５ クレードル
６ 操作コンソール
７ エクステンダ
８、９ ブロックスライダ
１０ 走査ガントリ
２０ Ｘ線管
２２ コリメータ
２４ Ｘ線検出部
２６ データ収集部
２８ Ｘ線コントローラ
２９ ボア
３０ コリメータコントローラ
３４ 回転部
３６ 回転コントローラ
４０ 円弧ファントム
４１ シンチレータ
４２ フォトダイオード
４３ 基盤
４５ 散乱Ｘ線遮蔽ブロック
４６ Ｘ線透過窓
４８ 透過Ｘ線遮蔽ブロック
６０ データ処理装置
６２ 制御インタフェース
６４ データ収集バッファ
６６ 記憶装置
６８ 表示装置
７０ 操作装置

Claims (20)

1. Ｘ線ビームを発生するＸ線発生部と、
   前記Ｘ線ビームを検出するＸ線検出器を配列したＸ線検出部と、
   前記Ｘ線発生部および前記Ｘ線検出部の間に配設され、前記Ｘ線発生部の位置を中心位置とし、前記中心位置から等距離にある円弧と壁面が一致する円弧ファントムと、
   前記円弧ファントムを用いた複数の投影情報を収集するデータ処理部と、
   を備えるＸ線ＣＴ装置。
2. 前記円弧ファントムは、前記Ｘ線ビームが透過する方向に一定の厚さを備えることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
3. 前記データ処理部は、前記円弧ファントムの円弧ファントム投影情報を取得する散乱Ｘ線情報取得手段を備えることを特徴とする請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
4. 前記Ｘ線ＣＴ装置は、前記Ｘ線検出部の前記Ｘ線ビームが入射する検出面に配設され、前記円弧ファントムの散乱Ｘ線の透過を防止しつつ、中央近傍に前記Ｘ線ビームを部分的に透過する透過窓を有する散乱Ｘ線遮蔽ブロックを備えることを特徴とする請求項３に記載のＸ線ＣＴ装置。
5. 前記散乱Ｘ線遮蔽ブロックは、１つの前記Ｘ線検出器の検出面に相当する大きさの透過窓を備えることを特徴とする請求項４に記載のＸ線ＣＴ装置。
6. 前記散乱Ｘ線情報取得手段は、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される透過Ｘ線情報を取得することを特徴とする請求項５に記載のＸ線ＣＴ装置。
7. 前記Ｘ線ＣＴ装置は、前記壁面に配設され、前記Ｘ線ビームの透過を部分的に防止する透過Ｘ線遮蔽ブロックを備えることを特徴とする請求項６に記載のＸ線ＣＴ装置。
8. 前記透過Ｘ線遮蔽ブロックは、前記円弧の接線方向であるチャネル方向に沿って、複数個の前記Ｘ線検出器に相当する幅を備えることを特徴とする請求項７に記載のＸ線ＣＴ装置。
9. 前記散乱Ｘ線情報取得手段は、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される散乱Ｘ線情報を取得することを特徴とする請求項８に記載のＸ線ＣＴ装置。
10. 前記データ処理装置は、前記Ｘ線発生部および前記Ｘ線検出部を有するＸ線ＣＴ装置を用いて被検体の被検体投影情報を取得する際に、前記円弧ファントム投影情報、前記透過Ｘ線情報および前記散乱Ｘ線情報に基づいて、前記被検体投影情報に含まれる被検体の散乱Ｘ線情報を補正する被検体投影情報補正手段を備えることを特徴とする請求項３、６および９に記載のＸ線ＣＴ装置。
11. 前記データ処理装置は、前記補正を行う前に、前記被検体投影情報の画像再構成により断層画像情報を求め、前記断層画像情報から前記被検体を透過するＸ線ビームの経路長を求める被検体情報取得手段を備えることを特徴とする請求項１０に記載のＸ線ＣＴ装置。
12. 前記散乱Ｘ線情報取得手段は、前記幅が前記Ｘ線検出器が有する前記チャネル方向の幅の整数倍だけ異なる複数の透過Ｘ線遮蔽ブロックを用いて前記複数の散乱Ｘ線情報を含む散乱Ｘ線テーブルおよび前記円弧に沿った散乱位置ごとの前記散乱Ｘ線情報の差分から求まる部分散乱Ｘ線係数情報を含む部分散乱係数テーブルを備えることを特徴とする請求項１０または１１に記載のＸ線ＣＴ装置。
13. 前記被検体投影情報補正手段は、前記経路長と概ね等しい厚さを有する円弧ファントムを用いた際の前記部分散乱Ｘ線係数情報に基づいて、前記被検体投影情報の補正を行うことを特徴とする請求項１２に記載のＸ線ＣＴ装置。
14. 前記補正は、前記部分散乱係数を前記チャネル方向の散乱位置で加算した散乱係数を用いることを特徴とする請求項１３に記載のＸ線ＣＴ装置。
15. 前記散乱Ｘ線情報取得手段は、前記厚さが異なる複数の円弧ファントムを用いて円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を取得することを特徴とする請求項１０ないし１４のいずれか１つに記載のＸ線ＣＴ装置。
16. 前記散乱Ｘ線テーブルおよび前記部分散乱係数テーブルは、前記厚さごとの部分散乱Ｘ線係数情報を含むことを特徴とする請求項１２および１５に記載のＸ線ＣＴ装置。
17. 前記散乱Ｘ線情報取得手段は、被検体の異なる複数の組織領域とＸ線線吸収係数が近似する複数の円弧ファントムを用いて、円弧ファントム投影情報、透過Ｘ線情報および散乱Ｘ線情報を取得することを特徴とする請求項１０ないし１６のいずれか１つにに記載のＸ線ＣＴ装置。
18. 前記被検体投影情報補正手段は、前記補正を行う際に、前記円弧ファントム投影情報、前記透過Ｘ線情報および前記散乱Ｘ線情報を用いることを特徴とする請求項１７に記載のＸ線ＣＴ装置。
19. 前記異なる組織領域は、被検体の軟部組織領域および骨部組織領域であることを特徴とする請求項１７または１８に記載のＸ線ＣＴ装置。
20. Ｘ線発生部およびＸ線検出部の間に配設され、前記Ｘ線発生部の位置を中心位置とし、前記中心位置から等距離にある円弧と壁面が一致する円弧ファントムの円弧ファントム投影情報を取得し、
    前記円弧ファントムと共に、前記Ｘ線検出部の前記Ｘ線発生部で発生されたＸ線ビームが入射する検出面に配設され、前記円弧ファントムの散乱Ｘ線の透過を防止しつつ、中央近傍に前記Ｘ線ビームを部分的に透過する透過窓を有する散乱Ｘ線遮蔽ブロックを用いて、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される透過Ｘ線情報を取得し、
    前記円弧ファントムおよび前記散乱Ｘ線遮蔽ブロックと共に、前記壁面に配設され、前記Ｘ線ビームの透過を部分的に防止する透過Ｘ線遮蔽ブロックを用いて、前記透過窓の位置にあるＸ線検出器で検出される散乱Ｘ線情報を取得し、
    前記円弧ファントム投影情報、前記透過Ｘ線情報および前記散乱Ｘ線情報を用いて、前記Ｘ線ビームが透過する方向に異なる厚さを有する円弧ファントムごとに、前記円弧に沿った散乱位置ごとの前記散乱Ｘ線情報の差分から求まる部分散乱Ｘ線係数情報を含む部分散乱係数テーブルを求める部分散乱係数テーブル取得方法。

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